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一種全電流靈敏放大器的制作方法

文檔序號(hào):6772258閱讀:183來(lái)源:國(guó)知局
專利名稱:一種全電流靈敏放大器的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及半導(dǎo)體隨機(jī)存儲(chǔ)器電路技術(shù)領(lǐng)域,特別涉及一種帶補(bǔ)償電路的可靠性高、功耗低的全電流靈敏放大器。
背景技術(shù)
近年來(lái),隨著半導(dǎo)體隨機(jī)存儲(chǔ)器器件規(guī)格的不斷減小和人們對(duì)半導(dǎo)體隨機(jī)存儲(chǔ)器容量需求的不斷增加,就需要半導(dǎo)體隨機(jī)存儲(chǔ)器電路位線上的電容不斷增大,因此,很難快速讀取單元的信息。通常的解決方案是當(dāng)位線上的電壓差達(dá)到一定值時(shí),啟用電壓靈敏放大器對(duì)電壓差進(jìn)行放大,從而減小讀取單元信息的速度受位線上電容的影響程度。但是,隨著位線上的電容不斷增大,位線上的電壓差達(dá)到一定值所需要的時(shí)間不斷增長(zhǎng),使得讀取單元的信息的速度不斷減小。目前,主要采用兩級(jí)電流靈敏放大器解決上述問(wèn)題。其優(yōu)點(diǎn)在于,由于電流靈敏放大器放大的是位線上的電流差,而不是電壓差,可以更加有效地減小讀取單元的信息速度受位線上電容的影響程度。其缺點(diǎn)在于,隨著半導(dǎo)體隨機(jī)存儲(chǔ)器器件規(guī)格的不斷減小,器件間的失配現(xiàn)象也越來(lái)越嚴(yán)重,兩級(jí)電流靈敏放大器的可靠性受到影響;并且,由于采用兩級(jí)電流靈敏放大器時(shí),需要第一級(jí)靈敏放大器一直處于開(kāi)啟狀態(tài),直流功耗很大。

發(fā)明內(nèi)容
為了解決上述問(wèn)題,本發(fā)明提出了一種能夠避免產(chǎn)生直流功耗的全電流靈敏放大器;
并且,本發(fā)明還提出了一種通過(guò)在全電流靈敏放大器上引入補(bǔ)償電路解決器件間失配問(wèn)題,從而提高全電流靈敏放大器的可靠性,進(jìn)而優(yōu)化讀取單元的信息的速度的帶補(bǔ)償電路的全電流靈敏放大器。本發(fā)明提供的全電流靈敏放大器包括,
預(yù)充電電路,用于在保持狀態(tài)下對(duì)位線進(jìn)行預(yù)充電并在讀寫(xiě)狀態(tài)下切斷充電路徑; 存儲(chǔ)單元陣列,用于寫(xiě)入數(shù)據(jù)和讀取數(shù)據(jù);
第一級(jí)電流鎖存靈敏放大器,包括數(shù)據(jù)線DL和DLB,用于感應(yīng)并放大位線上的電流差, 并且,通過(guò)鎖存電流差信號(hào)轉(zhuǎn)化為高低電平,同時(shí)在第二級(jí)電流鎖存靈敏放大器的數(shù)據(jù)線上產(chǎn)生脈沖電流;
平衡電路,用于平衡所述數(shù)據(jù)線DL和DLB上的電平;
第二級(jí)電流鎖存靈敏放大器,用于感應(yīng)所述數(shù)據(jù)線DL和DLB上的電流差,并且將所述電流差進(jìn)行放大,最后將輸出放大到高低電平;
所述預(yù)充電電路和所述存儲(chǔ)單元陣列分別連接于位線,所述第一級(jí)電流鎖存靈敏放大器的一端連接于位線,所述第一級(jí)電流鎖存靈敏放大器的數(shù)據(jù)線DL和DLB上還連有所述平衡電路和所述第二級(jí)電流鎖存靈敏放大器。作為優(yōu)選,所述預(yù)充電電路包括兩個(gè)PMOS晶體管P1和P2,所述晶體管P1的源極連接于電源的+端,所述晶體管P1的漏極連接于位線BL,所述晶體管P2的源極連接于電源的 +端,所述晶體管P2的漏極連接于位線BLB,
預(yù)充電控制信號(hào)WE分別從所述晶體管P1和P2的柵端輸入,
當(dāng)所述預(yù)充電控制信號(hào)WE由高電平變?yōu)榈碗娖綍r(shí),所述預(yù)充電電路對(duì)位線BL和位線 BLB充電,
