專利名稱：光信息記錄再現(xiàn)裝置、光信息再現(xiàn)裝置和光信息記錄介質的制作方法
技術領域：
本發(fā)明涉及光信息記錄再現(xiàn)裝置、光信息再現(xiàn)裝置和光信息記錄介質。
背景技術：
在專利文獻1中記載有“在單面兩層介質那樣的具有多個記錄層的光盤中，在至 少一個記錄層中記錄具有與介質缺陷相關的信息的缺陷列表，在該缺陷列表中，與記錄缺 陷列表的記錄層的數(shù)量和位置無關地，具有與所有記錄層的介質缺陷相關的信息，從而能 夠實現(xiàn)缺陷管理的可靠性的提高、高速訪問?！贝送猓趯＠墨I2中，在課題欄目中記載有“如果在從多層光盤的各記錄層的 盤表面觀察時物理上相同的位置存在缺陷，或者在盤表面存在傷痕、污物等的缺陷，則某層 中的寫入由于缺陷的影響而失敗，盡管將此時的地址登記到缺陷列表中，但是在其它的機 會下，在向其它層的從盤表面觀察時物理上相同的位置進行寫入時，由于與以前檢測出的 相同的缺陷，在寫入中發(fā)生失敗，存在再次向缺陷列表進行登記的二次登記的可能性，因此 產(chǎn)生寫入時的向缺陷列表的登記處理的浪費”，此外，在效果欄目中記載有“假設在從各記 錄層的盤表面觀看時物理上相同的位置存在缺陷、或者在盤表面存在傷痕、污物等缺陷，由 于將訪問中的記錄層的缺陷區(qū)域的地址、和其它記錄層的從盤表面觀察時物理上相同位置 的地址登記到缺陷列表中，因此能夠提高向缺陷列表進行登記的效率，提高寫入時的處理 速度”。專利文獻1日本特開2001-14808號公報([發(fā)明效果])專利文獻2日本特開2007-334940號公報([權利要求范圍]、[發(fā)明效果])

發(fā)明內容
然而，為了實現(xiàn)在專利文獻2中記載的技術，需要在角度方向、半徑方向均高精度 地對各記錄層的粘接進行控制，從而制作光信息記錄介質。例如，在Blu-Ray (藍光)規(guī)格的盤的情況下，粘接位置僅偏移0. 23 u m,應該進行 缺陷登記的地址就會發(fā)生變化。然而，一般在具有多個層的光信息記錄介質中，各層的偏心最大會是約50i!m。此 外，在使某個層與其它層接合的情況下，各層的角相位一般并不一致。從而，在接合某個層 與其它層時，存在各層的偏心的方向正相反的情況。即，在一般的光信息記錄介質中，在進 行粘接時，層與層的相對偏心的差(以下，稱為接合誤差)最大為約lOOym左右。從而，使表示相同物理位置的各層的地址相對應是困難的。于是，即使取得在某個 層的記錄再現(xiàn)中檢測出缺陷的位置的地址，并取得與該地址相對應的其它層的地址，但在 與由該其它層的地址表示的位置不同的位置檢測出缺陷的可能性也很高。而且，在該不同 的位置，盡管再次檢測出缺陷，但是仍然與沒有缺陷的位置同樣地進行信息的記錄或者再 現(xiàn)。例如，盡管存在缺陷，但是仍然進行與以往相同次數(shù)的重試，導致處理時間的增加。因此，例如難以提高記錄速度。然而，在專利文獻2中，沒有記載這樣的問題。本發(fā)明的目的是提供即使在具有多個層的光信息記錄介質中存在偏心的情況下， 也能夠抑制記錄速度的降低的光信息記錄再現(xiàn)裝置。此外，本發(fā)明的目的是提供即使在具有多個層的光信息記錄介質中存在偏心的情 況下，也能夠抑制再現(xiàn)速度的降低的光信息記錄再現(xiàn)裝置。此外，本發(fā)明的目的是提供即使在存在偏心的情況下，也能夠抑制裝置的記錄速 度或者再現(xiàn)速度的降低的光信息記錄介質。上述課題例如通過權利要求范圍中記載的發(fā)明能夠解決。此外，如下簡單地說明 要點。光信息記錄再現(xiàn)裝置，將與第一層的檢測出缺陷的位置相對應的第二層中的規(guī)定 區(qū)域作為缺陷區(qū)域，而進行信息的記錄。光信息記錄再現(xiàn)，將與第一層的登記有缺陷的位置 相對應的第二層中的規(guī)定區(qū)域作為缺陷區(qū)域，而進行信息的再現(xiàn)。優(yōu)選的是，缺陷區(qū)域的半 徑方向的距離比層間的接合誤差大。此外，光信息記錄介質，將與第一層的缺陷位置相對應的第二層中的規(guī)定區(qū)域登 記為缺陷區(qū)域。而且，缺陷區(qū)域的半徑方向的距離比層間的接合誤差大。根據(jù)本發(fā)明，能夠提供即使在具有多個層的光信息記錄介質中存在偏心的情況 下，也能夠抑制記錄速度的降低的光信息記錄再現(xiàn)裝置。此外，根據(jù)本發(fā)明，能夠提供即使在具有多個層的光信息記錄介質中存在偏心的 情況下，也能夠抑制再現(xiàn)速度的降低的光信息記錄再現(xiàn)裝置。此外，根據(jù)本發(fā)明，能夠提供即使在存在偏心的情況下，也能夠抑制裝置的記錄速 度或者再現(xiàn)速度的降低的光信息記錄介質。


圖1是具有兩層記錄層的光信息記錄介質的說明圖(實施例1)圖2是說明記錄層的構造的圖。(實施例1)圖3是表示在記錄層進行記錄的數(shù)據(jù)區(qū)域的圖(實施例1)圖4是表示缺陷檢測區(qū)域的圖。(實施例1)圖5是光信息記錄再現(xiàn)裝置的結構圖。圖6是記錄時的缺陷檢測處理的流程圖的例子。(實施例2)圖7是在記錄時的缺陷檢測中，利用缺陷檢測區(qū)域301的處理的流程圖的例子。 (實施例2)圖8是利用缺陷檢測區(qū)域的記錄的流程圖的例子。(實施例3)圖9是再現(xiàn)時利用缺陷檢測的重試的流程圖的例子。(實施例4)圖10是表示在沒有記錄缺陷檢測區(qū)域的缺陷信息的情況下的缺陷推定的方法的 例子。(實施例5)圖11是表示在表面存在傷痕的情況下的各記錄層的再現(xiàn)信號電平的圖。圖12是表示區(qū)域定義信息的圖。圖13是表示缺陷管理信息的例子的圖。
