專利名稱：產(chǎn)生測試模式信號的設(shè)備和方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及半導(dǎo)體存儲裝置，具體地，涉及由地址信號產(chǎn)生測試模式信號的測試 模式信號發(fā)生設(shè)備。
背景技術(shù)：
為了確保半導(dǎo)體存儲裝置的可靠性，在半導(dǎo)體存儲裝置的制造過程中或者在最終 產(chǎn)品上市之前，對半導(dǎo)體存儲裝置進(jìn)行各種測試。由于測試半導(dǎo)體存儲裝置的性能的領(lǐng)域 不同，因此建立了多種測試模式，并且基于預(yù)先建立的測試模式對半導(dǎo)體存儲裝置進(jìn)行測 試?？傊?，半導(dǎo)體存儲裝置通過組合地址信號來產(chǎn)生用于進(jìn)入指定的測試模式的測試模式信號。圖1是示意性地示出常規(guī)測試模式信號發(fā)生設(shè)備的結(jié)構(gòu)示意圖。參見圖1，現(xiàn)有的 測試模式信號發(fā)生設(shè)備包括控制單元10、地址譯碼器20和測試模式信號發(fā)生單元30?？?制單元10接收地址信號MREG<0:6>、正常MRS信號NMRSPjiHi MRS信號TMRSP和上電信號 PWRUP。控制單元10在測試MRS信號TMRSP被使能時，根據(jù)地址信號MREG<0 6>產(chǎn)生傳送 地址信號TMREG<0:6>，且控制單元10使用正常MRS信號匪RSP和上電信號PWRUP產(chǎn)生復(fù) 位信號TRSTPB。地址譯碼器20通過對經(jīng)控制單元10輸入的傳送地址信號TMREG<0:6>進(jìn) 行譯碼，產(chǎn)生測試地址信號TRGOKO:3>、TRG234<0:7>和TRG56<0:3>。測試模式信號發(fā)生 單元30接收測試地址信號TRGOKO :3>、TRG234<0:7>和TRG56<0 3>，并產(chǎn)生測試模式信號 TM。測試模式信號發(fā)生單元30具有多個信號發(fā)生部31、32、33和34，且測試模式信號發(fā)生 單元30根據(jù)測試地址信號TRGOKO :3>、TRG234<0:7>和TRG56<0:3>可能的組合數(shù)目，產(chǎn)生 多個不同的測試模式信號TM。圖2是說明圖1中的測試模式信號發(fā)生設(shè)備設(shè)置在半導(dǎo)體裝置中的狀態(tài)的框圖。 參見圖2，半導(dǎo)體裝置包括8個存儲體BANKO至BANK7，圖1中的測試模式信號發(fā)生設(shè)備設(shè) 置在存儲體BANKO至BANK7之間的外圍區(qū)域。測試模式信號發(fā)生設(shè)備產(chǎn)生的測試模式信號 TM通過全局線直接傳送到需要測試模式信號TM的邏輯電路LO至Lm以及Lm+1至Ln。在如 圖1所示的測試模式信號發(fā)生設(shè)備采用7個地址信號的情況中，可以產(chǎn)生總計1 個測試 模式信號。因此，在測試模式信號通過全局線直接傳送的情況下，全局線的數(shù)量需要有1 條。如果這樣大量的全局線設(shè)置在提供有許多用于半導(dǎo)體存儲裝置的正常操作的電路的外 圍區(qū)域中，則布線復(fù)雜，并且布圖裕度降低。此外，在常規(guī)的測試模式信號發(fā)生設(shè)備中，根據(jù) 有限數(shù)目的地址信號產(chǎn)生的是有限數(shù)目的測試模式信號。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的各個實(shí)施例包括測試模式信號發(fā)生設(shè)備，該測試模式信號發(fā)生設(shè)備可以 產(chǎn)生大量的測試模式信號，同時減少全局線的數(shù)量。根據(jù)本發(fā)明的一個方面，提供一種測試模式信號發(fā)生設(shè)備，包括測試地址發(fā)生單 元，被配置為將測試地址信號轉(zhuǎn)換成脈沖信號以產(chǎn)生脈沖地址信號；脈沖地址分離單元，被 配置為響應(yīng)于脈沖地址信號而產(chǎn)生轉(zhuǎn)換的測試地址信號；和測試模式發(fā)生單元，被配置為 響應(yīng)于轉(zhuǎn)換的測試地址信號而產(chǎn)生測試模式信號。根據(jù)本發(fā)明的另一方面，提供一種測試模式信號發(fā)生設(shè)備，包括第一測試模式信 號發(fā)生單元，被配置為響應(yīng)于測試地址信號而產(chǎn)生第一測試模式信號；脈沖地址發(fā)生單元， 被配置為響應(yīng)于測試地址信號而產(chǎn)生脈沖地址信號；和測試模式信號發(fā)生塊，被配置為響 應(yīng)于脈沖地址信號而產(chǎn)生第二測試模式信號。根據(jù)本發(fā)明的又一方面，提供一種產(chǎn)生測試模式信號的方法，包括以下步驟根據(jù) 測試地址信號的邏輯電平，將測試地址信號轉(zhuǎn)換成具有多個脈沖的脈沖地址信號；通過全 局線傳送脈沖地址信號；響應(yīng)于通過全局線傳送的脈沖地址信號，產(chǎn)生轉(zhuǎn)換的測試地址信 號；和響應(yīng)于轉(zhuǎn)換的測試地址信號，產(chǎn)生測試模式信號。


