專利名稱：再現(xiàn)信號評估方法、信息記錄介質(zhì)、再現(xiàn)裝置、記錄裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及使用最大似然譯碼的信號處理方法以及利用最大似然譯碼評估信息 記錄介質(zhì)的方法。
背景技術(shù)：
近年來，由于信息記錄介質(zhì)的高密度化，記錄標(biāo)記的最短標(biāo)記長度正在接近依賴 于檢測系統(tǒng)的分辨率的極限。例如，在信息記錄介質(zhì)為光盤介質(zhì)的情況下，依賴于檢測系統(tǒng)的分辨率是指基于 將激光聚光后的光點(diǎn)的尺寸的光學(xué)分辨率。由于該分辨率有限，因此，符號之間干擾的增大以及SNR(信噪比Signal Noise Ratio)的惡化變得更加顯著，作為信號處理方法，PRML(部分響應(yīng)最大似然Partial Response Maximum Likelihood)方式等的應(yīng)用變得越來越普遍。PRML方式是將部分響應(yīng)(PR)和最大似然譯碼(ML)結(jié)合在一起的技術(shù)，是以已知 的符號之間發(fā)生干擾為前提，從再現(xiàn)波形中選擇最有可能的信號系列的方式。因此，為人所知的是與以往的電平判斷方式相比，譯碼性能提高(例如，非專利 文獻(xiàn)1)。另一方面，由于信號處理方式從電平判斷方式轉(zhuǎn)變?yōu)镻RML方式，因此，再現(xiàn)信號 的評效方法產(chǎn)生出新的課題。作為以往以來一直使用的再現(xiàn)信號評估指標(biāo)的抖動(jitter)，由于是以電平判斷 方式的信號處理為前提，因此，在與信號處理的算法不同于電平判斷的PRML方式的譯碼性 能無關(guān)的情況下出現(xiàn)。因此，在有些技術(shù)中提出了與PRML方式的譯碼性能有關(guān)的新指標(biāo)的方案(例如， 專利文獻(xiàn)1以及專利文獻(xiàn)2)。在此，考慮記錄再現(xiàn)質(zhì)量成為如圖25所示的分布被檢測出的情況。圖25的分布表示用長度為3T的標(biāo)記和長度為2T、3T、4T、5T的空格分成4類的差 分度量的分布，以及它們的合計(jì)的分布。T表示信道時(shí)鐘。雖然作為例子圖25只將3T的長度進(jìn)行了分類，但原本對于3T以外的長度的標(biāo)記 也進(jìn)行分類。存在以下的兩種情況，一種情況為如圖25(a)所示，即使以標(biāo)記長度和空格長度 進(jìn)行分類，在所有的組合中，相當(dāng)于分布寬度的SN成分也占主導(dǎo)地位；另一種情況為如圖 25(b)所示，如果用標(biāo)記長度和空格長度進(jìn)行分類，則雖然每個(gè)模式中的SN成分很好，但每 個(gè)模式中的相當(dāng)于從分布中心的偏離的位移成分不同，如果將各自的分布合計(jì)，則有時(shí)SN 成分看上去像是很差。在專利文獻(xiàn)1的指標(biāo)中，不能將差分度量的分布是根據(jù)SN成分還是根據(jù)位移成分 來區(qū)分開。專利文獻(xiàn)3可以解決該課題。
專利文獻(xiàn)3中提出的指標(biāo)可以通過標(biāo)記長度和空格長度的組合來檢測出標(biāo)記和 空格的位置偏離(邊緣偏離)。S卩，可以將用專利文獻(xiàn)1提出的指標(biāo)求出的記錄再現(xiàn)質(zhì)量區(qū)分為SN成分和位移成 分。通過將該SN成分和位移成分進(jìn)行區(qū)分，可以分析在哪個(gè)模式中發(fā)生了什么樣的錯誤。如上所述，如果信息記錄介質(zhì)的高密度化進(jìn)一步發(fā)展，則符號之間的干擾以及SN 的惡化會更成問題。非專利文獻(xiàn)1中記載了 為了維持信息記錄再現(xiàn)裝置的系統(tǒng)裕量，可以通過將 PRML方式設(shè)置為高次的方式來應(yīng)對。例如，在12cm的光盤介質(zhì)的記錄層每一層的記錄容量為25GB的情況下，通過采用 PR1221ML方式，可維持系統(tǒng)裕量。但是，還說明了在每一層的記錄容量為33. 3GB的情況下，需要采用PR12221ML方式。專利文獻(xiàn)1 :JP特開2003-141823號公報(bào)專利文獻(xiàn)2 :JP特開2004-213862號公報(bào)專利文獻(xiàn)3 :JP特開2004-335079號公報(bào)非專利文獻(xiàn)1 圖解藍(lán)光光盤解讀才一 ^公司(Ohmsha，Ltd)非專利文獻(xiàn)2 自適應(yīng)信號處理算法培風(fēng)館專利文獻(xiàn)3中提出了表示信息記錄介質(zhì)的記錄再現(xiàn)質(zhì)量的、可檢測出1個(gè)標(biāo)記和 1個(gè)空格的組合的位置偏離(邊緣偏離)的指標(biāo)。但是，如果信息記錄介質(zhì)高密度化，則會出現(xiàn)與檢測系統(tǒng)的分辨率相比極短的標(biāo) 記或空格，因此，需要考慮包括每份一個(gè)或一個(gè)以上的標(biāo)記和空格的組合形成的多個(gè)邊緣 的位置偏離。以下，對包括多個(gè)邊緣的位置偏離進(jìn)行說明。例如，通過使用具有405nm波長的藍(lán)色激光的12cm的光盤介質(zhì)進(jìn)行說明。根據(jù)非專利文獻(xiàn)1，當(dāng)用使用藍(lán)色激光的光盤介質(zhì)將激光聚光的光點(diǎn)尺寸為 390nm，在記錄符號中使用RLL(1，7)的記錄層每一層的記錄容量為25GB的情況下，最短標(biāo) 記的長度成為149nm。另外，利用該光盤介質(zhì)，使每一層的記錄容量為33. 3GB的情況下，最短標(biāo)記的長 度成為112nm。如果要測量進(jìn)一步的高密度化，則最短標(biāo)記的長度變得更短。當(dāng)使用相同的檢測系統(tǒng)的情況下，如圖26(a)所示，當(dāng)記錄容量為25GB時(shí)，尺寸為 在光點(diǎn)201中容納2. 6個(gè)最短的標(biāo)記；如圖26 (b)所示，當(dāng)記錄容量為33. 3GB時(shí)，尺寸變?yōu)?在光點(diǎn)201中容納3. 5個(gè)最短的標(biāo)記，相對于成為光盤介質(zhì)的檢測系統(tǒng)的光點(diǎn)尺寸的標(biāo)記 的長度變短。因此，進(jìn)入光點(diǎn)尺寸中的標(biāo)記和空格的組合不局限于每一份只有一個(gè)標(biāo)記和一個(gè) 空格的模式，也可以是具有多個(gè)標(biāo)記和空格的模式。因此，利用進(jìn)入光點(diǎn)尺寸中的標(biāo)記和空格的數(shù)量，來檢測受到包括多個(gè)邊緣的位 置偏離的影響的信號。
例如，如圖27(a)所示，1個(gè)標(biāo)記夾在2個(gè)空格中的模式，和如圖27 (b)所示，1個(gè) 空格夾在2個(gè)標(biāo)記中的模式包括2個(gè)邊緣。另外，如圖27(c)所示，包括2個(gè)標(biāo)記和2個(gè)空 格的模式包括3個(gè)邊緣。專利文獻(xiàn)3所記載的信息記錄介質(zhì)的記錄再現(xiàn)質(zhì)量的評估指標(biāo)只考慮到了包括 由標(biāo)記長度和空格長度的組合形成的1個(gè)邊緣偏離的情況，并沒有考慮到針對具有多個(gè)邊 緣的位置偏離，進(jìn)行記錄再現(xiàn)質(zhì)量評估。另外，非專利文獻(xiàn)1中記載了上述使用藍(lán)色激光的12cm的光盤介質(zhì)，需要使 每一層的記錄容量為33. 3GB，并采用PR12221ML方式；專利文獻(xiàn)3中記載了也可以采用 rai2221ML。在將RLL(1，7)用于記錄符號的光盤介質(zhì)中使用了 PR12221ML的情況下，存在以下 模式，即，最短標(biāo)記連續(xù)，且最有可能的狀態(tài)遷移串和第2有可能的狀態(tài)遷移串這兩個(gè)理想 的信號的歐幾里得距離的平方為12。關(guān)于該歐幾里得距離的平方為12的模式的詳細(xì)內(nèi)容，會在后面的說明書中進(jìn)行 闡述。在上述歐幾里得距離的平方為12的模式中，包括最短標(biāo)記，如圖27所示，且作為 包括多個(gè)邊緣的模式被檢測。但是，雖然能夠?qū)⑼ㄟ^PRML信號處理檢測出的包括多個(gè)邊緣偏離信息的檢測信 號指標(biāo)化，但是沒有考慮到將各自的邊緣如何偏離指標(biāo)化。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明是用于解決上述現(xiàn)有技術(shù)問題的發(fā)明，其目的是提供一種針對高密度化 的信息記錄介質(zhì)的記錄標(biāo)記的符號之間的干擾、或在信息記錄介質(zhì)中記錄信息時(shí)的熱干擾 引起的各種位置偏離，通過將包括多個(gè)邊緣的檢測信號按照每種模式分類，并指標(biāo)化，從而 評估記錄再現(xiàn)質(zhì)量的方法和裝置。本發(fā)明的再現(xiàn)信號評估方法，包括采用PRML信號處理方式，由通過可記錄組合 了標(biāo)記和空格的數(shù)據(jù)串的信息記錄介質(zhì)來再現(xiàn)上述數(shù)據(jù)串而獲得的信號，生成二進(jìn)制信號 的步驟；以及差分計(jì)算步驟，使用根據(jù)上述二進(jìn)制信號獲得的最有可能的第1狀態(tài)遷移串 以及第2有可能的第2狀態(tài)遷移串和再現(xiàn)信號，來計(jì)算差分度量，最短空格與最短標(biāo)記的前 方或后方相鄰的模式中的、上述最短標(biāo)記的邊緣偏離量由針對以下的第1模式和第2模式 中的一種模式計(jì)算出的差分度量而獲得，上述第1模式為與上述最短標(biāo)記相鄰且與上述 最短空格不相鄰的空格的長度比上述最短空格還長；上述第2模式為與上述最短空格相 鄰且與上述最短標(biāo)記不相鄰的標(biāo)記的長度比上述最短標(biāo)記還長。根據(jù)某實(shí)施方式，將上述數(shù)據(jù)串的標(biāo)準(zhǔn)周期設(shè)為T時(shí)，上述最短標(biāo)記以及上述最 短空格各自的長度為2T，在用“0”和“ 1，，表示上述最短標(biāo)記與上述最短空格相鄰的模式的 二進(jìn)制數(shù)據(jù)時(shí)，由針對上述二進(jìn)制數(shù)據(jù)成為"X000110011X，，或‘‘ X001100111 X，，( “ X，， 是“0”或“ 1”)的模式計(jì)算出的差分度量，獲得上述最短標(biāo)記的邊緣偏離量。根據(jù)某實(shí)施方式，在將上述數(shù)據(jù)串的標(biāo)準(zhǔn)周期設(shè)為T時(shí)，上述最短標(biāo)記以及上述 最短空格各自的長度為2T，在用“0”和“1”表示上述最短標(biāo)記與上述最短空格相鄰的模 式的二進(jìn)制數(shù)據(jù)用“0”和“1”表示時(shí)，由針對上述二進(jìn)制數(shù)據(jù)成為“ X 110011000X ”或“X111001100X”( “X”是“0”或“1”)的模式計(jì)算出的差分度量，獲得上述最短標(biāo)記的邊
緣偏離量。本發(fā)明的信息記錄介質(zhì)是可記錄組合了標(biāo)記和空格的數(shù)據(jù)串的信息記錄介質(zhì)，上 述信息記錄介質(zhì)具有用于記錄上述數(shù)據(jù)串的磁道，使用規(guī)定的方法對上述信息記錄介質(zhì)的 再現(xiàn)信號進(jìn)行評估，上述規(guī)定的方法包括采用PRML信號處理方式，由通過上述信息記錄 介質(zhì)來再現(xiàn)上述數(shù)據(jù)串而獲得的信號，生成二進(jìn)制信號的步驟；以及差分計(jì)算步驟，使用根 據(jù)上述二進(jìn)制信號獲得的最有可能的第1狀態(tài)遷移串以及第2有可能的第2狀態(tài)遷移串和 再現(xiàn)信號，來計(jì)算差分度量，最短空格與最短標(biāo)記的前方或后方相鄰的模式中的、上述最短 標(biāo)記的邊緣偏離量，由針對以下的第1模式和第2模式中的一種模式計(jì)算出的差分度量而 獲得，上述第1模式為與上述最短標(biāo)記相鄰且與上述最短空格不相鄰的空格的長度比上 述最短空格還長；上述第2模式為與上述最短空格相鄰且與上述最短標(biāo)記不相鄰的標(biāo)記 的長度比上述最短標(biāo)記還長。本發(fā)明的再現(xiàn)裝置是用于再現(xiàn)上述信息記錄介質(zhì)的再現(xiàn)裝置，具有向上述磁道照 射激光的照射部；接受上述照射的激光的反射光的受光部；和根據(jù)通過上述受光而得到的 信號來再現(xiàn)上述數(shù)據(jù)串的再現(xiàn)部。本發(fā)明的記錄裝置是用于在上述信息記錄介質(zhì)中記錄信息的記錄裝置，具有向上 述磁道照射激光的照射部；和通過上述照射而在上述磁道中形成標(biāo)記，記錄將上述標(biāo)記與 在上述標(biāo)記之間的空格進(jìn)行了交替排串的數(shù)據(jù)串的記錄部。本發(fā)明的再現(xiàn)信號評估方法是評估從可記錄組合了標(biāo)記和空格的數(shù)據(jù)串的信息 記錄介質(zhì)中獲得的再現(xiàn)信號的方法，包括從上述數(shù)據(jù)串中識別規(guī)定的模式的識別步驟； 以及進(jìn)行與上述被識別的模式對應(yīng)的再現(xiàn)信號的評估的評估步驟，上述識別步驟包括以下 2個(gè)識別步驟，即識別模式的步驟，其中該模式包括上述數(shù)據(jù)串中所包含的第1標(biāo)記；與 上述第1標(biāo)記的前方或后方相鄰的第1空格；和與上述第1標(biāo)記不相鄰、且與上述第1空格 相鄰的第2標(biāo)記；在上述第1空格以及上述第2標(biāo)記各自的長度為規(guī)定的長度以下的情況 下，識別與上述第1標(biāo)記不相鄰、且與上述第2標(biāo)記相鄰的第2空格是否比上述規(guī)定的長度 長的步驟。本發(fā)明的信息記錄介質(zhì)是可記錄組合了標(biāo)記和空格的數(shù)據(jù)串的信息記錄介質(zhì)，上 述信息記錄介質(zhì)具有用于記錄上述數(shù)據(jù)串的磁道，使用規(guī)定的方法對上述信息記錄介質(zhì)的 再現(xiàn)信號進(jìn)行評估，上述規(guī)定的方法包括從上述數(shù)據(jù)串中識別規(guī)定的模式的識別步驟； 以及進(jìn)行與上述被識別的模式對應(yīng)的再現(xiàn)信號的評估的評估步驟，上述識別步驟包括以下 2個(gè)識別步驟，即識別模式的步驟，其中該模式包括上述數(shù)據(jù)串中所包含的第1標(biāo)記；與 上述第1標(biāo)記的前方或后方相鄰的第1空格；和與上述第1標(biāo)記不相鄰、且與上述第1空格 相鄰的第2標(biāo)記；在上述第1空格以及上述第2標(biāo)記的各自長度為規(guī)定的長度以下的情況 下，識別與上述第1標(biāo)記不相鄰、且與上述第2標(biāo)記相鄰的第2空格是否比上述規(guī)定的長度 長的步驟。本發(fā)明的再現(xiàn)裝置是用于再現(xiàn)上述信息記錄介質(zhì)的再現(xiàn)裝置，具有向上述磁道照 射激光的照射部；接受上述照射的激光的反射光的受光部；和根據(jù)通過上述受光而得到的 信號來再現(xiàn)上述數(shù)據(jù)串的再現(xiàn)部。本發(fā)明的記錄裝置是用于在上述信息記錄介質(zhì)中記錄信息的記錄裝置，具有向上述磁道照射激光的照射部；和通過上述照射而在上述磁道中形成標(biāo)記，記錄將上述標(biāo)記與 在上述標(biāo)記之間的空格進(jìn)行了交替排列的數(shù)據(jù)串的記錄部。