專利名稱：數(shù)據(jù)存儲(chǔ)裝置測(cè)試儀的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
背景技術(shù)：
諸如磁盤驅(qū)動(dòng)器和固態(tài)驅(qū)動(dòng)器的數(shù)據(jù)存儲(chǔ)裝置(data storage device, DSD)在諸如計(jì)算機(jī)系統(tǒng)(例如桌上型、膝上型、便攜型等)以及消費(fèi)裝置(例如音樂(lè)播放器、蜂窩電話、相機(jī)等)的眾多應(yīng)用中采用。原始設(shè)備制造商(original equipment manufacture, OEM)將通常從DSD制造商批量購(gòu)買DSD以便在OEM產(chǎn)品中使用。在安裝DSD之前和/或之后，OEM將進(jìn)行多次測(cè)試以驗(yàn)證DSD沒(méi)有缺陷。如果檢測(cè)到問(wèn)題，則OEM將會(huì)把有缺陷的 DSD返回制造商并請(qǐng)求更換DSD。DSD制造商還可以進(jìn)行多次生產(chǎn)線測(cè)試以在向OEM運(yùn)送 DSD之前檢測(cè)問(wèn)題，以及當(dāng)其被OEM或者消費(fèi)者退回時(shí)測(cè)試DSD。圖IA示出磁盤驅(qū)動(dòng)器形式的現(xiàn)有技術(shù)DSD的部件，包括在磁盤4上方致動(dòng)的磁頭 2，磁盤4包括由嵌入的伺服扇區(qū)4- 限定的多個(gè)磁軌6。磁盤驅(qū)動(dòng)器還包括控制電路10， 用于當(dāng)讀取伺服扇區(qū) -8n時(shí)解調(diào)制讀取信號(hào)12以及產(chǎn)生磁頭2相對(duì)于目標(biāo)磁軌6的位置誤差信號(hào)(PES)。用適當(dāng)?shù)难a(bǔ)償濾波器對(duì)PES濾波以產(chǎn)生向音圈電機(jī)16施加的控制信號(hào) 14，其使致動(dòng)臂18轉(zhuǎn)動(dòng)以在降低PES的方向上在磁盤4上方徑向地移動(dòng)磁頭2。磁盤驅(qū)動(dòng)器可以包括多個(gè)日志，諸如存儲(chǔ)磁盤驅(qū)動(dòng)器制造數(shù)據(jù)的制造日志20、以及存儲(chǔ)用于故障預(yù)測(cè)的診斷信息的自監(jiān)視、分析和報(bào)告技術(shù)(Self-Monitoringjnalysis， and Reporting Technology, S. Μ. A. R. Τ.)日志22。磁盤驅(qū)動(dòng)器可以還包括由控制電路10 內(nèi)部執(zhí)行的驅(qū)動(dòng)器自測(cè)試(DST) 24以迅速地驗(yàn)證磁盤驅(qū)動(dòng)器是否正確工作。然而，DST 24 進(jìn)行有限次數(shù)的基本測(cè)試，其可能不能準(zhǔn)確地檢測(cè)缺陷，導(dǎo)致有缺陷的磁盤驅(qū)動(dòng)器安裝到 OEM產(chǎn)品中。最終，有缺陷的磁盤驅(qū)動(dòng)器在現(xiàn)場(chǎng)配置使用時(shí)將發(fā)生故障，導(dǎo)致OEM產(chǎn)品的昂貴修理和/或返回?；蛘撸珼ST M或者其它OEM生產(chǎn)線測(cè)試可能錯(cuò)誤地檢測(cè)有缺陷的磁盤驅(qū)動(dòng)器，該磁盤驅(qū)動(dòng)器被不必要地返回到磁盤驅(qū)動(dòng)器制造商。


圖IA示出磁盤驅(qū)動(dòng)器形式的現(xiàn)有技術(shù)DSD，其包括在磁盤上方致動(dòng)的磁頭以及控制電路；圖IB例示現(xiàn)有技術(shù)的磁盤驅(qū)動(dòng)器的控制電路如何可以保持制造日志以及 S. M. A. R. T.日志以及執(zhí)行驅(qū)動(dòng)器自測(cè)(DST)。圖2A示出根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施例的多個(gè)生產(chǎn)線，其均包括用于測(cè)試DSD的多個(gè)測(cè)試臺(tái)；圖2B例示本發(fā)明的實(shí)施例，其中當(dāng)測(cè)試臺(tái)中的一個(gè)識(shí)別故障DSD時(shí)，在被返回到DSD制造商之前DSD測(cè)試儀對(duì)該DSD進(jìn)行DSD測(cè)試，以驗(yàn)證是否其有缺陷；圖3示出DSD測(cè)試儀，其包括三個(gè)艙和反映DSD測(cè)試儀狀態(tài)的燈；圖4A-4F示出根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施例的圖形用戶界面(GUI)，其在DSD被插入、測(cè)試以及接著從DSD測(cè)試儀移開(kāi)時(shí)被自動(dòng)更新；圖5是根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施例的用于自動(dòng)測(cè)試DSD和更新⑶I以及DSD測(cè)試儀上的狀態(tài)燈的流程圖；圖6A示出本發(fā)明的實(shí)施例，其中為多個(gè)測(cè)試的DSD聚集故障數(shù)據(jù)和生產(chǎn)線數(shù)據(jù)并且所聚集的數(shù)據(jù)發(fā)送到DSD的制造商；圖6B示出本發(fā)明的實(shí)施例，其中將故障數(shù)據(jù)與生產(chǎn)線數(shù)據(jù)相關(guān)，以及所相關(guān)的數(shù)據(jù)在顯示屏上顯示以便分析；圖7A是根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施例的流程圖，其中生產(chǎn)線數(shù)據(jù)經(jīng)過(guò)條碼讀取器輸入；圖7B是根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施例的流程圖，其中在顯示屏上顯示與生產(chǎn)線數(shù)據(jù)相關(guān)的故障數(shù)據(jù)；圖8是根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施例的流程圖，其中使用從DSD讀取的一個(gè)或者更多個(gè)DSD 