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符號說明100 光信息記錄介質101 基盤層102 第一記錄層103:第一中間層104 第二記錄層105 覆蓋層201 記錄軌道301 缺陷檢測區(qū)域400 光信息記錄再現(xiàn)裝置401:電機402 拾取器403 信號處理裝置404 主裝置501 記錄處理502 記錄錯誤503 確認記錄是否結束504 是否重試了規(guī)定次數(shù)的判定處理505 缺陷檢測506 是否檢測出缺陷的判定處理507 缺陷登記508 重試前處理601 在鄰接的缺陷檢測區(qū)域中是否存在缺陷的信息登記的檢測處理602 重試規(guī)定次數(shù)變更處理701 記錄處理702 記錄錯誤703 錯誤處理704:繼續(xù)記錄705 下一個記錄區(qū)域或者鄰接區(qū)域完成缺陷檢測706 記錄方式變更801 再現(xiàn)處理802 伺服偏離803 再現(xiàn)結束804 伺服偏離區(qū)域完成缺陷檢測805 重試處理806 重試定位變更901 傷痕902:記錄層的缺陷
具體實施例方式以下，說明本發(fā)明的實施例。另外，所謂的光信息記錄介質100，例如是BD等光盤， 但并不限定于此，能夠適用各種介質。優(yōu)選光信息記錄介質100是2層以上的多層構造的記 錄介質，是接合某層與其它層時產(chǎn)生的誤差為一個層內的軌道(track)、坑(pit)間的距離 以上的介質。此外，作為光信息記錄再現(xiàn)裝置400的例子，表示的是光盤驅動裝置的情況， 但是只要能夠對光信息記錄介質100進行信息的記錄或再現(xiàn)即可。此外，光信息記錄再現(xiàn) 裝置400也可以是內置光盤驅動裝置的裝置，例如PC、存儲器裝置。[實施例1]在實施例1中，說明光信息記錄介質100。本實施例的光信息記錄介質100采用大 致遵從Blu-Ray Disc Recordable (藍光刻錄盤)規(guī)格的結構，但如后所述，包括缺陷管理 區(qū)域301等的與標準不同的結構。圖1說明光信息記錄介質100的層構造。如圖所示，光信息記錄介質100具有第一記錄層102、第二記錄層104這2個記錄層。具體的講，如圖1所示，光信息記錄介質100為基盤層101、第一記錄層102、第一 中間層103、第二記錄層104、覆蓋層105這樣的疊層構造。另外，圖1中說明的光信息記錄介質100具有2層的記錄層，但在具有更多的記錄 層的光信息記錄介質100中，通過分別增加中間層和記錄層，能夠增加記錄層數(shù)。接著，使用圖2說明第二記錄層104的構造的例子。圖2中，第二記錄層104具有螺旋狀的記錄軌道201，為光信息沿著該記錄軌道 201記錄信號的構造。此時螺旋狀的記錄軌道201的旋轉為右旋，但軌道201可以是左旋、 右旋中的任一種，第一記錄層102與第二記錄層104的軌道201即使成為反方向的螺旋也 沒有問題。此外，記錄軌道201也可以不是螺旋狀的構造，而是同心圓狀的構造。接著，使用圖3說明記錄在記錄層中的數(shù)據(jù)的例子。如圖3所示，記錄在記錄層中的數(shù)據(jù)根據(jù)地址大致分為Lead in區(qū)域(導入?yún)^(qū) 域)、Data one區(qū)域(數(shù)據(jù)區(qū)域)。導入?yún)^(qū)域中的最內周側的BCA(Burst Cutting Area，燒錄截斷區(qū)域)和預錄信息 區(qū)域冊為再現(xiàn)專用區(qū)域(PB區(qū)域)，從導入?yún)^(qū)域的管理/控制信息區(qū)域到導出區(qū)域，為能夠 進行一次記錄的一次寫入?yún)^(qū)域(W0區(qū)域)。導入?yún)^(qū)域的最內周的BCA(Burst Cutting Area，燒錄截斷區(qū)域)，例如由高功率的 激光器，通過燒斷記錄層的記錄方式，沿著半徑方向記錄條形碼狀的信號。由此，對于一片 一片的光信息記錄介質100記錄獨特的ID。根據(jù)該獨特的ID，能夠對內容向光信息記錄介 質100的復制進行管理。在除去BCA的再現(xiàn)專用區(qū)域即預錄信息區(qū)域冊、和W0區(qū)域的整個區(qū)域中，波紋槽 (wobbling groove，蛇形的槽)的記錄軌道201螺旋狀地形成。槽是激光點進行描繪時的 跟蹤的導引，而且該槽作為記錄軌道201進行數(shù)據(jù)的記錄再現(xiàn)。另外，在本例中，假定在槽中進行數(shù)據(jù)記錄的光信息記錄介質100，但本發(fā)明并不 限于這種槽記錄的光信息記錄介質100，也可以應用于在槽與槽之間的岸(land)上記錄數(shù) 據(jù)的岸記錄方式的光信息記錄介質100，此外，還能夠應用于在槽和岸上記錄數(shù)據(jù)的岸槽(land-groove)記錄方式的光信息記錄介質100。接著，說明在具有2個記錄層的光信息記錄介質100中存在缺陷時的影響。光信息記錄介質100的記錄信息的讀出是，光信息記錄再現(xiàn)裝置400以在目標記 錄層聚焦的方式從表面射入激光、讀出信號。此外，在向目標記錄層的聚焦、記錄軌道201的跟蹤中，光信息記錄再現(xiàn)裝置使用 從記錄層反射來的激光的信號進行控制。此外，記錄數(shù)據(jù)的讀出控制也同樣使用從記錄層反射來的激光的信號。這里，圖11表示在光信息記錄介質100的表面存在傷痕901的情況下的各層的讀 出信號電平。當在光信息記錄介質100的表面存在傷痕901時，僅在傷痕901的部分，激光由于 傷痕901而擴散，從記錄面反射來的信號電平在位于傷痕901深處的記錄層部分變差。因 此，在位于傷痕901深處的記錄層部分，產(chǎn)生用于聚焦、跟蹤控制的信號變差、伺服偏離的 問題。接著，使用圖4說明缺陷檢測區(qū)域301。光信息記錄介質100具有沿半徑方向被分割而定義的缺陷檢測區(qū)域301。