專利名稱：光盤記錄裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種針對可記錄的信息記錄介質(zhì)的光學(xué)信息的記錄 再現(xiàn)裝置。
背景技術(shù)：
在信息記錄介質(zhì)中，對信息、特別是數(shù)字信息進(jìn)行記錄再現(xiàn)的裝 置作為記錄再現(xiàn)大容量數(shù)據(jù)的手段得到了注目。其中，對于使用激光 來記錄數(shù)據(jù)的光學(xué)信息記錄介質(zhì)，在可記錄的光學(xué)信息記錄介質(zhì)中， 有僅可以記錄一次的追記型的光盤和改寫型的相變光盤等。它們都通 過向旋轉(zhuǎn)的盤照射半導(dǎo)體激光器的光束來使記錄膜加熱融解，從而進(jìn) 行向光盤的記錄。根據(jù)該光束強(qiáng)度的強(qiáng)弱，記錄膜的到達(dá)溫度以及冷 卻過程不同，引起記錄膜的變化。通過照射不會使記錄膜變化的再現(xiàn) 用的低光束強(qiáng)度，并根據(jù)從記錄膜的反射率的差異取得的反射波的強(qiáng) 度差，讀取所記錄的數(shù)據(jù)，從而進(jìn)行所記錄的數(shù)據(jù)的再現(xiàn)。
作為向光盤的數(shù)據(jù)的記錄方式，有標(biāo)記位置(mark position )記 錄方式(或者PPM方式)和標(biāo)記邊緣記錄方式(或者PWM方式)， 通常，標(biāo)記邊緣記錄方式一方可以提高信息記錄密度。
在該標(biāo)記邊緣記錄方式中，使標(biāo)記始端部分和標(biāo)記終端部分的位 置、記錄功率等變化來記錄預(yù)定的標(biāo)記。近年來，記錄時的速度得到 了高速化，并且存在各種材質(zhì)、制造商的差異、規(guī)格不同的記錄介質(zhì)， 為了應(yīng)對這些情況，要求根據(jù)要記錄的速度、或者考慮到所記錄的記 錄介質(zhì)的種類、記錄介質(zhì)的制造上的偏差、規(guī)格，對應(yīng)于記錄介質(zhì)來 進(jìn)行最佳的標(biāo)記的記錄位置^殳定。
上述標(biāo)記邊緣記錄方式在盤上將數(shù)據(jù)作為標(biāo)記來進(jìn)行標(biāo)記邊緣 記錄的情況下，對于預(yù)定的標(biāo)記，針對激光生成被稱為多脈沖的多個脈沖串、或沒有多個脈沖的被稱為非多脈沖等的寫策略，通過進(jìn)行該 寫策略的調(diào)整，來進(jìn)行最佳的記錄。在生成寫策略時，為了記錄預(yù)定 的標(biāo)記，設(shè)定寫策略的時間性位置、即相位，但為了高倍速化要求相 位設(shè)定的高分辨率。
為了實(shí)現(xiàn)實(shí)際的光盤記錄再現(xiàn)裝置，用于決定寫策略的記錄脈沖 條件被記錄在光盤記錄裝置或盤中，并且被預(yù)先設(shè)定成以針對每種記 錄介質(zhì)不同的特性參數(shù)來進(jìn)行記錄。但是，在特性有偏差的記錄介質(zhì) 盤和記錄裝置中，在預(yù)先決定的寫策略的設(shè)定時，考慮無法以足夠的 質(zhì)量進(jìn)行記錄的情況。
針對以上那樣的課題，在專利文獻(xiàn)l (或者專利文獻(xiàn)2)中，使 多個標(biāo)記前端脈沖條件、多個標(biāo)記后端脈沖條件變換，將分別獨(dú)立地 校正了各標(biāo)準(zhǔn)條件后的值設(shè)定為記錄再現(xiàn)裝置的記錄脈沖條件，以使 記錄再現(xiàn)了各自對應(yīng)的記錄圖案時的抖動成為容許值以下，來進(jìn)行數(shù) 據(jù)的記錄再現(xiàn)。
另外，在專利文獻(xiàn)2中公開了一種信息記錄介質(zhì)，其特征在于， 對于求出標(biāo)記始端部分和終端部分的最佳位置的方法，為了最佳記錄 本身的可靠性、縮短最佳位置的搜索時間、確立最佳方法，具有用于 記錄特定記錄裝置的固有信息的特定信息記錄區(qū)域。
專利文獻(xiàn)l:日本特開2000-200418號7>報
專利文獻(xiàn)2:日本特開2004-281046號7>凈艮
在提供可以進(jìn)行最佳記錄的信息記錄介質(zhì)、記錄再現(xiàn)裝置時，按 照所設(shè)定的那樣輸出的寫策略的精度是必要的。取決于進(jìn)行記錄的裝 置，與寫策略的時間、相位設(shè)定對應(yīng)的輸出有可能產(chǎn)生偏差。另外，
考慮與寫策略的設(shè)定對應(yīng)的相位輸出不同的情況等。在該情況下，以 往的方法有可能無法預(yù)料學(xué)習(xí)的收斂電平、學(xué)習(xí)精度的提高，無法求 出最佳的設(shè)定。
另外，在希望應(yīng)對某特定裝置的偏差時，需要與該特定裝置的輸 出特性對應(yīng)的學(xué)習(xí)算法，無法使用 一個學(xué)習(xí)算法來對應(yīng)于所有的裝 置。另外，在希望應(yīng)對所有裝置的偏差的情況下，求出最佳值的學(xué)習(xí)有時變得復(fù)雜而無法求出最佳設(shè)定。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明是為了解決上述課題而完成的，其目的在于提供一種光盤 記錄裝置，即使每種記錄裝置的寫策略的輸出特性不同，也可以對與 設(shè)定對應(yīng)的最佳寫策略的輸出進(jìn)行校正，進(jìn)行正確的輸出，由此可以 抑制每種裝置的偏差來進(jìn)行最佳的記錄。
為了解決上述課題，本發(fā)明的第1方面的光盤記錄裝置針對1 個記錄標(biāo)記，根據(jù)由比該記錄標(biāo)記更短的多個脈沖構(gòu)成的寫策略波形
