專(zhuān)利名稱：：固態(tài)儲(chǔ)存媒體可靠度的測(cè)試方法
技術(shù)領(lǐng)域：
：本發(fā)明涉及一種測(cè)試方法，特別是涉及一種儲(chǔ)存裝置的測(cè)試方法。
背景技術(shù)：
：固態(tài)硬盤(pán)，例如由閃存構(gòu)成，其產(chǎn)業(yè)市場(chǎng)正處于起飛階段。閃存為一種非易失性可編程可擦除的存儲(chǔ)儲(chǔ)存裝置。但是，閃存的生命周期受限于擦除次數(shù)的限制。因此，使用閃存構(gòu)成的固態(tài)硬盤(pán)時(shí)，其系統(tǒng)的可靠度便顯得十分重要。但是，可靠度的驗(yàn)證又需要依靠固態(tài)硬盤(pán)的使用者(client)端的測(cè)試工具來(lái)進(jìn)行測(cè)試。目前固態(tài)硬盤(pán)的可靠度測(cè)試并沒(méi)有標(biāo)準(zhǔn)方法，而各廠商所使用的方法又無(wú)法全面性地測(cè)試出固態(tài)硬盤(pán)的可靠度。目前固態(tài)硬盤(pán)測(cè)試的技術(shù)中，例如利用擦除字節(jié)與寫(xiě)入字節(jié)的比值(erasebytes/writebytesratio)，以表示耗損平均(wearleveling)的負(fù)擔(dān)(overhead)，或者使用快取與熱數(shù)據(jù)(hotdata)時(shí)節(jié)省擦除的比例等。另外，判斷擦除數(shù)(erasecount)，亦即計(jì)算固態(tài)硬盤(pán)的擦除次數(shù)，也可做為可靠度的判斷依據(jù)。另外，擦除數(shù)標(biāo)準(zhǔn)差與平均值的應(yīng)用也是其中一種測(cè)試方法，其可以表示耗損平均的水平，亦即整體擦除數(shù)與發(fā)散程度。此外，目前的測(cè)試方式大部分是以整個(gè)儲(chǔ)存媒體為單位，因此其測(cè)試報(bào)告的解析度不高。若是能以區(qū)塊為單位，則測(cè)試結(jié)果則更能具有可信賴性。另外，現(xiàn)有技術(shù)大部分僅以擦除數(shù)為基準(zhǔn)，并未考慮其他因素，故難免會(huì)使測(cè)試結(jié)果產(chǎn)生誤差。
發(fā)明內(nèi)容基于上述問(wèn)題，本發(fā)明提出一種固態(tài)儲(chǔ)存媒體的測(cè)試方法，以提高測(cè)試的可靠性與實(shí)用性。因此，依據(jù)本發(fā)明一實(shí)施范例，提出一種固態(tài)儲(chǔ)存媒體可靠度的測(cè)試方法，固態(tài)儲(chǔ)存媒體包含多個(gè)區(qū)塊。首先，取得固態(tài)儲(chǔ)存媒體的各區(qū)塊的生命周期。測(cè)試上述區(qū)塊的擦除數(shù)，并且判斷該區(qū)塊的擦除數(shù)是否大于一預(yù)定擦除數(shù)。將上述各區(qū)塊中，擦除數(shù)大于預(yù)定擦除數(shù)的區(qū)塊數(shù)加以累加，以產(chǎn)生問(wèn)題區(qū)塊數(shù)，并輸出測(cè)試報(bào)告。另外，本發(fā)明還提出一種固態(tài)儲(chǔ)存媒體可靠度的測(cè)試方法，固態(tài)儲(chǔ)存媒體包含多個(gè)區(qū)塊。首先，決定測(cè)試流程。通過(guò)一接口命令，由固態(tài)儲(chǔ)存媒體向主機(jī)傳送測(cè)試項(xiàng)目的數(shù)據(jù)。比較測(cè)試項(xiàng)目在測(cè)試前后的差異值，以輸出一測(cè)試報(bào)告。測(cè)試項(xiàng)目可為各區(qū)塊的擦除數(shù)、錯(cuò)誤更正碼耐度值與無(wú)效頁(yè)等。綜上所述，本實(shí)施范例可以通過(guò)主機(jī)系統(tǒng)與固態(tài)儲(chǔ)存媒體之間的接口命令，主動(dòng)地從固態(tài)儲(chǔ)存媒體取得各種測(cè)試項(xiàng)目的數(shù)據(jù)，以作成測(cè)試報(bào)告。