專利名稱：盤裝置和在盤介質(zhì)上存儲伺服信息的方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明的一個方面涉及每個都在其上存儲有用于對讀/寫頭進行定 位的多條伺服信息的存儲盤、伺服信息刻寫方法、盤設備以及用于制造 所述盤設備的方法。本技術(shù)涉及一種根據(jù)讀/寫頭和存儲盤之間的關(guān)系的 記錄/再現(xiàn)特性在其上存儲多條伺服信息的存儲盤、用于刻寫該多條伺服 信息的方法、盤設備以及用于制造該盤設備的方法。
背景技術(shù)：
在諸如磁盤的盤設備中，使用定位在期望的盤軌道上的讀/寫頭，從 盤的期望軌道讀取數(shù)據(jù)和向其寫入數(shù)據(jù)。這種盤均具有伺服信息，伺服 信息在圓周方向上以預定間隔記錄在軌道中，且使用讀/寫頭對所述伺服 信息進行讀取和譯碼，從而獲得讀/寫頭的位置信息。
在介質(zhì)被插入到這種盤設備之前在該介質(zhì)上刻寫伺服信息的處理被
稱為伺服軌道刻寫(STW)。當執(zhí)行伺服軌道刻寫時，盤設備將會使用的 伺服信息被刻寫到該介質(zhì)上。在盤介質(zhì)被插入到盤設備之后，撿測待使 用的所有軌道。當在軌道之一中檢測到多條伺服信息中的一條的譯碼錯 誤時，判定該條軌道為不可用的缺陷軌道。
相關(guān)技術(shù)在日本公開專利申請?zhí)亻_平07-249276、日本公開專利申請 特開平09-180355和日本公開專利申請?zhí)亻_2003-338147中披露。

發(fā)明內(nèi)容
根據(jù)本發(fā)明的一個方面， 一種盤設備包括介質(zhì)，能夠存儲數(shù)據(jù)并 包括多組伺服信息，每組所述伺服信息具有識別信息；讀/寫頭，用于向 該介質(zhì)寫入數(shù)據(jù)和從該介質(zhì)讀取數(shù)據(jù)；致動器，用于支持該讀/寫頭；以 及控制器，基于相關(guān)的識別信息，參照所述多組伺服信息中選出的一個
控制該致動器，從而將該讀/寫頭移動到該介質(zhì)的目標位置。


圖1是示出了根據(jù)本技術(shù)的實施方式，用于制造盤設備的方法的處 理的流程圖2是示出了根據(jù)本技術(shù)的實施方式，包括寫入到其上的伺服信息 的盤介質(zhì)的視圖3是示出了圖2中所示的盤介質(zhì)的視圖，其中從所有的伺服信息
中選出了多條最佳伺服信息；
圖4是示出了刻寫圖2中所示的伺服信息的伺服軌道刻錄機的視圖5是示出了根據(jù)本技術(shù)的實施方式的盤設備的配置的視圖6A和6B是示出了測量伺服信息的質(zhì)量的處理和選擇多種類型的
伺服信息中的一種伺服信息的處理的流程圖7A和7B是示出了圖6A和6B的測量伺服信息的質(zhì)量的處理的
流程圖(部分l);
圖8是示出了圖6A和6B的測量伺服信息的質(zhì)量的處理的流程圖(部
分2);
圖9是示出了在偏移位置中執(zhí)行的圖7A和7B的測量伺服信息的質(zhì) 量的處理的視圖IO是示出了計算圖8中執(zhí)行的測量伺服信息的質(zhì)量的處理的結(jié)果 的處理的流程圖11是示出了在圖10的處理中使用的測量結(jié)果存儲表的視圖； 圖12是示出了作為測量單位的區(qū)的視圖13是圖6A和6B的選擇多種類型的伺服信息中的一種伺服信息 的處理(部分l);
圖14是圖6A和6B的選擇多種類型的伺服信息中的一種伺服信息 的處理(部分2);
圖15是示出了在參照圖13和14描述的選擇多種類型的伺服信息中 的一種伺服信息的處理中使用的判定標志表的視圖16A和16B是示出了圖1的使用所選的伺服信息的處理的流程圖 (部分l);
圖17是示出了圖1的使用所選的伺服信息的處理的流程圖(部分2);
以及
圖18是示出了相關(guān)技術(shù)中包括伺服信息的盤介質(zhì)的視圖。
具體實施例方式
圖18是用于描述相關(guān)技術(shù)中的伺服軌道刻寫的視圖。伺服信息102-1 至102-8沿圓周方向以預定間隔被寫入到磁盤100中。在相關(guān)技術(shù)的伺服 軌道刻寫中，N (圖18中為8)條伺服信息102-1至102-8被寫入到磁盤 100，使得磁盤100用于需要N條(在圖18中為8)伺服信息的盤設備 中。
該伺服信息102-1至102-8中的每一條都包括前導碼(preamble)110、 用于同步控制的同步標記圖案112、伺服扇區(qū)號114、指示軌道位置的格 雷碼116以及用于位置控制的脈沖信號118。單個或多個扇區(qū)被布置在這 些伺服信息102-1至102-8之間。在該相關(guān)技術(shù)中，該伺服信息102-1至 102-8采用相同的同步標記圖案。
在該相關(guān)技術(shù)中，相同的刻寫參數(shù)用于為每個盤寫入伺服信息，且 根據(jù)每個盤的特性判定所述刻寫參數(shù)。類似地，對于其中通過磁性轉(zhuǎn)移 記錄伺服信息的每個盤，伺服信息的特性相同。
在刻寫伺服信息時使用的刻寫參數(shù)的最佳值依賴于盤介質(zhì)和記錄頭 的特性。作為裝運之前的盤設備的測試處理，讀/寫頭根據(jù)所述伺服信息 定位且針對盤的各個軌道執(zhí)行讀/寫測試。
在該測試中，如果刻寫參數(shù)與最佳值不一致，則在譯碼該伺服信息 時可能會發(fā)生讀錯誤。當在一個軌道中檢測到讀錯誤時，該軌道被判定 為不可用的缺陷軌道，且相應地，產(chǎn)出率減小。
具體而言，當磁盤設備采用垂直記錄方法以獲得增加的密度時，因 為在垂直記錄方法中刻寫流的最佳值的范圍比水平記錄方法的小，所以 伺服信息中的每一條的譯碼質(zhì)量極大地受到盤介質(zhì)的特性的變化的影
響。
因此，當盤介質(zhì)的特性改變時，應當調(diào)整刻寫參數(shù)的最佳值。然而， 這種調(diào)整需要人工勞動和時間。
此外，由于盤介質(zhì)的質(zhì)量的變化和用于伺服軌道刻寫的讀/寫頭的特 性的變化，刻寫參數(shù)的最佳值變化。因此，當固定參數(shù)用于刻寫伺服信 息時，該伺服信息的質(zhì)量變化。