來進(jìn)行記錄，其特征在于，具備寫策略生成電路，生成上述寫策略 波形；激光光源，出射激光；激光驅(qū)動電路，按照上述寫策略波形的 脈沖串來對上述激光光源進(jìn)行驅(qū)動；光檢測器，輸出從上述激光光源 出射的激光的光強(qiáng)度；激光功率控制電路，通過按照上述光檢測器所
電流量進(jìn)行控牽i，對上述激光光源的光強(qiáng)度進(jìn)-行控制；平均:化:路，
對從上述光檢測器輸出的標(biāo)記部的脈沖串的光強(qiáng)度信號進(jìn)行平均化， 并作為平均化電平輸出；采樣'保持電路，對上述標(biāo)記部中的上述平均 化電路的輸出進(jìn)行采樣.保持；電壓測定電路，將由上述采樣'保持電 路保持的模擬電平作為電壓值來進(jìn)行測定；以及相位設(shè)定重新排列電 路，將上述寫策略波形的一部分設(shè)定成以預(yù)定的周期重復(fù)相同形狀的 脈沖的多脈沖，固定上述多脈沖的一個脈沖邊緣的相位設(shè)定，依次變 更另 一個脈沖邊緣的相位設(shè)定，根據(jù)對上述標(biāo)記部的多脈沖串的光強(qiáng) 度信號進(jìn)行平均化而得到的上述平均化電平的測定值和其理想值，求 出實(shí)際輸出的時間軸的脈沖邊緣的相位誤差最小的最佳相位設(shè)定，變 更預(yù)先設(shè)定的相位設(shè)定。
另外，本發(fā)明的第2方面的光盤記錄裝置在第l方面記載的光盤 記錄裝置中，其特征在于，上述多脈沖的輸出周期是作為標(biāo)記.空白長 度的基本周期的1T，上述相位設(shè)定重新排列電路將多脈沖的脈沖邊
緣的相位設(shè)定從(rl) T變更到(r2) T ( rl表示0^rl￡l的范圍的實(shí)數(shù)，r2表示0Sr2^1的范圍的實(shí)數(shù)，且rl<r2 ),從而使上述多脈沖 的占空比從(rlx100) %變化到(r2xl00) %，上述平均化電路對與 上述相位設(shè)定中的每一個對應(yīng)的上述平均化電平進(jìn)行測定。
另外，本發(fā)明的光盤記錄裝置在第2方面記載的光盤記錄裝置 中，其特征在于，上述相位設(shè)定重新排列電路將上述(rl)和上述(r2) 設(shè)定為rl=0、 r2 = l，使上述多脈沖的脈沖邊緣的相位設(shè)定從OT變 更到1T，從而使上述多脈沖的占空比從0%變化到100%，上述平均 化電路對所有與各個上述相位設(shè)定對應(yīng)的上述平均電平進(jìn)行測定。
另外，本發(fā)明的第4方面的光盤記錄裝置在第1方面記載的光盤 記錄裝置中，其特征在于，上述多脈沖的輸出周期是作為標(biāo)記'空白長 度的基本周期的1T的2倍的2T，上述相位設(shè)定重新排列電路將上述 多脈沖的脈沖邊緣的相位設(shè)定從(r3) T變更到(r3 + l) T ( r3表示 0￡r3^1的范圍的實(shí)數(shù))，從而使上述多脈沖的占空比從(r3+2xl00) %變化到((r3 + l) +2x100) %，上述平均化電路對與各個上述相 位設(shè)定對應(yīng)的上述平均化電平進(jìn)行測定。
另外，本發(fā)明的笫5方面的光盤記錄裝置在第4方面記載的光盤 記錄裝置中，其特征在于，上述相位設(shè)定重新排列電路將上述(rl) 設(shè)定為r3-0.5，將多脈沖的脈沖邊緣的相位設(shè)定從0.5T變更到1.5T， 從而使多脈沖的占空比從25%變化到75%,上述平均化電路對所有 與各個上述相位設(shè)定對應(yīng)的平均電平進(jìn)行測定。
另外，本發(fā)明的第6方面的光盤記錄裝置在第1方面記載的光盤 記錄裝置中，其特征在于，上述相位設(shè)定重新排列電路在連結(jié)相位設(shè) 定最小的多脈沖的占空比為(xl) %時的平均化電平(yl)和相位設(shè) 定最大的多脈沖的占空比為(x2) %時的平均化電平(y2)的直線的 斜率(y2-yl) + (x2-xl)、截距yl中進(jìn)行插值來求出上述理想值， 將該理想值與針對各相位設(shè)定中的每一個得到的多脈沖串的平均化 電平的測定值中的每一個進(jìn)行比較，將與上述各測定值中取最接近于 上述理想值的值的測定值對應(yīng)的相位設(shè)定設(shè)為上述最佳相位設(shè)定。
另外，本發(fā)明的第7方面的光盤記錄裝置在第1方面記載的光盤記錄裝置中，其特征在于，具備切換電路，該切換電路在上述光檢測 電路的輸出和與該光盤記錄裝置連接且輸出與上述寫策略波形等同 的波形信號的標(biāo)準(zhǔn)信號發(fā)生裝置的輸出之間，切換向上述平均化電路 的輸出，上述相位設(shè)定重新排列電路將在上述切換電路選擇上述標(biāo)準(zhǔn) 信號發(fā)生裝置的輸出的情況下得到的上述平均化電平作為上述理想 值，對該理想值和在上述切換電路選擇了上述光檢測電路的輸出的情 況下得到的針對各相位設(shè)定中的每一個得到的多脈沖串的平均化電 平的測定值進(jìn)行比較，將與上述各測定值中取最接近于上述理想值的 值的測定值對應(yīng)的相位設(shè)定設(shè)為上述最佳相位設(shè)定。
另外，本發(fā)明的第8方面的光盤記錄裝置在第6或7方面記載的 光盤記錄裝置中，其特征在于，具備判定電路，該判定電路計算出上 述各測定值與上述理想值的誤差，在該誤差大的情況下，將該光盤記 錄裝置判定為不良品。
另外，本發(fā)明的第9方面的光盤記錄裝置在第1方面記載的光盤 記錄裝置中，其特征在于，上述相位設(shè)定重新排列電路在與上述多脈 沖的占空比的時間寬度對應(yīng)的電壓值的測定困難的相位設(shè)定中，不進(jìn) 行上述最佳相位設(shè)定的計算。