包含在說明書中并且構(gòu)成說明書的一部分的附圖闡述本發(fā)明的各個實(shí)施例，并且 與說明書一起用于解釋本發(fā)明的原理。圖1是示意性地示出常規(guī)測試模式信號發(fā)生設(shè)備的結(jié)構(gòu)框圖。圖2是說明圖1的測試模式信號發(fā)生設(shè)備設(shè)置在半導(dǎo)體裝置中的狀態(tài)的示意圖。圖3是示意性地示出根據(jù)本發(fā)明的一個實(shí)施例的測試模式信號發(fā)生設(shè)備的結(jié)構(gòu) 框圖。圖4是示出構(gòu)成圖3所示的第一測試模式信號發(fā)生單元的信號發(fā)生單元的一個實(shí) 施例的結(jié)構(gòu)框圖。圖5是示出圖3所示的脈沖地址發(fā)生單元的一個實(shí)施例的結(jié)構(gòu)框圖。圖6是示出圖3所示的脈沖地址分離單元的一個實(shí)施例的結(jié)構(gòu)示意圖。圖7是示出圖6所示的延遲部件的結(jié)構(gòu)框圖。圖8是示出構(gòu)成圖3所示的第二測試模式信號發(fā)生單元的信號發(fā)生單元的一個實(shí) 施例的結(jié)構(gòu)框圖。圖9是示出根據(jù)本發(fā)明的一個實(shí)施例的測試模式信號發(fā)生設(shè)備的操作的時序圖。圖10是示出根據(jù)本發(fā)明的一個實(shí)施例的測試模式信號發(fā)生設(shè)備設(shè)置在半導(dǎo)體裝 置中的狀態(tài)的示意圖。
具體實(shí)施例方式參考下述實(shí)施例以及附圖，本發(fā)明的優(yōu)點(diǎn)和特征以及實(shí)現(xiàn)本發(fā)明的優(yōu)點(diǎn)和特征的 方法將變得明了。然而，本發(fā)明不限于下述的示例性實(shí)施例，可以用不同形式來實(shí)現(xiàn)本發(fā) 明。因此，提供示例性實(shí)施例使本領(lǐng)域技術(shù)人員可以完全了解本發(fā)明的教導(dǎo)并且完整地傳 達(dá)本發(fā)明的范圍，示例性實(shí)施例僅由所附權(quán)利要求的范圍來限定。在本說明書中，相同的附圖標(biāo)記指代相同的元件。圖3是示意性地示出根據(jù)本發(fā)明的一個實(shí)施例的測試模式信號發(fā)生設(shè)備的結(jié)構(gòu) 框圖。參見圖3，測試模式信號發(fā)生設(shè)備1包括第一測試模式信號發(fā)生單元40、脈沖地址 發(fā)生單元100和測試模式信號發(fā)生塊2000。第一測試模式信號發(fā)生單元40被配置為接收 測試地址信號TRGOKO :3>、TRG234<0:7>和TRG56<0:3>，并根據(jù)測試地址信號TRGOKO :3>、 TRG234<0 7>和TRG56<0 3>產(chǎn)生第一測試模式信號TMl。第一測試模式信號發(fā)生單元40包 括至少一個信號發(fā)生單元，并產(chǎn)生第一測試模式信號TMl。第一測試模式信號發(fā)生單元40 響應(yīng)于復(fù)位信號TRSTPB而禁止第一測試模式信號TMl。脈沖地址發(fā)生單元100被配置為響應(yīng)于測試地址信號TRGOKO :3>，TRG234<0:7> 和TRG56<0:3>而產(chǎn)生脈沖地址信號ALANE和BLANE。脈沖地址發(fā)生單元100根據(jù)測試地 址信號TRGOKO:3>、TRG234<0:7>和TRG56<0:3>的邏輯電平，產(chǎn)生包括多個脈沖的脈沖地 址信號ALANE和BLANE。也就是說，脈沖地址發(fā)生單元100根據(jù)測試地址信號TRGOKO 3>、 TRG234<0 7>和TRG56<0 3>，改變包括在脈沖地址信號ALANE和BLANE中的脈沖數(shù)。此外， 脈沖地址發(fā)生單元100還通過接收測試地址信號TRGO1 <0 3>、TRG234<0 7>和TRG56<0 3>， 產(chǎn)生控制信號TM_SET。測試模式信號發(fā)生塊2000被配置為接收脈沖地址信號ALANE和BLANE，并產(chǎn)生第 二測試模式信號TM2。測試模式信號發(fā)生塊2000包括脈沖地址分離單元200和第二測試模 式信號發(fā)生單元300。脈沖地址分離單元200被配置為接收脈沖地址信號ALANE和BLANE， 并產(chǎn)生轉(zhuǎn)換的測試地址信號TA<0:2>和TB<0:2>。脈沖地址分離單元200對脈沖地址信號 ALANE和BLANE的脈沖數(shù)進(jìn)行計數(shù)，并產(chǎn)生轉(zhuǎn)換的測試地址信號TA<0:2>和TB<0:2>。脈 沖地址分離單元200對脈沖地址信號ALANE和BLANE的脈沖數(shù)進(jìn)行計數(shù)，并根據(jù)計數(shù)結(jié)果 改變轉(zhuǎn)換的測試地址信號TA<0:2>和TB<0:2>的邏輯電平。因此，脈沖地址分離單元200 可以產(chǎn)生轉(zhuǎn)換的測試地址信號TA<0:2>和TB<0:2>，所述轉(zhuǎn)換的測試地址信號TA<0:2>和 TB<0:2>具有與測試地址信號TRGOKO:3>、TRG234<0:7>和TRG56<0:3>基本相同的地址信 息。脈沖地址分離單元200接收由脈沖地址發(fā)生單元100產(chǎn)生的控制信號TM_SET。脈沖地 址分離單元200可以響應(yīng)于控制信號TM_SET，對脈沖地址信號ALANE和BLANE的脈沖數(shù)進(jìn) 行計數(shù)。第二測試模式信號發(fā)生單元300被配置為響應(yīng)于轉(zhuǎn)換的測試地址信號TA<0 2>和 TB<0:2>而產(chǎn)生第二測試模式信號TM2。第二測試模式信號發(fā)生塊2000還可以包括譯碼 單元400。