此后將參照附圖依次描述根據(jù)本技術(shù)的實施方式的用于制造盤設備 的方法、伺服信息刻寫方法、盤設備、使用所述盤設備執(zhí)行的伺服信息 測量/選擇處理、測量伺服信息的質(zhì)量的處理、伺服信息評估/選擇處理和 使用伺服信息的處理以及其他實施方式。然而，本技術(shù)不限于這些實施 方式，且可以做出各種修改。
制造盤設備的方法
圖1是示出了根據(jù)本技術(shù)的實施方式的用于制造盤設備的方法的處 理的流程圖。圖2是示出了包括被寫入到其上的伺服信息的盤的視圖。
圖3是示出了圖2中所示的盤介質(zhì)的視圖，其中從所有伺服信息中選出
了多條最佳伺服信息。
參照圖1，將描述制造盤設備的處理。注意，這里，磁盤被用作盤 的示例，且磁盤設備被用作盤設備的示例。
在步驟SIO，伺服信息被記錄在磁盤中。如圖2所示，在盤旋轉(zhuǎn)一 周的同時，伺服軌道刻錄機(參見圖4)沿圓周方向向盤介質(zhì)10刻錄M 種類型的伺服信息(每種伺服信息包括N條伺服信息(M和N是大于1 的整數(shù)))，從而各伺服信息彼此偏移。注意，盤介質(zhì)10將在需要具有N 條伺服信息的盤介質(zhì)的盤設備中使用。該M種類型的伺服信息的各種伺 服信息之間具有彼此不同的同步標記圖案，從而能夠彼此區(qū)分。使用彼 此不同的刻寫參數(shù)(例如，刻寫電流)，將M種類型的伺服信息寫入到 盤介質(zhì)10。
圖2示出了在盤設備中使用的盤介質(zhì)10的一個表面，該盤設備需要 在盤介質(zhì)10的一整圈中提供8條伺服信息。三種類型的伺服信息12-1 至12-3沿圓周方向被寫入到盤介質(zhì)10中，每一種均包括8條伺服信息的
三種類型的伺服信息沿圓周方向以預定間隔彼此偏移。因此，該三種類
型的伺服信息12-1至12-3中的每一種均沿圓周方向被寫入到盤介質(zhì)10， 并以預定間隔彼此偏移，使得為每種類型獲得了 8條伺服信息。
三種類型的伺服信息12-1至12-3的格式相同。三種類型的伺服信息 12-1至12-3中的每一種都包括用于控制頻率、相位和幅度的前導碼14、 用于同步控制的同步標記圖案15-1至15-3中的相應的一種、伺服扇區(qū)號 16、指示軌道位置的格雷碼17以及用于位置控制的脈沖信號18。
三種類型的伺服信息12-1至12-3使用彼此不同的刻寫電流寫入，且 被寫入為具有彼此不同的同步標記圖案15-1至15-3。例如，第一伺服信 息12-1使用16 mA的刻寫電流寫入，且具有"00010100"的同步標記的位 圖案，第二伺服信息12-2使用20mA的刻寫電流寫入，且具有"00100100" 的同步標記的位圖案，第三伺服信息12-3使用24 mA的刻寫電流寫入， 且具有"01000100"的同步標記的位圖案。
在步驟S12，包括被寫入到其上的M種類型(每一種都包括N條伺 服信息)的伺服信息的盤介質(zhì)10被結(jié)合(安裝)到盤設備30中，由此 有利于盤設備30的裝配，該盤設備30將參照圖5描述。然后，盤設備 30選擇最佳類型的伺服信息。如下文所描述的，被包括在己裝配的盤設 備30中的讀/寫頭用于從盤介質(zhì)10中讀取伺服信息，用以測量所讀的伺 服信息的質(zhì)量，并根據(jù)測量的結(jié)果選擇最佳伺服信息。
在步驟S14，盤設備30使用所選的伺服信息執(zhí)行讀/寫測試。在該讀 /寫測試中，使用讀/寫頭向其中寫入了所選伺服信息的區(qū)域之外的軌道寫 入測試圖案，所寫的測試圖案被讀取，且判斷讀/寫操作的質(zhì)量是否滿足 所需的水平。因此，未被選擇的伺服信息被測試圖案代替而移除。如圖3 所示，在第二伺服信息12-2被選擇的情況下，第一伺服信息12-1和第三 伺服信息12-3被測試圖案代替。注意，在未被使用且位于盤介質(zhì)10的外 圓周側(cè)的區(qū)域中和內(nèi)圓周側(cè)的區(qū)域中的用戶區(qū)中，部分地保留有未被選 擇的第一伺服信息12-1和第三伺服信息12-3。
如上所述，針對每個讀/寫頭，從這三種類型的伺服信息中獲得最佳 類型的伺服信息，且對于每個讀/寫頭，對應于該最佳類型的伺服信息的
一種同步標記圖案被存儲在盤設備30的非易失性ROM (只讀存儲器) 或盤介質(zhì)10的系統(tǒng)區(qū)中。因此，在盤設備30中，所述最佳類型的伺服 信息用作定位用的規(guī)定伺服信息，且寫入有與該規(guī)定伺服信息不同的伺 服信息的區(qū)域被用作用戶數(shù)據(jù)區(qū)域。用戶數(shù)據(jù)區(qū)域中的伺服信息被用戶 數(shù)據(jù)重寫。因為盤介質(zhì)10的內(nèi)圓周側(cè)的區(qū)域和外圓周側(cè)的區(qū)域不用作用 戶數(shù)據(jù)區(qū)域，即使試圖向整個盤介質(zhì)10寫入用戶數(shù)據(jù)時，不同于最佳伺 服信息的伺服信息也會保留在盤介質(zhì)10的內(nèi)圓周側(cè)的區(qū)域中和外圓周側(cè) 的區(qū)域中。
在步驟S16，在對應于最佳類型的伺服信息的一種同步標記圖案被 存儲在盤介質(zhì)10的系統(tǒng)區(qū)中的情況下，當盤設備30在被裝運之后首次 啟用時，不讀取有關(guān)于與最佳類型的伺服信息對應的那種同步標記圖案 的信息。因此，不知道用于讀取最佳類型的伺服信息的那種同步標記圖 案。非易失性ROM包括列出提前存儲的多種類型的同步標記圖案的表。 當各讀/寫頭被裝載且同步標記圖案被讀取時，用從列出了同步標記圖案 的該表中讀取的值依次地替換讀信道的同步標記設置值，由此，讀取最 佳類型的伺服信息。
