專利名稱：光盤裝置及激光功率控制方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及通過使激光光源進(jìn)行測試發(fā)光來修正激光功率的控制偏差，記錄數(shù)據(jù)
的光盤裝置及激光功率控制方法。更具體而言，本發(fā)明使高倍速中的激光的峰值功率的控 制精度得以提高。
背景技術(shù)：
在現(xiàn)有的光盤裝置中，當(dāng)再現(xiàn)數(shù)據(jù)時，對作為信息載體的光盤上照射比較弱的恒 定光量的光束，由光盤檢測出被強弱地調(diào)制后的反射光進(jìn)行再現(xiàn)。此外，在數(shù)據(jù)的記錄中， 根據(jù)記錄的信號對光束的光量強弱地進(jìn)行調(diào)制，在光盤上的記錄材料膜上寫入數(shù)據(jù)。在再 現(xiàn)專用的光盤中，預(yù)先以螺旋形狀記錄有基于比特的信息。此外，可追記或改寫的光盤，在 具有螺旋形狀的凹凸構(gòu)造的磁道的基材表面，以蒸鍍等方法形成制作能夠光學(xué)地記錄及再 現(xiàn)的材料膜。 為了在光盤上形成記錄標(biāo)記，一般采用激光光源。為了形成良好的記錄標(biāo)記，需要 使激光光源以規(guī)定的波形發(fā)光。對于記錄空間的形成，是使激光光源以恒定功率經(jīng)過規(guī)定 時間連續(xù)發(fā)光。為了確保穩(wěn)定的記錄性能，需要正確地控制這些激光光源的功率。但是，激 光光源的功率特性很大程度上被周圍溫度等支配。因此，即使在記錄前暫時設(shè)定功率而提 供了恒定的驅(qū)動電流，功率也不保持恒定，而由激光光源本身或周圍設(shè)備的溫度上升引起 功率的變動。 針對現(xiàn)有技術(shù)中的光盤裝置的工作，參照圖12、圖13、圖14及圖15進(jìn)行說明。
圖12表示記錄時的激光光源的發(fā)光波形的一個示例。圖13 (a)表示DVD-RAM中 的測試區(qū)域的配置，圖13(b)表示BD(Blu-ray Disc)中的測試區(qū)域的配置。圖14(a)表示 激光光源的發(fā)光模式之中不包含多脈沖的測試發(fā)光模式的一個示例，圖14(b)表示包含多 脈沖的測試發(fā)光模式的一個示例。 圖15(a)表示4x時的測試發(fā)光模式的一個示例。其中，Mx是指訪問光盤的速度 是M倍速。圖15(b)表示5x時的測試發(fā)光模式的一個示例，圖15(c)表示6x時的測試發(fā) 光模式的一個示例，圖15(d)表示7x時的測試發(fā)光模式的一個示例。圖15(e)表示8x時 的測試發(fā)光模式的一個示例。 記錄時的激光發(fā)光波形，是將多個功率進(jìn)行組合而形成(例如，參照專利文獻(xiàn)1)。 圖12表示記錄時的激光發(fā)光波形。在空間(space)部分以空間功率120s發(fā)光，在標(biāo)記部 分，使峰值功率120p、標(biāo)記功率120m和冷態(tài)(cool)功率120c進(jìn)行組合來發(fā)光。記錄時的 激光功率控制，是對上述所有的功率進(jìn)行的。 作為避免功率變動的方法，每個固定期間的功率校正是有效的。例如，在具有如圖 13(a)所示的扇區(qū)(sector)結(jié)構(gòu)的光盤格式中，設(shè)置有用于對一個扇區(qū)修正一次激光功率 的測試區(qū)域。此時，光束的焦點每次通過測試區(qū)域，能通過在該測試區(qū)域中進(jìn)行基于測試發(fā) 光的激光功率控制來避免功率變動。 在不具有測試區(qū)域的光盤格式中，激光功率控制需要在進(jìn)行數(shù)據(jù)記錄的數(shù)據(jù)區(qū)域中進(jìn)行。此時，發(fā)光時間短的峰值功率或冷態(tài)功率，在特別是線速度高的情況下檢測困難，存在控制誤差增加的傾向。 以下，針對線速度以對規(guī)格的標(biāo)準(zhǔn)線速度的倍速來表示。
[專利文獻(xiàn)1] JP特開2007-280498號公報 根據(jù)光盤格式，存在如圖13(a)所示的測試區(qū)域與半徑方向一致的情況和如圖13(b)所示的測試區(qū)域與半徑方向不一致的情況。 當(dāng)測試區(qū)域與半徑方向不一致時，若以高功率進(jìn)行長時間發(fā)光，則對相鄰的磁道的數(shù)據(jù)帶來壞影響，其結(jié)果，有導(dǎo)致破壞數(shù)據(jù)的可能性。在圖14中，在左側(cè)表示測試區(qū)域中的激光發(fā)光波形，在右側(cè)表示數(shù)據(jù)區(qū)域中的激光發(fā)光波形。如圖14(a)所示，若在測試區(qū)域中以峰值功率比數(shù)據(jù)發(fā)光波形更長地進(jìn)行發(fā)光，則由于會發(fā)生上述所擔(dān)心的事情，所以如圖14(b)所示，將測試區(qū)域中的峰值功率部分設(shè)置為多脈沖。由此，能夠降低帶給相鄰磁道的熱量來抑制數(shù)據(jù)的破壞。 如圖14(b)所示，若將測試區(qū)域中的峰值功率部分設(shè)置為多脈沖，則當(dāng)記錄倍速變化時，多脈沖的頻率發(fā)生變化。對于圖15(a)所示的4x時的多脈沖頻率，根據(jù)圖15(b)、圖15 (c)、圖15 (d)、圖15 (e)倍速的變高，通過測試區(qū)域的時間變短，伴隨于此，多脈沖的頻
率變高。 當(dāng)通過對測試發(fā)光的多脈沖進(jìn)行平均值檢測來進(jìn)行激光功率控制時，由于受到由多脈沖的頻率變化引起的光檢測設(shè)備的頻率變形的影響，平均值檢測值相對于真值帶有誤差。由上述誤差而產(chǎn)生峰值功率誤差。 當(dāng)光檢測設(shè)備是差動輸出方式時，雖然有抗傳送噪聲的優(yōu)點，但由于每個差動波道的頻率特性差，而使多脈沖的平均值檢測值的誤差變大。 在光盤中，最終的最高倍速成為CAV(Constant Angular Velocity)方式下的速度。在CAV方式下，從內(nèi)周向外周漸漸地提高倍速。多脈沖的頻率也漸漸變高，成為隨著半徑位置，激光功率控制的誤差變差。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明是為了解決上述課題而做出的，能使高倍速中的光束的峰值功率的控制精度得以提高。 本發(fā)明的光盤裝置，具有發(fā)光部，其輸出照射到信息載體上的光束；電流調(diào)整部，其對所述光束的光量進(jìn)行檢測，調(diào)整供給所述發(fā)光部的電流；記錄時鐘生成部，其生成作為數(shù)據(jù)記錄時的基準(zhǔn)的記錄時鐘信號；分頻部，其對所述記錄時鐘信號進(jìn)行分頻，生成分頻時鐘信號；記錄模式運算部，其根據(jù)所述記錄時鐘信號，設(shè)定用于記錄數(shù)據(jù)的數(shù)據(jù)記錄發(fā)光模式；測試模式運算部，其根據(jù)所述分頻時鐘信號，設(shè)定用于對從所述發(fā)光部輸出的所述光束的功率進(jìn)行控制的測試記錄用的測試發(fā)光模式；和電流輸出部，其根據(jù)在所述數(shù)據(jù)記錄發(fā)光模式及所述測試發(fā)光模式之中選擇出的發(fā)光模式和所述電流調(diào)整部計算出的電流值，對所述發(fā)光部供給電流，所述分頻部，當(dāng)記錄時的線速度變化時，以所述分頻時鐘信號的頻率變化減小的方式調(diào)整分頻比。 根據(jù)此實施方式，還具有對所述線速度進(jìn)行檢測的速度檢測部，所述分頻部，根據(jù)所述檢測出的線速度來調(diào)整所述分頻比。
根據(jù)此實施方式，所述速度檢測部，根據(jù)所述信息載體上的地址，對所述線速度進(jìn) 行檢測。 根據(jù)此實施方式，所述速度檢測部，根據(jù)所述信息載體上的磁道的晃動頻率，對所 述線速度進(jìn)行檢測。 根據(jù)此實施方式，所述速度檢測部，根據(jù)照射了所述光束的所述信息載體的半徑 位置，對所述線速度進(jìn)行檢測。 根據(jù)此實施方式，所述分頻部，根據(jù)所述記錄時鐘信號來調(diào)整所述分頻比。
根據(jù)此實施方式，所述分頻部，根據(jù)所述分頻時鐘信號來調(diào)整所述分頻比。