當(dāng)所述預(yù)充電控制信號(hào)WE由低電平變?yōu)楦唠娖綍r(shí),所述預(yù)充電電路停止對(duì)位線BL和位線BLB充電。作為優(yōu)選,所述存儲(chǔ)單元陣列中的存儲(chǔ)單元是具有差分輸入、輸出的任意結(jié)構(gòu)。作為優(yōu)選,控制信號(hào)字線向所述存儲(chǔ)單元陣列中的存儲(chǔ)單元輸入。作為優(yōu)選,所述第一級(jí)電流鎖存靈敏放大器還包括三個(gè)NMOS晶體管N1A2和N9,四個(gè)PMOS晶體管P3、P4、P5和P6,所述晶體管P3的源極連接于位線BL,所述晶體管P3的漏極連接于所述晶體管P5的源極,所述晶體管P4的源極連接于位線BLB,所述晶體管P4的漏極連接于所述晶體管P6的源極,所述晶體管P3的柵極和所述晶體管P4的柵極相連,所述晶體管P5、P6和K、N2之間交叉耦合連接,所述晶體管N9的柵極連接于所述晶體管P3的柵極與所述晶體管P4的柵極之間,
所述晶體管N9的源極連接于所述晶體管P5的柵極,所述晶體管N9的漏極連接于所述晶體管P6的柵極,或者,
所述晶體管N9的漏極連接于所述晶體管P5的柵極,所述晶體管N9的源極連接于所述晶體管P6的柵極,
所述晶體管P5的漏極連接于所述晶體管N1的漏極,所述晶體管N1的源極連接于所述數(shù)據(jù)線DL,所述晶體管P6漏極連接于所述晶體管隊(duì)的漏極,所述晶體管隊(duì)的源極連接于所述數(shù)據(jù)線DLB,
讀取控制信號(hào)CS分別從所述晶體管P3、P4和N9的柵極輸入, 在保持階段,所述第一級(jí)電流鎖存靈敏放大器關(guān)閉,
在讀取階段,讀取控制信號(hào)CS由高電平變?yōu)榈碗娖?,晶體管P3和P4打開(kāi),位線上的電流差通過(guò)交叉耦合連接的所述四個(gè)晶體管P3、P4、P5和P6在所述晶體管N1的漏極和隊(duì)的漏極轉(zhuǎn)化為大的電壓差,所述晶體管N1對(duì)所述數(shù)據(jù)線DL產(chǎn)生電流脈沖信號(hào)I1,所述晶體管N2 對(duì)所述數(shù)據(jù)線DLB產(chǎn)生電流脈沖信號(hào)12,其中,I1 Φ 12。作為優(yōu)選,所述平衡電路包括兩個(gè)NMOS晶體管N7和N8,所述晶體管N7的漏極連接于所述數(shù)據(jù)線DL,所述晶體管N7的源極接地,所述晶體管N8漏極連接于所述數(shù)據(jù)線DLB,所述晶體管N8的源極接地,
作用于所述晶體管N7和N8的控制信號(hào)PRE分別從所述晶體管N7和N8的柵極輸入, 在保持階段,所述控制信號(hào)PRE為高電平,所述數(shù)據(jù)線DL通過(guò)所述晶體管N7放電到地, 所述數(shù)據(jù)線DLB通過(guò)所述晶體管N8放電到地,
在讀取階段,所述控制信號(hào)PRE下降到低電平,所述晶體管N7和所述晶體管N8關(guān)斷。作為優(yōu)選,所述第二級(jí)電流鎖存靈敏放大器包括三個(gè)NMOS晶體管N5、N6, Nltl,三個(gè) PMOS 晶體管 P7、P8、P9,
所述晶體管P9的源極連接于電源的+端,所述晶體管P9的漏極連接于所述晶體管P7的源端與所述晶體管P8的源端之間,控制信號(hào)GEN從所述晶體管P9的柵極輸入,
所述晶體管P7的源極和所述晶體管P8的源極相連,
所述晶體管P7的源極連接于所述晶體管P9的漏極,所述晶體管P7的漏極連接于所述晶體管N5的漏極,所述晶體管P7的漏極與所述晶體管N5的漏極之間連接有第I反相器,所述第I反相器同時(shí)連接于所述晶體管&的柵極與所述晶體管N6的柵極之間,所述晶體管P7 的柵極連接于所述晶體管P8的漏極與所述晶體管N6的漏極之間,所述晶體管N5的源極連接于所述數(shù)據(jù)線DL,
所述晶體管P8的源極連接于所述晶體管P9的漏極,所述晶體管P8的漏極連接于所述晶體管N6的漏極,所述晶體管P8的漏極與所述晶體管N6的漏極之間連接有第II反相器,所述第II反相器同時(shí)連接于所述晶體管P7的柵極與所述晶體管N5的柵極之間,所述晶體管P8 的柵極連接于所述晶體管P7的漏極與所述晶體管N5的漏極之間,所述晶體管N6的源極連接于所述數(shù)據(jù)線DLB,
所述晶體管Nltl的源極連接于所述晶體管N5的柵極和所述晶體管P7的柵極,所述晶體管Nltl的漏極連接于所述晶體管N6的柵極和所述晶體管P8的柵極,或者,
