專利名稱：用于對電子裝置的處理過程進(jìn)行控制的方法和裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及產(chǎn)品質(zhì)量管理領(lǐng)域，更具體地涉及一種用于對電子裝置的處理過程進(jìn)行控制的方法和裝置，所述處理過程包括但不局限于出廠前的產(chǎn)品測試過程。
背景技術(shù)：
在電子產(chǎn)品加工制造業(yè)中，在基本裝配完成的電子產(chǎn)品出廠之前，通常會通過一系列的測試設(shè)備對電子產(chǎn)品中的一系列部件或部件組合(這里統(tǒng)稱為待測試單元)的性能進(jìn)行測試，以保證最終提供給用戶的電子裝置的性能符合國家、行業(yè)或企業(yè)自身的產(chǎn)品質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)。一般而言，需要電子產(chǎn)品在所述一系列測試設(shè)備中每個測試設(shè)備處的測試中都達(dá)到相應(yīng)測試的要求，或者說“通過”每個測試，才允許電子產(chǎn)品出廠。但是，存在未通過測試的產(chǎn)品出廠的可能性。因此為了確保出廠產(chǎn)品的質(zhì)量，需要能夠確保每個電子產(chǎn)品通過了每個測試的裝置和方法。而且，除了測試的通過和未通過以外，電子產(chǎn)品在測試過程中還會表現(xiàn)出一些其他特性，這些特性可能指示出產(chǎn)品的健康狀況。例如，某一電子產(chǎn)品在某一測試設(shè)備處可能未能一次通過測試，而是經(jīng)過了若干次重試才通過；此時，通過測試前重試的次數(shù)可能表示潛在的缺陷。又例如，某一電子產(chǎn)品可能在測試過程中陷入不希望的停滯或復(fù)位狀態(tài)，這些停滯或復(fù)位狀態(tài)的發(fā)生也可能表示潛在的缺陷。因此還可能希望對這些其他特性進(jìn)行監(jiān)控。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明提供了一種用于對電子裝置的處理過程進(jìn)行控制的方法和裝置。根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的用于對電子裝置的處理過程進(jìn)行控制的方法，包括獲取與多個測試設(shè)備對電子裝置進(jìn)行測試的測試結(jié)果相關(guān)聯(lián)的控制位，其中，該多個測試設(shè)備中的每一個測試設(shè)備對電子裝置進(jìn)行一系列測試并根據(jù)其進(jìn)行的一系列測試的測試結(jié)果對與其進(jìn)行的一系列測試的測試結(jié)果相關(guān)聯(lián)的控制位進(jìn)行設(shè)置；以及根據(jù)與該多個測試設(shè)備中的每一個測試設(shè)備進(jìn)行的一系列測試的測試結(jié)果相關(guān)聯(lián)的控制位來判斷 是否禁止對電子裝置進(jìn)行下一步處理。根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的用于對電子裝置的處理過程進(jìn)行控制的裝置，包括控制位獲取單元，被配置為獲取與多個測試設(shè)備對電子裝置進(jìn)行測試的測試結(jié)果相關(guān)聯(lián)的控制位，其中，該多個測試設(shè)備中的每一個測試設(shè)備對電子裝置進(jìn)行一系列測試并根據(jù)其進(jìn)行的一系列測試的測試結(jié)果對與其進(jìn)行的一系列測試的測試結(jié)果相關(guān)聯(lián)的控制位進(jìn)行設(shè)置； 以及控制執(zhí)行單元，被配置為根據(jù)與該多個測試設(shè)備中的每一個測試設(shè)備進(jìn)行的一系列測試的測試結(jié)果相關(guān)聯(lián)的控制位來判斷是否禁止對電子裝置進(jìn)行下一步處理。本發(fā)明通過利用與多個測試設(shè)備對電子裝置進(jìn)行測試的測試結(jié)果相關(guān)聯(lián)的控制位來判斷是否禁止對電子裝置進(jìn)行進(jìn)一步處理，從基本裝配完成的眾多電子裝置中更加確定地將可能存在缺陷的電子裝置過濾出去，從而更有效地確保了最終提供給用戶的電子裝置的質(zhì)量。