本發(fā)明的再現(xiàn)信號評估方法是評估從可記錄組合了標(biāo)記和空格的數(shù)據(jù)串的信息 記錄介質(zhì)中獲得的再現(xiàn)信號的方法，包括從上述數(shù)據(jù)串中識別規(guī)定的模式的識別步驟； 以及進(jìn)行與上述被識別的模式對應(yīng)的再現(xiàn)信號的評估的評估步驟，上述識別步驟包括以下 2個(gè)識別步驟，即識別模式的步驟，其中該模式包括上述數(shù)據(jù)串中所包含的第1標(biāo)記；與 上述第1標(biāo)記的前方或后方相鄰的第1空格；和與上述第1空格不相鄰、且與上述第1標(biāo)記 相鄰的第3空格；在上述第1標(biāo)記以及上述第3空格各自的長度為規(guī)定的長度以下的情況 下，識別與上述第1空格不相鄰、且與上述第3空格相鄰的第3標(biāo)記是否比上述規(guī)定的長度 長的步驟。本發(fā)明的信息記錄介質(zhì)是可記錄組合了標(biāo)記和空格的數(shù)據(jù)串的信息記錄介質(zhì)，上 述信息記錄介質(zhì)具有用于記錄上述數(shù)據(jù)串的磁道，使用規(guī)定的方法對上述信息記錄介質(zhì)的 再現(xiàn)信號進(jìn)行評估，上述規(guī)定的方法包括從上述數(shù)據(jù)串中識別規(guī)定的模式的識別步驟； 以及進(jìn)行與上述被識別的模式對應(yīng)的再現(xiàn)信號的評估的評估步驟，上述識別步驟包括以下 2個(gè)識別步驟，即識別模式的步驟，其中該模式包括上述數(shù)據(jù)串中所包含的第1標(biāo)記；與 上述第1標(biāo)記的前方或后方相鄰的第1空格；和與上述第1空格不相鄰、且與上述第1標(biāo)記 相鄰的第3空格；在上述第1標(biāo)記以及上述第3空格各自的長度為規(guī)定的長度以下的情況 下，與上述第1空格不相鄰、且與上述第3空格相鄰的第3標(biāo)記是否比上述規(guī)定的長度長的 步驟。本發(fā)明的再現(xiàn)裝置是用于再現(xiàn)上述信息記錄介質(zhì)的再現(xiàn)裝置，具有向上述磁道照 射激光的照射部；接受上述照射的激光的反射光的受光部；和根據(jù)通過上述受光而得到的 信號來再現(xiàn)上述數(shù)據(jù)串的再現(xiàn)部。本發(fā)明的記錄裝置是用于在上述信息記錄介質(zhì)中記錄信息的記錄裝置，具有向上 述磁道照射激光的照射部；通過上述照射而在上述磁道中形成標(biāo)記，記錄將上述標(biāo)記與在 上述標(biāo)記之間的空格進(jìn)行了交替排列的數(shù)據(jù)串的記錄部。(發(fā)明的效果)根據(jù)本發(fā)明，2T連續(xù)模式即2T/2T部分的最短標(biāo)記的邊緣偏離量是通過計(jì)算在 2T/2T部分之前或之后包括3T以上的長度的標(biāo)記或空格的模式的差分度量而獲得的。由 此，即使在不能充分獲得2T/2T部分的信號振幅變化的情況下，也能檢測2T/2T部分的最短 標(biāo)記的邊緣偏離量。本發(fā)明的信號評估方法，是在具有交替地排列了標(biāo)記和空格的數(shù)據(jù)串的信息記錄 介質(zhì)中，利用PRML信號處理方式由再現(xiàn)了上述數(shù)據(jù)串的信號生成二進(jìn)制信號，評估上述二 進(jìn)制信號的確切性的信號評估方法，從上述二進(jìn)制信號計(jì)算出作為最有可能的第1狀態(tài)遷 移串和第2有可能的第2狀態(tài)遷移串的、與再現(xiàn)信號之差的差分度量，將上述差分度量分類 成每個(gè)包括至少一個(gè)標(biāo)記和至少一個(gè)空格的多個(gè)數(shù)據(jù)模式，上述各數(shù)據(jù)模式的分類是利用 上述數(shù)據(jù)串中所包含的第1標(biāo)記的長度和位于與上述第1標(biāo)記的前方或后方相鄰的位置的 第1空格的長度的組合，來進(jìn)行分類的，并根據(jù)位于與上述第1標(biāo)記不相鄰、且與上述第1 空格相鄰的位置上的第2標(biāo)記的長度，進(jìn)一步進(jìn)行分類，由此，能夠評估信息記錄介質(zhì)的再 現(xiàn)信號質(zhì)量，并且能夠?qū)⒅辽侔?個(gè)以上的邊緣的每個(gè)數(shù)據(jù)模式的邊緣偏離指標(biāo)化。
另外，本發(fā)明的信號評估方法，是在具有交替地排列了標(biāo)記和空格的數(shù)據(jù)串的信 息記錄介質(zhì)中，利用PRML信號處理方式由再現(xiàn)了上述數(shù)據(jù)串的信號生成二進(jìn)制信號，評估 上述二進(jìn)制信號的確切性的信號評估方法，從上述二進(jìn)制信號計(jì)算出作為最有可能的第1 狀態(tài)遷移串和第2有可能的第2狀態(tài)遷移串的、與再現(xiàn)信號之差的差分度量，將上述差分度 量分類成每個(gè)包括至少一個(gè)標(biāo)記和至少一個(gè)空格的多個(gè)數(shù)據(jù)模式，上述各數(shù)據(jù)模式的分類 是利用上述數(shù)據(jù)串中所包含的第1標(biāo)記的長度和位于與上述第1標(biāo)記的前方或后方相鄰的 位置的第1空格的長度的組合，來進(jìn)行分類的，并根據(jù)位于與上述第1空格不相鄰、且與上 述第1標(biāo)記相鄰的位置上的第3空格的長度，進(jìn)一步進(jìn)行分類，由此，能夠評估信息記錄介 質(zhì)的再現(xiàn)信號質(zhì)量，并且能夠?qū)⒅辽侔?個(gè)以上的邊緣的每個(gè)數(shù)據(jù)模式的邊緣偏離指標(biāo) 化。


圖1是表示本發(fā)明的實(shí)施方式中的光盤裝置的圖。圖2是表示本發(fā)明的實(shí)施方式中的由RLL(1，7)記錄符號和均衡方式PR(1，2，2，2， 1)確定的狀態(tài)遷移規(guī)則的圖。圖3是與圖2所示的狀態(tài)遷移規(guī)則對應(yīng)的網(wǎng)格圖。
圖4是表示本發(fā)明的實(shí)施方式中的表1所示的ra均衡理想波形的圖。圖5是表示本發(fā)明的實(shí)施方式中的表2所示的冊均衡理想波形的圖。圖6是表示本發(fā)明的實(shí)施方式中的表3所示的冊均衡理想波形的圖。圖7是表示本發(fā)明的實(shí)施方式中的PR(1，2，2，2，1)ML的檢測模式14的差分度量 的每個(gè)詳細(xì)模式的分類的圖。圖8是表示本發(fā)明的實(shí)施方式中的PR(1，2，2，2，1)ML的檢測模式12A的差分度量 的每個(gè)詳細(xì)模式的分類的圖。圖9是表示本發(fā)明的實(shí)施方式中的？1 (1，2，2，2，1)1^的檢測模式128的差分度量 的每個(gè)詳細(xì)模式的分類的圖。圖10是表示本發(fā)明的實(shí)施方式中的PR(1，2，2，2，1)ML的差分度量的分布的圖。圖11是表示本發(fā)明的實(shí)施方式中的PR(1，2，2，2，1)ML的各歐幾里得距離模式中 的差分度量的分布的圖。圖12是表示本發(fā)明的實(shí)施方式中的表1所示的檢測模式14的冊均衡理想波形、 再現(xiàn)波形和標(biāo)記的偏離的關(guān)系的一個(gè)例子的圖。圖13是表示本發(fā)明的實(shí)施方式中的表2所示的檢測模式12A的冊均衡理想波形、 再現(xiàn)波形和標(biāo)記的偏離的關(guān)系的一個(gè)例子的圖。圖14是表示本發(fā)明的實(shí)施方式中的表1所示的檢測模式12B的冊均衡理想波形、 再現(xiàn)波形和標(biāo)記的偏離的關(guān)系的一個(gè)例子的圖。圖15是表示本發(fā)明的實(shí)施方式中的多層盤的構(gòu)成例的圖。圖16是表示本發(fā)明的實(shí)施方式中的單層盤的構(gòu)成例的圖。圖17是表示本發(fā)明的實(shí)施方式中的二層盤的構(gòu)成例的圖。圖18是表示本發(fā)明的實(shí)施方式中的三層盤的構(gòu)成例的圖。圖19是表示本發(fā)明的實(shí)施方式中的四層盤的構(gòu)成例的圖。
圖20是表示本發(fā)明的實(shí)施方式中的光盤的物理結(jié)構(gòu)的圖。圖21 (a)是表示本發(fā)明的實(shí)施方式中的25GB的BD的例子的圖，(b)是表示記錄 密度比本發(fā)明的實(shí)施方式中的25GB的BD高的光盤的例子的圖。圖22是表示向本發(fā)明的實(shí)施方式中的磁道上所記錄的標(biāo)記串照射光束的情況的 圖。圖23是表示本發(fā)明的實(shí)施方式中的25GB記錄容量的情況下的0TF和最短記錄標(biāo) 記的關(guān)系的圖。圖24是表示本發(fā)明的實(shí)施方式中的最短標(biāo)記(2T)的空間頻率比0TF截?cái)囝l率 高，并且2T的再現(xiàn)信號的振幅成為0的例子的圖。圖25是表示每個(gè)模式的差分度量的分布的一個(gè)例子的圖。圖26是表示光點(diǎn)尺寸和標(biāo)記長度的關(guān)系的一個(gè)例子的圖。圖27是表示光點(diǎn)尺寸和包括多個(gè)邊緣的模式的關(guān)系的一個(gè)例子的圖。1信息記錄介質(zhì)2光頭部3前置放大器部4AGC 部5波形均衡部6A/D 轉(zhuǎn)換部7PLL 部8PR均衡部9最大似然譯碼部10信號評估指標(biāo)檢測部15光盤控制器部100光盤裝置101、104、107 模式檢測部102、105、108差分度量計(jì)算部103、106、109 存儲器部21、22檢測模式14的冊均衡理想波形23、29、33、39檢測模式14的再現(xiàn)波形24、34檢測模式14的冊均衡理想波形的空格25,35檢測模式14的冊均衡理想波形的標(biāo)記26、30、36、40檢測模式14的再現(xiàn)波形的空格27、31、37、41檢測模式14的再現(xiàn)波形的標(biāo)記28、32、38、42檢測模式14的偏離量51,52檢測模式12A的冊均衡理想波形53檢測模式12A的再現(xiàn)波形54,56檢測模式12A的冊均衡理想波形的空格55檢測模式12A的冊均衡理想波形的標(biāo)記57,59檢測模式12A的再現(xiàn)波形的空格
58檢測模式12A的再現(xiàn)波形的標(biāo)記60檢測模式12A的偏離量71,72檢測模式12B的冊均衡理想波形73檢測模式12B的再現(xiàn)波形74,76檢測模式12B的冊均衡理想波形的空格75,77檢測模式12B的冊均衡理想波形的標(biāo)記78,80檢測模式12B的再現(xiàn)波形的空格79,81檢測模式12B的再現(xiàn)波形的標(biāo)記82檢測模式12B的偏離量201光點(diǎn)尺寸
具體實(shí)施例方式以下，參照附圖對本發(fā)明的實(shí)施方式進(jìn)行說明。對于相同的技術(shù)特征標(biāo)注相同的 附圖符號，并省略相同的說明。使用圖1對本發(fā)明的實(shí)施方式中的利用PRML方式的光盤裝置(信號評估裝置) 進(jìn)行說明。光盤裝置使用PRML信號處理方式進(jìn)行對通過可記錄組合了標(biāo)記和空格的數(shù)據(jù) 串的信息記錄介質(zhì)來再現(xiàn)該數(shù)據(jù)串而得到的信號的評估。在光盤裝置中，在再現(xiàn)系統(tǒng)的 信號處理中采用PR12221ML方式，在記錄符號中使用RLL(1，7)符號等的RLL(Rim Length Limited)符號。首先，參照圖2以及圖3，對TO12221進(jìn)行簡單說明。圖2是表示由RLL(1， 7)記錄符號和均衡方式PR(1，2，2，2，1)規(guī)定的狀態(tài)遷移規(guī)則的狀態(tài)遷移圖。圖3是與圖2 所示的狀態(tài)遷移規(guī)則對應(yīng)的網(wǎng)格圖。根據(jù)PR12221ML和RLL(1，7)的組合，譯碼部的狀態(tài)數(shù)被限制為10，該狀態(tài)遷移的 路徑數(shù)為16，再現(xiàn)電平成為9級。參照圖2所示的PR12221ML的狀態(tài)遷移規(guī)則，將某一時(shí)刻的狀態(tài)S (0，0，0，0)表示 為S0，將狀態(tài)S(0，0，0，1)表示為S1，將狀態(tài)S(0，0，1，1)表示為S2，將狀態(tài)S(0，1，1，1)表 示為S3，將狀態(tài)S(l，l，l，l)表示為S4，將狀態(tài)S(1，1，1，0)表示為S5，將狀態(tài)S(1，1，0，0) 表示為S6，將狀態(tài)S(1，0，0，0)表示為S7，將狀態(tài)S(1，0，0，1)表示為S8，將狀態(tài)S(0，1，1， 0)表示為S9，一共表示10個(gè)狀態(tài)。在此，括號中記載的“0”或“1”表示時(shí)間軸上的信號系 列，表示從某個(gè)狀態(tài)開始到下一時(shí)刻的狀態(tài)遷移，有成為何種狀態(tài)的可能性。另外，如果將 該狀態(tài)遷移圖沿時(shí)間軸展開，則獲得如圖3所示的網(wǎng)格圖。在圖3所示的PR12221ML的狀態(tài)遷移中，從某個(gè)時(shí)刻的規(guī)定狀態(tài)遷移到其他時(shí)刻 的所規(guī)定狀態(tài)時(shí)，可以獲取2個(gè)狀態(tài)遷移的狀態(tài)遷移串模式(狀態(tài)的組合)有無數(shù)個(gè)。但 是，引起錯誤的可能性高的模式限定為很難判別的特定的模式。如果著眼于該特別容易發(fā) 生錯誤的模式，則rai2221ML的狀態(tài)遷移串模式可以總結(jié)為表1、表2以及表3所示。表1
第4列表示經(jīng)過各自的狀態(tài)遷移的情況下的兩個(gè)理想的再現(xiàn)波形(ra等效理想 值)，第5列表示這兩個(gè)理想信號的歐幾里得距離的平方(路徑之間的歐幾里得距離)。表1表示可取得2個(gè)狀態(tài)遷移的狀態(tài)遷移模式的歐幾里得距離的平方為14的狀 態(tài)遷移模式，有18種。這些模式相當(dāng)于光盤介質(zhì)的標(biāo)記和空格的轉(zhuǎn)換部分(波形的邊緣部分)。換言之，是邊緣的1比特位移錯誤的模式。作為一個(gè)例子，對圖3所示的狀態(tài)遷移規(guī)則中的從S0(k_5)到S6(k)的狀態(tài)遷移 路徑進(jìn)行說明。在該情況下，若記錄系列遷移為“0，0，0，0，1，1，1，0，0 ”的1個(gè)路徑被檢測出，且將
再現(xiàn)數(shù)據(jù)的“0”置換為空格部分，將“1”置換為標(biāo)記部分考慮，則相當(dāng)于長度為4T空格以 上的空格、3T標(biāo)記、長度為2T空格以上的空格。圖4為表示表1所示的上述記錄系列的ra均衡理想波形的一個(gè)例子的圖。將上 述所示的記錄系列的ra均衡理想波形作為圖4的A路徑波形進(jìn)行表示。同樣，圖5是表示表2所示的冊均衡理想波形的一個(gè)例子的圖。圖6是表示表3所示的冊均衡理想波形的一個(gè)例子的圖。在圖4、圖5以及圖6中，橫軸表示取樣時(shí)間(按記錄系列的每1個(gè)時(shí)刻進(jìn)行取 樣)，縱軸表示再現(xiàn)信號電平。如上所述，在rai2221ML中，理想的再現(xiàn)信號有9個(gè)電平(從0級到8級)。在圖3所示的狀態(tài)遷移規(guī)則中的從S0(k_5)到S6(k)的狀態(tài)遷移路徑中，如果將 再現(xiàn)數(shù)據(jù)的“0”置換為空格部分，將“ 1”置換為標(biāo)記部分考慮，則另外一個(gè)路徑的記錄系列 的遷移“0，0，0，0，0，1，1，0，0”相當(dāng)于長度為5丁空格以上的空格、2T標(biāo)記、長度為2T空格以 上的空格。將該路徑的ra等效理想波形在圖4中作為B路徑波形表示。表1所示的歐幾里得距離的平方為14的模式的特征在于，一定包含1個(gè)邊緣信 肩、o表2表示歐幾里得距離的平方成為12的狀態(tài)遷移模式，有18種。這些模式相當(dāng)于2T標(biāo)記或2T空格的位移錯誤，為2比特錯誤的模式。作為一個(gè)例子，對圖3所示的狀態(tài)遷移規(guī)則中的從S0(k_7)到S0(k)的狀態(tài)遷移 路徑進(jìn)行說明。在該情況下，若記錄系列遷移為“ 0，0，0，0，1，1，0，0，0，0，0”的1個(gè)路徑被檢測出，