如圖3所示，因為伺服信息保留在盤介質(zhì)10的內(nèi)圓周側(cè)的區(qū)域和外 圓周側(cè)的區(qū)域中，因此，當裝載讀/寫頭時，可能讀取保留的不恰當?shù)乃?服信息。為了解決這一問題，僅當格雷碼的值(軌道柱面地址或軌道地 址)位于預定范圍(未保留不恰當?shù)乃欧畔⒌膮^(qū)域)中時，才進入使 用預定間隔來譯碼所述伺服信息的模式。由此防止盤設備30由于存在不 恰當?shù)乃欧畔⒍绘i定。因此，采用包括伺服信息的盤介質(zhì)10的盤設 備30只能譯碼最佳類型的伺服信息，不會增加處理時間。
在使用不同參數(shù)向盤介質(zhì)10寫入了伺服信息且盤介質(zhì)10被安裝到 盤設備30之后，被包括在盤設備30中的讀/寫頭評估該伺服信息的質(zhì)量， 且選擇最佳類型的伺服信息。因此，即使盤介質(zhì)10的特性和伺服軌道刻 錄機的讀/寫頭特性在質(zhì)量上改變時，盤設備30的讀/寫頭也維持最佳類 型的伺服信息可用。
而且，因為分配不同的同步標記圖案以允許區(qū)分伺服信息的類型，
因而，即使在盤設備30被裝運之后，所選的伺服信息也能夠被區(qū)分，并
且，即使在盤介質(zhì)10的表面之間或在多個盤介質(zhì)10之間選擇了不同類
型的伺服信息，所選的伺服信息也能夠被容易地讀取。 伺服信息刻錄方法-
圖4是示出了根據(jù)本技術(shù)的實施方式，執(zhí)行伺服信息刻錄處理的伺 服軌道刻錄機20的視圖。如圖4所示，伺服軌道刻錄機20包括讀/寫頭 移動馬達(音圈馬達,VCM) 24和主軸馬達21。多個磁頭23-R和23-1 至23-P被附接到讀/寫頭移動馬達24的臂的頂端，且基準盤10-R和P個 目標盤10-1至10-P被附接到主軸馬達21的旋轉(zhuǎn)軸22。各磁頭23-R和 23-1至23-P面對盤IO-R和10-1至IO國P的相應一個的一面。
伺服軌道刻錄機20還包括光學傳感器28，光學地檢測面對基準 盤10-R的磁頭23-R的位置；控制電路26，控制將讀/寫頭移動馬達24 定位在使用光學傳感器28檢測出的位置，且供應該伺服信息，且向磁頭 23-1至23-P施加刻寫電流，從而執(zhí)行刻寫控制。
控制電路26具有列出用于刻寫如上所述的三種類型的伺服信息12-1 至12-3的刻寫電流和同步標記圖案之間關(guān)系的表29?；鶞时PIO-R包括 寫入到其中的時序信號。
注意，在圖4中，為簡單起見，各磁盤10-1至10-P都具有各自對應 的磁頭23-1至23-P，但在實際使用時，各磁頭23-1至23-P由面對磁盤 10-1至10-P中的兩個對應磁盤的相對面的一對磁頭組成。
當開始伺服軌道刻寫時，主軸馬達21旋轉(zhuǎn)，且因此磁盤IO-R和10-1 至IO—P旋轉(zhuǎn)。使用磁頭23-R從基準盤10-R讀取的時序信號被供給到 控制電路26。光學傳感器28檢測基準盤10-R上的磁頭23-R的位置，且 檢測到的位置信息被提供給控制電路26。
控制電路26參照使用光學檢測器28檢測出的位置執(zhí)行讀/寫頭移動 馬達24的移動控制(伺服控制)，使得磁頭23-R和23-1至23-P定位在 期望位置，且根據(jù)從磁頭23-R供給的時序信號，向磁頭23-1至23-P供 給刻寫電流和刻寫伺服圖案(包括同步標記圖案)。
然后，使用指定的刻寫電流，將參照圖2描述的三種類型的伺服信
息12-1至12-3寫入到各盤10-1至10-P的兩個表面。 一般而言，因為磁 盤的一個表面大約具有數(shù)以萬計的軌道，因而要對數(shù)以萬計的軌道執(zhí)行 定位操作，且使用指定的刻寫電流，向各軌道寫入?yún)⒄請D2描述的三種 類型的伺服信息12-1至12-3。
在三種類型的伺服信息被寫入到所有的軌道之后，伺服軌道刻寫終 止。然后，盤10-1至10-P從主軸馬達21的旋轉(zhuǎn)軸22分離。這樣，產(chǎn)生 了與圖2中所示的磁盤類似的已經(jīng)寫入了伺服信息的磁盤。
盤設備
圖5是示出了根據(jù)本技術(shù)的實施方式的盤設備的配置的視圖。在圖 5中，與圖2禾n圖3中所示的部件相同的部件以圖2和圖3中使用的標號 表示。圖5示出了圖2和圖3中示出的盤介質(zhì)10，其安裝在主軸馬達的 旋轉(zhuǎn)軸39上且裝配以其他部件。在圖5中，磁頭31由分離地包括讀元 件和寫元件的合成頭組成。
磁頭31被附接到VCM (音圈馬達)33的臂32的頂端。讀信道電 路34對使用磁頭(讀元件)31從預放大器(未示出)讀取的信號執(zhí)行信 號整形，產(chǎn)生同步時鐘和選通信號，并輸出讀取的信號。而且，讀信道 電路34向磁頭(寫元件)31提供寫信號。
SVC (伺服康寶(Combo)電路)37接收從MCU (微控制器單元)36 供應的驅(qū)動指令值，且根據(jù)該驅(qū)動指令值輸出驅(qū)動電流從而驅(qū)動VCM 33。
MCU36包括MPU (微處理器)和伺服控制器，譯碼根據(jù)讀信道電 路34輸出的讀取的信號獲得的位置信息，檢測當前位置且根據(jù)檢測的當 前位置和目標位置之間的差異計算VCM驅(qū)動指令值。即，MCU36執(zhí)行 包括搜尋操作和后續(xù)操作的伺服控制。而且，MCU36分析命令，監(jiān)控盤 設備的狀態(tài)并控制包括在盤設備中的單元。
存儲器(RAM (隨機存取存儲器))38存儲使用MCU 36執(zhí)行的處 理中使用的數(shù)據(jù)。硬盤控制器(HDC) 35與主機通信。HDC 35根據(jù)從 讀信道電路34輸出的選通信號和時鐘從讀信道電路34接收讀取的數(shù)據(jù)， 在緩沖器中存儲該讀取的數(shù)據(jù)，并將該讀取的數(shù)據(jù)發(fā)送到主機。而且，
HDC 35根據(jù)從讀信道電路34輸出的選通信號和時鐘向讀信道電路34供 應從主機輸出的寫入數(shù)據(jù)。
HDC35經(jīng)由IF (接口)與主機通信，所述IF諸如是USB (通用串 行總線)、IDE (集成驅(qū)動電子電路)、ATA (AT嵌入式接口)或SCSI (小 型計算機系統(tǒng)接口)。