從下面結(jié)合附圖對本發(fā)明的具體實(shí)施方式
的描述中可以更好地理解本發(fā)明，其中圖1是根據(jù)本發(fā)明一個實(shí)施例的用于對電子裝置的處理過程進(jìn)行控制的裝置的框圖；圖2是根據(jù)本發(fā)明一個實(shí)施例，圖1所示的用于對電子裝置的處理過程進(jìn)行控制的裝置執(zhí)行的處理過程的流程圖；圖3是根據(jù)本發(fā)明另一實(shí)施例的用于對電子裝置的處理過程進(jìn)行控制的方法的流程圖；圖4是根據(jù)本發(fā)明另一實(shí)施例的用于對電子裝置的處理過程進(jìn)行控制的裝置的框圖；以及圖5是根據(jù)本發(fā)明又一實(shí)施例的用于對電子裝置的處理過程進(jìn)行控制的裝置的框圖。
具體實(shí)施例方式下面將詳細(xì)描述本發(fā)明各個方面的特征和示例性實(shí)施例。下面的描述涵蓋了許多具體細(xì)節(jié)，以便提供對本發(fā)明的全面理解。但是，對于本領(lǐng)域技術(shù)人員來說顯而易見的是， 本發(fā)明可以在不需要這些具體細(xì)節(jié)中的一些細(xì)節(jié)的情況下實(shí)施。下面對實(shí)施例的描述僅僅是為了通過示出本發(fā)明的示例來提供對本發(fā)明更清楚的理解。本發(fā)明絕不限于下面所提出的任何具體配置和算法，而是在不脫離本發(fā)明的精神的前提下覆蓋了相關(guān)元素、部件和算法的任何修改、替換和改進(jìn)。一般，電子裝置中存在用于存儲與一系列測試設(shè)備對該電子裝置進(jìn)行測試的測試結(jié)果相關(guān)聯(lián)的控制位的存儲空間。本發(fā)明提供了一種根據(jù)測試設(shè)備設(shè)置的控制位來確定是否對電子裝置進(jìn)行出廠前的進(jìn)一步處理的裝置和方法。圖1示出了根據(jù)本發(fā)明一個實(shí)施例的用于對電子裝置的處理過程進(jìn)行控制的裝置的框圖。圖2示出了圖1所示裝置執(zhí)行的對電子裝置的處理過程進(jìn)行控制的方法的流程圖。如圖1所示，用于對電子裝置的處理過程進(jìn)行控制的裝置100包括控制位獲取單元102和控制執(zhí)行單元104。其中，控制位獲取單元102從電子裝置獲取與多個測試設(shè)備對電子裝置進(jìn)行測試的測試結(jié)果相關(guān)聯(lián)的控制位(即，執(zhí)行圖2中方法200的步驟S202)，其中，多個測試設(shè)備中的每一個測試設(shè)備對電子裝置進(jìn)行一系列測試并根據(jù)其進(jìn)行的一系列測試的測試結(jié)果對與其進(jìn)行的一系列測試的測試結(jié)果相關(guān)聯(lián)的控制位進(jìn)行設(shè)置?？刂茍?zhí)行單元104根據(jù)與多個測試設(shè)備中的每一個測試設(shè)備進(jìn)行的一系列測試的測試結(jié)果相關(guān)聯(lián)的控制位來判斷是否禁止對電子裝置進(jìn)行下一步處理(即，執(zhí)行圖2中方法200的步驟S204)。在一個示例中，與一個測試設(shè)備對電子裝置進(jìn)行的一系列測試的測試結(jié)果相關(guān)聯(lián)的控制位包括指示電子 裝置是否通過了該測試設(shè)備處的測試的一個或多個指示位。所述指示位至少指示出電子裝置“通過”或“未通過”該測試設(shè)備處的測試。