在本圖 中，作為缺陷檢測區(qū)域301，定義了區(qū)域1 區(qū)域n。此外，在本實施例中，缺陷檢測區(qū)域301僅依據(jù)半徑進行定義。因此，如果在第一 記錄層102、第二記錄層104中分別為同一半徑，則成為同一缺陷檢測區(qū)域301。另外，僅依 據(jù)半徑的理由是，在光信息記錄介質100的制造時，在接合第一記錄層102與第二記錄層 104時，不能夠使各個層的角相位一致。當然，根據(jù)介質的制造方法，也可以依據(jù)圓周方向來 定義缺陷檢測區(qū)域301。這里，使用圖12，說明表示以什么范圍對區(qū)域進行定義的區(qū)域定義信息1200。圖 中，1201表示第一記錄層的地址，1202表示第二記錄層的地址，此外，1203表示與這些地址 相對應的缺陷檢測區(qū)域301的編號。通過利用該區(qū)域定義信息1200，第一記錄層的特定的 地址能夠與第二記錄層中的缺陷檢測區(qū)域建立對應。此外，通過利用該區(qū)域定義信息1200， 第二記錄層的特定的地址能夠與第一記錄層中的缺陷檢測區(qū)域建立對應。此外，該缺陷檢 測區(qū)域301并非依據(jù)實際的光信息記錄介質100上的物理半徑，而是基于例如與假定光信 息記錄介質100沒有偏心和接合誤差地被制造時的物理半徑相對應的地址進行區(qū)域劃分。 這樣進行區(qū)域劃分，則不需要計量光信息記錄介質100的偏心、各記錄層的接合誤差。此外，該區(qū)域的半徑方向的大小例如取為與光信息記錄介質100的接合誤差相同 的值，或者接合誤差以上的值。由此，在某層中檢測出缺陷的情況下，在另一層中推定會出 現(xiàn)源于同一缺陷的缺陷檢出的范圍與接合誤差的大小無關，包含于同一個缺陷檢測區(qū)域 301或者鄰接的缺陷檢測區(qū)域301中。從而，能夠將同一個或者鄰接的缺陷檢測區(qū)域301作 為包含缺陷的區(qū)域或者其可能性很高的區(qū)域進行處理。另外，所謂接合誤差，如上所述，定義為層與層的相對偏心的差。一般為各層的偏 心的2倍左右的值。此外，作為伴隨粘接的接合誤差的具體值，例如，取為光信息記錄介質100所依 照的規(guī)格所決定的偏心的2倍的值。例如，作為伴隨粘接的接合誤差的值，取為上述的 100 ym。但是，當然不限于該值。
此外，允許的偏心的范圍視規(guī)格而定，但也依賴于光信息記錄介質100的制造商 和各個模型。因此，也可以采用下述結構預先計量各制造商、每個模型的光信息記錄介質 100的標準的接合誤差，后述的光信息記錄再現(xiàn)裝置400根據(jù)從BCA、管理區(qū)域讀出的獨特 的ID取得接合誤差?；蛘?，也可以在光信息記錄介質100上設置記錄接合誤差的區(qū)域。當 然，也可以代替接合誤差，以各層的偏心的2倍的值作為缺陷檢測區(qū)域的寬度。此外，關于接合誤差的值，也可以采用下述結構在某層和另一層中檢測出缺陷 的情況下，光信息記錄再現(xiàn)裝置400根據(jù)某層的缺陷地址與另一缺陷地址的物理位置的差 異，取得接合誤差的值。這里，例如，在第一記錄層102的某個缺陷檢測區(qū)域301中檢測出光信息記錄介質 100的表面的傷痕等缺陷的情況下，推定在第二記錄層104的同一缺陷檢測區(qū)域301中會發(fā) 現(xiàn)起因于相同缺陷的缺陷。因此，通過預先登記檢測出缺陷的缺陷檢測區(qū)域301的信息，能夠容易地應對推 定為由同一缺陷引起的錯誤。而且，例如，缺陷檢測區(qū)域301的登記，對于光信息記錄介質 100的規(guī)定區(qū)域例如缺陷管理區(qū)域進行。此外，例如將BD中的DMA等區(qū)域擴展成能夠進行 缺陷檢測區(qū)域301的登記，從而安裝缺陷管理區(qū)域。這里，使用圖13，說明登記在光信息記錄介質100中的缺陷管理信息1300。圖中， 1301是缺陷地址。缺陷地址1301是表示在根據(jù)反射光量的變化、錯誤信號的變形等檢測出 缺陷時，進行數(shù)據(jù)記錄的位置的地址。此外，缺陷地址1301可以由單一的地址表示，也可以 由表示規(guī)定的記錄單位例如一個扇區(qū)的范圍的地址表示。1302的缺陷區(qū)域信息是表示與 缺陷地址1301相對應的缺陷檢測區(qū)域301的信息。缺陷區(qū)域信息1302例如根據(jù)缺陷地址 1301包含在圖12中的哪個缺陷檢測區(qū)域301中而求出。這樣，如果例如在管理區(qū)域中，不僅是檢測出缺陷的地址，表示是哪個缺陷檢測區(qū) 域301的缺陷管理區(qū)域信息1302也記錄在信息記錄介質100中，則不需要根據(jù)地址計算包 含缺陷位置的缺陷檢測區(qū)域301。另外，在本實施例中，使缺陷管理區(qū)域301的半徑方向的距離為層間的接合誤差 以上的值。由此，能夠將與在某層中檢測出缺陷的區(qū)域相同或者鄰接的缺陷檢測區(qū)域301 作為包含缺陷的區(qū)域，而進行信息的記錄再現(xiàn)。但是，缺陷檢測區(qū)域301的半徑方向的距 離也可以并不一定比接合誤差大。例如，即使使缺陷檢測區(qū)域301的半徑方向的距離為接 合誤差的一半的值，與在某層中檢測出缺陷的區(qū)域相同或者鄰接的缺陷檢測區(qū)域301包 含另一層中的缺陷的可能性也很高。于是，能夠將這些區(qū)域作為包含缺陷的可能性高的 區(qū)域進行處理。在假定某層與另一層的偏心的值相同、使缺陷檢測區(qū)域301的半徑方向 的距離為接合誤差的一半的值的情況下，只要某層與另一層的偏心的方向的角相位差在 0°彡e彡+90°的范圍，則在同一或者鄰接的缺陷檢測區(qū)域301中包含同一缺陷。此外，在使缺陷檢測區(qū)域301的半徑方向的距離例如為接合誤差的6成的值的情 況下，只要偏心的方向的角相位差在0°彡e彡約士 101°的范圍，則在同一或者鄰接的缺 陷檢測區(qū)域301中包含同一缺陷。