專利名稱：一種eeprom器件測(cè)試電路及其測(cè)試方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種EEPROM器件測(cè)試電路及其測(cè)試方法。
背景技術(shù)：
EEPROM存儲(chǔ)器在人們的生產(chǎn)、生活中具有廣泛的應(yīng)用和前景。隨著存儲(chǔ)器容量的 不斷提高、存儲(chǔ)器產(chǎn)品開發(fā)速度的不斷提升，快速、高效的產(chǎn)品測(cè)試能力逐漸成為整個(gè)產(chǎn)品 開發(fā)過(guò)程中至關(guān)重要的環(huán)節(jié)。存儲(chǔ)器產(chǎn)品開發(fā)中如何找到一種快速、低成本的測(cè)試方法，即 能滿足產(chǎn)品開發(fā)需要又可以靈活支持各種不同測(cè)試需求，以完成更復(fù)雜和更高批量的測(cè)試 是擺在存儲(chǔ)器產(chǎn)品開發(fā)者面前必須解決的重要問題。如圖1所示，傳統(tǒng)的EEPROM存儲(chǔ)器功能測(cè)試電路包括一控制器1’和連接在該控 制器1，的IO 口線上的η個(gè)被測(cè)器件2，，且控制器1，的每根IO 口線上最多可并聯(lián)8個(gè)被 測(cè)器件2’，即8個(gè)被測(cè)器件2’的IO 口共用一條數(shù)據(jù)線與控制器1’連接。然而因?yàn)榭刂破?1’驅(qū)動(dòng)能力的限制，不可能同時(shí)測(cè)試更多的被測(cè)器件2’ ；另外，因?yàn)楸粶y(cè)器件2’并不一定 具有片選地址線，因此，控制器1’將不能時(shí)時(shí)監(jiān)控每個(gè)被測(cè)器件2’的狀態(tài)。

發(fā)明內(nèi)容
為了解決上述現(xiàn)有技術(shù)存在的問題，本發(fā)明旨在提供一種EEPROM器件測(cè)試電路 及其測(cè)試方法，以有效提高測(cè)試效率、降低測(cè)試成本，實(shí)現(xiàn)每個(gè)被測(cè)器件的時(shí)時(shí)檢測(cè)，同時(shí) 使測(cè)試數(shù)據(jù)豐富直觀。本發(fā)明之一所述的一種EEPROM器件測(cè)試電路，它包括一主控制單元、若干個(gè)與所 述主控制單元連接的從控制單元和若干個(gè)分別與每個(gè)從控制單元連接的被測(cè)單元，所述主控制單元通過(guò)串行通訊方式一方面向所述從控制單元輸出一啟動(dòng)信號(hào)，另 一方面接收并顯示從所述從控制單元輸出的數(shù)據(jù)信息，并存儲(chǔ)相應(yīng)的統(tǒng)計(jì)信息；所述從控制單元根據(jù)所述主控制單元輸出的啟動(dòng)信號(hào)，一方面向該主控制單元輸 出一識(shí)別字符，另一方面接收被測(cè)單元輸出的狀態(tài)信號(hào)，并存儲(chǔ)相應(yīng)的數(shù)據(jù)信息；所述被測(cè)單元通過(guò)并行通訊方式與所述從控制單元連接。在上述的EEPROM器件測(cè)試電路中，所述從控制單元的個(gè)數(shù)不大于128個(gè)，與每個(gè) 控制單元連接的被測(cè)單元的個(gè)數(shù)不大于16個(gè)。本發(fā)明之二所述的一種上述EEPROM器件測(cè)試電路的測(cè)試方法，包括下列步驟，步驟一，主控制單元向從控制單元發(fā)送啟動(dòng)命令；步驟二，從控制單元接收到步驟一中所述的啟動(dòng)命令后，向主控制單元返回一識(shí) 別字符并啟動(dòng)對(duì)被測(cè)單元的測(cè)試，實(shí)時(shí)檢測(cè)被測(cè)單元的狀態(tài)；步驟三，若步驟二中所述的任一被測(cè)單元出現(xiàn)故障，則與該被測(cè)單元連接的從控 制單元存儲(chǔ)該被測(cè)單元的數(shù)據(jù)信息，該信息包括故障原因、故障時(shí)間和故障器件標(biāo)識(shí)號(hào)；若 被測(cè)單元未出現(xiàn)故障，則返回步驟二 ；步驟四，主控制單元根據(jù)預(yù)設(shè)的從控制單元的編號(hào)，采用輪詢方式選中指定的從控制單元；步驟五，當(dāng)步驟四中所述的從控制單元中存儲(chǔ)有步驟三中所述的數(shù)據(jù)信息時(shí)，主 控制單元命令該從控制單元返回?cái)?shù)據(jù)信息；步驟六，當(dāng)主控制單元接收到步驟五中所述的數(shù)據(jù)信息后，顯示該數(shù)據(jù)信息并存 儲(chǔ)相應(yīng)的統(tǒng)計(jì)信息。由于采用了上述的技術(shù)解決方案，本發(fā)明的測(cè)試電路和測(cè)試方法均通過(guò)采用并行 實(shí)時(shí)測(cè)試、串行輪詢檢測(cè)的工作原理，實(shí)現(xiàn)了批量器件的測(cè)試，且最大器件測(cè)試數(shù)量可以達(dá) 到128*16顆，并做到了實(shí)時(shí)監(jiān)控，在高低溫測(cè)試、壽命測(cè)試等質(zhì)量測(cè)試中可以及時(shí)確認(rèn)故 障器件問題發(fā)生的狀態(tài)、時(shí)間、階段，這對(duì)于分析產(chǎn)品良率，保證產(chǎn)品質(zhì)量具有重要意義。


