專利名稱：用于光學(xué)信息再現(xiàn)裝置的跟蹤裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種用于光學(xué)信息再現(xiàn)裝置的跟蹤裝置，該光學(xué)信息再現(xiàn) 裝置光學(xué)地讀取來自記錄介質(zhì)的信息。
背景技術(shù)：
近年來，用于光學(xué)地讀取來自諸如光盤(CD)和DVD的記錄介質(zhì)的 信息的光學(xué)信息再現(xiàn)裝置已得到經(jīng)常使用。在這些記錄介質(zhì)中，信息被記 錄在具有很小寬度的信息軌道上，且通常要求精確的跟蹤控制以再現(xiàn)來自 信息軌道的信息，需要檢測跟蹤誤差以執(zhí)行跟蹤控制，并且通常使用光學(xué) 手段來執(zhí)行所述檢測。存在幾種已知的用于光學(xué)檢測跟蹤誤差的方法。在 一種方法中，使用包括被劃分的光接收單元的光電檢測器。通過由每個光 接收單元檢測到的光輸出電信號，并且經(jīng)由輸出信號之間的相位差撿測出 跟蹤誤差。在下文中，將該方法稱為"相位差方法"。此外，還有已知的三 光束法，該方法中除了用于接收讀取信息的主光束的光電檢測器之外，還 使用用于接收一對檢測跟蹤誤差的子光束的光電檢測器來從信號之間的電 平差檢測出跟蹤誤差。
光學(xué)信息再現(xiàn)裝置的一個主要優(yōu)點(diǎn)是對目標(biāo)信息的訪問時間短。為了 利用這一優(yōu)點(diǎn)，在目標(biāo)信息軌道上迅速和穩(wěn)定地執(zhí)行跟蹤伺服是很重要的。
在下文中，將參照附圖描述用于上述常規(guī)的光學(xué)信息再現(xiàn)裝置的跟蹤 裝置的示例。
圖4示出了采用相位差方法的常規(guī)光學(xué)信息再現(xiàn)裝置的跟蹤裝置中的 跟蹤控制信號檢測器。在圖4中，附圖標(biāo)記l代表光電檢測器，2代表運(yùn)算 單元，4代表相位比較器，5代表低通濾波器，6代表比較器，7代表前置 放大器，8代表絕對值檢測器以及9代表電平檢測器。
在下文中，將描述圖4中所示的常規(guī)跟蹤控制信號檢測器的配置和操作。如圖4所示，光電檢測器1包括通過與信息軌道映射延伸的方向基本 平行的分界線和基本垂直于前述分界線的分界線而彼此分開的四個光接收 單元A、 B、 C和D。運(yùn)算單元2對這四個光接收單元的輸出進(jìn)行計(jì)算，使 得能夠檢測跟蹤相位差。因此，運(yùn)算單元2輸出至少一對運(yùn)算信號。相位 比較器4對該對運(yùn)算信號的相位進(jìn)行比較并且輸出跟蹤相位差信號(信號 J)。此外，低通濾波器5去除信號J中的波紋(ripple)分量并且輸出跟蹤 誤差信號。比較器6將所述跟蹤誤差信號與基準(zhǔn)電平進(jìn)行比較，并因此能 夠輸出表示光點(diǎn)已經(jīng)跨過信息軌道的跨過信號(cross signal) (JP S52-93222A， JP S57-181433A)。