各測(cè)試項(xiàng)目是以區(qū)塊為單位，所以更能有效地顯示出該固態(tài)儲(chǔ)存媒體的測(cè)試報(bào)告的實(shí)用性與信賴性。為使本發(fā)明的上述特征和優(yōu)點(diǎn)能更明顯易懂，下文特舉實(shí)施例，并結(jié)合附圖詳細(xì)說(shuō)明如下。圖1A繪示本實(shí)施范例的基本流程示意圖，圖IB為其應(yīng)用的系統(tǒng)架構(gòu)示意圖。圖2繪示本實(shí)施范例的一種測(cè)試方法的流程示意圖。圖3繪示本實(shí)施范例的另一種測(cè)試方法的流程示意圖。圖4繪示本實(shí)施范例的另一種測(cè)試方法的流程示意圖。圖5繪示包含ECC單元的數(shù)據(jù)區(qū)塊的架構(gòu)示意圖。圖6繪示本實(shí)施例的耐度區(qū)塊的架構(gòu)示意圖。圖7繪示本實(shí)施例的存儲(chǔ)器中的儲(chǔ)存區(qū)域的示意圖。圖8繪示本實(shí)施例的管理區(qū)域中的耐度記錄表示意圖。附圖符號(hào)說(shuō)明10:計(jì)算機(jī)(系統(tǒng)端)12:固態(tài)儲(chǔ)存媒體14:接口20:數(shù)據(jù)區(qū)塊22:ECC數(shù)據(jù)單元30:耐度區(qū)塊40:儲(chǔ)存區(qū)域42:管理區(qū)域(映射表)44:使用數(shù)據(jù)區(qū)域46:備份區(qū)域48:缺陷區(qū)域具體實(shí)施例方式本實(shí)施范例在進(jìn)行測(cè)試時(shí)，測(cè)試的目標(biāo)為得到測(cè)試報(bào)告(testr印ort)，測(cè)試報(bào)告是利用市場(chǎng)上及工業(yè)上常使用的技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)語(yǔ)言，例如失效間平均時(shí)間(meantimebetweenfailures,MTBF)、長(zhǎng)其月數(shù)據(jù)而f度值(longtermdataedurance，U)E)等。圖1A繪示本實(shí)施范例的基本流程示意圖，圖1B為其應(yīng)用的系統(tǒng)架構(gòu)示意圖。首先，在步驟S10，測(cè)試工具會(huì)選定各種測(cè)試流程(或測(cè)試圖案)，以對(duì)儲(chǔ)存媒體進(jìn)行測(cè)試。在本范例中，將以由閃存夠成的固態(tài)硬盤(pán)做為說(shuō)明例。例如，由圖IB所示，使用者由計(jì)算機(jī)(系統(tǒng)端)10經(jīng)由接口14送出各種測(cè)試流程給固態(tài)硬盤(pán)12。此接口例如是ATA、SATA等任何可以運(yùn)用的接口規(guī)格。固態(tài)硬盤(pán)12在本實(shí)施范例中是由閃存所構(gòu)成，而閃存可以包含多個(gè)區(qū)±央(BL0BLn)16。接著，在步驟S12，通過(guò)接口12，在進(jìn)行測(cè)試前，取得固態(tài)硬盤(pán)對(duì)應(yīng)于要進(jìn)行測(cè)試項(xiàng)目的測(cè)試前的數(shù)據(jù)數(shù)據(jù)值。此步驟亦可以在選定側(cè)視圖案之前進(jìn)行。接著，在步驟S14，利用步驟S10所選定的測(cè)試流程(圖案)對(duì)固態(tài)硬盤(pán)12進(jìn)行讀寫(xiě)操作等。接著，于步驟S16，在測(cè)試一段時(shí)間之后，經(jīng)由自定的接口命令，讀取出所需要的測(cè)試項(xiàng)目，即本實(shí)施范例的各種方法所測(cè)試出的數(shù)據(jù)值。接著，在步驟S18，將測(cè)試前后的數(shù)據(jù)進(jìn)行比較，取得差異值。