所述晶體管Nltl的漏極連接于所述晶體管N5的柵極和所述晶體管P7的柵極,所述晶體管Nltl的源極連接于所述晶體管N6的柵極和所述晶體管P8的柵極,
控制信號(hào)GEN從所述晶體管Nltl的柵極輸入,
在保持階段,所述控制信號(hào)GEN保持高電平,所述晶體管P9被關(guān)閉,所述第二級(jí)電流鎖存靈敏放大器關(guān)斷,
在讀取階段,所述控制信號(hào)GEN為低電平,所述晶體管P9打開(kāi),所述第二級(jí)電流鎖存靈敏放大器打開(kāi),所述第二級(jí)電流鎖存靈敏放大器通過(guò)感應(yīng)所述數(shù)據(jù)線DL和DLB上的電壓差,鎖存并放大信號(hào)到高低電平,并且,所述第二級(jí)電流鎖存靈敏放大器通過(guò)后級(jí)驅(qū)動(dòng)電路驅(qū)動(dòng)輸出。作為優(yōu)選,本發(fā)明提供的全電流靈敏放大器還包括,
補(bǔ)償電路,利用所述第一級(jí)電流鎖存靈敏放大器鎖存的電位差信號(hào)保持所述數(shù)據(jù)線DL 和DLB上的信號(hào)電平,使所述數(shù)據(jù)線DL和DLB上的信號(hào)電平不會(huì)受所述第二級(jí)靈敏放大器打開(kāi)后產(chǎn)生的脈沖電流的影響,
所述補(bǔ)償電路連接于所述第一級(jí)電流鎖存靈敏放大器。作為優(yōu)選,所述補(bǔ)償電路包括兩個(gè)NMOS晶體管N3和N4,所述晶體管N3的柵極連接于所述晶體管P5的漏極與晶體管N1的漏極之間,同時(shí),所述晶體管N3的柵極連接于所述晶體管N9的源極或者漏極、所述晶體管P6的柵極、所述晶體管隊(duì)的柵極之間,所述晶體管N3 的漏極連接于所述數(shù)據(jù)線DL,所述N3的源極接地,
所述晶體管N4的柵極連接于所述晶體管P6的漏極與晶體管隊(duì)的漏極之間,同時(shí),所述晶體管N4的柵極連接于所述晶體管N9的漏極或者源極、所述晶體管P5的柵極、所述晶體管 N1的柵極之間,所述晶體管N4的漏極連接于所述數(shù)據(jù)線DLB,所述晶體管N4的源極接地,
在保持階段,由于所述兩個(gè)NMOS晶體管N3和N4的柵極放電到Vth,使得所述兩個(gè)NMOS 晶體管N3和N4處于關(guān)閉狀態(tài),
在讀取階段,由于所述第一級(jí)電流鎖存靈敏放大器將位線上的電流差信號(hào)鎖存,所述晶體管N1和隊(duì)的漏端放大到高低電平,使得所述晶體管K3關(guān)閉,所述晶體管N4開(kāi)啟,所述晶體管N4對(duì)所述數(shù)據(jù)線DLB放電,或者,
使得所述晶體管N4關(guān)閉,所述晶體管N3開(kāi)啟,所述晶體管N3對(duì)所述數(shù)據(jù)線DL放電。本發(fā)明提供的全電流靈敏放大器的有益效果在于
本發(fā)明提供的全電流靈敏放大器的第一級(jí)電流鎖存靈敏放大器能夠避免產(chǎn)生直流功
耗;
本發(fā)明提供的帶補(bǔ)償電路的全電流靈敏放大器通過(guò)在全電流靈敏放大器上引入補(bǔ)償電路解決器件間適配問(wèn)題,從而提高全電流靈敏放大器的可靠性,進(jìn)而優(yōu)化讀取單元的信息的速度。


圖1為本發(fā)明實(shí)施例提供的全電流靈敏放大器實(shí)施例一的電路原理圖; 圖2為本發(fā)明實(shí)施例提供的全電流靈敏放大器實(shí)施例二的電路原理圖3 (a)為在引入閾值電壓失配的條件后字線信號(hào)WL和控制信號(hào)CS的電壓波形圖; 圖3 (b)為在引入閾值電壓失配的條件后采用本發(fā)明實(shí)施例一提供的全電流靈敏放大器的電路時(shí)數(shù)據(jù)線DL和DLB上的電壓波形圖3 (c)為在引入閾值電壓失配的條件后采用本發(fā)明實(shí)施例二提供的全電流靈敏放大器的電路時(shí)數(shù)據(jù)線DL和DLB上的電壓波形圖4 (a)為引入失配前采用本發(fā)明實(shí)施例一提供的全電流靈敏放大器輸出電壓波形
圖4 (b)為引入失配后采用本發(fā)明實(shí)施例一提供的全電流靈敏放大器輸出電壓波形
圖4 (c)為引入失配前采用本發(fā)明實(shí)施例二提供的全電流靈敏放大器輸出電壓波形
圖4(d)為引入失配后采用本發(fā)明實(shí)施例二提供的全電流靈敏放大器輸出電壓波形圖。