日志以測(cè)試DSD ；圖9是根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施例的流程圖，其中使用識(shí)別與讀取錯(cuò)誤關(guān)聯(lián)的命令序列的DSD錯(cuò)誤日志來(lái)測(cè)試DSD ；圖10是根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施例的流程圖，其中執(zhí)行讀取錯(cuò)誤之前和讀取錯(cuò)誤之后的命令序列以嘗試再現(xiàn)該錯(cuò)誤；圖11是根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施例的流程圖，其中在DSD測(cè)試期間當(dāng)執(zhí)行命令序列時(shí) DSD的通道參數(shù)被邊緣化；圖12是根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施例的流程圖，其中命令序列包括在重試操作期間執(zhí)行的命令；圖13示出本發(fā)明的實(shí)施例，其中在DSD測(cè)試期間執(zhí)行的命令序列通過(guò)聚集全局命令序列的子集而產(chǎn)生；圖14A示出本發(fā)明的實(shí)施例，其中DSD測(cè)試儀包括與顯示屏接口的機(jī)箱；圖14B示出本發(fā)明的實(shí)施例，其中DSD測(cè)試儀使用適當(dāng)?shù)碾娎|連接(例如通用串行總線(USB))與DSD相接；圖14C示出本發(fā)明的實(shí)施例，其中DSD測(cè)試儀包括插入到OEM產(chǎn)品中以進(jìn)行DSD 測(cè)試的USB鑰匙；圖15示出本發(fā)明的實(shí)施例，其中DSD包括磁盤驅(qū)動(dòng)器；以及圖16示出本發(fā)明的實(shí)施例，其中DSD包括固態(tài)驅(qū)動(dòng)器。
具體實(shí)施例方式圖2A和圖2B示出用于測(cè)試DSD 28B2的數(shù)據(jù)存儲(chǔ)裝置(DSD)測(cè)試儀26。DSD測(cè)試儀沈包括可操作用于執(zhí)行圖7A的流程圖的控制電路，其中通過(guò)接口接收生產(chǎn)線數(shù)據(jù)(步驟30)，并且該生產(chǎn)線數(shù)據(jù)和DSD 28B2相關(guān)?？刂齐娐穼?duì)DSD 28B2執(zhí)行DSD測(cè)試(步驟 32)，以及將DSD測(cè)試產(chǎn)生的故障數(shù)據(jù)以及生產(chǎn)線數(shù)據(jù)發(fā)送到DSD ^ 的制造商(步驟34)。 可以使用任何合適的測(cè)試來(lái)確定適當(dāng)?shù)墓收蠑?shù)據(jù)。例如，一些實(shí)施例包括進(jìn)行以下將更詳細(xì)描述的測(cè)試。在圖2A的實(shí)施例中，多個(gè)生產(chǎn)線以裝配線模式處理DSD，其中每個(gè)生產(chǎn)線包括用于對(duì)DSD進(jìn)行特定操作的多個(gè)測(cè)試臺(tái)。例如，OEM可以將磁盤驅(qū)動(dòng)器或者固態(tài)驅(qū)動(dòng)器形式的DSD安裝到諸如桌上型或者膝上型計(jì)算機(jī)的合適的消費(fèi)裝置中。在將DSD安裝到消費(fèi)裝置之前和/或之后，在各個(gè)測(cè)試臺(tái)對(duì)DSD進(jìn)行大量生產(chǎn)線測(cè)試。例如，第一測(cè)試臺(tái)可以將測(cè)試圖像復(fù)制到DSD上，第二測(cè)試臺(tái)可以使用測(cè)試圖像進(jìn)行各種診斷，第三測(cè)試臺(tái)可以在DSD 上安裝操作系統(tǒng)，而第四測(cè)試臺(tái)可以配置操作系統(tǒng)，例如基于消費(fèi)裝置將被銷售的國(guó)家。當(dāng)在每個(gè)生產(chǎn)線測(cè)試臺(tái)時(shí)，可以檢測(cè)DSD具有的問(wèn)題，諸如被DSD的控制電路內(nèi)部識(shí)別的問(wèn)題(例如寫入/讀取錯(cuò)誤、伺服錯(cuò)誤、電壓調(diào)整錯(cuò)誤、時(shí)序錯(cuò)誤等)，或者操作員識(shí)別的錯(cuò)誤 (例如DSD的聲學(xué)噪聲過(guò)高、DSD完全不響應(yīng)等)。DSD可能因?yàn)楸姸嘣蚨l(fā)生故障，諸如DSD的部件中的缺陷或者消費(fèi)裝置的部件中的缺陷、制造DSD時(shí)的缺陷或者生產(chǎn)線中的缺陷。例如，DSD可以用有缺陷的存儲(chǔ)介質(zhì) (例如有缺陷的磁盤)制造，其妨礙用戶數(shù)據(jù)的適當(dāng)存儲(chǔ)和檢索。在另一示例中，消費(fèi)裝置可以被制造為具有帶缺陷的部件(例如風(fēng)扇)，其可能干擾DSD的適當(dāng)操作。在又一示例中，生產(chǎn)線可以包括有缺陷的裝配工具(例如有缺陷的扭矩驅(qū)動(dòng)器)，當(dāng)安裝在消費(fèi)裝置的機(jī)箱中時(shí)其損壞DSD。在再一示例中，生產(chǎn)線可以包括有缺陷的電源，其在測(cè)試期間向DSD {共 ο當(dāng)DSD在生產(chǎn)線測(cè)試臺(tái)上發(fā)生故障時(shí)，不將其立即返回到DSD制造商或者作為缺陷物丟棄，而是在DSD測(cè)試儀沈上測(cè)試DSD。