根據(jù)此實施方式，所述分頻部，當(dāng)以CLV方式進(jìn)行記錄時，將所述分頻時鐘信號的 頻率設(shè)置為恒定。 根據(jù)此實施方式，所述分頻部，當(dāng)以CAV方式進(jìn)行記錄時，通過根據(jù)照射了所述光 束的所述信息載體的半徑位置來改變分頻比，從而將所述分頻時鐘信號的頻率設(shè)置在規(guī)定 的頻率范圍內(nèi)。 根據(jù)此實施方式，所述電流調(diào)整部，具有光量檢測部，其對所述發(fā)光部所輸出的 所述光束的功率進(jìn)行檢測，來生成功率檢測信號；抽樣保持部，其通過在不同的時刻對所述 功率檢測信號進(jìn)行抽樣，來檢測多個電平的信號；功率運算部，其根據(jù)所述抽樣保持部的 輸出信號，來計算所述光束的多個功率；和電流運算部，其根據(jù)所述計算出的多個功率，來 計算供給所述發(fā)光部的所述電流，所述電流運算部具有非檢測方式，該非檢測方式根據(jù)所 述功率運算部計算出的最高的功率值以外的功率值，來計算與所述最高的功率值對應(yīng)的電
流，所述電流運算部，在基準(zhǔn)線速度以外，采用所述非檢測方式來計算與所述最高的功率值 對應(yīng)的電流。 根據(jù)此實施方式，所述電流運算部具有檢測方式，該檢測方式采用所述功率運算
部計算出的最高的檢測功率值，來計算與所述最高的功率對應(yīng)的電流，所述電流運算部，在
所述基準(zhǔn)線速度下，采用所述檢測方式來計算與所述最高的功率值對應(yīng)的電流。 根據(jù)此實施方式，所述電流運算部，將以所述信息載體的規(guī)格所定義的線速度作
為基準(zhǔn)線速度。 根據(jù)此實施方式，所述電流運算部，當(dāng)以CAV方式進(jìn)行記錄時，將所述信息載體的 最內(nèi)周部中的線速度作為基準(zhǔn)線速度。 根據(jù)此實施方式，所述分頻部，根據(jù)多脈沖發(fā)光時的平均功率與中央功率的偏差 的大小，來計算所述分頻時鐘信號的頻率范圍。 根據(jù)此實施方式，所述分頻部，根據(jù)所述電流調(diào)整部能夠檢測的光束的脈沖的頻 帶，來計算所述分頻時鐘信號的頻率范圍。 本發(fā)明的光盤裝置，具有發(fā)光部，其輸出照射到信息載體上的光束；電流調(diào)整 部，其對所述光束的光量進(jìn)行檢測，調(diào)整供給所述發(fā)光部的電流；記錄時鐘生成部，其生成 作為數(shù)據(jù)記錄時的基準(zhǔn)的記錄時鐘信號；測試時鐘生成部，其生成測試記錄時使用的測試 時鐘信號；記錄模式運算部，其根據(jù)所述記錄時鐘信號，設(shè)定用于記錄數(shù)據(jù)的數(shù)據(jù)記錄發(fā)光 模式；測試模式運算部，其根據(jù)所述測試時鐘信號，設(shè)定用于對從所述發(fā)光部輸出的所述光 束的功率進(jìn)行控制的測試記錄用的測試發(fā)光模式；和電流輸出部，其根據(jù)在所述數(shù)據(jù)記錄 發(fā)光模式及所述測試發(fā)光模式之中選擇出的發(fā)光模式和所述電流調(diào)整部計算出的電流值，
7試模式運算部，若所述線速度提高，則使所述測試發(fā)光模
試模式運算部，若所述線速度提高，則使所述測試發(fā)光模
對所述發(fā)光部供給電流，所述測試時鐘生成部，與記錄時的線速度無關(guān)地生成恒定頻率的 所述測試時鐘信號。 根據(jù)此實施方式，所述測試模式運算部，對所述測試發(fā)光模式中的多脈沖部分的 始端及末端的至少一端進(jìn)行屏蔽。 根據(jù)此實施方式，所述抽樣保持部，以在所述測試模式運算部進(jìn)行屏蔽的時刻不 抽樣的方式對抽樣時刻進(jìn)行屏蔽。 根據(jù)此實施方式，所述測試模式運算部，不將所述測試發(fā)光模式的始端及末端設(shè) 為多脈沖。 根據(jù)此實施方式，所述領(lǐng)
式內(nèi)占有的多脈沖的比例增加。
根據(jù)此實施方式，所述領(lǐng)
式內(nèi)占有的多脈沖的比例增加。 根據(jù)此實施方式，所述測試模式運算部，即使在所述數(shù)據(jù)記錄發(fā)光模式不包含多 脈沖的情況下，所述測試發(fā)光模式內(nèi)也包含多脈沖。 根據(jù)此實施方式，所述測試模式運算部，即使在所述數(shù)據(jù)記錄發(fā)光模式不包含多 脈沖的情況下，所述測試發(fā)光模式內(nèi)也包含多脈沖。 本發(fā)明的激光功率控制方法，包括記錄時鐘生成步驟，生成作為數(shù)據(jù)記錄時的基 準(zhǔn)的記錄時鐘信號；分頻步驟，對所述記錄時鐘信號進(jìn)行分頻，生成分頻時鐘信號；記錄模 式運算步驟，根據(jù)所述記錄時鐘信號，設(shè)定用于記錄數(shù)據(jù)的數(shù)據(jù)記錄發(fā)光模式；測試模式運 算步驟，根據(jù)所述分頻時鐘信號，設(shè)定用于對光束的功率進(jìn)行控制的測試記錄用的測試發(fā) 光模式；和電流輸出步驟，根據(jù)在所述數(shù)據(jù)記錄發(fā)光模式及所述測試發(fā)光模式之中選擇出 的發(fā)光模式，對發(fā)光部供給電流，所述分頻步驟，包括當(dāng)記錄時的線速度變化時以分頻時鐘 信號的頻率變化減小的方式調(diào)整分頻比的步驟。 本發(fā)明的激光功率控制方法，包括記錄時鐘生成步驟，生成作為數(shù)據(jù)記錄時的基 準(zhǔn)的記錄時鐘信號；測試時鐘生成步驟，生成測試記錄時采用的測試時鐘信號；記錄模式 運算步驟，根據(jù)所述記錄時鐘信號，設(shè)定用于記錄數(shù)據(jù)的數(shù)據(jù)記錄發(fā)光模式；測試模式運算 步驟，根據(jù)所述測試時鐘信號，設(shè)定用于對光束的功率進(jìn)行控制的測試記錄用的測試發(fā)光 模式；和電流輸出步驟，根據(jù)在所述數(shù)據(jù)記錄發(fā)光模式及所述測試發(fā)光模式之中選擇出的 發(fā)光模式，對發(fā)光部供給電流，所述測試時鐘生成步驟，包括與記錄時的線速度無關(guān)地生成 恒定頻率的所述測試時鐘信號的步驟。 在本發(fā)明的權(quán)利要求1的光盤裝置中，由于與記錄線速度無關(guān)，以分頻時鐘信號 的頻率變化減小的方式來求出分頻比，所以能夠不取決于光檢測設(shè)備的頻帶特性地進(jìn)行峰 值功率的控制，能夠使激光功率控制精度提高。 而且，在本發(fā)明的權(quán)利要求2的光盤裝置中，由于倍速檢測部對記錄時的線速度 進(jìn)行檢測，并且分頻部根據(jù)來自倍速檢測部的檢測線速度求出分頻比，所以能夠通過簡單 的結(jié)構(gòu)來降低測試發(fā)光模式的頻率的變化。 而且，在本發(fā)明的權(quán)利要求3的光盤裝置中，由于倍速檢測部對信息載體上的地 址進(jìn)行檢測，并采用地址來檢測線速度，所以能夠在旋轉(zhuǎn)數(shù)穩(wěn)定的狀態(tài)下可靠地檢測出是 多少倍速。
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而且，在本發(fā)明的權(quán)利要求4的光盤裝置中，由于倍速檢測部檢測信息載體上的 磁道的晃動，并采用晃動的頻率來檢測線速度，所以即使旋轉(zhuǎn)數(shù)在過渡狀態(tài)下也能夠檢測 出是多少倍速。 而且，在本發(fā)明的權(quán)利要求5的光盤裝置中，由于倍速檢測部檢測照射了光束的 信息載體上的半徑位置，并采用半徑位置來檢測線速度，所以只要旋轉(zhuǎn)數(shù)在穩(wěn)定的狀態(tài)下， 則即使處于地址不能讀出的狀態(tài)，也能夠檢測出是多少倍速。 而且，在本發(fā)明的權(quán)利要求6的光盤裝置中，由于分頻部根據(jù)來自記錄時鐘生成
部的記錄時鐘信號求出分頻比，所以能夠使測試發(fā)光模式的頻率的變化降低。 而且，在本發(fā)明的權(quán)利要求7的光盤裝置中，由于分頻部根據(jù)來自分頻部的分頻
