專利名稱：一次寫入多次讀取信息記錄介質、信息記錄方法、信息再現(xiàn)方法、信息記錄裝置和信息再 ...的制作方法
技術領域：
本發(fā)明涉及一種一次寫入多次讀取信息記錄介質、將信息記錄到一次寫入多次讀 取信息記錄介質上的信息記錄方法、從一次寫入多次讀取信息記錄介質再現(xiàn)信息的信息再 現(xiàn)方法、將信息記錄到一次寫入多次讀取信息記錄介質上的信息記錄裝置、和從一次寫入 多次讀取信息記錄介質再現(xiàn)信息的信息再現(xiàn)裝置。
背景技術：
近來，大容量可更換信息記錄介質和處理大容量可更換信息記錄介質的盤驅動裝 置得到了廣泛使用。作為大容量可更換信息記錄介質，為大家所熟悉的是光盤(例如，DVD
寸J ο在光盤驅動裝置中，通過使用激光在其上形成小的凹坑來將信息記錄到光盤上。 因此，光盤驅動裝置能夠記錄大容量可更換信息。光盤具有可更換信息記錄介質的缺點，即 記錄表面有可能因諸如灰塵、劃痕之類的缺陷遭到破壞。為了應對該問題，光盤驅動裝置必須執(zhí)行缺陷管理，以便確保記錄或再現(xiàn)數(shù)據(jù)的
可靠性。在傳統(tǒng)的缺陷管理技術中，在可重寫光盤的內圓周和外圓周部分的每一個中的預 定位置分配有兩個缺陷管理區(qū)(DMA)(即，總共提供有四個DMA)。如果更新缺陷管理信息， 則新的缺陷管理信息就被寫入到這些缺陷管理區(qū)中(例如，日本專利公開文本第5-006626 號)。圖23表示傳統(tǒng)可重寫光盤400的數(shù)據(jù)結構。數(shù)據(jù)區(qū)5包含用于記錄/再現(xiàn)用戶數(shù)據(jù)的用戶數(shù)據(jù)區(qū)16、用于提供替代在用戶數(shù) 據(jù)區(qū)16中出現(xiàn)的缺陷塊的塊(此后也稱為“替換塊”)的備用區(qū)17。備用區(qū)17是預先設置的。導入?yún)^(qū)4和導出區(qū)6每個都包含用于記錄關于數(shù)據(jù)區(qū)5中出現(xiàn)的缺陷塊的信息的 缺陷管理區(qū)。導入?yún)^(qū)4包含第一缺陷管理區(qū)10 (此后也稱作“DMA1”)和第二缺陷管理區(qū) 11(此后也稱作“0獻2”)。導出區(qū)6包含第三缺陷管理區(qū)12(此后也稱作“0獻3”)和第四 缺陷管理區(qū)13 (此后也稱作“DMA4” )。DMAl至DMA4中的每一個都具有預定的位置和固定的長度。提供在DMAl至DMA4 的每一個中的管理信息具有根據(jù)缺陷塊的數(shù)量變化的長度，即可變長度。注意，所有DMAl 至DMA4都具有相同的信息，即多條相同的信息存儲在盤上。這是因為缺陷可出現(xiàn)在DMAl 至DMA4自身中。例如，如果從DMA不能再現(xiàn)信息，但從DMAl至DMA4的任一個中能夠再現(xiàn)信息，則能夠獲得缺陷管理信息。DMAl至DMA4每個都包含盤定義結構(此后也稱作“DDS”)14和缺陷列表(此后 也稱作“DFL”)15，其中DDS14在DFL15前面。DFL15包含缺陷列表標題32和M個缺陷項33 (M 0或者更大的整數(shù))。缺陷列表標題32包含DFL15中所包含的缺陷項33的數(shù)量之類的內容。缺陷列表 標題32位于DFL15中的預定位置(例如，DFL15的開頭)。缺陷項33包含與數(shù)據(jù)區(qū)5中檢測到的缺陷塊有關的位置信息；與替換缺陷塊的備 用區(qū)有關的替換塊位置信息；等等。DDS14包含表示DFL15的位置的缺陷列表開始位置信息，等等?？芍貙懝獗P400中包含的DMAl至DMA4是可重寫的。因此，每次更新缺陷管理信 息時，能在DMAl至DMA4上重寫最新的缺陷管理信息，即能夠進行更新。因此，能夠將最新 缺陷管理信息始終如一地記錄到DMAl至DMA4中的固定位置處。圖24表示傳統(tǒng)可重寫光盤記錄/再現(xiàn)裝置200的結構。光盤記錄/再現(xiàn)裝置200通過I/O總線170被連接至一較高層次的控制裝置(未 示出)。較高層次的控制裝置典型的為主計算機。光盤記錄/再現(xiàn)裝置200包括用于處理來自較高層次控制裝置的命令的命令處 理部分Iio ；用于控制光盤的記錄的記錄控制部分120 ；用于控制光盤的再現(xiàn)的再現(xiàn)控制 部分130 ；用于存儲從DMAl至DMA4中的任何一個再現(xiàn)的內容的缺陷管理信息存儲緩沖器 140 ；用于暫時存儲記錄數(shù)據(jù)和再現(xiàn)數(shù)據(jù)的數(shù)據(jù)緩沖器150 ；和用于執(zhí)行涉及缺陷管理信 息的處理的缺陷管理信息處理部分180。缺陷管理信息處理部分180包括缺陷管理信息讀取部分161，用于從DMAl至 DMA4檢測正常的缺陷管理區(qū)，和從所述正常的缺陷管理區(qū)讀取內容并將其傳送給缺陷管理 信息存儲緩沖器140 ；缺陷管理信息更新部分164，用于在缺陷塊信息已經(jīng)發(fā)生變化時，更 新缺陷管理信息存儲緩沖器140的內容以產(chǎn)生新的缺陷信息；缺陷管理信息寫入部分162， 用于將通過缺陷管理信息更新部分164更新的內容寫入到DMAl至DMA4中；和缺陷管理信 息控制存儲器163，用于存儲缺陷管理信息處理部分180的操作控制狀態(tài)。然而，只能夠向一次寫入多次讀取信息記錄介質(一次寫入多次讀取光盤)的 DMAl至DMA4中記錄一次信息。因此，在一次寫入多次讀取信息記錄介質的情況下，不能 夠象可重寫信息記錄介質(可重寫光盤)中那樣，將最新缺陷管理信息始終如一地記錄在 DMAl至DMA4中的預定位置處。因此，用于可重寫信息記錄介質的記錄/再現(xiàn)裝置不能在能 夠進行缺陷管理的一次寫入多次讀取信息記錄介質上執(zhí)行記錄/再現(xiàn)。本發(fā)明就是為了解決上述問題而提出的。本發(fā)明的目的是提供一種在其上能夠由 用于可重寫信息記錄介質的記錄/再現(xiàn)裝置執(zhí)行記錄/再現(xiàn)的一次寫入多次讀取信息記錄 介質；將信息記錄到一次寫入多次讀取信息記錄介質上的信息記錄方法；從一次寫入多次 讀取信息記錄介質再現(xiàn)信息的信息再現(xiàn)方法；將信息記錄到一次寫入多次讀取信息記錄介 質上的信息記錄裝置；和從一次寫入多次讀取信息記錄介質再現(xiàn)信息的信息再現(xiàn)裝置。

發(fā)明內容
根據(jù)本發(fā)明的一個方面，提供了一種一次寫入多次讀取信息記錄介質，其中在一
5預定方向上連續(xù)分配有至少一個盤管理工作區(qū)；在所述至少一個盤管理工作區(qū)中，提供有 盤管理信息和包含關于盤管理信息的位置信息的盤定義結構，該盤管理信息為關于所述一 次寫入多次讀取信息記錄介質的管理信息；提供有最新盤管理信息和最新盤定義結構，其 中在所述預定方向上所述最新盤管理信息在所述最新盤定義結構之前；所述最新盤管理信 息是布置在相鄰于已記錄盤管理工作區(qū)和未記錄盤管理工作區(qū)之間的邊界的已記錄盤管 理工作區(qū)中的盤管理信息；所述最新盤定義結構是包含關于最新盤管理信息的位置信息的 盤定義結構；和所述盤定義結構被布置在相鄰于所述邊界的已記錄盤管理工作區(qū)中的預定 位置處，所述預定位置能夠根據(jù)邊界作為參考計算得到。在本發(fā)明的一個實施例中，所述盤管理信息的大小是可變的；和所述盤定義結構 的大小是固定的。在本發(fā)明的一個實施例中，所述一次寫入多次讀取信息記錄介質包括用于記錄數(shù) 據(jù)的數(shù)據(jù)區(qū)和備用區(qū)，所述備用區(qū)是用于數(shù)據(jù)區(qū)的替換區(qū)；所述盤管理信息包含一個替換 列表，該替換列表包含表示數(shù)據(jù)區(qū)中包含的替換源區(qū)和備用區(qū)中包含的替換目標區(qū)之間的 對應關系的對應關系信息；和所述盤定義結構包含替換列表位置信息，其是關于替換列表 的位置信息。在本發(fā)明的一個實施例中，所述預定方向是從一次寫入多次讀取信息記錄介質的 內圓周至外圓周的方向；和所述最新盤定義結構被布置在能夠根據(jù)相鄰于所述作為參考的 邊界的已記錄盤管理工作區(qū)的末端計算得到的預定位置處。在本發(fā)明的一個實施例中，所述預定方向是從一次寫入多次讀取信息記錄介質的 外圓周至內圓周的方向；和所述最新盤定義結構被布置在能夠根據(jù)相鄰于所述作為參考的 邊界的已記錄盤管理工作區(qū)的開始位置計算得到的預定位置處。在本發(fā)明的一個實施例中，所述盤管理工作區(qū)包含多個塊；所述多個塊中的每一 個是用于記錄/再現(xiàn)數(shù)據(jù)的單元；和所述盤管理信息和盤定義結構被布置在所述多個塊中 的不同塊中。在本發(fā)明的一個實施例中，所述盤管理工作區(qū)包含一個或多個塊；所述一個或多 個塊中的每一個是用于記錄/再現(xiàn)數(shù)據(jù)的單元；所述盤管理信息和盤定義結構共享所述一 個或多個塊中的至少一個；和所述盤定義結構被布置在相鄰于所述邊界的已記錄盤管理區(qū) 中包含的多個塊中的一預定塊中的預定位置處，能夠根據(jù)所述邊界作為參考計算得出所述 預定塊。在本發(fā)明的一個實施例中，在所述一次寫入多次讀取信息記錄介質中記錄最終完 成(finalization)識別標記；和所述最終完成識別標記指示禁止將數(shù)據(jù)附加記錄到所述 至少一個盤管理工作區(qū)中。在本發(fā)明的一個實施例中，所述盤定義結構和盤管理信息中的至少一個包含所述 最終完成識別標記。在本發(fā)明的一個實施例中，所述一次寫入多次讀取信息記錄介質包含至少一個盤 管理區(qū)；在所述至少一個盤管理區(qū)中，提供有所述最后盤管理信息和最后盤定義結構；所 述最后盤管理信息是布置在所述至少一個盤管理區(qū)中的最新盤管理信息；所述最后盤定義 結構是包含關于所述最后盤管理信息的位置信息的盤定義結構；和從所述至少一個盤管理 區(qū)的開始位置布置所述最后盤管理信息和最后盤定義結構，其中所述最后盤定義結構在從所述一次寫入多次讀取信息記錄介質的內圓周至外圓周的方向上位于所述最后盤管理信 息之前。在本發(fā)明的一個實施例中，所述盤管理工作區(qū)包含多個塊；所述多個塊中的每一 個是用于記錄/再現(xiàn)數(shù)據(jù)的單元；和所述盤管理信息和盤定義結構被布置在所述多個塊中 的不同塊中。在本發(fā)明的一個實施例中，所述盤管理工作區(qū)包含一個或多個塊；所述一個或多 個塊中的每一個是用于記錄/再現(xiàn)數(shù)據(jù)的單元；所述盤管理信息和盤定義結構共享所述一 個或多個塊中的至少一個；和所述盤定義結構被布置在相鄰于所述邊界的已記錄盤管理區(qū) 中包含的多個塊中的一預定塊中的預定位置處，能夠根據(jù)所述邊界作為參考計算得出所述 預定塊。在本發(fā)明的一個實施例中，在所述一次寫入多次讀取信息記錄介質中記錄最終完 成識別標記；和所述最終完成識別標記指示禁止將數(shù)據(jù)附加記錄到所述至少一個盤管理工 作區(qū)中。在本發(fā)明的一個實施例中，所述盤定義結構和盤管理信息中的至少一個包含所述 最終完成識別標記。在本發(fā)明的一個實施例中，所述一次寫入多次讀取信息記錄介質包含至少一個盤 管理區(qū)；在所述至少一個盤管理區(qū)中，提供有所述最后盤管理信息和最后盤定義結構；所 述最后盤管理信息是布置在所述至少一個盤管理區(qū)中的最新盤管理信息；所述最后盤定義 結構是包含關于所述最后盤管理信息的位置信息的盤定義結構；和從所述至少一個盤管理 區(qū)的開始位置布置所述最后盤管理信息和最后盤定義結構，其中所述最后盤定義結構在從 所述一次寫入多次讀取信息記錄介質的內圓周至外圓周的方向上位于所述最后盤管理信 息之前。根據(jù)本發(fā)明的另一個方面，提供一種用于將信息記錄到一次寫入多次讀取信息記 錄介質上的信息記錄方法，其中在所述一次寫入多次讀取信息記錄介質上的一預定方向上 連續(xù)分配有至少一個盤管理工作區(qū)；所述信息記錄方法包括步驟(a)選擇相鄰于已記錄 盤管理工作區(qū)和未記錄盤管理工作區(qū)之間的邊界的未記錄盤管理工作區(qū)；(b)將盤管理信 息記錄到相鄰于所述邊界的未記錄盤管理工作區(qū)中，該盤管理信息為關于所述一次寫入多 次讀取信息記錄介質的管理信息；和(c)將包含關于在步驟(b)中記錄的盤管理信息的位 置信息的盤定義結構記錄到相鄰于所述邊界的未記錄盤管理工作區(qū)中，其中所述盤管理信 息和所述盤定義結構被布置在所述預定方向上，所述盤管理信息在所述預定方向上位于所 述盤定義結構之前，和所述盤定義結構被布置在相鄰于所述邊界的未記錄盤管理工作區(qū)中 的預定位置處，所述預定位置能夠根據(jù)所述邊界作為參考計算得到。在本發(fā)明的一個實施例中，所述盤管理信息的大小是可變的；和所述盤定義結構 的大小是固定的。在本發(fā)明的一個實施例中，所述一次寫入多次讀取信息記錄介質包括用于記錄數(shù) 據(jù)的數(shù)據(jù)區(qū)和備用區(qū)，所述備用區(qū)是用于數(shù)據(jù)區(qū)的替換區(qū)；所述盤管理信息包含一個替換 列表，該替換列表包含表示數(shù)據(jù)區(qū)中包含的替換源區(qū)和備用區(qū)中包含的替換目標區(qū)之間的 對應關系的對應關系信息；和所述盤定義結構包含替換列表位置信息，其是關于替換列表 的位置信息。
在本發(fā)明的一個實施例中，所述預定方向是從一次寫入多次讀取信息記錄介質的 內圓周至外圓周的方向；和包含關于在步驟(b)中記錄的盤管理信息的位置信息的盤定義 結構被布置在預定位置處，該預定位置能夠根據(jù)相鄰于所述作為參考的邊界的未記錄盤管 理工作區(qū)的末端計算得到。在本發(fā)明的一個實施例中，所述預定方向是從一次寫入多次讀取信息記錄介質的 外圓周至內圓周的方向；和包含關于在步驟(b)中記錄的盤管理信息的位置信息的盤定義 結構被布置在預定位置處，該預定位置能夠根據(jù)相鄰于所述作為參考的邊界的未記錄盤管 理工作區(qū)的開始位置計算得到。在本發(fā)明的一個實施例中，步驟(b)進一步包括確定盤管理信息的記錄是否已經(jīng) 被正常執(zhí)行的步驟；步驟(C)進一步包括確定盤定義結構的記錄是否已經(jīng)被正常執(zhí)行的步 驟；和所述信息記錄方法進一步包括步驟(d)重復執(zhí)行步驟(b)直到盤管理信息的記錄被 正常執(zhí)行，和重復執(zhí)行步驟(c)直到盤定義結構的記錄被正常執(zhí)行。在本發(fā)明的一個實施例中，步驟(b)進一步包括確定盤管理信息的記錄是否已經(jīng) 被正常執(zhí)行的步驟；步驟(C)進一步包括確定盤定義結構的記錄是否已經(jīng)被正常執(zhí)行的步 驟；和所述信息記錄方法進一步包括步驟(d)重復執(zhí)行步驟(b)直到盤管理信息的記錄被 正常執(zhí)行，和重復執(zhí)行步驟(c)直到盤定義結構的記錄被正常執(zhí)行。根據(jù)本發(fā)明的另一個方面，提供一種用于從一次寫入多次讀取信息記錄介質再現(xiàn) 信息的信息再現(xiàn)方法，其中在所述一次寫入多次讀取信息記錄介質上的一預定方向上連 續(xù)分配有至少一個盤管理工作區(qū)；在所述至少一個盤管理工作區(qū)中，提供有盤管理信息和 包含關于盤管理信息的位置信息的盤定義結構，該盤管理信息為關于所述一次寫入多次讀 取信息記錄介質的管理信息；最新盤管理信息和最新盤定義結構被布置在所述預定方向 上，所述最新盤管理信息在所述預定方向上位于所述最新盤定義結構之前；所述最新盤管 理信息是布置在相鄰于已記錄盤管理工作區(qū)和未記錄盤管理工作區(qū)之間的邊界的已記錄 盤管理工作區(qū)中的盤管理信息；所述最新盤定義結構是包含關于所述最新盤管理信息的位 置信息的盤定義結構；所述最新盤定義結構被布置在相鄰于所述邊界的已記錄盤管理工作 區(qū)中的預定位置處，所述預定位置能夠根據(jù)所述邊界作為參考計算得出，所述信息再現(xiàn)方 法包括步驟(a)搜索所述邊界的位置以獲得表示所述邊界的位置的邊界位置信息；(b)根 據(jù)所述邊界位置信息再現(xiàn)最新盤定義結構；(c)根據(jù)所述最新盤定義結構獲得關于最新盤 管理信息的位置信息；和(d)根據(jù)關于所述最新盤管理信息的位置信息再現(xiàn)盤管理信息。在本發(fā)明的一個實施例中，所述盤管理信息的大小是可變的；和所述盤定義結構 的大小是固定的。在本發(fā)明的一個實施例中，所述一次寫入多次讀取信息記錄介質包括用于記錄數(shù) 據(jù)的數(shù)據(jù)區(qū)和備用區(qū)，所述備用區(qū)是用于數(shù)據(jù)區(qū)的替換區(qū)；所述盤管理信息包含一個替換 列表，該替換列表包含表示數(shù)據(jù)區(qū)中包含的替換源區(qū)和備用區(qū)中包含的替換目標區(qū)之間 的對應關系的對應關系信息；和所述盤定義結構包含替換列表位置信息，其是關于替換列 表的位置信息。在本發(fā)明的一個實施例中，所述預定方向是從一次寫入多次讀取信息記錄介質的 內圓周至外圓周的方向；和所述最新的盤定義結構被布置在能夠根據(jù)相鄰于所述作為參考 的邊界的已記錄盤管理工作區(qū)的末端計算得到的預定位置處。