譯碼單元400被配置為接收轉(zhuǎn)換的測試地址信號TA<0 2>和TB<0 2>并進(jìn)行譯 碼，并輸出譯碼信號。因此，第二測試模式信號發(fā)生單元300接收譯碼單元400的輸出信號 TAA<0:7>和TBB<0:7>并產(chǎn)生第二測試模式信號TM2，所述輸出信號TAA<0:7>和TBB<0:7> 是通過對轉(zhuǎn)換的測試地址信號TA<0:2>和TB<0:2>進(jìn)行譯碼而獲得的。第二測試模式信號 發(fā)生單元300包括至少一個信號發(fā)生單元，所述至少一個信號發(fā)生單元接收譯碼單元400的 輸出信號TM<0:7>和TBB<0:7>并產(chǎn)生第二測試模式信號TM2。第二測試模式信號發(fā)生單元 300接收復(fù)位信號TRSTPB，并且當(dāng)復(fù)位信號TRSTPB被使能時將第二測試模式信號TM2禁止。在圖3中，根據(jù)本發(fā)明的一個實(shí)施例的測試模式信號發(fā)生設(shè)備1還包括控制單 元10和地址譯碼器20。控制單元10接收地址信號MREG<0:6>、測試MRS信號TMRSP、正常 MRS信號NMRSP和上電信號PWRUP。地址信號MREG<0 6>是被輸入用以產(chǎn)生測試地址信號TRGOKO:3>、TRG234<0:7>和TRG56<0:3>的信號。例如，在半導(dǎo)體裝置的情形下，地址信號 MREG<0 6>包括可以通過設(shè)置在半導(dǎo)體裝置上的焊盤從外部輸入的信號。因此，測試地址信 號TRGOKO:3>、TRG234<0:7>和TRG56<0:3>的邏輯電平根據(jù)地址信號MREG<0:6>而改變。 測試MRS信號TMRSP是通知具有測試模式信號發(fā)生設(shè)備1的半導(dǎo)體裝置進(jìn)入測試操作的信 號。正常MRS信號NMRSP是使半導(dǎo)體裝置據(jù)以不進(jìn)入測試操作而進(jìn)入正常操作的信號。艮口， 正常MRS信號NMRSP是指示半導(dǎo)體裝置退出測試模式的信號。上電信號PWRUP是用于在給 半導(dǎo)體裝置穩(wěn)定供電時將半導(dǎo)體裝置初始化的信號?？刂茊卧?0被配置為接收測試MRS信號TMRSP和地址信號MREG<0 6>，并產(chǎn)生傳 送地址信號TMREG<0:6>。換言之，控制單元10被配置為當(dāng)輸入測試MRS信號TMRSP時，輸 出地址信號MREG<0:6>作為傳送地址信號TMREG<0:6>?？刂茊卧?0接收正常MRS信號 NMRSP和上電信號PWRUP，并產(chǎn)生復(fù)位信號TRSTPB?？刂茊卧?0在正常MRS信號NMRSP或 上電信號PWRUP被使能時，將復(fù)位信號TRSTPB使能。地址譯碼器20被配置為接收從控制單元10輸出的傳送地址信號TMREG<0:6>， 將傳送地址信號TMREG<0 6>譯碼，并產(chǎn)生測試地址信號TRGO1 <0 3>、TRG234<0 7>和 TRG56<0:3>。圖4是示出構(gòu)成圖3所示的第一測試模式信號發(fā)生單元的信號發(fā)生單元的一個實(shí) 施例的結(jié)構(gòu)框圖。參見圖4，信號發(fā)生單元40A包括第一 ρ型金屬氧化物半導(dǎo)體(PMOS)晶 體管Pl_a、第一至第三η型金屬氧化物半導(dǎo)體(NMOS)晶體管至N3_a、和第一至第三 反相器IVl_a至IV3_a。第一 PMOS晶體管Pl_a具有施加有復(fù)位信號TRSTPB的柵極端子、 施加有外部電源電壓VDD的源極端子和與第一節(jié)點(diǎn)A相連接的漏極端子。第一至第三NMOS 晶體管m_a至N3_a的柵極分別接收所分配的測試地址信號TRGOKO :3>、TRG234<0:7>和 TRG56<0:3>，并且第一至第三NMOS晶體管至N3_a串聯(lián)連接在第一節(jié)點(diǎn)A與接地電壓 端子VSS之間。第一反相器IVl_a產(chǎn)生通過使第一節(jié)點(diǎn)A的電壓電平反相而獲得的信號， 作為第一測試模式信號TMl。第二和第三反相器IV2_a和IV3_a形成鎖存結(jié)構(gòu)并且鎖存第 一節(jié)點(diǎn)A的電壓電平。根據(jù)測試地址信號TRGOKO:3>、TRG234<0:7>和TRG56<0:3>的組合 數(shù)目，設(shè)置多個信號發(fā)生單元40A，并且信號發(fā)生單元40A構(gòu)成第一測試模式信號發(fā)生單元 40。因此，當(dāng)分配的測試地址信號TRG01<0:3>、TRG234<0:7>和TRG56<0:3>具有高電 平時，信號發(fā)生單元40A可以產(chǎn)生第一測試模式信號TM1，而當(dāng)復(fù)位信號TRSTPB被使能時， 信號發(fā)生單元40A可以將第一測試模式信號TMl禁止。圖5是示意性地示出圖3所示的脈沖地址發(fā)生單元的實(shí)施例的結(jié)構(gòu)框圖。參見圖 5，脈沖地址發(fā)生單元100包括地址發(fā)生部110和控制信號發(fā)生部120。地址發(fā)生部110被 配置為接收測試地址信號TRGOKO:3>和TRG234<0>，并根據(jù)測試地址信號TRGOKO:3>和 TRG234<0>的邏輯電平產(chǎn)生脈沖地址信號ALANE和BLANE。地址發(fā)生部110根據(jù)測試地址 信號TRGOKO:3>和TRG234<0>來改變脈沖地址信號ALANE和BLANE的脈沖數(shù)。雖然描述 了地址發(fā)生部110接收一部分測試地址信號TRG01<0:3>和TRG234<0>，但地址發(fā)生部110 可以接收測試地址信號TRGOKO :3>、TRG234<0:7>和TRG56<0:3>的各種組合。圖5所示的 脈沖地址發(fā)生單元100的配置可以根據(jù)接收的測試地址信號TRGOKO:3>和TRG234<0:7> 和TRG56<0:3>的數(shù)目而增加。