且再現(xiàn)數(shù)據(jù)的“0”置換為空格部分，將“1”置換為標(biāo)記部分考慮，則相當(dāng)于長度為4T空格 以上的空格、2T標(biāo)記、長度為5T空格以上的空格。將該路徑的ra等效理想波形在圖5中作為A路徑波形表示。如果將再現(xiàn)數(shù)據(jù)的“0”置換為空格部分，將“1”置換為標(biāo)記部分考慮，則另外一個(gè) 路徑的記錄系列的遷移“0，0，0，0，0，1，1，0，0，0，0”相當(dāng)于長度為5丁空格以上的空格、2T標(biāo) 記、長度為4T空格以上的空格。將該路徑的ra等效理想波形在圖5中作為B路徑波形表示。表2所示的歐幾里得距離的平方為12的模式的特征在于，一定包含2個(gè)2T的開 始以及停止的邊緣信息。
表3表示另一種歐幾里得距離的平方成為12的狀態(tài)遷移列模式，有18種。這些模式相當(dāng)于2T標(biāo)記和2T空格連續(xù)之處，且是3比特錯誤的模式。作為一個(gè)例子，對圖3所示的狀態(tài)遷移規(guī)則中的從S0(k_9)到S6(k)的狀態(tài)遷移 路徑進(jìn)行說明。在該情況下，若記錄系列遷移為“0，0，0，0，1，1，0，0，1，1，1，0，0”的1個(gè)路徑被檢
測出，且將再現(xiàn)數(shù)據(jù)的“0”置換為空格部分，將“1”置換為標(biāo)記部分考慮，則相當(dāng)于長度為 4T空格以上的空格、2T標(biāo)記、2T空格、3T標(biāo)記、長度為2T空格以上的空格。將該路徑的ra等效理想波形在圖6中作為A路徑波形表示。如果將再現(xiàn)數(shù)據(jù)的“0”置換為空格部分，將“1”置換為標(biāo)記部分考慮，則另外一個(gè) 路徑的記錄系列的遷移“0，0，0，0，0，1，1，0，0，1，1，0，0”相當(dāng)于長度為5T空格以上的空格、 2T標(biāo)記、2T空格、2T標(biāo)記、長度為2T空格以上的空格。將該路徑的ra等效理想波形在圖6中作為B路徑波形表示。表3所示的歐幾里得距離的平方為12的模式的特征在于，至少包含3個(gè)邊緣信 肩、o即使在狀態(tài)遷移串模式包括為2T連續(xù)模式的2T/2T( “最短標(biāo)記”/最短空格”或 “最短空格/最短標(biāo)記”)的情況下，在每層的記錄容量為25GB時(shí)，也獲得了能充分判斷邊緣 的程度的信號振幅變化。但是，如果每層的記錄容量為33. 3GB以上的高密度記錄層，則從 圖6所示可知，在2T/2T部分，波形幾乎成為平的，不能獲得充分的信號振幅變化。但是，本 申請的發(fā)明人經(jīng)過不斷的研究發(fā)現(xiàn)為了計(jì)算2T/2T部分的最短標(biāo)記的邊緣的偏離量，使 用在該2T/2T之前或之后包括長度為3T以上的標(biāo)記或空格的模式，計(jì)算差分度量很有效。 這種模式為“最短標(biāo)記/最短空格/次最短以上的標(biāo)記”或“次最短以上的標(biāo)記/最短標(biāo)記 /最短空格”或“最短空格/最短標(biāo)記/次最短以上的標(biāo)記”或“次最短以上的標(biāo)記/最短 空格/最短標(biāo)記”。換句話講，上述模式是最短空格與最短標(biāo)記的前方或后方相鄰的模式，是與該最 短標(biāo)記相鄰且與該最短空格不相鄰的空格的長度比最短空格長的模式。或者，是最短空格 與最短標(biāo)記的前方或后方相鄰的模式，是與該最短空格相鄰且與該最短標(biāo)記不相鄰的標(biāo)記 的長度比最短標(biāo)記長的模式。后面將參照圖14對這種本發(fā)明的特征進(jìn)行更詳細(xì)的說明。另外，在本申請說明書中，有時(shí)只將“最短標(biāo)記”或“最短空格”記載為“最短”。例 如，在記載為“最短/最短”的情況下，是表示在“最短標(biāo)記”的后方相鄰有“最短空格”，或 者在“最短空格”的后方相鄰有“最短標(biāo)記”。另外，例如在記載為“〇/次最短以上/最短/最短/ A”的情況下，表示任意長 度的標(biāo)記(或空格)、次最短以上的空格(或標(biāo)記)、最短標(biāo)記(或空格)、最短空格(或標(biāo) 記)、任意長度的標(biāo)記(或空格)按順序排列的數(shù)據(jù)串。并且，“次最短”表示長度為僅次于 “最短”的長度，在此為3T。例如，“次最短以上的空格”表示“長度為3T以上的空格”。(實(shí)施方式1)接下來，對本發(fā)明的實(shí)施方式的光盤裝置進(jìn)行說明。圖1是表示本發(fā)明的第1實(shí)施方式的光盤裝置100的圖。光盤裝置100是進(jìn)行從所搭載的信息記錄介質(zhì)1中再現(xiàn)信息，或?qū)⑿畔⒂涗浽谛?息記錄介質(zhì)1中的裝置。
信息記錄介質(zhì)1為例如光盤介質(zhì)。光盤裝置100具有光頭部2 ；前置放大器部3 ；AGC(自動增益控制器Automatic Gain Controller)部4 ；波形均衡部5 ；A/D轉(zhuǎn)換部6 ；PLL部7 ；PR均衡部8 ；最大似然譯碼 部9 ；信號評估指標(biāo)檢測部10 ；光盤控制器部15。光頭部2具有向信息記錄介質(zhì)的磁道照射激光的照射部；接收來自磁道的反射光 的受光部。前置放大器部3、AGC部4、波形均衡部5、A/D轉(zhuǎn)換部6、PLL部7、PR均衡部8、 最大似然譯碼部9的功能是作為根據(jù)通過上述受光獲得的信號再現(xiàn)數(shù)據(jù)串的再現(xiàn)部。信號評估指標(biāo)檢測部10由以下部分構(gòu)成檢測與上述表1(14模式)、表2(12A模 式)、表3(12B模式)對應(yīng)的模式的14模式檢測部101、12A模式檢測部104、12B模式檢測 部107 ；計(jì)算各模式的度量差的差分度量計(jì)算部102、105、108 ；將用差分度量計(jì)算部102、 105、108計(jì)算出的各模式的位置偏離指標(biāo)累計(jì)并保存的存儲部103、106、109。光頭部2將通過物鏡的激光聚集在信息記錄介質(zhì)1的記錄層上，接收其發(fā)射光，生 成顯示信息記錄介質(zhì)1中所記錄的信息的模擬再現(xiàn)信號。物鏡的開口數(shù)為0. 7 0. 9，更優(yōu) 選為0. 85。激光的波長為410nm以下，更優(yōu)選為405nm。前置放大器部3將模擬再現(xiàn)信號以規(guī)定的增益放大后，向AGC4輸出。AGC部4使用預(yù)先設(shè)定的目標(biāo)增益，將再現(xiàn)信號放大以便使從A/D轉(zhuǎn)換部6輸出的 再現(xiàn)信號的電平達(dá)到一定的電平，并向波形均衡部5輸出。波形均衡部5具有屏蔽再現(xiàn)信號的高頻帶的LPF特性和放大再現(xiàn)信號的規(guī)定的頻 帶的濾波器特性，將再現(xiàn)波形矯正為所希望的特性后，向A/D轉(zhuǎn)換部6輸出。PLL電路7生成與波形均衡之后的再現(xiàn)信號同步的再現(xiàn)時(shí)鐘后，向A/D轉(zhuǎn)換部6輸
出οA/D轉(zhuǎn)換部6與PLL電路7輸出的再現(xiàn)時(shí)鐘同步，取樣再現(xiàn)信號，將模擬再現(xiàn)信號 轉(zhuǎn)換為數(shù)據(jù)再現(xiàn)信號后，向I3R均衡部8、PLL部7以及AGC部4輸出。ra均衡部8具有以成為假設(shè)再現(xiàn)系統(tǒng)的頻率特性為最大似然譯碼部9的特性(例 如，1，2，2，2，1)均衡特性)的方式設(shè)定的頻率特性，執(zhí)行針對再現(xiàn)信號進(jìn)行高頻帶噪聲的 控制以及意圖性的符號間干擾的添加的I3R均衡處理后，向最大似然譯碼部9輸出。另外，I3R均衡部8具有FIR(有限沖激響應(yīng)Finite Impulse Response)濾波器結(jié) 構(gòu)，使用LMS (最小均方差The Least-Mean Square)算法，可適應(yīng)性地控制標(biāo)簽系數(shù)(參 照非專利文獻(xiàn)2)。最大似然譯碼部9為例如維特比解碼器，使用根據(jù)按照部分響應(yīng)的類型而意圖性 添加的符號規(guī)則來推定最有可能的系列的最大似然譯碼方式，將在PR均衡部8均衡的再現(xiàn) 信號解碼后，輸出二進(jìn)制數(shù)據(jù)。該二進(jìn)制數(shù)據(jù)被作為解調(diào)二進(jìn)制信號輸出到后面的光盤控制器15中，執(zhí)行規(guī)定 的處理后，再現(xiàn)記錄在信息記錄介質(zhì)1中的信息。向信號評估指標(biāo)檢測部10輸入從ra均衡部8輸出的、被波形矯正后的數(shù)字再現(xiàn) 信號和從最大似然譯碼部9輸出的二進(jìn)制信號。模式檢測部101、104、107比較表1、2、3的遷移數(shù)據(jù)串和二進(jìn)制數(shù)據(jù)，在該二進(jìn)制 數(shù)據(jù)和表1、2、3的遷移數(shù)據(jù)串一致的情況下，根據(jù)表1、2、3選擇最有可能的狀態(tài)遷移串1和第2有可能的狀態(tài)遷移串2。根據(jù)該選擇結(jié)果，在差分度量計(jì)算部102、104、108中，計(jì)算作為狀態(tài)遷移串的理 想值(ra均衡理想值參照表1、2、3)和數(shù)字再現(xiàn)信號的距離的度量，然后，計(jì)算由2個(gè)狀 態(tài)遷移串計(jì)算出的度量之間的差，而且，由于該度量差具有正和負(fù)的值，因此進(jìn)行絕對值處理。另外，模式檢測部101、104、107根據(jù)二進(jìn)制數(shù)據(jù)，生成用于按照圖7、圖8、圖9所 示的標(biāo)記的始端和終端邊緣的每個(gè)模式而分配的脈沖信號后，向存儲部103、106、109輸
出ο存儲部103、106、109根據(jù)從模式檢測部101、104、107輸出的脈沖信號，將用差分 度量計(jì)算部102、105、108求出的各自模式的度量差按圖7、圖8、圖9所示的每個(gè)模式進(jìn)行 累計(jì)相加。在此，針對圖7、圖8、圖9的詳細(xì)模式分類進(jìn)行詳細(xì)的說明。在圖7、圖8、圖9中，“M”表示標(biāo)記，“S”表示空格。另外，i表示時(shí)刻，例如，如果是(2S(i_l)、3M(i)、4S(i+l)，則表示在成為基準(zhǔn)的 3T標(biāo)記之前有2T空格，在其后有4T空格。圖7、圖8、圖9的各模式的編號分別與表1、表2、表3記載的模式的編號對應(yīng)。例如，如果是表1的模式[14] 1A，則根據(jù)遷移數(shù)據(jù)串(0，0，0，0，1，1，1，0，0)，當(dāng)將 0設(shè)為空格，將1設(shè)為標(biāo)記時(shí)，成為(4T空格以上、3T標(biāo)記、2T空格以上)這一模式。該模式適于圖7 的(wS(i-3)、xM(i-2)、4S(i_l)、3M(i)、yS(i+l)、zM(i+2))單元。W、χ、y、ζ是標(biāo)記或空格可取的長度的任意數(shù)值。例如，在RLL(1，7)記錄符號的情況下，是2 9的任意數(shù)值。首先，圖7的14檢測模式的詳細(xì)的模式分類將由1個(gè)空格和1個(gè)標(biāo)記構(gòu)成的1個(gè) 邊緣偏離進(jìn)行了分類。顯示與14檢測模式的始端涉及時(shí)刻i的標(biāo)記和時(shí)刻i_l的空格的 邊緣偏離，顯示與14檢測模式的終端涉及時(shí)刻i的標(biāo)記和時(shí)刻i+Ι的空格的邊緣偏離。接下來，圖8的12A檢測模式的詳細(xì)模式分類涉及圖7的14檢測模式的2T標(biāo)記 和2T空格的分類，進(jìn)一步根據(jù)前1個(gè)時(shí)刻或后1個(gè)時(shí)刻的標(biāo)記或空格進(jìn)行區(qū)分。12A檢測模式的始端是將夾在時(shí)刻i-Ι和時(shí)刻i+Ι的空格中間的時(shí)刻i的2T標(biāo)記 的偏離根據(jù)時(shí)刻i+Ι的空格的長度來分類的；另外，夾在時(shí)刻i和時(shí)刻i_2的標(biāo)記中間的時(shí) 刻i_l的2T空格的偏離是根據(jù)時(shí)刻i_2的標(biāo)記的長度進(jìn)行分類的。12A檢測模式的終端是將夾在時(shí)刻i-Ι和時(shí)刻i+Ι的空格中間的時(shí)刻i的2T標(biāo)記 的偏離根據(jù)時(shí)刻i_l的空格的長度來分類的；另外，夾在時(shí)刻i和時(shí)刻i+2的標(biāo)記中間的時(shí) 刻i+Ι的2T空格的偏離是根據(jù)時(shí)刻i+2的標(biāo)記的長度進(jìn)行分類的。最后，圖9的12B檢測模式的詳細(xì)模式分類涉及圖8的12A檢測模式的2T標(biāo)記和 2T空格連續(xù)的模式的分類，進(jìn)一步根據(jù)前1個(gè)時(shí)刻或后1個(gè)時(shí)刻的標(biāo)記或空格，進(jìn)行區(qū)分， 分類為夾在1個(gè)標(biāo)記和1個(gè)空格的中間的2個(gè)連續(xù)的2T標(biāo)記和2T空格的連續(xù)2T的偏離。12B檢測模式的始端是將夾在時(shí)刻i+2的標(biāo)記和時(shí)刻i-Ι的空格中間的時(shí)刻i的 2T標(biāo)記和時(shí)刻i+Ι的2T空格的偏離根據(jù)時(shí)刻i+2的標(biāo)記的長度進(jìn)行分類的；另外，夾在時(shí) 刻i_3的空格和時(shí)刻i的標(biāo)記中間的時(shí)刻i_2的2T標(biāo)記和時(shí)刻i-Ι的2T空格的偏離是根 據(jù)時(shí)刻i_3的空格的長度進(jìn)行分類的。
12B檢測模式的終端是將夾在時(shí)刻i+Ι的空格和時(shí)刻i_2的標(biāo)記中間的時(shí)刻i的 2T標(biāo)記和時(shí)刻i-Ι的2T空格的偏離根據(jù)時(shí)刻i_2的標(biāo)記的長度進(jìn)行分類的；另外，夾在時(shí) 刻i的標(biāo)記和時(shí)刻i+3的空格中間的時(shí)刻i+Ι的2T空格和時(shí)刻i+2的2T標(biāo)記的偏離是根 據(jù)時(shí)刻i+3的空格的長度進(jìn)行分類的。并且，用在圖7、圖8、圖9中的各分類模式下記載的“ X ”、“0”、“1”表示的比特串，