最后，在步驟S20，如果有需要，將測(cè)試結(jié)果經(jīng)由公式運(yùn)算成測(cè)試報(bào)上述步驟S10所提到的測(cè)試流程(測(cè)試圖案)可以由如以下幾種類(lèi)型來(lái)進(jìn)行。首先，例如利用實(shí)際使用的操作或讀寫(xiě)模擬操作，其可以根據(jù)不同的作業(yè)環(huán)境(如Windows、Unix/Li皿x、Mac等)、使用者特性與平臺(tái)(如筆記型計(jì)算機(jī)、PC、伺服器等)差異、應(yīng)用的差異(如數(shù)據(jù)庫(kù)、監(jiān)控系統(tǒng)等)，做出不同的測(cè)試流程。其次，測(cè)試流程也可以特殊圖案進(jìn)行測(cè)試。此方式是針對(duì)各種較可能使固態(tài)硬盤(pán)降低效能的操作進(jìn)行攻擊性的測(cè)試，例如利用大量小文檔的寫(xiě)入、在盤(pán)機(jī)容量快滿的時(shí)候進(jìn)行寫(xiě)入操作、或者循序/隨機(jī)地讀寫(xiě)等。此外，也可以利用針對(duì)各種固態(tài)硬盤(pán)技術(shù)所造成的副效應(yīng)，進(jìn)行攻擊測(cè)試，例如針對(duì)多通道架構(gòu)做大量小文檔以及小量大文檔混雜寫(xiě)入等。另外，測(cè)試項(xiàng)目也可以是壓力(stress)測(cè)試，亦即利用長(zhǎng)時(shí)間大量讀寫(xiě)的方式來(lái)進(jìn)行測(cè)試。以上僅列舉出數(shù)種可行的方案，其他方式在不失本實(shí)施范例的范疇下，也可以加以應(yīng)用，在此不一一列舉。本實(shí)施范例重點(diǎn)在于測(cè)試所使用的方法，以下將針對(duì)本實(shí)施范例的測(cè)試方法做進(jìn)一步的說(shuō)明。在測(cè)試方法中，例如可以針對(duì)如固態(tài)硬盤(pán)中的閃存的區(qū)塊擦除數(shù)、測(cè)試錯(cuò)誤、隱含錯(cuò)誤、ECC耐度值、全無(wú)效頁(yè)數(shù)等等的方式來(lái)進(jìn)行。以下即針對(duì)各種方法做說(shuō)明。圖2繪示本實(shí)施范例的一種測(cè)試方法的流程示意圖。圖2所采用的測(cè)試項(xiàng)目是計(jì)算固態(tài)儲(chǔ)存媒體中各閃存中的所述區(qū)塊的擦除數(shù)與固態(tài)儲(chǔ)存媒體的整體區(qū)塊數(shù)的比例，來(lái)評(píng)估該固態(tài)儲(chǔ)存媒體的狀態(tài)。如圖2與1B所示，首先在步驟S100，系統(tǒng)通過(guò)接口(如ATA接口等)，取得固態(tài)儲(chǔ)存媒體的閃存的區(qū)塊生命周期，并且設(shè)定一個(gè)固定的百分比，例如90%。區(qū)塊生命周期例如是可執(zhí)行擦除的總數(shù)，而上述固定百分比即表示該區(qū)塊是否已經(jīng)被擦除到一預(yù)定擦除數(shù)以上。當(dāng)超過(guò)該擦除數(shù)(及固定百分比)，該區(qū)塊在可靠度上將會(huì)變得極低，而系統(tǒng)也會(huì)避免將數(shù)據(jù)寫(xiě)入該區(qū)塊。之后在步驟S102，測(cè)試該區(qū)塊的擦除數(shù)，亦即取得該區(qū)塊已經(jīng)進(jìn)行擦除的次數(shù)。接著在步驟S104，判斷該擦除次數(shù)是否大于對(duì)應(yīng)該固定百分比的預(yù)訂擦除數(shù)。若未達(dá)到該預(yù)定擦除數(shù)，則表示該區(qū)塊的可靠度高。此時(shí)，便經(jīng)由步驟S112，進(jìn)行下一個(gè)區(qū)塊的測(cè)試。反之，若該擦除次數(shù)大于對(duì)應(yīng)該固定百分比的預(yù)訂擦除數(shù)，則表示該區(qū)塊已經(jīng)讀寫(xiě)到可靠度低的狀態(tài)，此時(shí)便將該區(qū)塊加入問(wèn)題區(qū)塊數(shù)的累加數(shù)(步驟S106)。