在圖5所示的配置中，HDC 35與主機和驅(qū)動器通信從而執(zhí)行數(shù)據(jù) 傳輸，SCV37輸出驅(qū)動電流從而驅(qū)動VCM33，使得磁頭31執(zhí)行搜尋操 作和后續(xù)操作，且MCU 36控制搜尋操作和后續(xù)操作并根據(jù)使用HDC 35 接收的命令控制被包括在盤設備中的單元。
在該實施方式中，在盤設備30裝配之后，MCU36執(zhí)行伺服信息選 擇處理，從而獲得如圖3所示的盤介質(zhì)10。然后，當盤設備30在裝運之 后首次啟用時，所選的伺服信息被搜索以用于伺服控制。
使用盤設備執(zhí)行的伺服信息測量/選擇處理
圖6A和圖6B是示出了根據(jù)本技術(shù)的實施方式，使用盤設備執(zhí)行的 測量伺服信息質(zhì)量的處理和選擇一種類型的伺服信息的處理的流程圖。 在圖6A和圖6B中，為一種類型的伺服信息分配一伺服信息號"S"，且為 一個讀/寫頭分配一頭編號"HD"。
在步驟S20， MCU36驅(qū)動主軸馬達從而旋轉(zhuǎn)盤介質(zhì)10。然后，MCU 36為頭編號"HD"分配(選擇)0。
在步驟S22， MCU 36為伺服信息號S分配(選擇)0，且通過向其 分配"0"初始化被包括在RAM38中的測量結(jié)果存儲區(qū)域。
在步驟S24， MCU 36指示讀信道電路34檢測對應于伺服信息號S =0 (例如，第一伺服信息12-1)的同步標記，且執(zhí)行譯碼操作。因此， 讀信道電路34從使用磁頭(讀元件)31讀取的信號中檢測對應于伺服信 息號S二O (例如，第一伺服信息12-1)的同步標記，且譯碼對應于該同 步標記的伺服信息。MCU36根據(jù)譯碼的結(jié)果測量伺服信息譯碼特性，測 量的結(jié)果彼此相加，且相加的結(jié)果被存儲在被包括在RAM 38中的相加 結(jié)果存儲區(qū)域中。如此后參照圖7A和圖7B所述的，伺服信息譯碼特性 包括同步標記檢測錯誤數(shù)、格雷碼檢測錯誤數(shù)、使用脈沖信號獲得的位
置信息的錯誤以及信號幅度因子。當對期望的盤介質(zhì)10的軌道執(zhí)行的測
量操作終止時，MCU36使伺服信息號S遞增1 (S = S + 1)，即，第二伺 服信息12-2被指定。
在步驟S26， MCU 36判定伺服信息號S是否大于作為伺服信息號的 最大值的值Smax (在圖2中Smax二2)。當判定為否定時，處理返回到 步驟S24，且測量對應于余下的下一伺服信息號的伺服信息的特性。
當判定為肯定時，在步驟S28，判定使用(用于盤表面的)指定讀/ 寫頭的所有伺服信息譯碼特性的測量被終止。然后，MCU 36根據(jù)測量 結(jié)果選擇最佳類型的伺服信息。稍后將參照圖13至15描述這種評估/選 擇處理。然后，對應于所選最佳類型的最佳伺服信息的同步標記的位圖 案被存儲在RAM 38的陣列SAM[HD]中。MCU 36使頭編號HD遞增1 ， 使得獲得頭編號HD+1，由此指定具有下一頭編號的讀/寫頭。
在步驟S30， MCU 36判定頭編號HD是否大于作為頭編號的最大值 的頭編號HDmax (例如，當單個磁盤被安裝在設備中時，頭編號HDmax 為"1"，且當兩個磁盤被安裝在設備中時，頭編號HDmax為"3")。當判 定為否定時，處理返回到步驟S22，測量對應于所有伺服信息號的伺服信 息的伺服信息譯碼特性，且根據(jù)測量的結(jié)果選擇最佳伺服信息。
當判定為肯定時，在步驟S32，判定使用所有讀/寫頭(對于所有盤 表面)的所有伺服信息譯碼特性的測量被終止。因此，MCU36將所選的 最佳伺服信息存儲在非易失性ROM (未示出)或盤介質(zhì)10的系統(tǒng)區(qū)中。 選擇處理由此終止。
然后，所選的最佳伺服信息用于定位這些頭，且對盤介質(zhì)10執(zhí)行讀 /寫測試。因此未被選擇的伺服信息被重寫，即，移除。因此，與被寫入 有所選的最佳伺服信息的區(qū)域不同的區(qū)域用于用戶數(shù)據(jù)區(qū)域。
測量伺服信息的質(zhì)量的處理
將參照圖7A至圖12描述圖6A的步驟S24中描述的測量伺服信息 的質(zhì)量的處理。圖7A、圖7B和圖8是示出了測量伺服信息的質(zhì)量的處 理的流程圖。圖9是示出了圖7A和圖7B的在偏移位置執(zhí)行的測量伺服 信息的質(zhì)量的處理的視圖。圖IO是示出了計算圖8中執(zhí)行的測量伺服信
息的質(zhì)量的處理的結(jié)果的處理的流程圖。圖11是示出了測量結(jié)果存儲表
的視圖。圖12是示出了作為測量單位的區(qū)的圖示。
參照圖9至圖12來描述圖7A、圖7B和圖8的測量處理。 在步驟S40， MCU36向測量區(qū)信息Z分配"O"。如圖12所示，軌道
沿盤介質(zhì)10的徑向被分成多個區(qū)0到v。以區(qū)為單位執(zhí)行測量伺服信息
的質(zhì)量的處理。
在步驟S42， MCU36初始化區(qū)0中使用的各個參數(shù)。首先，MCU36 通過向測量起始軌道t分配T[Z]來初始化測量起始軌道t，通過向軌道步 驟計數(shù)ts分配TS[Z]來初始化軌道步驟計數(shù)ts，且通過向測量軌道計數(shù)tn 分配TN[Z]來初始化測量軌道計數(shù)tn。
在步驟S44， MCU36初始化偏移位置的參數(shù)。即，MCU36通過向 測量偏移計數(shù)to分配TO[Z]來初始化測量偏移計數(shù)。如圖9所示，在對 某一軌道Tr[l](例如，其具有"3000"的格雷碼)執(zhí)行測量處理之前，磁 頭(讀元件)31-1移動到偏離軌道中心(對應于圖9中的相應的一條點 線)的位置。在該實施方式中，通過使讀元件31-1與軌道中心偏離四分 之一軌道和一半軌道來執(zhí)行測量，來讀取伺服信息。