表示與各自的模式對應(yīng)的數(shù)據(jù)串。在此，“0”表示與數(shù)據(jù)串中的空格對應(yīng)的二進(jìn)制數(shù)據(jù)，“1” 表示與數(shù)據(jù)串中的標(biāo)記對應(yīng)的二進(jìn)制數(shù)據(jù)。在將數(shù)據(jù)串的標(biāo)準(zhǔn)周期作為T的情況下，1個(gè) “0”表示與相當(dāng)于IT的空格對應(yīng)的二進(jìn)制數(shù)據(jù)，1個(gè)“1”表示與相當(dāng)于IT的標(biāo)記對應(yīng)的二 進(jìn)制數(shù)據(jù)?！案浮北硎尽?”或“1”。上述模式(是最短空格與最短標(biāo)記的前方或后方相鄰的模式，是與該最短標(biāo)記相 鄰，并且與該最短空格不相鄰的空格的長度比最短空格長的模式)的二進(jìn)制數(shù)據(jù)用例如 “ X000110011X ” 或“ X 110011000X ” 表示。另外，上述模式(是最短空格與最短標(biāo)記的前方或后方相鄰的模式，是與該最短 空格相鄰，并且與該最短標(biāo)記不相鄰的標(biāo)記的長度比最短標(biāo)記長的模式)的二進(jìn)制數(shù)據(jù)用 例如 “X001100111X” 或“X111001100X” 表示。這種從二進(jìn)制數(shù)據(jù)識別規(guī)定的模式的操作是模式檢測部101、104、107進(jìn)行的。例 如，在檢測上述12B檢測模式的情況下，模式檢測部107根據(jù)二進(jìn)制數(shù)據(jù)，識別這樣一種模 式，該模式包括數(shù)據(jù)串中所包括的第1標(biāo)記；與該第1標(biāo)記的前方或后方相鄰的第1空格； 和與該第1標(biāo)記不相鄰并且與該第1空格相鄰的第2標(biāo)記。然后，當(dāng)該第1空格以及該第 2標(biāo)記的各自長度為規(guī)定的長度以下的情況下，識別與該第1標(biāo)記不相鄰、并且與該第2標(biāo) 記相鄰的第2空格是否比上述所規(guī)定的長度長。當(dāng)長的情況下，檢測12B檢測模式。規(guī)定 的長度為例如2T，但不局限于該長度。另外，在其他的例子中，當(dāng)檢測出上述12B檢測模式的情況下，模式檢測部107根 據(jù)二進(jìn)制數(shù)據(jù)，識別這樣一種模式，該模式包括數(shù)據(jù)串中所包括的第1標(biāo)記；與該第1標(biāo) 記的前方或后方相鄰的第1空格；和與該第1空格不相鄰并且與該第1標(biāo)記相鄰的第3空 格。然后，當(dāng)該第1標(biāo)記以及該第3空格的各自長度為規(guī)定的長度以下的情況下，識別與該 第1空格不相鄰并且與該第3空格相鄰的第3標(biāo)記是否比上述規(guī)定的長度長。當(dāng)長的情況 下，檢測12B檢測模式。如上述例所述，在根據(jù)二進(jìn)制信號檢測出12B檢測模式的情況下，從12B檢測模式 選擇最有可能的第1狀態(tài)遷移串以及第2有可能的第2狀態(tài)遷移串。差分度量計(jì)算部108 使用這些第1和第2狀態(tài)遷移串和數(shù)字再現(xiàn)信號來計(jì)算差分度量?？衫貌罘侄攘康挠?jì)算 結(jié)果來評估再現(xiàn)信號質(zhì)量。例如，可計(jì)算出上述2T/2T部分的最短標(biāo)記的邊緣偏離量，來評 估質(zhì)量。對評估再現(xiàn)信號質(zhì)量(記錄質(zhì)量)的過程進(jìn)行詳細(xì)說明。為了設(shè)置成與錯誤率具有更高的關(guān)聯(lián)性的信號評估指標(biāo)，需要在PR12221ML信號 處理中，將所有發(fā)生錯誤的可能性高的模式都考慮進(jìn)去的評估方法。圖10是rai2221ML信號處理中的差分度量分布圖。橫軸表示歐幾里得距離的平方，縱軸表示其頻率。該圖顯示了歐幾里得距離的平方越是小的分布，在rai2221ML信號處理中，出錯
的可能性越大。由該圖可知，在歐幾里得距離的平方為12和14的部分具有分布組，高于其的歐幾 里得距離的平方只有30以上。S卩，為了設(shè)成與錯誤率具有很高關(guān)聯(lián)性的信號指標(biāo)，只要關(guān)注歐幾里得距離的平 方為12和14的組就已足夠。該組即表1、表2以及表3的模式。識別該模式的是模式檢測部101、104、107。以下，對從該被識別的模式計(jì)算度量差的差分度量計(jì)算部的操作進(jìn)行更加詳細(xì)的 說明。從經(jīng)過PRML處理由光盤再現(xiàn)的再現(xiàn)信號生成二進(jìn)制信號。如果從該二進(jìn)制信號檢測出表1的遷移數(shù)據(jù)串的模式中的任意一個(gè)，則可以決定 狀態(tài)遷移串ι以及2的ra均衡理想值。例如，在表1中，當(dāng)作為二進(jìn)制信號，(0，0，0，0，X，1，1，0，0)被解調(diào)的情況下，選擇 模式[14] IA (SO, Si、S2，S3，S5，S6)作為最有可能的狀態(tài)遷移串1 ；選擇模式[14] IB (SO, SO、Si，S2，S9，S6)作為第2有可能的狀態(tài)遷移串2。此時(shí)，與狀態(tài)遷移串1對應(yīng)的I3R均衡理想值成為(1，3，5，6，5)。另一方面，與狀態(tài)遷移串2對應(yīng)的PR均衡理想值成為(0，1，3，4，4)。接下來，求出再現(xiàn)信號系列和與狀態(tài)遷移串1對應(yīng)的I3R均衡理想值之差的平方 值，將其設(shè)為Pa ；同樣，求出再現(xiàn)信號系列和與狀態(tài)遷移串2對應(yīng)的ra均衡理想值之差的 平方值，將其設(shè)為Pb，其差分的絕對值成為差分度量D14 = IPa14-Pb14I。進(jìn)行該處理的是差分度量計(jì)算部的操作。Pa14的計(jì)算如公式⑴所示，Pb14的計(jì)算如公式(2)所示。其中，ak為與狀態(tài)遷移 串ι對應(yīng)的ra均衡理想值；bk為與狀態(tài)遷移串2對應(yīng)的ra均衡理想值；yk為再現(xiàn)信號系 列。[數(shù)1] 圖11的(A)表示差分度量計(jì)算部102的輸出頻率分布。同樣，在公式(4) (6)中表示差分度量計(jì)算部105的輸出，在公式(7) (9)中 表示差分度量計(jì)算部108的輸出。[數(shù)4]
式(5) 式(6)
式(7)[數(shù)8] Pbiw = XCyk-式(8)[數(shù)9]D12a= I Pai2B-Pb12B I 式(9)圖11 (B)為差分度量計(jì)算部105的輸出頻率分布；圖11 (C)為差分度量計(jì)算部108 的輸出頻率分布。圖11(A)、(B)、(C)的分布的頻度和中心位置各自不同。另外，這些模式引起錯誤 時(shí)發(fā)生的錯誤比特?cái)?shù)也不同。歐幾里得距離的平方為14的表1模式是發(fā)生1比特錯誤的模式；歐幾里得距離的 平方為12的表2的模式是發(fā)生2比特錯誤的模式；歐幾里得距離的平方為12的表3的模 式是發(fā)生3比特以上的錯誤的模式。特別是表3的模式依賴于2T連續(xù)的個(gè)數(shù)，例如，如果是允許連續(xù)到6個(gè)的記錄調(diào) 制符號，則成為發(fā)生最大6個(gè)比特錯誤的模式。雖然表3中沒有表示到6個(gè)比特錯誤，但將2T的連續(xù)模式擴(kuò)張即可。但是，在本實(shí)施方式中將其進(jìn)行了省略。接下來，對將使用上述差分度量計(jì)算的各檢測模式分類為詳細(xì)模式的方法進(jìn)行說 明。首先，圖12以14模式為例，顯示了圖4所示的模式的再現(xiàn)波形和標(biāo)記的偏離的關(guān)系。在圖12(a)中，路徑A21為最有可能的狀態(tài)遷移列；路徑B22為第2有可能的狀態(tài) 遷移串。另外，虛線Δ標(biāo)記的再現(xiàn)波形23表示再現(xiàn)以路徑A21為標(biāo)準(zhǔn)，具有稍靠近路徑B22 的信號電平的信息記錄介質(zhì)的數(shù)據(jù)時(shí)的再現(xiàn)波形。另外，用空格24和標(biāo)記25表示最有可能的狀態(tài)遷移串的路徑Α21的理想的空格 和標(biāo)記的位置；用空格26和標(biāo)記27表示獲得再現(xiàn)波形23的空格和標(biāo)記的位置。將再現(xiàn)波形23的各采樣點(diǎn)的信號電平(yk-4、yk-3 Jkfyk-^yk)設(shè)為(0. 7,2. 7,4. 7、 5. 7,4. 7)。此時(shí)，路徑A21和路徑B22的各自的信號電平為ak = (1、3、5、6、5)，bk = (0、1、3、 4,4) ο[數(shù) 5]
從上述各信號電平以及公式(1)和(2)，如公式(10)和公式(11)所示，求出再現(xiàn) 波形23和路徑A21的距離Pa14,再現(xiàn)波形23和路徑B22的距離Pb14。[數(shù)10]Pa14 = (0. 7-1)2+ (2. 7-3)2+ (4. 7-5)2+ (5. 7-6)2+ (4. 7-5)2 = 0. 45 式(10)[數(shù)11]Pb14 = (0. 7-0)2+ (2. 7-1)2+ (4. 7-3)2+ (5. 7-4)2+ (4. 7-4)2 = 9. 65 式(11)通過公式(3)，如公式(12)所示求出差分度量D14。[數(shù) 12]D14= |Pa14-Pb14| = 10. 45—9. 651 = 9.2式(12)其中，如果將路徑A和路徑B的距離設(shè)為Pstd14,則變成當(dāng)成為Pa14 = 0時(shí)的Pb14 的值，因此，Pstd14成為14。來自最有可能的狀態(tài)遷移串路徑A21的再現(xiàn)波形的偏離量E14通過以下的公式 (13)求出。[數(shù)13]E14 = D14-Pstd14 = 9. 2-14 = _4· 8 式(13)通過公式(13)求出的E14的絕對值為偏離量，該符號為偏離方向。接下來，說明E14的符號表示什么樣的偏離方向。同樣，圖12(b)是虛線Δ標(biāo)記的再現(xiàn)波形29以路徑Α21為基準(zhǔn)，具有遠(yuǎn)離路徑Β22 的信號電平的情況。如果將再現(xiàn)波形29 的信號電平(yk_4、yk_3、yk_2、y^^ yk)設(shè)為(1. 3、3· 3、5· 3、6· 3、 5.3)來求出 E14 (32)，則計(jì)算出 E14 (32) = 4.8。在圖12(c)、(d)中顯示了路徑B22為最有可能的狀態(tài)遷移串的情況。另外，(c)表示虛線Δ標(biāo)記的再現(xiàn)波形33以路徑Β22為基準(zhǔn)，具有遠(yuǎn)離路徑Α21的 信號電平的情況；(d)表示虛線Δ標(biāo)記的再現(xiàn)波形39以路徑Β22為標(biāo)準(zhǔn)，具有稍靠近路徑 Α21的信號電平的情況。如果將再現(xiàn)波形33、39的信號電平(yk_4、yk_3、yk_2、Yk^1、yk)分別設(shè)為(0、0. 7、 2. 7、3· 7、3· 7)、(0· 3、1· 3、3· 3、4· 3、4· 3)，來求出 E14 (38)、Ε14 (42)，則計(jì)算出 E14 (38) = 4. 2， E14 (42) = -4· 8。通過以上描述可知當(dāng)再現(xiàn)波形以最有可能的狀態(tài)遷移為標(biāo)準(zhǔn)，具有距離接近第 2有可能的狀態(tài)遷移串的信號電平時(shí)，E14的值的符號為負(fù)；當(dāng)再現(xiàn)波形以最有可能的狀態(tài) 遷移串為標(biāo)準(zhǔn)，具有距離遠(yuǎn)離第2有可能的狀態(tài)遷移串的信號電平時(shí)，E14的值的符號為正。在圖13中，作為12Α模式的例子，顯示了圖5所示的模式的再現(xiàn)波形和標(biāo)記的偏罔。在圖13中，路徑Α51是最有可能的狀態(tài)遷移串；路徑Β52是第2有可能的狀態(tài)遷移串。另外，虛線Δ標(biāo)記的再現(xiàn)波形53表示再現(xiàn)以路徑Α51為標(biāo)準(zhǔn)，具有接近路徑Β52 的信號電平的信息記錄介質(zhì)的數(shù)據(jù)時(shí)的再現(xiàn)波形。另外，用空格54、56和標(biāo)記55表示最有可能的狀態(tài)遷移串的路徑Α51的理想的空 格和標(biāo)記的位置；用空格57、59和標(biāo)記58表示得到再現(xiàn)波形53的空格和標(biāo)記的位置。
將再現(xiàn)波形53的各取樣點(diǎn)的信號電平(yk-6、yk-5、yk-4、yk-3 Jkfyk-^yk)設(shè)為(0. 7、 2. 7、3· 7、4、3· 3、1· 3、0· 3)。此時(shí)，路徑A51和路徑B52的各自的信號電平為:ak = (1、3、4、4、3、1、0)，bk = (0、 1、3、4、4、3、1)。通過上述各信號電平和公式⑴以及公式(2)，如公式(14)以及公式(15)所示， 求出再現(xiàn)波形53和路徑A51的距離Pa12A、再現(xiàn)波形53和路徑B52的距離Pb12A。[數(shù)14]Pa12A = (0. 7-1)2+ (2. 7-3)2+ (3. 7-4)2+ (4-4)2+ (3. 3-3)2+(1. 3-1)2+ (0. 3-0)2 = 0. 54 式(14)[數(shù)15]Pb12A = (0. 7-0)2+ (2. 7-1)2+ (3. 7-3)2+ (4-4)2+ (3. 3-4)2+(1. 3-3)2+ (0. 3-1)2 = 7. 74 式(15)通過公式(3)，如公式(16)所示求出差分度量D12A。[數(shù) 16]D12a= I Pa12A_Pb12A I = 0.54-7.74 = 1.2式(16)其中，如果將路徑A和路徑B的距離設(shè)為Pstdm，則變成當(dāng)成為Pa12A = 0時(shí)的Pb12A 的值，因此，Pstd12A成為12。來自最有可能的狀態(tài)遷移串路徑A51的再現(xiàn)波形的偏離量E12a通過以下的公式 (17)求出。[數(shù)17]E12a = D12A-Pstd12A = 7. 2-12 = —4. 8 式(17)模式12A也和模式14相同，當(dāng)再現(xiàn)波形以最有可能的狀態(tài)遷移為標(biāo)準(zhǔn)，具有距離 接近第2有可能的狀態(tài)遷移串的信號電平時(shí)，E12a的值的符號成為負(fù)；當(dāng)再現(xiàn)波形以最有可 能的狀態(tài)遷移串為標(biāo)準(zhǔn)，具有距離遠(yuǎn)離第2有可能的狀態(tài)遷移串的信號電平時(shí)，E12a的值的 符號成為正。并且，在圖13的例中，雖然描述了標(biāo)記55和標(biāo)記58保持著相同的長度進(jìn)行偏離， 但是，12A模式中的偏離也適用于理想的標(biāo)記和再現(xiàn)波形的標(biāo)記的長度不同的情況。在圖14中，作為12B模式的例子，顯示了圖6所示的模式的再現(xiàn)波形和標(biāo)記的偏 離的關(guān)系。在圖14中，路徑A71為最有可能的狀態(tài)遷移串；路徑B72為第2有可能的狀態(tài)遷移串。另外，虛線Δ標(biāo)記的再現(xiàn)波形73表示再現(xiàn)以路徑A71為標(biāo)準(zhǔn)，具有接近路徑Β72 的信號電平的信息記錄介質(zhì)的數(shù)據(jù)時(shí)的再現(xiàn)波形。另外，用空格74、76和標(biāo)記75、77表示最有可能的狀態(tài)遷移串的路徑Α71的理想 的空格和標(biāo)記的位置；用空格78、80和標(biāo)記79、81表示得到再現(xiàn)波形73的空格和標(biāo)記的位置。將再現(xiàn)波形 73 的各取樣點(diǎn)的信號電平(yk_8、yk_7、yk_6、yk_5、yk_4、yk_3、yk_2、Y^1 > yk) 設(shè)為(0. 7、2· 7、3· 7、4、4、4、4· 7、5· 7、4· 7)。 此時(shí)，路徑Α71和路徑Β72的各自的信號電平為:ak = (1、3、4、4、4、4、5、6、5)，bk=(0、1、3、4、4、4、4、4、4)。通過上述各信號電平和公式⑴以及公式(2)，如公式(18)以及公式(19)所示， 求出再現(xiàn)波形73和路徑A71的距離Pa12B、再現(xiàn)波形73和路徑B72的距離Pb12B。
Pa12b = (0. 7-1)2+ (2. 7-3)2+ (3. 7-4)2+ (4-4)2+ (4-4)2[數(shù) 19]
(0. 7-1) 2+(
+ (4-4)2+ (4. 7-5)2+ (5. 7-6)2+ (4. 7-5)2 = 0. 54 式(18) Pb12b = (0. 7-0)2+ (2. 7-1)2+ (3. 7-3)2+ (4-4)2+ (4-4)2
+ (4-4)2+ (4. 7-4)2+ (5. 7-4)2+ (4. 7-4)2 = 7. 74 式(19) 通過公式(3)，如公式(20)所示，求出差分度量D12B。 [數(shù) 20]