地址發(fā)生部110接收測試地址信號TRGOKO :3>和TRG234<0>，并產(chǎn)生第一和第二 脈沖地址信號ALANE和BLANE。地址發(fā)生部110包括第一脈沖觸發(fā)部件111、第二脈沖觸發(fā) 部件112、第三脈沖觸發(fā)部件113和信號組合部件114。第一脈沖觸發(fā)部件111在分配的測 試地址信號TRG01<1>和TRG234<0>具有高電平時可以增加第一脈沖地址信號ALANE的脈 沖數(shù)。第二脈沖觸發(fā)部件112在分配的測試地址信號TRG01<2>和TRG234<0>具有高電平 時可以增加第二脈沖地址信號BLANE的脈沖數(shù)。第三脈沖觸發(fā)部件113在分配的測試地 址信號TRG01<3>和TRG234<0>具有高電平時可以增加第一和第二脈沖地址信號ALANE和 BLANE的脈沖數(shù)。信號組合部件114響應(yīng)于第一至第三脈沖觸發(fā)部件111、112和113的輸 出，輸出第一和第二脈沖地址信號ALANE和BLANE。第一脈沖觸發(fā)部件111包括第一 NAND門NDl和第一反相器IVl。第一 NAND門NDl 接收分配的測試地址信號TRG01<1>和TRG234<0>。第一反相器IVl使第一 NAND門NDl的 輸出反相。因此，第一脈沖觸發(fā)部件111在分配的測試地址信號TRG01<1>和TRG234<0>都 具有高電平時，可以輸出高電平的信號。第二脈沖觸發(fā)部件112包括第二 NAND門ND2和第 二反相器IV2。第二 NAND門ND2接收分配的測試地址信號TRG01<2>和TRG234<0>。第二 反相器IV2使第二 NAND門ND2的輸出反相。因此，第二脈沖觸發(fā)部件112在分配的測試地 址信號TRG01<2>和TRG234<0>都具有高電平時，可以輸出高電平的信號。第三脈沖觸發(fā)部 件113包括第三NAND門ND3和第三反相器IV3，并且第三脈沖觸發(fā)部件113在分配的測試 地址信號TRG01<3>和TRG234<0>都具有高電平時，輸出高電平的信號。信號組合部件114包括第一和第二 NOR門NORl和N0R2，以及第四和第五反相器 IV4和IV5。第一 NOR門NORl接收第一和第三脈沖觸發(fā)部件111和113的輸出。第四反相 器IV4使第一 NOR門NORl的輸出反相，并輸出第一脈沖地址信號ALANE。第二 NOR門N0R2 接收第二和第三脈沖觸發(fā)部件112和113的輸出。第五反相器IV5使第二 NOR門N0R2的 輸出反相，并輸出第二脈沖地址信號BLANE。因此，信號組合部件114在第一脈沖觸發(fā)部件 111輸出高電平的脈沖時產(chǎn)生第一脈沖地址信號ALANE的脈沖，在第二脈沖觸發(fā)部件112輸 出高電平的脈沖時產(chǎn)生第二脈沖地址信號BLANE的脈沖，并且在第三脈沖觸發(fā)部件113輸 出高電平的脈沖時產(chǎn)生第一和第二脈沖地址信號ALANE和BLANE的脈沖?？刂菩盘柊l(fā)生部件120被配置為響應(yīng)于分配的測試地址信號TRG01<0>和 TRG234<1>，產(chǎn)生控制信號TM_SET?？刂菩盘柊l(fā)生部120包括第四NAND門ND4和第六反相 器IV6。第四NAND門ND4接收分配的測試地址信號TRG01<0>和TRG234<1>。第六反相器 IV6使第四NAND門ND4的輸出反相，并產(chǎn)生控制信號TM_SET。因此，控制信號發(fā)生部120 在分配的測試地址信號TRG01<0>和TRG234<1>具有高電平時，將控制信號TM_SET使能。圖6是示意性地示出圖3所示的脈沖地址分離單元的一個實(shí)施例的結(jié)構(gòu)框圖。脈 沖地址分離單元200被配置為對脈沖地址信號ALANE和BLANE的脈沖數(shù)進(jìn)行計數(shù)，并產(chǎn)生 轉(zhuǎn)換的測試地址信號TA<0:2>和TB<0:2>。脈沖地址分離單元200使控制信號TM_SET延 遲預(yù)定的時間，并產(chǎn)生控制信號脈沖TM_SETP。另外，脈沖地址分離單元200使復(fù)位信號 TRSTPB延遲預(yù)定的時間，并產(chǎn)生控制信號脈沖TM_SETP。參見圖6，脈沖地址分離單元200包括地址轉(zhuǎn)換部210和脈沖發(fā)生部220。地址轉(zhuǎn) 換部210被配置為接收脈沖地址信號ALANE和BLANE，并產(chǎn)生轉(zhuǎn)換的測試地址信號TA<0 2> 和TB<0 2>。地址轉(zhuǎn)換部件210對包括在脈沖地址信號ALANE和BLANE中的脈沖數(shù)進(jìn)行計數(shù)，并產(chǎn)生轉(zhuǎn)換的測試地址信號TA<0:2>和TB<0:2>。地址轉(zhuǎn)換部件210由串聯(lián)連接的多個 觸發(fā)器構(gòu)成。第一觸發(fā)器211接收第一脈沖地址信號ALANE，并輸出每當(dāng)輸入第一脈沖地址 信號ALANE的脈沖時邏輯電平就改變的信號。