具體實(shí)施例方式為了深入了解本發(fā)明,下面結(jié)合附圖及具體實(shí)施例對(duì)本發(fā)明進(jìn)行詳細(xì)說(shuō)明。實(shí)施例一
參見(jiàn)附圖1,本發(fā)明提供的全電流靈敏放大器包括,
(1)預(yù)充電電路1,用于在保持狀態(tài)下對(duì)位線進(jìn)行預(yù)充電并在讀寫(xiě)狀態(tài)下切斷充電路徑。其中,預(yù)充電電路包括兩個(gè)PMOS晶體管P1和P2,晶體管P1的源極連接于電源的+ 端,晶體管P1的漏極連接于位線BL,晶體管P2的源極連接于電源的+端,晶體管P2的漏極連接于位線BLB,
預(yù)充電控制信號(hào)WE分別從晶體管P1和P2的柵端輸入,
當(dāng)預(yù)充電控制信號(hào)WE由高電平變?yōu)榈碗娖綍r(shí),預(yù)充電電路對(duì)位線BL和位線BLB充電, 當(dāng)預(yù)充電控制信號(hào)WE由低電平變?yōu)楦唠娖綍r(shí),預(yù)充電電路停止對(duì)位線BL和位線BLB 充電。(2)存儲(chǔ)單元陣列2,用于寫(xiě)入數(shù)據(jù)和讀取數(shù)據(jù),其中,存儲(chǔ)單元陣列中的存儲(chǔ)單元是具有差分輸入、輸出的任意結(jié)構(gòu)。控制信號(hào)字線向存儲(chǔ)單元陣列中的存儲(chǔ)單元輸入。(3)第一級(jí)電流鎖存靈敏放大器3,用于感應(yīng)并放大位線上的電流差,并且,通過(guò)鎖存電流差信號(hào)轉(zhuǎn)化為高低電平,同時(shí)在第二級(jí)電流鎖存靈敏放大器的數(shù)據(jù)線上產(chǎn)生脈沖電流。其中,第一級(jí)電流鎖存靈敏放大器包括數(shù)據(jù)線DL和DLB,三個(gè)NMOS晶體管隊(duì)、N2 和N9,四個(gè)PMOS晶體管P3、P4、P5和P6,晶體管P3的源極連接于位線BL,晶體管P3的漏極連接于晶體管P5的源極,晶體管P4的源極連接于位線BLB,晶體管P4的漏極連接于晶體管P6 的源極,晶體管P3的柵極和晶體管P4的柵極相連,晶體管P5、P6和NliN2之間交叉耦合連接, 晶體管N9的柵極連接于晶體管P3的柵極與晶體管P4的柵極之間,
晶體管N9的源極連接于晶體管P5的柵極,晶體管N9的漏極連接于晶體管P6的柵極,或
者,
晶體管N9的漏極連接于晶體管P5的柵極,晶體管N9的源極連接于晶體管P6的柵極, 晶體管P5的漏極連接于晶體管N1的漏極,晶體管N1的源極連接于數(shù)據(jù)線DL,晶體管P6 漏極連接于晶體管N2的漏極,晶體管N2的源極連接于數(shù)據(jù)線DLB, 讀取控制信號(hào)CS分別從晶體管P3、P4和N9的柵極輸入, 在保持階段,第一級(jí)電流鎖存靈敏放大器關(guān)閉,
在讀取階段,讀取控制信號(hào)CS由高電平變?yōu)榈碗娖?,晶體管P3和P4打開(kāi),位線上的電流差通過(guò)交叉耦合連接的四個(gè)晶體管P3、P4、P5和P6在晶體管N1的漏極和隊(duì)的漏極轉(zhuǎn)化為大的電壓差,晶體管N1對(duì)數(shù)據(jù)線DL產(chǎn)生電流脈沖信號(hào)I1,晶體管N2對(duì)數(shù)據(jù)線DLB產(chǎn)生電流脈沖信號(hào)I2,其中,I1^I215(4)平衡電路5,用于平衡數(shù)據(jù)線DL和DLB上的電平。其中,平衡電路包括兩個(gè)NMOS晶體管N7和N8,晶體管N7的漏極連接于數(shù)據(jù)線DL, 晶體管N7的源極接地,晶體管N8漏極連接于數(shù)據(jù)線DLB,晶體管N8的源極接地,
作用于晶體管N7和N8的控制信號(hào)PRE分別從晶體管N7和N8的柵極輸入, 在保持階段,控制信號(hào)PRE為高電平,數(shù)據(jù)線DL通過(guò)晶體管N7放電到地,數(shù)據(jù)線DLB通過(guò)晶體管N8放電到地,
在讀取階段,控制信號(hào)PRE下降到低電平,晶體管N7和晶體管N8關(guān)斷。(5)第二級(jí)電流鎖存靈敏放大器6,用于感應(yīng)數(shù)據(jù)線DL和DLB上的電流差,并且將電流差進(jìn)行放大,最后將輸出放大到高低電平,