本發(fā)明的第10方面的光盤記錄裝置針對1個記錄標(biāo)記，利用由 1個塊脈沖(block pulse)構(gòu)成的寫策略來進(jìn)行記錄，其特征在于， 具備寫策略生成電路，生成上述寫策略波形；激光光源，出射激光； 激光驅(qū)動電路，按照上述寫策略波形的脈沖串來對上述激光光源進(jìn)行 驅(qū)動；光檢測器，輸出從上述激光光源出射的激光的光強(qiáng)度；激光功 率控制電路，通過按照上述光檢測器所輸出的光強(qiáng)度信號來對從上述 激光驅(qū)動電路向上述激光光源供給的電流量進(jìn)行控制，對上述激光光
源的光強(qiáng)度進(jìn)行控制；平均化電路，對從上述光檢測器輸出的標(biāo)記部 的脈沖串的光強(qiáng)度信號進(jìn)行平均化，并作為平均化電平輸出；采樣'保 持電路，對上述標(biāo)記部中的上述平均化電路的輸出進(jìn)行采樣'保持；電 壓測定電路，將由上述采樣.保持電路保持的模擬電平作為電壓值來進(jìn) 行測定；以及相位設(shè)定重新排列電路，將上述寫策略波形的一部分設(shè)定成以預(yù)定的周期重復(fù)相同形狀的脈沖的塊脈沖，固定上述塊脈沖的 一個脈沖邊緣的相位設(shè)定，依次變更另一個脈沖邊緣的相位設(shè)定，固 定上述多脈沖的一個脈沖邊緣的相位設(shè)定，依次變更另 一個脈沖邊緣 的相位設(shè)定，根據(jù)對上述標(biāo)記部的多脈沖串的光強(qiáng)度信號進(jìn)行平均化 而得到的上述平均化電平的測定值和其理想值，求出實(shí)際輸出的時間 軸的脈沖邊緣的相位誤差最小的上述相位設(shè)定，變更預(yù)先設(shè)定的相位 設(shè)定。
另外，本發(fā)明的第11方面的光盤記錄裝置在第1方面記載的光
盤記錄裝置中，其特征在于，還具備保持控制電路，停止基于上述
激光功率控制電路的激光控制；以及釆樣位置設(shè)定電路，使上述采 樣.保持電路中的上述平均化電平的釆樣位置向預(yù)定的位置移動，上述
激光功率控制電路根據(jù)上述電壓測定電路的輸出，對上述激光光源的 光強(qiáng)度進(jìn)行控制，在上述激光功率控制電路進(jìn)行激光控制的情況下， 上述釆樣位置設(shè)定電路使上述采樣位置向上述標(biāo)記部的大脈沖(top pulse )部移動，在上述相位設(shè)定重新排列電路進(jìn)行上述相位設(shè)定的變 更的情況下，上述采樣位置設(shè)定電路使上述采樣位置向上述標(biāo)記部的 多脈沖部移動，上述保持控制電路對激光控制進(jìn)行保持。
另外，本發(fā)明的第12方面的光盤記錄裝置在第1或10方面記載 的光盤記錄裝置中，其特征在于，具備電壓增益放大器，該電壓增益 放大器任意地對上述采樣保持電路的輸出信號的電壓電平進(jìn)行控制。
另外，本發(fā)明的第13方面的光盤記錄裝置在第1或10方面記載 的光盤記錄裝置中，其特征在于，上述激光功率控制電路變更激光出 射功率電平來進(jìn)行多次激光功率控制，并利用激光功率控制的精度最
高的激光功率，對上述激光光源的光強(qiáng)度進(jìn)行控制。
另外，本發(fā)明的第14方面的光盤記錄裝置在第1或IO方面記栽 的光盤記錄裝置中，其特征在于，在向光盤的聚焦偏離期間，上述相 位設(shè)定重新排列電路依次變更上述相位設(shè)定，上述平均化電路針對各 相位設(shè)定中的每一個對上述標(biāo)記部的多脈沖串的光強(qiáng)度信號進(jìn)行平 均化，并對上述平均化電平進(jìn)行測定。另外，本發(fā)明的第15方面的光盤記錄裝置在第l或IO方面記載 的光盤記錄裝置中，其特征在于，上述平均化電路對從上述寫策略生 成電路輸出的上述寫策略波形的脈沖信號直接進(jìn)行平均化，并作為上 述平均化電平輸出。
另外，本發(fā)明的第16方面的光盤記錄裝置在第15方面記栽的光 盤記錄裝置中，其特征在于，具備切換電路，該切換電路在上述光檢 測器的輸出和上述寫策略生成電路的輸出之間切換向上述平均化電 路的輸出。
另外，本發(fā)明的第17方面的光盤記錄裝置在第6或7方面記載 的光盤記錄裝置中，其特征在于，具備占空比校正電路，該占空比校 正電路根據(jù)上述理想值和上述測定值，對上述多脈沖的占空比的設(shè)定 進(jìn)行校正，上述激光功率控制電路根據(jù)上述電壓測定電路的輸出和上 述校正后的占空比，進(jìn)行峰值功率換算計算。
另外，本發(fā)明的第18方面的光盤記錄裝置在第1或IO方面記載 的光盤記錄裝置中，其特征在于，具備非易失性存儲器，該非易失性 存儲器保持由上述相位設(shè)定重新排列電路計算出的校正參數(shù)的值。
根據(jù)本發(fā)明的第1方面的光盤記錄裝置，針對1個記錄標(biāo)記，根 據(jù)由比該記錄標(biāo)記更短的多個脈沖構(gòu)成的寫策略波形來進(jìn)行記錄，其 特征在于，具備寫策略生成電路，生成上述寫策略波形；激光光源， 出射激光；激光驅(qū)動電路，按照上述寫策略波形的脈沖串來對上述激 光光源進(jìn)行驅(qū)動；光檢測器，輸出從上述激光光源出射的激光的光強(qiáng) 度；激光功率控制電路，通過按照上述光檢測器所輸出的光強(qiáng)度信號 來對從上述激光驅(qū)動電路向上述激光光源供給的電流量進(jìn)行控制，對 上述激光光源的光強(qiáng)度進(jìn)行控制；平均化電路，對從上述光檢測器輸 出的標(biāo)記部的脈沖串的光強(qiáng)度信號進(jìn)行平均化，并作為平均化電平輸 出；釆樣.保持電路，對上迷標(biāo)記部中的上述平均化電路的輸出進(jìn)行采 樣-保持；電壓測定電路，將由上述采樣'保持電路保持的模擬電平作 為電壓值來進(jìn)行測定；以及相位設(shè)定重新排列電路，將上述寫策略波 形的一部分設(shè)定成以預(yù)定的周期重復(fù)相同形狀的脈沖的多脈沖，固定上述多脈沖的一個脈沖邊緣的相位設(shè)定，依次變更另一個脈沖邊緣的 相位設(shè)定，根據(jù)對上述標(biāo)記部的多脈沖串的光強(qiáng)度信號進(jìn)行平均化而 得到的上述平均化電平的測定值和其理想值，求出實(shí)際輸出的時間軸 的脈沖邊緣的相位誤差最小的最佳相位設(shè)定，變更預(yù)先設(shè)定的相位設(shè)