時鐘信號求出分頻比，所以能夠使測試發(fā)光模式的頻率的變化降低。 而且，在本發(fā)明的權(quán)利要求8的光盤裝置中，由于分頻部當(dāng)以CLV方式記錄時，與 線速度無關(guān)而使分頻時鐘信號的頻率恒定，所以能夠使CLV時的峰值功率的激光功率控制 的精度提高。 而且，在本發(fā)明的權(quán)利要求9的光盤裝置中，由于分頻部在以CAV方式記錄時，通 過根據(jù)半徑位置來改變分頻比從而使分頻時鐘信號的頻率設(shè)置在規(guī)定頻率范圍內(nèi)，所以能 夠使CAV時的峰值功率的激光功率控制的精度提高。 而且，在本發(fā)明的權(quán)利要求10的光盤裝置中，由于電流運算部具有不采用功率運 算部計算出的最高的檢測功率值，而根據(jù)與最高的功率值以外的功率值對應(yīng)的電流來求出 與最高的功率值對應(yīng)的電流的非檢測方式，且在基準(zhǔn)線速度以外采用非檢測方式，所以能 夠使CAV時的中間倍速下的峰值功率的激光功率控制的精度提高。 而且，在本發(fā)明的權(quán)利要求11的光盤裝置中，由于電流運算部具有采用功率運算 部計算出的最高的檢測功率值來求出與最高的功率值對應(yīng)的電流的檢測方式，且在基準(zhǔn)線 速度下采用該檢測方式，所以能夠使CAV時的中間倍速下的峰值功率的激光功率控制的精 度提高。 而且，在本發(fā)明的權(quán)利要求12的光盤裝置中，由于電流運算部將以信息載體的規(guī) 格所定義的線速度作為基準(zhǔn)線速度，所以能夠使CAV時的中間倍速下的峰值功率的激光功 率控制的精度提高。 而且，在本發(fā)明的權(quán)利要求13的光盤裝置中，由于電流運算部將以CAV方式記錄 時的最內(nèi)周部中的線速度作為基準(zhǔn)線速度，所以能夠使CAV時的中間倍速下的峰值功率的 激光功率控制的精度提高。 而且，在本發(fā)明的權(quán)利要求14的光盤裝置中，由于分頻部根據(jù)多脈沖發(fā)光時的平 均功率與中央功率的偏差的大小來求出規(guī)定頻率范圍，所以能夠決定用于降低峰值功率的 激光功率控制的精度變差的測試發(fā)光的多脈沖頻率。 而且，在本發(fā)明的權(quán)利要求15的光盤裝置中，由于分頻部根據(jù)光量檢測部能夠檢 測的頻帶來求出規(guī)定頻率范圍，所以能夠決定用于降低峰值功率的激光功率控制的精度變 差的測試發(fā)光的多脈沖頻率。 而且，在本發(fā)明的權(quán)利要求16的光盤裝置中，由于測試時鐘生成部與記錄線速度 無關(guān)地將生成的測試時鐘信號設(shè)為恒定頻率，所以能夠進(jìn)行不取決于光檢測設(shè)備的頻帶特 性的峰值功率的控制，能夠使激光功率控制精度提高。
而且，在本發(fā)明的權(quán)利要求17的光盤裝置中，由于測試模式運算部在測試發(fā)光模 式與數(shù)據(jù)記錄發(fā)光模式的切換部分中，以測試發(fā)光模式內(nèi)的多脈沖的占空比不變化的方 式，對多脈沖部分的始端或末端的至少一端進(jìn)行屏蔽，所以能夠降低記錄時鐘信號與測試 時鐘信號切換時的邊沿紊亂的影響。 而且，在本發(fā)明的權(quán)利要求18的光盤裝置中，由于抽樣保持部以在測試模式運算 部進(jìn)行屏蔽的時刻不抽樣的方式對抽樣時刻進(jìn)行屏蔽，所以能夠降低記錄時鐘信號與測試 時鐘信號切換時的邊沿紊亂的影響。 而且，在本發(fā)明的權(quán)利要求19的光盤裝置中，由于測試模式運算部在測試發(fā)光模 式的始端及末端設(shè)為多脈沖，所以能夠降低記錄時鐘信號與測試時鐘信號切換時的邊沿紊 亂的影響。 而且，在本發(fā)明的權(quán)利要求20及21的光盤裝置中，由于測試模式運算部當(dāng)線速度 高時使在測試發(fā)光模式內(nèi)占有的多脈沖的比例增加，所以能夠不改變用于獲取多脈沖平均 值的LPF頻帶地與高倍速相對應(yīng)。 而且，在本發(fā)明的權(quán)利要求22及23的光盤裝置中，由于測試模式運算部即使在數(shù) 據(jù)記錄發(fā)光模式內(nèi)沒有多脈沖時，在測試發(fā)光模式內(nèi)也包含多脈沖，所以能夠進(jìn)行不取決 于策略上穩(wěn)定的激光功率控制。 此外，在本發(fā)明的權(quán)利要求24的激光功率控制方法中，由于與記錄線速度無關(guān)， 以分頻時鐘信號的頻率變化減小的方式求出分頻比，所以能夠進(jìn)行不取決于光檢測設(shè)備的 頻域特性的峰值功率的控制，能夠使激光功率控制精度提高。 此外，在本發(fā)明的權(quán)利要求25的激光功率控制方法中，由于與記錄線速度無關(guān)地 生成恒定頻率的測試時鐘信號，所以能夠進(jìn)行不取決于光檢測設(shè)備的頻域特性的峰值功率 的控制，能夠使激光功率控制精度提高。


圖1是表示本發(fā)明的實施方式1中的光盤裝置的示意圖。 圖2是表示本發(fā)明的實施方式1中的功率運算部的詳細(xì)塊結(jié)構(gòu)的一個示例的示意 圖。 圖3是表示本發(fā)明的實施方式1中的電流運算部的詳細(xì)塊結(jié)構(gòu)的一個示例的示意 圖。 圖4(a)是表示本發(fā)明的實施方式1中的相對于ZCLV時的半徑位置的倍速的一個 示例的示意圖，(b)是表示本發(fā)明的實施方式1中的相對于PCAV時的半徑位置的倍速的一 個示例的示意圖。 圖5(a)是表示本發(fā)明的實施方式1中的記錄時鐘信號的一個示例的示意圖，(b) 是表示本發(fā)明的實施方式1中的分頻時鐘信號的一個示例的示意圖，(c)是表示本發(fā)明的 實施方式1中的測試發(fā)光模式信號的一個示例的示意圖。 圖6(a)是表示本發(fā)明的實施方式1中的4x時的測試發(fā)光模式信號的一個示例的 示意圖，(b)是表示本發(fā)明的實施方式1中的5x時的測試發(fā)光模式信號的一個示例的示意 圖，(c)是表示本發(fā)明的實施方式1中的6x時的測試發(fā)光模式信號的一個示例的示意圖， (d)是表示本發(fā)明的實施方式1中的7x時的測試發(fā)光模式信號的一個示例的示意圖，(e)是表示本發(fā)明的實施方式1中的8x時的測試發(fā)光模式信號的一個示例的示意圖。 圖7是表示本發(fā)明的實施方式2中的電流運算部的詳細(xì)塊結(jié)構(gòu)的一個示例的示意圖。 圖8 (a)是表示本發(fā)明的實施方式2中的相對于PCAV時的半徑位置的倍速的一個 示例的示意圖，(b)、(c)及(d)，分別表示根據(jù)本發(fā)明的實施方式2中的半徑位置，控制選擇 器所選擇的控制的一個示例的示意圖。 圖9是表示本實施方式3中的光盤裝置的示意圖。 圖10(a)是表示本發(fā)明的實施方式3中的記錄時鐘信號的一個示例的示意圖，(b)
是表示本發(fā)明的實施方式3中的測試時鐘信號的一個示例的示意圖，(c)是表示本發(fā)明的
實施方式3中的測試發(fā)光模式信號的一個示例的示意圖，(d)是表示本發(fā)明的實施方式3中
的從測試模式運算部向抽樣信號生成部輸出的屏蔽信號的一個示例的示意圖。 圖11 (a)是表示本發(fā)明的實施方式3中的4x時的測試發(fā)光模式信號的一個示例
的示意圖，(b)是表示本發(fā)明的實施方式3中的5x時的測試發(fā)光模式信號的一個示例的示
意圖，(c)是表示本發(fā)明的實施方式3中的6x時的測試發(fā)光模式信號的一個示例的示意圖，
(d)是表示本發(fā)明的實施方式3中的7x時的測試發(fā)光模式信號的一個示例的示意圖，(e)
是表示本發(fā)明的實施方式3中的8x時的測試發(fā)光模式信號的一個示例的示意圖。 圖12是表示記錄時的激光光源的發(fā)光波形的一個示例的示意圖。 圖13 (a)是表示DVD-RAM中的測試區(qū)域的配置的示意圖，(b)是表示BD中的測試
區(qū)域的配置的示意圖。 圖14(a)是表示不包含多脈沖的測試發(fā)光模式的一個示例的示意圖，(b)是表示 包含多脈沖的測試發(fā)光模式的一個示例的示意圖。 圖15(a)是表示4x時的測試發(fā)光模式的一個示例的示意圖，(b)是表示5x時的測 試發(fā)光模式的一個示例的示意圖，(c)是表示6x時的測試發(fā)光模式的一個示例的示意圖， (d)是表示7x時的測試發(fā)光模式的一個示例的示意圖，(e)是表示8x時的測試發(fā)光模式的 一個示例的示意圖。 圖中1_激光，2-光量檢測部，3-電流調(diào)整部，10-抽樣保持，ll-功率運算部， 12-電流運算部，13-激光驅(qū)動器，14-抽樣信號生成部，15-抽樣信號生成部，20-記錄數(shù)據(jù) 生成部，21-記錄模式運算部，22-測試數(shù)據(jù)生成部，23、24-測試模式運算部，25-模式選擇 器，30-地址檢測部，40-倍速檢測部，41-記錄時鐘生成部，42-測試時鐘生成部，43-頻率區(qū) 域指定部，44-分頻設(shè)定部，50-分頻部，60-峰值運算部，61-峰值功率換算部，62-標(biāo)記功率 換算部，63-空間功率換算部，64-冷態(tài)功率換算部，70-峰值目標(biāo)生成部，71-標(biāo)記目標(biāo)生成 部，72-空間目標(biāo)生成部，73-冷態(tài)目標(biāo)生成部，74-峰值電流積分部，75-標(biāo)記電流積分部， 76-空間電流積分部，77-冷態(tài)電流積分部，78-比例保持部，79-比例運算部，80-控制選擇 器，100、200-光盤裝置。
具體實施例方式以下，參照附圖對本發(fā)明的實施方式進(jìn)行說明。
(實施方式1) 針對基于本發(fā)明的實施方式1的光盤裝置100的工作，參照圖1、圖2、圖3、圖4、