在本發(fā)明的一個實施例中，所述預定方向是從一次寫入多次讀取信息記錄介質的 外圓周至內圓周的方向；和所述最新的盤定義結構被布置在能夠根據(jù)相鄰于所述作為參考 的邊界的已記錄盤管理工作區(qū)的開始位置計算得到的預定位置處。根據(jù)本發(fā)明的另一個方面，提供一種用于將信息記錄到一次寫入多次讀取信息記 錄介質上的信息記錄裝置，其中在所述一次寫入多次讀取信息記錄介質上的一預定方向 上連續(xù)提供有至少一個盤管理工作區(qū)；和所述信息記錄裝置包括(a)用于選擇相鄰于已 記錄盤管理工作區(qū)和未記錄盤管理工作區(qū)之間的邊界的未記錄盤管理工作區(qū)的部分；(b) 用于將盤管理信息記錄到相鄰于所述邊界的未記錄盤管理工作區(qū)中的部分，該盤管理信息 為關于所述一次寫入多次讀取信息記錄介質的管理信息；和(c)用于將包含關于在步驟 (b)中記錄的盤管理信息的位置信息的盤定義結構記錄到相鄰于所述邊界的未記錄盤管理 工作區(qū)中的部分；其中所述盤管理信息和盤定義結構被布置在所述預定方向上，所述盤管 理信息在所述預定方向上位于所述盤定義結構之前，和所述盤定義結構被布置在相鄰于所 述邊界的未記錄盤管理工作區(qū)中的預定位置處，所述預定位置能夠根據(jù)所述作為參考的邊 界計算得出。在本發(fā)明的一個實施例中，所述盤管理信息的大小是可變的；和所述盤定義結構 的大小是固定的。在本發(fā)明的一個實施例中，所述一次寫入多次讀取信息記錄介質包括用于記錄數(shù) 據(jù)的數(shù)據(jù)區(qū)和備用區(qū)，所述備用區(qū)是用于數(shù)據(jù)區(qū)的替換區(qū)；所述盤管理信息包含一個替換 列表，該替換列表包含表示數(shù)據(jù)區(qū)中包含的替換源區(qū)和備用區(qū)中包含的替換目標區(qū)之間的 對應關系的對應關系信息；和所述盤定義結構包含替換列表位置信息，其是關于替換列表 的位置信息。在本發(fā)明的一個實施例中，所述預定方向是從一次寫入多次讀取信息記錄介質的 內圓周至外圓周的方向；和包含關于通過部分(b)記錄的盤管理信息的位置信息的盤定義 結構被布置在預定位置處，該預定位置能夠根據(jù)相鄰于所述作為參考的邊界的未記錄盤管 理工作區(qū)的末端計算得到。在本發(fā)明的一個實施例中，所述預定方向是從一次寫入多次讀取信息記錄介質的 外圓周至內圓周的方向；和包含關于通過部分(b)記錄的盤管理信息的位置信息的盤定義 結構被布置在預定位置處，該預定位置能夠根據(jù)相鄰于所述作為參考的邊界的未記錄盤管 理工作區(qū)的開始位置計算得到。在本發(fā)明的一個實施例中，部分(b)進一步包括用于確定盤管理信息的記錄是否 已經(jīng)被正常執(zhí)行的部分；部分(c)進一步包括用于確定盤定義結構的記錄是否已經(jīng)被正常 執(zhí)行的部分；和所述信息記錄裝置進一步包括(d)重復執(zhí)行盤管理信息的記錄直到盤管 理信息的記錄被正常執(zhí)行，和重復執(zhí)行盤定義結構的記錄直到盤定義結構的記錄被正常執(zhí) 行的部分。在本發(fā)明的一個實施例中，部分(b)進一步包括用于確定盤管理信息的記錄是否 已經(jīng)被正常執(zhí)行的部分；部分(C)進一步包括用于確定盤定義結構的記錄是否已經(jīng)被正常 執(zhí)行的部分；和所述信息記錄裝置進一步包括(d)重復執(zhí)行盤管理信息的記錄直到盤管 理信息的記錄被正常執(zhí)行，和重復執(zhí)行盤定義結構的記錄直到盤定義結構的記錄被正常執(zhí) 行的部分。
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根據(jù)本發(fā)明的另一個方面，提供一種用于從一次寫入多次讀取信息記錄介質再現(xiàn) 信息的信息再現(xiàn)裝置，其中在所述一次寫入多次讀取信息記錄介質上的一預定方向上連 續(xù)分配有至少一個盤管理工作區(qū)；在所述至少一個盤管理工作區(qū)中，提供有盤管理信息和 包含有關盤管理信息的位置信息的盤定義結構，該盤管理信息為關于所述一次寫入多次讀 取信息記錄介質的管理信息；最新盤管理信息和最新盤定義結構被布置在所述預定方向 上，所述最新盤管理信息在所述預定方向上位于所述最新盤定義結構之前；所述最新盤管 理信息是布置在相鄰于已記錄盤管理工作區(qū)和未記錄盤管理工作區(qū)之間的邊界的已記錄 盤管理工作區(qū)中的盤管理信息；所述最新盤定義結構是包含關于所述最新盤管理信息的位 置信息的盤定義結構；所述最新盤定義結構被布置在相鄰于所述邊界的已記錄盤管理工 作區(qū)中的預定位置處，所述預定位置能夠根據(jù)所述邊界作為參考計算得出，所述信息再現(xiàn) 裝置包括(a)用于搜索所述邊界的位置以獲得表示所述邊界的位置的邊界位置信息的部 分；(b)用于根據(jù)所述邊界位置信息再現(xiàn)最新盤定義結構的部分；(C)用于根據(jù)所述最新盤 定義結構獲得關于最新盤管理信息的位置信息的部分；和(d)用于根據(jù)關于所述最新盤管 理信息的位置信息再現(xiàn)盤管理信息的部分。在本發(fā)明的一個實施例中，所述盤管理信息的大小是可變的；和所述盤定義結構 的大小是固定的。在本發(fā)明的一個實施例中，所述一次寫入多次讀取信息記錄介質包括用于記錄數(shù) 據(jù)的數(shù)據(jù)區(qū)和備用區(qū)，所述備用區(qū)是用于數(shù)據(jù)區(qū)的替換區(qū)；所述盤管理信息包含一個替換 列表，該替換列表包含表示數(shù)據(jù)區(qū)中包含的替換源區(qū)和備用區(qū)中包含的替換目標區(qū)之間的 對應關系的對應關系信息；和所述盤定義結構包含替換列表位置信息，其是關于替換列表 的位置信息。在本發(fā)明的一個實施例中，所述預定方向是從一次寫入多次讀取信息記錄介質的 內圓周至外圓周的方向；和所述最新的盤定義結構被布置在能夠根據(jù)相鄰于所述作為參考 的邊界的已記錄盤管理工作區(qū)的末端計算得到的預定位置處。在本發(fā)明的一個實施例中，所述預定方向是從一次寫入多次讀取信息記錄介質的 外圓周至內圓周的方向；和所述最新的盤定義結構被布置在能夠根據(jù)相鄰于所述作為參考 的邊界的已記錄盤管理工作區(qū)的開始位置計算得到的預定位置處。


圖1為表示根據(jù)本發(fā)明實施例1的一次寫入多次讀取光盤中的區(qū)的排布的示圖；圖2為表示根據(jù)本發(fā)明實施例1的一次寫入多次讀取光盤的數(shù)據(jù)結構的示圖；圖3為表示DDS和缺陷列表的數(shù)據(jù)結構的示圖；圖4為表示根據(jù)本發(fā)明實施例1的光盤記錄/再現(xiàn)裝置的結構的示圖；圖5為從根據(jù)本發(fā)明實施例1的一次寫入多次讀取光盤中的相鄰于已記錄缺陷管 理工作區(qū)和未記錄缺陷管理工作區(qū)之間的邊界的已記錄缺陷管理工作區(qū)獲得最新缺陷列 表和最新DDS的過程的流程圖；圖6為表示用于搜索記錄結束位置的處理的示圖；圖7為表示用于搜索記錄結束位置的過程的流程圖；圖8為表示缺陷列表和DDS被附加記錄到臨時缺陷管理區(qū)中包含的DMWA中的情
10形的示圖；圖9為用于將缺陷列表和DDS附加記錄到根據(jù)本發(fā)明實施例1的一次寫入多次讀 取光盤的缺陷管理工作區(qū)中的過程的流程圖；圖10為用于在確定缺陷列表和DDS是否已經(jīng)被正常記錄的同時將新的缺陷列表 和DDS附加記錄到缺陷管理工作區(qū)中的過程的流程圖；圖11為表示根據(jù)參照圖10所述的過程將缺陷列表和DDS附加記錄到缺陷管理工 作區(qū)中的情形的示圖；圖12為表示根據(jù)本發(fā)明實施例1的另一個一次寫入多次讀取光盤的數(shù)據(jù)結構的 示圖；圖13位根據(jù)本發(fā)明實施例1的用于最終完成的過程的流程圖；圖14為表示用于比較的可重寫光盤和最終完成之后的一次寫入多次讀取光盤的 數(shù)據(jù)結構的示圖；圖15為根據(jù)本發(fā)明實施例1的另一最終完成過程的流程圖；圖16為用于確定一次寫入多次讀取光盤是否已經(jīng)被最終完成的最終完成確定過 程的流程圖；圖17為用于確定一次寫入多次讀取光盤是否已經(jīng)被最終完成的另一最終完成確 定過程的流程圖；圖18為表示根據(jù)本發(fā)明實施例2的DMWA的數(shù)據(jù)結構的示圖；圖19為表示SDDS的結構的示圖；圖20為用于從臨時缺陷管理區(qū)中包含的缺陷管理工作區(qū)中的最新記錄的缺陷管 理工作區(qū)獲得SDDS和SDFL的過程的流程圖；圖21為表示用于將SDFL和SDDS附加記錄到根據(jù)本發(fā)明實施例2的一次寫入多 次讀取光盤中的缺陷管理工作區(qū)中的過程的流程圖；圖22為表示其中間隔位映射信息和缺陷列表被布置作為子信息的典型缺陷管理 工作區(qū)的示圖；圖23為表示傳統(tǒng)可重寫光盤的數(shù)據(jù)結構的示圖；圖24為表示能夠處理圖23的傳統(tǒng)可重寫光盤的光盤記錄/再現(xiàn)裝置的結構的示 圖。
具體實施例方式此后將參照附圖借助示意性實施例來說明本發(fā)明。在下面的實施例中，采用了一次寫入多次讀取信息記錄介質(此后也稱作“一次 寫入多次讀取光盤”)。(實施例1)1. 1 一次寫入多次讀取光盤的數(shù)據(jù)結構圖1表示根據(jù)本發(fā)明實施例1的一次寫入多次讀取光盤1中的區(qū)的排布。以螺旋 的方式在盤狀的一次寫入多次讀取光盤1上形成多個軌跡2。每個軌跡2被細分成多個塊 3。塊3是用于糾錯的單元，其是用于記錄或再現(xiàn)操作的最小單元。例如，在使用紅色激光 的DVD-RAM的情況下，塊3的大小為IECC (32千字節(jié))，而在使用藍色激光的大容量BD-RE的情況下，塊3的大小為1簇(64千字節(jié))。在一次寫入多次讀取光盤1上分配有導入?yún)^(qū)4、數(shù)據(jù)區(qū)5和導出區(qū)6。用戶數(shù)據(jù)被 記錄到數(shù)據(jù)區(qū)5中或從其再現(xiàn)。導入?yún)^(qū)4和導出區(qū)6用作邊緣部分，通過它即使光頭(未 示出)訪問但是超過了數(shù)據(jù)區(qū)5的末端，光頭也能跟蹤指定軌跡。圖2表示根據(jù)本發(fā)明實施例1的一次寫入多次讀取光盤1的數(shù)據(jù)結構。一次寫入多次讀取光盤1上的區(qū)域粗略分成導入?yún)^(qū)4、數(shù)據(jù)區(qū)5和導出區(qū)6。導入?yún)^(qū)4包含第一缺陷管理區(qū)10(此后也稱作“0默1”)和第二缺陷管理區(qū)11 (此 后也稱作“DMA2”)，以及臨時缺陷管理區(qū)20。DMAl和DMA2用于管理數(shù)據(jù)區(qū)5的缺陷塊中的信息或類似內容。數(shù)據(jù)區(qū)5用于記錄數(shù)據(jù)，包括用戶數(shù)據(jù)區(qū)16和備用區(qū)17。用戶數(shù)據(jù)區(qū)16是一次寫入多次讀取區(qū)，用戶可向其中記錄任何信息，例如實時數(shù) 據(jù)(例如，音樂、視頻、等等)、計算機數(shù)據(jù)(例如，文獻、數(shù)據(jù)庫、等等)，等等。備用區(qū)17是數(shù)據(jù)區(qū)5的替代區(qū)。例如，當在用戶數(shù)據(jù)區(qū)16中檢測到缺陷塊時，數(shù) 據(jù)就被記錄到替代區(qū)中而不是缺陷塊中。在圖2的一次寫入多次讀取光盤1的數(shù)據(jù)結構 中，在數(shù)據(jù)區(qū)5的內周部分(即，較靠近導入?yún)^(qū)4)和外圍部分(即較靠近導出區(qū)6)的每一 個中都提供有備用區(qū)17。然而，可任意確定備用區(qū)17的數(shù)量或備用區(qū)17的位置而不局限 于圖2中所示的備用區(qū)數(shù)量或備用區(qū)位置。導出區(qū)6包含第三缺陷管理區(qū)12(此后也稱作“DMA3”)和第四缺陷管理區(qū)13 (此 后也稱作“DMA4”)。DMA3和DMA4用于管理與數(shù)據(jù)區(qū)5中的缺陷塊有關的信息或類似內容。DMAl至DMA4中的每一個具有預定的位置和固定的長度。提供在DMAl至DMA4的 每一個中的管理信息具有根據(jù)缺陷塊的數(shù)量變化的可變長度。DMAl至DMA4中的每一個包含盤定義結構(此后也稱作“DDS”) 14和缺陷列表(此 后也稱作“DFL”)15，其中DDS14在DFL15前面。臨時缺陷管理區(qū)20包含N個缺陷管理工作區(qū)(此后也稱作“DMWA”)21，其中N是 1或者更大的整數(shù)。缺陷管理工作區(qū)21用于臨時記錄在一次寫入多次讀取光盤1被最終完成之前已 經(jīng)被更新的缺陷管理信息。缺陷管理工作區(qū)21包含DDS14和缺陷列表15，其中缺陷列表15 在DDS14之前。缺陷管理工作區(qū)21包含至少一個塊。塊是用于記錄/再現(xiàn)數(shù)據(jù)的單元。如此中所使用的，術語“最終完成一次寫入多次讀取光盤”意味著一次寫入多次讀 取光盤的狀態(tài)被從一次寫入多次讀取狀態(tài)改變至非一次寫入多次讀取狀態(tài)。例如，通過將 最新缺陷管理工作區(qū)21的內容記錄到DMAl至DMA4上，一次寫入多次讀取光盤1的數(shù)據(jù)結 構可被改變至與可重寫光盤的數(shù)據(jù)結構相兼容的數(shù)據(jù)結構，即一次寫入多次讀取光盤1被 從一次寫入多次讀取裝置改變至非一次寫入多次讀取狀態(tài)。下面將詳細說明最終完成過 程。從臨時缺陷管理區(qū)20的開頭朝向末尾(即，在從一次寫入多次讀取光盤1的內圓 周部分至外圓周部分的方向)連續(xù)分配至少一個缺陷管理工作區(qū)21 (DMWA#1至DMWA#N(N 1或者更大的整數(shù)))。從缺陷管理工作區(qū)21中的臨時缺陷管理區(qū)20的開頭處(較靠近于 一次寫入多次讀取光盤1的內圓周)連續(xù)記錄缺陷信息。在每個缺陷管理工作區(qū)21中，在