之后，在步驟S108，判斷是否所有區(qū)塊都測(cè)試完畢。如果尚未測(cè)試完畢，則經(jīng)由步驟S112再進(jìn)行下一個(gè)區(qū)塊的測(cè)試；若所有區(qū)塊均測(cè)試完畢，則執(zhí)行步驟S110，計(jì)算出問(wèn)題區(qū)塊數(shù)與整個(gè)總區(qū)塊數(shù)的比例。之后可將此比例作為測(cè)試結(jié)果輸出，使用者便可以知道該固態(tài)儲(chǔ)存媒體的目前可靠度為何。在上述范例中，是假設(shè)每個(gè)區(qū)塊的生命周期都可能不同的極端其況，所以步驟S112會(huì)回到步驟SIOO，以重新取得各區(qū)塊的區(qū)塊生命周期。假如存儲(chǔ)器工藝條件控制得很好，各區(qū)塊的生命周期應(yīng)該可達(dá)到幾乎相同的狀況，此時(shí)步驟S112則可以直接到步驟S102，即區(qū)塊生命周期的取得只要執(zhí)行一次即可。另外，關(guān)于區(qū)塊生命周期的取得，可以通過(guò)自訂的盤(pán)機(jī)命令(本例為ATA命令)，使盤(pán)機(jī)自動(dòng)回報(bào)存儲(chǔ)器的生命周期，或者是也可以通過(guò)使用者輸入的方式來(lái)進(jìn)行。另外，關(guān)于區(qū)塊擦除數(shù)大于預(yù)訂擦除數(shù)(固定百分比的數(shù)目)也可通過(guò)接口命令來(lái)取得。經(jīng)由圖2的測(cè)試方法，可以更正確地取得每個(gè)區(qū)塊的受命指數(shù)。比起現(xiàn)有的僅測(cè)試整體的擦除數(shù)要來(lái)得更為精準(zhǔn)，且更具以可信度。圖3繪示本實(shí)施范例的一種測(cè)試方法的流程示意圖。圖3所示的方法主要是利用錯(cuò)誤更正碼(errorcorrectioncode，ECC)的測(cè)試來(lái)做為固態(tài)儲(chǔ)存媒體的可靠度測(cè)試。圖3所示的測(cè)試方法主要是取的存儲(chǔ)器各區(qū)塊的ECC耐度值(endurance)來(lái)進(jìn)行測(cè)試的方式，關(guān)于ECC耐度值會(huì)在下文做詳細(xì)解釋?；旧?，ECC耐度值是表示存儲(chǔ)器區(qū)塊可能發(fā)生錯(cuò)誤的隱含錯(cuò)誤機(jī)率。經(jīng)由隱含錯(cuò)誤區(qū)塊的輔助測(cè)試項(xiàng)目，可以讓測(cè)試報(bào)告的可靠度更為提高，也更具實(shí)益。如圖3所示，在步驟S200，系統(tǒng)經(jīng)由接口命令，取得各區(qū)塊的ECC耐度值錯(cuò)誤總數(shù)。接著，在步驟S202，取得隱含錯(cuò)誤的數(shù)目，即ECC耐度值得變化。之后，在步驟S204，判斷是否所有的區(qū)塊均測(cè)試完畢，若尚未測(cè)試完畢，則經(jīng)由步驟S210，繼續(xù)下一個(gè)區(qū)塊的ECC耐度值測(cè)試。反之，若所有區(qū)塊均測(cè)試完畢，則在步驟S206，計(jì)算隱含錯(cuò)誤的總數(shù)。另外，圖3所示的方法也可以配合圖1所示的方法，即配合擦除數(shù)，而能夠更精準(zhǔn)地判斷每個(gè)區(qū)塊的壽命指數(shù)。圖4繪示本實(shí)施范例的一種測(cè)試方法的流程示意圖。圖3所示的方法主要是利用無(wú)效頁(yè)數(shù)做為測(cè)試項(xiàng)目，此方式可以避免垃圾回收(garbagecollection,—種存儲(chǔ)器管理方式)先做與后做時(shí)所產(chǎn)生的擦除數(shù)的差異。無(wú)效頁(yè)的存在會(huì)影響到固態(tài)儲(chǔ)存媒體的可靠度，因此在計(jì)算擦除數(shù)時(shí)，也必須將其計(jì)算在內(nèi)，以提高測(cè)試結(jié)果的可靠性。