絕對值檢測器8接收相位比較器4的輸出并且輸出跟蹤相位差絕對值 信號(信號K)。電平檢測器9對己經(jīng)變得大于預(yù)定值的信號K檢測預(yù)定的 次數(shù)或者更多次，并且輸出信號(所謂的偏離軌道信號)，即當(dāng)光點(diǎn)定位于 信息軌道時輸出"L"電平的信號，或者在光點(diǎn)定位于信息軌道之間時輸出 "H"電平的信號(JP2701322A)。除了 "偏離軌道信號"之外，還可以使 用其他術(shù)語來描述表示光點(diǎn)是否定位于信息軌道的信號。如上所述，在本 說明書中，將該信號稱為"偏離軌道信號"。
由光電檢測器1的輸出獲得信息再現(xiàn)信號并通過前置放大器7將其放 大為RF信號。
跨過信號用于對讀取信息的光點(diǎn)在訪問目標(biāo)信息軌道時跳過的軌道數(shù) 進(jìn)行計(jì)數(shù)，或者用于檢測在諸如暫停操作的假動作(trickplay)中跳過的軌 道。偏離軌道信號例如用于確定跟蹤伺服的穩(wěn)定性。
從跨過信號和偏離軌道信號之間的相位關(guān)系能夠檢查出方向信號，所 述方向信號表示光點(diǎn)在訪問目標(biāo)信息軌道時移動的方向。通過使用這一方 向信號，可以對能夠在短時間內(nèi)收斂跟蹤裝置的機(jī)械振動的跟蹤中斷設(shè)備 進(jìn)行操作。另外，如果使用跨過信號和偏離軌道信號來執(zhí)行波形整形以去 除邊緣噪聲，則能夠更精確地對跳過的軌道數(shù)進(jìn)行計(jì)數(shù)。

發(fā)明內(nèi)容
發(fā)明要解決的問題
然而，如上所述的常規(guī)配置具有下列問題由于偏離軌道信號是由跟蹤相位差絕對值信號(信號K)獲得的，所以如果由于例如產(chǎn)生光點(diǎn)偏差 而造成相鄰軌道的信息信號與正常信息信號混合時，即使在光點(diǎn)與信息軌 道有小的偏離的情況下跟蹤相位差信號(信號J)也會變得更大，并且跟蹤 相位差絕對值信號(信號K)也會變得更大，其中所述光點(diǎn)偏差是由記錄 介質(zhì)的翹曲、光學(xué)特性的偏差或者用作信息讀取手段的光拾取器的光軸傾 斜引起的。因此，如圖5所示，表示光點(diǎn)定位于信息軌道之間的"H"電平 的偏離軌道信號的占空比大大增加，而不能成功地檢測到信號。如果偏離 軌道信號的占空比不平衡并且錯誤地檢測到方向信號，則跟蹤裝置的操作 變得不穩(wěn)定。
在包括多層信息記錄表面以記錄更多信息的光盤，例如己經(jīng)在DVD中 實(shí)際使用的雙層光盤的情況下，通過光拾取器的聚焦致動器的移動來選擇 信息記錄表面中的一個，從而再現(xiàn)信息。然而，與上述情況類似，如果由 于聚焦致動器的移動造成光拾取器的光軸略微傾斜，則不能成功地獲得偏 離軌道信號。這會妨礙未來記錄介質(zhì)的層數(shù)的進(jìn)一步增加。
考慮到這些情況，本發(fā)明的目的在于提供一種用于光學(xué)信息再現(xiàn)裝置 的跟蹤裝置，其能夠穩(wěn)定地操作而不受記錄介質(zhì)的翹曲、光學(xué)特性的偏差 或者用作信息讀取手段的光拾取器的光軸傾斜的干擾。
解決問題的手段