如果DSD通過(guò)DSD測(cè)試，則其可以重插入到生產(chǎn)線中(例如在生產(chǎn)線的起點(diǎn))。如果DSD沒(méi)有通過(guò)DSD測(cè)試，則其可以被丟棄或者返回到制造商進(jìn)行修理。在任何情況下，可以將故障數(shù)據(jù)和關(guān)聯(lián)的生產(chǎn)線數(shù)據(jù)聚集接著進(jìn)行評(píng)估以識(shí)別和糾正與生產(chǎn)線或DSD的制造工藝關(guān)聯(lián)的問(wèn)題。例如，可能需要更換特定生產(chǎn)線的測(cè)試臺(tái)處的有缺陷的裝配工具或者電源以解決該問(wèn)題。在另一示例中，可以修改制造 DSD的部件(例如存儲(chǔ)介質(zhì)、讀取頭、半導(dǎo)體存儲(chǔ)器等)的工藝以解決該問(wèn)題。在一個(gè)實(shí)施例中，DSD測(cè)試儀沈產(chǎn)生的故障數(shù)據(jù)以及生產(chǎn)線數(shù)據(jù)之間的相關(guān)性幫助找到和解決否則在延長(zhǎng)的時(shí)間段中不能檢測(cè)出的錯(cuò)誤。與故障的DSD關(guān)聯(lián)以及輸入到DSD測(cè)試儀沈的生產(chǎn)線數(shù)據(jù)可以包括任何合適的數(shù)據(jù)，諸如生產(chǎn)線號(hào)碼和/或DSD發(fā)生故障處的生產(chǎn)線內(nèi)的測(cè)試臺(tái)。在圖2B的實(shí)施例中， 在生產(chǎn)線測(cè)試期間出故障的DSD ^ 被插入DSD測(cè)試儀沈的艙中。包括多個(gè)艙的機(jī)箱36 容納DSD，其中機(jī)箱36連接到包括桌上機(jī)盒38、監(jiān)視器40以及鍵盤42的⑶I計(jì)算機(jī)。在一個(gè)實(shí)施例中，在操作員將DSD 28B2插入到其中一個(gè)艙中后，操作員使用鍵盤42(和/或鼠標(biāo))輸入生產(chǎn)線數(shù)據(jù)。例如，⑶I計(jì)算機(jī)可以顯示包括適當(dāng)?shù)妮斎霗?文本框、復(fù)選框、 下拉菜單等)的窗口應(yīng)用。除了從DSD測(cè)試儀沈的操作員接收生產(chǎn)線數(shù)據(jù)，DSD測(cè)試儀沈可以從所插入的DSD^h接收配置信息，諸如序列號(hào)、制造日志、操作日志等。圖3示出本發(fā)明的實(shí)施例，其中DSD測(cè)試儀的機(jī)箱36包括三個(gè)艙，每個(gè)都用于容納DSD。在其它實(shí)施例中，可以使用更多或者更少的艙。在圖3的實(shí)施例中，機(jī)箱36還包括每個(gè)艙的至少一個(gè)燈，用于顯示DSD測(cè)試的狀態(tài)。例如，機(jī)箱36可包括第一燈44，當(dāng)所插入的DSD被測(cè)試時(shí)點(diǎn)亮，第二燈46，當(dāng)DSD通過(guò)測(cè)試時(shí)點(diǎn)亮，以及第三燈48，當(dāng)DSD測(cè)試失敗 (即未通過(guò)測(cè)試)時(shí)點(diǎn)亮。在其它實(shí)施例中，燈中的兩個(gè)或者更多個(gè)可以被組合，例如使用一個(gè)燈顯示通過(guò)/失敗狀態(tài)(例如使用綠和紅照明)。圖4A示出根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施例的⑶I，對(duì)應(yīng)于圖3所示的三個(gè)艙的機(jī)箱36。在此實(shí)施例中，針對(duì)每個(gè)艙顯示對(duì)話框，其中對(duì)話框顯示所插入的DSD的序列號(hào)/型號(hào)、示出DSD 測(cè)試的進(jìn)度的狀態(tài)條、用于查看與DSD測(cè)試關(guān)聯(lián)的日志的按鈕以及用于取消/重試DSD測(cè)試的按鈕。在一個(gè)實(shí)施例中，當(dāng)DSD插入到其中一個(gè)艙中時(shí)GUI被自動(dòng)更新，以及在一個(gè)實(shí)施例中，DSD測(cè)試自動(dòng)開(kāi)始。圖4A示出一個(gè)示例，其中已經(jīng)將第一 DSD插入到第一艙，DSD 測(cè)試自動(dòng)開(kāi)始(獨(dú)立于操作員輸入)，并且GUI自動(dòng)更新以反映DSD測(cè)試的狀態(tài)。圖4B示出一個(gè)示例，其中已經(jīng)將第二 DSD插入到第二艙，⑶I自動(dòng)更新，并且對(duì)第二 DSD的DSD測(cè)試與繼續(xù)對(duì)第一 DSD的DSD測(cè)試并行地自動(dòng)開(kāi)始。圖4C示出一個(gè)示例，其中GUI指示第一 DSD的測(cè)試剩余10分鐘，以及對(duì)第二 DSD的測(cè)試剩余25分鐘。圖4D示出一個(gè)示例，其中對(duì)第一 DSD的DSD測(cè)試已經(jīng)成功完成，以及圖4E示出一個(gè)示例，其中對(duì)第二 DSD的DSD測(cè)試失敗。圖4E還例示插入到第三艙的第三DSDjUI自動(dòng)更新，并且DSD測(cè)試自動(dòng)開(kāi)始和運(yùn)行。圖4F例示一個(gè)示例，其中在將第二 DSD從第二艙移開(kāi)之后，GUI自動(dòng)更新以反映第二艙現(xiàn)在為空的。圖5是根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施例的流程圖，其中當(dāng)DSD測(cè)試儀檢測(cè)到DSD已經(jīng)被插入 (或者連接)時(shí)(步驟50)，DSD測(cè)試儀的機(jī)箱上的燈被控制以指示DSD測(cè)試正在進(jìn)行(步驟52)。GUI獨(dú)立于操作員輸入而自動(dòng)更新(步驟M)，并且DSD測(cè)試自動(dòng)開(kāi)始(步驟56)。 