第二觸發(fā)器212接收第一觸發(fā)器211的輸出， 并輸出每當(dāng)?shù)谝挥|發(fā)器211的輸出的邏輯電平改變時邏輯電平就改變的信號。第三觸發(fā)器 213接收第二觸發(fā)器212的輸出，并輸出每當(dāng)?shù)诙|發(fā)器212的輸出的邏輯電平改變時邏輯 電平就改變的信號。第一觸發(fā)器211的輸出成為轉(zhuǎn)換的測試地址信號的第一位ΤΑ<0>，第二 觸發(fā)器212的輸出成為轉(zhuǎn)換的測試地址信號的第二位TA<1>，第三觸發(fā)器213的輸出成為轉(zhuǎn) 換的測試地址信號的第三位TA<2>。類似地，第四觸發(fā)器214接收第二脈沖地址信號BLANE，并輸出每當(dāng)輸入第二脈沖 地址信號BLANE的脈沖時邏輯電平就改變的信號。第五觸發(fā)器215接收第四觸發(fā)器214的 輸出，并輸出每當(dāng)?shù)谒挠|發(fā)器214的輸出的邏輯電平改變時邏輯電平就改變的信號。第六 觸發(fā)器216接收第五觸發(fā)器215的輸出，并且輸出每當(dāng)?shù)谖逵|發(fā)器215的輸出的邏輯電平 改變時邏輯電平就改變的信號。第四觸發(fā)器214的輸出成為轉(zhuǎn)換的測試地址信號的第一位 ΤΒ<0>，第五觸發(fā)器215的輸出成為轉(zhuǎn)換的測試地址信號的第二位TB<1>，第六觸發(fā)器216的 輸出成為轉(zhuǎn)換的測試地址信號的第三位TB<2>。因此，地址轉(zhuǎn)換部210可以將脈沖地址信 號ALANE和BLANE轉(zhuǎn)換成所述轉(zhuǎn)換的測試地址信號，所述轉(zhuǎn)換的測試地址信號具有多個位 的邏輯電平。脈沖發(fā)生部220被配置為接收控制信號TM_SET和復(fù)位信號TRSTPB，并產(chǎn)生控制 信號脈沖TM_SETP，在兩個信號TM_SET和TRSTPB中的任意之一被使能時，該控制信號脈沖 TM_SETP被使能?？刂菩盘柮}沖TM_SETP使第一至第六觸發(fā)器211-216初始化。S卩，當(dāng)?shù)刂?轉(zhuǎn)換部210對脈沖地址信號ALANE和BLANE的所有脈沖進(jìn)行計數(shù)時，控制信號脈沖TM_SETP 使地址轉(zhuǎn)換部210復(fù)位，以便接收下一次的脈沖地址信號。另外，如果復(fù)位信號TRSTPB被 使能，則控制信號脈沖TM_SETP使地址轉(zhuǎn)換部210初始化。脈沖發(fā)生部220包括延遲部件221、第七和第八反相器IV7和IV8、第三NOR門 N0R3。延遲部件221使控制信號TM_SET延遲預(yù)定時間?？梢愿鶕?jù)設(shè)計者的要求將預(yù)定時 間設(shè)定為任選的時間。第七反相器IV7使復(fù)位信號TRSTPB反相。第三NOR門N0R3接收延 遲部件221的輸出TM_SETD和第七反相器IV7的輸出。第八反相器IV8使第三NOR門N0R3 的輸出反相。圖7是示意性地示出根據(jù)本發(fā)明的圖6所示的延遲部件的一個實(shí)施例的結(jié)構(gòu)框 圖。延遲部件221包括第九反相器IV9、由奇數(shù)個反相器構(gòu)成的反相器鏈0dd_IVc、第五NAND 門ND5和第十反相器IV10。第九反相器IV9使控制信號TM_SET反相。由奇數(shù)個反相器構(gòu) 成的反相器鏈OdcLIVc使第九反相器IV9的輸出延遲。第五NAND門ND5接收第九反相器 IV9的輸出和反相器鏈0dd_IVc的輸出。第十反相器IVlO使第五NAND門ND5的輸出反相， 并產(chǎn)生輸出信號TM_SETD。因此，可以設(shè)定從控制信號TM_SET被輸入到控制信號TM_SET經(jīng) 上述元件被延遲再到控制信號脈沖TM_SETP被產(chǎn)生所經(jīng)歷的時間。圖8是示出構(gòu)成圖3所示的第二測試模式信號發(fā)生單元的信號發(fā)生單元的實(shí)施例 的結(jié)構(gòu)框圖。信號發(fā)生單元300A包括第一 PMOS晶體管Pl_b、第一至第三NMOS晶體管Nl_ b至N3_b和第一至第三反相器IVl_b至IV3_b。第一 PMOS晶體管Pl_b具有施加有復(fù)位信 號TRSTPB的柵極、施加有外部電源電壓VDD的源極端子和與第二節(jié)點(diǎn)B相連接的漏極端子。第一至第三NMOS晶體管m_b至N3_b串聯(lián)連接在第二節(jié)點(diǎn)B與接地電壓端子VSS之 間，并且分別通過各自的柵極接收控制信號TM_SET以及信號TAA<0:7>和信號TBB<0:7>， 所述信號TAA<0 7>和TBB<0 7>是由圖3的譯碼單元400對轉(zhuǎn)換的測試地址信號TA<0 2> 和TB<0:2>進(jìn)行譯碼得到的。第一反相器IVl_b使從第二節(jié)點(diǎn)B施加的電壓的電平反相， 并產(chǎn)生第二測試模式信號TM2。第二和第三反相器IV2_b和IV3_b形成鎖存結(jié)構(gòu)，并鎖存第 二節(jié)點(diǎn)B的電壓電平。因此，信號發(fā)生單元300A被設(shè)置為與信號TAA<0:7>和TBB<0:7>的 組合數(shù)目相對應(yīng)的多個，并且信號發(fā)生單元300A構(gòu)成第二測試模式信號發(fā)生單元300，其 中所述信號TAA<0 7>和TBB<0 7>是對轉(zhuǎn)換的測試地址信號TA<0 2>和TB<0 2>進(jìn)行譯碼 得到的。