圖1是傳統(tǒng)的EEPROM存儲(chǔ)器功能測(cè)試電路的結(jié)構(gòu)框圖；圖2是本發(fā)明的一種EEPROM器件測(cè)試電路的結(jié)構(gòu)框圖。
具體實(shí)施例方式下面結(jié)合附圖，對(duì)本發(fā)明的實(shí)施例進(jìn)行詳細(xì)說(shuō)明。如圖2所示，本發(fā)明的一種EEPROM器件測(cè)試電路，包括一主控制單元1、若干個(gè)與 主控制單元1連接的從控制單元2和若干個(gè)分別與每個(gè)從控制單元2連接的被測(cè)單元3，其 中，主控制單元1通過(guò)串行通訊方式一方面向從控制單元2輸出一啟動(dòng)信號(hào)，另一方 面接收并顯示從從控制單元2輸出的數(shù)據(jù)信息，并存儲(chǔ)相應(yīng)的統(tǒng)計(jì)信息；從控制單元2根據(jù)主控制單元1輸出的啟動(dòng)信號(hào)，一方面向該主控制單元1輸出 一識(shí)別字符，另一方面接收被測(cè)單元3輸出的狀態(tài)信號(hào)，并存儲(chǔ)相應(yīng)的數(shù)據(jù)信息；被測(cè)單元3通過(guò)并行通訊方式，即控制線共用、IO 口獨(dú)立的方式與從控制單元2連 接；這樣能在保證從控制單元2時(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)每一個(gè)被測(cè)單元3的同時(shí)，最大化被測(cè)單元3的數(shù) 量；以從控制單元2采用80C52型芯片為例，則每個(gè)從控制單元2可以測(cè)試16個(gè)8引腳的 EEPROM器件，即與每個(gè)控制單元2連接的被測(cè)單元3的個(gè)數(shù)不大于16個(gè)。本發(fā)明中在主控制單元1與從控制單元2之間采用的串行通訊方式可以使主控制 單元1實(shí)現(xiàn)最多與1 個(gè)從控制單元2的通訊，即本發(fā)明中從控制單元2的個(gè)數(shù)不大于1 個(gè)；因此，由此可見，本發(fā)明的測(cè)試電路所能測(cè)試的器件數(shù)量最大可以達(dá)到128*16顆。基于上述測(cè)試電路，其對(duì)應(yīng)的測(cè)試方法包括下列步驟，步驟一，主控制單元1向從控制單元2發(fā)送啟動(dòng)命令；步驟二，從控制單元2接收到步驟一中所述的啟動(dòng)命令后，向主控制單元1返回一 識(shí)別字符并啟動(dòng)對(duì)被測(cè)單元3的測(cè)試，實(shí)時(shí)檢測(cè)被測(cè)單元3的狀態(tài)；步驟三，若步驟二中所述的任一被測(cè)單元3出現(xiàn)故障，則與該被測(cè)單元3連接的從 控制單元2存儲(chǔ)該被測(cè)單元3的數(shù)據(jù)信息，該信息包括故障原因、故障時(shí)間和故障器件標(biāo)識(shí) 號(hào)；若被測(cè)單元3未出現(xiàn)故障，則返回步驟二 ；步驟四，主控制單元1根據(jù)預(yù)設(shè)的從控制單元2的編號(hào)，采用輪詢方式選中指定的 從控制單元2 ；
步驟五，當(dāng)步驟四中所述的從控制單元2中存儲(chǔ)有步驟三中所述的數(shù)據(jù)信息時(shí)， 主控制單元1命令該從控制單元2返回?cái)?shù)據(jù)信息；步驟六，當(dāng)主控制單元1接收到步驟五中所述的數(shù)據(jù)信息后，顯示該數(shù)據(jù)信息并 存儲(chǔ)相應(yīng)的統(tǒng)計(jì)信息，以提醒測(cè)試人員。綜上所述，本發(fā)明實(shí)現(xiàn)了批量器件的測(cè)試，且最大器件測(cè)試數(shù)量可以達(dá)到128*16 顆，并做到了實(shí)時(shí)監(jiān)控，在高低溫測(cè)試、壽命測(cè)試等質(zhì)量測(cè)試中可以及時(shí)確認(rèn)故障器件問題 發(fā)生的狀態(tài)、時(shí)間、階段，這對(duì)于分析產(chǎn)品良率，保證產(chǎn)品質(zhì)量具有重要意義。以上結(jié)合附圖實(shí)施例對(duì)本發(fā)明進(jìn)行了詳細(xì)說(shuō)明，本領(lǐng)域中普通技術(shù)人員可根據(jù)上 述說(shuō)明對(duì)本發(fā)明做出種種變化例。因而，實(shí)施例中的某些細(xì)節(jié)不應(yīng)構(gòu)成對(duì)本發(fā)明的限定，本 發(fā)明將以所附權(quán)利要求書界定的范圍作為本發(fā)明的保護(hù)范圍。