11圖5及圖6進(jìn)行說明。 圖1是表示光盤裝置100具有的結(jié)構(gòu)要素的方框圖。圖2是表示功率運算部11 的詳細(xì)塊結(jié)構(gòu)的一個示例的示意圖。圖3是表示電流運算部12的詳細(xì)塊結(jié)構(gòu)的一個示例 的示意圖。 圖4(a)表示相對于ZCLV(Zone Constant Linear Velocity)時的半徑位置的倍 速的一個示例，圖4(b)表示相對于PCAV(Partial ConstantAngular Velocity)時的半徑 位置的倍速的一個示例。 ZCLV方式是沿著光盤的半徑方向有多個CLV方式存在的方式。PCAV方式是在光 盤內(nèi)周側(cè)成為CAV方式，在外周側(cè)成為CLV方式的方式。作為將CLV方式及CAV方式的至 少一個進(jìn)行組合的方式的示例，有ZCLV方式及PCAV方式。 圖5(a)表示從記錄時鐘生成部41輸出的記錄時鐘信號的一個示例，圖5 (b)表示 從分頻部50輸出的分頻時鐘信號的一個示例，圖5 (c)表示從測試模式運算部23輸出的測 試發(fā)光模式信號的一個示例。 圖6(a)表示4x時從測試模式運算部23輸出的測試發(fā)光模式信號的一個示例。圖 6(b)表示5x時從測試模式運算部23輸出的測試發(fā)光模式信號的一個示例。圖6(c)表示 6x時從測試模式運算部23輸出的測試發(fā)光模式信號的一個示例。圖6(d)表示7x時從測 試模式運算部23輸出的測試發(fā)光模式信號的一個示例。圖6(e)表示8x時從測試模式運 算部23輸出的測試發(fā)光模式信號的一個示例。 參照圖1、圖2及圖3，激光光源1是輸出光束的發(fā)光部，例如是半導(dǎo)體發(fā)光元件。 從激光光源1輸出的光束，經(jīng)由光學(xué)系統(tǒng)照射在作為信息載體的光盤上，進(jìn)行信息的記錄 再現(xiàn)。電流調(diào)整部3，接收從激光光源1輸出的光束，并對光束的光量進(jìn)行檢測，計算供給 激光光源1的電流。電流調(diào)整部3具有光量檢測部2、抽樣保持部10、功率運算部11、電流 運算部12和抽樣信號生成部14。光量檢測部2對激光光源1所輸出的光束的功率進(jìn)行檢 測，輸出功率檢測信號。通過抽樣保持部10及抽樣信號生成部14，功率檢測信號在不同時 刻被抽樣，并對多個電平信號進(jìn)行檢測。 功率運算部ll，根據(jù)抽樣保持部10的輸出信號，計算光束的多個功率。如圖2所 示，功率運算部11具有峰值運算部60、峰值功率換算部61、標(biāo)記功率換算部62、空間功率 換算部63及冷態(tài)功率換算部64。 電流運算部12，根據(jù)功率運算部11所計算的多個功率，計算供給激光電源1的電 流。如圖3所示，電流運算部12具有峰值目標(biāo)生成部70、標(biāo)記目標(biāo)生成部71、空間目標(biāo)生 成部72、冷態(tài)目標(biāo)生成部73、峰值電流積分部74、標(biāo)記電流積分部75、空間電流積分部76 及冷態(tài)電流積分部77。 模式選擇器25及激光驅(qū)動器13，根據(jù)數(shù)據(jù)記錄發(fā)光模式及測試發(fā)光模式之中所 選擇的發(fā)光模式和電流運算部12所計算的電流值，作為向激光光源1供給電流的電流輸出 部來發(fā)揮功能。 記錄數(shù)據(jù)生成部20及記錄模式運算部21，根據(jù)記錄時鐘信號，對用于記錄數(shù)據(jù)的 數(shù)據(jù)記錄發(fā)光模式進(jìn)行計算并設(shè)定。測試數(shù)據(jù)生成部22及測試模式運算部23根據(jù)分頻時 鐘信號，對用于控制從激光光源1輸出的光束的功率的測試記錄用的測試發(fā)光模式進(jìn)行計 算并設(shè)定。
地址檢測部30及倍速檢測部40，作為檢測訪問光盤時的線速度的速度檢測部來 發(fā)揮功能。記錄時鐘生成部41生成成為數(shù)據(jù)記錄時的基準(zhǔn)的記錄時鐘信號。通過頻率區(qū) 域指定部43、分頻設(shè)定部44及分頻部50，記錄時鐘信號被分頻而生成分頻時鐘信號。
在圖1中，光量檢測部2接收來自激光光源1的光束，將與光束的功率對應(yīng)的功率 檢測信號發(fā)送給樣抽保持部10。抽樣信號生成部14將用于獲取光束的各功率的抽樣抽樣 時刻發(fā)送給抽樣保持部10。抽樣保持部IO，根據(jù)來自抽樣信號生成部14的抽樣信號，將來 自光量檢測部2的信號進(jìn)行抽樣，將各保持信號發(fā)送給功率運算部11。功率運算部11根據(jù) 來自抽樣保持部10的各保持信號，將光束的各檢測功率進(jìn)行運算并發(fā)送給電流運算部12。 電流運算部12，根據(jù)功率運算部11所運算的光束的各檢測功率值，對供給激光光源1的各 電流進(jìn)行運算，并發(fā)送給激光驅(qū)動器13。 地址檢測部30檢測出照射到光盤上的光束的點(spot)位置的地址信息，并發(fā)送 給倍速檢測部40。倍速檢測部40根據(jù)來自地址檢測部30的地址信息，檢測出是多少倍速， 并發(fā)送給記錄時鐘生成部41及分頻設(shè)定部44。 記錄時鐘生成部41根據(jù)來自倍速檢測部40的倍速信息，生成記錄時鐘信號，并發(fā) 送給分頻部50、測試模式運算部23及記錄模式運算部21。記錄數(shù)據(jù)生成部20生成記錄的 數(shù)據(jù)并發(fā)送給記錄模式運算部21。記錄模式運算部21為了記錄來自記錄數(shù)據(jù)生成部20的 數(shù)據(jù)，根據(jù)來自記錄時鐘生成部41的記錄時鐘信號，對數(shù)據(jù)記錄發(fā)光模式進(jìn)行運算，并發(fā) 送給模式選擇器25。 頻率區(qū)域指定部43，將基于光量檢測部2所能夠檢測出的光束脈沖的頻帶的頻率 范圍發(fā)送給分頻設(shè)定部44。由于從光量檢測部2的可檢測頻帶求出頻率范圍，所以能夠決 定可減少峰值功率的激光功率控制的精度變差的多脈沖頻率。 分頻設(shè)定部44根據(jù)倍速檢測部40檢測出的倍速，推定記錄時鐘信號的頻率，并對 所推定的時鐘頻率落入來自頻率區(qū)域指定部43的頻率范圍內(nèi)的分頻比進(jìn)行運算，并發(fā)送 給分頻部50。分頻部50采用來自分頻設(shè)定部44的分頻比，對來自記錄時鐘生成部41的記 錄時鐘信號進(jìn)行分頻，并發(fā)送給測試模式運算部23。 測試數(shù)據(jù)生成部22生成測試記錄的數(shù)據(jù)，并發(fā)送給測試模式運算部23。測試模式 運算部23根據(jù)來自記錄時鐘生成部41的記錄時鐘信號，對測試發(fā)光模式進(jìn)行運算，并發(fā)送 給選擇器25，以使基于測試數(shù)據(jù)的激光光源1能夠發(fā)光。測試模式運算部23，當(dāng)在測試發(fā) 光模式內(nèi)輸出多脈沖時，根據(jù)來自分頻部50的分頻時鐘信號生成多脈沖。
模式選擇器25，根據(jù)光盤格式，在數(shù)據(jù)區(qū)域中選擇來自記錄模式運算部21的數(shù)據(jù) 記錄發(fā)光模式，并在測試區(qū)域中選擇來自測試模式運算部23的測試發(fā)光模式，并發(fā)送給激 光驅(qū)動器13。激光驅(qū)動器13將來自電流運算部12的各電流加算到來自模式選擇器25的 發(fā)光模式中，發(fā)送給激光光源1。激光光源1按照來自激光驅(qū)動器13的電流進(jìn)行發(fā)光。
在圖2中，針對來自抽樣保持部10的各保持信號之中的去除多脈沖部分的3值信 號，分別由標(biāo)記功率換算部62、空間功率換算部63及冷態(tài)功率換算部64，從信號電平換算 為光束發(fā)光功率電平。針對保持了多脈沖的平均值的信號，當(dāng)多脈沖由峰值功率和空間功 率生成時，峰值運算部60根據(jù)保持了多脈沖的平均值的信號及相當(dāng)于空間功率的信號，對 相當(dāng)于多脈沖的峰值電平的信號進(jìn)行運算，并發(fā)送給峰值功率換算部61。峰值功率換算部 61將來自峰值運算部60的信號從信號電平換算為光束發(fā)光功率電平。