為了實(shí)現(xiàn)上述目的，根據(jù)本發(fā)明的用于光學(xué)信息再現(xiàn)裝置的跟蹤裝置 包括下列部件光電檢測器，包括通過與記錄介質(zhì)的信息軌道的映射延伸 的方向基本平行的分界線和基本垂直于前述分界線的分界線而被劃分為至 少四個區(qū)域的光接收單元，在所述記錄介質(zhì)上光學(xué)地記錄有信息，其中會 聚在所述記錄介質(zhì)上的光點(diǎn)的遠(yuǎn)場圖案形成在所劃分的光接收單元的整個 區(qū)域上；運(yùn)算單元，用于接收所述光電探測器的輸出并且輸出至少一對運(yùn) 算信號，從而能夠檢測跟蹤相位差；相位比較器，用于檢測所述運(yùn)算單元 的輸出信號之間的相位差；絕對值檢測器，用于所述相位比較器的輸出信 號的絕對值；電平檢測器，用于通過檢測絕對值檢測器的輸出信號的過閾 值頻率變得大于預(yù)定值來生成表示光點(diǎn)的會聚位置是否偏離記錄介質(zhì)的信 息軌道的信號；靈敏度檢測器，用于通過觀測由所述電平檢測器輸出的信號來檢測和輸出所述電平檢測器的靈敏度；以及控制器，用于調(diào)整所述電 平檢測器的檢測條件，使得所述靈敏度檢測器的輸出為預(yù)定值。
發(fā)明效果
在本發(fā)明的光學(xué)信息再現(xiàn)裝置的跟蹤裝置中，靈敏度檢測器觀測電平 檢測器輸出的信號，并且控制器調(diào)整電平檢測器的檢測條件使得電平檢測 器的輸出信號最佳。因此，電平檢測器的輸出信號較少地受到記錄介質(zhì)的 翹曲、光學(xué)特性的偏差、或者設(shè)置于光學(xué)信息再現(xiàn)裝置中的光拾取器的光 軸傾斜的干擾。因此，可以顯著地改善能夠應(yīng)對記錄介質(zhì)的變化等的跟蹤 裝置的穩(wěn)定性。


圖1是具體示出在根據(jù)本發(fā)明第一實(shí)施例的光學(xué)信息再現(xiàn)裝置的跟蹤 裝置中用于檢測跟蹤控制信號的部分的功能配置的方框圖。
圖2是示出圖1中所示的方框的主要輸出信號的波形的信號波形圖。
圖3是具體示出在根據(jù)本發(fā)明第二實(shí)施例的光學(xué)信息再現(xiàn)裝置的跟蹤 裝置中用于檢測跟蹤控制信號的部分的功能配置的方框圖。
圖4是示出在常規(guī)光學(xué)信息再現(xiàn)裝置的跟蹤裝置中用于檢測跟蹤控制 信號的部分的功能配置的方框圖。
圖5是示出在常規(guī)跟蹤控制信號檢測器中諸如光軸傾斜的不利條件的 信號波形圖。
具體實(shí)施例方式
本發(fā)明的光學(xué)信息再現(xiàn)裝置的跟蹤裝置包括電平檢測器，其用于通過 檢測絕對值檢測器的輸出信號的過閾值頻率變得大于預(yù)定值來生成表示光 點(diǎn)的會聚位置是否偏離記錄介質(zhì)的信息軌道的信號；靈敏度檢測器，其用 于通過觀測由所述電平檢測器輸出的信號來檢測并輸出電平檢測器的靈敏 度；以及控制器，其用于調(diào)整電平檢測器的檢測條件，使得靈敏度檢測器 的輸出為預(yù)定值。利用這一配置，即使由于例如記錄介質(zhì)的翹曲、光學(xué)特 性的偏差、或者光拾取器的光軸傾斜造成絕對值檢測器的輸出信號變大，靈敏度檢測器也能觀測電平檢測器輸出的信號，并且控制器調(diào)整電平檢測 器的靈敏度，從而能夠優(yōu)化電平檢測器輸出的信號。結(jié)果，能夠顯著地改 善可以應(yīng)對記錄介質(zhì)的變化等的跟蹤裝置的穩(wěn)定性。
另外，由于還能夠降低針對光拾取器的光軸傾斜等的性能要求，所以 上述配置在降低跟蹤裝置的成本方面也很有效。此外，在記錄介質(zhì)包括多 層信息記錄表面時可以提高針對由于聚焦致動器的移動產(chǎn)生的光拾取器的 光軸傾斜的余地。