此外，例如，在使缺陷檢測區(qū)域301的半徑方向的距離為 接合誤差的7成的值的情況下，只要偏心的方向的角相位差在0° ( 0 <約士 113°的范 圍，則在同一或者鄰接的缺陷檢測區(qū)域301中包含同一缺陷。此外，例如，在使缺陷檢測區(qū) 域301的半徑方向的距離為接合誤差的8成的值的情況下，只要偏心的方向的角相位差在0° ≤ e≤約士 126°的范圍，則在同一或者鄰接的缺陷檢測區(qū)域301中包含同一缺陷。此 外，例如，在使缺陷檢測區(qū)域301的半徑方向的距離為接合誤差的9成的值的情況下，只要 偏心的方向的角相位差在0°≤e≤約士 143°的范圍，則在同一或者鄰接的缺陷檢測區(qū) 域301中包含同一缺陷。此外，缺陷檢測區(qū)域301的半徑方向的距離越寬，在鄰接的缺陷區(qū)域301以內包含 其它層中的缺陷位置的可能性越高。此外，也可以使光信息記錄介質100為下述結構將相比于某層中的缺陷的位置 在半徑方向上更寬的區(qū)域作為包含缺陷的可能性高的缺陷區(qū)域進行登記。[實施例2]在實施例2中，表示在上述光信息記錄介質100中進行記錄時的光信息記錄再現(xiàn) 裝置400的動作的例子。首先，在圖5中表示上述光信息記錄再現(xiàn)裝置400的結構例。光信息記錄再現(xiàn)裝置400包括照射激光、將反射光的光量變換成電信號的拾取器 402。此外，光信息記錄再現(xiàn)裝置400具有主軸電機、步進電機等能夠使拾取器402與光信 息記錄介質100的相對位置變化的電機401。此外，光信息記錄再現(xiàn)裝置400包括信號處理 裝置403，該信號處理裝置403根據(jù)從拾取器402輸出的信號控制拾取器402和電機401， 進一步與進行記錄再現(xiàn)的主裝置404進行通信，進行已再現(xiàn)的數(shù)據(jù)的傳輸、記錄的數(shù)據(jù)的 接收。信號處理裝置403可以由具有全部功能的一個LSI構成，也可以例如按照處理來自 拾取器402的信號的部分、控制拾取器402和電機401的部分等功能，組合個別的處理裝置 而實現(xiàn)。此外，雖然沒有圖示，但光信息記錄再現(xiàn)裝置400具有存儲器等存儲單元。此外，采用光信息記錄介質100能夠安裝在通過電機旋轉而到達的位置的結構。 此外，所謂主裝置404例如是PC、攝像機、TV、記錄器等用于進行光信息記錄介質100的再 現(xiàn)、記錄的設備，只要是能夠與信號處理裝置403進行通信的設備即可。作為從光信息記錄介質100讀出數(shù)據(jù)方法，利用拾取器402向光信息記錄介質100 照射激光，將反射來的激光的光量的變化信號傳送到信號處理裝置403。信號處理裝置403根據(jù)接收到的信號將控制拾取器402的位置、電機401的速度 的信號分別傳送到拾取器402和電機401。進而根據(jù)接收到的信號進行記載在光信息記錄 介質100中的信息的再現(xiàn)。另外，該信號處理裝置403作為根據(jù)從拾取器402取得的信號、 檢測在記錄信息的位置或者再現(xiàn)信息的位置是否存在缺陷的缺陷檢測單元進行動作。此 外，信號處理裝置403作為光信息記錄再現(xiàn)裝置400中的控制單元進行動作。電機401以與從信號處理裝置403接收到的指令相對應的速度使光信息記錄介質 100旋轉。接著，使用圖6，表示不使用本光信息記錄介質100的現(xiàn)有技術的記錄時的缺陷識 別處理的流程圖的例子。光信息記錄再現(xiàn)機在數(shù)據(jù)的記錄時，首先進行記錄處理(S501)。然后，光信息記錄 再現(xiàn)機在每一定量或者每一定時間確認是否發(fā)生了記錄錯誤(S502)。而且，在S502中為沒 有記錄錯誤的情況下，光信息記錄再現(xiàn)機確認是否結束記錄(S503)，進行記錄處理501直 到記錄結束。此外，在S502中為發(fā)生了記錄錯誤的情況下，光信息記錄再現(xiàn)機判定是否進行了規(guī)定次數(shù)的重試(S504)。在S504中，在沒有進行規(guī)定次數(shù)的重試的情況下，光信息記錄再 現(xiàn)機進行光拾取器的定位處理等的重試前處理(S508)，再次進行記錄處理(S501)。其中， 所謂的重試前處理是指，例如在再次進行記錄處理之前，利用光拾取器402和電機401使激 光的照射位置返回錯誤位置的處理。在S504中，在由光信息記錄再現(xiàn)裝置400進行了規(guī)定 次數(shù)的重試的情況下，光信息記錄再現(xiàn)機進行在光信息記錄介質100上是否有缺陷的缺陷 檢測(S505)。該S505中的處理，通過光信息記錄再現(xiàn)機檢測來自光信息記錄介質100的反 射光量的變化、錯誤信號的變形等而進行。然后，在S506中，光信息記錄再現(xiàn)機判定檢測的結果是否存在缺陷(S506)。在 S506中為存在缺陷的情況下，光信息記錄再現(xiàn)機進行缺陷信息登記(S507)。另一方面，在S506中為沒有缺陷的情況下，光信息記錄再現(xiàn)機直接以錯誤來結束 記錄處理。這樣，在現(xiàn)有的缺陷識別方法中，不管進行記錄的層或者其它的層中是否存在傷 痕等缺陷，均進行規(guī)定次數(shù)的重試。因此，特別是在其它層的對應位置存在缺陷的情況下， 雖然即使進行重試記錄處理也不會成功的可能性很高，但仍然進行規(guī)定次數(shù)的重試，導致 處理時間的增加。接著，與上述使用圖6的說明同樣，使用圖7的流程圖，說明使用本信息記錄再現(xiàn) 裝置100的記錄時的缺陷檢測處理。該圖所示的處理與現(xiàn)有的處理相比較，其特征之處在 于，例如根據(jù)當前正在進行數(shù)據(jù)記錄的區(qū)域及其鄰接區(qū)域是否是包含缺陷的區(qū)域而變更處 理。