在測(cè)試DSD時(shí)，如果另一 DSD被插入(或者連接)則流程圖可以重執(zhí)行。當(dāng)DSD測(cè)試完成時(shí)(步驟58)，如果DSD通過(guò)測(cè)試(步驟60)，則燈被控制以指示測(cè)試通過(guò)(步驟6 ，并且如果DSD測(cè)試失敗則燈被控制以指示測(cè)試失敗(步驟64)。當(dāng)DSD被移開(kāi)(或者斷開(kāi))時(shí) (步驟66)，GUI被自動(dòng)更新以反映DSD測(cè)試儀中的變化(步驟68)。在一個(gè)實(shí)施例中，DSD 測(cè)試儀通過(guò)周期地輪詢每個(gè)艙以確定DSD是否以合適的響應(yīng)來(lái)響應(yīng)而檢測(cè)DSD已經(jīng)被插入或者移開(kāi)。圖6A示出根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施例的DSD測(cè)試儀沈，其中用于接收生產(chǎn)線數(shù)據(jù)的接口包括用于讀取條碼72的條碼讀取器70。在圖6A的示例中，條碼72可以標(biāo)識(shí)生產(chǎn)線號(hào)碼和對(duì)應(yīng)的測(cè)試臺(tái)。另外，在圖6A的示例中，可以使用條碼讀取器70讀取DSD 28B2上印刷的條碼。例如，DS擬8 上的條碼可以包括序列號(hào)或型號(hào)，特別是在序列號(hào)或型號(hào)不存儲(chǔ)在DSD ^ 或者不能從DSD觀化讀取的情形下。在一個(gè)實(shí)施例中，條碼72可以印刷或打印在保留在每個(gè)DSD測(cè)試儀的紙張上。在替代實(shí)施例中，條碼72可以印刷在卡上，該卡在 DSD在生產(chǎn)線測(cè)試中失敗之后緊接著附著到DSD。例如，當(dāng)生產(chǎn)線測(cè)試臺(tái)的操作員識(shí)別故障的DSD時(shí)，他們可以將對(duì)應(yīng)于生產(chǎn)線和測(cè)試臺(tái)的合適條碼畫圈以及將卡附著到DSD上。當(dāng) DSD被DSD測(cè)試儀的操作員處理時(shí)，他們可以掃描卡上畫圈的條碼以將生產(chǎn)線數(shù)據(jù)輸入到 DSD測(cè)試儀。圖6A還例示本發(fā)明的實(shí)施例，其中在測(cè)試大量DSD之后，對(duì)應(yīng)的聚集的故障數(shù)據(jù)和關(guān)聯(lián)的生產(chǎn)線數(shù)據(jù)經(jīng)過(guò)因特網(wǎng)74(例如使用文件事務(wù)處理協(xié)議(TCP))發(fā)送到聚集體服務(wù)器76。分析服務(wù)器78周期地檢查聚集體服務(wù)器76以及當(dāng)DSD測(cè)試數(shù)據(jù)更新時(shí)下載DSD 測(cè)試數(shù)據(jù)。在一個(gè)實(shí)施例中，在允許DSD測(cè)試數(shù)據(jù)通過(guò)保護(hù)分析服務(wù)器78的防火墻80之前，DSD測(cè)試數(shù)據(jù)首先被分析以驗(yàn)證沒(méi)有病毒。分析服務(wù)器78處理DSD測(cè)試數(shù)據(jù)(例如將故障數(shù)據(jù)與生產(chǎn)線數(shù)據(jù)相關(guān))以及接著產(chǎn)生能夠用來(lái)修改DSD的制造工藝82和/或修改生產(chǎn)線84的報(bào)告。圖6B示出可以由圖6A的分析服務(wù)器78產(chǎn)生，或者替代地由DSD測(cè)試儀沈產(chǎn)生和顯示的示例報(bào)告。在圖6B的示例中，為每個(gè)生產(chǎn)線產(chǎn)生若干圖，其中y軸代表DSD測(cè)試處理的DSD的數(shù)量，而χ軸代表生產(chǎn)線中的每個(gè)測(cè)試臺(tái)。圖6B中的第一幅圖示出線1在全部測(cè)試臺(tái)中產(chǎn)生數(shù)量眾多的故障，其可以指示DSD的制造的問(wèn)題而不是生產(chǎn)線的任何測(cè)試臺(tái)的問(wèn)題。圖6B的第二幅圖示出在線2的測(cè)試臺(tái)2處數(shù)量眾多的故障，其可以指示測(cè)試臺(tái)有問(wèn)題而不是DSD的問(wèn)題。在一個(gè)實(shí)施例中，圖中的y軸可以僅僅代表DSD測(cè)試失敗的DSD， 而在替代實(shí)施例中，y軸可以代表測(cè)試的DSD的總數(shù)量(無(wú)論DSD是否通過(guò)測(cè)試或者測(cè)試失敗)。在又一實(shí)施例中，可以產(chǎn)生不同的圖，這些圖離析通過(guò)和故障的DSD與關(guān)聯(lián)的生產(chǎn)線數(shù)據(jù)的相關(guān)。在再一實(shí)施例中，圖6B中的每個(gè)豎直條可以劃分為代表DSD測(cè)試儀檢測(cè)的故障類型的片段(例如寫入/讀取錯(cuò)誤、伺服錯(cuò)誤、存儲(chǔ)器錯(cuò)誤、電壓供應(yīng)錯(cuò)誤等)。圖7B是根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施例的流程圖，其中在接收生產(chǎn)線數(shù)據(jù)(步驟86)以及執(zhí)行DSD測(cè)試(步驟88)之后，DSD測(cè)試產(chǎn)生的故障數(shù)據(jù)與生產(chǎn)線數(shù)據(jù)(例如如圖6B所示) 相關(guān)(步驟90)，并且相關(guān)的數(shù)據(jù)在顯示屏上顯示(步驟92)。在一個(gè)實(shí)施例中，相關(guān)的數(shù)據(jù)可以在附連到DSD測(cè)試儀沈的顯示屏上顯示，并且在替代實(shí)施例中，相關(guān)的數(shù)據(jù)在遠(yuǎn)程計(jì)算機(jī)的顯示屏(例如圖6A的分析服務(wù)器78的顯示屏)上顯示。