在圖3所示的電流運算部12中，從功率運算部11所運算的峰值功率檢測值中減 去峰值目標(biāo)生成部70生成的峰值功率目標(biāo)值，并發(fā)送給峰值電流積分部74。峰值電流積 分部74對減算后的值進(jìn)行積分，并發(fā)送給激光驅(qū)動器13。從功率運算部11輸出的標(biāo)記功 率檢測值中減去標(biāo)記目標(biāo)生成部71生成的標(biāo)記功率目標(biāo)值，并發(fā)送給標(biāo)記電流積分部75。 標(biāo)記電流積分部75對減算后的值進(jìn)行積分，并發(fā)送給激光驅(qū)動器13。從功率運算部11輸 出的空間功率檢測值中減去空間目標(biāo)生成部72生成的空間功率目標(biāo)值，并發(fā)送給空間電 流積分部76?？臻g電流積分部76對減算后的值進(jìn)行積分，并發(fā)送給激光驅(qū)動器13。從功 率運算部11輸出的冷態(tài)功率檢測值中減去冷態(tài)目標(biāo)生成部73生成的冷態(tài)功率目標(biāo)值，并 發(fā)送給冷態(tài)電流積分部77。冷態(tài)電流積分部77對減算的值進(jìn)行積分，并發(fā)送給激光驅(qū)動器 13。 由抽樣保持部10分別檢測出峰值功率、標(biāo)記功率、空間功率及冷態(tài)功率，由功率 運算部11對功率電平(功率值)進(jìn)行運算之后，由電流運算部12求出供給激光光源1的 電流，以形成各目標(biāo)功率。 如圖4(a)所示，當(dāng)以ZCLV方式進(jìn)行記錄時，通過在光盤內(nèi)周側(cè)的倍速4x的區(qū)域 中選擇分頻比2，在光盤中周的倍速6x的區(qū)域中選擇分頻比3，在光盤外周側(cè)的倍速8x的 區(qū)域中選擇分頻比4，來自各倍速中的分頻部50的分頻時鐘頻率始終成為恒定。由此，能夠 保持多脈沖的平均值檢測精度進(jìn)行高倍速的記錄。 如圖4(b)所示，當(dāng)以PCAV方式進(jìn)行記錄時，通過在光盤內(nèi)周側(cè)的倍速4x附近的 區(qū)域中選擇分頻比2，在光盤中周的倍速6x附近的區(qū)域中選擇分頻比3，在光盤外周側(cè)的倍 速8x附近的區(qū)域中選擇分頻比4，能夠縮小來自各倍速中的分頻部50的分頻時鐘頻率的變 化范圍。如此，當(dāng)記錄時的線速度變化時，分頻部50通過對分頻比進(jìn)行調(diào)整，以使分頻時鐘 信號的頻率變化變小，從而能夠使多脈沖的平均值檢測精度的變差限制在最小限度內(nèi)進(jìn)行 高倍速的記錄。 圖5表示測試模式運算部23的工作的一個示例。從測試數(shù)據(jù)生成部22以冷態(tài)電 平、空間電平、標(biāo)記電平、峰值電平的順序進(jìn)行發(fā)送。測試模式運行部23，對圖5(a)所示的 來自記錄時鐘生成部41的記錄時鐘進(jìn)行計數(shù)，按等間隔切換發(fā)光模式。測試模式運算部 23，如圖5(c)所示，在峰值電平6p的部分，將峰值電平6p和空間電平6s進(jìn)行組合來生成 多脈沖5。測試模式運算部23，當(dāng)生成多脈沖5時，采用如圖5(b)所示的來自分頻部50的 分頻時鐘信號。 圖6表示從4x到8x的各倍速中的測試發(fā)光模式。通過分頻部50的分頻比的切
換，如圖6(a)、圖6(c)及圖6(e)所示，4x、6x及8x中的多脈沖頻率為相同。此外，如圖6 (b)
及圖6(d)所示，在5x及7x中，與圖15比較，能夠減小多脈沖頻率的變化范圍。由此，能夠
使多脈沖的平均值檢測精度的變差限制在最小限度內(nèi)進(jìn)行高倍速的記錄。 如此，通過由分頻部50將來自記錄時鐘生成部41的記錄時鐘信號分頻成測試區(qū)
域?qū)Ｓ?，從而能夠降低測試區(qū)域中的激光光源1的多脈沖發(fā)光的頻率的變化，并降低多脈
沖平均值的檢領(lǐng)U精度變差，且能夠降低峰值功率的激光功率控制精度的變差。 此外，在本實施方式1中，雖從地址檢測出倍速，但也可以對光盤的磁道的晃動進(jìn)
行檢測，且倍速檢測部40采用晃動頻率來檢測出線速度及倍速。或者對照射光束的光盤的
半徑位置進(jìn)行檢測，倍速檢測部40也可采用該檢測出的半徑位置來檢測出線速度及倍速。
14半徑位置，例如能夠從光拾取的位置進(jìn)行檢測。 此外，在本實施方式1中，雖然根據(jù)倍速求出分頻部50的分頻，但也可從分頻比輸 入的頻率求出分頻比?；蛘撸部梢詮姆诸l比輸出的頻率求出分頻比。具體而言，對分頻部 50的輸入信號的頻率進(jìn)行測量，求出用于使分頻部50的輸出信號落入頻率區(qū)域指定部43 決定的頻率范圍內(nèi)的分頻比，而后以順向傳遞方式進(jìn)行修正?；蛘?，也可對分頻部50的輸 出信號自身的頻率進(jìn)行測量，并以落入頻率區(qū)域指定部43決定的頻率范圍內(nèi)的方式求出 分頻比，而后以順向傳遞方式進(jìn)行修正。如此，分頻部50可根據(jù)分頻時鐘信號來調(diào)整分頻 比。 此外，也可以與數(shù)據(jù)記錄時的發(fā)光模式中的多脈沖的有無無關(guān)地在測試發(fā)光時采 用多脈沖。 此外，在本實施方式1中，頻率區(qū)域指定部43決定的頻率范圍，雖然由光量檢測部 2的頻率特性來決定，但也可以由多脈沖平均值檢測誤差特性來決定。由于激光發(fā)光部1或 激光驅(qū)動器13的頻率特性，若成為高頻率則多脈沖的波形會失真。在占空比50%的多脈沖 的情況下，雖要檢測出峰值功率與底值功率的平均值，但由于所產(chǎn)生的失真，檢測值會偏向 峰值功率一側(cè)或底值功率一側(cè)，形成檢測誤差。通過考慮到多脈沖發(fā)光時的平均功率與中 央功率的偏差的大小，來計算分頻時鐘信號的頻率范圍，并規(guī)定頻率范圍，能夠防止這樣的 檢測誤差。 此外，在本實施方式l中，設(shè)為以ZCLV方式或PCAV方式的工作，但也可以適用于 FULLCLV或FULLCAV等其它的工作方式。 此外，在本實施方式1中，為了檢測峰值功率，對多脈沖的平均值進(jìn)行了檢測，但 也可以對多脈沖的峰值電平進(jìn)行檢波。 此外，在本實施方式1中，將測試發(fā)光的多脈沖設(shè)為將峰值功率和空間功率進(jìn)行
組合后的多脈沖，但也可以通過峰值功率與空間功率的組合以外的組合形成多脈沖。 此外，在本實施方式1中，雖然針對基于倍速變化的來自記錄時鐘生成部41的記
錄時鐘信號的頻率變化適用了本發(fā)明，但針對基于介質(zhì)的種類差的記錄時鐘信號的頻率變
化也可以適用本發(fā)明。(實施方式2) 針對本發(fā)明的實施方式2的光盤裝置100的工作，參照圖1、圖7及圖8進(jìn)行說明。 圖7是表示本實施方式的電流運算部12的詳細(xì)塊結(jié)構(gòu)的一個示例的示意圖。圖8(a)是表 示相對于PCAV時的光盤101的半徑位置的倍速的一個示例，圖8 (b)、圖8 (c)及圖8 (d)表 示針對光盤IOI的半徑位置，控制選擇器80選擇的控制的一個示例。對光盤101照射從光 盤裝置100的激光光源1輸出的光束，進(jìn)行信息的記錄再現(xiàn)。 在圖7中，電流運算部12具有峰值目標(biāo)生成部70、標(biāo)記目標(biāo)生成部71、空間目 標(biāo)生成部72 、冷態(tài)目標(biāo)生成部73 、峰值電流積分部74、標(biāo)記電流積分部75 、空間電流積分部 76、冷態(tài)電流積分部77、比例保持部78、比例運算部79及控制選擇器80。
在圖1中，光量檢測部2接收來自激光光源1的光束，將與光束的功率對應(yīng)的信號 發(fā)送給抽樣保持部10。抽樣信號生成部14將用于獲取光束的各功率的抽樣時刻發(fā)送給抽 樣保持部10。抽樣保持部IO，根據(jù)來自抽樣信號生成部14的抽樣信號，對來自光量檢測部 2的信號進(jìn)行抽樣，并將各保持信號發(fā)送給功率運算部11。功率運算部11根據(jù)來自抽樣保持部10的各保持信號，對光束的各檢測功率進(jìn)行運算，并發(fā)送給電流運算部12。電流運算 部12根據(jù)功率運算部11所運算的光束的各檢測功率，對供給激光光源1的各電流進(jìn)行運 算，并發(fā)送給激光驅(qū)動器13。 地址檢測部30檢測出照射到光盤上的光束的點位置的地址信息，并發(fā)送給倍速 檢測部40。倍速檢測部40根據(jù)來自地址檢測部30的地址信息，檢測出是多少倍速，并發(fā)送 給記錄時鐘生成部41及分頻設(shè)定部44。 記錄時鐘生成部41根據(jù)來自倍速檢測部40的倍速信息，生成記錄時鐘信號，并發(fā) 送給分頻部50、測試模式運算部23及記錄模式運算部21。記錄數(shù)據(jù)生成部20生成記錄的 數(shù)據(jù)，并發(fā)送給記錄模式運算部21。記錄模式運算部21為了記錄來自記錄數(shù)據(jù)生成部20 的數(shù)據(jù)，根據(jù)來自記錄時鐘生成部41的記錄時鐘信號，對數(shù)據(jù)記錄發(fā)光模式進(jìn)行運算，并 發(fā)送給模式選擇器25。 頻率區(qū)域指定部43，將基于光量檢測部2能檢測出的光束的脈沖的頻帶的頻率范 圍發(fā)送給分頻設(shè)定部44。分頻設(shè)定部44根據(jù)倍速檢測部40檢測出的倍速來推定記錄時鐘 信號的頻率，并對所推定的時鐘的頻率落入來自頻率區(qū)域指定部43的頻率范圍內(nèi)的分頻 比進(jìn)行運算，并發(fā)送給分頻部50。分頻部50采用來自分頻設(shè)定部44的分頻比，對來自記錄 時鐘生成部41的記錄時鐘信號進(jìn)行分頻，并發(fā)送給測試模式運算部23。