在一個進(jìn)一步的示例中，指示電子裝置是否通過了該測試設(shè)備處的測試的指示位指示出如下內(nèi)容該測試設(shè)備未對電子裝置進(jìn)行任何測試、該測試設(shè)備未完成對電子裝置的所有測試、該電子裝置通過了該測試設(shè)備的測試、或者該電子裝置沒有通過該測試設(shè)備的測試。只有當(dāng)用于對電子裝置的處理過程進(jìn)行控制的裝置100中的控制執(zhí)行單元104判斷出用于任一測試設(shè)備的控制位都指示“通過”時，才可能允許電子裝置進(jìn)行下一步處理，例如允許電子裝置出廠。在一個進(jìn)一步的示例中，與一個測試設(shè)備對電子裝置進(jìn)行的一系列測試的測試結(jié)果相關(guān)聯(lián)的控制位除了包括指示電子裝置是否通過了該測試設(shè)備處的測試的指示位以外， 還包括指示在該一系列測試過程中電子裝置經(jīng)歷的失敗測試的數(shù)目的標(biāo)志位。通常，在一個測試設(shè)備處對電子裝置進(jìn)行一系列測試，當(dāng)其中出現(xiàn)測試失敗的情況時，有可能由測試設(shè)備自動地或由測試人員手動地對該電子裝置重新進(jìn)行失敗的測試，而當(dāng)重新測試通過時仍記為“通過”。因此，即使是“通過”了測試的電子裝置仍可能經(jīng)歷過一次或多次測試失敗，而測試失敗的次數(shù)可能指示了該產(chǎn)品的健康狀況。在本示例中，在用于對電子裝置的處理過程進(jìn)行控制的裝置100中的控制執(zhí)行單元104判斷出用于一測試設(shè)備的控制位指示電子裝置“通過” 了測試后，還檢查用于該測試設(shè)備的控制位當(dāng)中指示失敗測試的數(shù)目的標(biāo)志位。如果這些標(biāo)志位指示在該一個測試設(shè)備對電子裝置進(jìn)行一系列測試的過程中電子裝置經(jīng)歷的失敗測試的數(shù)目超過了與該一個測試設(shè)備相關(guān)聯(lián)的預(yù)定閾值，則禁止對電子裝置進(jìn)行下一步處理。換言之，只有當(dāng)電子裝置通過了所有測試且先前的測試失敗次數(shù)不超過規(guī)定的值時，才允許對電子裝置進(jìn)行下一步處理，例如允許電子裝置出廠。以下參考表1和表2給出與測試設(shè)備對電子裝置進(jìn)行的一系列測試的測試結(jié)果相關(guān)聯(lián)的控制位的一個具體示例。在該示例中，對每個測試設(shè)備分配了 5個控制位，其中，控制位0和控制位1(如表1中所示)指示電子裝置是否通過了該測試設(shè)備處的測試，而控制位2至控制位4(如表2中所示)表示電子裝置經(jīng)受的失敗測試的次數(shù)。表 權(quán)利要求
1.一種用于對電子裝置的處理過程進(jìn)行控制的方法，包括獲取與多個測試設(shè)備對所述電子裝置進(jìn)行測試的測試結(jié)果相關(guān)聯(lián)的控制位，其中，所述多個測試設(shè)備中的每一個測試設(shè)備對所述電子裝置進(jìn)行一系列測試并根據(jù)其進(jìn)行的一系列測試的測試結(jié)果對與其進(jìn)行的一系列測試的測試結(jié)果相關(guān)聯(lián)的控制位進(jìn)行設(shè)置；以及根據(jù)與所述多個測試設(shè)備中的每一個測試設(shè)備進(jìn)行的一系列測試的測試結(jié)果相關(guān)聯(lián)的控制位來判斷是否禁止對所述電子裝置進(jìn)行下一步處理。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的用于對電子裝置的處理過程進(jìn)行控制的方法，其特征在于， 如果與所述多個測試設(shè)備中的一個測試設(shè)備進(jìn)行的一系列測試的測試結(jié)果相關(guān)聯(lián)的控制位指示在所述一個測試設(shè)備對所述電子裝置進(jìn)行一系列測試的過程中所述電子裝置經(jīng)歷的失敗測試的數(shù)目超過了與所述一個測試設(shè)備相關(guān)聯(lián)的預(yù)定閾值，則禁止對所述電子裝置進(jìn)行下一步處理。