12從臨時缺陷管理區(qū)20的開頭到末尾的方向(從一次寫入多次讀取光盤1的內圓周部分到 外圓周的方向)上提供缺陷列表15和DDS14，其中缺陷列表15在DDS14前面。換句話說， 在每個缺陷管理工作區(qū)21中以相對于DMAl至DMA4中的每一個相反的順序布置DDS14和 缺陷列表15。注意包含缺陷管理工作區(qū)21的臨時缺陷管理區(qū)20可能不一定包含在導入?yún)^(qū)4 中。臨時缺陷管理區(qū)20可包含在例如除用戶數(shù)據(jù)區(qū)16之外的導出區(qū)6或備用區(qū)17中。例如，DDS14位于相鄰于記錄缺陷管理工作區(qū)和未記錄缺陷管理工作區(qū)之間的邊 界的記錄缺陷管理工作區(qū)中。DDS14位于相鄰于所述邊界的記錄缺陷管理工作區(qū)中的預定 位置處，并且可根據(jù)所述邊界來計算該預定位置。在本發(fā)明的實施例1中，假設DDS14位于 相鄰于記錄缺陷管理工作區(qū)和未記錄缺陷管理工作區(qū)之間的邊界的記錄缺陷管理工作區(qū) 的末端。注意DDS14的位置不局限于缺陷管理工作區(qū)的末端。DDS14可位于一個預定位置， 該預定位置可從一個參考，即相鄰于記錄缺陷管理工作區(qū)和未記錄缺陷管理工作區(qū)之間的 邊界的記錄缺陷管理工作區(qū)的末端(邊界)計算得到。圖3表示DDS14和缺陷列表15的數(shù)據(jù)結構。DDS14包含關于缺陷列表15的位置信息。例如，DDS14包含表示缺陷列表15所處 的開始位置的缺陷列表開始位置信息30和其它信息31。例如，缺陷列表開始位置信息30 在此處是扇區(qū)地址，其是關于扇區(qū)(1扇區(qū)具有2千字節(jié)的大小)的位置信息，該扇區(qū)是最 小的可尋址單元。DDS14具有固定的長度，其例如是1塊的大小。在本發(fā)明的實施例1中，假定DDS14 具有1塊的大小。注意如果能根據(jù)一個參考，即記錄缺陷管理工作區(qū)和未記錄缺陷管理工 作區(qū)之間的邊界計算指示缺陷列表15的位置的信息位置(即缺陷列表開始位置信息)，則 DDS14可能不一定具有固定的長度。這是因為能夠從作為參考的所述邊界來計算缺陷列表 的位置。缺陷列表15包含缺陷列表標題32和M個缺陷項33 (M 0或者更大的整數(shù))。除了缺陷列表標題32和缺陷項33之外，缺陷列表15可進一步包含表示錨定標 記的信息，所述錨定標記指示缺陷管理信息的末端。缺陷列表標題32包含缺陷列表中包括的缺陷項的數(shù)量或類似信息。缺陷項33包含指示數(shù)據(jù)區(qū)中的區(qū)(替換源)和備用區(qū)中的區(qū)(替換目標)之間 的對應關系的對應關系信息。缺陷項33例如包含關于在用戶數(shù)據(jù)區(qū)16中檢測到的缺陷塊 的位置信息和關于備用區(qū)17的替換塊位置信息，所述備用區(qū)包括缺陷塊的替換目標。缺陷列表15具有依賴于缺陷列表15中記錄的缺陷項33的數(shù)量的可變長度。具 體的，缺陷管理工作區(qū)#1至缺陷管理工作區(qū)#N的大小不必相同(參見圖2)。1. 2.光盤記錄/再現(xiàn)裝置100的結構圖4表示根據(jù)本發(fā)明實施例1的光盤記錄/再現(xiàn)裝置100的結構。光盤記錄/再現(xiàn)裝置100通過I/O總線170與較高層次的控制裝置(未示出)相 連。較高層次的控制裝置例如是主計算機。光盤記錄/再現(xiàn)裝置100包括用于處理來自較高層次控制裝置的命令的命令處 理部分Iio ；用于控制一次寫入多次讀取光盤1的記錄的記錄控制部分120 ；用于控制光盤
13的再現(xiàn)的再現(xiàn)控制部分130 ；用于存儲從DMAl至DMA4中的任何一個再現(xiàn)的內容或從缺陷 管理工作區(qū)21再現(xiàn)的內容的缺陷管理信息存儲緩沖器140 ；用于暫時存儲記錄數(shù)據(jù)和再 現(xiàn)數(shù)據(jù)的數(shù)據(jù)緩沖器150 ；和用于執(zhí)行涉及缺陷管理信息的處理的缺陷管理信息處理部分 160。缺陷管理信息處理部分160包括缺陷管理信息讀取部分161，缺陷管理信息寫入 部分162，缺陷管理信息控制存儲器163，缺陷管理信息更新部分164，缺陷管理工作信息讀 取部分165，和缺陷管理工作信息寫入部分166。缺陷管理信息讀取部分161檢測從DMAl至DMA4的正常缺陷管理區(qū)，和從所述缺 陷管理區(qū)讀取內容并將其傳送給缺陷管理信息存儲緩沖器140。缺陷管理信息讀取部分161還從在一次寫入多次讀取光盤1上分配的多個缺陷管 理區(qū)之一讀出數(shù)據(jù)，確定缺陷管理區(qū)是否已經(jīng)被記錄，和根據(jù)確定結果，確定一次寫入多次 讀取光盤1是否已經(jīng)從一次寫入多次讀取狀態(tài)變化至非一次寫入多次讀取狀態(tài)。例如，缺陷管理信息讀取部分161從DMAl至DMA4中的至少一個讀出數(shù)據(jù)。如果 能夠正常再現(xiàn)一次寫入多次讀取光盤1，則確定一次寫入多次讀取光盤1已經(jīng)被最終完成。如果缺陷塊信息等被改變，則缺陷管理信息更新部分164更新缺陷管理信息存儲 緩沖器140的內容以產(chǎn)生新的缺陷管理信息。缺陷管理信息寫入部分162將由缺陷管理信息更新部分164更新的內容寫入到 DMAl至DMA4中。換句話說，對于最終完成步驟，缺陷管理信息寫入部分162將缺陷管理信 息寫入到DMAl至DMA4中。缺陷管理信息控制存儲器163存儲缺陷管理信息處理部分160的操作控制狀態(tài)。缺陷管理工作信息讀取部分165在臨時缺陷管理區(qū)20中包含的缺陷管理工作區(qū) 21中搜索最新記錄的缺陷管理工作區(qū)21。記錄在最新缺陷管理工作區(qū)21中的內容被讀出 至缺陷管理信息存儲緩沖器140中。注意缺陷管理信息讀取部分161從DMAl至DMA4中的每一個讀出數(shù)據(jù)并確定一次 寫入多次讀取光盤1是否已經(jīng)被最終完成。可選擇的，缺陷管理工作信息讀取部分165能 夠確定一次寫入多次讀取光盤1是否已經(jīng)被最終完成。例如，根據(jù)在缺陷管理工作區(qū)21中 的預定位置是否記錄有最終完成識別標記，缺陷管理工作信息讀取部分165確定一次寫入 多次讀取光盤1是否已經(jīng)被最終完成。最終完成識別標記指示禁止將數(shù)據(jù)附加記錄至至少 一個缺陷管理工作區(qū)21。注意最終完成識別標記的記錄位置不局限于缺陷管理工作區(qū)21中的預定位置。 可將最終完成識別標記記錄在一次寫入多次讀取光盤1的預定位置處。例如，可將最終完成識別標記記錄在盤定義結構14和缺陷列表15的至少一個中。 如果缺陷管理工作信息讀取部分165讀出記錄在盤定義結構14和缺陷列表15的至少一個 中的最終完成識別標記，則確定一次寫入多次讀取光盤1已經(jīng)被最終完成。缺陷管理工作信息寫入部分166將通過缺陷管理信息更新部分164更新的內容寫 入到可用缺陷管理工作區(qū)21中。另外，可將最終完成識別標記寫入到缺陷管理工作區(qū)21 中。例如，缺陷管理工作信息寫入部分166將最終完成識別標記記錄到盤定義結構14和缺 陷列表15的至少一個中。1.3.獲得最新缺陷管理信息
此后，將說明獲得(再現(xiàn))記錄在根據(jù)本發(fā)明實施例1的一次寫入多次讀取光盤 1上的信息(記錄在相鄰于記錄缺陷管理工作區(qū)和未記錄缺陷管理工作區(qū)之間的邊界的缺 陷管理工作區(qū)中的最新缺陷列表和最新DDS)的方法。圖5表示從根據(jù)本發(fā)明實施例1的一次寫入多次讀取光盤1中的相鄰于記錄缺陷 管理工作區(qū)和未記錄缺陷管理工作區(qū)之間的邊界的記錄缺陷管理工作區(qū)獲得最新缺陷列 表15和最新DDS14的過程。此后，將參照圖5逐步說明這種過程。步驟601 缺陷管理工作信息讀取部分165搜索記錄缺陷管理工作區(qū)和未記錄缺 陷管理工作區(qū)之間的邊界的位置并獲得表示邊界的位置的邊界位置信息。例如，缺陷管理工作信息讀取部分165搜索臨時缺陷管理區(qū)20中的記錄區(qū)域的結 束位置(此后也稱作“記錄結束位置”)并將缺陷管理工作區(qū)21的位置存儲在缺陷管理信 息控制存儲器163的記錄結束位置40中的結束位置處。例如，缺陷管理工作區(qū)21的位置 在此處是扇區(qū)地址，其是關于位于記錄結束位置處的扇區(qū)的位置信息。在存儲了檢測的記 錄結束處缺陷管理工作區(qū)21的位置之后，所述處理進行到步驟602。注意搜索記錄結束位 置的過程將在下面詳細說明。步驟602 缺陷管理工作信息讀取部分165根據(jù)邊界位置信息再現(xiàn)最新的DDS14， 并根據(jù)該最新的DDS14，獲得關于最新缺陷列表15的位置信息。例如，缺陷管理工作信息讀取部分165將在記錄結束位置40結束的具有1塊大小 的最新DDS14讀出至缺陷管理信息存儲緩沖器140中并將最新DDS14中包含的缺陷列表開 始位置信息30存儲在缺陷管理信息控制存儲器163中的缺陷列表開始位置41處。在讀出 最新DDS14和存儲缺陷列表開始位置信息30之后，所述處理進行至步驟603。步驟603 根據(jù)關于最新缺陷列表15的位置信息再現(xiàn)最新缺陷列表15。例如，缺陷管理工作信息讀取部分165讀取最新缺陷列表至缺陷管理信息存儲緩 沖器140中，缺陷列表開始位置41位于所述最新缺陷列表的開始處。在讀出最新缺陷列表 15之后，結束所述處理。在該情況下，如果記錄結束位置40指示沒有臨時缺陷管理區(qū)20被記錄，則不需要 步驟602和603中的讀取過程。與讀取相反，可將DDS14和缺陷列表15提前存儲在缺陷管 理信息存儲緩沖器140中。注意存儲的DDS14包含缺陷列表開始位置信息30，其已經(jīng)被初 始化至預定的值，并在存儲的缺陷列表15中，缺陷列表標題32中的缺陷項的數(shù)量已經(jīng)被初 始化(缺陷項數(shù)量=0)，即存儲的缺陷列表15沒有缺陷項33。注意可根據(jù)位于缺陷列表15開頭處的缺陷列表標題中所包含的缺陷項的數(shù)量計 算將被讀出的缺陷列表15的大小，或者可通過從缺陷列表開始位置減去DDS14的開始位置 來計算所述將被讀出的缺陷列表的大小。圖6表示用于搜索記錄結束位置的處理。圖7表示用于搜索記錄結束位置的過程。 搜索記錄結束位置意味著搜索最新記錄的缺陷管理工作區(qū)21。此后將參照圖6和7逐步的說明用于搜索記錄結束位置的過程。步驟801 缺陷管理工作信息讀取部分165執(zhí)行第一幅度檢查。從臨時缺陷管理 區(qū)20的開頭以規(guī)則的預定塊間隔執(zhí)行所述第一幅度檢查，直到找不到幅度。在找不到幅度 之后，所述處理進行至步驟802。步驟802 缺陷管理工作信息讀取部分165執(zhí)行第二幅度檢查。在第二幅度檢查
15中，在發(fā)現(xiàn)幅度的位置和未發(fā)現(xiàn)幅度的位置之間搜索存在的幅度結束的位置。在沒有發(fā)現(xiàn) 幅度的位置之后，所述處理進行到步驟803。步驟803 缺陷管理工作信息讀取部分165獲得通過所述檢查得到的記錄結束位 置(最新記錄的缺陷管理工作區(qū)和未記錄缺陷管理工作區(qū)之間的邊界的位置)。在獲得記 錄結束位置之后，結束所述處理。通過上述過程，缺陷管理工作信息讀取部分165能夠讀出最新記錄的缺陷管理工 作區(qū)21的內容。注意用于搜索記錄結束位置的過程不限于參照圖7所述的記錄結束位置搜索過 程。例如，可通過從臨時缺陷管理區(qū)20的末尾至開頭搜索具有幅度的開始位置來找出記錄 結束位置。在圖5的實施例中，步驟601相當于“搜索邊界位置并獲得表示邊界位置的邊界位 置信息”。步驟602相當于“根據(jù)邊界位置信息再現(xiàn)最新盤定義結構”和“根據(jù)最新盤定義 結構獲得關于最新盤管理信息的位置信息”。步驟603相當于“根據(jù)關于最新盤管理信息的 位置信息再現(xiàn)盤管理信息”。然而，用于從相鄰于一次寫入多次讀取光盤1中的記錄缺陷管理工作區(qū)和未記錄 缺陷管理工作區(qū)之間的邊界的記錄缺陷管理工作區(qū)獲得最新缺陷列表15和最新DDS14的 過程不限于圖5的過程。用于從相鄰于一次寫入多次讀取光盤1中的記錄缺陷管理工作區(qū) 和未記錄缺陷管理工作區(qū)之間的邊界的記錄缺陷管理工作區(qū)獲得最新缺陷列表15和最新 DDS14的任何過程都能被利用，只要所述過程包括上述的“搜索邊界位置并獲得表示邊界位 置的邊界位置信息”、“根據(jù)邊界位置信息再現(xiàn)最新盤定義結構”和“根據(jù)最新盤定義結構獲 得關于最新盤管理信息的位置信息”、以及“根據(jù)關于最新盤管理信息的位置信息再現(xiàn)盤管 理{曰息 ο1.4.缺陷管理信息的更新此后，將說明根據(jù)本發(fā)明實施例1的將信息(缺陷列表15和DDS14)記錄到一次 寫入多次讀取光盤1上的方法。圖8表示將缺陷列表15和DDS14附加記錄到臨時缺陷管理區(qū)20中包含的DMWA21 中的情形。圖8的部分(a)表示在第一時間點將缺陷列表15和DDS14記錄到臨時缺陷管理區(qū) 20中包含的DMWA#1中的情形。圖8的部分(b)表示在第二時間點將缺陷列表15和DDS14 記錄到臨時缺陷管理區(qū)20中包含的DMWA#2中的情形。圖8的部分(c)表示在第三時間點 將缺陷列表15和DDS14記錄到臨時缺陷管理區(qū)20中包含的DMWA#3中的情形。在圖8中，經(jīng)過填充的DMWA表示其中已經(jīng)記錄有缺陷列表15和DDS14的已記錄 DMWA,而開放的DMWA表示其中還未記錄缺陷列表15和DDS14的未記錄DMWA。新的缺陷列表15和DDS14被附加記錄到位于多個未記錄DMWA的開頭的一個未記 錄DMWA中。換句話說，新的缺陷列表15和DDS14被附加記錄到相鄰于未記錄DMWA和已記 錄DMWA之間的邊界的未記錄DMWA。因此，最新缺陷列表15和DDS14位于相鄰于多個已記錄DMWA的末端的一個已記 錄DMWA中。換句話說，最新缺陷列表15和DDS14位于相鄰于未記錄DMWA和已記錄DMWA 之間的邊界的一個已記錄DMWA中。
圖9表示根據(jù)本發(fā)明實施例1的將缺陷列表15和DDS14附加記錄到一次寫入多 次讀取光盤1的缺陷管理工作區(qū)21中的過程。缺陷管理工作信息寫入部分166將新的缺陷列表15和DDS14附加記錄到缺陷管 理工作區(qū)21中。在這種情況下，缺陷管理信息更新部分164允許存儲在缺陷管理信息存儲緩沖器 140中的缺陷列表保持最新的內容。具體來講，例如，當檢測到新的缺陷塊時，缺陷管理信息更新部分164將對應于新 的替換塊(即，新缺陷塊)的缺陷項添加到存儲在缺陷管理信息存儲緩沖器140中的缺陷 列表15，并根據(jù)關于包含在缺陷項中的缺陷塊的位置信息對缺陷項進行分類。另外，缺陷管 理信息更新部分164將所述多個缺陷項之一添加到缺陷列表標題中。此后，將參照圖9逐步說明根據(jù)本發(fā)明實施例1的將缺陷列表15和DDS14附加記 錄到一次寫入多次讀取光盤1中的缺陷管理工作區(qū)21中的過程。步驟901 缺陷管理信息更新部分164選擇一個與已記錄缺陷管理工作區(qū)和未記 錄缺陷管理工作區(qū)之間的邊界相鄰的未記錄缺陷管理工作區(qū)。例如，缺陷管理信息更新部分164將缺陷管理信息控制存儲器163中的記錄結束 位置40加到一，并在最終的記錄結束位置40處更新包含在缺陷管理信息存儲緩沖器140 中的DDS14，使得位于多個未記錄缺陷管理工作區(qū)的開頭處的未記錄缺陷管理工作區(qū)被選 擇。換句話說，通過更新DDS14使得缺陷列表開始位置信息30表示未記錄缺陷管理工作 區(qū)的開始位置，選擇位于多個未記錄缺陷管理工作區(qū)的開頭的未記錄缺陷管理工作區(qū)。在 DDS14被更新之后，所述處理進行到步驟902。步驟902 缺陷管理工作信息寫入部分166將作為關于一次寫入多次讀取光盤1 的管理信息的缺陷列表15記錄到相鄰于邊界的一個未記錄缺陷管理工作區(qū)中并將包含關 于記錄缺陷列表15的位置信息的DDS14記錄到相鄰于所述邊界的未記錄缺陷管理工作區(qū) 中。例如，缺陷管理工作信息寫入部分166將包含在缺陷管理信息存儲緩沖器140中 的已更新缺陷列表15記錄到一個未記錄區(qū)的開始位置并以這種跟隨缺陷列表15的方式 記錄更新的DDS14。在記錄缺陷列表15和DDS14之后，結束所述處理。通過上述過程，缺陷管理工作信息寫入部分166將最新缺陷列表15和DDS14記錄 到包含在臨時缺陷管理區(qū)20中的缺陷管理工作區(qū)21中。