優(yōu)選地，本發(fā)明的光學(xué)信息再現(xiàn)裝置的跟蹤裝置還包括用于通過平滑 相位比較器的輸出信號來輸出跟蹤誤差信號的低通濾波器，以及用于檢測 在光點(diǎn)跨過信息軌道時其中跟蹤誤差信號的極性反相的周期的周期檢測器
(perioddetector),其中控制器調(diào)整并存儲電平檢測器的檢測條件，使得在 由周期檢測器檢測到的周期在預(yù)定范圍內(nèi)時靈敏度檢測器的輸出為預(yù)定 值。這一配置能夠防止利用靈敏度檢測器來檢測電平檢測器的靈敏度所花 的時間由于例如跨過信息軌道的光點(diǎn)的極低的頻率而變得過長。相反，它 還能夠防止利用靈敏度檢測器來檢測電平檢測器的靈敏度由于例如跨過信 息軌道的光點(diǎn)的極高頻率而變得不穩(wěn)定。
同樣優(yōu)選地，本發(fā)明的光學(xué)信息再現(xiàn)裝置的跟蹤裝置還包括用于通過 平滑相位比較器的輸出信號來輸出跟蹤誤差信號的低通濾波器，用于通過 將跟蹤誤差信號與預(yù)定基準(zhǔn)值進(jìn)行比較來生成并輸出表示光點(diǎn)已經(jīng)跨過信 息軌道的跨過信號的比較器，以及用于檢測在光點(diǎn)跨過信息軌道時其中跨 過信號的電平被切換的周期的周期檢測器，其中控制器調(diào)整并且存儲電平 檢測器的檢測條件，使得在由周期檢測器檢測到的周期在預(yù)定的范圍內(nèi)時 靈敏度檢測器的輸出為預(yù)定值。與上述配置一樣，該配置也能夠防止利用 靈敏度檢測器來檢測電平檢測器的靈敏度所花的時間由于例如跨過信息軌 道的光點(diǎn)的極低頻率而變得過長。相反，它還能夠防止利用靈敏度檢測器 來檢測電平檢測器的靈敏度由于例如跨過信息軌道的光點(diǎn)的極高頻率而變 得不穩(wěn)定。
在本發(fā)明的光學(xué)信息再現(xiàn)裝置的跟蹤裝置中，優(yōu)選地，靈敏度檢測器 檢測從電平檢測器輸出的信號的占空比，作為電平檢測器的靈敏度，并且 控制器調(diào)整電平檢測器的檢測條件，使得占空比為預(yù)定比。在這種情況下，優(yōu)選地調(diào)整電平檢測器的檢測條件，使得在電平檢測器輸出的信號的占空
比中，表示光點(diǎn)定位于信息軌道之間的"H"電平的長度短于表示光點(diǎn)定位 于信息軌道上的"L"電平的長度。更具體地說，優(yōu)選地設(shè)定電平檢測器的 檢測條件使得"H"電平的占空比大約為30%至45%。
在本發(fā)明的跟蹤裝置中，所述跟蹤裝置包括用于通過平滑相位比較器 的輸出信號來輸出跟蹤誤差信號的低通濾波器，以及通過將跟蹤誤差信號 與預(yù)定基準(zhǔn)值進(jìn)行比較來生成并輸出表示光點(diǎn)已經(jīng)跨過信息軌道的跨過信 號的比較器，如上所述，當(dāng)靈敏度檢測器檢測由電平檢測器輸出的信號的 占空比，作為電平檢測器的靈敏度，且控制器調(diào)整電平檢測器的檢測條件 使得所述占空比為預(yù)定比時，跨過信號和電平檢測器輸出的信號(所謂的 偏離軌道信號)之間的相位關(guān)系能夠有利地保持。因此，能夠更穩(wěn)定地檢 測到表示光點(diǎn)在訪問目標(biāo)信息軌道時移動方向的方向信號。這是因?yàn)槟軌?從跨過信號和所謂的偏離軌道信號之間的相位關(guān)系來確定方向信號。