這里，因為被測量的軌道Tr[l]的伺服信息受到被寫入到相鄰軌道(在 本實施方式中為軌道Tr[2])的伺服信息影響，所以在執(zhí)行測量處理之前， 讀元件31-1與軌道中心相偏離。具體地，在磁記錄中，當對特定軌道執(zhí) 行寫操作時，相鄰軌道受到該特定軌道的寫操作的磁強度的影響。具體 而言，當軌道節(jié)距小時，相鄰軌道極大地受到磁強度的影響。而且，由 于諸如震動之類的環(huán)境條件，在寫/讀操作時難以準確地將磁頭31定位在 軌道中心。因此，優(yōu)選地使磁頭31與軌道中心相偏離地執(zhí)行測量伺服信 息的質(zhì)量的處理。
在本實施方式中，在兩個偏離的位置測量信號，從而根據(jù)通過信號 測量獲得的相對值評估信號質(zhì)量(尤其是幅度成分)。當評估側(cè)橋(side bridge)的相鄰軌道執(zhí)行的寫操作的影響時，使用通過將讀元件31-1偏 離四分之一軌道獲得的偏移位置是有效的。當評估軌道Tr[l]邊界的信號 的質(zhì)量特性時，使用通過將讀元件31-1偏離一半軌道獲得的另一偏移位
置是有效的。
在步驟S46， MCU 36計算指定軌道位置(t+ts' (tn-l ))，且通過SCV 37驅(qū)動VCM 33,使得讀元件31-1移向計算出的特定軌道位置處的偏移位 置F[Z]'[tO-l]。
在步驟S48， MCU 36通過獲得位置差來判定讀元件31-1是否已經(jīng) 移到了偏移位置F[Z [tO-l]。當由于沒有讀取到軌道Tr[l]中的伺服信息 而導致位置控制失敗時，判定移動失敗。當判定移動失敗時，處理進行 到步驟S50。另一方面，當判定移動被成功地執(zhí)行時，測量盤的一整圈中 的軌道Tr[l]的位置譯碼特性，且測量的結(jié)果被存儲在被包括在RAM 38 中的測量結(jié)果存儲區(qū)域中。將參照圖IO詳細描述該處理。
在步驟S50， MCU36使得測量偏移量"tO"遞減1 (tO=tO-l)。然后， MCU36判定測量偏移量"tO"是否等于或小于0。在圖9中，測量偏移量"tO" 的初始值為2。當判定為否定時，處理返回到步驟S46。
另一方面，當在步驟S50中判定為肯定時，軌道Tr[l]中的測量處理 終止，且處理進行到步驟S52，在步驟S52中，當前處理的區(qū)(以下描述 為"感興趣的區(qū)")中的測量軌道計數(shù)tn遞減1 (ta=tn-l)。然后，MCU36 判定更新的測量軌道計數(shù)tn是否等于或小于"O"。當判定為否時，處理返 回到步驟S44。
當在步驟S52中判定為肯定時，已經(jīng)對感興趣的區(qū)中的所有指定軌 道執(zhí)行測量處理。因此，在步驟S54，測量區(qū)信息Z遞增1 (Z-Z+l)。 然后，MCU 36判定更新的測量區(qū)信息Z是否大于作為測量區(qū)信息Z的 最大值的值Zmax。當判定為否時，處理返回到步驟S42。
另一方面，當在步驟S54中判定為肯定時，已經(jīng)對所有的區(qū)執(zhí)行了 測量處理，且處理進行到步驟S56。在步驟S56，包括在RAM38中的測 量結(jié)果存儲區(qū)域中存儲的測量結(jié)果彼此相加，且相加處理的結(jié)果被存儲 在包括在RAM 38中的相加結(jié)果存儲區(qū)域中(下面將參照圖10和圖11 對其進行描述)。對盤表面之一執(zhí)行的測量處理由此終止。
接下來，將參照圖10和圖11描述相加處理。
在步驟S60，在步驟S48中待測量的特性包括代表在盤的一整圈中讀取伺服信息時發(fā)生的錯誤的數(shù)目的同步標記讀錯誤計數(shù)esm;格雷碼 讀錯誤計數(shù)egc;根據(jù)脈沖信號獲得的譯碼位置的最大值和最小值之差p; 以及譯碼波形的幅度的索引值v。僅當圖5中所示的讀信道電路34讀取 了同步標記之一時，該讀信道電路34才向MCU36發(fā)送同步標記發(fā)現(xiàn)信 號，否則，讀信道電路34不發(fā)送同步標記發(fā)現(xiàn)信息。因此，MCU36通 過對與在盤的一整圈中發(fā)送的伺服信息中包括的同步標記對應的同步標 記發(fā)現(xiàn)信號進行計數(shù)來測量同步標記讀錯誤計數(shù)esm。
類似地，僅當讀信道電路34讀取格雷碼之一時，讀信道電路34才 向MCU36發(fā)送格雷碼發(fā)現(xiàn)信號，否則，讀信道電路34不發(fā)送格雷碼發(fā) 現(xiàn)信號。因此，MCU36通過對與在盤的一整圈中發(fā)送的伺服信息中包括 的格雷碼對應的格雷碼發(fā)現(xiàn)信號進行計數(shù)來測量格雷碼讀錯誤計數(shù)egc。 每次使用讀信道電路34譯碼脈沖信號時，使用MCU 36計算使用讀 信道電路34譯碼脈沖信號獲得的譯碼位置和目標位置之差，獲得盤的一 整圈中的譯碼位置的最大值和最小值，且計算該最大值和最小值之差p。 而且，譯碼波形的幅度的索引值v與被包括在讀信道電路34中的 AGC (自動增益控制)電路的增益相關(guān)。該增益被自動地控制，從而用 于讀取伺服信息。然后，MCU36從讀信道電路34讀取增益，且獲得用 于盤的一整圈的增益的平均值作為索引值v。
在步驟S62， MCU 36使用在步驟S60中執(zhí)行的計算的結(jié)果更新列出 了區(qū)和偏移位置之間的關(guān)系的表。具體而言，如圖11所示，相加結(jié)果表 包括伺服信息的類型(伺服圖案)、區(qū)O至v中的偏移位置(0表示0.25 個軌道且l表示0.5個軌道)、測量柱面計數(shù)Nc、同步標記讀錯誤計數(shù)esm、 格雷碼讀錯誤計數(shù)egc、差異p的積分值P (每個差異是根據(jù)脈沖信號獲 得的譯碼位置的最大值和最小值之差)、以及針對區(qū)0至v的各個偏移位 置計算的索引值v的積分值V (每個索引值v是譯碼波形的幅度的索引 值)。因此，根據(jù)圖7A、圖7B和圖8的流程圖測量了感興趣的區(qū)中的偏 移位置之后，MCU 36對測量軌道柱面計數(shù)Nc、同步標記讀錯誤計數(shù)esm、 格雷碼讀錯誤計數(shù)egc、位置差異p以及用于感興趣的區(qū)且針對感興趣的 區(qū)中的每個偏移位置的譯碼波形的幅度的索引值v，執(zhí)行相加，且使用相