圖8是根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施例由DSD測(cè)試儀沈的控制電路執(zhí)行的流程圖。當(dāng)DSD 被插入(或者連接)時(shí)(步驟94)，DSD測(cè)試儀從DSD讀取DSD日志(步驟96)，其中DSD日志包括識(shí)別至少一個(gè)錯(cuò)誤狀況的至少一個(gè)條目。當(dāng)執(zhí)行DSD測(cè)試時(shí)(步驟98)，執(zhí)行與該錯(cuò)誤狀況關(guān)聯(lián)的命令序列，其決定DSD是通過(guò)測(cè)試還是測(cè)試失敗(步驟100)。如果DSD在 DSD測(cè)試失敗(步驟100)，則涉及故障類型的故障數(shù)據(jù)被DSD測(cè)試儀記錄(步驟102)。圖9是根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施例的流程圖，其中當(dāng)DSD被插入(或者連接)時(shí)(步驟 104)，DSD測(cè)試儀從DSD讀取DSD錯(cuò)誤日志(步驟106)。如果DSD錯(cuò)誤日志中的條目識(shí)別讀取操作期間檢測(cè)的邊緣數(shù)據(jù)扇區(qū)(步驟108)，則DSD測(cè)試儀確定與讀取錯(cuò)誤關(guān)聯(lián)的要執(zhí)行的命令序列，諸如靠近當(dāng)檢測(cè)邊緣數(shù)據(jù)扇區(qū)時(shí)的讀取操作執(zhí)行的命令序列。從DSD讀取 DSD錯(cuò)誤日志的命令以及在DSD測(cè)試期間發(fā)送到DSD的命令序列可以以任何合適方式實(shí)施， 諸如用先進(jìn)技術(shù)附件(ATA)命令中嵌入的銷售商專用命令。在執(zhí)行命令序列之前，DSD測(cè)試儀讀取命令序列中被寫入的數(shù)據(jù)扇區(qū)(步驟110)， 使得當(dāng)寫入命令被重執(zhí)行時(shí)，相同的數(shù)據(jù)能夠被寫入到數(shù)據(jù)扇區(qū)(由此保持先前寫入的數(shù)據(jù))。DSD測(cè)試儀接著執(zhí)行命令序列(步驟11 以嘗試重生DSD檢測(cè)的讀取錯(cuò)誤。如果讀取錯(cuò)誤重新出現(xiàn)(步驟114)，則錯(cuò)誤被DSD測(cè)試儀保存(步驟116)，否則DSD測(cè)試儀保存沒(méi)錯(cuò)誤的狀態(tài)(步驟118)。在針對(duì)DSD錯(cuò)誤日志中的全部邊緣數(shù)據(jù)扇區(qū)重復(fù)此過(guò)程(步驟 120)之后，測(cè)試結(jié)果被評(píng)估以確定DSD是測(cè)試通過(guò)還是失敗(步驟12幻。例如，如果重生預(yù)定百分比的讀取錯(cuò)誤，或者如果預(yù)定數(shù)量的重生錯(cuò)誤超過(guò)閾值，則DSD可以指定為測(cè)試失敗。圖10是根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施例的流程圖，其延伸圖9的流程圖，其中DSD測(cè)試儀執(zhí)行讀取錯(cuò)誤之前的命令序列(步驟124)，并且接著讀取邊緣數(shù)據(jù)扇區(qū)(步驟126)。如果錯(cuò)誤重生(步驟128)，則錯(cuò)誤被保存(步驟130)。否則，DSD測(cè)試儀執(zhí)行在讀取錯(cuò)誤之后的命令序列(步驟13 ，并且接著讀取邊緣數(shù)據(jù)扇區(qū)(步驟134)。如果錯(cuò)誤重生(步驟136)，則錯(cuò)誤被保存(步驟138)，否則保存沒(méi)錯(cuò)誤的狀態(tài)(步驟140)。執(zhí)行讀取錯(cuò)誤之前和之后的命令序列可能重生錯(cuò)誤，例如，如果命令序列包括造成相鄰磁軌干擾(ATI)的寫入命令。 或者，執(zhí)行命令序列可能識(shí)別在正常操作中不發(fā)生的錯(cuò)誤，諸如當(dāng)給定的命令序列執(zhí)行時(shí)僅僅自己出現(xiàn)的固件故障，而各個(gè)命令單獨(dú)將不造成錯(cuò)誤狀態(tài)。圖11是根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施例的流程圖，其在圖9的流程圖上延伸，其中在執(zhí)行命令序列(步驟11 之前，DSD測(cè)試儀將通道參數(shù)邊緣化(步驟14 以增加重生讀取錯(cuò)誤的可能性。任何合適的通道參數(shù)可以被邊緣化，諸如增加寫入元件和/或讀取元件的飛行高度，降低寫入電流或者電壓，降低讀取電流或者電壓，添加尋道錯(cuò)誤，對(duì)讀取信號(hào)添加噪聲或者偏移，調(diào)整電源電壓，添加時(shí)序抖動(dòng)等。將通道參數(shù)邊緣化以重生錯(cuò)誤可以在將DSD 與DSD測(cè)試儀耦合之前提供對(duì)造成錯(cuò)誤的原因的了解。例如，如果當(dāng)相同的通道參數(shù)以相同方式邊緣化時(shí)，來(lái)自O(shè)EM線路的若干DSD被識(shí)別為產(chǎn)生類似類型的錯(cuò)誤，則該OEM線路的問(wèn)題(例如過(guò)多振動(dòng))可以被識(shí)別。圖12是根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施例的流程圖，其在圖9的流程圖上延伸，其中DSD測(cè)試儀從DSD讀取與邊緣數(shù)據(jù)扇區(qū)關(guān)聯(lián)的重試日志(步驟114)。也就是說(shuō)，當(dāng)DSD檢測(cè)到邊緣數(shù)據(jù)扇區(qū)時(shí)，其可能已經(jīng)執(zhí)行重試程序以嘗試恢復(fù)該數(shù)據(jù)扇區(qū)。