注意使用缺陷管理信息更新部分164更新缺陷列表15僅僅是示意性的。也可以 只要求缺陷列表15包含關于缺陷的信息。例如，可以不需要對缺陷項進行分類。注意可以在任何時刻將缺陷列表15和DDS14記錄在臨時缺陷管理區(qū)20的缺陷管 理工作區(qū)21中，只要是以這種方式來記錄缺陷列表15和DDS14 當裝置的狀態(tài)和介質的狀 態(tài)發(fā)生改變時，其使得DDS14能夠必定位于已記錄缺陷管理工作區(qū)的末尾。裝置的狀態(tài)和 介質的狀態(tài)發(fā)生變化例如意味著從光盤記錄/再現(xiàn)裝置100彈出一次寫入多次讀取光盤或 關閉光盤記錄/再現(xiàn)裝置100。注意當將缺陷列表15和DDS14記錄到缺陷管理工作區(qū)中時，可以確定缺陷列表15 和DDS14是否已經(jīng)被正常記錄。圖10表示將新的缺陷列表15和DDS14附加記錄到缺陷管理工作區(qū)21中，同時確定缺陷列表15和DDS14是否已經(jīng)被正常記錄的過程。現(xiàn)在假設缺陷管理信息更新部分164允許存儲在缺陷管理信息存儲緩沖器140中 的缺陷列表15的內容保持最新的內容。此后，將參照圖10逐步介紹將新的缺陷列表15和DDS14附加記錄到缺陷管理工 作區(qū)21中同時確定缺陷列表15和DDS14是否已經(jīng)被正常記錄的過程。步驟1101 缺陷管理信息更新部分164在包含于缺陷管理信息控制存儲器163中 的記錄結束位置40處更新包含在缺陷管理信息存儲緩沖器140中的DDS14，所述記錄結束 位置已經(jīng)加到一。換句話說，以這種方式更新DDS14，即缺陷列表開始位置信息30指示未記 錄缺陷管理工作區(qū)的開始位置。在DDS14被更新之后，所述處理進行到步驟1102。步驟1102 缺陷管理工作信息寫入部分166將缺陷管理信息存儲緩沖器140中包 含的已更新缺陷列表15記錄到未記錄缺陷管理工作區(qū)的開始位置。在記錄之后，所述處理 進行到步驟1103。步驟1103 確定缺陷列表15是否已經(jīng)被正常記錄。在這種情況下，缺陷列表15是否已經(jīng)被正常記錄的確定是通過例如對其中記錄 有缺陷列表15的塊執(zhí)行糾錯或讀取記錄的數(shù)據(jù)并確定記錄數(shù)據(jù)是否與預期數(shù)據(jù)相匹配來 執(zhí)行的。當確定缺陷列表15還未被正常記錄(即缺陷列表的記錄已經(jīng)失敗)時，所述處理 進行到步驟1101。在步驟1101，通過增加先前已經(jīng)記錄的缺陷列表的大小來改變記錄結束 位置40。另外，包含在缺陷管理信息存儲緩沖器140中的DDS14被更新使得通過將記錄結 束位置40加一獲得的位置被包含在缺陷列表開始位置信息30中。當確定缺陷列表15已經(jīng)被正常記錄(即，缺陷列表15的記錄已經(jīng)是成功的)時， 所述處理進行到步驟1104。步驟1104 記錄更新的DDS14。在記錄DDS14之后，所述處理進行到步驟1105。步驟1105 確定DDS14是否已經(jīng)被正常記錄。當確定DDS14未被正常記錄(即，DDS14的記錄已經(jīng)失敗)時，所述處理進行到步 驟 1104。當確定DDS14已經(jīng)被正常記錄(即，DDS14的記錄已經(jīng)成功)時，結束所述處理。重復步驟1102和步驟1103直到缺陷列表15已經(jīng)被正常記錄。重復步驟1104和 步驟1105直到DDS14已經(jīng)被正常記錄。通過上述過程，缺陷管理工作區(qū)更新部分165將新的缺陷列表15和DDS14附加記 錄到缺陷管理工作區(qū)21中，同時確定缺陷列表15和DDS14是否已經(jīng)被正常記錄。注意可按照相反的順序執(zhí)行步驟1101和步驟1102。具體來講，在記錄缺陷列表 15并確認記錄已經(jīng)被正常實現(xiàn)之后，包含缺陷列表開始位置信息30的DDS14被記錄到已經(jīng) 記錄有缺陷列表15的缺陷管理工作區(qū)21中。注意雖然在圖10所述的過程中缺陷列表15和DDS14位于多個塊的不同塊中，但 缺陷列表15和DDS14都可共享多個塊中的至少一個塊。如果缺陷列表15和DDS14可共享多個塊中的至少一個塊，則在將缺陷列表15和 DDS14記錄到缺陷列表15和DDS14共享的塊中之后，確定是否已經(jīng)正常實現(xiàn)了記錄。如果 記錄失敗，則改變位置信息使得下一次記錄的位置與DDS14的缺陷列表開始位置信息30相應并且缺陷列表15和DDS14被再次記錄到由缺陷列表15和DDS14共享的塊中。重復嘗試 記錄缺陷列表15和DDS14直到缺陷列表15和DDS14被正常記錄。因此，記錄在缺陷管理工作區(qū)21中的缺陷列表15和DDS14的數(shù)據(jù)可靠性能夠得 到改善。圖11表示根據(jù)參照圖10所述的過程將缺陷列表15和DDS14附加記錄到缺陷管 理工作區(qū)21中的情形。圖11的部分(a)表示這樣的情形，其中缺陷塊出現(xiàn)在缺陷管理工作區(qū)#1 (DMWA#1) 中，并且因此，缺陷列表15至DMWA#1的第一記錄發(fā)生故障。隨后，嘗試記錄缺陷列表15。 如果缺陷列表15的記錄成功，則將DDS14記錄在缺陷列表15之后。圖11的部分(b)表示在DMWA#2中沒有出現(xiàn)缺陷塊的情形。如上所述，即使在缺陷管理工作區(qū)21中出現(xiàn)有缺陷塊并且因此缺陷列表15和 DDS14的記錄失敗，則會重復嘗試記錄缺陷列表15和DDS14直到缺陷列表15和DDS14被正 常記錄。因此，缺陷列表15和DDS14的記錄得以適當執(zhí)行。在圖9的實施例中，步驟901相當于“選擇相鄰于記錄盤管理工作區(qū)和未記錄盤管 理工作區(qū)之間的邊界的未記錄盤管理工作區(qū)”；步驟902相當于“將作為關于一次寫入多次 讀取信息記錄介質的管理信息的盤管理信息記錄到相鄰于所述邊界的未記錄盤管理工作 區(qū)中”和“將包含關于在上述的記錄步驟中定義的盤管理信息的位置信息的盤定義結構記 錄到相鄰于所述邊界的未記錄盤管理工作區(qū)中”。然而，根據(jù)本發(fā)明實施例1的用于將缺陷列表和DDS附加記錄到一次寫入多次讀 取光盤1的缺陷管理工作區(qū)21中的過程不限于圖9的實施例。根據(jù)本發(fā)明實施例1的用 于將缺陷列表和DDS附加記錄到一次寫入多次讀取光盤1的缺陷管理工作區(qū)21中的任何 過程都能被利用，只要所述過程具有下述功能“選擇相鄰于記錄盤管理工作區(qū)和未記錄盤 管理工作區(qū)之間的邊界的未記錄盤管理工作區(qū)”；“將作為關于一次寫入多次讀取信息記錄 介質的管理信息的盤管理信息記錄到相鄰于所述邊界的未記錄盤管理工作區(qū)中”和“將包 含關于在上述的記錄步驟中定義的盤管理信息的位置信息的盤定義結構記錄到相鄰于所 述邊界的未記錄盤管理工作區(qū)中”。圖12表示根據(jù)本發(fā)明實施例1的另一種一次寫入多次讀取光盤1的數(shù)據(jù)結構。在根據(jù)本發(fā)明實施例1的其它一次寫入多次讀取光盤1中，在從臨時缺陷管理區(qū) 20的末尾至開頭的方向上(在從一次寫入多次讀取光盤1的外圓周至內圓周的方向上)分 配有至少一個缺陷管理工作區(qū)21 (DMWA#1至DMWA#N(N 1或更大的整數(shù)))。從缺陷管理工 作區(qū)21在臨時缺陷管理區(qū)20的末尾(較靠近一次寫入多次讀取光盤1的外圓周)連續(xù)記 錄DDS14和缺陷列表15。以與提供在DMAl至DMA4的每一個中的DDS14和缺陷列表15相同的順序將DDS14 和缺陷列表15布置在缺陷管理工作區(qū)21中。在缺陷管理工作區(qū)21中，沿從臨時缺陷管理 區(qū)20的末尾至開頭的方向(即，在從一次寫入多次讀取光盤1的外圓周至內圓周的方向 上)以該順序定位缺陷列表15和DDSl4。例如，DDS14位于相鄰于已記錄缺陷管理工作區(qū)和未記錄缺陷管理工作區(qū)之間的 邊界的已記錄缺陷管理工作區(qū)中。DDS14位于根據(jù)相鄰于所述邊界的已記錄缺陷管理工作 區(qū)的開頭計算的至少一個預定位置處。在圖12的一次寫入多次讀取光盤1中，當搜索最新記錄的缺陷管理工作區(qū)21時，光盤記錄/再現(xiàn)裝置100的缺陷管理工作信息讀取部分165 搜索臨時缺陷管理區(qū)20中的已記錄區(qū)域的開始位置(此后也稱作“記錄開始位置”)并確定 位于記錄開始位置的缺陷管理工作區(qū)21是最新記錄的缺陷管理工作區(qū)21。換句話說，在圖 6中，搜索用未記錄區(qū)替換記錄區(qū)的記錄開始位置。在缺陷管理工作信息寫入部分166中， 比臨時缺陷管理區(qū)20中的記錄開始區(qū)更靠近內圓周的未記錄缺陷管理工作區(qū)被看作是可 用的缺陷管理工作區(qū)21。在本發(fā)明的一次寫入多次讀取信息記錄介質中，在預定方向上連續(xù)分配至少一個 缺陷管理工作區(qū)。最新缺陷列表和最新DDS被布置在相鄰于已記錄缺陷管理工作區(qū)和未記 錄缺陷管理工作區(qū)之間的邊界的已記錄缺陷管理工作區(qū)中，其中所述缺陷列表和最新DDS 是按照該順序沿預定方向布置的。因此，很容易找到最新DDS和最新缺陷列表。此后，將詳細說明本發(fā)明的一次寫入多次讀取信息記錄介質的效果，其中所述預 定方向是從一次寫入多次讀取光盤1的內圓周到外圓周的方向?，F(xiàn)在假設最新DFL15和最新DDS14按照沿從一次寫入多次讀取光盤1的外圓周至 內圓周方向的這種順序布置在缺陷管理工作區(qū)21中，與DMAl至DMA4中的最新DFL15和最 新DDS14的布置方向相同。能夠搜索臨時缺陷管理區(qū)20中的記錄結束位置(圖8)。然而，DFL15的大小根據(jù) 缺陷項的數(shù)量發(fā)生變化。因此，不能從結束位置計算DFL15的開始位置。為了在上述數(shù)據(jù)結構中獲得最新DFL15，從位于臨時缺陷管理區(qū)20的開始位置的 DDS14計算DFL15的開始位置，和從DFL15中包含的缺陷項的數(shù)量計算DFL15的大小以確
定下一個DDS14的位置。從該DDS14計算DFL15的開始位置，.......以這種方式，臨時缺
陷管理區(qū)20被連續(xù)跟蹤。在DDS14位于DFL15之前的數(shù)據(jù)結構中，不利的是需要較長的時 間。此外，如果從其不能再現(xiàn)數(shù)據(jù)的塊出現(xiàn)在DDS14和DFL15中，則搜索最新DFL15的過程 被妨礙，使得可靠性被不利地降低。如果DFL15具有固定長度，則搜索最新DDS14和最新DFL15的問題能夠得以避免。 然而，在該情況下，將數(shù)據(jù)附加記錄到臨時缺陷管理區(qū)20中的次數(shù)被減少或者需要較大容 量的臨時缺陷管理區(qū)20，從而導致區(qū)域應用效率的降低。在實施例1的一次寫入多次讀取光盤1中，在預定方向上分配至少一個缺陷管理 工作區(qū)21 ；最新DFL15和最新DDS14沿該預定方向按照這樣的順序進行排列并且位于相 鄰于已記錄缺陷管理工作區(qū)和未記錄缺陷管理工作區(qū)之間的邊界的已記錄缺陷管理工作 區(qū)中；如果DDS14位于能夠根據(jù)所述邊界計算的預定位置處，則能夠利用具有可變大小的 DFL15，結果會得到缺陷管理工作區(qū)21的高使用效率；和將最新DFL15的記錄位置記錄在位 于臨時缺陷管理區(qū)20中的記錄結束位置處的缺陷管理工作區(qū)21的DDS14中(即，相鄰于 所述邊界的已記錄缺陷管理工作區(qū))。因此，能夠解決上述問題。在本發(fā)明的一次寫入多次讀取光盤中，在預定方向上分配至少一個缺陷管理工作 區(qū)；沿所述預定方向按照這樣的順序排列最新的DFL和最新的DDS并且將它們定位在相鄰 于已記錄缺陷管理工作區(qū)和未記錄缺陷管理工作區(qū)之間的邊界的已記錄缺陷管理工作區(qū) 中；并且DDS位于能夠根據(jù)所述邊界計算得到的預定位置處。因此，能夠容易的找出最新 DDS和最新缺陷列表。1.5.最終完成
圖13表示根據(jù)本發(fā)明實施例1的最終完成過程。通過將缺陷列表15和DDS14記 錄到本發(fā)明的一次寫入多次讀取光盤1的DMAl至DMA4的每一個中，執(zhí)行本發(fā)明實施例1 的最終完成。在此，缺陷管理信息更新部分164允許存儲在缺陷管理信息存儲緩沖器140中的 缺陷列表15的內容保持最新的內容。此后，將參照圖13逐步說明根據(jù)本發(fā)明實施例1的最終完成過程。步驟1001 開始將缺陷列表15和DDS14記錄到DMAl至DMA4中的一個(例如DMA1)中。步驟1002 缺陷管理信息更新部分164通過將表示相鄰于邊界的已記錄缺陷管理 工作區(qū)的位置的位置信息改變?yōu)楸硎局辽僖粋€缺陷管理區(qū)中的一個的位置的位置信息而 將最新DDS14改變?yōu)樽詈蟮腄DS14。例如，缺陷管理信息更新部分164通過將缺陷管理信 息存儲緩沖器140中的DDS14的缺陷列表開始位置信息30改變?yōu)閷⒈挥涗浀娜毕莨芾韰^(qū) (DMAl)的缺陷列表開始位置信息而將最新DDS14改變?yōu)樽詈蟮腄DS14。當缺陷列表開始位 置信息30被改變之后，所述處理進行到步驟1003。步驟1003 缺陷管理信息寫入部分162將最后的缺陷列表15記錄到至少一個缺 陷管理區(qū)的一個中。例如，缺陷管理信息寫入部分162將缺陷管理信息存儲緩沖器140中 的缺陷列表15記錄到DMAl中。在記錄缺陷列表15之后，所述處理進行到步驟1004。步驟1004 缺陷管理信息寫入部分162根據(jù)最后的缺陷列表15將最后的DDS14記 錄到至少一個缺陷管理區(qū)的一個中。例如，缺陷管理信息寫入部分162將缺陷管理信息存 儲緩沖器140中的DDS14記錄到DMAl中。在記錄DDS14之后，所述處理進行到步驟1005。步驟1005 完成缺陷列表15和DDS14到DMAl至DMA4之一(DMAl)中的記錄。在 完成記錄之后，所述處理進行到步驟1001。對所有剩余的缺陷管理區(qū)(即，DMA2至DMA4)執(zhí)行步驟1002至步驟1004。在完成將缺陷列表15和DDS14記錄到DMAl至DMA4中之后，就完成了最終完成過程。注意在步驟1001至步驟1005中，最后缺陷列表15是位于至少一個缺陷管理區(qū)中 的最新缺陷列表，并且最后盤定義結構14是包含關于最后缺陷列表15的位置信息的盤定 義結構14。最新缺陷列表15通常是記錄在相鄰于已記錄缺陷管理工作區(qū)和未記錄缺陷管 理工作區(qū)之間的邊界的記錄缺陷管理工作區(qū)中的缺陷列表15。最新盤定義結構通常是包含 關于最后缺陷列表15的位置信息的盤定義結構14。通過上述過程，缺陷管理信息處理部分160能夠將最后的DDS14和最后的缺陷列 表15記錄到DMAl至DMA4中以完成最終完成過程。圖14表示用于進行比較的可重寫光盤400和在最終完成之后的一次寫入多次讀 取光盤的數(shù)據(jù)結構。通過執(zhí)行圖13的最終完成過程，布置在最終完成之后的一次寫入多次讀取光盤 中的DMAl至DMA4的數(shù)據(jù)結構與布置在可重寫光盤400中的DMAl至DMA4的數(shù)據(jù)結構相同。 因此，通過圖24的可重寫光盤記錄/再現(xiàn)裝置200能夠從最終完成的一次寫入多次讀取光 盤再現(xiàn)數(shù)據(jù)，從而得到對于再現(xiàn)兼容的光盤。注意通常在最終完成過程中，具有與記錄在相鄰于已記錄缺陷管理工作區(qū)和未記