定，所以可以利用電壓電平來對實(shí)際輸出的寫策略的相位^:定進(jìn)行測 定，在測定值與理想值的誤差大的情況下，可以校正成該誤差最小的 相位設(shè)定。
另外，根據(jù)本發(fā)明的第2方面的光盤記錄裝置，在第i方面記載 的光盤記錄裝置中，上述多脈沖的輸出周期是作為標(biāo)記.空白長度的基 本周期的1T，上述相位設(shè)定重新排列電路將多脈沖的脈沖邊緣的相
位設(shè)定從(rl) T變更到(r2) T ( rl表示O^rl^l的范圍的實(shí)數(shù)，r2 表示092^1的范圍的實(shí)數(shù)，且rKr2)，從而使上述多脈沖的占空比 從(rlx100) %變化到(r2xl00) %，上述平均化電路對與上述相位 設(shè)定中的每一個對應(yīng)的上述平均化電平進(jìn)行測定，所以可以以最小分 辨率對所有作為基本周期的1T進(jìn)行測定，在測定值和理想值的誤差
大的情況下，可以校正成該誤差最小的相位設(shè)定。
另外，根據(jù)本發(fā)明的第3方面的光盤記錄裝置，在第2方面記載 的光盤記錄裝置中，上述相位設(shè)定重新排列電路將上述(rl)和上迷 (r2)設(shè)定為rl-0、 r2 = l，使上述多脈沖的脈沖邊緣的相位設(shè)定從 OT變更到1T，從而使上述多脈沖的占空比從0%變化到100%,上述 平均化電路對所有與各個上述相位設(shè)定對應(yīng)的上述平均電平進(jìn)行測 定，所以可以以最小分辨率對所有作為基本周期的1T進(jìn)行測定，在 測定值和理想值的誤差大的情況下，可以校正成該誤差成為最小的相 位設(shè)定。
另外，根據(jù)本發(fā)明的第4方面的光盤記錄裝置，在第l方面記載 的光盤記錄裝置中，上述多脈沖的輸出周期是作為標(biāo)記'空白長度的基 本周期的1T的2倍的2T，上述相位設(shè)定重新排列電路將上述多脈沖 的脈沖邊緣的相位設(shè)定從(r3 ) T變更到(r3 + 1) T ( r3表示(^r"l 的范圍的實(shí)數(shù))，從而使上述多脈沖的占空比從(r3+2xl00) %變化到((r3 + l) +2x100) %，上述平均化電路對與各個上述相位設(shè)定 對應(yīng)的上述平均化電平進(jìn)行測定，所以即使伴隨記錄速度的高倍速化 而在占空為0%或100%附近的設(shè)定附近，激光輸出特性的上升沿特 性、下降沿特性惡化，在測定值和理想值的誤差大的情況下，也可以 校正成該誤差成為最小的相位設(shè)定。
另外，根據(jù)本發(fā)明的第5方面的光盤記錄裝置，在第4方面記載 的光盤記錄裝置中，上述相位設(shè)定重新排列電路將上述(rl)設(shè)定為 r3-0.5,將多脈沖的脈沖邊緣的相位設(shè)定從0.5T變更到1.5T,從而 使多脈沖的占空比從25%變化到75%，上迷平均化電路對所有與各 個上述相位設(shè)定對應(yīng)的平均電平進(jìn)行測定，所以即使伴隨記錄速度的 高倍速化而在占空為0%或100%附近的設(shè)定附近，激光輸出特性的 上升沿特性、下降沿特性惡化，也可以在占空比為25%到75%的范 圍內(nèi)，以最小分辨率對所有作為基本周期的1T進(jìn)行測定，在測定值 和理想值的誤差大的情況下，可以校正成該誤差成為最小的相位設(shè) 定。
根據(jù)本發(fā)明的第6方面的光盤記錄裝置，在第1方面記載的光盤 記錄裝置中，上述相位設(shè)定重新排列電路在連結(jié)相位設(shè)定最小的多脈 沖的占空比為(xl) %時的平均化電平(yl)和相位設(shè)定最大的多脈 沖的占空比為(x2) %時的平均化電平(y2)的直線的斜率(y2-yl) + (x2-xl)、截距yl中進(jìn)行插值來求出上述理想值，將該理想值與 針對各相位設(shè)定中的每 一 個得到的多脈沖串的平均化電平的測定值 中的每一個進(jìn)行比較，將與上述各測定值中取最接近于上述理想值的 值的測定值對應(yīng)的相位設(shè)定設(shè)為上述最佳相位設(shè)定，所以可以利用作 為基本周期的1T的最開始和接下來的1T的最開始的2個點(diǎn)來進(jìn)行直 線近似，可以相對地以1T的最小分辨率對所有的相位設(shè)定進(jìn)行校正。
另外，根據(jù)本發(fā)明的第7方面的光盤記錄裝置，在第1方面記載 的光盤記錄裝置中，具備切換電路，該切換電路在上述光檢測電路的 輸出和與該光盤記錄裝置連接且輸出與上述寫策略波形等同的波形 信號的標(biāo)準(zhǔn)信號發(fā)生裝置的輸出之間，切換向上述平均化電路的輸出，上述相位設(shè)定重新排列電路將在上述切換電路選擇上述標(biāo)準(zhǔn)信號 發(fā)生裝置的輸出的情況下得到的上述平均化電平作為上述理想值，對 該理想值和在上述切換電路選擇了上迷光檢測電路的輸出的情況下 得到的針對各相位設(shè)定中的每一個得到的多脈沖串的平均化電平的 測定值進(jìn)行比較，將與上述各測定值中取最接近于上述理想值的值的 測定值對應(yīng)的相位設(shè)定設(shè)為上述最佳相位設(shè)定，所以可以校正進(jìn)行平 均化電平的測定的檢測系統(tǒng)的輸出，可以進(jìn)行更準(zhǔn)確的相位設(shè)定的校 正。