圖9是示出根據(jù)本發(fā)明的一個實(shí)施例的測試模式信號發(fā)生設(shè)備的操作的時序圖。 下面參考圖3至圖9描述根據(jù)本發(fā)明的一個實(shí)施例的測試模式信號發(fā)生設(shè)備1的操作。如 果對具有測試模式信號發(fā)生設(shè)備1的半導(dǎo)體裝置供電并且完成初始化，則上電信號PWRUP 被禁止。之后，為了允許半導(dǎo)體裝置執(zhí)行測試操作，以脈沖形式施加測試MRS信號TMRSP，并 且正常MRS信號NMRSP維持在禁止?fàn)顟B(tài)。地址信號MREG<0 6>與測試MRS信號TMRSP的脈沖同步地輸入，控制單元10接收 地址信號MREG<0 6>并產(chǎn)生傳送地址信號TMREG<0 6>。地址譯碼器20接收傳送地址信號 TMREG<0:6>，并輸出測試地址信號 TRGOKO:3>、TRG234<0:7> 禾口 TRG56<0:3>。在圖 9 中，如 果產(chǎn)生測試地址信號TRGOKO :3>、TRG234<0:7>和TRG56<0 3>的高電平脈沖，則可以理解， 以測試地址信號TRGO1 <0 3>、TRG234<0 7>和TRG56<0 3>變成高電平的方式輸入地址信號 MREG<0:6>。脈沖地址發(fā)生單元100接收測試地址信號TRGOKO 3>、TRG234<0 7>和 TRG56<0:3>。當(dāng)?shù)谝缓偷谌|發(fā)器部件111和113以及信號組合部件114接收分配的測試 地址信號TRG01<1>、TRGO 1<3>和TRG234<0>的脈沖時，它們產(chǎn)生第一脈沖地址信號ALANE 的脈沖。當(dāng)?shù)诙偷谌|發(fā)器部件112和113以及信號組合部件114接收分配的測試地 址信號TRG01<2>、TRGO 1<3>和TRG234<0>的脈沖時，它們產(chǎn)生第二脈沖地址信號BLANE的 脈沖。圖9中可以看出，測試地址信號TRG01<1>的脈沖輸入3次，測試地址信號TRG01<2> 的脈沖輸入1次，以及測試地址信號TRG01<3>的脈沖輸入2次。因此，第一脈沖地址信號 ALANE包括5個脈沖，第二脈沖地址信號BLANE包括3個脈沖。脈沖地址分離單元200的地址轉(zhuǎn)換部210接收第一和第二脈沖地址信號ALANE和 BLANE，并產(chǎn)生轉(zhuǎn)換的測試地址信號TA<0:2>和TB<0:2>。第一觸發(fā)器211接收第一脈沖地 址信號ALANE，并以高電平輸出轉(zhuǎn)換的測試地址信號ΤΑ<0>。第二觸發(fā)器212接收第一觸發(fā) 器211的輸出，并以低電平輸出轉(zhuǎn)換的測試地址信號TA<1>。第三觸發(fā)器213接收第二觸發(fā) 器212的輸出，并以高電平輸出轉(zhuǎn)換的測試地址信號TA<2>。第四觸發(fā)器214接收第二脈沖 地址信號BLANE，并以高電平輸出轉(zhuǎn)換的測試地址信號ΤΒ<0>。第五觸發(fā)器215接收第四觸 發(fā)器214的輸出，并以高電平輸出轉(zhuǎn)換的測試地址信號TB<1>。第六觸發(fā)器216接收第五觸 發(fā)器215的輸出，并以低電平輸出轉(zhuǎn)換的測試地址信號TB<2>。如果地址信號MREG<0 6>被輸入使得測試地址信號TRG01<0>和TRG234<1>變成 高電平，則脈沖地址發(fā)生單元100的控制信號發(fā)生部120產(chǎn)生控制信號TM_SET。如果控制 信號TM_SET被使能，則在構(gòu)成第二測試模式信號發(fā)生單元300的信號發(fā)生單元中分配有信號TAA<0:7>和TBB<0:7>的高電平信號的信號發(fā)生單元將第二測試模式信號TM2使能，所 述信號TAA<0 7>和TBB<0 7>是對轉(zhuǎn)換的測試地址信號TA<0 2>和TB<0 2>進(jìn)行譯碼得到 的。因此，半導(dǎo)體裝置可以響應(yīng)于第二測試模式信號TM2而進(jìn)入期望的測試模式。然后，如果測試操作結(jié)束且正常MRS信號NMRSP被使能，則復(fù)位信號TRSTPB被使 能，并且所述信號發(fā)生單元響應(yīng)于復(fù)位信號TRSTPB而禁止第二測試模式信號TM2。因此，半 導(dǎo)體裝置退出測試模式。由于如上述操作的測試模式信號發(fā)生設(shè)備通過將地址信號轉(zhuǎn)換成 脈沖來傳送地址信號，因此即使在輸入少量的地址信號時，也可以產(chǎn)生無數(shù)個測試模式信 號。圖10是示出根據(jù)本發(fā)明的一個實(shí)施例的測試模式信號發(fā)生設(shè)備設(shè)置在半導(dǎo)體裝 置中的狀態(tài)的示意圖。在如圖10所示設(shè)置測試模式信號發(fā)生設(shè)備的情況下，用于產(chǎn)生和 傳送測試模式信號的全局線的數(shù)量僅為4條。也就是說，使用的是傳送兩個脈沖地址信號 ALANE和BLANE的全局線、傳送控制信號TM_SET的全局線和傳送復(fù)位信號TRSTPB的全局 線。另一個測試模式信號發(fā)生塊3000可以具有與測試模式信號發(fā)生塊2000相同的結(jié)構(gòu)。 測試模式信號發(fā)生塊使用通過全局線傳送的信號產(chǎn)生測試模式信號TM2和TM3，并將測試 模式信號TM2和TM3傳送到使用這些測試模式信號的邏輯電路LO至Lk以及Lk+Ι至Li。 