D12b = I Pa12B-Pb12B I = I 0. 54-7. 74 = 7. 2 式(20)其中，如果將路徑A和路徑B的距離設(shè)為Pstd12B，則變成當(dāng)成為Pa12B = 0時(shí)的Pb12B 的值，因此，Pstd12B成為12。來自最有可能的狀態(tài)遷移串路徑A71的再現(xiàn)波形的偏離量E12b通過以下的公式 (21)求出。[數(shù) 21]E12b = D12B-Pstd12B = 7. 2-12 = —4. 8 式(21)模式12B也和模式14相同，當(dāng)再現(xiàn)波形以最有可能的狀態(tài)遷移為標(biāo)準(zhǔn)，具有距離 接近第2有可能的狀態(tài)遷移串的信號電平時(shí)，E12b的值的符號成為負(fù)；當(dāng)再現(xiàn)波形以最有可 能的狀態(tài)遷移串為標(biāo)準(zhǔn)，具有距離遠(yuǎn)離第2有可能的狀態(tài)遷移串的信號電平時(shí)，E12b的值的 符號成為正。并且，在圖14的例中，雖然描述了在標(biāo)記75、空格76和標(biāo)記79、空格80的各自長 度保持相同的情況下偏離，但是，12B模式中的偏離也適用于理想波形和再現(xiàn)波形的標(biāo)記或 空格的長度分別不同的情況。另外，在上述內(nèi)容中，已經(jīng)參照圖6進(jìn)行了說明，但在狀態(tài)遷移串模式包括作為2T 連續(xù)模式的2T/2T部分的情況下，由圖14可知，在2T/2T部分中，不能獲得充分的信號振幅 變化。因此，為了計(jì)算出2T/2T部分的最短標(biāo)記的邊緣的偏離量，使用在該2T/2T部分之前 或之后包括長度為3T以上的標(biāo)記或空格的模式，來計(jì)算差分度量很有效。這種模式為“最 短標(biāo)記/最短空格/次最短以上的標(biāo)記”或“次最短以上的空格/最短標(biāo)記/最短空格”或 “最短空格/最短標(biāo)記/次最短以上的空格”或“次最短以上的標(biāo)記/最短空格/最短標(biāo)記”。如果更具體說明，則路徑A表示為“4T以上的空格(74)/2T標(biāo)記(75)/2Τ空格 (76)/3Τ標(biāo)記(77)/2Τ以上的空格”，包括2Τ連續(xù)部分。這種路徑A中的最短標(biāo)記(2Τ標(biāo)記 (75))的邊緣的偏離量可通過計(jì)算“4Τ以上的空格(74)/2Τ標(biāo)記(75)/2Τ空格(76) ”的模 式的差分度量而獲得。這種“4Τ以上的空格(74)/2Τ標(biāo)記(75)/2Τ空格(76)的模式”相當(dāng) 于“在2Τ/2Τ之前或之后包括3Τ以上的標(biāo)記或空格的模式”。另外，路徑B表示為“5Τ以上的空格/2Τ標(biāo)記/2Τ空格/2Τ標(biāo)記/2Τ以上的空格”， 包括2Τ連續(xù)部分。這種路徑B中的最短標(biāo)記(2Τ標(biāo)記)的邊緣的偏離量可通過計(jì)算“5Τ 以上的空格/2Τ標(biāo)記/2Τ空格”的模式的差分度量而獲得。這種“5Τ以上的空格/2Τ標(biāo)記/2T空格的模式”相當(dāng)于“在2T/2T之前或之后包括3T或以上的標(biāo)記或空格的模式”。并且，如上述參照圖6所說明的那樣，歐幾里得距離的平方為12的模式至少包括3 個(gè)邊緣信息。即，使用“〇/次最短或以上/最短/最短/ Δ ”或“〇/最短/最短/次最 短以上/ Δ”的模式來計(jì)算最短標(biāo)記的邊緣的偏離量，不僅適用于12Β模式，也同樣適用于 12Α模式。并且，在上述的例子中，作為不能獲得充分的信號振幅變化的模式，對包括最短連 續(xù)(例如2Τ連續(xù))的模式進(jìn)行了說明。但是，由于與后面所述的記錄密度或點(diǎn)直徑的尺寸 的關(guān)系，不一定只有2Τ連續(xù)部分相當(dāng)于不能獲得充分的信號振幅變化的模式。在該情況 下，可識別在數(shù)據(jù)串中是否存在不能獲得充分的信號振幅變化的長度以下的標(biāo)記和空格的 排列(規(guī)定的長度以下的標(biāo)記和規(guī)定的長度以下的空格的排列)，而且，可識別與該排列相 鄰的標(biāo)記或空格是否比上述規(guī)定的長度長。綜上所述，根據(jù)本實(shí)施方式1，可以使用PR12221ML信號處理，計(jì)算最有可能的狀 態(tài)遷移串和第2有可能的狀態(tài)遷移串這兩個(gè)理想的信號的歐幾里得距離的平方成為12和 14的模式的差分度量，可在包括多個(gè)邊緣的檢測信號中，利用與錯誤率有關(guān)的指標(biāo)表示各 自的邊緣是如何偏離的，并且，可在高密度的信息記錄介質(zhì)中，對記錄再現(xiàn)質(zhì)量進(jìn)行評估。另外，通過使用該評估指標(biāo)，可在高密度的信息記錄介質(zhì)中，當(dāng)信息再現(xiàn)時(shí)或記錄 時(shí)，將記錄質(zhì)量評估結(jié)果反饋給再現(xiàn)補(bǔ)償部或記錄補(bǔ)償部，并且可以減少再現(xiàn)時(shí)的錯誤或 進(jìn)行錯誤少而記錄質(zhì)量高的記錄。本實(shí)施例中圖1所示的前置放大器部3、AGC部4以及波形均衡部5可以作為1個(gè) 模擬集成電路(LSI)構(gòu)成。前置放大器部3、AGC部4、波形均衡部5、A/D轉(zhuǎn)換部6、PLL部7、I3R均衡部8、最 大似然譯碼部9、信號評估指標(biāo)檢測部10以及光盤控制器部15可以作為模擬數(shù)字混載的1 個(gè)集成電路(LSI)構(gòu)成。并且，雖然上述光盤裝置100是再現(xiàn)信息記錄介質(zhì)的再現(xiàn)裝置，但是，也可以是記 錄再現(xiàn)裝置或記錄裝置。雖然在這種情況下，在其構(gòu)成中要追加用于記錄的電路，但在本實(shí)施例中省略其 詳細(xì)說明。例如，光盤裝置100具有用于在信息記錄介質(zhì)1中記錄信息的記錄部。記錄部 通過激光的照射在磁道中形成標(biāo)記，記錄標(biāo)記和標(biāo)記之間的空格交替排列的數(shù)據(jù)串。記錄 部具有例如模式產(chǎn)生部、記錄補(bǔ)償部以及激光驅(qū)動部。模式產(chǎn)生部輸出用于調(diào)整記錄標(biāo)記 的邊緣的記錄模式。記錄補(bǔ)償部按照從光盤控制部獲取的記錄參數(shù)和記錄模式，生成激光 發(fā)光波形模式。激光驅(qū)動部按照所生成的激光發(fā)光波形模式，控制光頭部2的激光發(fā)光操 作。光頭部2向磁道照射激光，在磁道中形成標(biāo)記，記錄標(biāo)記和空格交替排列的數(shù)據(jù)串。這些光盤裝置的構(gòu)成例對本發(fā)明不具有限定作用，也可以是其他的構(gòu)成。并且，在上述實(shí)施方式中，雖然對使用由最短標(biāo)記長度為2的符號和均衡方式 ra(l、2、2、2、l)規(guī)定的狀態(tài)遷移規(guī)則進(jìn)行最大似然譯碼的情況進(jìn)行了說明，但本發(fā)明不局 限于此。例如，在使用最短標(biāo)記長度為2或3的符號和均衡方式ra(C0、Cl、Cl、C0)的情況 或使用最短標(biāo)記長度為3的符號和均衡方式PR(C0、C1、C2、C1、C0)的情況下也能適用。CO、 C1、C2為任意的正數(shù)。
并且，在上述實(shí)施方式中，雖然在各檢測模式中只對最短標(biāo)記長度的標(biāo)記或空格 進(jìn)行了詳細(xì)的分類，但本發(fā)明不局限于此。例如，即使不是最短標(biāo)記長度，對于最短標(biāo)記的下一個(gè)長的標(biāo)記或空格、比規(guī)定的 長度短的標(biāo)記或空格也能適用。接下來，對本發(fā)明的信息記錄介質(zhì)進(jìn)行詳細(xì)說明。(主要參數(shù))作為可以應(yīng)用本發(fā)明的記錄介質(zhì)的一個(gè)例子，有藍(lán)光光盤(BD)或其他規(guī)格的光 盤，在此對BD進(jìn)行說明。按照記錄膜的特性，BD具有再現(xiàn)專用型的BD-R0M、追記記錄型 寫 入一次型的BD-R、改寫記錄型的BD-RE等類型，本發(fā)明可用于BD或其他規(guī)格的光盤中的 ROM(再現(xiàn)專用型)、R(追記型 寫入一次型)、RE(改寫型)中的任意類型的記錄介質(zhì)。關(guān) 于藍(lán)光光盤的主要光學(xué)常數(shù)和物理格式，公開于“藍(lán)光光盤解讀”(才一 A公司出版)或藍(lán) 光協(xié)會的主頁(http://WWW.blu-raydisc. com/)中所刊登的白皮書中。在BD中，使用波長大致在405nm(如果相對于標(biāo)準(zhǔn)值405nm，誤差范圍的允許值為 士5，則為400 410nm)的激光以及開口數(shù)(NA =NumericalAperture)大致為0. 85(如果 相對于標(biāo)準(zhǔn)值0. 85，誤差范圍的允許值為士0. 01，則為0. 84 0. 86)的物鏡。BD的磁道 間距為大致0. 32 μ m (如果相對于標(biāo)準(zhǔn)值0. 320 μ m,誤差范圍的允許值為士0. 010 μ m，則為 0. 310 0.330 μ m)，記錄層設(shè)置了 1層或2層。記錄層的記錄面由激光入射側(cè)的單面1層 或單面2層構(gòu)成，從BD的保護(hù)層的表面到記錄面的距離為75 μ m 100 μ m。記錄信號的調(diào)制方式利用17PP調(diào)制，被記錄的標(biāo)記的最短標(biāo)記(2T標(biāo)記T為標(biāo) 準(zhǔn)時(shí)鐘的周期(根據(jù)規(guī)定的調(diào)制規(guī)則記錄標(biāo)記的情況下的調(diào)制的標(biāo)準(zhǔn)周期)的標(biāo)記長度為 0. 149 μ m (或0. 138 μ m)(信道比特長度=T為74. 50nm(或69. OOnm))。記錄容量為單面單 層25GB (或27GB)(更詳細(xì)講，25. 025GB (或27. 020GB))，或單面雙層50GB (或54GB)(更詳 細(xì)講，50. 050GB (或 54. 040GB))。信道時(shí)鐘頻率在標(biāo)準(zhǔn)速度(BDl X)的轉(zhuǎn)送率下為66MHz (信道比特率66. OOOMbit/ s)；在4倍速(BD4X)的轉(zhuǎn)送率下為264MHz (信道比特率264. 000Mbit/s)；在6倍速 (BD6X)的轉(zhuǎn)送率下為396MHz (信道比特率396. 000Mbit/s)；在8倍速(BD8X)的轉(zhuǎn)送率 下為 528MHz (信道比特率 528. 000Mbit/s)。標(biāo)準(zhǔn)線速度(基準(zhǔn)線速度、IX)為4. 917m/sec (或4. 554m/sec)。2倍(2X)、4倍 (4X),6f§ (6X)以及 8 倍(8X)的線速度分別為 9. 834m/sec、19. 668m/sec、29. 502m/sec 以及39. 336m/sec0比標(biāo)準(zhǔn)線速度高的線速度一般是標(biāo)準(zhǔn)線速度的正整數(shù)倍，但不局限于整 數(shù)，也可以是正的實(shí)數(shù)倍。另外，也可以定義為0.5倍(0.5X)等、比標(biāo)準(zhǔn)線速度還慢的線速度。并且，上述所說明的是已實(shí)現(xiàn)產(chǎn)品化的、主要是每層大約為25GB(或大約27GB) 的1層或2層的BD，作為更大的容量化，也正在研究每層的記錄容量為大致32GB或大致 33. 4GB的高密度BD或?qū)訑?shù)為3層或4層的BD，以下，將對它們進(jìn)行說明。(關(guān)于多層)如果設(shè)置為從保護(hù)層一側(cè)入射激光，將信息再現(xiàn)和/或記錄的單面光盤，則當(dāng)記 錄層為2層以上的情況下，就要在基板和保護(hù)層之間設(shè)置多個(gè)記錄層，這種情況下的多層 光盤的一般構(gòu)成例如圖15所示。圖中所示的光盤由(n+1)層的信息記錄層502構(gòu)成(η為0以上的整數(shù))。以下，對其構(gòu)成進(jìn)行具體說明。光盤中，從激光505入射一側(cè)的表面開始，依 次層疊有覆蓋層501、(n+1)片的信息記錄層(In LO層)502和基板500。另外，在(n+1) 片的信息記錄層502的層與層之間插入了中間層503作為光學(xué)緩沖部件。即，在與光入射 面相隔規(guī)定的距離的最內(nèi)側(cè)的位置(離光源最遠(yuǎn)的位置)上設(shè)置基準(zhǔn)層(LO)，以從基準(zhǔn)層 (LO)向光入射面一側(cè)增加層的方式層疊記錄層(Li，L2，. . . Ln)。在此，在與單層光盤比較的情況下，可以將從多層光盤中的光入射面到基準(zhǔn)層LO 的距離設(shè)為與從單層光盤中的光入射面到記錄層的距離大致相同(例如，0. Imm左右)。如 上所述，通過與層數(shù)無關(guān)地將到最內(nèi)層(最遠(yuǎn)層)的距離設(shè)為固定(即，設(shè)為與單層光盤的 情況大致相同的距離，可以不管是單層還是多層，都能保持關(guān)于觸及基準(zhǔn)層的互換性。另 外，可以抑制由于層數(shù)的增加而導(dǎo)致的翹起影響的增加。之所以可以抑制翹起影響的增加 是因?yàn)殡m然最內(nèi)層最受翹起的影響，但是，通過將到最內(nèi)層的距離設(shè)為與單層光盤大致相 同的距離，從而即使層數(shù)增加，到最內(nèi)層的距離也不會增加。另外，關(guān)于光點(diǎn)的前進(jìn)方向(或磁道方向，也稱為螺旋方向)，既可以設(shè)為順光 路 徑，也可以設(shè)為逆光 路徑。在順光·路徑的情況下，在所有的層中，再現(xiàn)方向都相同。即，光點(diǎn)的前進(jìn)方向在 所有的層中從內(nèi)周向外周方向或在所有的層中從外周向內(nèi)周的方向前進(jìn)。另一方面，在逆光·路徑的情況下，某一層和與該層相鄰的層再現(xiàn)方向相反。艮口， 在基準(zhǔn)層(LO)的再現(xiàn)方向是從內(nèi)周向外周的方向的情況下，記錄層Ll的再現(xiàn)方向是從外 周向內(nèi)周的方向，在記錄層L2中，是從內(nèi)周向外周的方向。即，再現(xiàn)方向在記錄層Lm(m為 0以及偶數(shù))的情況下，為從內(nèi)周向外周的方向，在記錄層Lm+1的情況下，為從外周向內(nèi)周 的方向。或者，在記錄層Lm(m是0以及偶數(shù))的情況下，是從外周到內(nèi)周的方向，在記錄層 Lm+1的情況下，是從內(nèi)周向外周的方向。保護(hù)層(覆蓋層)的厚度被設(shè)定得更薄，這樣做是因?yàn)殚_口數(shù)NA增加使焦點(diǎn)距離 變短，另外，可控制由于傾斜所引起的光點(diǎn)歪曲的影響。開口數(shù)NA在CD中為0.45 ；在DVD 中為0. 65 ；相比之下，在BD中大致設(shè)為0. 85。例如，在記錄介質(zhì)的總厚度1. 2mm左右中，可 以將保護(hù)層的厚度設(shè)為10 200 μ m。更具體講，在1. Imm左右的基板中，如果是單層光盤， 則可以設(shè)置0. Imm左右的透明保護(hù)層；如果是二層光盤，則在0. 075mm左右的保護(hù)層中可以 設(shè)置0.025mm左右的中間層(Spacer Layer)。如果是三層或以上的光盤，則保護(hù)層和/或 中間層的厚度可以設(shè)得更薄。(從1層開始的4層的各構(gòu)成例)在此，單層光盤的構(gòu)成例如圖16所示；二層光盤的構(gòu)成例如圖17所示；三層光 盤的構(gòu)成例如圖18所示；四層光盤的構(gòu)成例如圖19所示。如上所述，將從光照射面到基 準(zhǔn)層LO的距離設(shè)為固定的情況下，在圖17到圖19的任意一個(gè)圖中，光盤的總厚度為大致 1.2mm(當(dāng)標(biāo)簽印刷等也包括在內(nèi)的情況下，優(yōu)選1.40mm以下)；基板500的厚度大致為 1. Imm;從光照射面到基準(zhǔn)層LO的距離為大致0. 