其中,第二級(jí)電流鎖存靈敏放大器包括三個(gè)NMOS晶體管N5、N6, Nltl,三個(gè)PMOS晶體管
PPP
r 7> r8> Tg J
晶體管P9的源極連接于電源的+端,晶體管P9的漏極連接于晶體管P7的源端與晶體管P8的源端之間,
控制信號(hào)GEN從晶體管P9的柵極輸入, 晶體管P7的源極和晶體管P8的源極相連,
晶體管P7的源極連接于晶體管P9的漏極,晶體管P7的漏極連接于晶體管N5的漏極,晶體管P7的漏極與晶體管N5的漏極之間連接有第I反相器7,第I反相器7同時(shí)連接于晶體管P8的柵極與晶體管N6的柵極之間,晶體管P7的柵極連接于晶體管P8的漏極與晶體管N6的漏極之間,晶體管N5的源極連接于數(shù)據(jù)線DL,
晶體管P8的源極連接于晶體管P9的漏極,晶體管P8的漏極連接于晶體管N6的漏極,晶體管P8的漏極與晶體管N6的漏極之間連接有第II反相器8,第II反相器8同時(shí)連接于晶體管P7的柵極與晶體管N5的柵極之間,晶體管P8的柵極連接于晶體管P7的漏極與晶體管N5 的漏極之間,晶體管N6的源極連接于數(shù)據(jù)線DLB,
晶體管Nltl的源極連接于晶體管N5的柵極和晶體管P7的柵極,晶體管Nltl的漏極連接于晶體管N6的柵極和晶體管P8的柵極,或者,
晶體管Nltl的漏極連接于晶體管N5的柵極和晶體管P7的柵極,晶體管Nltl的源極連接于晶體管N6的柵極和晶體管P8的柵極,
控制信號(hào)GEN從晶體管Nltl的柵極輸入,
在保持階段,控制信號(hào)GEN保持高電平,晶體管P9被關(guān)閉,第二級(jí)電流鎖存靈敏放大器關(guān)斷,
在讀取階段,控制信號(hào)GEN為低電平,晶體管P9打開(kāi),第二級(jí)電流鎖存靈敏放大器打開(kāi),第二級(jí)電流鎖存靈敏放大器通過(guò)感應(yīng)數(shù)據(jù)線DL和DLB上的電壓差,鎖存并放大信號(hào)到高低電平,并且,第二級(jí)電流鎖存靈敏放大器通過(guò)后級(jí)驅(qū)動(dòng)電路驅(qū)動(dòng)輸出。本發(fā)明實(shí)施例一提供的全電流靈敏放大器的第一級(jí)電流鎖存靈敏放大器3能夠感應(yīng)并放大位線上的電流差,并且,通過(guò)鎖存電流差信號(hào)轉(zhuǎn)化為高低電平,同時(shí)在第二級(jí)電流鎖存靈敏放大器6的數(shù)據(jù)線上產(chǎn)生脈沖電流,不會(huì)產(chǎn)生直流電流,第二級(jí)電流鎖存靈敏放大器6感應(yīng)該脈沖電流的電流差后在進(jìn)行放大,之后,將輸出放大到高低電平,從而避免產(chǎn)生直流功耗。實(shí)施例二
參見(jiàn)附圖2,本發(fā)明提供的帶補(bǔ)償電路的全電流靈敏放大器除包括實(shí)施一的電路結(jié)構(gòu)外,還包括,
補(bǔ)償電路4,利用第一級(jí)電流鎖存靈敏放大器3鎖存的電位差信號(hào)保持?jǐn)?shù)據(jù)線DL和 DLB上的信號(hào)電平。其中,補(bǔ)償電路4包括兩個(gè)NMOS晶體管N3和N4,晶體管N3的柵極連接于晶體管P5 的漏極與晶體管&的漏極之間,同時(shí),晶體管N3的柵極連接于晶體管N9的源極或者漏極、晶體管P6的柵極、晶體管隊(duì)的柵極之間,晶體管N3的漏極連接于數(shù)據(jù)線DL,N3的源極接地,
晶體管N4的柵極連接于晶體管P6的漏極與晶體管N2的漏極之間,同時(shí),晶體管N4的柵極連接于晶體管N9的漏極或者源極、晶體管P5的柵極、晶體管N1的柵極之間,晶體管N4的漏極連接于數(shù)據(jù)線DLB,晶體管N4的源極接地,
在保持階段,由于兩個(gè)NMOS晶體管N3和N4的柵極放電到Vth,使得兩個(gè)NMOS晶體管N3 和N4處于關(guān)閉狀態(tài),
在讀取階段,由于第一級(jí)電流鎖存靈敏放大器將位線上的電流差信號(hào)鎖存,晶體管N1 和N2的漏端放大到高低電平,使得晶體管N3關(guān)閉,晶體管N4開(kāi)啟,晶體管N4對(duì)數(shù)據(jù)線DLB 放電,或者,
