技術編號：6772669
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術詳細信息。本發(fā)明涉及半導體存儲裝置，具體地，涉及由地址信號產(chǎn)生測試模式信號的測試 模式信號發(fā)生設備。背景技術為了確保半導體存儲裝置的可靠性，在半導體存儲裝置的制造過程中或者在最終 產(chǎn)品上市之前，對半導體存儲裝置進行各種測試。由于測試半導體存儲裝置的性能的領域 不同，因此建立了多種測試模式，并且基于預先建立的測試模式對半導體存儲裝置進行測 試。總之，半導體存儲裝置通過組合地址信號來產(chǎn)生用于進入指定的測試模式的測試模式信號。圖1是示意性地示出常規(guī)測試模式信號發(fā)生設備的結...
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