優(yōu)選地，靈敏度檢測器檢測由電平檢測器輸出的信號的平均電壓，作 為電平檢測器的靈敏度，且控制器調(diào)整電平檢測器的檢測條件使得平均電 壓為預(yù)定電壓。
例如，在每次將記錄介質(zhì)插入光學(xué)信息再現(xiàn)裝置時控制器可以獲悉 (leam)、設(shè)定和存儲電平檢測器的檢測條件?；蛘?，在每次需要插入記錄 介質(zhì)時控制器可以設(shè)定電平檢測器的檢測條件。
在記錄介質(zhì)是所謂的具有多個信息記錄層的多層介質(zhì)時，在根據(jù)光拾 取器的聚焦致動器的移動選擇并再現(xiàn)信息記錄層中的一個的同時，由于聚 焦致動器的移動光拾取器的光軸可以略微傾斜。在這種情況下，因此優(yōu)選 地對于每個信息記錄層獲悉和設(shè)置電平檢測器的檢測條件。
電平檢測器可以包括所謂的用于從絕對值檢測器的輸出信號中檢測表 示光點(diǎn)的會聚位置是否偏離記錄介質(zhì)的信息軌道的信號(所謂的偏離軌道 信號)的檢測電路，且將檢測信號與由控制器設(shè)定為檢測條件的預(yù)定電平 (即偏離軌道檢測基準(zhǔn)信號)進(jìn)行比較。然而，如果檢測電路的時間常 數(shù)太大，則在光點(diǎn)的信息軌道跨過速度很快時不能檢測到偏離軌道信號。 相反，如果檢測電路的時間常數(shù)太小，則偏離軌道信號的邊緣噪聲會增加。 在最壞的情況下，如果檢測電路的時間常數(shù)太小，當(dāng)光點(diǎn)定位于信息軌道之間時應(yīng)該是"H"電平的偏離軌道信號可能是"L"電平。為了解決該問 題，還可以通過控制器來調(diào)整或者獲悉檢測電路的時間常數(shù)。
如果將所謂的施密特觸發(fā)器功能元件用來對檢測電路的輸出和由控制 器調(diào)整的偏離軌道檢測基準(zhǔn)信號進(jìn)行比較，則可以減少偏離軌道信號的邊 緣噪聲。另外，如果通過控制器來調(diào)整施密特觸發(fā)器功能元件的電平，則 可以進(jìn)一步減少偏離軌道信號的邊緣噪聲。
在下文中，將參照附圖描述本發(fā)明的光學(xué)信息再現(xiàn)裝置的跟蹤裝置的 具體實(shí)施例。
圖1具體示出在根據(jù)本發(fā)明第一實(shí)施例的光學(xué)信息再現(xiàn)裝置的跟蹤裝 置中檢測跟蹤控制信號的部分的功能配置。在圖1中，附圖標(biāo)記1代表光 電檢測器，2代表運(yùn)算單元，4代表相位比較器，5代表低通濾波器，6代 表比較器，7代表前置放大器，8代表絕對值檢測器，9代表電平檢測器， 10代表靈敏度檢測器以及11代表控制器。圖2示出圖1中所示的方框的主 要輸出信號的波形。
在下文中，將參照圖1和圖2來描述根據(jù)本發(fā)明的跟蹤裝置的操作。 采用相同的附圖標(biāo)記來表示功能與背景技術(shù)中描述的常規(guī)配置中的部件的 功能類似的部件，在此對其不做重復(fù)描述。
如圖1所示，光點(diǎn)檢測器1包括劃分為四個區(qū)域A至D的光接收單元。 由運(yùn)算單元2對每個區(qū)域A至D的輸出(電信號)進(jìn)行計(jì)算，從而提供一 對運(yùn)算信號。然后，相位比較器4對該對運(yùn)算信號的相位進(jìn)行比較并輸出 跟蹤相位差信號(信號J)。并且，低通濾波器5接收信號J并輸出跟蹤誤 差信號。通過比較器6可以由跟蹤誤差信號獲得跨過信號。