權(quán)利要求
1.一種EEPROM器件測(cè)試電路，其特征在于，所述測(cè)試電路包括一主控制單元、若干個(gè) 與所述主控制單元連接的從控制單元和若干個(gè)分別與每個(gè)從控制單元連接的被測(cè)單元，所述主控制單元通過(guò)串行通訊方式一方面向所述從控制單元輸出一啟動(dòng)信號(hào)，另一方 面接收并顯示從所述從控制單元輸出的數(shù)據(jù)信息，并存儲(chǔ)相應(yīng)的統(tǒng)計(jì)信息；所述從控制單元根據(jù)所述主控制單元輸出的啟動(dòng)信號(hào)，一方面向該主控制單元輸出一 識(shí)別字符，另一方面接收被測(cè)單元輸出的狀態(tài)信號(hào)，并存儲(chǔ)相應(yīng)的數(shù)據(jù)信息；所述被測(cè)單元通過(guò)并行通訊方式與所述從控制單元連接。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的EEPROM器件測(cè)試電路，其特征在于，所述從控制單元的個(gè)數(shù) 不大于1 個(gè)，與每個(gè)控制單元連接的被測(cè)單元的個(gè)數(shù)不大于16個(gè)。
3.一種基于權(quán)利要求1的EEPROM器件測(cè)試電路的測(cè)試方法，其特征在于，所述的測(cè)試 方法包括下列步驟，步驟一，主控制單元向從控制單元發(fā)送啟動(dòng)命令；步驟二，從控制單元接收到步驟一中所述的啟動(dòng)命令后，向主控制單元返回一識(shí)別字 符并啟動(dòng)對(duì)被測(cè)單元的測(cè)試，實(shí)時(shí)檢測(cè)被測(cè)單元的狀態(tài)；步驟三，若步驟二中所述的任一被測(cè)單元出現(xiàn)故障，則與該被測(cè)單元連接的從控制單 元存儲(chǔ)該被測(cè)單元的數(shù)據(jù)信息，該信息包括故障原因、故障時(shí)間和故障器件標(biāo)識(shí)號(hào)；若被測(cè) 單元未出現(xiàn)故障，則返回步驟二 ；步驟四，主控制單元根據(jù)預(yù)設(shè)的從控制單元的編號(hào)，采用輪詢方式選中指定的從控制 單元；步驟五，當(dāng)步驟四中所述的從控制單元中存儲(chǔ)有步驟三中所述的數(shù)據(jù)信息時(shí)，主控制 單元命令該從控制單元返回?cái)?shù)據(jù)信息；步驟六，當(dāng)主控制單元接收到步驟五中所述的數(shù)據(jù)信息后，顯示該數(shù)據(jù)信息并存儲(chǔ)相 應(yīng)的統(tǒng)計(jì)信息。
全文摘要
本發(fā)明涉及一種EEPROM器件測(cè)試電路及其測(cè)試方法，所述測(cè)試電路包括一主控制單元、若干個(gè)與所述主控制單元連接的從控制單元和若干個(gè)分別與每個(gè)從控制單元連接的被測(cè)單元，所述主控制單元通過(guò)串行通訊方式一方面向所述從控制單元輸出一啟動(dòng)信號(hào)，另一方面接收并顯示從所述從控制單元輸出的數(shù)據(jù)信息，并存儲(chǔ)相應(yīng)的統(tǒng)計(jì)信息；所述從控制單元根據(jù)所述主控制單元輸出的啟動(dòng)信號(hào)，一方面向該主控制單元輸出一識(shí)別字符，另一方面接收被測(cè)單元輸出的狀態(tài)信號(hào)，并存儲(chǔ)相應(yīng)的數(shù)據(jù)信息。本發(fā)明實(shí)現(xiàn)了批量器件的測(cè)試，并做到了實(shí)時(shí)監(jiān)控，這對(duì)于分析產(chǎn)品良率，保證產(chǎn)品質(zhì)量具有重要意義。
文檔編號(hào)G11C29/56GK102081973SQ20091019959
公開日2011年6月1日 申請(qǐng)日期2009年11月27日 優(yōu)先權(quán)日2009年11月27日
發(fā)明者劉新東 申請(qǐng)人:上海貝嶺股份有限公司