技術(shù)編號(hào)：6780253
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒(méi)有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁(yè)查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及一種EEPROM器件測(cè)試電路及其測(cè)試方法。 背景技術(shù)EEPROM存儲(chǔ)器在人們的生產(chǎn)、生活中具有廣泛的應(yīng)用和前景。隨著存儲(chǔ)器容量的 不斷提高、存儲(chǔ)器產(chǎn)品開發(fā)速度的不斷提升，快速、高效的產(chǎn)品測(cè)試能力逐漸成為整個(gè)產(chǎn)品 開發(fā)過(guò)程中至關(guān)重要的環(huán)節(jié)。存儲(chǔ)器產(chǎn)品開發(fā)中如何找到一種快速、低成本的測(cè)試方法，即 能滿足產(chǎn)品開發(fā)需要又可以靈活支持各種不同測(cè)試需求，以完成更復(fù)雜和更高批量的測(cè)試 是擺在存儲(chǔ)器產(chǎn)品開發(fā)者面前必須解決的重要問(wèn)題。如圖1所示，傳統(tǒng)的EEPROM...
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