21錄缺陷管理工作區(qū)之間的邊界的記錄缺陷管理工作區(qū)中的缺陷列表15相同內容的信息被 記錄在缺陷管理工作區(qū)中。因此，在能夠處理本發(fā)明的一次寫入多次讀取光盤的數(shù)據(jù)結構 的裝置中，如果能夠獲得最新缺陷管理工作區(qū)21的內容，則就不必獲得DMAl至DMA4的內 容，從而能夠減少獲得缺陷管理信息所需的時間。甚至當將DDS14和缺陷列表15記錄到 DMAl至DMA4中完全失敗時，通過從最新缺陷管理工作區(qū)21獲得DDS14和缺陷列表15也能 從一次寫入多次讀取光盤1再現(xiàn)數(shù)據(jù)。因此，根據(jù)本發(fā)明的最終完成過程，最終完成的一次寫入多次讀取光盤的數(shù)據(jù)結 構與可重寫光盤的數(shù)據(jù)結構相同。結果，可重寫光盤記錄/再現(xiàn)裝置能夠從最終完成的一 次寫入多次讀取光盤再現(xiàn)數(shù)據(jù)，由此實現(xiàn)兼容性。在圖13的例子中，缺陷管理信息寫入部分162用作“將最后盤管理信息寫入到至 少一個盤管理區(qū)中的部分”和“根據(jù)所述最后盤管理信息將最后盤定義結構記錄到至少一 個盤管理區(qū)中的部分”。然而，缺陷管理信息寫入部分162僅顯示出本發(fā)明的功能的典型部 分?？梢岳镁哂腥魏螛嫵傻牟糠?，只要能夠實現(xiàn)上述功能。注意可通過將最終完成識別標記記錄到一次寫入多次讀取光盤1中來最終完成 一次寫入多次讀取光盤1。例如，缺陷管理工作信息寫入部分166將最終完成識別標記記錄到盤定義結構14 和缺陷列表15的至少一個中。圖15表示根據(jù)本發(fā)明實施例1的另一個最終完成過程。所述另一個最終完成過 程是通過將最終完成識別標記記錄到本發(fā)明的一次寫入多次讀取光盤1上執(zhí)行的。此后，將參照圖15逐步的說明根據(jù)本發(fā)明實施例1的所述另一個最終完成過程。步驟2201 將最終完成識別標記記錄到一次寫入多次讀取光盤1上。所述最終完 成識別標記被記錄在一次寫入多次讀取光盤1上的預定位置。所述預定位置是本發(fā)明的光 盤記錄/再現(xiàn)裝置能夠從其讀取最終完成識別標記的任何位置。如果所述預定位置是缺陷管理工作區(qū)21，則缺陷管理工作信息寫入部分166將最 終完成識別標記記錄到缺陷管理工作區(qū)21中的盤定義結構14和缺陷列表15的至少一個 中。在該情況下，缺陷管理工作信息讀取部分165讀取最終完成識別標記。在將最終完成識別標記記錄到盤定義結構14和缺陷列表15的至少一個中之后， 所述處理結束。1. 6.最終完成確定圖16表示用于確定一次寫入多次讀取光盤1是否已經(jīng)被最終完成的最終完成確 定過程。此后，將參照圖16逐步說明用于確定一次寫入多次讀取光盤1是否已經(jīng)被最終完 成的最終完成確定過程(步驟2301至步驟2303)。注意在步驟2301至步驟2303中，最后缺陷列表15是布置在至少一個缺陷管理區(qū) 中的最新缺陷列表15 ；最后盤定義結構14是包含有關最后缺陷列表15的位置信息的盤定 義結構14 ；并且最新缺陷列表15是記錄在相鄰于已記錄缺陷管理工作區(qū)和未記錄缺陷管 理工作區(qū)之間的邊界的已記錄缺陷管理工作區(qū)中的缺陷列表15。步驟2301 缺陷管理信息讀取部分161選擇分配在一次寫入多次讀取光盤1中的 至少一個缺陷管理區(qū)中的一個。在至少一個缺陷管理區(qū)之一被選擇之后，所述處理進行到 步驟2302。
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步驟2302 缺陷管理信息讀取部分161從分配在一次寫入多次讀取光盤1中的至 少一個缺陷管理區(qū)中的一個讀出數(shù)據(jù)并確定缺陷管理區(qū)是否已經(jīng)被記錄。例如，缺陷管理 信息讀取部分161從DMAl至DMA4中的一個讀出數(shù)據(jù)，并根據(jù)讀取結果，確定最后的缺陷列 表和最后的DDS是否被記錄在DMAl至DMA4的一個中。如果指示讀取數(shù)據(jù)的結果的讀取信號的幅度值大于或等于預定的閾值，則確定缺 陷管理區(qū)已經(jīng)被記錄。如果指示讀取數(shù)據(jù)的結果的讀取信號的幅度值未超過預定的閾值， 則確定缺陷管理區(qū)未被記錄。例如，從DMAl讀取數(shù)據(jù)，并根據(jù)讀取的結果，確定DMAl是否 已經(jīng)被記錄。將被讀出的數(shù)據(jù)不限于最后的缺陷列表15和最后的DDS14。數(shù)據(jù)內容不特別限 定，只要使用所述數(shù)據(jù)能夠確定是否已經(jīng)根據(jù)參照圖6和7所述的過程記錄了缺陷管理區(qū) 即可。用于確定缺陷管理區(qū)是否已經(jīng)被記錄的過程類似于圖6和7中所述的過程，并且 省略其說明。注意在圖6和7所述的過程中，缺陷管理工作信息讀取部分165檢驗幅度，同 時在最終完成確定過程中，缺陷管理信息讀取部分161檢驗幅度。注意用于確定缺陷管理區(qū)是否已經(jīng)被記錄的過程不限于圖6和7所述的過程。通 過檢驗數(shù)據(jù)是否被正確讀出，可以確定缺陷管理區(qū)是否已經(jīng)被記錄。例如，根據(jù)檢驗最后缺 陷列表15或最后DDS14是否被缺陷管理區(qū)正確讀出的結果，確定缺陷管理區(qū)是否已經(jīng)被記錄。如果缺陷管理區(qū)已經(jīng)被記錄，則確定一次寫入多次讀取光盤1被從一次寫入多次 讀取狀態(tài)改變至非一次寫入多次讀取狀態(tài)，并結束所述處理。如果缺陷管理區(qū)未被記錄，則確定一次寫入多次讀取光盤1還未從一次寫入多次 讀取狀態(tài)改變至非一次寫入多次讀取狀態(tài)，并且所述處理進行到步驟2303。步驟2303 缺陷管理信息讀取部分161確定在一次寫入多次讀取光盤1中分配的 至少一個缺陷管理區(qū)的全部是否已經(jīng)都被選擇。如果所有缺陷管理區(qū)都已經(jīng)被選擇，則確定一次寫入多次讀取光盤1還未從一次 寫入多次讀取狀態(tài)改變至非一次寫入多次讀取狀態(tài)，并結束所述處理。如果不是所有的缺陷管理區(qū)都已經(jīng)被選擇了，則所述處理進行到步驟2301。如果確定DMAl至DMA4中的至少一個已經(jīng)被記錄，則確定一次寫入多次讀取光盤 1已經(jīng)從一次寫入多次讀取狀態(tài)改變至非一次寫入多次讀取狀態(tài)。如果確定所有DMAl至 DMA4都是未記錄的，則確定一次寫入多次讀取光盤1還未從一次寫入多次讀取狀態(tài)改變至 非一次寫入多次讀取狀態(tài)。例如，缺陷管理信息讀取部分161從DMAl至DMA4中的至少一個讀出數(shù)據(jù)。如果 數(shù)據(jù)被正常再現(xiàn)，則確定一次寫入多次讀取光盤1已經(jīng)被最終完成。如果所有DMAl至DMA4 都是未記錄的且因此不能從這些缺陷管理區(qū)正常再現(xiàn)數(shù)據(jù)，則確定一次寫入多次讀取光盤 1還未被最終完成。在圖16的實施例中，步驟2302相當于“從至少一個盤管理區(qū)中的一個讀出數(shù)據(jù)并 確定缺陷管理區(qū)是否已經(jīng)被記錄”，以及步驟2303相當于“根據(jù)上述確定的結果，確定一次 寫入多次讀取信息記錄介質是否已經(jīng)從一次寫入多次讀取裝該改變至非一次寫入多次讀 取狀態(tài)”。
然而，用于確定一次寫入多次讀取光盤1是否已經(jīng)被最終完成的最終完成確定過 程并不限于圖16的過程。用于確定一次寫入多次讀取光盤1是否已經(jīng)被最終完成的任何 最終完成確定過程都能被利用，只要它具有下列功能“從至少一個盤管理區(qū)中的一個讀出 數(shù)據(jù)并確定缺陷管理區(qū)是否已經(jīng)被記錄”，以及“根據(jù)上述確定的結果，確定一次寫入多次 讀取信息記錄介質是否已經(jīng)從一次寫入多次讀取裝該改變至非一次寫入多次讀取狀態(tài)”。圖17表示用于確定一次寫入多次讀取光盤1是否已經(jīng)被最終完成的另一個最終 完成確定過程。此后，將參照圖17逐步說明所述另一個用于確定一次寫入多次讀取光盤1 是否已經(jīng)被最終完成的最終完成確定過程。步驟2401 光盤記錄/再現(xiàn)裝置100從一次寫入多次讀取光盤1讀出數(shù)據(jù)。例如， 缺陷管理工作信息讀取部分165從相鄰于已記錄缺陷管理工作區(qū)和未記錄缺陷管理工作 區(qū)之間的邊界的已記錄缺陷管理工作區(qū)21讀出數(shù)據(jù)。用于讀出數(shù)據(jù)的過程與圖5中所述 的過程類似，并省略其說明。在讀出數(shù)據(jù)之后，所述處理進行到步驟2402。步驟2402 確定是否已經(jīng)將最終完成識別標記記錄在一次寫入多次讀取光盤1 上。例如，根據(jù)所述讀取的數(shù)據(jù)，缺陷管理工作信息讀取部分165確定是否已經(jīng)將最終完成 識別標記記錄在缺陷管理工作區(qū)21中的預定位置處。注意最終完成識別標記的記錄位置 不限于缺陷管理工作區(qū)21的預定位置。最終完成識別標記的記錄位置可以是能夠由光盤 記錄/再現(xiàn)裝置100讀出的任何位置。所述預定位置可以是例如盤定義結構14和缺陷列 表中的至少一個。根據(jù)所述確定結果，確定一次寫入多次讀取光盤1是否已經(jīng)從一次寫入多次讀取 狀態(tài)改變至非一次寫入多次讀取狀態(tài)。如果已經(jīng)記錄了最終完成識別標記，則確定一次寫入多次讀取光盤1已經(jīng)從一次 寫入多次讀取狀態(tài)改變至非一次寫入多次讀取狀態(tài)，并且所述處理結束。如果未記錄最終完成識別標記，則確定一次寫入多次讀取光盤1還未從一次寫入 多次讀取狀態(tài)改變至非一次寫入多次讀取狀態(tài)，并且所述處理結束。例如，當從盤定義結構14和缺陷列表15中的至少一個讀取最終完成識別標記時， 缺陷管理工作信息讀取部分165確定一次寫入多次讀取光盤1已經(jīng)被最終完成。在圖17的實施例中，步驟2402相當于“確定指示禁止將數(shù)據(jù)附加記錄到至少一 個盤管理工作區(qū)中的最終完成識別標記是否被記錄在一次寫入多次讀取信息記錄介質中” 和“根據(jù)上述確定的結果，確定一次寫入多次讀取信息記錄介質是否已經(jīng)從一次寫入多次 讀取狀態(tài)改變?yōu)榉且淮螌懭攵啻巫x取狀態(tài)”。然而，用于確定一次寫入多次讀取光盤1是否已經(jīng)被最終完成的其它最終完成確 定過程不局限于圖17的過程。用于確定一次寫入多次讀取光盤1是否已經(jīng)被最終完成的 任何最終完成確定過程都可被利用，只要其具有下述功能“確定指示禁止將數(shù)據(jù)附加記錄 到至少一個盤管理工作區(qū)中的最終完成識別標記是否被記錄在一次寫入多次讀取信息記 錄介質中”和“根據(jù)上述確定的結果，確定一次寫入多次讀取信息記錄介質是否已經(jīng)從一次 寫入多次讀取狀態(tài)改變?yōu)榉且淮螌懭攵啻巫x取狀態(tài)”。注意本發(fā)明的實施例1被描述為假定缺點列表(DFL) 15和盤定義結構(DDS) 14中 的每一個都具有一個塊單元，其是用于糾錯的單元。如果DDS14的大小或DFL15的大小小于所述塊大小，則用無意義的數(shù)據(jù)(例如，0)記錄一個塊的空白部分以填充該塊。在前述說明中，DFL15和DDS14布置在不同的塊中。然而，如果在相鄰于一個邊界 的已記錄缺陷管理工作區(qū)中，DDS14位于可根據(jù)所述邊界計算得到的預定塊中的預定位置， 則DFL15和DDS14可共享至少一個塊。例如，DDS14可位于DFL15的最后塊中的一預定位置 處。只要DDS14的位置根據(jù)記錄末尾是唯一確定的，則就能夠容易的找出最新的DDS14和 DFL15。在本發(fā)明的實施例1中，將作為用于糾錯的單元的塊描述為用于記錄/再現(xiàn)和缺 陷管理的單元。然而，例如，作為可訪問最小單元的扇區(qū)(1扇區(qū)的大小為2千字節(jié))在本 發(fā)明中可被用作記錄/再現(xiàn)和缺陷管理的單元。在不脫離本發(fā)明的精神和范圍的情況下可 做出這種修改。對于本領域技術人員來說顯而易見的修改和變形都落在本發(fā)明的權利要求 的范圍內。在本發(fā)明的實施例1中，缺陷管理工作區(qū)21包含缺陷列表15( S卩，子信息)和 DDS14(即，父信息)，其中DDS14包含關于缺陷列表15的位置信息。然而，子信息的數(shù)量不 限于一個，只要父信息包含關于子信息的位置信息。在缺陷管理工作區(qū)21中可出現(xiàn)多條子 信息。換句話說，父信息可包含關于多條子信息的位置信息。(實施例2)2. 1.光盤數(shù)據(jù)結構根據(jù)本發(fā)明實施例2的一次寫入多次讀取光盤300具有與本發(fā)明的實施例1的一 次寫入多次讀取光盤相同的數(shù)據(jù)結構，除了缺陷管理工作區(qū)21 (DMWA)。除了缺陷管理工作 區(qū)21(DMWA)的說明之外，相同的說明將被省略。圖18表示根據(jù)本發(fā)明實施例2的DMWA的數(shù)據(jù)結構。一個DMWA包含M個塊(M是1或者更大的整數(shù))。在M個塊的每一個中，提供有 附屬缺陷列表(此后也稱之為“SDFL”)18和附屬盤定義結構(此后也稱之為“3003”)19。SDDS19是具有固定大小(例如，1扇區(qū)(2千字節(jié)))的信息。SDDS19位于DMWA中 包含的每個塊中的預定位置(例如，一個塊的末扇區(qū))。SDDS19的大小與盤定義結構(DDS) 14的大小相同。注意SDDS19的大小不限于DDS14的大小。注意SDDS19可以不具有固定的長度，只要SDDS19位于每個塊的預定位置。如果缺陷列表(DFL) 15的大小與SDDS19的大小相加并且和超過了 1塊的大小，則 DFL15被分割成SDFL18使得SDDS19的大小加(多個)SDFL18的大小在1塊大小的范圍內。 所有SDFL18的組合是一個DFLl5。SDFL18是DFL15的分割部分。因此，缺陷列表標題32位于任一個SDFL18中的預 定位置(例如，SDFL#1的開始處)。DFL15的大小是可變長度的，使得SDFL18的數(shù)量和SDFL18的大小是可變的。 SDFL18的大小和SDDS19的大小相加必定落在1塊大小的范圍內。這里，如果SDFL18的大小和SDDS19的大小相加小于1塊大小，則用無意義的數(shù)據(jù) (例如，0)來記錄塊的空白部分以填充該塊。圖19表示SDDS19的結構。SDDS19包含附屬缺陷列表開始位置信息34，其是關于DMWA中出現(xiàn)的所有SDFL18的位置信息。注意SDDS19可包含不是所有SDFL18的附屬缺陷列表開始位置信息34。例如， SDDS19可以只包含有關開始SDFL18、末尾SDFL18和構成相同塊的SDFL18的附屬缺陷列表 開始位置信息34。2. 2.光盤記錄/再現(xiàn)裝置的結構根據(jù)本發(fā)明實施例2的光盤記錄/再現(xiàn)裝置具有與根據(jù)本發(fā)明實施例1的光盤記 錄/再現(xiàn)裝置100相同的結構，并省略其說明。2. 3.獲得最新的缺陷管理信息下面將說明獲得(再現(xiàn))記錄在根據(jù)本發(fā)明實施例2的一次寫入多次讀取光盤 300中的信息(記錄在相鄰于已記錄缺陷管理工作區(qū)和未記錄缺陷管理工作區(qū)之間的邊 界的已記錄缺陷管理工作區(qū)中的SDDS和SDFL)的方法。圖20表示用于從臨時缺陷管理區(qū)20中包含的缺陷管理工作區(qū)21中的最新記錄 的缺陷管理工作區(qū)21獲得SDDS19和SDFL18的過程。此后，將參照圖20逐步的說明該過程。步驟1901 缺陷管理工作信息讀取部分165搜索已記錄缺陷管理工作區(qū)和未記錄 缺陷管理工作區(qū)之間的邊界的位置以獲得表示邊界的位置的邊界位置信息。例如，缺陷管理工作信息讀取部分165搜索臨時缺陷管理區(qū)20的記錄結束位置并 將位于記錄結束位置處的缺陷管理工作區(qū)21的位置存儲在缺陷管理信息控制存儲器163 的記錄結束位置40處。在存儲了記錄結束位置處的缺陷管理工作區(qū)21的位置之后，所述 處理進行到步驟1902。注意用于搜索記錄結束位置的過程與在本發(fā)明實施例1中參照圖6和7所述的過 程相同并省略其說明。步驟1902 缺陷管理工作信息讀取部分165根據(jù)邊界位置信息從包含在相鄰于邊 界處的已記錄缺陷管理工作區(qū)中的一個塊再現(xiàn)SDDS19，并根據(jù)該再現(xiàn)的SDDS19，獲得關于 SDFL18的位置信息。例如，缺陷管理工作信息讀取部分165將位于在記錄結束位置40處結束的塊中的 預定位置處的具有固定長度的SDDS19讀出至缺陷管理信息存儲緩沖器140中，并將SDDS19 中的所有附屬缺陷列表開始位置信息34存儲在缺陷管理信息控制存儲器163中的SDFL開 始位置42處。在存儲了 SDDS19中的所有附屬缺陷列表開始位置信息34之后，所述處理進 行至步驟1903。步驟1903 缺陷管理工作信息讀取部分165根據(jù)關于SDDS19中包含的SDFL18的 位置信息確定已記錄缺陷管理工作區(qū)是否為其中記錄已被正常完成的區(qū)域。例如，缺陷管理工作信息讀取部分165使用關于SDFL開始位置42的位置信息來 確定其中讀取已被執(zhí)行的包含SDDS19的DMWA是否為正常的缺陷管理工作區(qū)。例如，通過將關于SDFL18的位置信息與關于已記錄缺陷管理工作區(qū)和未記錄缺 陷管理工作區(qū)之間的邊界的位置信息進行比較，缺陷管理工作信息讀取部分165確定已 記錄缺陷管理工作區(qū)是否為其中已經(jīng)正常完成記錄的區(qū)域。具體來講，例如，如果在關于SDFL開始位置42的位置信息中沒有出現(xiàn)大于記錄結 束位置40的地址，則確定將被讀出的DMWA是正常的。如果出現(xiàn)了大于記錄結束位置40的