絕對值檢測器8接收相位比較器4的輸出，并輸出跟蹤相位差絕對值 信號(信號K)。電平檢測器9檢測信號K的電平具有大于由控制器11設(shè) 定的偏離軌道檢測基準(zhǔn)(圖2中所示OFTR檢測基準(zhǔn))情況下的頻率，且 在頻率不小于閾值時輸出表示光點(diǎn)定位于信息軌道之間的"H"電平的偏離 軌道信號。電平檢測器9在所述頻率不大于閾值時輸出表示光點(diǎn)定位于信 息軌道上的"L"電平的偏離軌道信號?？梢允褂盟^的檢測電路來形成電 平檢測器9。在圖2的底行中示出了電平檢測器9以上述方式檢測的偏離軌道信號的波形。
靈敏度檢測器10通過觀測偏離軌道信號來檢測電平檢測器9的靈敏 度，并且將檢測結(jié)果輸出至控制器11?？刂破?1設(shè)定電平檢測器9的檢測 條件(即圖2中所示的OFTR (偏離軌道)檢測基準(zhǔn))，使得靈敏度檢測 器10的輸出為預(yù)定值。同樣優(yōu)選地，控制器11還調(diào)整構(gòu)成電平檢測器9 的檢測電路的時間常數(shù)或者用于對檢測電路的輸出和OFTR檢測基準(zhǔn)信號 進(jìn)行比較的施密特觸發(fā)器功能元件的電平。
具體而言，靈敏度檢測器10例如檢測偏離軌道信號的占空比，作為電 平檢測器9的靈敏度?？赏ㄟ^微型計(jì)算機(jī)或者占空比檢測器來實(shí)現(xiàn)靈敏度 檢測器10?？刂破?1調(diào)整電平檢測器9的檢測條件，使得將由靈敏度檢測 器IO檢測的"H"電平的占空比落入預(yù)定的范圍。在這種情況下，優(yōu)選地 調(diào)整電平檢測器9的檢測條件使得"H"電平的占空比小于50%。更優(yōu)選地 調(diào)整電平檢測器9的檢測條件使得"H"電平的占空比為大約30%至45%。
除了上述檢測偏離軌道信號分別處于"H"電平和"L"電平的長度的 方法之外，還可以通過檢測偏離軌道信號的平均值來檢測占空比。也就是 說，靈敏度檢測器10可以將偏離軌道信號的積分值確定作為電平檢測器9 的靈敏度。在這種情況下，可以由積分電路來實(shí)現(xiàn)靈敏度檢測器10?？刂?器11設(shè)定電平檢測器9的靈敏度(目卩OFTR檢測基準(zhǔn)的電平、檢測電路 的時間常數(shù)或者施密特觸發(fā)器功能元件的電平)，使得由靈敏度檢測器10 檢測的積分值落入預(yù)定范圍(例如0.30至0.45，盡管所述積分值不限于此)。
圖3是示出根據(jù)本發(fā)明第二實(shí)施例的光學(xué)信息再現(xiàn)裝置的跟蹤裝置的 功能配置的方框圖。在圖3中，附圖標(biāo)記12代表周期檢測器，該周期檢測 器檢測在光點(diǎn)跨過信息軌道時其中由比較器6輸出的跨過信號的電平被切 換的周期。跨過信號表示光點(diǎn)已經(jīng)跨過信息軌道?？邕^信號由下述方式獲 得比較器6將由低通濾波器5輸出的跟蹤誤差信號與基準(zhǔn)電平進(jìn)行比較， 并輸出值為"0"或者"1"的比較結(jié)果。圖3示出了其中周期檢測器12檢 測跨過信號的電平的切換周期的配置的示例。然而，周期檢測器12可以檢 測跟蹤誤差信號的反相(reverse)周期。這是因?yàn)樵诠恻c(diǎn)跨過信息軌道時跟 蹤誤差信號的極性反相。