1mm。在圖16的單層光盤(在圖15中，當(dāng) η = 0的情況)中，覆蓋層5011的厚度大致為0. Imm;另外，在圖17的二層光盤(在圖15 中，當(dāng)η = 1的情況)中，覆蓋層5012的厚度大致為0.075mm;中間層5032的厚度大致為 0. 025mm ；另外，在圖18的三層光盤(在圖15中，當(dāng)η = 2的情況)或圖19的四層光盤(在 圖15中，當(dāng)η = 3的情況)中，覆蓋層5013、5014的厚度和/或中間層5033、5034的厚度變得更薄。(光盤的制造方法)這些單層或多層的光盤(具有k層的記錄層的光盤，k為1以上的整數(shù))可以通 過如下的工序進(jìn)行制造。即，在厚度為大致1. Imm的基板上，通過開口數(shù)為0.84以上，0.86以下的物鏡，照 射波長為400nm以上、410nm以下的激光，由此，形成可再現(xiàn)信息的k個(gè)記錄層。然后，在記錄層和記錄層之間形成k-Ι個(gè)中間層。并且，在單層光盤的情況下，由 于k= 1，因此，k-1 = 0，不形成中間層。然后，從基板側(cè)數(shù)起，在第k記錄層(當(dāng)多層光盤的情況下，離基板最遠(yuǎn)的記錄層) 上形成厚度為0. Imm以下的保護(hù)層。另外，在形成記錄層的工序中，當(dāng)從基板側(cè)數(shù)起，在形成第i(i為1以上、k以下的 奇數(shù))記錄層時(shí)，形成同心圓狀或螺旋狀的磁道，以便再現(xiàn)方向從光盤的內(nèi)周側(cè)成為外周 側(cè)的方向。另外，當(dāng)從基板側(cè)數(shù)起，在形成第j(j為1以上、k以下的偶數(shù))記錄層時(shí)，形成 同心圓狀或螺旋狀的磁道，以便再現(xiàn)方向從光盤的外周側(cè)成為內(nèi)周側(cè)的方向。并且，當(dāng)單層 光盤的情況下，由于k= 1，因此滿足k= 1中的1以上、k以下這一條件的奇數(shù)i只有“1”， 所以，作為第i記錄層只形成一個(gè)記錄層，另外，由于滿足k = 1中的1以上、k以下這一條 件的偶數(shù)j不存在，所以，不形成第j記錄層。另外，在記錄層的磁道中可分配各種區(qū)域。(光盤的再現(xiàn)裝置)這種單層或多層的光盤(具有k層記錄層的光盤，k為1以上的整數(shù))的再現(xiàn)通 過具有以下結(jié)構(gòu)的再現(xiàn)裝置進(jìn)行。作為光盤的結(jié)構(gòu)，具有厚度為大致1. Imm的基板；在上述基板上的k個(gè)記錄層； 在記錄層和記錄層之間的k-Ι個(gè)中間層(并且，當(dāng)為單層光盤的情況下，由于k= 1，所以 k-1 = 0，不存在中間層)；從基板側(cè)數(shù)起，第k記錄層(當(dāng)為多層光盤的情況下，離基板最 遠(yuǎn)的記錄層)上的厚度為o.lmm以下的保護(hù)層。在k個(gè)記錄層的每一層中形成磁道，在其 中至少1個(gè)磁道中可分配各種區(qū)域。而且，從上述保護(hù)層的表面?zhèn)?，通過開口數(shù)為0. 84以上、0. 86以下的物鏡，利用照 射波長為400nm以上、410nm以下的激光的光頭，可從k個(gè)記錄層的每一個(gè)中再現(xiàn)信息。另外，從基板側(cè)開始數(shù)起，在第i(i為1以上，k以下的奇數(shù))記錄層中，形成同心 圓或螺旋狀的磁道，通過從光盤的內(nèi)周側(cè)向外周側(cè)的方向再現(xiàn)的控制部，控制再現(xiàn)方向，由 此，可從第i記錄層再現(xiàn)信息。另外，從基板側(cè)開始數(shù)起，在第j(j為1以上，k以下的奇數(shù))記錄層中，形成同心 圓或螺旋狀的磁道，通過從光盤的外周側(cè)向內(nèi)周側(cè)的方向再現(xiàn)的控制部，控制再現(xiàn)方向，由 此，可從第j記錄層再現(xiàn)信息。(調(diào)制)接下來，對記錄信號的調(diào)制方式進(jìn)行說明。在將數(shù)據(jù)(原始的源數(shù)據(jù)/調(diào)制前的 二進(jìn)制數(shù)據(jù))記錄在記錄介質(zhì)中的情況下，被分割為規(guī)定的尺寸之后，再次被分割為規(guī)定 的尺寸的數(shù)據(jù)被分割為規(guī)定長度的幀，在每一幀中插入規(guī)定的同步碼/同步符號系列(幀 同步區(qū)域)。被分割為幀的數(shù)據(jù)作為按照符合記錄介質(zhì)的記錄再現(xiàn)信號特性的規(guī)定的調(diào)制規(guī)則被調(diào)制的數(shù)據(jù)符號系列被記錄(幀數(shù)據(jù)區(qū)域)。在此，作為調(diào)制規(guī)則，也可以是限制標(biāo)記長度的RLL (Run LengthLimited)符號化 方式等，當(dāng)標(biāo)作RLL (d，k)的情況下，表示1和1之間出現(xiàn)的0為最小d個(gè)、最大k個(gè)的意思 (d以及k是滿足d < k的自然數(shù))。例如，當(dāng)d = 1，k = 7的情況下，如果將T作為調(diào)制的 基準(zhǔn)周期，則成為最短為2T、最長為8T的記錄標(biāo)記以及空格。另外，也可以作為在RLL(1，7) 調(diào)制中再加入[1][2]的特征的 1-7PP 調(diào)制。1-7PP 的 “PP” 是 Paritypreserve/Prohibit Repeated Minimum Transition Length 白勺胃8§，#力[1] MtJ白勺 P ^ Parity preserve ^ 示調(diào)制前的源數(shù)據(jù)比特的“1”的個(gè)數(shù)的奇偶(即Parity)和與其對應(yīng)的調(diào)制后的比特模式 的“1”的個(gè)數(shù)的奇偶一致；作為[2]后面的P的Prohibit Repeated Minimum Transition Length表示限制(具體而言，將2T的反復(fù)次數(shù)限制在最大6次)調(diào)制后的記錄波形上的最 短標(biāo)記以及空格的反復(fù)次數(shù)的結(jié)構(gòu)。并且，如果記錄密度提高，則會產(chǎn)生存在多種光盤介質(zhì)的記錄密度的可能性。在這 種情況下，關(guān)于上述各種格式或方式，可以根據(jù)記錄密度，只采用其一部分，或者將一部分 變更為其他的格式或方式。接下來，對光盤的物理結(jié)構(gòu)進(jìn)行說明。圖20表示本實(shí)施方式的光盤1的物理結(jié)構(gòu)。在圓盤狀的光盤1中，形成多個(gè)例如 同心圓狀或螺旋狀的磁道2Α，在各磁道2Α中形成細(xì)分的多個(gè)扇區(qū)。并且，如后面要說明的 那樣，在各磁道2Α中記錄以預(yù)先規(guī)定了尺寸的塊3Α為單位的數(shù)據(jù)。本實(shí)施方式的光盤1與以往的光盤(例如25GB的BD)相比，擴(kuò)大了相當(dāng)于1層信 息記錄層的記錄容量。記錄容量的擴(kuò)大是通過提高記錄線密度而實(shí)現(xiàn)的，例如，是通過將光 盤中所記錄的記錄標(biāo)記的標(biāo)記長度縮得更短而實(shí)現(xiàn)的。在此，“提高記錄線密度”是指縮短 信道比特長度。該信道比特是指相當(dāng)于標(biāo)準(zhǔn)時(shí)鐘的周期T(根據(jù)規(guī)定的調(diào)制規(guī)則記錄標(biāo)記 時(shí)的調(diào)制的標(biāo)準(zhǔn)周期Τ)的長度。并且，光盤1也可以進(jìn)行多層化。不過，以下為了方便說 明，只提到1個(gè)信息記錄層。另外，在設(shè)置了多層的信息記錄層的情況下，即使在各信息記 錄層中所設(shè)置的磁道的寬度相同時(shí)，每一層的標(biāo)記長度也不同，且同一層中的標(biāo)記長度一 樣，由此，可以使每一層的記錄線密度不同。磁道2Α按照每64KB (千比特)的數(shù)據(jù)的記錄單位而分成塊，依次分配塊地址值。 塊被分割為規(guī)定的長度的子塊，3個(gè)子塊構(gòu)成1個(gè)塊。子塊按照從前面開始的順序被分派了 0到2的子塊編號。(關(guān)于記錄密度)接下來，通過圖21、圖22以及圖23對記錄密度進(jìn)行說明。圖21 (a)表示25GB的BD的例子。在BD中，激光123的波長為405nm，物鏡220的 開口數(shù)(Numerical Aperture :NA)為 0. 85。DVD同樣，也在BD中，記錄數(shù)據(jù)作為物理變化的標(biāo)記串120、121記錄在光盤的磁道 2A上。將該標(biāo)記串中長度最短的標(biāo)記稱為“最短標(biāo)記”。在圖中，標(biāo)記121是最短標(biāo)記。在25GB記錄容量的情況下，最短標(biāo)記121的物理長度為0. 149 μ m。這相當(dāng)于DVD 的大約1/2. 7，即使改變光學(xué)系統(tǒng)的波長參數(shù)(405nm)和NA參數(shù)(0. 85)，提高激光的分辨 率，光束也接近可識別記錄標(biāo)記的極限、即光學(xué)分辨率的極限。圖22表示在記錄在磁道上的標(biāo)記串上照射了光束的情況。在BD中，根據(jù)上述光學(xué)系統(tǒng)參數(shù)，光點(diǎn)30A成為大約0. 39 μ m左右。在不改變光學(xué)系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)來提高記錄線密 度的情況下，相對于光點(diǎn)30A的點(diǎn)直徑，記錄標(biāo)記相對變小，因此，再現(xiàn)的分辨率變差。例如，圖21 (b)表示記錄密度比25GB的BD還高的光盤的例子。即使在該光盤中， 激光123的波長也為405nm，物鏡220的開口數(shù)(Numerical Aperture :NA)為0· 85。在該 光盤的標(biāo)記串125、124中，最短標(biāo)記125的物理長度為0. 1115 μ m。與圖21(a)相比，光點(diǎn) 直徑同樣為大約0. 39 μ m，但記錄標(biāo)記相對變小，并且，標(biāo)記間隔也變窄，因此，再現(xiàn)的分辨 率變差。通過光束再現(xiàn)記錄標(biāo)記時(shí)的再現(xiàn)信號的振幅隨著記錄標(biāo)記變短而降低，在光學(xué)分 辨率的極限成為零。該記錄標(biāo)記的周期的倒數(shù)稱為空間頻率，將空間頻率和信號振幅的關(guān) 系稱為OTF (Optical Transfer Function)。信號振幅隨著空間頻率升高而大致呈直線型降 低。將信號振幅成為零的再現(xiàn)的極限頻率稱為OTF截?cái)?cutoff)。圖23是表示25GB記錄容量的情況的OTF和最短記錄標(biāo)記的關(guān)系的圖表。BD的最 短標(biāo)記的空間頻率相對于OTF為80%左右，接近OTF截?cái)唷Ａ硗?，可知最短?biāo)記的再現(xiàn)信號 的振幅也變得非常小，達(dá)到可檢測的最大振幅的大約10%左右。當(dāng)BD的最短標(biāo)記的空間頻 率非常接近OTF截?cái)嗟那闆r下的、即當(dāng)幾乎不出現(xiàn)再現(xiàn)振幅的情況下的記錄容量在BD中相 當(dāng)于大約31GB。如果最短標(biāo)記的再現(xiàn)信號的頻率是接近OTF截?cái)囝l率、或是超過其的頻率， 則有時(shí)會達(dá)到或超過激光的分辨率的極限，再現(xiàn)信號的再現(xiàn)振幅變小，成為SN比急劇惡化 的區(qū)域。因此，圖21 (b)的高記錄密度光盤的記錄線密度可根據(jù)再現(xiàn)信號的最短標(biāo)記的頻 率接近OTF截?cái)囝l率的情況(雖然在OTF截?cái)囝l率以下，但也包括不會大幅度低于OTF截 斷頻率的情況)，設(shè)想到OTF截?cái)囝l率以上的情況。圖24是表示最短標(biāo)記(2T)的空間頻率比OTF截?cái)囝l率還高、并且2T的再現(xiàn)信號 的振幅為0時(shí)的、信號振幅和空間頻率的關(guān)系的一個(gè)例子的圖表。在圖24中，最短標(biāo)記長 度的2T的空間頻率是OTF截?cái)囝l率的1. 12倍。(波長、開口數(shù)和標(biāo)記長度的關(guān)系)另外，高記錄密度的光盤B的波長、開口數(shù)和標(biāo)記長度/空格長度的關(guān)系如下所 述。在將最短標(biāo)記長度設(shè)為TMnm，將最短空格長度設(shè)為TSnm時(shí)，如果用“P”表示(最 短標(biāo)記長度+最短空格長度)，則P為(TM+TS)nm。在17調(diào)制的情況下，成為P = 2T+2T = 4T。如果使用激光波長λ (405nm士5nm，即400 410nm)、開口數(shù)N Α(0· 85士0.01即0. 84 0. 86)、最短標(biāo)記+最短空格長P (17調(diào)制的情況下，最短長度成為2Τ，因此P = 2Τ+2Τ = 4Τ) 這3個(gè)參數(shù)，則基準(zhǔn)T變小到P彡λ /2ΝΑ,這樣一來，最短標(biāo)記的空間頻率就變得超過OTF 截?cái)囝l率。相當(dāng)于設(shè)NA = 0. 85，λ = 405時(shí)的、OTF截?cái)囝l率的基準(zhǔn)T成為T = 405/ (2X0. 85)/4 = 59. 558nm(此外，相反，在P > λ /2ΝΑ的情況下，最短標(biāo)記的空間頻率比OTF 截?cái)囝l率低)。如上所述，即使只提高記錄線密度，由于光學(xué)分辨率的局限，SN比也變差。因此， 由于信息記錄層的多層化導(dǎo)致的SN比惡化，從系統(tǒng)裕量的觀點(diǎn)來看，有時(shí)是不允許的。特 別是，如上所述，最短記錄標(biāo)記的頻率超過OTF截?cái)囝l率，因此SN比惡化變得顯著。