另外，以下的處理通過信號處理單元403的控制而執(zhí)行。光信息記錄再現(xiàn)裝置400在數(shù)據(jù)的記錄時，首先進行記錄處理(S501)。接著，每記 錄一定量的數(shù)據(jù)或者每一定時間判定是否發(fā)生了記錄錯誤502 (S502)。在S502中為沒有記 錄錯誤的情況下，確認是否結束記錄(S503)，持續(xù)進行記錄處理501直到記錄結束。此外，在S502中判定發(fā)生了記錄錯誤的情況下，判定在包含于缺陷管理信息1300 的缺陷區(qū)域信息1302中，是否登記有與包含記錄數(shù)據(jù)中的地址的缺陷檢測區(qū)域301相同的 缺陷檢測區(qū)域301或者鄰接的缺陷檢測區(qū)域301 (S601)。另外，在S601中，例如，通過在光 信息記錄介質100的識別時，預先將缺陷管理信息1300讀出到光信息記錄再現(xiàn)裝置400的 存儲器(未圖示)中，使得在信息的記錄中不需要進行缺陷管理信息1300的讀出，則能夠 縮短數(shù)據(jù)的讀出時間。此外，所謂的鄰接的缺陷檢測區(qū)域301是指，相對于發(fā)生了記錄錯誤 的缺陷檢測區(qū)域301，在內周側以及外周側鄰接的缺陷檢測區(qū)域301。在S601中，在缺陷管理信息1300中登記有與包含記錄數(shù)據(jù)中的地址的缺陷檢測 區(qū)域301相同的缺陷檢測區(qū)域301或者鄰接的缺陷檢測區(qū)域301的缺陷信息的情況下，進 行重試的規(guī)定次數(shù)變更(S602)。在S602中，重試的次數(shù)是，例如在進行需要實時記錄的視 頻數(shù)據(jù)的記錄的情況下，使規(guī)定的重試次數(shù)為0次，通過不進行重試能夠提高實時記錄性。此外，即使不進行需要實時記錄的數(shù)據(jù)的記錄，在與包含記錄數(shù)據(jù)中的地址的缺 陷檢測區(qū)域301相同的缺陷檢測區(qū)域301或者鄰接的缺陷檢測區(qū)域301中發(fā)現(xiàn)缺陷的情況 下，能夠推測出記錄錯誤的原因是缺陷的可能性很高。因此，光信息記錄再現(xiàn)裝置400也可 以采用下述結構進行控制，使得在發(fā)現(xiàn)缺陷的情況下，與沒有發(fā)現(xiàn)缺陷的情況相比較，減 少重試次數(shù)。由此，光信息記錄再現(xiàn)裝置400能夠抑制由重試處理的時間引起的記錄速度 的降低。
接著，光信息記錄再現(xiàn)裝置400判定是否重試了規(guī)定次數(shù)以上(S504)。在規(guī)定 次數(shù)以下的情況下，光信息記錄再現(xiàn)裝置400進行光拾取器的定位處理等的重試前處理 (S508)，再次進行記錄處理(S501)。在S504中重試了規(guī)定次數(shù)以上的情況下，光信息記錄 再現(xiàn)裝置400檢測在光信息記錄介質100上是否存在缺陷(S505)。然后，在S506中，判定 在光信息記錄介質100上是否檢測出缺陷。在S506中為檢測出缺陷的情況下，將該缺陷檢 測區(qū)域301登記到缺陷管理信息1300中(S507)，以錯誤來結束記錄。此外，光信息記錄再現(xiàn)裝置400，在S506中在光信息記錄介質100上沒能檢測出缺 陷的情況下，也同樣以錯誤結束記錄。在這個例子以外，也可以采用下述結構在S602中，不僅變更重試規(guī)定次數(shù)，還進 行記錄速度的變更、將記錄方式變更為READ AFTERWRITE (寫后讀)，使得能夠進行穩(wěn)定的 記錄。由此，增加在重試時能夠正常進行記錄的可能性。這樣，光信息記錄再現(xiàn)裝置400，將與包含缺陷的缺陷檢測區(qū)域301相同以及鄰接 的缺陷檢測區(qū)域301作為缺陷區(qū)域檢測出來，并變更處理，其中，該缺陷區(qū)域是包含缺陷或 者其可能性高的區(qū)域。依據(jù)以上敘述的光信息記錄再現(xiàn)裝置400，存在以下的優(yōu)點。 即，在檢測出某層存 在缺陷的情況下，在其它層中可能受到該缺陷的影響的范圍由于接合誤差而擴大。與此相 對，光信息記錄再現(xiàn)裝置400通過對包含正在記錄數(shù)據(jù)的位置的缺陷檢測區(qū)域301、和在內 周側以及外周側鄰接的缺陷檢測區(qū)域301，變更重試次數(shù)、記錄方式，能夠對再次檢測出缺 陷的可能性高的區(qū)域進行適當?shù)奶幚?。此外，反過來講，本光信息記錄再現(xiàn)裝置400能夠使 進行上述的重試次數(shù)的變更、記錄方式的變更的半徑方向的范圍，抑制在缺陷檢測區(qū)域301 的3倍的寬度內。從而，能夠抑制由于將半徑方向的范圍取得過大，導致對于原本檢測出缺 陷的可能性不高的位置也進行重試次數(shù)的變更、記錄方式的變更。另外，在上述的實施例中，在S601中，在直至鄰接的缺陷檢測區(qū)域301的范圍內， 判定是否作為缺陷區(qū)域被登記，但是也可以在相同的缺陷檢測區(qū)域301的范圍內進行判 定。這是因為，即使僅是相同的缺陷檢測區(qū)域301，在該區(qū)域中包含其它層的缺陷的可能性 也很高。在上述的S601的檢測處理中，為了抑制處理的復雜化，對于在檢測出存在缺陷時 進行數(shù)據(jù)記錄的層和當前正在進行數(shù)據(jù)記錄的層的關系，不予考慮地進行處理。然而，也可以考慮在檢測出存在缺陷時進行數(shù)據(jù)記錄的層和當前正在進行數(shù)據(jù)記 錄的層的關系地進行處理。以下說明詳情。 即，在檢測出存在缺陷時進行數(shù)據(jù)記錄的層與當前正在進行數(shù)據(jù)記錄的層不同的 情況下，不僅是在相同的缺陷檢測區(qū)域301，在鄰接的缺陷檢測區(qū)域301中檢測出存在缺陷 的可能性也很高。