測試模式信號發(fā)生設(shè)備的電路部件10、20、40和100產(chǎn)生測試模式信號TMl。由測試模式信 號發(fā)生設(shè)備的電路部件10、20、40和100產(chǎn)生的測試模式信號TMl通過局域線(未示出)傳 送到與測試模式信號發(fā)生設(shè)備的電路部件10、20、40和100相鄰的邏輯電路。類似地，由測 試模式信號發(fā)生塊2000和3000產(chǎn)生的測試模式信號TM2和TM3通過局域線(未示出)傳 送到與測試模式信號發(fā)生塊2000和3000相鄰的邏輯電路LO至Lk和Lk+Ι至Li。其結(jié)果， 可以顯著地減少全局線的數(shù)量，因此能夠容易地確保具有測試模式信號發(fā)生設(shè)備的半導(dǎo)體 裝置的布圖裕度，并且能夠以簡單方式進(jìn)行布線。雖然上面已描述一些實(shí)施例，但是對于本領(lǐng)域技術(shù)人員來說將理解的是，所描述 的實(shí)施例只是示例性的。因此不應(yīng)基于所描述的實(shí)施例限制在此描述的用于產(chǎn)生測試模式 信號的設(shè)備和方法。確切的說，應(yīng)當(dāng)僅根據(jù)所附的權(quán)利要求書并結(jié)合上面的描述和附圖來 限制在此描述的用于產(chǎn)生測試模式信號的設(shè)備和方法。
權(quán)利要求
1.一種測試模式信號發(fā)生設(shè)備，包括脈沖地址發(fā)生單元，被配置為將測試地址信號轉(zhuǎn)換成脈沖信號以產(chǎn)生脈沖地址信號； 脈沖地址分離單元，被配置為響應(yīng)于所述脈沖地址信號而產(chǎn)生轉(zhuǎn)換的測試地址信號；以及測試模式信號發(fā)生單元，被配置為響應(yīng)于所述轉(zhuǎn)換的測試地址信號而產(chǎn)生測試模式信號。
2.如權(quán)利要求1所述的測試模式信號發(fā)生設(shè)備，其中，所述脈沖地址發(fā)生單元被配置 為根據(jù)所述測試地址信號改變所述脈沖地址信號中的脈沖數(shù)。
3.如權(quán)利要求1所述的測試模式信號發(fā)生設(shè)備，其中，所述脈沖地址發(fā)生單元包括 地址發(fā)生部，被配置為響應(yīng)于所述測試地址信號而產(chǎn)生所述脈沖地址信號；和控制信號發(fā)生部，被配置為響應(yīng)于所述測試地址信號而產(chǎn)生控制信號。
4.如權(quán)利要求3所述的測試模式信號發(fā)生設(shè)備，其中，所述脈沖地址信號包括第一脈 沖地址信號和第二脈沖地址信號，并且所述地址發(fā)生部包括第一觸發(fā)部件，被配置為接收所述測試地址信號并增加所述第一脈沖地址信號的脈沖數(shù)；第二觸發(fā)部件，被配置為接收所述測試地址信號并增加所述第二脈沖地址信號的脈沖數(shù)；第三觸發(fā)部件，被配置為接收所述測試地址信號并增加所述第一脈沖地址信號和所述 第二脈沖地址信號的脈沖數(shù)；和信號組合部件，被配置為接收第一至第三脈沖觸發(fā)部件的輸出，并輸出所述第一脈沖 地址信號和所述第二脈沖地址信號。
5.如權(quán)利要求3所述的測試模式信號發(fā)生設(shè)備，其中，所述脈沖地址分離單元包括 地址轉(zhuǎn)換部，被配置為對所述脈沖地址信號的脈沖數(shù)進(jìn)行計數(shù)并產(chǎn)生所述轉(zhuǎn)換的測試地址信號；和脈沖發(fā)生部，被配置為使所述控制信號延遲預(yù)定的時間并產(chǎn)生控制信號脈沖。
6.如權(quán)利要求5所述的測試模式信號發(fā)生設(shè)備，其中，所述地址轉(zhuǎn)換部被配置為對所 述脈沖地址信號的脈沖數(shù)進(jìn)行計數(shù)直到所述控制信號脈沖被使能為止，并且當(dāng)所述控制信 號脈沖被使能時，所述地址轉(zhuǎn)換部被初始化。
7.如權(quán)利要求1所述的測試模式信號發(fā)生設(shè)備，還包括 譯碼單元，被配置為將所述轉(zhuǎn)換的測試地址信號進(jìn)行譯碼。
8.如權(quán)利要求1所述的測試模式信號發(fā)生設(shè)備，其中，所述測試模式信號發(fā)生單元包 括被配置為接收所述轉(zhuǎn)換的測試地址信號并產(chǎn)生所述測試模式信號的至少一個信號發(fā)生 單元。
9.如權(quán)利要求1所述的測試模式信號發(fā)生設(shè)備，還包括控制單元，被配置為接收地址信號和測試MRS信號并產(chǎn)生傳送地址信號，以及接收正 常MRS信號和上電信號并產(chǎn)生復(fù)位信號；和地址譯碼器，被配置為對所述傳送地址信號進(jìn)行譯碼并產(chǎn)生所述測試地址信號。
10.如權(quán)利要求9所述的測試模式信號發(fā)生設(shè)備，其中，所述測試模式信號發(fā)生單元被 配置為響應(yīng)于所述復(fù)位信號而將所述測試模式信號禁止。
11.一種測試模式信號發(fā)生設(shè)備，包括第一測試模式信號發(fā)生單元，被配置為響應(yīng)于測試地址信號而產(chǎn)生第一測試模式信號；脈沖地址發(fā)生單元，被配置為響應(yīng)于所述測試地址信號而產(chǎn)生脈沖地址信號；和 測試模式信號發(fā)生塊，被配置為響應(yīng)于所述脈沖地址信號而產(chǎn)生第二測試模式信號。