使得晶體管N4關(guān)閉,晶體管N3開(kāi)啟,晶體管N3對(duì)數(shù)據(jù)線DL放電。本發(fā)明實(shí)施例一提供的全電流靈敏放大器的第二級(jí)電流鎖存靈敏放大器6產(chǎn)生的脈沖電流的方向和第一級(jí)電流鎖存靈敏放大器3產(chǎn)生的脈沖電流方向相反,會(huì)使得器件間的失配問(wèn)題更加嚴(yán)重,從而給使該全電流靈敏放大器的可靠性降低。參見(jiàn)附圖3 (a)、附圖3 (b)和附圖3 (c),在對(duì)晶體管N5和N6引入閾值電壓誤差為IOOmV的條件下,本發(fā)明實(shí)施例一提供的全電流靈敏放大器的數(shù)據(jù)線DL和DLB的電壓差的正負(fù)發(fā)生變化,而本發(fā)明實(shí)施例二提供的帶補(bǔ)償電路的全電流靈敏放大器的數(shù)據(jù)線DL 和DLB的電壓差的正負(fù)始終保持一致。參見(jiàn)附圖4 (a)、附圖4 (b)、附圖4 (C)、和附圖4 (d),在對(duì)晶體管N5和N6引入閾值電壓誤差為IOOmV的條件下,采用本發(fā)明實(shí)施例一提供的全電流靈敏放大器的輸出信號(hào)產(chǎn)生了錯(cuò)誤,而采用本發(fā)明實(shí)施例二提供的帶補(bǔ)償電路的全電流靈敏放大器的輸出信號(hào)則仍然正確。 從而,本發(fā)明實(shí)施例二提供的帶補(bǔ)償電路的全電流靈敏放大器能夠提高全電流靈敏放大器的可靠性,進(jìn)而優(yōu)化讀取單元的信息的速度。 以上所述的具體實(shí)施方式
,對(duì)本發(fā)明的目的、技術(shù)方案和有益效果進(jìn)行了進(jìn)一步詳細(xì)說(shuō)明,所應(yīng)理解的是,以上所述僅為本發(fā)明的具體實(shí)施方式
而已,并不用于限制本發(fā)明,凡在本發(fā)明的精神和原則之內(nèi),所做的任何修改、等同替換、改進(jìn)等,均應(yīng)包含在本發(fā)明的保護(hù)范圍之內(nèi)。
權(quán)利要求
1.一種全電流靈敏放大器,其特征在于,包括,預(yù)充電電路,用于在保持狀態(tài)下對(duì)位線進(jìn)行預(yù)充電并在讀寫(xiě)狀態(tài)下切斷充電路徑;存儲(chǔ)單元陣列,用于寫(xiě)入數(shù)據(jù)和讀取數(shù)據(jù);第一級(jí)電流鎖存靈敏放大器,包括數(shù)據(jù)線DL和DLB,用于感應(yīng)并放大位線上的電流差, 并且,通過(guò)鎖存電流差信號(hào)轉(zhuǎn)化為高低電平,同時(shí)在第二級(jí)電流鎖存靈敏放大器的數(shù)據(jù)線上產(chǎn)生脈沖電流;平衡電路,用于平衡所述數(shù)據(jù)線DL和DLB上的電平;第二級(jí)電流鎖存靈敏放大器,用于感應(yīng)所述數(shù)據(jù)線DL和DLB上的電流差,并且將所述電流差進(jìn)行放大,最后將輸出放大到高低電平;所述預(yù)充電電路和所述存儲(chǔ)單元陣列分別連接于位線,所述第一級(jí)電流鎖存靈敏放大器的一端連接于位線,所述第一級(jí)電流鎖存靈敏放大器的數(shù)據(jù)線上DL和DLB上還連有所述平衡電路和所述第二級(jí)電流鎖存靈敏放大器。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的放大器,其特征在于,所述預(yù)充電電路包括兩個(gè)PMOS晶體管 P1和P2,所述晶體管P1的源極連接于電源的+端,所述晶體管P1的漏極連接于位線BL,所述晶體管P2的源極連接于電源的+端,所述晶體管P2的漏極連接于位線BLB,預(yù)充電控制信號(hào)WE分別從所述晶體管P1和P2的柵端輸入,當(dāng)所述預(yù)充電控制信號(hào)WE由高電平變?yōu)榈碗娖綍r(shí),所述預(yù)充電電路對(duì)位線BL和位線 BLB充電,當(dāng)所述預(yù)充電控制信號(hào)WE由低電平變?yōu)楦唠娖綍r(shí),所述預(yù)充電電路停止對(duì)位線BL和位線BLB充電。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的放大器,其特征在于,所述存儲(chǔ)單元陣列中的存儲(chǔ)單元是具有差分輸入、輸出的任意結(jié)構(gòu)。