例如，假如一個(gè)區(qū)塊的無(wú)效頁(yè)數(shù)多了256頁(yè)，而一區(qū)塊是包含128頁(yè)，所以擦除總數(shù)便必須要加入256/128，即2。如圖4所示，在步驟S300，經(jīng)由接口命令取得區(qū)塊的無(wú)效頁(yè)數(shù)，并計(jì)算出對(duì)應(yīng)的擦除數(shù)。接著，在步驟S302，取得擦除數(shù)超過(guò)預(yù)定擦除數(shù)的區(qū)塊(例如圖2所示測(cè)試流程)。在步驟S304，判斷是否所有區(qū)塊均做完測(cè)試，若否，則經(jīng)由步驟S310，進(jìn)行下一個(gè)區(qū)塊的測(cè)試流程。反之，當(dāng)所有區(qū)塊均做完測(cè)試，則執(zhí)行步驟S306，即計(jì)算問(wèn)題區(qū)塊數(shù)。此問(wèn)題區(qū)塊數(shù)除了依據(jù)圖2所示流程所計(jì)算出的區(qū)塊數(shù)外，更加上因無(wú)效頁(yè)產(chǎn)生的對(duì)應(yīng)的區(qū)塊數(shù)。加上無(wú)效頁(yè)的考慮后，可以讓固態(tài)儲(chǔ)存媒體的可靠度測(cè)試更為精確且有實(shí)益。以上圖2至圖4所示的流程，在進(jìn)行測(cè)試時(shí)可以一并執(zhí)行，或在擦除數(shù)的基礎(chǔ)上加上ECC耐度值或無(wú)效頁(yè)的測(cè)試。另外，此三種測(cè)試方式可以利用自定盤(pán)機(jī)(固態(tài)儲(chǔ)存媒體)的接口命令，使盤(pán)機(jī)回報(bào)閃存的生命周期、大于某一固定百分比的擦除數(shù)的區(qū)塊數(shù)、區(qū)塊總數(shù)、擦除數(shù)的最大值等。接著，對(duì)上述實(shí)施范例所提到的ECC耐度值做說(shuō)明。圖5繪示包含ECC單元的數(shù)據(jù)區(qū)決的結(jié)構(gòu)示意圖。以下的實(shí)施例將以閃存做為說(shuō)明例。在閃存中，以圖5的數(shù)據(jù)區(qū)塊20做為最小的讀寫(xiě)單位。數(shù)據(jù)區(qū)塊20—般可包含一個(gè)或多個(gè)ECC數(shù)據(jù)區(qū)塊22。做為最小讀寫(xiě)單位的數(shù)據(jù)區(qū)塊20的大小例如可以是512B或2KB等，其可以具設(shè)計(jì)需求做適當(dāng)?shù)恼{(diào)整。而各ECC數(shù)據(jù)區(qū)塊22則包含可修正位數(shù)的數(shù)據(jù)，例如16位。藉由ECC數(shù)據(jù)區(qū)塊22可以對(duì)讀取或?qū)懭氲臄?shù)據(jù)進(jìn)行錯(cuò)誤更正的處理程序。每個(gè)ECC數(shù)據(jù)區(qū)塊具有它可以檢查出的錯(cuò)誤位數(shù)及其可以更正的錯(cuò)誤位數(shù)。另外，每個(gè)數(shù)據(jù)區(qū)塊20也有其可以檢查出的錯(cuò)誤位數(shù)及其可以更正的錯(cuò)誤位數(shù)，亦即其內(nèi)所有ECC數(shù)據(jù)區(qū)塊22中可檢查出的錯(cuò)誤位數(shù)的總和及其可以更正的錯(cuò)誤位數(shù)的總和。圖6繪示本實(shí)施例的耐度區(qū)塊的架構(gòu)示意圖。如圖6所示，根據(jù)本實(shí)施例，閃存中的耐度區(qū)塊(enduranceblock)30可以包含整數(shù)個(gè)圖5所示的數(shù)據(jù)區(qū)塊20。在閃存中，在記錄與計(jì)算閃存的損壞程度時(shí)，以耐度區(qū)塊為單位。