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的用于對電子裝置的處理過程進(jìn)行控制的方法，其特征在于， 與所述多個測試設(shè)備中的一個測試設(shè)備進(jìn)行的一系列測試的測試結(jié)果相關(guān)聯(lián)的控制位包括指示以下內(nèi)容的一個或多個指示位所述一個測試設(shè)備未對所述電子裝置進(jìn)行任何測試、所述一個測試設(shè)備未完成對所述電子裝置的所有測試、所述電子裝置通過了所述一個測試設(shè)備的測試、或者所述電子裝置沒有通過所述一個測試設(shè)備的測試。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的用于對電子裝置的處理過程進(jìn)行控制的方法，其特征在于， 如果與所述一個測試設(shè)備進(jìn)行的一系列測試的測試結(jié)果相關(guān)聯(lián)的控制位指示所述電子裝置通過了所述一個測試設(shè)備的測試、且在所述一個測試設(shè)備對所述電子裝置進(jìn)行一系列測試的過程中所述電子裝置經(jīng)歷的失敗測試的次數(shù)未超過與所述一個測試設(shè)備相關(guān)聯(lián)的預(yù)定閾值，則不禁止對所述電子裝置進(jìn)行下一步處理，否則禁止對所述電子裝置進(jìn)行下一步處理。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的用于對電子裝置的處理過程進(jìn)行控制的方法，其特征在于， 所述獲取控制位的步驟還包括獲取與所述多個測試設(shè)備中的一個測試設(shè)備進(jìn)行的一系列測試的測試結(jié)果相關(guān)聯(lián)的中毒位，并且所述判斷步驟還包括如果所述中毒位被設(shè)置為預(yù)定值，則禁止對所述電子裝置進(jìn)行下一步處理。
6.根據(jù)權(quán)利要求1至5中任一項(xiàng)所述的用于對電子裝置的處理過程進(jìn)行控制的方法， 其特征在于，與所述多個測試設(shè)備對所述電子裝置進(jìn)行測試的測試結(jié)果相關(guān)聯(lián)的控制位被存儲在所述電子裝置內(nèi)的存儲裝置中。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的用于對電子裝置的處理過程進(jìn)行控制的方法，其特征在于， 所述方法還包括從所述電子裝置獲取所述電子裝置中存儲的所述電子裝置由于特定故障陷入停滯或重啟狀態(tài)的次數(shù)或由于一個或多個故障陷入停滯或重啟狀態(tài)的次數(shù)總和；根據(jù)所述電子裝置由于特定故障陷入停滯或重啟狀態(tài)的次數(shù)或由于一個或多個故障陷入停滯或重啟狀態(tài)的次數(shù)總和，判斷是否禁止對所述電子裝置進(jìn)行下一步處理。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的用于對電子裝置的處理過程進(jìn)行控制的方法，其特征在于， 當(dāng)所述電子裝置由于特定故障陷入停滯或重啟狀態(tài)的次數(shù)超過第一預(yù)定次數(shù)或所述電子裝置由于一個或多個故障陷入停滯或重啟狀態(tài)的次數(shù)總和超過第二預(yù)定次數(shù)時，禁止對所述電子裝置進(jìn)行下一步處理。
9.根據(jù)權(quán)利要求7所述的用于對電子裝置的處理過程進(jìn)行控制的方法，其特征在于， 在獲取所述電子裝置由于特定故障陷入停滯或重啟狀態(tài)的次數(shù)的同時，獲取與所述特定故障相關(guān)聯(lián)的故障位置信息以及所述電子裝置由于所述特定故障上一次陷入停滯或重啟狀態(tài)的時間信息。