在檢測出存在缺陷時進行數(shù)據(jù)記錄的層與當前正在進行數(shù)據(jù)記錄的層相 同的情況下，不需要考慮接合誤差。從而，本信息記錄再現(xiàn)裝置400也可以利用信號處理裝置403，進行判定在檢測出 存在缺陷時進行數(shù)據(jù)記錄的層與當前正在進行數(shù)據(jù)記錄的層是否相同的處理。進一步，也 可以在檢測出存在缺陷時進行數(shù)據(jù)記錄的層與當前正在進行數(shù)據(jù)記錄的層相同的情況下， 進行判定是否僅是相同的缺陷區(qū)域301登記有缺陷的處理。此外，也可以在檢測出存在缺 陷時進行數(shù)據(jù)記錄的層與當前正在進行數(shù)據(jù)記錄的層不同的情況下，進行判定是否僅是相同的缺陷區(qū)域301登記有缺陷的處理。通過具有這樣的結構，在與檢測出存在缺陷時進行數(shù)據(jù)記錄的層相同的層中記錄數(shù)據(jù)時，能夠抑制盡管在鄰接的缺陷檢測區(qū)域301中沒有缺陷也進行減少重試次數(shù)等的處 理的可能性。[實施例3]接著，在實施例3中，表示在已經(jīng)記錄有缺陷信息的上述光信息記錄介質100中進 行記錄時的光信息記錄再現(xiàn)裝置400的另一動作例。另外，實施例3的動作例中，作為特征 性的動作例如是，在對已作為缺陷檢測區(qū)域301被登記的位置進行記錄的情況下，在變更 其記錄方式的基礎上進行記錄。圖8表示，在記錄時，在對已經(jīng)檢測出缺陷的缺陷檢測區(qū)域301或者其鄰接的缺陷 檢測區(qū)域301進行記錄時的動作的流程圖。另外，以下的處理通過信號處理單元403的控 制而進行。光信息記錄再現(xiàn)裝置400的數(shù)據(jù)的記錄動作是，反復進行一定區(qū)間的記錄處理 (S701)、判定有無錯誤(S702)和監(jiān)視是否繼續(xù)記錄(S704)。這里，所謂一定的區(qū)間，例如， 如果是Blu-Ray Disc (藍光光盤)，則可以是一個簇(cluster)、每一個標記、每一定時間寸。在S702中為存在記錄錯誤的情況下，轉移到S703，光信息記錄再現(xiàn)裝置400進行 錯誤處理，結束記錄處理。其中，這里所說的錯誤處理，例如相當于圖7中的S601、S602等 的處理。另一方面，在S702中為沒有記錄錯誤的情況下轉移到S704。在S704中，光信息記 錄再現(xiàn)裝置400判定是否繼續(xù)記錄(S704)。在繼續(xù)記錄處理中，光信息記錄再現(xiàn)裝置400 判定與包含記錄數(shù)據(jù)中的地址的缺陷檢測區(qū)域301相同的缺陷檢測區(qū)域301或者鄰接的缺 陷檢測區(qū)域301是否記錄在缺陷區(qū)域信息1302中(S705)。另外，光信息記錄再現(xiàn)裝置400也可以進行例如在光信息記錄介質100的識別時， 將缺陷檢測區(qū)域301有無缺陷的信息預先讀出到存儲器(未圖示)中的處理。由此，光信 息記錄再現(xiàn)裝置400預先進行處理，使得不會對該區(qū)域進行再次讀出，則可以縮短數(shù)據(jù)的 讀出時間。在S704中，在繼續(xù)記錄的情況下，光信息記錄再現(xiàn)裝置400判定在接著進行記錄 的缺陷檢測區(qū)域301或者與接著進行記錄的缺陷檢測區(qū)域301鄰接的缺陷檢測區(qū)域301中 是否已檢測出缺陷(S705)。在S705中為已檢測出缺陷的情況下，光信息記錄再現(xiàn)裝置400 進行變更記錄方式的處理(S706)。在該S706的記錄方式的變更中，存在下述處理例如將記錄倍速變更成數(shù)據(jù)傳輸 速度更慢的記錄速度、將記錄品質穩(wěn)定的旋轉速度一定的記錄變更為線速度一定的記錄。 如果這樣變更記錄方式，則能夠強化對缺陷的耐性。而且，光信息記錄再現(xiàn)裝置400能夠提 高在即使存在缺陷的情況下也能夠繼續(xù)記錄的可能性。進一步，作為記錄方式，如果以Read After Write (寫后讀)進行記錄，則能夠確 保缺陷部的記錄品質，該寫后讀方式是對已記錄的數(shù)據(jù)進行讀出，確認已記錄后再進行記錄。此外，在S704中，在不繼續(xù)記錄的情況下，光信息記錄再現(xiàn)裝置400結束記錄處理。另外，所謂不繼續(xù)該記錄的情況是指，例如接收到來自主裝置404的記錄中止指令的情 況等。另外，在上述的實施例中，在S705中，在直至鄰接的缺陷檢測區(qū)域301的范圍內， 判定是否作為缺陷區(qū)域被登記，但也可以在相同缺陷檢測區(qū)域301的范圍內進行判定。[實施例4]在實施例4中，表示再現(xiàn)已經(jīng)記錄有缺陷信息的上述光信息記錄介質100的信息時的光信息再現(xiàn)裝置400’的動作例。另外，本實施例中的光信息再現(xiàn)裝置400’的結構圖 與圖1的相對應。此外，以下的處理當然也能夠由光信息記錄再現(xiàn)裝置400進行。首先，使用圖9的流程圖，表示再現(xiàn)時由于缺陷而發(fā)生再現(xiàn)錯誤時的動作的流程 圖。另外，以下的處理通過信號處理單元403的控制而進行。當傳送來再現(xiàn)命令時，上述光信息再現(xiàn)裝置400’進行數(shù)據(jù)的再現(xiàn)(S801)。之后，光信息再現(xiàn)裝置400’反復進行一定區(qū)間的再現(xiàn)處理(S801)、伺服偏離檢測 (S802)、再現(xiàn)結束檢查(S803)。這里，所謂的一定區(qū)間，例如，如果是Blu-Ray Disc(藍光光 盤)，則可以是一個簇、每一個標記、每一定時間等。在S802中，光信息再現(xiàn)裝置400，檢測伺服控制是否偏離。在S802中為沒有伺服 偏離的情況下，轉移到S803，光信息再現(xiàn)裝置400’判定是否結束再現(xiàn)。