并且，在以上內(nèi)容中，雖然對最短標(biāo)記的再現(xiàn)信號的頻率和OTF截?cái)囝l率進(jìn)行比 較，描述了記錄密度，但是，當(dāng)高密度化進(jìn)一步發(fā)展的情況下，可以根據(jù)次最短標(biāo)記(次次 最短標(biāo)記(次最短標(biāo)記以上的記錄標(biāo)記))的再現(xiàn)信號的頻率和OTF截?cái)囝l率的關(guān)系，基于 與上述相同的原理，設(shè)定與上述各頻率對應(yīng)的記錄密度(記錄線密度，記錄容量)。(記錄密度以及層數(shù))在此，作為具有波長405nm、開口數(shù)0. 85等規(guī)格的BD中的每一層的具體記錄 容量，當(dāng)最短標(biāo)記的空間頻率接近OTF截?cái)囝l率的情況下，可設(shè)想為例如大致29GB (例 如，29. OGB 士 0. 5GB或29GB 士 IGB等)或其以上；或者大致30GB(例如，30. OGB 士 0. 5GB或 30GB士 IGB等)或其以上；或者大致31GB(例如，31.0GB±0. 5GB或31GB士 IGB等)或其以 上；或者大致32GB(例如，32. OGB士0. 5GB或32GB士 IGB等)或其以上等。另外，作為最短標(biāo)記的空間頻率為OTF截?cái)囝l率以上的、每一層的記錄容量，可設(shè) 想為例如大致32GB (例如，32. OGB士0. 5GB或32GB士 IGB等)或其以上；或者大致33GB (例 如，33. OGB士0. 5GB 或 33GB士 IGB 等)或其以上；或者大致 33. 3GB(例如，33. 3GB士0. 5GB 或 33. 3GB士 IGB 等)或其以上；或者大致 33. 4GB (例如，33. 4GB士0. 5GB 或 33. 4GB士 IGB 等) 或其以上；或者大致34GB(例如，34.0GB±0. 5GB或34GB 士 IGB等)或其以上；或者大致 35GB (例如，35. OGB 士 0. 5GB 或 35GB 士 IGB 等)或其以上等。特別地，當(dāng)記錄密度為大致33. 3GB的情況下，能用3層實(shí)現(xiàn)大約100GB (99. 9GB) 的記錄容量；若大致33. 4GB，則能用3層實(shí)現(xiàn)100GB以上(100. 2GB)的記錄容量。這與將 25GB的BD設(shè)為4層時(shí)的記錄容量幾乎相同。例如，將記錄密度設(shè)為33GB的情況下，33 X 3 =99GB，與 100GB 之差為 IGB (IGB 以下)；設(shè)為 33. 4GB 的情況下，33. 4X3 = 100. 2GB，與 100GB 之差為 0. 2GB (0. 2GB 以下)。并且，如果記錄密度被大幅度擴(kuò)大，則如上述所述，由于最短標(biāo)記的再現(xiàn)特性的影 響，很難進(jìn)行精密的再現(xiàn)。因此，作為在抑制記錄密度的大幅度擴(kuò)大的同時(shí)，實(shí)現(xiàn)100GB以 上的記錄密度，大致為33. 4GB比較現(xiàn)實(shí)。在此，出現(xiàn)了是將光盤的結(jié)構(gòu)設(shè)為每一層25GB的4層結(jié)構(gòu)，還是設(shè)為每一層33 34GB的3層結(jié)構(gòu)的選擇。在多層化當(dāng)中，會伴隨著記錄層中的再現(xiàn)信號振幅降低(SN比的 變差)或多層雜散光(來自相鄰的記錄層的信號)的影響等問題。因此，通過設(shè)為33 34GB的3層光盤，而不是25GB的4層光盤，能極力抑制該雜散光的影響，即，能夠通過更少 的層數(shù)(3層而不是4層)，實(shí)現(xiàn)大約100GB。因此，希望在極力避免多層化的同時(shí)實(shí)現(xiàn)大約 100GB的光盤制造者可選擇33 34GB的3層化。另一方面，希望就以現(xiàn)有的格式(記錄密 度25GB)來實(shí)現(xiàn)大約100GB的光盤制造者可選擇25GB的4層化。如上所述，目的不同的制 造者可通過各自不同的結(jié)構(gòu)實(shí)現(xiàn)各自的目的，這樣一來能賦予光盤設(shè)計(jì)很大的自由度。另外，如果將每一層的記錄密度設(shè)為30 32GB左右，則雖然3層光盤不能達(dá)到 100GB(90 96GB左右)，但是若4層光盤則可以實(shí)現(xiàn)120GB以上。其中，如果將記錄密度 設(shè)為大致32GB，則4層光盤可實(shí)現(xiàn)大約128GB的記錄容量。128這個(gè)數(shù)字也是調(diào)整為計(jì)算 機(jī)處理時(shí)很方便的2的乘方(2的7次方)的數(shù)值。而且，與用3層光盤實(shí)現(xiàn)大約100GB的 記錄密度的情況相比，其針對最短標(biāo)記的再現(xiàn)特性很輕松。由此可知，當(dāng)記錄密度擴(kuò)大時(shí)，通過將記錄密度設(shè)置為多個(gè)種類(例如，大致32GB 和大致33. 4GB等)，將多個(gè)種類的記錄密度和層數(shù)進(jìn)行組合，可在設(shè)計(jì)上賦予光盤制造者更大的自由度。例如，對于希望控制多層化的影響，并且想謀求大容量化的制造者來講，有 制造利用33 34GB的3層化方式的大約100GB的3層光盤的選擇；對于希望控制再現(xiàn)特 性的影響，并且想謀求大容量化的制造者來講，有制造利用30 32GB的4層化方式的大約 120GB以上的4層光盤的選擇。如以上所說明的那樣，本發(fā)明的再現(xiàn)信號評估方法包括通過可記錄組合了標(biāo)記 和空格的數(shù)據(jù)串的信息記錄介質(zhì)，將上述數(shù)據(jù)串再現(xiàn)而獲得信號的步驟；使用PRML信號處 理方式由該信號生成二進(jìn)制信號的步驟；以及差分計(jì)算步驟，使用根據(jù)上述二進(jìn)制信號獲 得的最有可能的第1狀態(tài)遷移串以及第2有可能的第2狀態(tài)遷移串和再現(xiàn)信號，來計(jì)算差 分度量，最短空格與最短標(biāo)記的前方或后方相鄰的模式中的、上述最短標(biāo)記的邊緣偏離量 由針對以下第1模式和以下第2模式中的一種模式計(jì)算出的差分度量而獲得，上述第1模 式為與上述最短標(biāo)記相鄰、且與上述最短空格不相鄰的空格的長度比上述最短空格還長； 上述第2模式為與上述最短空格相鄰、且與上述最短標(biāo)記不相鄰的標(biāo)記的長度比上述最 短標(biāo)記還長。根據(jù)某實(shí)施方式，將上述數(shù)據(jù)串的標(biāo)準(zhǔn)周期設(shè)為T時(shí)，上述最短標(biāo)記以及上述最短 空格的各自長度為2T，在將上述最短標(biāo)記與上述最短空格相鄰的模式的二進(jìn)制數(shù)據(jù)用“0” 和“1”表示時(shí)，根據(jù)針對上述二進(jìn)制數(shù)據(jù)成為“ X 000110011 X ”或“ X 001100111 X ”( “ X，， 是“0”或“ 1”)的模式計(jì)算出的差分度量，獲得上述最短標(biāo)記的邊緣偏離量。根據(jù)某實(shí)施方式，將上述數(shù)據(jù)串的標(biāo)準(zhǔn)周期設(shè)為T時(shí)，上述最短標(biāo)記以及上述最短 空格的各自長度為2T，在將上述最短標(biāo)記和上述最短空格相鄰的模式的二進(jìn)制數(shù)據(jù)用“0” 和“1”表示時(shí)，根據(jù)針對上述二進(jìn)制數(shù)據(jù)成為“ X 110011000 X ”或“ X 111001100 X ” ( “ X，， 是“0”或“ 1”)的模式計(jì)算出的差分度量，獲得上述最短標(biāo)記的邊緣偏離量。另外，本發(fā)明的信息記錄介質(zhì)是可記錄組合了標(biāo)記和空格的數(shù)據(jù)串的信息記錄介 質(zhì)，上述信息記錄介質(zhì)具有用于記錄上述數(shù)據(jù)串的磁道，上述信息記錄介質(zhì)的再現(xiàn)信號使 用規(guī)定的方法進(jìn)行評估，上述規(guī)定的方法包括通過上述信息記錄介質(zhì)，將上述數(shù)據(jù)串再現(xiàn) 而獲得信號，使用PRML信號處理方式，根據(jù)上述信號生成二進(jìn)制信號的步驟；以及差分計(jì) 算步驟，使用根據(jù)上述二進(jìn)制信號獲得的最有可能的第1狀態(tài)遷移串以及第2有可能的第 2狀態(tài)遷移串和再現(xiàn)信號，來計(jì)算差分度量，最短空格與最短標(biāo)記的前方或后方相鄰的模式 中的、上述最短標(biāo)記的邊緣偏離量由針對以下第1模式和以下第2模式中的一種模式計(jì)算 出的差分度量而獲得，上述第1模式為與上述最短標(biāo)記相鄰、且與上述最短空格不相鄰的 空格的長度比上述最短空格還長；上述第2模式為與上述最短空格相鄰、且與上述最短標(biāo) 記不相鄰的標(biāo)記的長度比上述最短標(biāo)記還長。另外，本發(fā)明的再現(xiàn)裝置是用于再現(xiàn)上述信息記錄介質(zhì)的再現(xiàn)裝置，具有向上述 磁道照射激光的照射部；接受上述照射的激光的反射光的受光部；和根據(jù)從上述受光得到 的信號再現(xiàn)上述數(shù)據(jù)串的再現(xiàn)部。另外，本發(fā)明的記錄裝置是用于在上述信息記錄介質(zhì)中記錄信息的記錄裝置，具 有向上述磁道照射激光的照射部；和通過上述照射而在上述磁道中形成標(biāo)記，且記錄將上 述標(biāo)記與在上述標(biāo)記之間的空格進(jìn)行了交替排列的數(shù)據(jù)串的記錄部。另外，本發(fā)明的再現(xiàn)信號評估方法是評估從可記錄組合了標(biāo)記和空格的數(shù)據(jù)串的 信息記錄介質(zhì)中獲得的再現(xiàn)信號的方法，包括從上述數(shù)據(jù)串中識別規(guī)定的模式的識別步
33驟；以及進(jìn)行與上述被識別的模式對應(yīng)的再現(xiàn)信號的評估的評估步驟，上述識別步驟包括 2個(gè)識別步驟，一個(gè)是識別包括上述數(shù)據(jù)串中所包含的第1標(biāo)記；與上述第1標(biāo)記的前方 或后方相鄰的第1空格；和與上述第1標(biāo)記不相鄰、且與上述第1空格相鄰的第2標(biāo)記的 模式，另一個(gè)是識別在上述第1空格以及上述第2標(biāo)記的各自長度為所規(guī)定的長度以下的 情況下，與上述第1標(biāo)記不相鄰、且與上述第2標(biāo)記相鄰的第2空格是否比上述規(guī)定的長度 長。另外，本發(fā)明的信息記錄介質(zhì)是可記錄組合了標(biāo)記和空格的數(shù)據(jù)串的信息記錄介 質(zhì)，上述信息記錄介質(zhì)具有用于記錄上述數(shù)據(jù)串的磁道，上述信息記錄介質(zhì)的再現(xiàn)信號使 用規(guī)定的方法進(jìn)行評估，上述規(guī)定的方法包括從上述數(shù)據(jù)串中識別規(guī)定的模式的識別步 驟；以及進(jìn)行與上述被識別的模式對應(yīng)的再現(xiàn)信號的評估的評估步驟，上述識別步驟包括 2個(gè)識別步驟，一個(gè)是識別包括上述數(shù)據(jù)串中所包含的第1標(biāo)記；與上述第1標(biāo)記的前方 或后方相鄰的第1空格；和與上述第1標(biāo)記不相鄰、且與上述第1空格相鄰的第2標(biāo)記的模 式，另一個(gè)是識別在上述第1空格以及上述第2標(biāo)記的各自長度為規(guī)定的長度以下的情況 下，與上述第1標(biāo)記不相鄰、且與上述第2標(biāo)記相鄰的第2空格是否比上述規(guī)定的長度長。另外，本發(fā)明的再現(xiàn)裝置是用于再現(xiàn)上述信息記錄介質(zhì)的再現(xiàn)裝置，具有向上述 磁道照射激光的照射部；接受上述照射的激光的反射光的受光部；和根據(jù)從上述受光得到 的信號再現(xiàn)上述數(shù)據(jù)串的再現(xiàn)部。另外，本發(fā)明的記錄裝置是用于在上述信息記錄介質(zhì)中記錄信息的記錄裝置，具 有向上述磁道照射激光的照射部；通過上述照射而在上述磁道中形成標(biāo)記，且記錄將上述 標(biāo)記與在上述標(biāo)記之間的空格進(jìn)行了交替排列的數(shù)據(jù)串的記錄部。另外，本發(fā)明的再現(xiàn)信號評估方法是評估從可記錄組合了標(biāo)記和空格的數(shù)據(jù)串的 信息記錄介質(zhì)中獲得的再現(xiàn)信號的方法，包括從上述數(shù)據(jù)串中識別規(guī)定的模式的識別步 驟；進(jìn)行與上述被識別的模式對應(yīng)的再現(xiàn)信號的評估的評估步驟，上述識別步驟包括2個(gè) 識別步驟，一個(gè)是識別包括上述數(shù)據(jù)串中所包含的第1標(biāo)記；與上述第1標(biāo)記的前方或后 方相鄰的第1空格；和與上述第1空格不相鄰、且與上述第1標(biāo)記相鄰的第3空格的模式， 另一個(gè)是識別在上述第1標(biāo)記以及上述第3空格的各自長度為規(guī)定的長度以下的情況下， 與上述第1空格不相鄰、且與上述第3空格相鄰的第3標(biāo)記是否比上述規(guī)定的長度長。另外，本發(fā)明的信息記錄介質(zhì)是可以記錄組合了標(biāo)記和空格的數(shù)據(jù)串的信息記錄 介質(zhì)，上述信息記錄介質(zhì)具有用于記錄上述數(shù)據(jù)串的磁道，上述信息記錄介質(zhì)的再現(xiàn)信號 使用所規(guī)定的方法進(jìn)行評估，上述規(guī)定的方法包括從上述數(shù)據(jù)串中識別規(guī)定的模式的識 別步驟；以及進(jìn)行與上述被識別的模式對應(yīng)的再現(xiàn)信號的評估的評估步驟，上述識別步驟 包括2個(gè)識別步驟，一個(gè)是識別包括上述數(shù)據(jù)串中所包含的第1標(biāo)記；與上述第1標(biāo)記的 前方或后方相鄰的第1空格；和與上述第1空格不相鄰、且與上述第1標(biāo)記相鄰的第3空格 的模式，另外一個(gè)是識別在上述第1標(biāo)記以及上述第3空格的各自長度為所規(guī)定的長度以 下的情況下，與上述第1空格不相鄰、且與上述第3空格相鄰的第3標(biāo)記是否比上述規(guī)定的 長度長。另外，本發(fā)明的再現(xiàn)裝置是用于再現(xiàn)上述信息記錄介質(zhì)的再現(xiàn)裝置，具有向上述 磁道照射激光的照射部；接受上述照射的激光的反射光的受光部；和根據(jù)從上述受光得到 的信號再現(xiàn)上述數(shù)據(jù)串的再現(xiàn)部。
另外，本發(fā)明的記錄裝置是用于在上述信息記錄介質(zhì)中記錄信息的記錄裝置，具 有向上述磁道照射激光的照射部；通過上述照射在上述磁道中形成標(biāo)記，記錄將上述標(biāo)記 與在上述標(biāo)記之間的空格進(jìn)行了交替排列的數(shù)據(jù)串的記錄部。另外，本發(fā)明的再現(xiàn)信號評估方法是在具有交替地排列了標(biāo)記和空格的數(shù)據(jù)串的 信息記錄介質(zhì)中，利用PRML信號處理方式由再現(xiàn)了上述數(shù)據(jù)串的信號生成二進(jìn)制信號，并 評估上述二進(jìn)制信號的確切性的信號評估方法，其特征在于，具有差分計(jì)算步驟，根據(jù)上 述二進(jìn)制信號，計(jì)算出作為最有可能的第1狀態(tài)遷移串和第2有可能的第2狀態(tài)遷移串的、 與再現(xiàn)信號之差的差分度量；以及將上述差分度量分類成每個(gè)包括至少一個(gè)標(biāo)記和至少一 個(gè)空格的多個(gè)數(shù)據(jù)模式，上述各數(shù)據(jù)模式的分類是利用上述數(shù)據(jù)串中所包含的第1標(biāo)記的 長度和位于與上述第1標(biāo)記的前方或后方相鄰的位置的第1空格的長度的組合來進(jìn)行分類 的，并根據(jù)位于與上述第1標(biāo)記不相鄰、且與上述第1空格相鄰的位置上的第2標(biāo)記的長 度，進(jìn)一步進(jìn)行分類，由此，評估信息記錄介質(zhì)的再現(xiàn)信號質(zhì)量。在某一實(shí)施方式中，根據(jù)上述第2標(biāo)記的長度的分類僅在上述第1空格的長度為 規(guī)定的長度以下的情況下實(shí)施。在某一實(shí)施方式中，在上述數(shù)據(jù)模式的分類中，根據(jù)位于與上述第1標(biāo)記和上述 第1空格不相鄰、且與上述第2標(biāo)記相鄰的位置上的第2空格的長度，進(jìn)一步進(jìn)行分類。在某一實(shí)施方式中，根據(jù)上述第2空格的長度的分類僅在上述第2標(biāo)記的長度為 上述規(guī)定的長度以下的情況下實(shí)施。另外，本發(fā)明的再現(xiàn)信號評估方法是在具有交替地排列了標(biāo)記和空格的數(shù)據(jù)串的 信息記錄介質(zhì)中，利用PRML信號處理方式由再現(xiàn)了上述數(shù)據(jù)串的信號生成二進(jìn)制信號，并 評估上述二進(jìn)制信號的確切性的信號評估方法，其特征在于，具有差分計(jì)算步驟，根據(jù)上 述二進(jìn)制信號，計(jì)算出作為最有可能的第1狀態(tài)遷移串和第2有可能的第2狀態(tài)遷移串的、 與再現(xiàn)信號之差的差分度量；以及將上述差分度量分類成每個(gè)包括至少一個(gè)標(biāo)記和至少一 個(gè)空格的多個(gè)數(shù)據(jù)模式，上述各數(shù)據(jù)模式的分類是利用上述數(shù)據(jù)串中所包含的第1標(biāo)記的 長度和位于與上述第1標(biāo)記的前方或后方相鄰的位置的第1空格的長度的組合來進(jìn)行分類 的，并根據(jù)位于與上述第1空格不相鄰、且與上述第1標(biāo)記相鄰的位置上的第3空格的長 度，進(jìn)一步進(jìn)行分類，由此，評估信息記錄介質(zhì)的再現(xiàn)信號質(zhì)量。