10.根據(jù)權(quán)利要求6所述的用于對電子裝置的處理過程進(jìn)行控制的方法，其特征在于， 所述方法還包括從所述電子裝置獲取所述電子裝置中存儲的在處理過程中對所述電子裝置的一個或多個部件進(jìn)行校準(zhǔn)的一個或多個調(diào)整量；根據(jù)在處理過程中對所述電子裝置的一個或多個部件進(jìn)行校準(zhǔn)的一個或多個調(diào)整量， 判斷是否禁止對所述電子裝置進(jìn)行下一步處理。
11.根據(jù)權(quán)利要求10所述的用于對電子裝置的處理過程進(jìn)行控制的方法，其特征在于，當(dāng)所述一個或多個調(diào)整量中的至少一個超出預(yù)定的調(diào)整范圍時，禁止對所述電子裝置進(jìn)行下一步處理。
12.一種用于對電子裝置的處理過程進(jìn)行控制的裝置，包括控制位獲取單元，被配置為獲取與多個測試設(shè)備對所述電子裝置進(jìn)行測試的測試結(jié)果相關(guān)聯(lián)的控制位，其中，所述多個測試設(shè)備中的每一個測試設(shè)備對所述電子裝置進(jìn)行一系列測試并根據(jù)其進(jìn)行的一系列測試的測試結(jié)果對與其進(jìn)行的一系列測試的測試結(jié)果相關(guān)聯(lián)的控制位進(jìn)行設(shè)置；以及控制執(zhí)行單元，被配置為根據(jù)與所述多個測試設(shè)備中的每一個測試設(shè)備進(jìn)行的一系列測試的測試結(jié)果相關(guān)聯(lián)的控制位來判斷是否禁止對所述電子裝置進(jìn)行下一步處理。
13.根據(jù)權(quán)利要求12所述的用于對電子裝置的處理過程進(jìn)行控制的裝置，其特征在于，如果與所述多個測試設(shè)備中的一個測試設(shè)備進(jìn)行的一系列測試的測試結(jié)果相關(guān)聯(lián)的控制位指示在所述一個測試設(shè)備對所述電子裝置進(jìn)行一系列測試的過程中所述電子裝置經(jīng)歷的失敗測試的數(shù)目超過了與所述一個測試設(shè)備相關(guān)聯(lián)的預(yù)定閾值，則所述控制執(zhí)行單元禁止對所述電子裝置進(jìn)行下一步處理。
14.根據(jù)權(quán)利要求12所述的用于對電子裝置的處理過程進(jìn)行控制的裝置，其特征在于，與所述多個測試設(shè)備中的一個測試設(shè)備進(jìn)行的一系列測試的測試結(jié)果相關(guān)聯(lián)的控制位包括指示以下內(nèi)容的一個或多個指示位所述一個測試設(shè)備未對所述電子裝置進(jìn)行任何測試、所述一個測試設(shè)備未完成對所述電子裝置的所有測試、所述電子裝置通過了所述一個測試設(shè)備的測試、或者所述電子裝置沒有通過所述一個測試設(shè)備的測試。
15.根據(jù)權(quán)利要求14所述的用于對電子裝置的處理過程進(jìn)行控制的裝置，其特征在于，如果與所述一個測試設(shè)備進(jìn)行的一系列測試的測試結(jié)果相關(guān)聯(lián)的控制位指示所述電子裝置通過了所述一個測試設(shè)備的測試、且在所述一個測試設(shè)備對所述電子裝置進(jìn)行一系列測試的過程中所述電子裝置經(jīng)歷的失敗測試的次數(shù)未超過與所述一個測試設(shè)備相關(guān)聯(lián)的預(yù)定閾值，則所述控制執(zhí)行單元不禁止對所述電子裝置進(jìn)行下一步處理，否則所述控制執(zhí)行單元禁止對所述電子裝置進(jìn)行下一步處理。
16.根據(jù)權(quán)利要求12所述的用于對電子裝置的處理過程進(jìn)行控制的裝置，其特征在于，所述控制位獲取單元還被配置為獲取與所述多個測試設(shè)備中的一個測試設(shè)備進(jìn)行的一系列測試的測試結(jié)果相關(guān)聯(lián)的中毒位，并且所述控制執(zhí)行單元還被配置為如果所述中毒位被設(shè)置為預(yù)定值，則禁止對所述電子裝置進(jìn)行下一步處理。