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的放大器,其特征在于,控制信號(hào)字線向所述存儲(chǔ)單元陣列中的存儲(chǔ)單元輸入。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的放大器,其特征在于,所述第一級(jí)電流鎖存靈敏放大器還包括三個(gè)NMOS晶體管N1A2和N9,四個(gè)PMOS晶體管P3、P4、P5和P6,所述晶體管P3的源極連接于位線BL,所述晶體管P3的漏極連接于所述晶體管P5的源極,所述晶體管P4的源極連接于位線BLB,所述晶體管P4的漏極連接于所述晶體管P6的源極,所述晶體管P3的柵極和所述晶體管P4的柵極相連,所述晶體管P5、P6和N1A2之間交叉耦合連接,所述晶體管N9的柵極連接于所述晶體管P3的柵極與所述晶體管P4的柵極之間,所述晶體管N9的源極連接于所述晶體管P5的柵極,所述晶體管N9的漏極連接于所述晶體管P6的柵極,或者,所述晶體管N9的漏極連接于所述晶體管P5的柵極,所述晶體管N9的源極連接于所述晶體管P6的柵極,所述晶體管P5的漏極連接于所述晶體管N1的漏極,所述晶體管N1的源極連接于所述數(shù)據(jù)線DL,所述晶體管P6漏極連接于所述晶體管隊(duì)的漏極,所述晶體管隊(duì)的源極連接于所述數(shù)據(jù)線DLB,讀取控制信號(hào)CS分別從所述晶體管P3、P4和N9的柵極輸入,在保持階段,所述第一級(jí)電流鎖存靈敏放大器關(guān)閉,在讀取階段,讀取控制信號(hào)CS由高電平變?yōu)榈碗娖?,晶體管P3和P4打開(kāi),位線上的電流差通過(guò)交叉耦合連接的所述四個(gè)晶體管P3、P4、P5和P6在所述晶體管N1的漏極和隊(duì)的漏極轉(zhuǎn)化為大的電壓差,所述晶體管N1對(duì)所述數(shù)據(jù)線DL產(chǎn)生電流脈沖信號(hào)I1,所述晶體管N2 對(duì)所述數(shù)據(jù)線DLB產(chǎn)生電流脈沖信號(hào)12,其中,I1 Φ 12。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的放大器,其特征在于,所述平衡電路包括兩個(gè)NMOS晶體管N7 和N8,所述晶體管N7的漏極連接于所述數(shù)據(jù)線DL,所述晶體管N7的源極接地,所述晶體管 N8漏極連接于所述數(shù)據(jù)線DLB,所述晶體管N8的源極接地,作用于所述晶體管N7和N8的控制信號(hào)PRE分別從所述晶體管N7和N8的柵極輸入,在保持階段,所述控制信號(hào)PRE為高電平,所述數(shù)據(jù)線DL通過(guò)所述晶體管N7放電到地, 所述數(shù)據(jù)線DLB通過(guò)所述晶體管N8放電到地,在讀取階段,所述控制信號(hào)PRE下降到低電平,所述晶體管N7和所述晶體管N8關(guān)斷。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的放大器,其特征在于,所述第二級(jí)電流鎖存靈敏放大器包括三個(gè)NMOS晶體管仏、N6、N10,三個(gè)PMOS晶體管P7、P8、P9,所述晶體管P9的源極連接于電源的+端,所述晶體管P9的漏極連接于所述晶體管P7的源端與所述晶體管P8的源端之間,控制信號(hào)GEN從所述晶體管P9的柵極輸入,所述晶體管P7的源極和所述晶體管P8的源極相連,所述晶體管P7的源極連接于所述晶體管P9的漏極,所述晶體管P7的漏極連接于所述晶體管N5的漏極,所述晶體管P7的漏極與所述晶體管N5的漏極之間連接有第I反相器,所述第I反相器同時(shí)連接于所述晶體管&的柵極與所述晶體管N6的柵極之間,所述晶體管P7 的柵極連接于所述晶體管P8的漏極與所述晶體管N6的漏極之間,所述晶體管N5的源極連接于所述數(shù)據(jù)線DL,所述晶體管P8的源極連接于所述晶體管P9的漏極,所述晶體管P8的漏極連接于所述晶體管N6的漏極,所述晶體管P8的漏極與所述晶體管N6的漏極之間連接有第II反相器,所述第II反相器同時(shí)連接于所述晶體管P7的柵極與所述晶體管N5的柵極之間,所述晶體管P8 