26地址，則將被讀出的DMWA是異常的。注意上述的確定方法僅僅是示意性的。用于確定DMWA是否為正常的方法不限于 該方法。如果已記錄缺陷管理工作區(qū)是其中記錄未被正常完成的區(qū)域，則根據(jù)關于SDFL18 的位置信息搜索相鄰于一個邊界的已記錄缺陷管理工作區(qū)和相鄰于該已記錄缺陷管理工 作區(qū)的已記錄缺陷管理工作區(qū)之間的邊界的位置。例如，如果將被讀出的DMWA被確定是異常的，則讀出在朝向臨時缺陷管理區(qū)20的 開始位置的方向上緊接在將被讀出的當前DMWA之前出現(xiàn)的正常DMWA，即其末端位于緊接 在指示附屬缺陷列表#1開始位置信息34之前的DMWA。例如，當由于例如在DMWA更新期間光盤記錄/再現(xiàn)裝置100已經(jīng)被關閉(shut down)而使DMWA未被完全更新時，或者當DMWA具有類似斑痕、指紋等的缺陷時，當前正從其 讀出數(shù)據(jù)的DMWA被確定是異常的。如果確定DMWA是正常缺陷管理工作區(qū)，則所述處理進行至步驟1904。如果確定DMWA不是正常的缺陷管理工作區(qū)，則所述處理進行至步驟1902。步驟1904 缺陷管理工作信息讀取部分165根據(jù)關于SDFL18的位置信息從相鄰 于一個邊界的已記錄缺陷管理工作區(qū)中包含的多個塊中的每一個再現(xiàn)SDFL18。例如，缺陷管理工作信息讀取部分165將從SDFL開始位置42開始定位的所有 SDFL18讀出到缺陷管理信息存儲緩沖器140中。這里，如果記錄結束位置表示還未記錄臨時缺陷管理區(qū)20，則在步驟1902、步驟 1903和步驟1904中不必執(zhí)行讀取。與讀取相反，可提前將DDS14和缺陷列表15存儲在缺 陷管理信息存儲緩沖器140中。注意所存儲的DDS14包含已經(jīng)被初始化為預定值的缺陷 列表開始位置信息30，并且在存儲的缺陷列表15中，缺陷列表標題32中的缺陷項的數(shù)量已 經(jīng)被初始化(缺陷項的數(shù)量=0)，即存儲的缺陷列表15沒有缺陷項。注意缺陷管理信息存儲緩沖器140可保持已經(jīng)被讀出的所有SDFL18，作為形成 DFL15的組合或照它們原來的樣子保持。在本發(fā)明的實施例2中，已經(jīng)被讀出的所有SDFL18 被結合到DFL15中并被保持。在圖20的實施例2中，步驟1901相當于“搜索已記錄盤管理工作區(qū)和未記錄盤管 理工作區(qū)之間的邊界的位置以獲得指示邊界位置的邊界位置信息”，步驟1902相當于“根 據(jù)所述邊界位置信息從相鄰于所述邊界的已記錄盤管理工作區(qū)再現(xiàn)盤定義結構”和“根據(jù) 所述盤定義結構獲得關于部分盤管理信息的位置信息”，以及步驟1904相當于“根據(jù)關于 部分盤管理信息的位置信息從相鄰于所述邊界的已記錄盤管理工作區(qū)中包含的多個塊中 的每一個再現(xiàn)部分盤管理信息”。然而，用于從臨時缺陷管理區(qū)20中包含的缺陷管理工作區(qū)21中的最新記錄的缺 陷管理工作區(qū)21獲得SDDS19和SDFL18的過程不限于圖20的過程。用于從臨時缺陷管理區(qū) 20中包含的缺陷管理工作區(qū)21中的最新記錄的缺陷管理工作區(qū)21獲得SDDS19和SDFL18 的任何過程都可被利用，只要它具有下述功能“搜索已記錄盤管理工作區(qū)和未記錄盤管理 工作區(qū)之間的邊界的位置以獲得指示邊界位置的邊界位置信息”，“根據(jù)所述邊界位置信息 從相鄰于所述邊界的已記錄盤管理工作區(qū)再現(xiàn)盤定義結構”和“根據(jù)所述盤定義結構獲得 涉及部分盤管理信息的位置信息”，以及“根據(jù)關于部分盤管理信息的位置信息從相鄰于所述邊界的已記錄盤管理工作區(qū)中包含的多個塊中的每一個再現(xiàn)部分盤管理信息”。因此，根據(jù)本發(fā)明，通過將包含關于SDFL的位置信息的SDDS設置在DMWA中包含 的所有塊中的預定位置，則能夠從SDDS中的信息容易地確定DMWA是否已經(jīng)被正常更新。即 使DMWA更新發(fā)生失敗，也能夠容易地計算出緊接在那個DMWA之前出現(xiàn)的正常DMWA的位置
fn息ο2.4.缺陷管理信息的更新下面將說明用于將信息(SDFL和SDDS)記錄到根據(jù)本發(fā)明實施例2的一次寫入多 次讀取光盤300中的方法。圖21表示用于將SDFL18和SDDS19附加記錄到根據(jù)本發(fā)明實施例2的一次寫入 多次讀取光盤300的缺陷管理工作區(qū)21中的過程。缺陷管理工作信息寫入部分166將SDFL18和SDDS19附加記錄到缺陷管理工作區(qū) 21中。這里，缺陷管理信息更新部分164允許存儲在缺陷管理信息存儲緩沖器140中的 缺陷列表15的內容保持最新的內容。具體來講，例如，如果新檢測到缺陷塊，則缺陷管理信息更新部分164將與新的替 代塊(即，新缺陷塊)對應的缺陷項添加至存儲在缺陷管理信息存儲緩沖器140中的缺陷 列表15中，并根據(jù)缺陷項中包含的關于缺陷塊的位置信息對缺陷項進行分類。另外，缺陷 管理信息更新部分164將缺陷列表中的缺陷項的數(shù)量加一。此后，將參照圖21逐步的說明用于將SDFL18和SDDS19附加記錄到根據(jù)本發(fā)明實 施例2的一次寫入多次讀取光盤300的缺陷管理工作區(qū)21中的過程。步驟2001 缺陷管理信息更新部分164計算存儲在缺陷管理信息存儲緩沖器140 中的最新DFL15的大小并確定SDDS19的大小(固定大小)與最新DFL15的大小相加是否 超過了 1塊的大小。如果所述相加的和的大小超過了 1塊的大小，則將DFL15分割成多個附屬缺陷列 表18。如果所述相加的和小雨或等于1塊的大小，則將DFL15本身定義為附屬缺陷列表 18#1。確定附屬缺陷列表18的大小使得附屬缺陷列表18的大小和SDDS19的大小(固 定大小)相加的和的最大規(guī)模為1塊大小。具體地，現(xiàn)在假定光盤300是DVD-RAM且1塊大小為IECC塊(=16扇區(qū))，其中 ECC塊是用于糾錯的單元。如果SDDS19的大小為1扇區(qū)，則附屬缺陷列表18的大小最大為 15扇區(qū)。步驟2002 缺陷管理信息更新部分164選擇相鄰于已記錄缺陷管理工作區(qū)和未記 錄缺陷管理工作區(qū)之間的邊界的未記錄缺陷管理工作區(qū)。例如，缺陷管理信息更新部分164通過更新缺陷管理信息存儲緩沖器140和缺陷 管理信息控制存儲器163中包含的SDDS19來選擇位于多個未記錄缺陷管理工作區(qū)的開頭 的一個未記錄缺陷管理工作區(qū)，其中通過將記錄結束位置40加到一獲得的位置，即未記 錄區(qū)的開始位置被看作是附屬缺陷列表#1開始位置信息34。如果有M個附屬缺陷列表 18(M為2或更大的整數(shù))，則與SDDS19中包含的每個附屬缺陷列表18相應的附屬缺陷列表開始位置信息34被更新。這里，可使用附屬缺陷列表#1開始位置信息和塊大小來計算附屬缺陷列表#2開 始位置信息、……、和附屬缺陷列表測開始位置信息。具體來講，例如，可將附屬缺陷列表 #2開始位置信息計算為通過將1塊大小添加至由附屬缺陷列表#1開始位置信息指示的位 置獲得的位置。步驟2003 缺陷管理工作信息寫入部分166將缺陷列表15中包含的SDFL18和包 含關于SDFL18的位置信息的SDDS19記錄到相鄰于所述邊界的未記錄缺陷管理工作區(qū)中包 含的多個塊的每一個中，所述缺陷列表15中包含的SDFL為關于一次寫入多次讀取光盤的
管理信息。例如，缺陷管理工作信息寫入部分166從開始位置起將缺陷管理信息存儲緩沖器 140中包含的已更新SDFL18和已更新SDDS19記錄到未記錄區(qū)中。如果有M個SDFL18，則 記錄M個更新的SDFL18和M個更新的SDDS19。這里，當SDDS19包含用于所有SDFL18的附屬缺陷列表開始位置信息34時，連同 SDFL18 一起記錄的SDDS19的內容與所有SDFL18的內容相同。然而，例如，如果SDDS19包 含關于開始SDFL18的附屬缺陷列表開始位置信息34、關于結尾SDFL18的附屬缺陷列表開 始位置信息34、和關于相同塊中包含的(Sf)SDFLlS的附屬缺陷列表開始位置信息34 時，只有關于相同塊中包含的(Sf)SDFLlS的附屬缺陷列表開始位置信息34具有不同內 容。此外在本發(fā)明的實施例2中，能夠在確定記錄是否已經(jīng)被正常執(zhí)行的同時記錄 SDFL18和SDDS19，與圖10中所述的本發(fā)明的實施例1相同。在本發(fā)明的實施例2中，當在 確定記錄是否已經(jīng)被正常執(zhí)行的同時記錄SDFL18和SDDS19時，步驟2003被重復執(zhí)行直到 SDFL18和SDDS19被正常記錄。如在圖10所述的本發(fā)明的實施例1中，當在確定記錄是否已經(jīng)被正常執(zhí)行的同時 更新DMWA時，如果在處理工程中遭遇到了缺陷塊，則可能的情況是由先前記錄的塊中的 SDDS19指示的附屬缺陷列表開始位置信息34與附屬缺陷列表18被實際記錄的位置不匹 配。然而，在該情況下，通過更新缺陷管理信息存儲緩沖器140中的SDDS19的內容使得最 新記錄的塊(即，位于記錄結束位置處的塊)中包含的SDDS19的內容是正確的，則可實現(xiàn) 匹配，由此能夠避免上述的問題。通過上述過程，缺陷管理工作信息寫入部分166可將最新的缺陷列表15和DDS14 記錄到臨時缺陷管理區(qū)20中包含的缺陷管理工作區(qū)21中。在圖21的實施例2中，步驟2002相當于“選擇相鄰于已記錄盤管理工作區(qū)和未記 錄盤管理工作區(qū)之間的邊界的未記錄盤管理工作區(qū)”，步驟2003相當于“將作為關于一次 寫入多次讀取信息記錄介質的管理信息的盤管理信息中包含的部分盤管理信息記錄到相 鄰于所述邊界的未記錄盤管理工作區(qū)中包含的多個塊的每一個中”和“將關于部分盤管理 信息的位置信息中包含的盤定義結構記錄到相鄰于所述邊界的未記錄盤管理工作區(qū)中包 含的多個塊的每一個中”。然而，用于將SDFL18和SDDS19附加記錄到根據(jù)本發(fā)明實施例2的一次寫入多次 讀取光盤300的缺陷管理工作區(qū)21中的過程不局限于圖21的過程。用于將SDFL18和 SDDS19附加記錄到根據(jù)本發(fā)明實施例2的一次寫入多次讀取光盤300的缺陷管理工作區(qū)
2921中的任何過程都能被利用，只要其具有下述功能“選擇相鄰于已記錄盤管理工作區(qū)和 未記錄盤管理工作區(qū)之間的邊界的未記錄盤管理工作區(qū)”，“將作為關于一次寫入多次讀取 信息記錄介質的管理信息的盤管理信息中包含的部分盤管理信息記錄到相鄰于所述邊界 的未記錄盤管理工作區(qū)中包含的多個塊的每一個中”和“將關于部分盤管理信息的位置信 息中包含的盤定義結構記錄到相鄰于所述邊界的未記錄盤管理工作區(qū)中包含的多個塊的 每一個中”。2. 5.最終完成根據(jù)本發(fā)明實施例2的最終完成過程與根據(jù)本發(fā)明實施例1的最終完成過程相 同。在根據(jù)本發(fā)明實施例2的最終完成過程中，在本發(fā)明實施例2的SDDS19中包含的附屬 缺陷列表開始位置信息34替換本發(fā)明實施例1的DDS14中包含的缺陷列表開始位置信息 30并執(zhí)行本發(fā)明實施例1的最終完成過程。2. 6.最終完成確定根據(jù)本發(fā)明實施例2的最終完成確定過程與根據(jù)本發(fā)明實施例1的最終完成確定 過程相同并省略其說明。因此，根據(jù)本發(fā)明，即使當缺陷管理工作區(qū)21的更新自從切斷電源等操作之后不 能完成時，也能正確確定更新失敗了。因此，能夠容易地找到其中更新失敗的缺陷管理工 作區(qū)21的開始位置。因此，能夠容易地獲得最新的正常缺陷管理工作區(qū)21中的缺陷列表 15。在本發(fā)明的實施例2中，為糾錯單元的塊被描述為再現(xiàn)/記錄和缺陷管理的單元。 可選擇地，例如，可將為最小可尋址單元的扇區(qū)(1扇區(qū)的大小為2千字節(jié))用作再現(xiàn)/記 錄和缺陷管理的單元。應該清楚地意識到可產(chǎn)生這種變形和修改而不會脫離本發(fā)明的精神 和范圍。雖然在本發(fā)明的實施例1和2中提供有缺陷列表15或附屬缺陷列表18 (即，子信 息)和包含關于缺陷列表15或附屬缺陷列表18的位置信息的DDS14或SDDS19( S卩，父信 息)，但所提供的信息不限于缺陷列表15或附屬缺陷列表18和DDS14或SDDS19。例如，當所提供的信息是盤管理信息(為關于盤的管理信息)和包含關于盤管理 信息的位置信息的盤定義結構時，在預定的方向上連續(xù)地分配有至少一個缺陷管理工作 區(qū)。當沿所述預定方向按照這樣的順序在相鄰于已記錄盤管理工作區(qū)和未記錄缺陷管理工 作區(qū)之間的邊界的已記錄盤管理工作區(qū)中設置有最新盤管理信息和最新盤定義結構時，能 夠容易地搜索最新盤管理信息。因此，本發(fā)明的效果能夠得以實現(xiàn)。例如，所提供的信息可以是替換列表和包含關于替換列表的位置信息的DDS。替換 列表包含指示數(shù)據(jù)區(qū)中包含的區(qū)域(替換源)和備用區(qū)中包含的區(qū)域(替換目標)之間的 對應關系的對應關系信息。在本發(fā)明的實施例1和2中，缺陷管理工作區(qū)21包含缺陷列表15或附屬缺陷列 表18 (即，子信息)和包含關于缺陷列表15的位置信息的DDS14或SDDS19 ( S卩，父信息)。 然而，子信息的數(shù)量不局限于一個，只要父信息包含關于子信息的位置信息。在缺陷管理工 作區(qū)21中可出現(xiàn)多條子信息。換句話說，父信息可包含關于多條子信息的位置信息。所述 多條子信息不一定是相同類型的。圖22表示一典型的缺陷管理工作區(qū)，其中間隔位映射信息和缺陷列表被設置為