17.根據(jù)權(quán)利要求12至16中任一項(xiàng)所述的用于對電子裝置的處理過程進(jìn)行控制的裝置，其特征在于，與所述多個測試設(shè)備對所述電子裝置進(jìn)行測試的測試結(jié)果相關(guān)聯(lián)的控制位被存儲在所述電子裝置內(nèi)的存儲裝置中。
18.根據(jù)權(quán)利要求17所述的用于對電子裝置的處理過程進(jìn)行控制的裝置，其特征在于，還包括故障信息獲取單元，被配置為從所述電子裝置獲取所述電子裝置中存儲的所述電子裝置由于特定故障陷入停滯或重啟狀態(tài)的次數(shù)或由于一個或多個故障陷入停滯或重啟狀態(tài)的次數(shù)總和；第一輔助執(zhí)行單元，被配置為根據(jù)所述電子裝置由于特定故障陷入停滯或重啟狀態(tài)的次數(shù)或由于一個或多個故障陷入停滯或重啟狀態(tài)的次數(shù)總和，判斷是否禁止對所述電子裝置進(jìn)行下一步處理。
19.根據(jù)權(quán)利要求18所述的用于對電子裝置的處理過程進(jìn)行控制的裝置，其特征在于，在所述電子裝置由于特定故障陷入停滯或重啟狀態(tài)的次數(shù)超過第一預(yù)定次數(shù)或所述電子裝置由于一個或多個故障陷入停滯或重啟狀態(tài)的次數(shù)總和超過第二預(yù)定次數(shù)的情況下， 所述第一輔助執(zhí)行單元禁止對所述電子裝置進(jìn)行下一步處理。
20.根據(jù)權(quán)利要求17所述的用于對電子裝置的處理過程進(jìn)行控制的裝置，其特征在于，所述故障信息獲取單元在從所述電子裝置獲取所述電子裝置由于特定故障陷入停滯或重啟狀態(tài)的次數(shù)的同時，獲取與所述特定故障相關(guān)聯(lián)的故障位置信息以及所述電子裝置由于所述特定故障上一次陷入停滯或重啟狀態(tài)的時間信息。
21.根據(jù)權(quán)利要求17所述的用于對電子裝置的處理過程進(jìn)行控制的裝置，其特征在于，還包括調(diào)整信息獲取單元，被配置為從所述電子裝置獲取所述電子裝置中存儲的在處理過程中對所述電子裝置的一個或多個部件進(jìn)行校準(zhǔn)的一個或多個調(diào)整量；第二輔助執(zhí)行單元，被配置為根據(jù)在處理過程中對所述電子裝置的一個或多個部件進(jìn)行校準(zhǔn)的一個或多個調(diào)整量，判斷是否禁止對所述電子裝置進(jìn)行下一步處理。
22.根據(jù)權(quán)利要求21所述的用于對電子裝置的處理過程進(jìn)行控制的裝置，其特征在于，所述第二輔助執(zhí)行單元在所述一個或多個調(diào)整量中的至少一個超出預(yù)定的調(diào)整范圍的情況下，禁止對所述電子裝置進(jìn)行下一步處理。
全文摘要
本申請公開了一種用于對電子裝置的處理過程進(jìn)行控制的方法和裝置。該方法包括獲取與多個測試設(shè)備對電子裝置進(jìn)行測試的測試結(jié)果相關(guān)聯(lián)的控制位，其中，該多個測試設(shè)備中的每一個測試設(shè)備對電子裝置進(jìn)行一系列測試并根據(jù)其進(jìn)行的一系列測試的測試結(jié)果對與其進(jìn)行的一系列測試的測試結(jié)果相關(guān)聯(lián)的控制位進(jìn)行設(shè)置；以及根據(jù)與該多個測試設(shè)備中的每一個測試設(shè)備進(jìn)行的一系列測試的測試結(jié)果相關(guān)聯(lián)的控制位來判斷是否禁止對電子裝置進(jìn)行下一步處理。
文檔編號G11C29/56GK102222526SQ20101014759
公開日2011年10月19日 申請日期2010年4月14日 優(yōu)先權(quán)日2010年4月14日
發(fā)明者托尼·俄伽扎瑞恩 申請人:蘋果公司