根據(jù)本實(shí)施例，將儲(chǔ)存在閃存中的數(shù)據(jù)或文檔進(jìn)行重要性的分類(lèi)，而將耐度區(qū)塊30賦予不同的參數(shù)耐度值Endu，亦即對(duì)存儲(chǔ)器的儲(chǔ)存區(qū)域的損壞程度附上一個(gè)參考標(biāo)簽，使系統(tǒng)可以預(yù)測(cè)該區(qū)塊的耐用程度。例如，可以依據(jù)即將錯(cuò)誤的程度給予Endu值為0、1、2、3等。Endu數(shù)值越小，表示該儲(chǔ)存區(qū)域的可靠度越高，越適合儲(chǔ)存重要性高的文檔或數(shù)據(jù)。通過(guò)這種方式，可以預(yù)估存儲(chǔ)器中的儲(chǔ)存區(qū)域的可靠度高低，而將重要性高的數(shù)據(jù)或文檔儲(chǔ)存到錯(cuò)誤機(jī)率低的儲(chǔ)存區(qū)域中。下面詳細(xì)說(shuō)明判斷方式。上述的重要性分類(lèi)是可以讓系統(tǒng)本身依據(jù)文檔或數(shù)據(jù)本身的屬性、副文檔名等等來(lái)進(jìn)行區(qū)分分類(lèi)，或者是也可以讓使用者自己來(lái)做定義與分類(lèi)。經(jīng)過(guò)分類(lèi)分層后，Endu的區(qū)塊便可依重要性，對(duì)應(yīng)到不同層重要性的文檔。以系統(tǒng)自行定義為例，可以將系統(tǒng)文檔和隱藏文檔等與系統(tǒng)操作高度相關(guān)的文檔與數(shù)據(jù)儲(chǔ)存在如Endu=0的區(qū)域，數(shù)據(jù)文檔可存放在Endu=1的區(qū)域，影音文檔可存放在Endu=2的區(qū)域，而備份文檔或數(shù)據(jù)則存放在Endu=1的區(qū)域。另外，若是使用者本身自己定義的話，可以將重要的數(shù)據(jù)或影音文檔等存放在Endu=0的區(qū)域。一般數(shù)據(jù)與影音文檔可以存放在例如Endu=1的區(qū)域，而不重要的數(shù)據(jù)或影音文檔可以存放在例如Endu=3的區(qū)域。當(dāng)然，以上僅是說(shuō)明之用，何種數(shù)據(jù)要存放在Endu值多少的區(qū)域，要視系統(tǒng)或使用者的定義方式。圖7繪示本實(shí)施例的存儲(chǔ)器中的儲(chǔ)存區(qū)域的示意圖。如圖7所示，其為存儲(chǔ)器的邏輯儲(chǔ)存區(qū)域的配置示意范例。例如，可以將儲(chǔ)存區(qū)域40分成管理區(qū)域(映射表)42、使用數(shù)據(jù)區(qū)域44、備份區(qū)域46與缺陷區(qū)域48。其中，在此圖例中，使用數(shù)據(jù)區(qū)域44還可以依據(jù)Endu值區(qū)分為區(qū)域1區(qū)域4，藉以依據(jù)文檔或數(shù)據(jù)的重要性來(lái)分配儲(chǔ)存的區(qū)域。在管理區(qū)域42中可以存放一個(gè)記錄表，即耐度表(endurancetable)。此記錄表記錄有耐度區(qū)塊的位置、區(qū)塊的寫(xiě)入次數(shù)(cycles)、ECC錯(cuò)誤更正位數(shù)(ECC)和耐度值Endu(即將錯(cuò)誤的程度)。圖8繪示本實(shí)施例的管理區(qū)域中的耐度記錄表示意圖。如圖8所示，Endu值可以是次數(shù)與ECC的函式或判斷式。一般閃存在出廠后會(huì)有E/W參考值(擦除/寫(xiě)入?yún)⒖贾担纯梢詧?zhí)行幾次)以及分布(即寫(xiě)入幾次后會(huì)開(kāi)始產(chǎn)生缺陷)。而利用E/W參考值、ECC的錯(cuò)誤更正以及前述分部等等，定義一個(gè)對(duì)應(yīng)函式或判斷式，由次數(shù)與ECC計(jì)算Endu值。此對(duì)應(yīng)函數(shù)或判斷式可隨讀寫(xiě)次數(shù)增加到不同的程序，而針對(duì)當(dāng)時(shí)的閃存使用狀況與毀損狀況做修正。經(jīng)由上述的記錄表，便可依不同的Endu值，將使用中的儲(chǔ)存區(qū)分成數(shù)個(gè)區(qū)域(area)，即上述耐度區(qū)塊。