如上所述，周期檢測器12或者檢測在光點(diǎn)跨過信息軌道時跨過信號的 電平被切換的周期，或者檢測在光點(diǎn)跨過信息軌道時跟蹤誤差信號的極性 反相的周期，并將所檢測的周期輸出至控制器11?？刂破?1調(diào)整電平檢測 器9的檢測條件，使得靈敏度檢測器10的輸出僅在由周期檢測器12檢測 到的周期的值在預(yù)定范圍內(nèi)時為預(yù)定值。控制器11優(yōu)選地獲悉電平檢測器 9的檢測條件的調(diào)整結(jié)果，并且僅在由周期檢測器12檢測到的周期的值在 預(yù)定范圍內(nèi)時將其存儲在內(nèi)部存儲器(未示出)中。
電平檢測器9的檢測條件由控制器11來設(shè)定，使得當(dāng)周期檢測器12 的輸出在預(yù)定的周期范圍內(nèi)時，即在跨過信息軌道的的光點(diǎn)的頻率在預(yù) 定范圍內(nèi)時靈敏度檢測器10的輸出為預(yù)定值，并因此將設(shè)定的檢測條件存 儲在內(nèi)部存儲器中。這能夠防止利用靈敏度檢測器10檢測電平檢測器9的 靈敏度所花的時間由于例如跨過信息軌道的光點(diǎn)的極低頻率而變得過長， 或者能夠防止利用靈敏度檢測器10檢測電平檢測器9的靈敏度所花的時間 由于例如跨過信息軌道的光點(diǎn)的極高頻率而變得不穩(wěn)定。
在本實(shí)施例中，光電檢測器l的光接收單元被劃分為4個區(qū)域。然而， 光接收單元可以被劃分為多于四個區(qū)域。每個部分，諸如絕對值檢測器8 和電平檢測器9的操作被描述為使用模擬信號。然而，沒有必要聲明即使 使用數(shù)字信號來執(zhí)行所述操作或者通過計(jì)算機(jī)軟件控制所述操作也是沒有 問題的。另外，本發(fā)明不限于用于檢測跟蹤誤差信號的方法、光電檢測器 的光接收單元的設(shè)置等等。
工業(yè)實(shí)用性
本發(fā)明在工業(yè)上可以用作從諸如CD、 DVD和BD的記錄介質(zhì)中光學(xué) 地讀取信息的光學(xué)信息記錄裝置的跟蹤裝置，盡管所述記錄介質(zhì)不限于此。
權(quán)利要求
1、一種用于光學(xué)信息再現(xiàn)裝置的跟蹤裝置，包括光電檢測器，包括通過與記錄介質(zhì)的信息軌道的映射延伸的方向基本平行的分界線和基本垂直于前述分界線的分界線而被劃分為至少四個區(qū)域的光接收單元，在所述記錄介質(zhì)上光學(xué)地記錄有信息，其中會聚在所述記錄介質(zhì)上的光點(diǎn)的遠(yuǎn)場圖案形成在所劃分的光接收單元的整個區(qū)域上；運(yùn)算單元，用于接收所述光電檢測器的輸出并且輸出至少一對運(yùn)算信號，從而能夠檢測跟蹤相位差；相位比較器，用于檢測所述運(yùn)算單元的輸出信號之間的相位差；絕對值檢測器，用于檢測所述相位比較器的輸出信號的絕對值；電平檢測器，用于通過檢測所述絕對值檢測器的輸出信號的過閾值頻率變得大于預(yù)定值來生成并輸出表示所述光點(diǎn)的會聚位置是否偏離所述記錄介質(zhì)的信息軌道的信號；靈敏度檢測器，用于通過觀測由所述電平檢測器輸出的信號來檢測并輸出所述電平檢測器的靈敏度；以及控制器，用于調(diào)整所述電平檢測器的檢測條件，使得所述靈敏度檢測器的輸出為預(yù)定值。