的柵極連接于所述晶體管P7的漏極與所述晶體管N5的漏極之間,所述晶體管N6的源極連接于所述數(shù)據(jù)線DLB,所述晶體管Nltl的源極連接于所述晶體管N5的柵極和所述晶體管P7的柵極,所述晶體管Nltl的漏極連接于所述晶體管N6的柵極和所述晶體管P8的柵極,或者,所述晶體管Nltl的漏極連接于所述晶體管N5的柵極和所述晶體管P7的柵極,所述晶體管Nltl的源極連接于所述晶體管N6的柵極和所述晶體管P8的柵極,控制信號(hào)GEN從所述晶體管Nltl的柵極輸入,在保持階段,所述控制信號(hào)GEN保持高電平,所述晶體管P9被關(guān)閉,所述第二級(jí)電流鎖存靈敏放大器關(guān)斷,在讀取階段,所述控制信號(hào)GEN為低電平,所述晶體管P9打開(kāi),所述第二級(jí)電流鎖存靈敏放大器打開(kāi),所述第二級(jí)電流鎖存靈敏放大器通過(guò)感應(yīng)所述數(shù)據(jù)線DL和DLB上的電壓差,鎖存并放大信號(hào)到高低電平,并且,所述第二級(jí)電流鎖存靈敏放大器通過(guò)后級(jí)驅(qū)動(dòng)電路驅(qū)動(dòng)輸出。
8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的放大器,其特征在于,還包括,補(bǔ)償電路,利用所述第一級(jí)電流鎖存靈敏放大器鎖存的電位差信號(hào)保持所述數(shù)據(jù)線DL 和DLB上的信號(hào)電平,使所述數(shù)據(jù)線DL和DLB上的信號(hào)電平不會(huì)受所述第二級(jí)靈敏放大器打開(kāi)后產(chǎn)生的脈沖電流的影響,所述補(bǔ)償電路連接于所述第一級(jí)電流鎖存靈敏放大器。
9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的放大器,其特征在于,所述補(bǔ)償電路包括兩個(gè)NMOS晶體管N3 和N4,所述晶體管N3的柵極連接于所述晶體管P5的漏極與晶體管N1的漏極之間,同時(shí),所述晶體管N3的柵極連接于所述晶體管N9的源極或者漏極、所述晶體管P6的柵極、所述晶體管N2的柵極之間,所述晶體管N3的漏極連接于所述數(shù)據(jù)線DL,所述N3的源極接地,所述晶體管N4的柵極連接于所述晶體管P6的漏極與晶體管隊(duì)的漏極之間,同時(shí),所述晶體管N4的柵極連接于所述晶體管N9的漏極或者源極、所述晶體管P5的柵極、所述晶體管 N1的柵極之間,所述晶體管N4的漏極連接于所述數(shù)據(jù)線DLB,所述晶體管N4的源極接地,在保持階段,由于所述兩個(gè)NMOS晶體管N3和N4的柵極放電到Vth,使得所述兩個(gè)NMOS 晶體管N3和N4處于關(guān)閉狀態(tài),在讀取階段,由于所述第一級(jí)電流鎖存靈敏放大器將位線上的電流差信號(hào)鎖存,所述晶體管N1和隊(duì)的漏端放大到高低電平,使得所述晶體管K3關(guān)閉,所述晶體管N4開(kāi)啟,所述晶體管N4對(duì)所述數(shù)據(jù)線DLB放電,或者,使得所述晶體管N4關(guān)閉,所述晶體管N3開(kāi)啟,所述晶體管N3對(duì)所述數(shù)據(jù)線DL放電。
全文摘要
本發(fā)明公開(kāi)了一種全電流靈敏放大器,屬于半導(dǎo)體隨機(jī)存儲(chǔ)器電路技術(shù)領(lǐng)域。該放大器包括,預(yù)充電電路,存儲(chǔ)單元陣列,第一級(jí)電流鎖存靈敏放大器,平衡電路,第二級(jí)電流鎖存靈敏放大器,預(yù)充電電路和存儲(chǔ)單元陣列分別連接于位線,第一級(jí)電流鎖存靈敏放大器的一端連接于位線,第一級(jí)電流鎖存靈敏放大器的數(shù)據(jù)線上DL和DLB上還連有平衡電路和第二級(jí)電流鎖存靈敏放大器。該放大器能夠避免產(chǎn)生直流功耗。
文檔編號(hào)G11C7/06GK102394094SQ20111030363
公開(kāi)日2012年3月28日 申請(qǐng)日期2011年10月9日 優(yōu)先權(quán)日2011年10月9日
發(fā)明者劉夢(mèng)新, 王一奇, 趙發(fā)展, 韓鄭生 申請(qǐng)人:中國(guó)科學(xué)院微電子研究所
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