另外，根據(jù)本發(fā)明的第8方面的光盤記錄裝置，在第6或7方面 記載的光盤記錄裝置中，具備判定電路，該判定電路計算出上述各測 定值與上述理想值的誤差，在該誤差大的情況下，將該光盤記錄裝置 判定為不良品，所以可以進(jìn)行寫策略的異常檢測或記錄裝置的不良品 檢測。
另外，根據(jù)本發(fā)明的第9方面的光盤記錄裝置，在第1方面記栽 的光盤記錄裝置中，上述相位設(shè)定重新排列電路在與上述多脈沖的占 空比的時間寬度對應(yīng)的電壓值的測定困難的相位設(shè)定中，不進(jìn)行上述 最佳相位設(shè)定的計算，所以不會進(jìn)行與本來的設(shè)定完全不同的相位設(shè) 定，不會產(chǎn)生異常的輸出。
另外，根據(jù)本發(fā)明的第10方面的光盤記錄裝置，針對l個記錄 標(biāo)記，利用由l個塊脈沖構(gòu)成的寫策略來進(jìn)行記錄，其特征在于，具 備寫策略生成電路，生成上述寫策略波形；激光光源，出射激光； 激光驅(qū)動電路，按照上述寫策略波形的脈沖串來對上述激光光源進(jìn)行 驅(qū)動；光檢測器，輸出從上述激光光源出射的激光的光強(qiáng)度；激光功
率控制電路，通過按照上述光檢測器所輸出的光強(qiáng)度信號來對從上述 激光驅(qū)動電路向上述激光光源供給的電流量進(jìn)行控制，對上述激光光
源的光強(qiáng)度進(jìn)行控制；平均化電路，對從上述光檢測器輸出的標(biāo)記部 的脈沖串的光強(qiáng)度信號進(jìn)行平均化，并作為平均化電平輸出；采樣'保 持電路，對上述標(biāo)記部中的上述平均化電路的輸出進(jìn)行采樣'保持；電 壓測定電路，將由上述采樣.保持電路保持的模擬電平作為電壓值來進(jìn)行測定；以及相位設(shè)定重新排列電路，將上述寫策略波形的一部分詔: 定成以預(yù)定的周期重復(fù)相同形狀的脈沖的塊脈沖，固定上述塊脈沖的 一個脈沖邊緣的相位設(shè)定，依次變更另一個脈沖邊緣的相位設(shè)定，固 定上述多脈沖的一個脈沖邊緣的相位設(shè)定，依次變更另一個脈沖邊緣 的相位設(shè)定，根據(jù)對上述標(biāo)記部的多脈沖串的光強(qiáng)度信號進(jìn)行平均化 而得到的上述平均化電平的測定值和其理想值，求出實(shí)際輸出的時間 軸的脈沖邊緣的相位誤差最小的上述相位設(shè)定，變更預(yù)先設(shè)定的相位 設(shè)定，所以即使在作為寫策略的最簡單的輸出波形的塊脈沖中，也可 以利用電壓電平對與相位設(shè)定對應(yīng)的時間軸進(jìn)行測定，即使在伴隨高 倍速化而使多脈沖的輸出變得困難的情況下，也可以進(jìn)行相位設(shè)定的 校正。
另外，根據(jù)本發(fā)明的第ll方面的光盤記錄裝置，在第1方面記 載的光盤記錄裝置中，還具備保持控制電路，停止基于上述激光功 率控制電路的激光控制；以及采樣位置設(shè)定電路，使上述采樣'保持電 路中的上述平均化電平的采樣位置向預(yù)定的位置移動，上述激光功率 控制電路根據(jù)上述電壓測定電路的輸出，對上述激光光源的光強(qiáng)度進(jìn) 行控制，在上述激光功率控制電路進(jìn)行激光控制的情況下，上述采樣 位置設(shè)定電路使上述釆樣位置向上述標(biāo)記部的大脈沖部移動，在上述 相位設(shè)定重新排列電路進(jìn)行上述相位設(shè)定的變更的情況下，上述采樣 位置設(shè)定電路使上述采樣位置向上述標(biāo)記部的多脈沖部移動，上述保 持控制電路對激光控制進(jìn)行保持，所以可以共用寫策略用的相位誤差 檢測系統(tǒng)和用于激光控制的相位誤差檢測系統(tǒng)，從而可以進(jìn)行電路的 簡化。
另外，根據(jù)本發(fā)明的第12方面的光盤記錄裝置，在第1或10 方面記栽的光盤記錄裝置中，具備電壓增益放大器，該電壓增益放大 器任意地對上述釆樣保持電路的輸出信號的電壓電平進(jìn)行控制，所以 可以通過設(shè)定最佳的范圍來提高S/N比。
另外，根據(jù)本發(fā)明的第13方面的光盤記錄裝置，在第1或10 方面記載的光盤記錄裝置中，上述激光功率控制電路變更激光出射功率電平來進(jìn)行多次激光功率控制，并利用激光功率控制的精度最高的 激光功率，對上述激光光源的光強(qiáng)度進(jìn)行控制，所以可以通過設(shè)定最
佳的激光功率來提高S/N比。
另外，根據(jù)本發(fā)明的第14方面的光盤記錄裝置，在第1或10 方面記載的光盤記錄裝置中，在向光盤的聚焦偏離期間，上述相位設(shè) 定重新排列電路依次變更上述相位設(shè)定，上述平均化電路針對各相位 設(shè)定中的每一個對上述標(biāo)記部的多脈沖串的光強(qiáng)度信號進(jìn)行平均化 并對上述平均化電平進(jìn)行測定，所以可以在光盤記錄裝置的記錄動作 中，不進(jìn)行向記錄介質(zhì)的記錄，而是確認(rèn)是否輸出了所設(shè)定的寫策略 的校正、以及所設(shè)定的寫策略。
另外，根據(jù)本發(fā)明的第15方面的光盤記錄裝置，在第1或10 方面記載的光盤記錄裝置中，上述平均化電路對從上述寫策略生成電 路輸出的上述寫策略波形的脈沖信號直接進(jìn)行平均化，并作為上述平 均化電平輸出，所以可以將寫策略的時間信號直接轉(zhuǎn)換成電壓信號， 即使在與激光的控制無關(guān)地停止了激光的出射的狀態(tài)下，也可以對寫 策略的相位設(shè)定進(jìn)行校正。