例如圖3，依不同的Endu值0_3，分成了區(qū)域1到區(qū)域4。另外，Endu值的對(duì)應(yīng)函式或判斷式也可依各層文檔的多寡來(lái)調(diào)整。此外，管理區(qū)域42因?yàn)橹匾愿撸瑢?shí)作時(shí)可使用較高可靠度的存儲(chǔ)器，例如MRAM。綜上所述，本實(shí)施范例可以通過(guò)主機(jī)系統(tǒng)與固態(tài)儲(chǔ)存媒體之間的接口命令，主動(dòng)地從固態(tài)儲(chǔ)存媒體取得各種測(cè)試項(xiàng)目的數(shù)據(jù)，以作成測(cè)試報(bào)告。各測(cè)試項(xiàng)目是以區(qū)塊為單位，所以更能有效地顯示出該固態(tài)儲(chǔ)存媒體的測(cè)試報(bào)告的實(shí)用性與信賴性。雖然本發(fā)明已以實(shí)施例揭示如上，然其并非用以限定本發(fā)明，本領(lǐng)域的技術(shù)人員在不脫離本發(fā)明的精神和范圍的前提下可作若干的更動(dòng)與潤(rùn)飾，故本發(fā)明的保護(hù)范圍以本發(fā)明的權(quán)利要求為準(zhǔn)。權(quán)利要求一種固態(tài)儲(chǔ)存媒體可靠度的測(cè)試方法，其中該固態(tài)儲(chǔ)存媒體包含多個(gè)區(qū)塊，該固態(tài)儲(chǔ)存媒體可靠度的測(cè)試方法包括取得該固態(tài)儲(chǔ)存媒體的各該區(qū)塊的一生命周期；測(cè)試該區(qū)塊的一擦除數(shù)；判斷該區(qū)塊的該擦除數(shù)是否大于一預(yù)定擦除數(shù)；以及將所述區(qū)塊中，該擦除數(shù)大于該預(yù)定擦除數(shù)的區(qū)塊數(shù)加以累加，以產(chǎn)生一問(wèn)題區(qū)塊數(shù)，并輸出一測(cè)試報(bào)告。2.如權(quán)利要求1所述的固態(tài)儲(chǔ)存媒體可靠度的測(cè)試方法，其中該生命周期為該區(qū)塊的總擦除數(shù)。3.如權(quán)利要求1所述的固態(tài)儲(chǔ)存媒體可靠度的測(cè)試方法，其中該預(yù)定擦除數(shù)為該生命周期的一固定百分比。4.如權(quán)利要求1所述的固態(tài)儲(chǔ)存媒體可靠度的測(cè)試方法，其中該生命周期由一使用者輸入一主機(jī)系統(tǒng)。5.如權(quán)利要求1所述的固態(tài)儲(chǔ)存媒體可靠度的測(cè)試方法，其中該生命周期由一主機(jī)系統(tǒng)，通過(guò)該主機(jī)系統(tǒng)與該固態(tài)儲(chǔ)存媒體之間的一接口命令所取得。6.如權(quán)利要求1所述的固態(tài)儲(chǔ)存媒體可靠度的測(cè)試方法，還包括計(jì)算該問(wèn)題區(qū)塊數(shù)與該固態(tài)儲(chǔ)存媒體的總區(qū)塊數(shù)的比例，做為該測(cè)試報(bào)告。7.如權(quán)利要求1所述的固態(tài)儲(chǔ)存媒體可靠度的測(cè)試方法，還包括取得各該區(qū)塊的一錯(cuò)誤更正碼耐度值；依據(jù)該錯(cuò)誤更正碼耐度值，獲得一隱含錯(cuò)誤；以及將各個(gè)區(qū)塊的各該隱含錯(cuò)誤并入該問(wèn)題區(qū)塊數(shù)，以做為該測(cè)試報(bào)告。8.如權(quán)利要求7所述的固態(tài)儲(chǔ)存媒體可靠度的測(cè)試方法，其中該錯(cuò)誤更正碼耐度值由一主機(jī)系統(tǒng)，通過(guò)該主機(jī)系統(tǒng)與該固態(tài)儲(chǔ)存媒體之間的一接口命令所取得。9.如權(quán)利要求1所述的固態(tài)儲(chǔ)存媒體可靠度的測(cè)試方法，還包括取得各個(gè)區(qū)塊的一無(wú)效頁(yè)數(shù)，并依據(jù)該無(wú)效頁(yè)數(shù)計(jì)算出對(duì)應(yīng)的一區(qū)塊數(shù)；以及將該區(qū)塊數(shù)并入該問(wèn)題區(qū)塊數(shù)，以做為該測(cè)試報(bào)告。