在一個(gè)實(shí)施例中，如果不能使用重試程序恢復(fù)邊緣數(shù)據(jù)扇區(qū)，則在DSD錯(cuò)誤日志中創(chuàng)建條目。DSD測(cè)試儀接著重執(zhí)行相同的重試程序(步驟146)作為DSD測(cè)試的一部分。如果錯(cuò)誤不重新發(fā)生(即，如果數(shù)據(jù)扇區(qū)是可恢復(fù)的)(步驟148)，則沒(méi)有錯(cuò)誤的狀態(tài)被保存(步驟150)。如果錯(cuò)誤重發(fā)生(步驟148)，則DSD測(cè)試儀可以調(diào)整重試程序，例如，通過(guò)延長(zhǎng)重試程序的具體步驟期間迭代的次數(shù)，或者通過(guò)調(diào)節(jié)重試程序期間執(zhí)行的步驟的順序。重試程序可以被多次調(diào)節(jié)，其中邊緣數(shù)據(jù)扇區(qū)可以被最終恢復(fù)，或者認(rèn)為不可恢復(fù)(步驟154)并且對(duì)應(yīng)的錯(cuò)誤被保存(步驟 156)。在一個(gè)實(shí)施例中，可以使用在步驟152調(diào)節(jié)的重試程序來(lái)修改正在測(cè)試的DSD的重試程序和/或調(diào)節(jié)全部制造的DSD的重試程序(即，重優(yōu)化的重試程序可以發(fā)送到DSD制造商，在此其用于修改DSD的制造工藝)。圖13例示本發(fā)明的實(shí)施例，其中DSD保存識(shí)別被DSD執(zhí)行的多個(gè)順序命令的全局日志。例如，全局日志可以保存DSD執(zhí)行的最后數(shù)個(gè)命令(數(shù)百或者甚至數(shù)千個(gè)命令)。與 DSD錯(cuò)誤日志中的讀取錯(cuò)誤關(guān)聯(lián)的命令序列包括被全局日志識(shí)別的順序命令的至少兩個(gè)子集。在圖13的示例中，當(dāng)嘗試讀取數(shù)據(jù)扇區(qū)145657時(shí)檢測(cè)到讀取錯(cuò)誤。因此，DSD測(cè)試儀通過(guò)聚集可能已經(jīng)導(dǎo)致讀取錯(cuò)誤的若干子集從全局日志構(gòu)建命令序列。在圖13的示例中， DSD測(cè)試儀提取可能已經(jīng)導(dǎo)致讀取錯(cuò)誤(例如由于ATI)的先前執(zhí)行的寫入命令的兩個(gè)子集。DSD測(cè)試儀接著重執(zhí)行命令序列以如上所述那樣嘗試重生讀取錯(cuò)誤。本發(fā)明的實(shí)施例中采用的DSD測(cè)試儀沈可以包括任何合適的配置。圖14A示出根據(jù)實(shí)施例的DSD測(cè)試儀沈，其中包括多個(gè)艙的機(jī)箱36可以還包括用于實(shí)施測(cè)試程序的控制電路(例如執(zhí)行在計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)上存儲(chǔ)的控制程序的代碼片段的微處理器)。機(jī)箱36中的控制電路還可以與監(jiān)視器40接口以便顯示DSD測(cè)試的結(jié)果。圖14B示出本發(fā)明的實(shí)施例，其中DSD 28B2使用適當(dāng)?shù)碾娎|(例如USB電纜)連接到DSD測(cè)試儀沈而不是插入到艙中。在一個(gè)實(shí)施例中，DSD測(cè)試儀沈可以包括多個(gè)電纜和輸入端口，以便連接和同時(shí)測(cè)試多個(gè)DSD (類似于采用多個(gè)艙的實(shí)施例)。圖14C示出本發(fā)明的實(shí)施例，其中DSD測(cè)試儀沈包括USB鑰匙158B2，用于存儲(chǔ)DSD測(cè)試的代碼片段。圖14C還例示實(shí)施例，其中DSD測(cè)試儀沈包括正在生產(chǎn)線中組裝的消費(fèi)裝置159。USB鑰匙158 插入到消費(fèi)裝置159中，其從USB鑰匙讀取DSD測(cè)試，執(zhí)行DSD 測(cè)試，或者顯示DSD測(cè)試的結(jié)果。在圖14C的示例中，消費(fèi)裝置159包括膝上型計(jì)算機(jī)，其包括內(nèi)部DSD (例如磁盤驅(qū)動(dòng)器或者固態(tài)驅(qū)動(dòng)器)、鍵盤以及顯示屏，其中在USB鑰匙158B2 中存儲(chǔ)的DSD測(cè)試用于測(cè)試內(nèi)部DSD。在一個(gè)實(shí)施例中，操作員配置膝上型計(jì)算機(jī)以從USB 鑰匙158 啟動(dòng)(例如通過(guò)按壓膝上型計(jì)算機(jī)的鍵盤上的按鍵)而不是從內(nèi)部DSD啟動(dòng)。 (膝上型計(jì)算機(jī)的)操作員接著從USB鑰匙158 執(zhí)行DSD測(cè)試。在一個(gè)實(shí)施例中，可以為每個(gè)生產(chǎn)線中的每個(gè)測(cè)試臺(tái)分配USB鑰匙，其中生產(chǎn)線數(shù)據(jù)存儲(chǔ)在每個(gè)USB鑰匙上(例如在文件中)。當(dāng)OEM測(cè)試臺(tái)的操作員識(shí)別故障的DSD時(shí)， 他們將USB鑰匙插入并執(zhí)行DSD測(cè)試。DSD測(cè)試的結(jié)果存儲(chǔ)在USB鑰匙上并且隨后使用分析計(jì)算機(jī)(例如位于生產(chǎn)線現(xiàn)場(chǎng)的本地計(jì)算機(jī)，或者測(cè)試結(jié)果發(fā)送到DSD制造商的分析服務(wù)器)評(píng)估。分析計(jì)算機(jī)處理來(lái)自USB鑰匙的測(cè)試結(jié)果以及來(lái)自USB鑰匙的生產(chǎn)線數(shù)據(jù)使得測(cè)試結(jié)果能夠與生產(chǎn)線相關(guān)(例如圖6B所示)。