30子{η息。在缺陷管理工作區(qū)21中，間隔位映射信息和缺陷列表被設置為子信息。DDS (父信 息)可包含關于這兩條子信息的位置信息。在該情況下，如果指示關于子信息的位置信息 的DDS (即，父信息)位于能夠根據(jù)已記錄缺陷管理工作區(qū)和未記錄缺陷管理工作區(qū)之間的 邊界(已記錄缺陷管理工作區(qū)的末尾或已記錄缺陷管理工作區(qū)的開頭)計算的預定位置處 時，能夠容易地找出最新的子信息。因此，本發(fā)明的效果能夠得以實現(xiàn)。當如參照圖10和11所述的在記錄缺陷管理工作區(qū)21中出現(xiàn)缺陷塊時，如果僅通 過圖6和7中所述的過程來搜索記錄結束位置，則可能不正確地確定缺陷塊是未記錄區(qū)。因 此，例如，通過圖6和7中所述的過程獲得的記錄結束位置信息與保持的信息進行比較以確 定記錄結束位置是否為適當?shù)奈从涗泤^(qū)的開始位置。因此，能夠避免錯誤的確定。這里，所 保持的信息意味著在臨時缺陷管理區(qū)20的先前記錄中產(chǎn)生的記錄結束位置信息(LRA)、關 于缺陷塊的位置信息、等等，其例如被保持在介質或光盤記錄/再現(xiàn)裝置中的存儲器上的 預定位置。在本發(fā)明的前述說明中，將一次寫入多次讀取光盤用作信息記錄介質。然而，信息 記錄介質不局限于一次寫入多次讀取光盤。任何一次寫入多次讀取信息記錄介質都能被利 用，并且在該情況下，可獲得與本發(fā)明的上述實施例相同的效果。根據(jù)本發(fā)明的一個方面，提供有一種用于確定一次寫入多次讀取信息記錄介質是 否已經(jīng)被最終完成的最終完成確定方法，其中在一次寫入多次讀取信息記錄介質上分配至少一個盤管理工作區(qū)；所述最終完成確定方法包括步驟(a)確定在一次寫入多次讀取信息記錄介質上是否記錄有最終完成識別標記，所 述最終完成識別標記指示禁止將數(shù)據(jù)附加記錄到至少一個盤管理工作區(qū)中；和(b)根據(jù)步驟(a)的結果確定一次寫入多次讀取信息記錄介質是否從一次寫入多 次讀取狀態(tài)改變至非一次寫入多次讀取狀態(tài)。在本發(fā)明的一個實施例中，在所述至少一個盤管理工作區(qū)中，提供有盤管理信息 和包含關于盤管理信息的位置信息的盤定義結構，該盤管理信息為關于所述一次寫入多次 讀取信息記錄介質的管理信息；和所述步驟(a)包括確定在盤定義結構和盤管理信息的至少一個中是否記錄有最 終完成識別標記。根據(jù)本發(fā)明的另一個方面，提供有一種用于確定一次寫入多次讀取信息記錄介質 是否已經(jīng)被最終完成的最終完成確定方法，其中在一次寫入多次讀取信息記錄介質上分配至少一個盤管理工作區(qū)和至少一個盤
管理區(qū)；在所述至少一個盤管理工作區(qū)中，記錄有盤管理信息和包含關于盤管理信息的位 置信息的盤定義結構，該盤管理信息為關于所述一次寫入多次讀取信息記錄介質的管理信 息；和所述最終完成確定方法包括步驟(a)從所述至少一個盤管理區(qū)中的一個讀取數(shù)據(jù)并確定是否對所述至少一個盤管 理區(qū)中的一個進行記錄；和
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(b)根據(jù)步驟(a)的結果確定一次寫入多次讀取信息記錄介質是否從一次寫入多 次讀取狀態(tài)改變至非一次寫入多次讀取狀態(tài)。在本發(fā)明的一個實施例中，所述步驟(a)包括根據(jù)指示數(shù)據(jù)讀取的結果的讀取信 號的幅度確定是否對所述至少一個盤管理區(qū)中的一個進行記錄。在本發(fā)明的一個實施例中，步驟(a)包括根據(jù)數(shù)據(jù)是否被正確的讀出確定是否對 所述至少一個盤管理區(qū)中的一個進行記錄。在本發(fā)明的一個實施例中，步驟(a)包括從所述至少一個盤管理區(qū)中的一個讀取 數(shù)據(jù)，并根據(jù)數(shù)據(jù)讀取結果確定是否將最后盤管理信息和最后盤定義結構記錄在所述至少 一個盤管理區(qū)中；所述最后盤管理信息是布置在所述至少一個盤管理區(qū)中的最新盤管理信息；所述最后盤定義結構是包含關于最后盤管理信息的位置信息的盤定義結構；和所述最新盤管理信息是記錄在相鄰于所述已記錄盤管理工作區(qū)和未記錄盤管理 工作區(qū)之間的邊界的已記錄盤管理工作區(qū)中的盤管理信息。在本發(fā)明的一個實施例中，步驟(a)包括根據(jù)所述最后盤管理信息或最后盤定義 結構是否被正確讀出確定是否對所述至少一個盤管理區(qū)中的一個進行記錄；所述最后盤管理信息是布置在所述至少一個盤管理區(qū)中的最新盤管理信息；所述最后盤定義結構是包含關于最后盤管理信息的位置信息的盤定義結構；和所述最新盤管理信息是記錄在相鄰于所述已記錄盤管理工作區(qū)和未記錄盤管理 工作區(qū)之間的邊界的已記錄盤管理工作區(qū)中的盤管理信息。在本發(fā)明的一個實施例中，步驟(a)包括從所述至少一個盤管理區(qū)中的每一個讀 取數(shù)據(jù)，并確定是否對所述至少一個盤管理區(qū)中的每一個進行記錄；和步驟(b)包括當確定所述至少一個盤管理區(qū)中的至少一個被記錄時，確定所述一 次寫入多次讀取信息記錄介質從一次寫入多次讀取狀態(tài)改變至非一次寫入多次讀取狀態(tài)， 并且當所述至少一個盤管理區(qū)中的全部都是未記錄的時，確定所述一次寫入多次讀取信息 記錄介質不從一次寫入多次讀取狀態(tài)改變至非一次寫入多次讀取狀態(tài)。在本發(fā)明的一個實施例中，盤管理區(qū)是用于記錄關于缺陷區(qū)的管理信息的缺陷管 理區(qū)。根據(jù)本發(fā)明的另一個方面，提供有一種用于確定一次寫入多次讀取信息記錄介質 是否已經(jīng)被最終完成的最終完成確定裝置，其中在一次寫入多次讀取信息記錄介質上分配至少一個盤管理工作區(qū)；所述最終完成確定裝置包括(a)用于確定在一次寫入多次讀取信息記錄介質上是否記錄有最終完成識別標 記的部分，所述最終完成識別標記指示禁止將數(shù)據(jù)附加記錄到所述至少一個盤管理工作區(qū) 中；和(b)根據(jù)通過部分(a)確定的結果確定一次寫入多次讀取信息記錄介質是否從一 次寫入多次讀取狀態(tài)改變至非一次寫入多次讀取狀態(tài)的部分。在本發(fā)明的一個實施例中，在所述至少一個盤管理工作區(qū)中，提供有盤管理信息 和包含關于盤管理信息的位置信息的盤定義結構，該盤管理信息為關于所述一次寫入多次 讀取信息記錄介質的管理信息；和
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所述部分(a)包括用于確定在盤定義結構和盤管理信息的至少一個中是否記錄 有最終完成識別標記的部分。根據(jù)本發(fā)明的另一個方面，提供有一種用于確定一次寫入多次讀取信息記錄介質 是否已經(jīng)被最終完成的最終完成確定裝置，其中在一次寫入多次讀取信息記錄介質上分配至少一個盤管理工作區(qū)和至少一個盤
管理區(qū)；在所述至少一個盤管理工作區(qū)中，記錄有盤管理信息和包含關于盤管理信息的位 置信息的盤定義結構，該盤管理信息為關于所述一次寫入多次讀取信息記錄介質的管理信 息；和所述最終完成確定裝置包括(a)從所述至少一個盤管理區(qū)的一個中讀取數(shù)據(jù)并確定是否對所述至少一個盤管 理區(qū)中的一個進行記錄的部分；和(b)根據(jù)通過部分(a)確定的結果確定一次寫入多次讀取信息記錄介質是否從一 次寫入多次讀取狀態(tài)改變至非一次寫入多次讀取狀態(tài)的部分。在本發(fā)明的一個實施例中，所述部分(a)包括根據(jù)指示數(shù)據(jù)讀取的結果的讀取信 號的幅度確定是否對所述至少一個盤管理區(qū)中的一個進行記錄的部分。在本發(fā)明的一個實施例中，部分(a)包括根據(jù)數(shù)據(jù)是否被正確讀出確定是否對所 述至少一個盤管理區(qū)中的一個進行記錄的部分。在本發(fā)明的一個實施例中，部分(a)包括從所述至少一個盤管理區(qū)中的一個讀取 數(shù)據(jù)，并根據(jù)數(shù)據(jù)讀取結果確定是否將最后盤管理信息和最后盤定義結構記錄在所述至少 一個盤管理區(qū)中的部分；所述最后盤管理信息是布置在所述至少一個盤管理區(qū)中的最新盤管理信息；所述最后盤定義結構是包含關于最后盤管理信息的位置信息的盤定義結構；和所述最新盤管理信息是記錄在相鄰于所述已記錄盤管理工作區(qū)和未記錄盤管理 工作區(qū)之間的邊界的已記錄盤管理工作區(qū)中的盤管理信息。在本發(fā)明的一個實施例中，部分(a)包括用于根據(jù)所述最后盤管理信息或最后 盤定義結構是否被正確讀出確定是否對所述至少一個盤管理區(qū)中的一個進行記錄的部 分；所述最后盤管理信息是布置在所述至少一個盤管理區(qū)中的最新盤管理信息；所述最后盤定義結構是包含關于最后盤管理信息的位置信息的盤定義結構；和所述最新盤管理信息是記錄在相鄰于所述已記錄盤管理工作區(qū)和未記錄盤管理 工作區(qū)之間的邊界的已記錄盤管理工作區(qū)中的盤管理信息。在本發(fā)明的一個實施例中，部分(a)包括用于從所述至少一個盤管理區(qū)中的每一 個讀取數(shù)據(jù)，并確定是否對所述至少一個盤管理區(qū)中的每一個進行記錄的部分；和部分(b)包括這樣的部分，其用于當確定所述至少一個盤管理區(qū)中的至少一個被 記錄時，確定所述一次寫入多次讀取信息記錄介質從一次寫入多次讀取狀態(tài)改變至非一次 寫入多次讀取狀態(tài)，并且當所述至少一個盤管理區(qū)中的全部都是未記錄的時，確定所述一 次寫入多次讀取信息記錄介質不從一次寫入多次讀取狀態(tài)改變至非一次寫入多次讀取狀 態(tài)。
在本發(fā)明的一個實施例中，盤管理區(qū)是用于記錄關于缺陷區(qū)的管理信息的缺陷管 理區(qū)。根據(jù)本發(fā)明的另一個方面，提供有一種用于使一次寫入多次讀取信息記錄介質最 終完成的最終完成方法，其中在所述一次寫入多次讀取信息記錄介質上分配至少一個盤管理工作區(qū)；和所述最終完成方法包括步驟(a)將最終完成識別標記記錄到所述一次寫入多次讀取信息記錄介質上，所述最 終完成識別標記指示禁止將數(shù)據(jù)附加記錄到所述至少一個盤管理工作區(qū)中。在本發(fā)明的一個實施例中，在所述至少一個盤管理工作區(qū)中，提供有盤管理信息 和包含關于盤管理信息的位置信息的盤定義結構，該盤管理信息為關于所述一次寫入多次 讀取信息記錄介質的管理信息；和所述步驟(a)包括將最終完成識別標記記錄到所述盤定義結構和盤管理信息的 至少一個中。根據(jù)本發(fā)明的另一個方面，提供有一種用于使一次寫入多次讀取信息記錄介質最 終完成的最終完成方法，其中在一次寫入多次讀取信息記錄介質上分配至少一個盤管理工作區(qū)和至少一個盤
管理區(qū)；在所述至少一個盤管理工作區(qū)中，記錄有盤管理信息和包含關于盤管理信息的位 置信息的盤定義結構，該盤管理信息為關于所述一次寫入多次讀取信息記錄介質的管理信 息；和所述最終完成方法包括步驟(a)將最后盤管理信息記錄到所述至少一個盤管理區(qū)的一個中；和(b)根據(jù)所述最后盤管理信息將最后盤定義結構記錄到所述至少一個盤管理區(qū)的 一個中；所述最后盤管理信息是布置在所述至少一個盤管理區(qū)中的最新盤管理信息；所述最后盤定義結構是包含關于最后盤管理信息的位置信息的盤定義結構；所述最新盤管理信息是記錄在相鄰于所述已記錄盤管理工作區(qū)和未記錄盤管理 工作區(qū)之間的邊界的已記錄盤管理工作區(qū)中的盤管理信息。在本發(fā)明的一個實施例中，所述最終完成方法進一步包括通過將表示相鄰于所述 邊界的已記錄盤管理工作區(qū)的位置的位置信息改變至表示所述至少一個盤管理區(qū)的一個 的位置的位置信息而將最新盤定義結構改變至最后盤定義結構，其中所述最新盤定義結構包括關于最新盤管理信息的位置信息。在本發(fā)明的一個實施例中，所述最終完成方法進一步包括對于所述至少一個盤管 理區(qū)中的每一個重復步驟(a)和步驟(b)以將最后盤管理信息和最后盤定義結構記錄到所 述至少一個盤管理區(qū)的全部中。根據(jù)本發(fā)明的另一個方面，提供有一種用于使一次寫入多次讀取信息記錄介質最 終完成的最終完成裝置，其中在所述一次寫入多次讀取信息記錄介質上分配至少一個盤管理工作區(qū)；和所述最終完成裝置包括
(a)用于將最終完成識別標記記錄到所述一次寫入多次讀取信息記錄介質上的部 分，所述最終完成識別標記指示禁止將數(shù)據(jù)附加記錄到所述至少一個盤管理工作區(qū)中。在本發(fā)明的一個實施例中，在所述至少一個盤管理工作區(qū)中，提供有盤管理信息 和包含關于盤管理信息的位置信息的盤定義結構，該盤管理信息為關于所述一次寫入多次 讀取信息記錄介質的管理信息；和所述部分(a)包括用于將最終完成識別標記記錄到所述盤定義結構和盤管理信 息的至少一個中的部分。根據(jù)本發(fā)明的另一個方面，提供有一種用于使一次寫入多次讀取信息記錄介質最 終完成的最終完成裝置，其中在一次寫入多次讀取信息記錄介質上分配至少一個盤管理工作區(qū)和至少一個盤
管理區(qū)；在所述至少一個盤管理工作區(qū)中，記錄有盤管理信息和包含關于盤管理信息的位 置信息的盤定義結構，該盤管理信息為關于所述一次寫入多次讀取信息記錄介質的管理信 息；和所述最終完成裝置包括(a)用于將最后盤管理信息記錄到所述至少一個盤管理區(qū)的一個中的部分；和(b)用于根據(jù)所述最后盤管理信息將最后盤定義結構記錄到所述至少一個盤管理 區(qū)的一個中的部分；所述最后盤管理信息是布置在所述至少一個盤管理區(qū)中的最新盤管理信息；所述最后盤定義結構是包含關于最后盤管理信息的位置信息的盤定義結構；所述最新盤管理信息是記錄在相鄰于已記錄盤管理工作區(qū)和未記錄盤管理工作 區(qū)之間的邊界的已記錄盤管理工作區(qū)中的盤管理信息。在本發(fā)明的一個實施例中，所述最終完成裝置進一步包括通過將表示相鄰于所述 邊界的已記錄盤管理工作區(qū)的位置的位置信息改變至表示所述至少一個盤管理區(qū)的一個 的位置的位置信息而將最新盤定義結構改變至最后盤定義結構的部分，其中所述最新盤定義結構包括關于最新盤管理信息的位置信息。在本發(fā)明的一個實施例中，所述最終完成裝置進一步包括用于對于所述至少一個 盤管理區(qū)中的每一個重復執(zhí)行下列步驟的部分將最后盤管理信息記錄到所述至少一個盤 管理區(qū)的一個中，并根據(jù)所述最后盤管理信息將最后盤定義結構記錄到所述至少一個盤管 理區(qū)的一個中，以將最后盤管理信息和最后盤定義結構記錄到所述至少一個盤管理區(qū)的全 部中。根據(jù)本發(fā)明的另一個方面，提供有一種一次寫入多次讀取信息記錄介質，其中在一預定方向上連續(xù)分配有至少一個盤管理工作區(qū)，所述至少一個盤管理工作區(qū)包含多個塊，每個塊是用于記錄/再現(xiàn)數(shù)據(jù)的單元；在所述多個塊的每一個中，提供有盤管理信息和包含關于部分盤管理信息的位置 信息的盤定義結構，該盤管理信息為關于所述一次寫入多次讀取信息記錄介質的管理信 息；和所述盤定義結構被布置在所述多個塊的每一個中的預定位置處。在本發(fā)明的一個實施例中，所述盤管理信息和盤定義結構被布置在相鄰于已記錄盤管理工作區(qū)和未記錄盤管理工作區(qū)之間的邊界的已記錄盤管理區(qū)中包含的多個塊的每 一個中。在本發(fā)明的一個實施例中，所述一次寫入多次讀取信息記錄介質包括用于記錄數(shù) 據(jù)的數(shù)據(jù)區(qū)和備用區(qū)，所述備用區(qū)是用于數(shù)據(jù)區(qū)的替換區(qū)；所述盤管理信息包含一個替換列表，該替換列表包含表示數(shù)據(jù)區(qū)中包含的替換源 區(qū)和備用區(qū)中包含的替換目標區(qū)之間的對應關系的對應關系信息；和在所述多個塊的每一個中，提供有包含在替換列表中的部分替換列表和包含關于 部分替換列表的位置信息的盤定義結構。在本發(fā)明的一個實施例中，所述預定方向是從一次寫入多次讀取信息記錄介質的 內圓周至外圓周的方向。在本發(fā)明的一個實施例中，所述預定方向是從一次寫入多次讀取信息記錄介質 的外圓周至內圓周的方向。根據(jù)本發(fā)明的另一個方面，提供有一種用于將信息記錄到一次寫入多次讀取信息 記錄介質上的信息記錄方法，其中在所述一次寫入多次讀取信息記錄介質上的一預定方向上連續(xù)分配有至少一個 盤管理工作區(qū)；和所述信息記錄方法包括步驟(a)選擇相鄰于已記錄盤管理工作區(qū)和未記錄盤管理工作區(qū)之間的邊界的未記錄 盤管理工作區(qū)；(b)將盤管理信息中包含的部分盤管理信息記錄到相鄰于所述邊界的未記錄盤管 理工作區(qū)中包含的多個塊的每一個中，該盤管理信息為關于所述一次寫入多次讀取信息記 錄介質的管理信息；和將包含關于部分盤管理信息的位置信息的盤定義結構記錄到相鄰于所述邊界的 未記錄盤管理工作區(qū)中包含的多個塊的每一個中，所述多個塊中的每一個是用于記錄/再現(xiàn)數(shù)據(jù)的單元；和所述盤定義結構被布置在所述多個塊的每一個中的預定位置處。在本發(fā)明的一個實施例中，所述一次寫入多次讀取信息記錄介質包含用于記錄數(shù) 據(jù)的數(shù)據(jù)區(qū)和備用區(qū)，所述備用區(qū)是用于數(shù)據(jù)區(qū)的替換區(qū)；所述盤管理信息包含一個替換列表，該替換列表包含表示數(shù)據(jù)區(qū)中包含的替換源 區(qū)和備用區(qū)中包含的替換目標區(qū)之間的對應關系的對應關系信息；在所述多個塊的每一個中，提供有包含在替換列表中的部分替換列表和包含關于 部分替換列表的位置信息的盤定義結構。在本發(fā)明的一個實施例中，步驟(b)進一步包括確定部分盤管理信息的記錄是否 已經(jīng)被正常執(zhí)行的步驟；步驟(c)進一步包括確定盤定義結構的記錄是否已經(jīng)被正常執(zhí)行的步驟；和所述信息記錄方法進一步包括步驟(d)重復執(zhí)行步驟(b)直到部分盤管理信息的記錄被正常執(zhí)行，和重復執(zhí)行步驟 (C)直到盤定義結構的記錄被正常執(zhí)行。根據(jù)本發(fā)明的另一個方面，提供有一種用于從一次寫入多次讀取信息記錄介質再