另外，根據(jù)本發(fā)明的第16方面的光盤記錄裝置，在第"方面記 載的光盤記錄裝置中，具備切換電路，該切換電路在上述光檢測器的 輸出和上述寫策略生成電路的輸出之間切換向上述平均化電路的輸 出，所以可以對寫策略的時間信號和激光出射的時間信號進(jìn)行比較。
另外，根據(jù)本發(fā)明的第17方面的光盤記錄裝置，在第6或7方 面記栽的光盤記錄裝置中，具備占空比校正電路，該占空比校正電路 根據(jù)上述理想值和上述測定值，對上述多脈沖的占空比的設(shè)定進(jìn)行校 正，上述激光功率控制電路根據(jù)上述電壓測定電路的輸出和上述校正 后的占空比，進(jìn)行峰值功率換算計算，所以可以進(jìn)行多脈沖的激光控 制用的功率校正。
另外，根據(jù)本發(fā)明的第18方面的光盤記錄裝置，在第1或10 方面記載的光盤記錄裝置中，具備非易失性存儲器，該非易失性存儲 器保持由上述相位設(shè)定重新排列電路計算出的校正參數(shù)的值，所以通過預(yù)先在工序調(diào)整中求出校正值并使用該保持的校正值，可以縮短記 錄裝置的起動。


圖1是實(shí)施方式1的光盤記錄裝置的框圖。
圖2是在實(shí)施方式1的光盤記錄裝置中，多脈沖的相位設(shè)定Tmp =0.51且占空比為50%時的信號波形圖。
圖3是在實(shí)施方式1的光盤記錄裝置中，多脈沖的相位設(shè)定Tmp =0且占空比為0%時的信號波形圖。
圖4是在實(shí)施方式1的光盤記錄裝置中，多脈沖的相位設(shè)定Tmp -IT且占空比為100%時的信號波形圖。
圖5是示出1T多脈沖的寬度設(shè)定和測定電平的關(guān)系的圖。
圖6是示出實(shí)施方式1的光盤記錄裝置的相位設(shè)定的校正過程的 流程圖。
圖7是示出在實(shí)施方式1的光盤記錄裝置中，用于取得每個相位
設(shè)定的AD轉(zhuǎn)換值的測定過程的流程圖。
圖8是示出實(shí)施方式1的光盤記錄裝置的測定結(jié)果例子的圖。 圖9是示出在實(shí)施方式1的光盤記錄裝置中用于計算理想值的計
算式的圖。
圖IO是示出在實(shí)施方式1的光盤記錄裝置中，測定值和計算出 的理想值的結(jié)果例子的圖。
圖ll是示出在實(shí)施方式l的光盤記錄裝置中，搜索最佳相位設(shè) 定并校正相位設(shè)定的過程的流程圖。
圖12是示出實(shí)施方式1的光盤記錄裝置中的校正結(jié)果例子的圖。
圖13是以圖形示出實(shí)施方式l的光盤記錄裝置中的校正結(jié)果例 子的圖，
圖14是在實(shí)施方式2的光盤記錄裝置中，在2T多脈沖的情況 下，多脈沖的相位設(shè)定Tmp = 0.5T且占空比為50 %時的信號波形圖。 圖15是在實(shí)施方式2的光盤記錄裝置中，多脈沖的相位設(shè)定Tmp = 1.0T且占空比為50 %時的信號波形圖。
圖16是在實(shí)施方式2的光盤記錄裝置中，多脈沖的相位設(shè)定為 Tmp = 1.5T且占空比為75 %時的信號波形圖。
圖17是示出2T多脈沖的寬度設(shè)定和測定電平的關(guān)系的圖。
圖18是在實(shí)施方式3的光盤記錄裝置中，在3T標(biāo)記中輸出了 1T長度的塊脈沖時的波形圖。
圖19是在實(shí)施方式3的光盤記錄裝置中，在3T標(biāo)記中輸出了 1.5T長度的塊脈沖時的波形圖。
圖20是在實(shí)施方式3的光盤記錄裝置中，在3T標(biāo)記中輸出了 2.0T長度的塊脈沖時的波形圖。
圖21是示出在實(shí)施方式3的光盤記錄裝置中，大脈沖的寬度設(shè) 定和測定電平的關(guān)系的圖。
圖22是實(shí)施方式4的光盤記錄裝置的框圖。
圖23是示出實(shí)施方式4的光盤記錄裝置中的測定值[n和標(biāo)準(zhǔn)裝 置n]的測定結(jié)果例子的圖。
圖24是示出實(shí)施方式4的光盤記錄裝置中的測定結(jié)果例子的圖。
圖25是實(shí)施方式5的光盤記錄裝置的框圖。
圖26是在實(shí)施方式5的光盤記錄裝置中，多脈沖的相位設(shè)定 Tmp - 0.5T且占空比為50 %時的波形圖。
圖27是示出實(shí)施方式5的光盤記錄裝置中的測定過程的流程圖。
圖28是實(shí)施方式6的光盤記錄裝置中的拾取器的框圖。
圖29是實(shí)施方式7的光盤記錄裝置的框圖。
圖30是實(shí)施方式8的光盤記錄裝置的框圖。
圖31是實(shí)施方式8的光盤記錄裝置中的用于計算占空比的校正
值的計算式的圖。
圖32是示出在實(shí)施方式8的光盤記錄裝置中，校正了占空比的
結(jié)果的圖。
(標(biāo)號說明) 1光盤2拾取器
3激光控制系統(tǒng)
3a標(biāo)記部檢測系統(tǒng)
3b空白/擦除部檢測系統(tǒng)
4相位檢測設(shè)定系統(tǒng)
5記錄數(shù)據(jù)生成系統(tǒng)
6激光二極管(LD)驅(qū)動器
7激光器(LD )
8光檢測器
9衰減器(ATT)電路 10低通濾波器(LPF)電路 11采樣.保持(SH)電路 12切換開關(guān)
13電壓增益放大器(VGA) 14 AD轉(zhuǎn)換電路 15電壓增益放大器(VGA) 16采樣.保持(SH )電路 17電壓增益放大器(VGA) 18 AD轉(zhuǎn)換電路
19激光APC ( Auto Power Control)控制電路 20 DAC
21記錄數(shù)據(jù)存儲電路
22記錄調(diào)制電路
23寫策略生成電路
24相位設(shè)定電路
25多層時鐘生成電路
26低通濾波器(LPF)電路
27采樣.保持(SH )電路
28電壓增益放大器(VGA)電路29 AD轉(zhuǎn)換電路
30 CPU
31 RAM
32相位設(shè)定表
33占空比校正電路
34信號轉(zhuǎn)換電路