而且，在S803中結 束再現(xiàn)的情況下，光信息再現(xiàn)裝置400’結束處理。另外，所謂在S803中結束再現(xiàn)的情況是 指，例如從主裝置404接收到結束再現(xiàn)的指令的情況。此外，所謂伺服控制偏離表示的是， 例如伺服從最佳值的偏移量為規(guī)定值以上的情況。另一方面，在S803中不使再現(xiàn)結束的情況下，光信息再現(xiàn)裝置400，轉移到S801， 進行下一次的一定區(qū)間的數(shù)據(jù)的再現(xiàn)處理。此外，在S802中檢測出伺服偏離的情況下，轉移到S804，光信息再現(xiàn)裝置400，判 定包含發(fā)生了伺服偏離的位置的缺陷檢測區(qū)域301是否已登記在缺陷檢測區(qū)域301中。在S804中，推定包含檢測出伺服偏離的地址的缺陷檢測區(qū)域301或者與其鄰接的 缺陷檢測區(qū)域301記錄在缺陷區(qū)域信息中、由缺陷引起伺服偏離的可能性高。因此，推定如 果在與發(fā)生錯誤的缺陷檢測區(qū)域301相同的缺陷檢測區(qū)域301重新施加伺服，則再次發(fā)生 伺服偏離的可能性高。于是，在S804中，光信息再現(xiàn)裝置400’，在檢測出伺服偏離802的缺陷檢測區(qū)域 301或者與其鄰接的缺陷檢測區(qū)域301中登記有缺陷的情況下，進行重試定位變更806。具 體地講，光信息再現(xiàn)裝置400’，使在重試處理805中進行伺服引入的位置變化到在相同或 者鄰接的缺陷檢測區(qū)域301中沒有進行缺陷登記的位置。由此，光信息再現(xiàn)裝置400’能夠 在沒有缺陷的位置進行重試處理的概率提高。另一方面，在包含檢測出伺服偏離的位置的區(qū)域以及鄰接區(qū)域沒有登記在缺陷區(qū) 域信息1302中的情況下，光信息再現(xiàn)裝置400’進行重試處理(S805)。而且，在重試處理 后，再次轉移到S801進行再現(xiàn)處理。另外，在上述的實施例中，在S804中，在直至鄰接的缺陷檢測區(qū)域301的范圍內， 判定是否作為缺陷區(qū)域被登記，但是也可以在相同的缺陷檢測區(qū)域301的范圍內進行判定。此外，在本實施例的S805中，進行伺服引入的區(qū)域，如果在缺陷檢測區(qū)域301和與其鄰接的缺陷檢測區(qū)域301以外，還位于接近進行再現(xiàn)的地址的位置，則能夠抑制伺服引入的穩(wěn)定性、再現(xiàn)重試的速度的降低。這樣，光信息再現(xiàn)裝置400’將與包含缺陷的缺陷檢測區(qū)域301相同以及鄰接的缺 陷區(qū)域301作為缺陷區(qū)域檢測出來，并變更處理，其中，該缺陷區(qū)域是包含缺陷或者其可能 性高的區(qū)域。[實施例5]在實施例5中，表示在光信息記錄介質100沒有記錄缺陷區(qū)域信息1302的區(qū)域的 情況下的光信息記錄再現(xiàn)裝置400的動作例。首先，使用圖10，說明在沒有記錄缺陷檢測區(qū)域301的信息的區(qū)域的情況下的缺 陷位置的預測方法。例如，在光信息記錄介質100的第二記錄層104進行數(shù)據(jù)的讀出或者記錄時，光信 息記錄介質100的表面所帶的傷痕901由于記錄或者再現(xiàn)錯誤，在第二記錄層104中作為 記錄層的缺陷902被檢測出來。這里，光信息記錄再現(xiàn)裝置400，例如根據(jù)檢測出的缺陷的地址和區(qū)域定義信息 1200取得包含發(fā)現(xiàn)缺陷的位置的缺陷檢測區(qū)域301。然后，光信息記錄再現(xiàn)裝置400，當該 缺陷檢測區(qū)域301中存在缺陷時，在光信息記錄再現(xiàn)裝置400所具有的存儲器(未圖示) 中進行保存。其后，利用實施例2至4所示的記錄、再現(xiàn)的方法，即使在光信息記錄介質100中 沒有記錄缺陷區(qū)域信息1302的區(qū)域的情況下，也能夠推定其它層的缺陷位置。在光信息記 錄介質100的缺陷管理區(qū)域中已經(jīng)登記有缺陷的情況下，根據(jù)登記的缺陷的地址，計算相 當于哪個缺陷檢測區(qū)域301，當在該缺陷檢測區(qū)域301中存在缺陷時，在光信息記錄再現(xiàn)裝 置或者光信息記錄再現(xiàn)裝置的存儲器中進行保存，從而能夠與上述的發(fā)現(xiàn)缺陷的情況同樣 地推定多層的缺陷。由此，能夠實施在實施例2、實施例3和實施例4中記載的記錄再現(xiàn)方 法。該方法不需要將缺陷檢測區(qū)域301有無缺陷的信息記錄到光信息記錄介質100 中，因此能夠減少光信息記錄介質100的使用容量。此外，在使用本實施例的光信息記錄再 現(xiàn)裝置400的情況下，對于不具備記錄缺陷區(qū)域信息1302的區(qū)域的介質，也能夠進行對存 在缺陷的可能性高的區(qū)域的重試次數(shù)的變更等。此外，光信息記錄再現(xiàn)裝置400例如還可以采用下述結構利用信號處理裝置 403，從BCA、管理區(qū)域，對記錄介質是否具有登記缺陷檢測區(qū)域301的區(qū)域進行檢測。如上所述，依據(jù)各實施例的光信息記錄再現(xiàn)裝置400、光信息再現(xiàn)裝置400和光信 息記錄介質100，目的在于在具有多個記錄層的光信息記錄介質中，根據(jù)當前沒有進行記 錄的層的缺陷信息推定當前的層的缺陷位置，通過使重試次數(shù)、記錄速度變化，提高記錄速 度、提高數(shù)據(jù)記錄安全性。另外，本發(fā)明并不限于上述的實施例，包括各種變形例。此外，上述的實施例中，為 了易于了解地說明本發(fā)明而進行了詳細說明，但是并不限于具有所說明的全部結構。此外， 還能夠將某個實施例的結構的一部分置換成其它實施例的結構，此外，還能夠在某個實施 例的結構中添加其它實施例的結構。此外，對于各實施例的結構的一部分，能夠進行其它結 構的添加、削減、置換。