36現(xiàn)信息的信息再現(xiàn)方法，其中在所述一次寫入多次讀取信息記錄介質上的一預定方向上連續(xù)分配有至少一個
盤管理工作區(qū)；所述至少一個盤管理工作區(qū)包含多個塊，所述多個塊中的每一個是用于記錄/再 現(xiàn)數(shù)據(jù)的單元；在所述多個塊的每一個中，提供有包含在盤管理信息中的部分盤管理信息和包含 關于部分盤管理信息的位置信息的盤定義結構，所述盤管理信息是關于一次寫入多次讀取 信息記錄介質的管理信息；所述盤定義結構被布置在所述多個塊的每一個中的預定位置處；和所述信息再現(xiàn)方法包括步驟(a)搜索已記錄盤管理工作區(qū)和未記錄盤管理工作區(qū)之間的邊界的位置以獲得表 示所述邊界的位置的邊界位置信息；(b)根據(jù)所述邊界位置信息從相鄰于所述邊界的已記錄盤管理工作區(qū)再現(xiàn)盤定義 結構；(c)根據(jù)所述盤定義結構獲得關于部分盤管理信息的位置信息；和(d)根據(jù)關于所述部分盤管理信息的位置信息從相鄰于所述邊界的已記錄盤管理 工作區(qū)中包含的多個塊的每一個中再現(xiàn)部分盤管理信息。在本發(fā)明的一個實施例中，所述一次寫入多次讀取信息記錄介質包含用于記錄數(shù) 據(jù)的數(shù)據(jù)區(qū)和備用區(qū)，所述備用區(qū)是用于數(shù)據(jù)區(qū)的替換區(qū)；所述盤管理信息包含一個替換列表，該替換列表包含表示數(shù)據(jù)區(qū)中包含的替換源 區(qū)和備用區(qū)中包含的替換目標區(qū)之間的對應關系的對應關系信息；和在所述多個塊的每一個中，提供有包含在替換列表中的部分替換列表和包含關于 部分替換列表的位置信息的盤定義結構。在本發(fā)明的一個實施例中，步驟(C)進一步步驟(e)根據(jù)盤定義結構中包含的關于部分盤管理信息的位置信息確定所述已記錄盤 管理工作區(qū)是否為其中記錄被正常完成的區(qū)域；和當確定所述已記錄盤管理工作區(qū)是其中記錄未被正常完成的區(qū)域時，根據(jù)關于部 分盤管理信息的位置信息搜索相鄰于邊界的已記錄盤管理工作區(qū)和與相鄰于所述邊界的 已記錄盤管理工作區(qū)相鄰的已記錄盤管理工作區(qū)之間的邊界的位置。在本發(fā)明的一個實施例中，步驟(e)包括通過將關于部分盤管理信息的位置信息 與關于已記錄盤管理工作區(qū)和未記錄盤管理工作區(qū)之間的邊界的位置信息進行比較，確定 所述已記錄盤管理工作區(qū)是否為其中記錄被正常完成的區(qū)域。根據(jù)本發(fā)明的另一個方面，提供有一種用于將信息記錄到一次寫入多次讀取信息 記錄介質上的信息記錄裝置，其中在所述一次寫入多次讀取信息記錄介質上的一預定方向上連續(xù)分配有至少一個 盤管理工作區(qū)；和所述信息記錄裝置包括(a)用于選擇相鄰于已記錄盤管理工作區(qū)和未記錄盤管理工作區(qū)之間的邊界的未 記錄盤管理工作區(qū)的部分；
(b)用于將盤管理信息中包含的部分盤管理信息記錄到相鄰于所述邊界的未記錄 盤管理工作區(qū)中包含的多個塊的每一個中的部分，該盤管理信息為關于所述一次寫入多次 讀取信息記錄介質的管理信息；和(c)用于將包含關于部分盤管理信息的位置信息的盤定義結構記錄到相鄰于所述 邊界的未記錄盤管理工作區(qū)中包含的多個塊的每一個中的部分；所述多個塊中的每一個是用于記錄/再現(xiàn)數(shù)據(jù)的單元；和所述盤定義結構被布置在所述多個塊的每一個中的預定位置處。在本發(fā)明的一個實施例中，所述一次寫入多次讀取信息記錄介質包含用于記錄數(shù) 據(jù)的數(shù)據(jù)區(qū)和備用區(qū)，所述備用區(qū)是用于數(shù)據(jù)區(qū)的替換區(qū)；所述盤管理信息包含一個替換列表，該替換列表包含表示數(shù)據(jù)區(qū)中包含的替換源 區(qū)和備用區(qū)中包含的替換目標區(qū)之間的對應關系的對應關系信息；在所述多個塊的每一個中，提供有包含在替換列表中的部分替換列表和包含關于 部分替換列表的位置信息的盤定義結構。在本發(fā)明的一個實施例中，部分(b)進一步包括用于確定部分盤管理信息的記錄 是否已經(jīng)被正常執(zhí)行的部分；步驟(c)進一步包括用于確定盤定義結構的記錄是否已經(jīng)被正常執(zhí)行的部分；和所述信息記錄裝置進一步包括(d)重復執(zhí)行部分盤管理信息的記錄直到部分盤管理信息的記錄被正常執(zhí)行，和 重復執(zhí)行盤定義結構的記錄直到盤定義結構的記錄被正常執(zhí)行的部分。根據(jù)本發(fā)明的另一個方面，提供有一種用于從一次寫入多次讀取信息記錄介質再 現(xiàn)信息的信息再現(xiàn)裝置，其中在所述一次寫入多次讀取信息記錄介質上的一預定方向上連續(xù)分配有至少一個
盤管理工作區(qū)；所述至少一個盤管理工作區(qū)包含多個塊，所述多個塊中的每一個是用于記錄/再 現(xiàn)數(shù)據(jù)的單元；在所述多個塊的每一個中，提供有包含在盤管理信息中的部分盤管理信息和包含 關于部分盤管理信息的位置信息的盤定義結構，所述盤管理信息是關于一次寫入多次讀取 信息記錄介質的管理信息；所述盤定義結構被布置在所述多個塊的每一個中的預定位置處；和所述信息再現(xiàn)裝置包括(a)用于搜索已記錄盤管理工作區(qū)和未記錄盤管理工作區(qū)之間的邊界的位置以獲 得表示所述邊界的位置的邊界位置信息的部分；(b)用于根據(jù)所述邊界位置信息從相鄰于所述邊界的已記錄盤管理工作區(qū)再現(xiàn)盤 定義結構的部分；(c)用于根據(jù)所述盤定義結構獲得關于部分盤管理信息的位置信息的部分；和(d)用于根據(jù)所述關于部分盤管理信息的位置信息從相鄰于所述邊界的已記錄盤 管理工作區(qū)中包含的多個塊的每一個中再現(xiàn)部分盤管理信息的部分。在本發(fā)明的一個實施例中，所述一次寫入多次讀取信息記錄介質包含用于記錄數(shù) 據(jù)的數(shù)據(jù)區(qū)和備用區(qū)，所述備用區(qū)是用于數(shù)據(jù)區(qū)的替換區(qū)；
所述盤管理信息包含一個替換列表，該替換列表包含表示數(shù)據(jù)區(qū)中包含的替換源 區(qū)和備用區(qū)中包含的替換目標區(qū)之間的對應關系的對應關系信息；和在所述多個塊的每一個中，提供有包含在替換列表中的部分替換列表和包含關于 部分替換列表的位置信息的盤定義結構。在本發(fā)明的一個實施例中，部分(C)進一步包括(e)根據(jù)盤定義結構中包含的關于部分盤管理信息的位置信息確定所述已記錄盤 管理工作區(qū)是否為其中記錄被正常完成的區(qū)域的部分；和當確定所述已記錄盤管理工作區(qū)是其中記錄未被正常完成的區(qū)域時，根據(jù)關于部 分盤管理信息的位置信息搜索相鄰于邊界的已記錄盤管理工作區(qū)和與相鄰于所述邊界的 已記錄盤管理工作區(qū)相鄰的已記錄盤管理工作區(qū)之間的邊界的位置。在本發(fā)明的一個實施例中，部分(e)包括用于通過將關于部分盤管理信息的位置 信息與關于已記錄盤管理工作區(qū)和未記錄盤管理工作區(qū)之間的邊界的位置信息進行比較， 確定所述已記錄盤管理工作區(qū)是否為其中記錄被正常完成的區(qū)域的部分。雖然在這里已經(jīng)說明了某些優(yōu)選實施例，但這種實施例并不打算構成為本發(fā)明的 范圍的限制，除非所附權利要求中另有說明。各種其它修改和等價變換對于本領域技術人 員來說是顯而易見的，并且在讀取了此處的說明之后，本領域技術人員能夠容易地做出這 種修改和等價變換，而不會脫離本發(fā)明的范圍和精神。此處引用的所有專利、公開專利申請 和公開文本通過參考而被并入，就好像在這里做了充分說明。工業(yè)實用性在本發(fā)明的一次寫入多次讀取信息記錄介質中，在一預定方向上連續(xù)分配有至少 一個缺陷管理工作區(qū)。在相鄰于已記錄缺陷管理工作區(qū)和未記錄缺陷管理工作區(qū)之間的邊 界的已記錄缺陷管理工作區(qū)中的預定方向上布置最新的缺陷列表和最新的DDS，其中最新 的缺陷列表在所述預定方向上在所述DDS之前。因此，能夠容易地找出最新的DDS和最新 的缺陷列表。通過最終完成，最終完成之后的一次寫入多次讀取光盤的數(shù)據(jù)結構與可重寫光盤 的數(shù)據(jù)結構相同。結果，可重寫光盤記錄/再現(xiàn)裝置能夠再現(xiàn)記錄在最終完成的一次寫入 多次讀取光盤上的數(shù)據(jù)，從而產(chǎn)生再現(xiàn)兼容的光盤。在多個塊的每一個中的預定位置布置有附屬盤定義結構(SDDS)。因此，即使由于 切斷電源等操作而使缺陷管理工作區(qū)的更新不能完成時，也能正確確定更新失敗了。因此， 能夠容易地找到更新發(fā)生失敗的缺陷管理工作區(qū)的開始位置。因此，能夠容易地獲得最新 的正常缺陷管理工作區(qū)中的缺陷列表。根據(jù)本發(fā)明的信息記錄方法，即使在缺陷管理工作區(qū)中存在有缺陷塊并且因此缺 陷列表和DDS的記錄失敗，也能重復地執(zhí)行缺陷列表和DDS的記錄直到缺陷列表和DDS的 記錄被正常完成。因此，能夠正確記錄缺陷列表和DDS。結果，將缺陷列表和DDS記錄到缺 陷管理工作區(qū)中的可靠性能夠得以改進。
權利要求
一種一次寫入多次讀取信息記錄介質的制造方法，其特征在于所述一次寫入多次讀取信息記錄介質具備作為在一指定方向上按順序分配有至少一個盤管理工作區(qū)的區(qū)域的，至少一個盤管理工作區(qū)群；在所述至少一個盤管理工作區(qū)中，配置有盤管理信息和包含關于所述盤管理信息的位置信息的盤定義結構，該盤管理信息為關于所述一次寫入多次讀取信息記錄介質的管理信息；最新盤定義結構配置于相對所述至少一個盤管理工作區(qū)群的開始位置，在所述指定方向上的比最新盤管理信息更遠的位置上；所述最新盤管理信息是配置在相對于所述至少一個盤管理工作區(qū)群的開始位置，在所述指定方向上的最遠的位置上配置的，作為已記錄的盤管理工作區(qū)的最新盤管理工作區(qū)中的盤管理信息；所述最新盤定義結構是包含關于所述最新盤管理信息的位置信息的盤定義結構；所述最新盤定義結構被配置在所述最新盤管理工作區(qū)中的指定位置，所述指定位置能夠以所述最新盤管理工作區(qū)的末尾為基準計算出；所述盤管理信息是可變大小的信息；所述盤定義結構是固定大小的信息；所述制造方法形成所述至少一個盤管理工作區(qū)群。
2.一種將信息記錄到一次寫入多次讀取信息記錄介質上的記錄裝置，其特征在于 所述一次寫入多次讀取信息記錄介質具備作為在一指定方向上按順序分配有至少一個盤管理工作區(qū)的區(qū)域的，至少一個盤管理工作區(qū)群；在所述至少一個盤管理工作區(qū)中，配置有盤管理信息和包含關于所述盤管理信息的位 置信息的盤定義結構，該盤管理信息為關于所述一次寫入多次讀取信息記錄介質的管理信 息；最新盤定義結構配置于相對所述至少一個盤管理工作區(qū)群的開始位置，在所述指定方 向上的比最新盤管理信息更遠的位置上；所述最新盤管理信息是配置在相對于所述至少一個盤管理工作區(qū)群的開始位置，在所 述指定方向上的最遠的位置上配置的，作為已記錄的盤管理工作區(qū)的最新盤管理工作區(qū)中的盤管理信息；所述最新盤定義結構是包含關于所述最新盤管理信息的位置信息的盤定義結構； 所述最新盤定義結構被配置在所述最新盤管理工作區(qū)中的指定位置，所述指定位置能 夠以所述最新盤管理工作區(qū)的末尾為基準計算出； 所述盤管理信息是可變大小的信息； 所述盤定義結構是固定大小的信息； 所述記錄裝置具備在相對于所述至少一個盤管理工作區(qū)群的開始位置，在所述指定方向上最近的位置上 配置的，作為未記錄的盤管理工作區(qū)的記錄目的地盤管理工作區(qū)中，記錄所述盤管理信息 的盤管理信息記錄部分，和在所述記錄目的地盤管理工作區(qū)的指定位置上記錄所述盤定義結構的盤定義結構記 錄部分。
3. 一種再現(xiàn)記錄在一次寫入多次讀取信息記錄介質中的信息的再現(xiàn)裝置，其特征在于所述一次寫入多次讀取信息記錄介質具備作為在一指定方向上按順序分配有至少一 個盤管理工作區(qū)的區(qū)域的，至少一個盤管理工作區(qū)群；在所述至少一個盤管理工作區(qū)中，配置有盤管理信息和包含關于所述盤管理信息的位 置信息的盤定義結構，該盤管理信息為關于所述一次寫入多次讀取信息記錄介質的管理信 息；最新盤定義結構配置于相對所述至少一個盤管理工作區(qū)群的開始位置，在所述指定方 向上的比最新盤管理信息更遠的位置上；所述最新盤管理信息是配置在相對于所述至少一個盤管理工作區(qū)群的開始位置，在所 述指定方向上的最遠的位置上配置的，作為已記錄的盤管理工作區(qū)的最新盤管理工作區(qū)中的盤管理信息；所述最新盤定義結構是包含關于所述最新盤管理信息的位置信息的盤定義結構； 所述最新盤定義結構被配置在所述最新盤管理工作區(qū)中的指定位置，所述指定位置能 夠以所述最新盤管理工作區(qū)的末尾為基準計算出； 所述盤管理信息是可變大小的信息； 所述盤定義結構是固定大小的信息； 所述再現(xiàn)裝置具備再現(xiàn)所述最新盤定義結構的盤定義結構再現(xiàn)部分，和根據(jù)所述最新盤定義結構再現(xiàn)所述最新盤管理信息的盤管理信息再現(xiàn)部分。
全文摘要
本發(fā)明提供一種一次寫入多次讀取信息記錄介質，其能夠容易地搜索最新DDS和最新缺陷列表。在本發(fā)明的一次寫入多次讀取信息記錄介質上的預定方向上連續(xù)分配有至少一個盤管理工作區(qū)。所述最新缺陷列表和最新DDS被布置在相鄰于已記錄盤管理工作區(qū)和未記錄盤管理工作區(qū)之間的邊界的已記錄盤管理工作區(qū)中，其中最新缺陷列表在所述預定方向上位于所述最新DDS之前。
文檔編號G11B20/12GK101950576SQ20101028648
公開日2011年1月19日 申請日期2003年12月15日 優(yōu)先權日2002年12月25日
發(fā)明者伊藤基志, 高橋宜久 申請人:松下電器產(chǎn)業(yè)株式會社