10.如權(quán)利要求9所述的固態(tài)儲(chǔ)存媒體可靠度的測(cè)試方法，其中該無(wú)效頁(yè)數(shù)由一主機(jī)系統(tǒng)，通過(guò)該主機(jī)系統(tǒng)與該固態(tài)儲(chǔ)存媒體之間的一接口命令所取得。11.一種固態(tài)儲(chǔ)存媒體可靠度的測(cè)試方法，其中該固態(tài)儲(chǔ)存媒體包含多個(gè)區(qū)塊，該固態(tài)儲(chǔ)存媒體的測(cè)試方法包括決定一測(cè)試流程；通過(guò)一接口命令，由該固態(tài)儲(chǔ)存媒體向一主機(jī)傳送一測(cè)試項(xiàng)目的數(shù)據(jù)；比較該測(cè)試項(xiàng)目在測(cè)試前后的差異值，以輸出一測(cè)試報(bào)告。12.如權(quán)利要求11所述的固態(tài)儲(chǔ)存媒體可靠度的測(cè)試方法，其中該測(cè)試項(xiàng)目為各該區(qū)塊的擦除數(shù)是否大于一預(yù)定擦除數(shù)，該傳送該測(cè)試項(xiàng)目的數(shù)據(jù)更包括將所述區(qū)塊中，該擦除數(shù)大于該預(yù)定擦除數(shù)的區(qū)塊數(shù)加以累加，以產(chǎn)生一問(wèn)題區(qū)塊數(shù)，并輸出該測(cè)試報(bào)告。13.如權(quán)利要求12所述的固態(tài)儲(chǔ)存媒體可靠度的測(cè)試方法，其中該預(yù)定擦除數(shù)是由各該區(qū)塊一生命周期的一固定百分比所決定。14.如權(quán)利要求12所述的固態(tài)儲(chǔ)存媒體可靠度的測(cè)試方法，其中該測(cè)試項(xiàng)目更包括一無(wú)效頁(yè)，其中傳送該測(cè)試項(xiàng)目的數(shù)據(jù)更包括取得各所述區(qū)塊的一無(wú)效頁(yè)數(shù)，并依據(jù)該無(wú)效頁(yè)數(shù)計(jì)算出對(duì)應(yīng)的一區(qū)塊數(shù)；以及將該區(qū)塊數(shù)并入該問(wèn)題區(qū)塊數(shù)，以做為該測(cè)試報(bào)告。15.如權(quán)利要求11所述的固態(tài)儲(chǔ)存媒體可靠度的測(cè)試方法，其中該測(cè)試項(xiàng)目為各該區(qū)塊的一錯(cuò)誤更正碼耐度值。16.如權(quán)利要求15所述的固態(tài)儲(chǔ)存媒體可靠度的測(cè)試方法，其中傳送該測(cè)試項(xiàng)目的數(shù)據(jù)還包括取得各該區(qū)塊的該錯(cuò)誤更正碼耐度值；依據(jù)該錯(cuò)誤更正碼耐度值，獲得一隱含錯(cuò)誤；以及將各個(gè)區(qū)塊的各該隱含錯(cuò)誤，做為該測(cè)試報(bào)告。全文摘要一種固態(tài)儲(chǔ)存媒體可靠度的測(cè)試方法，固態(tài)儲(chǔ)存媒體包含多個(gè)區(qū)塊。首先，取得固態(tài)儲(chǔ)存媒體的各區(qū)塊的生命周期。測(cè)試上述區(qū)塊的擦除數(shù)，并且判斷該區(qū)塊的擦除數(shù)是否大于一預(yù)定擦除數(shù)。將上述各區(qū)塊中，擦除數(shù)大于預(yù)定擦除數(shù)的區(qū)塊數(shù)加以累加，以產(chǎn)生問(wèn)題區(qū)塊數(shù)，并輸出測(cè)試報(bào)告。文檔編號(hào)G11C29/00GK101752008SQ20081018484公開(kāi)日2010年6月23日申請(qǐng)日期2008年12月5日優(yōu)先權(quán)日2008年12月5日發(fā)明者曾文俊申請(qǐng)人:財(cái)團(tuán)法人工業(yè)技術(shù)研究院