此外，上述的各結構中的一部分或者全部，可以由硬件構成，也可以構成為由處理 器執(zhí)行程序而實現(xiàn)。此外，表示的是認為在說明上必需的控制線、信息線，并不一定表示產(chǎn) 品上所有的控制線、信息線。實際上也可以認為幾乎所有的結構均相互連接。產(chǎn)業(yè)上的可利用性例如能夠適用于在使DVD、Blu-Ray Disc那樣的光信息記錄介質多層化的情況下， 維持記錄速度和處理的可靠性的數(shù)據(jù)記錄。
權利要求
一種光信息記錄再現(xiàn)裝置，其對具有第一層和第二層的光信息記錄介質進行信息的記錄或者再現(xiàn)，該光信息記錄再現(xiàn)裝置的特征在于，包括對所述光信息記錄介質照射激光的拾取器；使所述光信息記錄介質旋轉的電機；根據(jù)從所述拾取器讀出的信號進行缺陷檢測的缺陷檢測單元；和控制單元，其進行控制，使得在所述第一層中的信息記錄時檢測出所述缺陷的情況下，將與所述缺陷的檢測位置對應的第二層中的規(guī)定區(qū)域作為缺陷區(qū)域，進行所述信息的記錄。
2.根據(jù)權利要求1所述的光信息記錄再現(xiàn)裝置，其特征在于所述控制單元進行控制，使得從所述光信息記錄介質讀出表示所述缺陷區(qū)域的列表的 fn息ο
3.根據(jù)權利要求1或2所述的光信息記錄再現(xiàn)裝置，其特征在于所述規(guī)定區(qū)域的半徑方向的距離為所述第一層與所述第二層的接合誤差以上。
4.根據(jù)權利要求1所述的光信息記錄再現(xiàn)裝置，其特征在于所述控制單元進行控制，使得變更對所述缺陷區(qū)域的信息記錄失敗的情況下的重試動作。
5.根據(jù)權利要求1所述的光信息記錄再現(xiàn)裝置，其特征在于所述控制單元進行控制，使得變更對所述缺陷區(qū)域和與該缺陷區(qū)域鄰接的區(qū)域的信息 記錄失敗的情況下的重試動作。
6.根據(jù)權利要求4所述的光信息記錄再現(xiàn)裝置，其特征在于 所述重試動作的變更是指減少重試次數(shù)或者不進行重試。
7.根據(jù)權利要求4所述的光信息記錄再現(xiàn)裝置，其特征在于 所述重試動作的變更是指記錄速度和記錄方式的變更。
8.根據(jù)權利要求1所述的光信息記錄再現(xiàn)裝置，其特征在于所述控制單元進行控制，使得在所述缺陷區(qū)域進行記錄的情況下，變更記錄動作。
9.根據(jù)權利要求1所述的光信息記錄再現(xiàn)裝置，其特征在于所述控制單元進行控制，使得在所述缺陷區(qū)域或者與該缺陷區(qū)域鄰接的區(qū)域進行信息 記錄的情況下，變更記錄動作。
10.根據(jù)權利要求8所述的光信息記錄再現(xiàn)裝置，其特征在于所述控制單元通過降低記錄速度或者以寫后讀方式進行記錄，進行所述記錄動作的變更。
11.一種光信息再現(xiàn)裝置，其從具有第一層和第二層的光信息記錄介質進行信息的再 現(xiàn)，該光信息再現(xiàn)裝置的特征在于，包括對所述光信息記錄介質照射激光的拾取器； 使所述光信息記錄介質旋轉的電機；和控制單元，其進行控制，使得在登記有在所述第一層中在規(guī)定的地址中存在缺陷的情 況下，將與所述缺陷的登記位置對應的第二層中的規(guī)定區(qū)域作為缺陷區(qū)域，進行所述信息 的再現(xiàn)。
12.根據(jù)權利要求11所述的光信息再現(xiàn)裝置，其特征在于所述控制單元進行控制，使得從所述光信息記錄介質讀出表示所述缺陷區(qū)域的列表的 fn息ο
13.根據(jù)權利要求11或12所述的光信息再現(xiàn)裝置，其特征在于所述規(guī)定區(qū)域的半徑方向的距離為所述第一層與所述第二層的接合誤差以上。
14.根據(jù)權利要求11所述的光信息再現(xiàn)裝置，其特征在于所述控制單元在所述缺陷區(qū)域和與該缺陷區(qū)域鄰接的區(qū)域中，不進行聚焦伺服引入。
15.一種光信息記錄介質，其具有第一記錄層和第二記錄層，該光信息記錄介質的特征 在于對所述第一記錄層的記錄區(qū)域分配有地址， 對所述第二記錄層的記錄區(qū)域分配有地址，所述第二記錄層的記錄區(qū)域具有按照規(guī)定范圍的地址分割出的多個區(qū)域， 所述第一記錄層中的地址與所述第二記錄層中的區(qū)域相對應， 在所述第一記錄層中檢測出缺陷的情況下，將與在所述第一記錄層中檢測出缺陷的地 址相對應的區(qū)域登記為缺陷區(qū)域，所述缺陷區(qū)域的半徑方向的距離為所述第一記錄層與所述第二記錄層的接合誤差的 值以上。
16.根據(jù)權利要求15所述的光信息記錄介質，其特征在于在所述多個區(qū)域中，具有記錄表示哪個區(qū)域是缺陷區(qū)域的缺陷區(qū)域信息的區(qū)域。
全文摘要
本發(fā)明的目的是提供即使在具有多個層的光信息記錄介質中存在偏心的情況下，也能夠抑制記錄速度的降低的光信息記錄再現(xiàn)裝置等。光信息記錄再現(xiàn)裝置，將與第一層的檢測出缺陷的位置相對應的第二層中的規(guī)定區(qū)域作為缺陷區(qū)域而記錄信息。光信息記錄再現(xiàn)將與第一層的登記有缺陷的位置相對應的第二層中的規(guī)定區(qū)域作為缺陷區(qū)域而再現(xiàn)信息，優(yōu)選缺陷區(qū)域的半徑方向的距離比層間的接合誤差大。此外，光信息記錄介質將與第一層的缺陷位置相對應的第二層中的規(guī)定區(qū)域登記為缺陷區(qū)域。而且，缺陷區(qū)域的半徑方向的距離比層間的接合誤差大。
文檔編號G11B7/007GK101826362SQ20091020541
公開日2010年9月8日 申請日期2009年10月23日 優(yōu)先權日2009年3月2日
發(fā)明者緒方岳 申請人:日立民用電子株式會社