加的處理結(jié)果更新所述表。
如上所述，根據(jù)圖7A、圖7B和圖8的流程圖，對伺服信息執(zhí)行測 量處理，且因此，獲得如圖11中所示的代表在各個偏移位置中獲得的伺 服信息的譯碼質(zhì)量的表。
伺服信息評估/選擇處理
現(xiàn)在將參照圖13至圖15描述根據(jù)通過參照圖7A至圖12描述的處 理獲得的測量結(jié)果評估伺服信息的質(zhì)量并隨后選擇多種類型的伺服信息 的中的一種伺服信息的處理。注意圖13和圖14是示出了選擇多種類型 的伺服信息中的一種伺服信息的處理的流程圖。圖15是示出了在參照圖 13和14描述的選擇多種類型的伺服信息中的一種伺服信息的處理中使用 的判定標志表的視圖。
在步驟S70，被包括在RAM38中的如圖15所示的判定標志表38-2 中的所有判定標志被初始化為0。注意，對于各條伺服信息(圖案0至u)， 判定標志表38-2包括關(guān)于同步標記錯誤因素、格雷碼錯誤因素、Pos因 素以及VGAS因素的判定標志。針對同步標記錯誤因素、格雷碼錯誤因 素和Pos因素，為被包括在各個區(qū)中的各個偏離位置分配判定標志。
在步驟S72， MCU 36計算圖11中所示的所有區(qū)的所有偏移位置的 同步標記讀錯誤計數(shù)esm的最小值Bsm，從相應的同步標記讀錯誤計數(shù) esm減去最小值Bsm，從而獲得值A(chǔ)Esm。然后，所有區(qū)中的所有偏離位 置的值A(chǔ)Esm與預定閾值Ssm相比較。根據(jù)所述比較，在所有的判定標 志中，與對應于大于閾值Ssm的值A(chǔ)Esm的區(qū)偏移位置相對應的判定標 志被變換為"l"。即，在考慮誤差的情況下使用相對值執(zhí)行評估。具體而 言，獲得最小值，同步標記錯誤數(shù)基于該最小值被轉(zhuǎn)換成特定值，且當 該特定值大于闕值時，判定標記變成代表低等級的"l"。
在步驟S74， MCU 36計算圖11中所示的所有區(qū)中的所有偏移位置 的格雷碼讀錯誤計數(shù)egc的最小值Bgc，從相應的格雷碼讀錯誤計數(shù)egc 中減去最小值Bgc，從而獲得值A(chǔ)Egc。然后，所有區(qū)中的所有偏移位置 的值A(chǔ)Egc與預定閾值Sgc相比較。根據(jù)所述比較，在所有判定標志中， 與對應于大于閾值Sgc的值A(chǔ)Egc的區(qū)的偏移位置相對應的判定標記變成
"1"。 g卩，使用相對值執(zhí)行評估。具體而言，獲得最小值，格雷碼錯誤數(shù) 基于該最小值被轉(zhuǎn)換成特定值，且當該特定值大于闕值時，判定標記變 成代表低等級的"l"。
在步驟S76， MCU 36計算圖11中所示的所有區(qū)中的所有偏移位置 的譯碼位置的積分值P的最小值Bp，從相應的譯碼位置積分值P中減去 最小值Bp，從而獲得值A(chǔ)P。然后，所有區(qū)中的所有偏移位置的值A(chǔ)P與 預定閾值Sp相比較。根據(jù)所述比較，在所有判定標記中，與對應于大于 閾值Sp的值A(chǔ)P的區(qū)的偏移位置相對應的判定標記變成"l"。 g卩，使用相 對值執(zhí)行評估。具體而言，獲得最小值，譯碼位置的積分值基于該最小 值被轉(zhuǎn)換成特定值，且當該特定值大于闕值時，判定標記變成代表低等
級的"r。
在步驟S78， MCU 36計算根據(jù)圖11中所示的各個區(qū)中的偏移位置 0的積分值(平均值)和對應于偏移位置1的積分值(平均值)之間的差 異獲得的值的絕對值A(chǔ)V。然后，在為包括u+l (本實施方式中，為3) 種類型的伺服信息的各個區(qū)獲得的絕對值A(chǔ)V中，獲得最大值A(chǔ)Vmax[O]、 最大值A(chǔ)Vmax[l]和最大值A(chǔ)Vmax[2]，它們是相應類型的伺服信息的最 大值。最大值A(chǔ)Vmax代表當執(zhí)行伺服軌道刻寫(STW)操作時產(chǎn)生的相 鄰伺服信息之間的偏離的影響程度。
在圖14的步驟S80中，從對應于所有判定標志都為"O"的同步標記 的最大值A(chǔ)Vmax中選擇最小值A(chǔ)Vmin。
在步驟S82，從三種類型的伺服信息的各最大值Vmax[u]中減去最小 值A(chǔ)Vmin，從而獲得特定值Vdiff[u]。然后，三種類型的伺服信息的各值 Vdiff均與閾值Sv相比較，且當判定出值Vdiff中的一個大于閾值Sv時， 與用于該三種類型的伺服信息中的相應一種類型伺服信息的該個值Vdiff 相對應的判定標志變成"l"。 g卩，根據(jù)使用偏離位置對中的幅度的差異獲 得的最大值判定相鄰伺服信息之間的偏離的影響程度，且最大值基于該 最小值被轉(zhuǎn)換成特定值，且當該特定值大于閾值時，判定標志變成代表 低等級的"l"。
在步驟S84，判定標志表38-2中的用于三種類型的伺服信息的判定
標志被轉(zhuǎn)換成其左邊為高位且其右邊為低位的十六進制數(shù)。MCU 36在三
種伺服信息中選擇具有轉(zhuǎn)換的十六進制數(shù)中的最小十六進制數(shù)的一種伺 服信息。在對應于三種類型的伺服信息中的該種伺服信息的同步標記的 那種位圖案被存儲在被包括在盤中的系統(tǒng)區(qū)域中之后，處理終止。
從圖15中所示的判定標志表38-2可以明顯看出，用于選擇三種類 型伺服信息中的一種伺服信息的最重要因素是成功讀取的同步標記數(shù)、 接著是成功讀取的格雷碼數(shù)、位置準確度以及幅度因子。如果使用絕對 值執(zhí)行選擇判定，可能不選擇任意類型的伺服信息，且因此，即使僅包 括在一個指定軌道中伺服信息的質(zhì)量差，也判定所有的伺服信息的質(zhì)量 差。因此，使用相對值執(zhí)行評估，使得三種類型的伺服信息其中一種被 選擇。如果三種類型的伺服信息中所選的一種伺服信息中的一條劣化， 僅包括該劣化的一條伺服信息的軌道被判定為不可用。