2、 根據(jù)權(quán)利要求1所述的用于光學(xué)信息再現(xiàn)裝置的跟蹤裝置，還包括: 低通濾波器，用于通過平滑所述相位比較器的所述輸出信號來輸出跟蹤誤差信號；以及周期檢測器，用于檢測在所述光點(diǎn)跨過信息軌道時所述跟蹤誤差信號 的極性反相的周期，其中所述控制器調(diào)整并存儲所述電平檢測器的所述檢測條件，使得在 由所述周期檢測器檢測的所述周期在預(yù)定范圍內(nèi)時，所述靈敏度檢測器的 所述輸出為預(yù)定值。
3、 根據(jù)權(quán)利要求1所述的用于光學(xué)信息再現(xiàn)裝置的跟蹤裝置，還包括-低通濾波器，用于通過平滑所述相位比較器的所述輸出信號來輸出跟蹤誤差信號；比較器，用于通過將所述跟蹤誤差信號與預(yù)定基準(zhǔn)值進(jìn)行比較來生成 并輸出表示所述光點(diǎn)已經(jīng)跨過信息軌道的跨過信號；以及周期檢測器，用于檢測在所述光點(diǎn)跨過信息軌道時所述跨過信號的電 平被切換的周期，其中所述控制器調(diào)整并存儲所述電平檢測器的所述檢測條件，使得在 由所述周期檢測器檢測的所述周期在預(yù)定范圍內(nèi)時所述靈敏度檢測器的所 述輸出為預(yù)定值。
4、 根據(jù)權(quán)利要求1至3中任一項(xiàng)所述的用于光學(xué)再現(xiàn)裝置的跟蹤裝置， 其中所述靈敏度檢測器檢測由所述電平檢測器輸出的所述信號的占空比，作為所述電平檢測器的所述靈敏度，并且所述控制器調(diào)整所述電平檢測器的所述檢測條件，使得所述占空比為 預(yù)定比。
5、 根據(jù)權(quán)利要求1至3中任一項(xiàng)所述的用于光學(xué)再現(xiàn)裝置的跟蹤裝置， 其中所述靈敏度檢測器檢測由所述電平檢測器輸出的所述信號的平均電壓，作為所述電平檢測器的所述靈敏度，并且所述控制器調(diào)整所述電平檢測器的所述檢測條件，使得所述平均電壓 為預(yù)定電壓。
全文摘要
一種用于光學(xué)信息再現(xiàn)裝置的跟蹤裝置包括下列部件光電檢測器(1)，其中會聚在記錄介質(zhì)上的光點(diǎn)的遠(yuǎn)場圖案形成在整個被劃分的光接收單元上；運(yùn)算單元(2)，用于由所述光電檢測器(1)的所述輸出中輸出至少一對運(yùn)算信號；相位比較器(4)，用于檢測所述運(yùn)算單元(2)的輸出信號之間的相位差；絕對值檢測器(8)，用于檢測所述相位比較器(4)的所述輸出信號的絕對值；電平檢測器(9)，用于通過對所述絕對值檢測器(8)的所述輸出信號變得大于預(yù)定值檢測預(yù)定次數(shù)或者更多次來生成表示所述光點(diǎn)的會聚位置是否偏離信息軌道的信號；靈敏度檢測器(10)，用于通過觀測所述電平檢測器(9)的所述輸出信號來檢測并輸出所述電平檢測器(9)的所述靈敏度；以及控制器(11)，用于調(diào)整所述電平檢測器(9)的所述檢測條件，使得所述靈敏度檢測器(10)的所述輸出為預(yù)定值。
文檔編號G11B7/09GK101536096SQ20078004250
公開日2009年9月16日 申請日期2007年11月16日 優(yōu)先權(quán)日2006年11月16日
發(fā)明者中村正義, 中田康夫, 西岡昭彥 申請人:松下電器產(chǎn)業(yè)株式會社