35信號切換開關(guān)
36信號切換開關(guān)
37標(biāo)準(zhǔn)信號發(fā)生裝置
38 SH位置設(shè)定電路
39 ON開關(guān) 40透鏡
41致動器
42聚焦驅(qū)動電路
具體實(shí)施方式
(實(shí)施方式1)
圖l是示出本發(fā)明的實(shí)施方式1的光盤記錄裝置的結(jié)構(gòu)的框圖。 在圖1中，本實(shí)施方式1的光盤記錄裝置100具有拾取器2， 向光盤1出射激光來進(jìn)行針對光盤1的信息的寫入以及讀出；激光控 制系統(tǒng)3,對激光的出射功率進(jìn)行控制；相位檢測設(shè)定系統(tǒng)4,進(jìn)行
寫策略的相位檢測和相位設(shè)定等的控制；以及記錄數(shù)據(jù)生成系統(tǒng)5，
生成記錄數(shù)據(jù)。
在拾取器2中，由激光二極管(LD )驅(qū)動器6對激光二極管(LD ) 7進(jìn)行電流驅(qū)動，從LD7向光盤1出射激光。該激光的反射光由作為 受光元件的光檢測器8接收，并由光檢測器8將所接收的光的強(qiáng)度轉(zhuǎn) 換成電壓電平后輸出。然后，轉(zhuǎn)換成電壓電平的光輸出到后級的激光 控制系統(tǒng)3和相位檢測設(shè)定系統(tǒng)4。
激光控制系統(tǒng)3具有衰減器(ATT電路)9、標(biāo)記部檢測系統(tǒng)3a、空白/擦除部檢測系統(tǒng)3b、激光APC (Auto Power Control (自動功 率控制))控制電路19和DAC20。
在從光檢測器8輸出的電壓電平高的情況下，ATT電路9降低 該電壓電平。近年來，光盤記錄裝置的記錄速度得到了高倍速化，在 LD7以大的功率發(fā)光的情況下，使用ATT電路9來降低電壓電平。 ATT電路9的輸出信號輸出到標(biāo)記部檢測系統(tǒng)3a和空白/擦除部檢測 系統(tǒng)3b。
標(biāo)記部檢測系統(tǒng)3a對向標(biāo)記部發(fā)出了激光時的激光功率電平 (電壓電平)進(jìn)行采樣并保持，并對該電平進(jìn)行測定，由帶頻率調(diào)整 的低通濾波器(LPF電路)10、切換開關(guān)12、采樣保持電路(SH電 路)11、電壓增益放大器(VGA) 13和AD轉(zhuǎn)換電路14構(gòu)成。標(biāo)記 部檢測系統(tǒng)3a在ATT電路9的輸出信號為多脈沖波形時，使該信號 通過LPF10來對信號的電平進(jìn)行平均化，由SH電路ll對多脈沖的 平均功率電平進(jìn)行釆樣并保持，對該電平進(jìn)行測定。SH電路11根據(jù) 標(biāo)記用采樣.保持(SH)信號(未圖示)，對與激光功率電平對應(yīng)的 電壓電平進(jìn)行釆樣并保持。之后，對于SH電路11的輸出，由VGA l3 根據(jù)記錄速度和記錄時的激光功率進(jìn)行增益調(diào)整，并由AD轉(zhuǎn)換電路 14進(jìn)行AD轉(zhuǎn)換。
空白/擦除部檢測系統(tǒng)3b對向空白部/擦除部發(fā)出了激光時的激 光功率電平(電壓電平)進(jìn)行采樣并保持，并對該電平進(jìn)行測定，由
電壓增益放大器(VGA) 15、采樣.保持電路(SH電路)16、電壓增 益放大器(VGA) 17和AD轉(zhuǎn)換電路18構(gòu)成。針對空白部的激光功 率小于針對擦除部或標(biāo)記部的激光功率，所以對于針對空白部的激光 功率電平(電壓電平)的信號，由VGA15提高增益。另一方面，針 對擦除部的激光功率是充分大的電平，所以無需提高增益。對于VGA 15的輸出信號(電平)，由SH電路16根據(jù)空白用SH信號(未圖示) 來釆樣并保持。另外，針對擦除部的激光功率電平的釆樣'保持與空白 部的情況相同。之后，對于SH電路16的輸出，由VGA17根據(jù)記錄 速度和記錄時的激光功率進(jìn)行信號的增益調(diào)整，并由AD轉(zhuǎn)換電路18激光APC ( Auto Power Control)控制電路19將由標(biāo)記部檢測 系統(tǒng)3a和空白/擦除部檢測系統(tǒng)3b檢測出的AD轉(zhuǎn)換值作為輸入，計 算LD7的驅(qū)動電流，并向LD驅(qū)動器6供給驅(qū)動電流。另外，DAC20 將激光APC控制電路19的輸出轉(zhuǎn)換成模擬信號，并輸出到LD驅(qū)動 器6。
以下，對基于上述的激光控制系統(tǒng)3的激光功率的控制方法進(jìn)行 說明。另外，針對擦除部的激光功率電平的采樣以及保持的動作與空 白部的采樣以及保持相同，所以省略其說明。
首先，對再現(xiàn)光盤1的信息時的LD 7的功率控制進(jìn)^f于說明。 激光APC控制電路19為了將LD 7的功率恒定地控制成再現(xiàn)光 盤1的信息所需的再現(xiàn)功率，向LD驅(qū)動器6設(shè)定初始的電流值，LD 驅(qū)動器6根據(jù)該電流值使LD 7發(fā)光。之后，光檢測器8的輸出信號 通過ATT電路9，由空白/擦除部檢測系統(tǒng)3b對其進(jìn)行AD轉(zhuǎn)換。然 后，激光APC控制電路19對驅(qū)動電流的值進(jìn)行控制，以使AD轉(zhuǎn)換 值成為目標(biāo)的激光功率。當(dāng)再現(xiàn)時，由該激光APC控制電路19進(jìn)行 控制，以使激光功率成為預(yù)定的目標(biāo)值。