注意如果多種類型的伺服信息具有相等的最小十六進制值，則多種 類型的伺服信息其中具有最小圖案號的一種被選擇。
使用伺服信息的處理
如圖1中的步驟S16所述，在對應于最佳類型的伺服信息的一種同 步標記圖案被存儲在盤介質(zhì)10的系統(tǒng)區(qū)的情況下，當盤30在被裝運之 后首次啟用時，不讀取有關(guān)于與最佳類型的伺服信息對應的那種同步標 記圖案的信息。因此，不知道用于讀取最佳類型的伺服信息的那種同步 標記圖案。
因此，非易失性ROM包括提前存儲的列出了多種類型的同步標記 圖案的表。當各頭被裝載且同步標記圖案之一被讀取時，讀信道的同步 標記設置值被從列出了同步標記圖案的表中讀取的值依次替換，由此讀 取了最佳類型的伺服信息。
圖16A、圖16B和圖17是示出了根據(jù)本技術(shù)的實施方式的使用所選 的伺服信息的處理的流程圖。
在步驟S90，開始用于VCM電流供應的校準。術(shù)語"VCM電流供應" 表示下面的操作。當磁頭31不執(zhí)行讀/寫操作時，磁頭31停留在磁盤之 外的地點。當開始使用盤設備時，磁頭31從所述地點移動以被裝載到盤
介質(zhì)10上。這里，因為對應于最佳類型的伺服信息的那種同步標記圖案 仍未被讀取，所以不能對磁頭31執(zhí)行位置控制。因此，在預定電流被供
給到VCM33之后(VCM電流供應)，磁頭31從上述地點移動以被裝載 到盤介質(zhì)10。然后，讀電流被供應到磁頭31的讀元件31-1。從讀元件 31-1輸出的信號被供應到讀信道電路34。
在步驟92，在激活變量計時器之前，MCU 36在變量計時器中存儲 超時值。而且，MCU36指示讀信道電路34進入同步標記搜索模式。此 后，MCU 36將同步標記指定變量K初始化為"0"。
在步驟S94， MCU36將同步標記圖案SM[K]設置為同步標記設置 值(其中K表示同步標記指定變量)，且將同步標記設置值提供給讀信道 電路34。讀信道電路34根據(jù)同步標記搜索模式的指令和同步標記設置值 從讀元件31-1輸出的信號中搜索該種同步標記圖案之一。當檢測到該種 同步標記圖案時，讀信道電路34告知MCU 36檢測到該種同步標記圖案。 在MCU 36未接收任何通知的情況下，MCU 36判定沒有檢測到該種同步 標記圖案，且處理進行到步驟S96。另一方面，當收到檢測到了該種同步 標記圖案的通知時，MCU36判定在檢測到該種同步標記圖案之后的預定 期間內(nèi)，讀信道電路34是否已經(jīng)檢測對應于該種同步標記圖案的格雷碼。 當判定為否時，處理進行到步驟S96。
在步驟S96， MCU36使得同步標記指定變量K遞增1 (K-K+l)， 即，下一同步標記圖案被指定。此后，判定同步標記指定變量K是否等 于或大于最大值Kmax。當判定為肯定時，"O"被分配給同步標記指定變 量K，這是初始值。
在步驟S98， MCU36使用計時器判定時間是否已經(jīng)超時。因為當判 定為肯定時，超時值被設置到用于同步標記搜索模式的計時器，所以 MCU36進入錯誤終止操作。即，因為在預定的期間內(nèi)沒有檢測到同步標 記圖案，所以執(zhí)行錯誤終止操作。另一方面，當判定為否時，處理進行 到步驟S94，且搜索剩余的下一同步標記圖案。
當MCU 36判定在步驟S94中檢測到一種同步標記圖案之后的預定 期間內(nèi)讀信道電路34已經(jīng)檢測到對應于該種同步標記圖案的格雷碼時，處理進行到步驟SIOO，其中MCU 36指示讀信道電路34進入使用預定間 隔譯碼對應于該種同步標記圖案的伺服信息的模式。
在步驟S102，因為允許伺服信息被譯碼，所以MCU36通過SVC37 驅(qū)動VCM33，使得磁頭31定位于盤介質(zhì)10的系統(tǒng)區(qū)中(例如，內(nèi)圓周 側(cè))。MCU 36控制磁頭31以讀取系統(tǒng)區(qū)中的信息，且該信息被供給到 RAM 38。如上所述，因為對應于這些讀/寫頭的同步標記圖案被存儲在相 應的系統(tǒng)區(qū)，對應于這些讀/寫頭的同步標記圖案被存儲在RAM38中， 因此，當選擇讀/寫頭之一時，MCU36控制讀信道電路34進入其中使用 從RAM 38選擇的一種同步標記圖案判定同步標記設置值的模式。
這樣，用于這些讀/寫頭的同步標記圖案(所選的伺服信息)被存儲 在盤的系統(tǒng)區(qū)中。即使在用于讀取系統(tǒng)區(qū)之一的同步標記圖案未知的情 況下，當這些讀/寫頭中的各個讀/寫頭被裝載且一種同步標記圖案被讀取 時，讀信道的同步標記設置值依次地被從列出了同步標記圖案的表中讀 出的值替換，由此讀取最佳類型的伺服信息。
即使在使用多個頭的情況下，用于多個讀/寫頭的同步標記圖案由該 讀操作自動地設置，即，通過在讀/寫頭之一上執(zhí)行同步標記搜索操作能 夠獲得用于所有讀/寫頭的最佳同步標記圖案。
其他實施方式
在上述實施方式中，使用四種類型的因素評估伺服信息的質(zhì)量，所 述四種類型的因素為同步標記圖案、格雷碼、位置譯碼特性以及幅度特 性。然而，可以使用它們中的某一些評估質(zhì)量。例如，可以僅使用兩項， 即同步標記圖案和格雷碼，或可以僅使用三項，即同步標記圖案、格雷 碼和位置譯碼特性。而且，盡管在上述實施方式中，三種類型的伺服信 息被寫入到盤中，但兩種類型的伺服信息或四種或更多種類型的伺服信 息可以被寫入到盤中。類似地，盡管在上述實施方式中刻寫參數(shù)對應于 電流值，但刻寫參數(shù)可以對應于諸如頻率這樣的其他參數(shù)。
在上述實施方式中，使用被包括在盤設備中的MCU 36的固件程序 評估質(zhì)量。不過，與該盤設備相連的外部評估設備可用于測量和評估質(zhì) 量，且根據(jù)測量和評估的結(jié)果，MCU36可以選擇多種類型的伺服信息中
的一種伺服信息。而且，示波鏡可用于監(jiān)控幅度測量。
而且，盡管在上述實施方式中磁盤被作為盤介質(zhì)的示例，但可以采 用任意的使用其他類型的伺服信息的存儲介質(zhì)。用于向盤介質(zhì)磁性傳遞 伺服信息的方法或用于在盤介質(zhì)結(jié)合到盤設備之后刻寫伺服信息(設備 伺服軌道刻寫或自伺服刻寫)的方法可用作刻寫伺服信息的操作。