測試數(shù)據(jù)生成部22生成測試記錄的數(shù)據(jù)，并發(fā)送給測試模式運算部23。測試模式 運算部23，以基于測試數(shù)據(jù)的激光光源1能夠發(fā)光的方式，根據(jù)來自記錄時鐘生成部41的 記錄時鐘信號，對測試發(fā)光模式進(jìn)行運算，并發(fā)送給模式選擇器25。測試模式運算部23，當(dāng) 在測試發(fā)光模式內(nèi)輸出多脈沖時，根據(jù)來自分頻部50的分頻時鐘信號生成多脈沖。
模式選擇器25，根據(jù)光盤格式，在數(shù)據(jù)區(qū)域中選擇來自記錄模式運算部21的數(shù)據(jù) 記錄發(fā)光模式，并在測試區(qū)域中選擇來自測試模式運算部23的測試發(fā)光模式發(fā)送給激光 驅(qū)動器13。激光驅(qū)動器13將來自電流運算部12的各電流加算到來自模式選擇器25的發(fā) 光模式中，發(fā)送給激光光源1。激光光源1按照來自激光驅(qū)動器13的電流進(jìn)行發(fā)光。
在圖7所示的電流運算部12中，從功率運算部11所運算的峰值功率檢測值中減 去峰值目標(biāo)生成部70生成的峰值功率目標(biāo)值，并發(fā)送給峰值電流積分部74。峰值電流積 分部74對減算后的值進(jìn)行積分，并發(fā)送給控制選擇器80及比例保持部78。從功率運算部 11輸出的峰值功率檢測值中減去標(biāo)記目標(biāo)生成部71生成的標(biāo)記功率目標(biāo)值，并發(fā)送給電 流積分部75。電流積分部75對減算后的值進(jìn)行積分，并發(fā)送給比例保持部78、比例運算部 79及激光驅(qū)動器13。 從功率運算部11所輸出的空間功率檢測值中減去空間目標(biāo)生成部72生成的空間 目標(biāo)值，并發(fā)送給電流積分部76。電流積分部76對減算后的值進(jìn)行積分，并發(fā)送給激光驅(qū) 動器13。從功率運算部11所輸出的冷態(tài)功率檢測值中減去冷態(tài)目標(biāo)生成部73生成的冷態(tài) 功率目標(biāo)值，并發(fā)送給冷態(tài)電流積分部77。冷態(tài)電流積分部77對減算后的值進(jìn)行積分，并 發(fā)送給激光驅(qū)動器13。 比例保持部78，對來自峰值電流積分部74的積分值與來自標(biāo)記電流積分的積分 值之比進(jìn)行運算并保持，并發(fā)送給比例運算部79。比例運算部79對來自標(biāo)記電流積分部75 的積分值乘以來自比例保持部78的比之后，將得到的比運算值發(fā)送給控制選擇器80 。控制 選擇器80選擇來自峰值電流積分部74的積分值或來自比例運算部79的比運算值，發(fā)送給激光驅(qū)動器13。 圖7所示的電流運算部12執(zhí)行的激光功率控制方法有兩種。在第一方法的反饋 控制方式(以下稱為FB控制方式)下，峰值功率、標(biāo)記功率、空間功率及冷態(tài)功率分別由抽 樣保持部10檢測，通過功率運算部11對功率值進(jìn)行運算之后，由電流運算部12以形成各 目標(biāo)功率的方式，求出供給光源1的電流。 在第二方法的前饋控制方式(以下稱為FF控制方式)下，標(biāo)記功率、空間功率、冷 態(tài)功率的激光功率控制雖然與FB控制方式相同，但針對峰值功率，不采用檢測出的峰值功 率檢測值，而采用以與標(biāo)記電流之比成為恒定的方式來求出峰值電流的非檢測方式。
在FB控制方式中，檢測出的功率若能夠信賴，則形成可靠的控制，但受到檢測偏 差的影響，激光功率控制精度有容易變差的傾向。在FF控制方式中，雖然不取決于檢測出 的功率的可靠性而穩(wěn)定，但激光光源1的IL特性折曲等，比的精度與激光功率控制精度有 直接相關(guān)。 圖8表示進(jìn)行PCAV記錄時的FF控制方式與FB控制方式的選擇的方法。實施方式 1中所說明的通過分頻部50的分頻比能夠在4x、6x及8x中使多脈沖頻率恒定。如圖8 (b) 所示，在上述倍速(4x、6x及8x)附近，選擇FB控制方式，并在其以外的倍速中選擇FF控制 方式。由此，能夠抑制由于選擇FB控制方式時的多脈沖頻率而導(dǎo)致的激光功率控制精度變 差。此外，通過根據(jù)選擇FB控制方式時的電流求出選擇FF控制方式時所采用的比例保持 部78的比，能夠抑制由于選擇FF控制方式時的比精度變差而導(dǎo)致的激光功率控制精度變 差。 如此，通過由分頻部50將來自記錄時鐘生成部41的記錄時鐘信號分頻成測試區(qū) 域?qū)Ｓ?，能夠降低測試區(qū)域中的激光光源1的多脈沖發(fā)光的頻率的變化，并降低多脈沖平 均值的檢測精度變差，能夠降低峰值功率的激光功率控制精度的變差。在多脈沖平均值的 頻率出現(xiàn)細(xì)微偏差的倍速中，不采用峰值功率檢測值，而通過將峰值電流與標(biāo)記電流之比 保持為恒定，能夠進(jìn)一步降低峰值功率的激光功率控制精度的變差。 此外，在本實施方式2中，雖然在光盤的規(guī)格中定義的線速度(倍速度4x、6x、8x) 附近，選擇了FB控制方式，但也可以僅在光盤最內(nèi)周部的倍速附近設(shè)為FB控制方式?；?者也可以僅在最內(nèi)周部及最外周部的倍速附近設(shè)為FB控制方式。此外，電流運算部12，當(dāng) 以CAV方式進(jìn)行記錄時，可以將光盤的最內(nèi)周部的線速度作為基準(zhǔn)線速度。由此，能夠提高 CAV時的中間倍速的峰值功率的激光功率控制的精度。 此外，在本實施方式2中，在光盤的規(guī)格中定義的倍速附近選擇了FB控制方式。所
謂附近，例如，是正負(fù)0. 5倍速或正負(fù)0. 1倍速等，但本發(fā)明不局限于此。 此外，與數(shù)據(jù)記錄時的發(fā)光模式中的多脈沖的有無無關(guān)，可以在測試發(fā)光時采用
多脈沖。 此外，在本實施方式2中，頻率區(qū)域指定部43指定的頻率范圍，雖然由光量檢測部 2的頻率特性來決定，但也可以由多脈沖平均值檢測誤差特性來決定。
此外，在本實施方式2中，雖然是ZCLV方式或PCAV方式的工作，但FULLCLV或 FULLLCAV等其它的工作方式也適用。 此外，在本實施方式2中，為了檢測峰值功率，對多脈沖的平均功率進(jìn)行了檢測， 也可以對多脈沖的峰值電平進(jìn)行檢波。
此外，在本實施方式2中，將測試發(fā)光的多脈沖作為將峰值功率和空間功率進(jìn)行 組合后的多脈沖，但也可以通過峰值功率與空間功率的組合以外的組合形成多脈沖。
此外，在本實施方式2中，雖然針對基于倍速變化的來自記錄時鐘生成部41的記 錄時鐘信號的頻率變化適用了本發(fā)明，但針對基于介質(zhì)的種類差的記錄時鐘信號的頻率變 化也可以適用本發(fā)明。 此外，在本實施方式2中，雖然將FF控制方式中的峰值電流的運算源作為標(biāo)記電
流，但也可以選擇空間功率或冷態(tài)功率作為運算源。(實施方式3) 針對基于本發(fā)明的實施方式3的光盤裝置200的結(jié)構(gòu)及工作，參照圖9、圖10及圖 ll進(jìn)行說明。 圖9是表示光盤裝置200具備的結(jié)構(gòu)要素的方框圖。圖10(a)是表示從記錄時鐘 生成部41輸出的記錄時鐘信號的一個示例。圖10(b)是表示從測試時鐘生成部42輸出的 測試時鐘信號的一個示例。圖10 (c)是表示從測試模式運算部24輸出給模式選擇器25的 測試發(fā)光模式信號的一個示例。圖10(d)是表示從測試模式運算部24向抽樣信號生成部 15輸出的用于屏蔽的信號的一個示例。 圖11(a)表示4x時從測試模式運算部24輸出的測試發(fā)光模式信號的一個示例。 圖11 (b)表示5x時從測試模式運算部24輸出的測試發(fā)光模式信號的一個示例。圖11 (c) 表示6x時從測試模式運算部24輸出的測試發(fā)光模式信號的一個示例。圖11(d)表示7x 時從測試模式運算部24輸出的測試發(fā)光模式信號的一個示例。圖ll(e)表示8x時從測試 模式運算部24輸出的測試發(fā)光模式信號的一個示例。 代替圖1所示的光盤裝置100的頻率區(qū)域指定部43、分頻設(shè)定部44及分頻部50， 光盤裝置200具有測試時鐘生成部42。此外，代替光盤裝置100的測試模式運算部23及抽 樣信號生成部14，光盤裝置200具有測試模式運算部24及抽樣信號生成部15。