在另一實(shí)施例中，USB鑰匙158 可以提醒用戶經(jīng)過(guò)消費(fèi)裝置159(圖14C)輸入生產(chǎn)線數(shù)據(jù)，生產(chǎn)線數(shù)據(jù)接著存儲(chǔ)在USB鑰匙158B2 上。在又一實(shí)施例中，USB鑰匙158 可以被消費(fèi)者返回中心使用以對(duì)返回的消費(fèi)裝置進(jìn)行非破壞測(cè)試。在一個(gè)實(shí)施例中，USB鑰匙158 插入到消費(fèi)裝置159的通用串行總線端口中。 然而USB鑰匙158 可以實(shí)施任何適當(dāng)?shù)耐ㄐ艆f(xié)議并且因此可以插入到消費(fèi)裝置的任何適當(dāng)端口(例如火線(Firewire)端口、小型計(jì)算機(jī)系統(tǒng)接口(SCSI)端口、集成設(shè)備電路 (IDE)端口等)。因此，術(shù)語(yǔ)“USB鑰匙”應(yīng)理解為用于使用任何類型的適當(dāng)接口協(xié)議(例如 Firewire, SCSI、IDE、藍(lán)牙等)識(shí)別任何適當(dāng)?shù)拇鎯?chǔ)裝置(例如硬盤驅(qū)動(dòng)器、固態(tài)驅(qū)動(dòng)器) 的總體標(biāo)識(shí)符。本發(fā)明的實(shí)施例可以在包括任何適當(dāng)存儲(chǔ)介質(zhì)，例如磁介質(zhì)、光介質(zhì)或者半導(dǎo)體介質(zhì)的任何適當(dāng)?shù)腄SD中采用。圖15示出包括磁盤驅(qū)動(dòng)器的DSD，其包括在磁盤162上方致動(dòng)的磁頭160以及控制電路164。圖16示出固態(tài)驅(qū)動(dòng)器，其包括多個(gè)諸如閃存存儲(chǔ)器的非易失性半導(dǎo)體存儲(chǔ)器166A、166B等，以及控制電路168。還可以采用混合數(shù)據(jù)存儲(chǔ)裝置， 其包括圖15所示的磁盤驅(qū)動(dòng)器結(jié)合圖16所示的非易失性半導(dǎo)體存儲(chǔ)器的部件。在一個(gè)實(shí)施例中，DSD測(cè)試儀可以在將DSD安裝到消費(fèi)裝置(桌上型或者膝上型計(jì)算機(jī)、智能電話、數(shù)字視頻記錄機(jī)等)的OEM生產(chǎn)線上采用。在另一實(shí)施例中，DSD制造商的中心設(shè)施可以在將DSD發(fā)送到OEM之前在現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試從工廠接收的DSD。這種測(cè)試可以在將DSD運(yùn)送到OEM之前識(shí)別工廠和/或供應(yīng)鏈中的問(wèn)題區(qū)域。在又一實(shí)施例中，DSD制造商可以在DSD被從OEM或者從消費(fèi)者返回時(shí)使用DSD測(cè)試儀來(lái)測(cè)試DSD。
權(quán)利要求
1.一種用于測(cè)試數(shù)據(jù)存儲(chǔ)裝置即DSD的DSD測(cè)試儀，所述DSD測(cè)試儀包括多個(gè)艙、顯示屏以及控制電路，所述控制電路可操作用于檢測(cè)第一 DSD何時(shí)被插入第一艙；獨(dú)立于操作員輸入，自動(dòng)更新所述顯示屏上顯示的圖形用戶界面即GUI，以反映所述第一 DSD已經(jīng)插入到所述第一艙；獨(dú)立于操作員輸入，自動(dòng)對(duì)第所述一 DSD執(zhí)行DSD測(cè)試；以及當(dāng)所述第一 DSD被從所述第一艙移開(kāi)時(shí)，獨(dú)立于操作員輸入自動(dòng)更新所述GUI以反映所述第一 DSD已經(jīng)從所述第一艙移開(kāi)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的DSD測(cè)試儀，其中所述控制電路還可操作用于更新所述GUI 中代表所述DSD測(cè)試的進(jìn)度的進(jìn)度欄。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的DSD測(cè)試儀，其中當(dāng)所述DSD測(cè)試完成時(shí)，所述控制電路還可操作用于更新所述GUI中代表所述DSD測(cè)試的結(jié)果的通過(guò)/故障指示。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的DSD測(cè)試儀，其中所述控制電路還可操作用于 在對(duì)所述第一 DSD執(zhí)行DSD測(cè)試的同時(shí)檢測(cè)第二 DSD何時(shí)被插入第二艙；獨(dú)立于操作員輸入，自動(dòng)更新所述⑶I以反映所述第二DSD已經(jīng)被插入所述第二艙；以及獨(dú)立于操作員輸入，與繼續(xù)在所述第一 DSD上的所述DSD測(cè)試并行地自動(dòng)執(zhí)行在所述第二 DSD上的所述DSD測(cè)試。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的DSD測(cè)試儀，其中 所述第一艙還包括操作員可視的燈；以及所述控制電路還可操作用于響應(yīng)于對(duì)所述第一 DSD的所述DSD測(cè)試的狀態(tài)來(lái)控制所述燈。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的DSD測(cè)試儀，其中所述控制電路可操作用于控制所述燈以指示所述DSD測(cè)試的進(jìn)行狀態(tài)。
7.根據(jù)權(quán)利要求5所述的DSD測(cè)試儀，其中所述控制電路可操作用于控制所述燈以指示所述DSD測(cè)試的通過(guò)狀態(tài)。
8.根據(jù)權(quán)利要求5所述的DSD測(cè)試儀，其中所述控制電路可操作用于控制所述燈以指示所述DSD測(cè)試的失敗狀態(tài)。