注意非易失性RAM可用于在其中存儲從多種存儲伺服信息中選出
的一種伺服信息。在這種情況下，參照圖16A、圖16B和圖17所述的同 步標記搜索處理被去除。
上面描述了本技術(shù)的實施方式。然而，本技術(shù)不限于此，且可以在 本技術(shù)的范圍內(nèi)做出各種修改。
權(quán)利要求
1.一種盤裝置，該盤裝置包括介質(zhì)，能夠存儲數(shù)據(jù)并包括多組伺服信息，每組所述伺服信息具有識別信息；讀/寫頭，用于向所述介質(zhì)寫入數(shù)據(jù)和從所述介質(zhì)讀取數(shù)據(jù)；致動器，用于支持所述讀/寫頭；以及控制器，基于相關(guān)的識別信息，參照從所述多組伺服信息中選出的一組伺服信息控制所述致動器，從而將所述讀/寫頭移動到所述介質(zhì)的目標位置。
2. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的盤裝置，其中所述控制器譯碼所述讀/寫 頭讀取的所述多組伺服信息并通過測量該多組伺服信息的譯碼質(zhì)量選擇 該多組伺服信息中的一組伺服信息。
3. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的盤裝置，其中所述控制器使用與所述介質(zhì) 中被寫入從所述多組伺服信息中選出的所述一組伺服信息的區(qū)域不同的 區(qū)域作為用戶數(shù)據(jù)區(qū)域。
4. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的盤裝置，其中所述控制器在執(zhí)行讀和寫操 作之前從所述讀/寫頭輸出的信號中檢測從所述多組伺服信息中選出的所 述一組伺服信息。
5. 根據(jù)權(quán)利要求2所述的盤裝置，其中所述控制器至少測量譯碼誤 碼率作為所述譯碼質(zhì)量。
6. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的盤裝置，其中所述控制器存儲從包括相同 格式和不同同步標記圖案的多組伺服信息中選出的一組伺服信息。
7. —種在盤介質(zhì)上存儲伺服信息的方法，該方法包括 在所述盤介質(zhì)上刻寫第一組伺服信息；由參照所述第一組伺服信息定位的讀/寫頭，向所述盤介質(zhì)寫入數(shù)據(jù) 或從所述盤介質(zhì)讀取數(shù)據(jù)；當使用所述第一組伺服信息時，判定讀寫特性； 在所述盤介質(zhì)上刻寫第二組伺服信息； 由參照所述第二組伺服信息定位的讀/寫頭，向所述盤介質(zhì)寫入數(shù)據(jù)或從所述盤介質(zhì)讀取數(shù)據(jù)；當使用所述第二組伺服信息時，判定讀寫特性；以及 基于所述讀寫特性，判定第一組伺服信息和第二組伺服信息中的某一組將被保留在所述盤介質(zhì)上。
8. 根據(jù)權(quán)利要求7所述的方法，其中所述第一組伺服信息和所述第 二組伺服信息具有相同的格式且基于不同的參數(shù)刻寫到所述盤介質(zhì)中， 且所述方法還包括譯碼所述第一組伺服信息和所述第二組伺服信息，測 量譯碼出的伺服信息的質(zhì)量，且其中所述判定基于對譯碼出的伺服信息 的測量質(zhì)量的評估做出判定。
9. 根據(jù)權(quán)利要求8所述的方法，所述方法還包括向盤介質(zhì)刻寫多組 伺服信息，該多組伺服信息中的每一組均具有不同的參數(shù)。
10. 根據(jù)權(quán)利要求8所述的方法，其中所述測量至少測量譯碼誤碼率。
11. 根據(jù)權(quán)利要求8所述的方法，其中所述測量至少測量譯碼誤碼 率和定位精確度。
12. 根據(jù)權(quán)利要求9所述的方法，其中所述刻寫基于不同電流刻寫 多組伺服信息。
13. 根據(jù)權(quán)利要求9所述的方法，其中所述刻寫基于不同參數(shù)刻寫 具有相同格式的多組伺服信息。
14. 根據(jù)權(quán)利要求ll所述的方法，其中所述判定依照對所述多組伺 服信息的質(zhì)量的評估的結(jié)果進行判定，且所述譯碼誤碼率是比定位精確 度更重要的因素。
15. 根據(jù)權(quán)利要求8所述的方法，其中所述判定基于對測得的所述 第一組伺服信息和所述第二組伺服信息的譯碼質(zhì)量的相對評估進行判 定。
16. —種能夠被讀/寫頭讀取的盤介質(zhì)，所述盤介質(zhì)包括 用于定位所述讀/寫頭的多種類型的伺服信息，使用不同的刻寫參數(shù)和相同的格式將所述多種類型的伺服信息中的各種類型的伺服信息寫入 到所述盤介質(zhì)上。
17. 根據(jù)權(quán)利要求16所述的盤介質(zhì)，其中所述多種類型伺服信息中的每一種分別具有同步標記圖案。
18. 根據(jù)權(quán)利要求16所述的盤介質(zhì)，其中所述多種類型的伺服信息中的每一種均至少具有前導碼、同步標記圖案、格雷碼和脈沖信號。
全文摘要
本發(fā)明涉及盤裝置和在盤介質(zhì)上存儲伺服信息的方法。根據(jù)本發(fā)明的一個方面，一種盤裝置包括介質(zhì)，能夠存儲數(shù)據(jù)并包括多組伺服信息，每組所述伺服信息具有識別信息；讀/寫頭，用于向該介質(zhì)寫入數(shù)據(jù)和從該介質(zhì)讀取數(shù)據(jù)；致動器，用于支持該讀/寫頭；以及控制器，基于相關(guān)的識別信息，參照所選的多組伺服信息之一控制該致動器，從而將該讀/寫頭移動到該介質(zhì)的目標位置。
文檔編號G11B5/596GK101364410SQ200810144359
公開日2009年2月11日 申請日期2008年7月28日 優(yōu)先權(quán)日2007年8月9日
發(fā)明者三井正明, 上村美津雄, 工藤文也 申請人:富士通株式會社