在某一實(shí)施方式中，根據(jù)上述第3空格的長度的分類僅在上述第1標(biāo)記的長度為 規(guī)定的長度以下的情況下實(shí)施。在某一實(shí)施方式中，在上述數(shù)據(jù)模式的分類中，根據(jù)位于與上述第1標(biāo)記和上述 第1空格不相鄰、且與上述第3空格相鄰的位置上的第3標(biāo)記的長度，進(jìn)一步進(jìn)行分類。在某一實(shí)施方式中，根據(jù)上述第3標(biāo)記的長度的分類僅在上述第3空格的長度為 上述規(guī)定的長度以下的情況下實(shí)施。在某一實(shí)施方式中，上述規(guī)定的長度設(shè)為上述數(shù)據(jù)串的最短標(biāo)記長。另外，本發(fā)明的信息再現(xiàn)裝置是在具有交替地排列了標(biāo)記和空格的數(shù)據(jù)串的信息 記錄介質(zhì)中，利用PRML信號處理方式由再現(xiàn)了上述數(shù)據(jù)串的信號生成二進(jìn)制信號，并評估 上述二進(jìn)制信號的確切性的信息再現(xiàn)裝置，其特征在于，具有差分度量計(jì)算部，其根據(jù)上 述二進(jìn)制信號，計(jì)算出作為最有可能的第1狀態(tài)遷移串和第2有可能的第2狀態(tài)遷移串的、 與再現(xiàn)信號之差的差分度量；和模式檢測部，其將上述差分度量分類成每個(gè)包括至少一個(gè)標(biāo)記和至少一個(gè)空格的多個(gè)數(shù)據(jù)模式，上述各數(shù)據(jù)模式的分類是利用上述數(shù)據(jù)串中所包含 的第1標(biāo)記的長度和位于與上述第1標(biāo)記的前方或后方相鄰的位置的第1空格的長度的組 合來進(jìn)行分類的，根據(jù)位于與上述第1標(biāo)記不相鄰、且與上述第1空格相鄰的位置上的第2 標(biāo)記的長度，進(jìn)一步進(jìn)行分類，由此，評估信息記錄介質(zhì)的再現(xiàn)信號質(zhì)量。在某一實(shí)施方式中，根據(jù)上述第2標(biāo)記的長度的分類僅在上述第1空格的長度為 規(guī)定的長度以下的情況下實(shí)施。在某一實(shí)施方式中，在上述數(shù)據(jù)模式的分類中，根據(jù)位于與上述第1標(biāo)記和上述 第1空格不相鄰、且與上述第2標(biāo)記相鄰的位置上的第2空格的長度，進(jìn)一步進(jìn)行分類。在某一實(shí)施方式中，根據(jù)上述第2空格的長度的分類僅在上述第2標(biāo)記的長度為 上述規(guī)定的長度以下的情況下實(shí)施。另外，本發(fā)明的信息再現(xiàn)裝置是在具有交替地排列了標(biāo)記和空格的數(shù)據(jù)串的信息 記錄介質(zhì)中，利用PRML信號處理方式由再現(xiàn)了上述數(shù)據(jù)串的信號生成二進(jìn)制信號，并評估 上述二進(jìn)制信號的確切性的信息再現(xiàn)裝置，其特征在于，具有差分度量計(jì)算部，其根據(jù)上 述二進(jìn)制信號，計(jì)算出作為最有可能的第1狀態(tài)遷移串和第2有可能的第2狀態(tài)遷移串的、 與再現(xiàn)信號之差的差分度量；和模式檢測部，其將上述差分度量分類成每個(gè)包括至少一個(gè) 標(biāo)記和至少一個(gè)空格的多個(gè)數(shù)據(jù)模式，上述各數(shù)據(jù)模式的分類是利用上述數(shù)據(jù)串中所包含 的第1標(biāo)記的長度和位于與上述第1標(biāo)記之前或之后相鄰的位置的第1空格的長度的組合 來進(jìn)行分類的，并根據(jù)位于與上述第1空格不相鄰、且與上述第1標(biāo)記相鄰的位置上的第3 空格的長度，進(jìn)一步進(jìn)行分類，由此，評估信息記錄介質(zhì)的再現(xiàn)信號質(zhì)量。在某一實(shí)施方式中，根據(jù)上述第3空格的長度的分類僅在上述第1標(biāo)記的長度為 上述規(guī)定的長度以下的情況下實(shí)施。在某一實(shí)施方式中，在上述數(shù)據(jù)模式的分類中，根據(jù)位于與上述第1標(biāo)記和上述 第1空格不相鄰、且與上述第3空格相鄰的位置上的第3標(biāo)記的長度，進(jìn)一步進(jìn)行分類。在某一實(shí)施方式中，根據(jù)上述第3標(biāo)記的長度的分類僅在上述第3空格的長度為 上述所規(guī)定的長度以下的情況下實(shí)施。在某一實(shí)施方式中，上述規(guī)定的長度設(shè)為上述數(shù)據(jù)串的最短標(biāo)記長度。(產(chǎn)業(yè)上的可利用性)本發(fā)明在使用最大似然譯碼進(jìn)行信號處理的技術(shù)領(lǐng)域中特別有用。
權(quán)利要求
一種再現(xiàn)信號評估方法，包括采用PRML信號處理方式，由通過可記錄組合了標(biāo)記和空格的數(shù)據(jù)串的信息記錄介質(zhì)來再現(xiàn)上述數(shù)據(jù)串而獲得的信號，生成二進(jìn)制信號的步驟；以及差分計(jì)算步驟，使用根據(jù)上述二進(jìn)制信號獲得的最有可能的第1狀態(tài)遷移串以及第2有可能的第2狀態(tài)遷移串和再現(xiàn)信號，來計(jì)算差分度量，最短空格與最短標(biāo)記的前方或后方相鄰的模式中的、上述最短標(biāo)記的邊緣偏離量由針對以下的第1模式和第2模式中的一種模式計(jì)算出的差分度量而獲得，上述第1模式為與上述最短標(biāo)記相鄰且與上述最短空格不相鄰的空格的長度比上述最短空格還長；上述第2模式為與上述最短空格相鄰且與上述最短標(biāo)記不相鄰的標(biāo)記的長度比上述最短標(biāo)記還長。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的再現(xiàn)信號評估方法，其中，將上述數(shù)據(jù)串的標(biāo)準(zhǔn)周期設(shè)為T時(shí)，上述最短標(biāo)記以及上述最短空格各自的長度為2T,在用“0”和“ 1 ”表示上述最短標(biāo)記與上述最短空格相鄰的模式的二進(jìn)制數(shù)據(jù)時(shí)，由針 對上述二進(jìn)制數(shù)據(jù)成為“ X 000110011 X ”或“ X 001100111 X，，的模式計(jì)算出的差分度量， 獲得上述最短標(biāo)記的邊緣偏離量，其中，“ X是“0”或“ 1 ”。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的再現(xiàn)信號評估方法，其中，將上述數(shù)據(jù)串的標(biāo)準(zhǔn)周期設(shè)為T時(shí)，上述最短標(biāo)記以及上述最短空格各自的長度為2T,在用“0”和“1”表示上述最短標(biāo)記與上述最短空格相鄰的模式的二進(jìn)制數(shù)據(jù)時(shí)，由針 對上述二進(jìn)制數(shù)據(jù)成為“ X 110011000X ”或“ X 111001100X ”的模式計(jì)算出的差分度量， 獲得上述最短標(biāo)記的邊緣偏離量，其中，“ X是“0”或“ 1 ”。
4.一種信息記錄介質(zhì)，是可記錄組合了標(biāo)記和空格的數(shù)據(jù)串的信息記錄介質(zhì)， 上述信息記錄介質(zhì)具有用于記錄上述數(shù)據(jù)串的磁道，使用規(guī)定的方法對上述信息記錄介質(zhì)的再現(xiàn)信號進(jìn)行評估， 上述規(guī)定的方法包括采用PRML信號處理方式，由通過上述信息記錄介質(zhì)來再現(xiàn)上述數(shù)據(jù)串而獲得的信號， 生成二進(jìn)制信號的步驟；以及差分計(jì)算步驟，使用根據(jù)上述二進(jìn)制信號獲得的最有可能的第1狀態(tài)遷移串以及第2 有可能的第2狀態(tài)遷移串和再現(xiàn)信號，來計(jì)算差分度量，最短空格與最短標(biāo)記的前方或后方相鄰的模式中的、上述最短標(biāo)記的邊緣偏離量，由 針對以下的第1模式和第2模式中的一種模式計(jì)算出的差分度量而獲得，上述第1模式為與上述最短標(biāo)記相鄰且與上述最短空格不相鄰的空格的長度比上述 最短空格還長，上述第2模式為與上述最短空格相鄰且與上述最短標(biāo)記不相鄰的標(biāo)記的長度比上述 最短標(biāo)記還長。
5.一種再現(xiàn)裝置，用于再現(xiàn)權(quán)利要求4所述的信息記錄介質(zhì)，其具有向上述磁道照射激光的照射部；接受上述照射的激光的反射光的受光部；和根據(jù)通過上述受光而得到的信號來再現(xiàn)上述數(shù)據(jù)串的再現(xiàn)部。
6.一種記錄裝置，用于在權(quán)利要求4所述的信息記錄介質(zhì)中記錄信息，其具有 向上述磁道照射激光的照射部；和通過上述照射而在上述磁道中形成標(biāo)記，記錄將上述標(biāo)記與在上述標(biāo)記之間的空格進(jìn) 行了交替排列的數(shù)據(jù)串的記錄部。
7.一種再現(xiàn)信號評估方法，是評估從可記錄組合了標(biāo)記和空格的數(shù)據(jù)串的信息記錄介 質(zhì)中獲得的再現(xiàn)信號的方法，包括從上述數(shù)據(jù)串中識別規(guī)定的模式的識別步驟；以及 進(jìn)行與上述被識別的模式對應(yīng)的再現(xiàn)信號的評估的評估步驟， 上述識別步驟包括以下2個(gè)識別步驟，即識別模式的步驟，其中該模式包括上述數(shù)據(jù)串中所包含的第1標(biāo)記；與上述第1標(biāo)記 的前方或后方相鄰的第1空格；和與上述第1標(biāo)記不相鄰、且與上述第1空格相鄰的第2標(biāo) 記；在上述第1空格以及上述第2標(biāo)記各自的長度為規(guī)定的長度以下的情況下，識別與上 述第1標(biāo)記不相鄰、且與上述第2標(biāo)記相鄰的第2空格是否比上述規(guī)定的長度長的步驟。
8.一種信息記錄介質(zhì)，是可記錄組合了標(biāo)記和空格的數(shù)據(jù)串的信息記錄介質(zhì)， 上述信息記錄介質(zhì)具有用于記錄上述數(shù)據(jù)串的磁道，使用規(guī)定的方法對上述信息記錄介質(zhì)的再現(xiàn)信號進(jìn)行評估， 上述規(guī)定的方法包括從上述數(shù)據(jù)串中識別規(guī)定的模式的識別步驟；以及 進(jìn)行與上述被識別的模式對應(yīng)的再現(xiàn)信號的評估的評估步驟， 上述識別步驟包括以下2個(gè)步驟，即識別模式的步驟，其中該模式包括上述數(shù)據(jù)串中所包含的第1標(biāo)記；與上述第1標(biāo)記 的前方或后方相鄰的第1空格；和與上述第1標(biāo)記不相鄰、且與上述第1空格相鄰的第2標(biāo) 記；在上述第1空格以及上述第2標(biāo)記各自的長度為規(guī)定的長度以下的情況下，識別與上 述第1標(biāo)記不相鄰、且與上述第2標(biāo)記相鄰的第2空格是否比上述規(guī)定的長度長的步驟。
9.一種再現(xiàn)裝置，用于再現(xiàn)權(quán)利要求8所述的信息記錄介質(zhì)，其具有 向上述磁道照射激光的照射部；接受上述照射的激光的反射光的受光部；和根據(jù)通過上述受光而得到的信號來再現(xiàn)上述數(shù)據(jù)串的再現(xiàn)部。
10.一種記錄裝置，用于在權(quán)利要求8所述的信息記錄介質(zhì)中記錄信息，具有 向上述磁道照射激光的照射部；和通過上述照射而在上述磁道中形成標(biāo)記，記錄將上述標(biāo)記與在上述標(biāo)記之間的空格進(jìn) 行了交替排列的數(shù)據(jù)串的記錄部。
11.一種再現(xiàn)信號評估方法，是評估從可記錄組合了標(biāo)記和空格的數(shù)據(jù)串的信息記錄介質(zhì)中獲得的再現(xiàn)信號的方法， 包括從上述數(shù)據(jù)串中識別規(guī)定的模式的識別步驟；以及 進(jìn)行與上述被識別的模式對應(yīng)的再現(xiàn)信號的評估的評估步驟， 上述識別步驟包括以下2個(gè)步驟，即識別模式的步驟，其中該模式包括上述數(shù)據(jù)串中所包含的第1標(biāo)記；與上述第1標(biāo)記 的前方或后方相鄰的第1空格；和與上述第1空格不相鄰、且與上述第1標(biāo)記相鄰的第3空 格； 在上述第1標(biāo)記以及上述第3空格各自的長度為規(guī)定的長度以下的情況下，識別與上 述第1空格不相鄰、且與上述第3空格相鄰的第3標(biāo)記是否比上述規(guī)定的長度長的步驟。
12.一種信息記錄介質(zhì)，是可記錄組合了標(biāo)記和空格的數(shù)據(jù)串的信息記錄介質(zhì)， 上述信息記錄介質(zhì)具有用于記錄上述數(shù)據(jù)串的磁道，使用規(guī)定的方法對上述信息記錄介質(zhì)的再現(xiàn)信號進(jìn)行評估， 上述規(guī)定的方法包括從上述數(shù)據(jù)串中識別規(guī)定的模式的識別步驟；以及 進(jìn)行與上述被識別的模式對應(yīng)的再現(xiàn)信號的評估的評估步驟， 上述識別步驟包括以下2個(gè)步驟，即識別模式的步驟，其中該模式包括上述數(shù)據(jù)串中所包含的第1標(biāo)記；與上述第1標(biāo)記 的前方或后方相鄰的第1空格；和與上述第1空格不相鄰、且與上述第1標(biāo)記相鄰的第3空 格；在上述第1標(biāo)記以及上述第3空格各自的長度為規(guī)定的長度以下的情況下，與上述第 1空格不相鄰、且與上述第3空格相鄰的第3標(biāo)記是否比上述規(guī)定的長度長的步驟。
13.—種再現(xiàn)裝置，用于再現(xiàn)權(quán)利要求12所述的信息記錄介質(zhì)，其具有 向上述磁道照射激光的照射部；接受上述照射的激光的反射光的受光部；和根據(jù)通過上述受光而得到的信號來再現(xiàn)上述數(shù)據(jù)串的再現(xiàn)部。
14.一種記錄裝置，用于在權(quán)利要求12所述的信息記錄介質(zhì)中記錄信息，其具有 向上述磁道照射激光的照射部；通過上述照射而在上述磁道中形成標(biāo)記，記錄將上述標(biāo)記與在上述標(biāo)記之間的空格進(jìn) 行了交替排列的數(shù)據(jù)串的記錄部。
全文摘要
本發(fā)明提供一種再現(xiàn)信號評估方法、信息記錄介質(zhì)、再現(xiàn)裝置、記錄裝置。所述再現(xiàn)信號評估方法包括通過可記錄組合了標(biāo)記和空格的數(shù)據(jù)串的信息記錄介質(zhì)，將數(shù)據(jù)串再現(xiàn)而獲得信號，使用PRML信號處理方式，由上述信號生成二進(jìn)制信號的步驟；差分計(jì)算步驟，使用根據(jù)二進(jìn)制信號獲得的最有可能的第1狀態(tài)遷移串以及第2有可能的第2狀態(tài)遷移串和再現(xiàn)信號，來計(jì)算差分度量。最短空格與最短標(biāo)記的前方或后方相鄰的模式中的、最短標(biāo)記的邊緣偏離量由針對以下的第1模式和第2模式中的一種模式計(jì)算出的差分度量而獲得，上述第1模式為與最短標(biāo)記相鄰且與最短空格不相鄰的空格的長度比上述最短空格還長；上述第2模式為與最短空格相鄰且與上述最短標(biāo)記不相鄰的標(biāo)記的長度比最短標(biāo)記還長。
文檔編號G11B7/005GK101884070SQ20098010121
公開日2010年11月10日 申請日期2009年9月29日 優(yōu)先權(quán)日2008年10月2日
發(fā)明者伊藤清貴, 宮下晴句, 小林勛, 日野泰守 申請人:松下電器產(chǎn)業(yè)株式會社