9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的DSD測(cè)試儀，其中所述控制電路可操作用于通過(guò)接口接收生產(chǎn)線數(shù)據(jù)，所述生產(chǎn)線數(shù)據(jù)涉及所述DSD。
10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的DSD測(cè)試儀，其中所述生產(chǎn)線數(shù)據(jù)包括標(biāo)識(shí)生產(chǎn)線的標(biāo)識(shí)符。
11.根據(jù)權(quán)利要求9所述的DSD測(cè)試儀，其中所述生產(chǎn)線數(shù)據(jù)包括標(biāo)識(shí)在生產(chǎn)線中時(shí)對(duì)所述DSD進(jìn)行的生產(chǎn)線測(cè)試的標(biāo)識(shí)符。
12.根據(jù)權(quán)利要求9所述的DSD測(cè)試儀，其中所述控制電路還可操作用于 為多個(gè)DSD聚集由所述DSD測(cè)試產(chǎn)生的故障數(shù)據(jù)以及所述生產(chǎn)線數(shù)據(jù)；以及以自動(dòng)操作將所聚集的數(shù)據(jù)發(fā)送到所述DSD的制造商。
13.一種操作用于測(cè)試數(shù)據(jù)存儲(chǔ)裝置即DSD的DSD測(cè)試儀的方法，所述DSD測(cè)試儀包括多個(gè)艙和顯示屏，所述方法包括檢測(cè)第一 DSD何時(shí)被插入第一艙；獨(dú)立于操作員輸入，自動(dòng)更新所述顯示屏上顯示的圖形用戶界面即GUI，以反映所述第一 DSD已經(jīng)插入到所述第一艙；獨(dú)立于操作員輸入，自動(dòng)對(duì)所述第一 DSD執(zhí)行DSD測(cè)試；以及當(dāng)所述第一 DSD被從所述第一艙移開(kāi)時(shí)，獨(dú)立于操作員輸入自動(dòng)更新所述GUI以反映所述第一 DSD已經(jīng)從所述第一艙移開(kāi)。
14.根據(jù)權(quán)利要求13所述的方法，還包括更新所述GUI中代表所述DSD測(cè)試的進(jìn)度的進(jìn)度欄。
15.根據(jù)權(quán)利要求13所述的方法，其中當(dāng)所述DSD測(cè)試完成時(shí)，還包括更新所述GUI中代表所述DSD測(cè)試的結(jié)果的通過(guò)/故障指示。
16.根據(jù)權(quán)利要求13所述的方法，還包括在對(duì)所述第一 DSD執(zhí)行所述DSD測(cè)試的同時(shí)檢測(cè)第二 DSD何時(shí)被插入第二艙； 獨(dú)立于操作員輸入，自動(dòng)更新所述⑶I以反映所述第二DSD已經(jīng)被插入所述第二艙；以及獨(dú)立于操作員輸入，與繼續(xù)所述第一 DSD上的所述DSD測(cè)試并行地自動(dòng)對(duì)所述第二 DSD 執(zhí)行所述DSD測(cè)試。
17.根據(jù)權(quán)利要求13所述的方法，其中 所述第一艙還包括操作員可視的燈；以及還包括響應(yīng)于所述第一 DSD上的所述DSD測(cè)試的狀態(tài)而控制所述燈。
18.根據(jù)權(quán)利要求17所述的方法，還包括控制所述燈以指示所述DSD測(cè)試的進(jìn)行狀態(tài)。
19.根據(jù)權(quán)利要求17所述的方法，還包括控制所述燈以指示所述DSD測(cè)試的通過(guò)狀態(tài)。
20.根據(jù)權(quán)利要求17所述的方法，還包括控制所述燈以指示所述DSD測(cè)試的故障狀態(tài)。
21.根據(jù)權(quán)利要求13所述的方法，還包括接收涉及所述DSD的生產(chǎn)線數(shù)據(jù)。
22.根據(jù)權(quán)利要求21所述的方法，其中所述生產(chǎn)線數(shù)據(jù)包括標(biāo)識(shí)生產(chǎn)線的標(biāo)識(shí)符。
23.根據(jù)權(quán)利要求21所述的方法，其中所述生產(chǎn)線數(shù)據(jù)包括標(biāo)識(shí)在生產(chǎn)線中時(shí)對(duì)所述 DSD進(jìn)行生產(chǎn)線測(cè)試的標(biāo)識(shí)符。
24.根據(jù)權(quán)利要求21所述的方法，還包括為多個(gè)DSD聚集由所述DSD測(cè)試產(chǎn)生的故障數(shù)據(jù)以及生產(chǎn)線數(shù)據(jù)；以及以自動(dòng)操作將所聚集的數(shù)據(jù)發(fā)送到所述DSD的制造商。
全文摘要
本發(fā)明涉及數(shù)據(jù)存儲(chǔ)裝置(DSD)測(cè)試儀。公開(kāi)一種用于測(cè)試DSD的數(shù)據(jù)存儲(chǔ)裝置測(cè)試儀。DSD測(cè)試儀包括多個(gè)艙、顯示屏、以及控制電路，該控制電路可操作用于檢測(cè)第一DSD何時(shí)被插入第一艙。獨(dú)立于操作員輸入，自動(dòng)更新顯示屏上顯示的圖形用戶界面(GUI)以反映第一DSD已經(jīng)插入到第一艙。獨(dú)立于操作員輸入，自動(dòng)對(duì)第一DSD執(zhí)行DSD測(cè)試。當(dāng)?shù)谝籇SD從第一艙被移開(kāi)時(shí)，獨(dú)立于操作員輸入，自動(dòng)更新GUI以反映第一DSD已經(jīng)從第一艙移開(kāi)。
文檔編號(hào)G11B20/18GK102157176SQ20101060870
公開(kāi)日2011年8月17日 申請(qǐng)日期2010年12月23日 優(yōu)先權(quán)日2009年12月23日
發(fā)明者D·K·布萊克布恩, L·J·達(dá)菲 申請(qǐng)人:西部數(shù)據(jù)技術(shù)公司