測試時鐘生成部42生成測試記錄時的測試時鐘信號。測試數(shù)據(jù)生成部22及測試 模式運算部24，作為根據(jù)測試時鐘信號，計算用于控制從激光光源1輸出的光束的功率的 測試記錄用的測試發(fā)光模式的測試模式運算部來發(fā)揮功能。此外，測試模式運算部24輸出 用于對抽樣信號生成部15屏蔽的信號。 在圖9中，光量檢測部2接收來自激光光源1的光束，將與光束的功率對應(yīng)的功率 檢測信號發(fā)送給抽樣保持部10。抽樣信號生成部15將用于獲取光束的各功率的抽樣時刻 發(fā)送給抽樣保持部10。抽樣保持部IO根據(jù)來自抽樣信號生成部15的抽樣信號，對來自光 量檢測部2的信號進(jìn)行抽樣，并將各保持信號發(fā)送給功率運算部11。功率運算部11根據(jù)來 自抽樣保持部10的各保持信號，對光束的各檢測功率進(jìn)行運算，并發(fā)送給電流運算部12。 電流運算部12根據(jù)功率運算部11所運算的光束的各檢測功率，對供給激光光源1的各電 流進(jìn)行運算，并發(fā)送給激光驅(qū)動器13。 地址檢測部30檢測出照射到光盤上的光束的點位置的地址，并發(fā)送給倍速檢測 部40。倍速檢測部40根據(jù)來自地址檢測部30的地址信息，檢測出是多少倍速，并發(fā)送給記 錄時鐘生成部41。 記錄時鐘生成部41根據(jù)來自倍速檢測部40的倍速信息，生成記錄時鐘信號，并發(fā) 送給測試模式運算部24及記錄模式運算部21。記錄數(shù)據(jù)生成部20生成記錄的數(shù)據(jù)，并發(fā)送給記錄模式運算部21。記錄模式運算部21為了記錄來自記錄數(shù)據(jù)生成部20的數(shù)據(jù)，根 據(jù)來自記錄時鐘生成部41的記錄時鐘信號對數(shù)據(jù)記錄發(fā)光模式進(jìn)行運算，并發(fā)送給模式 選擇器25。 測試時鐘生成部42生成恒定頻率的測試時鐘信號，并發(fā)送給測試模式運算部24。 測試數(shù)據(jù)生成部22生成測試記錄的數(shù)據(jù)，并發(fā)送給測試模式運算部24。測試模式運算部 24，以基于測試數(shù)據(jù)的激光光源1能夠發(fā)光的方式，根據(jù)來自記錄時鐘生成部41的記錄時 鐘信號，對測試發(fā)光模式進(jìn)行運算，并發(fā)送給模式選擇器25。測試模式運算部24，當(dāng)在測試 發(fā)光模式內(nèi)輸出多脈沖時，根據(jù)來自測試時鐘生成部42的測試時鐘信號生成多脈沖。
模式選擇器25，根據(jù)光盤格式，在數(shù)據(jù)區(qū)域中選擇來自記錄模式運算部21的數(shù)據(jù) 記錄發(fā)光模式，并在測試區(qū)域中選擇來自測試模式運算部24的測試發(fā)光模式，發(fā)送給激光 驅(qū)動器13。激光驅(qū)動器13將來自電流運算部12的各電流加算到來自模式選擇器25的發(fā) 光模式中，發(fā)送給激光光源1。激光光源1按照來自激光驅(qū)動器13的電流進(jìn)行發(fā)光。
圖10表示測試模式運算部24的工作的一個示例。從測試數(shù)據(jù)生成部22以冷態(tài)電 平、空間電平、標(biāo)記電平、峰值電平的順序進(jìn)行發(fā)送。測試模式運算部24對圖10(a)所示的 來自記錄時鐘生成部41的記錄時鐘進(jìn)行計數(shù)，將四個發(fā)光模式以等間隔的方式進(jìn)行切換。 測試模式運算部24，如圖10(c)所示，在峰值電平的部分中，使峰值電平與空間電平進(jìn)行組 合來生成多脈沖5。測試模式運算部24，當(dāng)生成多脈沖時，采用來自圖10(b)所示的測試時 鐘生成部42的測試時鐘信號。 而且，由于來自記錄時鐘生成部41的記錄時鐘信號與來自測試時鐘生成部42的 測試時鐘信號是非同期的，所以邊沿位置不一致。因此，不能夠保證所生成的多脈沖的H區(qū) 間與L區(qū)間相同。由此，多脈沖平均值的檢測精度有變差的可能性。 為了不使多脈沖平均值的檢測精度變差，需要使多脈沖的H區(qū)間與L區(qū)間相同。通 過以圖10(d)所示的屏蔽信號7m對多脈沖進(jìn)行屏蔽，能夠使多脈沖的H區(qū)間與L區(qū)間相同 并抑制多脈沖平均值的檢測精度的變差。測試模式運算部24，為了對測試發(fā)光模式中的多 脈沖部分5的始端5a及末端5b的至少一端進(jìn)行屏蔽，將屏蔽信號7m輸出給抽樣信號生成 部15。抽樣保持部10對抽樣時刻進(jìn)行屏蔽，以使在從測試模式運算部24得到的要屏蔽的 時刻不進(jìn)行抽樣。 由于使多脈沖進(jìn)行發(fā)光的時間變短，所以采用圖10(d)所示的屏蔽信號7m對用于 檢測多脈沖平均值的抽樣時刻進(jìn)行屏蔽。通過對抽樣時刻進(jìn)行屏蔽，能夠在對多脈沖不進(jìn) 行發(fā)光的區(qū)間不進(jìn)行抽樣，來獲取穩(wěn)定的多脈沖平均值。 圖11表示從4x到8x的各倍速的測試發(fā)光模式。若倍速提高，則來自記錄時鐘生 成部41的記錄時鐘信號的頻率變高，但來自測試時鐘生成部42的測試時鐘信號，以與它無 關(guān)的恒定的恒定頻率被生成。即，測試時鐘生成部42不與記錄時的線速度無關(guān)地生成恒定 頻率的測試時鐘信號。因此，如圖6 (a)、圖6 (b)、圖6 (c)、圖6 (d)及圖6 (e)所示，所有倍速 的多脈沖頻率相同。由此，能夠高度保持多脈沖的平均值檢測精度地進(jìn)行高倍速的記錄。
如此，與來自記錄時鐘生成部41的記錄時鐘信號不同地將測試時鐘信號生成為 測試區(qū)域?qū)Ｓ?，并在用于測試發(fā)光的多脈沖中使用，從而能夠抑制測試區(qū)域中的激光光源 1的多脈沖發(fā)光的頻率的變化，并抑制多脈沖平均值的檢測精度變差，能夠抑制峰值功率的 激光功率控制精度的變差。
而且，雖然用于測試發(fā)光的多脈沖，在測試發(fā)光模式的最后進(jìn)行了配置，但也可以 在測試發(fā)光模式的中央等處進(jìn)行配置，以使難以影響數(shù)據(jù)記錄。測試模式運算部，也可以設(shè) 定不將測試發(fā)光模式的始端部及終端部作為多脈沖的模式。由此，能夠防止記錄時鐘信號 與測試時鐘信號的切換時的邊沿紊亂對多脈沖帶來的影響。 此外，將測試發(fā)光中的多脈沖的比例設(shè)為恒定，但為了防止由于隨著倍速提高使 多脈沖發(fā)光時間變短，而使檢測精度變差，也可以使多脈沖的比例增加。 此外，也可以與數(shù)據(jù)記錄時的發(fā)光模式中的多脈沖的有無無關(guān)地在測試發(fā)光時采 用多脈沖。 此外，雖然對ZCLV方式或者PCAV方式的工作進(jìn)行了例示，但也可以適用于 FULLCLV或FULLCAV等其它的工作狀態(tài)。 此外，為了檢測峰值功率，對多脈沖的平均功率進(jìn)行了檢測，也可對多脈沖的峰值 電平進(jìn)行檢波。 此外，將測試發(fā)光的多脈沖作為使峰值功率和空間功率進(jìn)行組合后的多脈沖，但 也可以通過峰值功率與空間功率的組合以外的組合形成多脈沖。 此外，雖然針對基于倍速變化的來自記錄時鐘生成部41的記錄時鐘信號的頻率 變化適用了本發(fā)明，但針對基于介質(zhì)的種類差的記錄時鐘信號的頻率變化也可以適用本發(fā) 明。(產(chǎn)業(yè)上的利用可能性) 本發(fā)明，對于當(dāng)在能夠進(jìn)行記錄的光盤上進(jìn)行記錄或再現(xiàn)時，通過在測試區(qū)域中 進(jìn)行包含多脈沖的測試發(fā)光來進(jìn)行激光功率控制的技術(shù)領(lǐng)域特別有用。
20
權(quán)利要求
一種光盤裝置，具有發(fā)光部，其輸出照射到信息載體上的光束；電流調(diào)整部，其對所述光束的光量進(jìn)行檢測，調(diào)整供給所述發(fā)光部的電流；記錄時鐘生成部，其生成作為數(shù)據(jù)記錄時的基準(zhǔn)的記錄時鐘信號；分頻部，其對所述記錄時鐘信號進(jìn)行分頻，生成分頻時鐘信號；記錄模式運算部，其根據(jù)所述記錄時鐘信號，設(shè)定用于記錄數(shù)據(jù)的數(shù)據(jù)記錄發(fā)光模式；測試模式運算部，其根據(jù)所述分頻時鐘信號，設(shè)定用于對從所述發(fā)光部輸出的所述光束的功率進(jìn)行控制的測試記錄用的測試發(fā)光模式；和電流輸出部，其根據(jù)在所述數(shù)據(jù)記錄發(fā)光模式及所述測試發(fā)光模式之中選擇出的發(fā)光模式和所述電流調(diào)整部計算出的電流值，對所述發(fā)光部供給電流，所述分頻部，當(dāng)記錄時的線速度變化時，以所述分頻時鐘信號的頻率變化減小的方式調(diào)整分頻比。
2. 根據(jù)權(quán)利要求l所述的光盤裝置，其特征在于， 還具有對所述線速度進(jìn)行檢測的速度檢測部， 所述分頻部，根據(jù)所述檢測出的線速度來調(diào)整所述分頻比。