12.如權(quán)利要求11所述的測試模式信號發(fā)生設(shè)備，其中，所述脈沖地址發(fā)生單元被配 置為響應(yīng)于所述測試地址信號而改變所述脈沖地址信號的脈沖數(shù)。
13.如權(quán)利要求12所述的測試模式信號發(fā)生設(shè)備，其中，所述脈沖地址發(fā)生單元包括 地址發(fā)生部，被配置為響應(yīng)于所述測試地址信號而產(chǎn)生所述脈沖地址信號；和控制信號發(fā)生部，被配置為響應(yīng)于所述測試地址信號而產(chǎn)生控制信號。
14.如權(quán)利要求13所述的測試模式信號發(fā)生設(shè)備，其中，所述脈沖地址信號包括第一 脈沖信號和第二脈沖信號，并且所述地址發(fā)生部包括第一觸發(fā)部件，被配置為接收所述測試地址信號并增加所述第一脈沖地址信號的脈沖數(shù)；第二觸發(fā)部件，被配置為接收所述測試地址信號并增加所述第二脈沖地址信號的脈沖數(shù)；第三觸發(fā)部件，被配置為接收所述測試地址信號并增加所述第一脈沖地址信號和所述 第二脈沖地址信號的脈沖數(shù)；和信號組合部件，被配置為接收第一至第三脈沖觸發(fā)部件的輸出，并輸出所述第一脈沖 地址信號和所述第二脈沖地址信號。
15.如權(quán)利要求12所述的測試模式信號發(fā)生設(shè)備，其中，所述測試模式信號發(fā)生塊包括脈沖地址分離單元，被配置為根據(jù)所述脈沖地址信號的脈沖數(shù)來產(chǎn)生轉(zhuǎn)換的測試地址信號；譯碼單元，被配置為將所述轉(zhuǎn)換的測試地址信號進(jìn)行譯碼；以及 第二測試模式信號發(fā)生單元，被配置為接收所述譯碼單元的輸出并產(chǎn)生所述第二測試 模式信號。
16.如權(quán)利要求12所述的測試模式信號發(fā)生設(shè)備，其中，所述脈沖地址分離單元包括 地址轉(zhuǎn)換部，被配置為對所述脈沖地址信號的脈沖數(shù)進(jìn)行計數(shù)并產(chǎn)生所述轉(zhuǎn)換的測試地址信號；和脈沖發(fā)生部，被配置為使所述控制信號延遲預(yù)定的時間并產(chǎn)生控制信號脈沖。
17.如權(quán)利要求16所述的測試模式信號發(fā)生設(shè)備，其中，所述地址轉(zhuǎn)換部被配置為對 所述脈沖地址信號的脈沖數(shù)進(jìn)行計數(shù)直到所述控制信號被使能為止，并且當(dāng)所述控制信號 被使能時，所述地址轉(zhuǎn)換部被初始化。
18.如權(quán)利要求15所述的測試模式信號發(fā)生設(shè)備，其中，所述第二測試模式信號發(fā)生 單元包括被配置為接收所述譯碼單元的輸出和所述控制信號并產(chǎn)生所述第二測試模式信 號的至少一個信號發(fā)生單元。
19.如權(quán)利要求11所述的測試模式信號發(fā)生設(shè)備，其中，所述第一測試模式信號發(fā)生 單元包括被配置為接收所述測試地址信號并產(chǎn)生所述第一測試模式信號的至少一個信號發(fā)生單元。
20.如權(quán)利要求11所述的測試模式信號發(fā)生設(shè)備，還包括控制單元，被配置為接收地址信號和測試MRS信號并產(chǎn)生傳送地址信號，以及接收正 常MRS信號和上電信號并產(chǎn)生復(fù)位信號；和地址譯碼器，被配置為將所述傳送地址信號進(jìn)行譯碼并產(chǎn)生所述測試地址信號。
21.如權(quán)利要求20所述的測試模式信號發(fā)生設(shè)備，其中，所述第一測試模式信號和所 述第二測試模式信號響應(yīng)于所述復(fù)位信號而被禁止。
22.—種產(chǎn)生測試模式信號的方法，包括以下步驟根據(jù)測試地址信號的邏輯電平，將測試地址信號轉(zhuǎn)換成具有多個脈沖的脈沖地址信號；通過全局線傳送所述脈沖地址信號；響應(yīng)于通過全局線傳送的所述脈沖地址信號，產(chǎn)生轉(zhuǎn)換的測試地址信號；和 響應(yīng)于所述轉(zhuǎn)換的測試地址信號，產(chǎn)生測試模式信號。
23.如權(quán)利要求22所述的方法，還包括以下步驟對所述脈沖地址信號的脈沖數(shù)進(jìn)行 計數(shù)，并且根據(jù)計數(shù)結(jié)果改變所述轉(zhuǎn)換的測試地址信號的邏輯電平。
24.如權(quán)利要求22所述的方法，還包括以下步驟 接收所述測試地址信號并產(chǎn)生控制信號。
25.如權(quán)利要求M所述的方法，還包括以下步驟響應(yīng)于根據(jù)所述控制信號產(chǎn)生的控制信號脈沖，對所述脈沖地址信號的脈沖數(shù)進(jìn)行計數(shù)。
26.如權(quán)利要求22所述的方法，還包括以下步驟 將所述轉(zhuǎn)換的測試地址信號譯碼并輸出。
全文摘要
本發(fā)明提供一種測試模式信號發(fā)生設(shè)備，包括測試地址發(fā)生單元，被配置為將測試地址信號轉(zhuǎn)換成脈沖信號并產(chǎn)生脈沖地址信號；脈沖地址分離單元，被配置為響應(yīng)于脈沖地址信號產(chǎn)生轉(zhuǎn)換的測試地址信號；以及測試模式發(fā)生塊，被配置為響應(yīng)于轉(zhuǎn)換的測試地址信號產(chǎn)生測試模式信號。
文檔編號G11C29/12GK102110480SQ20101021619
公開日2011年6月29日 申請日期2010年7月2日 優(yōu)先權(quán)日2009年12月28日
發(fā)明者尹泰植, 石源雄 申請人:海力士半導(dǎo)體有限公司