3. 根據(jù)權(quán)利要求2所述的光盤裝置，其特征在于，所述速度檢測部，根據(jù)所述信息載體上的地址，對所述線速度進(jìn)行檢測。
4. 根據(jù)權(quán)利要求2所述的光盤裝置，其特征在于，所述速度檢測部，根據(jù)所述信息載體上的磁道的晃動頻率，對所述線速度進(jìn)行檢測。
5. 根據(jù)權(quán)利要求2所述的光盤裝置，其特征在于，所述速度檢測部，根據(jù)照射了所述光束的所述信息載體的半徑位置，對所述線速度進(jìn) 行檢測。
6. 根據(jù)權(quán)利要求l所述的光盤裝置，其特征在于， 所述分頻部，根據(jù)所述記錄時鐘信號來調(diào)整所述分頻比。
7. 根據(jù)權(quán)利要求l所述的光盤裝置，其特征在于， 所述分頻部，根據(jù)所述分頻時鐘信號來調(diào)整所述分頻比。
8. 根據(jù)權(quán)利要求l所述的光盤裝置，其特征在于，所述分頻部，當(dāng)以CLV方式進(jìn)行記錄時，將所述分頻時鐘信號的頻率設(shè)置為恒定。
9. 根據(jù)權(quán)利要求l所述的光盤裝置，其特征在于，所述分頻部，當(dāng)以CAV方式進(jìn)行記錄時，通過根據(jù)照射了所述光束的所述信息載體的 半徑位置來改變分頻比，從而將所述分頻時鐘信號的頻率設(shè)置在規(guī)定的頻率范圍內(nèi)。
10. 根據(jù)權(quán)利要求l所述的光盤裝置，其特征在于， 所述電流調(diào)整部，具有光量檢測部，其對所述發(fā)光部所輸出的所述光束的功率進(jìn)行檢測，來生成功率檢測信號；抽樣保持部，其通過在不同的時刻對所述功率檢測信號進(jìn)行抽樣，來檢測多個電平的 信號；功率運算部，其根據(jù)所述抽樣保持部的輸出信號，來計算所述光束的多個功率；禾口電流運算部，其根據(jù)所述計算出的多個功率，來計算供給所述發(fā)光部的所述電流， 所述電流運算部具有非檢測方式，該非檢測方式根據(jù)所述功率運算部計算出的最高的功率值以外的功率值，來計算與所述最高的功率值對應(yīng)的電流，所述電流運算部，在基準(zhǔn)線速度以外，采用所述非檢測方式來計算與所述最高的功率值對應(yīng)的電流。
11. 根據(jù)權(quán)利要求io所述的光盤裝置，其特征在于，所述電流運算部具有檢測方式，該檢測方式采用所述功率運算部計算出的最高的檢測 功率值，來計算與所述最高的功率對應(yīng)的電流，所述電流運算部，在所述基準(zhǔn)線速度下，采用所述檢測方式來計算與所述最高的功率 值對應(yīng)的電流。
12. 根據(jù)權(quán)利要求ll所述的光盤裝置，其特征在于，所述電流運算部，將以所述信息載體的規(guī)格所定義的線速度作為基準(zhǔn)線速度。
13. 根據(jù)權(quán)利要求ll所述的光盤裝置，其特征在于，所述電流運算部，當(dāng)以CAV方式進(jìn)行記錄時，將所述信息載體的最內(nèi)周部中的線速度 作為基準(zhǔn)線速度。
14. 根據(jù)權(quán)利要求l所述的光盤裝置，其特征在于，所述分頻部，根據(jù)多脈沖發(fā)光時的平均功率與中央功率的偏差的大小，來計算所述分 頻時鐘信號的頻率范圍。
15. 根據(jù)權(quán)利要求l所述的光盤裝置，其特征在于，所述分頻部，根據(jù)所述電流調(diào)整部能夠檢測的光束的脈沖的頻帶，來計算所述分頻時 鐘信號的頻率范圍。
16. —種光盤裝置，具有 發(fā)光部，其輸出照射到信息載體上的光束；電流調(diào)整部，其對所述光束的光量進(jìn)行檢測，調(diào)整供給所述發(fā)光部的電流； 記錄時鐘生成部，其生成作為數(shù)據(jù)記錄時的基準(zhǔn)的記錄時鐘信號； 測試時鐘生成部，其生成測試記錄時使用的測試時鐘信號；記錄模式運算部，其根據(jù)所述記錄時鐘信號，設(shè)定用于記錄數(shù)據(jù)的數(shù)據(jù)記錄發(fā)光模式；測試模式運算部，其根據(jù)所述測試時鐘信號，設(shè)定用于對從所述發(fā)光部輸出的所述光 束的功率進(jìn)行控制的測試記錄用的測試發(fā)光模式；電流輸出部，其根據(jù)在所述數(shù)據(jù)記錄發(fā)光模式及所述測試發(fā)光模式之中選擇出的發(fā)光 模式和所述電流調(diào)整部計算出的電流值，對所述發(fā)光部供給電流，所述測試時鐘生成部，與記錄時的線速度無關(guān)地生成恒定頻率的所述測試時鐘信號。
17. 根據(jù)權(quán)利要求16所述的光盤裝置，其特征在于，所述測試模式運算部，對所述測試發(fā)光模式中的多脈沖部分的始端及末端的至少一端 進(jìn)行屏蔽。
18. 根據(jù)權(quán)利要求17所述的光盤裝置，其特征在于，所述抽樣保持部，以在所述測試模式運算部進(jìn)行屏蔽的時刻不抽樣的方式對抽樣時刻 進(jìn)行屏蔽。
19. 根據(jù)權(quán)利要求16所述的光盤裝置，其特征在于，所述測試模式運算部，不將所述測試發(fā)光模式的始端及末端設(shè)為多脈沖。
20. 根據(jù)權(quán)利要求l所述的光盤裝置，其特征在于，所述測試模式運算部，若所述線速度提高，則使所述測試發(fā)光模式內(nèi)占有的多脈沖的 比例增加。
21. 根據(jù)權(quán)利要求16所述的光盤裝置，其特征在于，所述測試模式運算部，若所述線速度提高，則使所述測試發(fā)光模式內(nèi)占有的多脈沖的 比例增加。
22. 根據(jù)權(quán)利要求l所述的光盤裝置，其特征在于， 所述測試模式運算部，即使在所述數(shù)據(jù)記錄發(fā)光模式不包含多脈沖的情況下，所述測 試發(fā)光模式內(nèi)也包含多脈沖。
23. 根據(jù)權(quán)利要求16所述的光盤裝置，其特征在于，所述測試模式運算部，即使在所述數(shù)據(jù)記錄發(fā)光模式不包含多脈沖的情況下，所述測 試發(fā)光模式內(nèi)也包含多脈沖。
24. —種激光功率控制方法，包括記錄時鐘生成步驟，生成作為數(shù)據(jù)記錄時的基準(zhǔn)的記錄時鐘信號； 分頻步驟，對所述記錄時鐘信號進(jìn)行分頻，生成分頻時鐘信號；記錄模式運算步驟，根據(jù)所述記錄時鐘信號，設(shè)定用于記錄數(shù)據(jù)的數(shù)據(jù)記錄發(fā)光模式；測試模式運算步驟，根據(jù)所述分頻時鐘信號，設(shè)定用于對光束的功率進(jìn)行控制的測試 記錄用的測試發(fā)光模式；禾口電流輸出步驟，根據(jù)在所述數(shù)據(jù)記錄發(fā)光模式及所述測試發(fā)光模式之中選擇出的發(fā)光 模式，對發(fā)光部供給電流，所述分頻步驟，包括當(dāng)記錄時的線速度變化時以分頻時鐘信號的頻率變化減小的方式 調(diào)整分頻比的步驟。
25. —種激光功率控制方法，包括記錄時鐘生成步驟，生成作為數(shù)據(jù)記錄時的基準(zhǔn)的記錄時鐘信號； 測試時鐘生成步驟，生成測試記錄時采用的測試時鐘信號；記錄模式運算步驟，根據(jù)所述記錄時鐘信號，設(shè)定用于記錄數(shù)據(jù)的數(shù)據(jù)記錄發(fā)光模式；測試模式運算步驟，根據(jù)所述測試時鐘信號，設(shè)定用于對光束的功率進(jìn)行控制的測試 記錄用的測試發(fā)光模式；禾口電流輸出步驟，根據(jù)在所述數(shù)據(jù)記錄發(fā)光模式及所述測試發(fā)光模式之中選擇出的發(fā)光 模式，對發(fā)光部供給電流，所述測試時鐘生成步驟，包括與記錄時的線速度無關(guān)地生成恒定頻率的所述測試時鐘 信號的步驟。
全文摘要
本發(fā)明是提供一種發(fā)光裝置及激光功率控制方法，該發(fā)光裝置對記錄時鐘信號進(jìn)行分頻來生成分頻時鐘信號，并根據(jù)分頻時鐘信號，決定用于對從發(fā)光部輸出的光束的功率進(jìn)行控制的測試記錄用的測試發(fā)光模式。當(dāng)記錄時的線速度變化時，以分頻時鐘信號的頻率變化減小的方式調(diào)整分頻比。在測試區(qū)域中，通過以多脈沖進(jìn)行測試發(fā)光來進(jìn)行激光功率控制，從而即使在高倍速下，也能夠良好地保持多脈沖平均值的檢測精度。
文檔編號G11B7/125GK101779239SQ200980100150
公開日2010年7月14日 申請日期2009年4月21日 優(yōu)先權(quán)日2008年4月23日
發(fā)明者藤畝健司 申請人:松下電器產(chǎn)業(yè)株式會社