接下來，對向光盤1記錄信息時的LD 7的功率控制進(jìn)行說明。 通常，記錄波形NRZI重復(fù)輸出標(biāo)記部的波形和空白部的波形。 在形成l個記錄標(biāo)記時，根據(jù)介質(zhì)的材質(zhì)、特性或記錄速度，從記錄 波形NRZI生成寫策略，并利用該寫策略來出射激光，所以激光的發(fā) 光波形成為各種形狀。另外，在LD 7中，由于溫度特性，用于出射 目標(biāo)功率的必要電流量變化。因此，為了控制成使標(biāo)記部和空白部的 激光功率成為目的功率，對各自的激光功率電平進(jìn)行測定，來進(jìn)行激 光APC控制，以使激光功率成為恒定。
標(biāo)記部檢測系統(tǒng)3a對顯示多脈沖波形的標(biāo)記部的激光功率電平 進(jìn)行采樣并保持，并對該電平進(jìn)行測定。在標(biāo)記部的波形是由多個脈 沖構(gòu)成的多脈沖的情況下，標(biāo)記部檢測系統(tǒng)3a對切換開關(guān)12進(jìn)行切 換，以使信號通過LPF電路10，使用LPF電路10對信號的電平進(jìn)行平均化，對平均化后的電平進(jìn)行采樣并保持，并對該電平進(jìn)行測定。如果將記錄用的高功率出現(xiàn)的時間Tp和輸出了再現(xiàn)用的低功率的底 功率(bottom power)出現(xiàn)的時間Tb之間的比率Tp/ ( Tp + Tb )設(shè) 為占空比，則在多脈沖波形時，在進(jìn)行目標(biāo)功率的計算時，根據(jù)所取 得的平均電平和占空比，進(jìn)行峰值功率的換算。例如，在占空比為50 %且將取得的平均電平設(shè)為ave時，由激光APC控制電路19將實(shí)際 發(fā)光的峰值功率計算為ave/50% = avex2。由SH電路11對該檢測出 的平均功率電平進(jìn)行采樣并保持。然后，由激光APC控制電路19對驅(qū)動電流的值進(jìn)行控制，以使AD轉(zhuǎn)換值成為目標(biāo)激光功率。另外，在來自ATT電路9的輸出為非多脈沖波形的情況下，標(biāo) 記部檢測系統(tǒng)3a對切換開關(guān)12進(jìn)行切換以使來自ATT電路9的信 號通過LPF電路IO，并對電平進(jìn)行測定。在該情況下，由于可以直 接進(jìn)行電平的測定，所以無需進(jìn)行占空比的計算。另外，在多脈沖的 情況下，標(biāo)記部檢測系統(tǒng)3a也可以對切換開關(guān)12進(jìn)行切換，以使來 自ATT電路9的輸出信號通過LPF電路10,對Top脈沖(大脈沖) 部分進(jìn)行釆樣'保持。在該情況下，由于可以直接進(jìn)行電平的測定，所 以也無需占空比的計算。另一方面，在空白/擦除部檢測系統(tǒng)3b中，利用與前述的再現(xiàn)時 相同的方法，對空白部的激光功率電平進(jìn)行采樣并保持，對該電平進(jìn) 行測定。然后，由激光APC控制電路19對驅(qū)動電流的值進(jìn)行控制， 以使AD轉(zhuǎn)換值成為目標(biāo)激光功率。接下來，在圖1中，相位檢測設(shè)定系統(tǒng)4進(jìn)行寫策略的相位檢測、 相位的決定等控制，具有帶頻率調(diào)整的低通濾波器(LPF電路)26、 采樣.保持電路(SH電路)27、電壓增益放大器(VGA) 28、 CPU 30 和RAM31。另外，也可以設(shè)置代替RAM31的非易失性存儲器，并 在該非易失性存儲器中存儲RAM31中存儲的各種數(shù)據(jù)。在相位檢測設(shè)定系統(tǒng)4的處理中，對于由光檢測器8轉(zhuǎn)換成電壓 電平的光信號，如以下那樣進(jìn)行電處理，利用電壓電平檢測出寫策略 的時間軸的設(shè)定。即，轉(zhuǎn)換成電壓電平的標(biāo)記部的多脈沖波形通過LPF 26，檢測 出多脈沖的平均功率電平。由SH電路27對檢測出的平均功率電平進(jìn) 行采樣并保持。之后，由VGA28根據(jù)記錄速度、記錄時的激光功率 來進(jìn)行信號的增益調(diào)整，并由AD轉(zhuǎn)換電路29進(jìn)行AD轉(zhuǎn)換。
CPU 30依次變更寫策略的相位設(shè)定，針對各個相位設(shè)定中的每 一個取得由AD轉(zhuǎn)換電路29輸出的測定值。然后，基于該測定值進(jìn) 行直線近似，針對各相位設(shè)定中的每一個求出測定值的理想值，將測 定值和理想值的誤差最小的相位設(shè)定作為最佳相位設(shè)定而求出，存儲 到RAM 31的相位設(shè)定表32中。另外，對于相位檢測設(shè)定系統(tǒng)4的 詳細(xì)動作，將在后面敘述。
記錄數(shù)據(jù)生成系統(tǒng)5生成記錄到光盤1上的記錄數(shù)據(jù)，具有記錄 數(shù)據(jù)存儲電路21、記錄調(diào)制電路22、寫策略生成電路23、相位設(shè)定 電路24和多相時鐘生成電路25。
在記錄數(shù)據(jù)生成系統(tǒng)5中，由記錄調(diào)制電路22根據(jù)預(yù)定的規(guī)格 對存儲到記錄數(shù)據(jù)存儲電路21中的記錄數(shù)據(jù)進(jìn)行調(diào)制。然后，記錄 波形NRZI信號從記錄調(diào)制電路22輸入到寫策略生成電路"。
相位設(shè)定電路24根據(jù)由CPU 30讀出的相位設(shè)定表32的值來選 擇多相時鐘生成電路25所生成的基準(zhǔn)時鐘，輸入到寫策略生成電路 23。
寫策略生成電路23根據(jù)來自記錄調(diào)制電路22以及相位設(shè)定電路 24的輸出，按照光盤1的特性和記錄速度等，生成向光盤1記錄的最 佳的寫策略。此時，寫策略生成電路23為了生成相對于成為基準(zhǔn)的 記錄重復(fù)周期1T更短的多個脈沖、或一個脈沖，將與1T相比更具有 分辨率的多相時鐘作為基準(zhǔn)，決定寫策略的相位。然后，LD驅(qū)動器6 根據(jù)該寫策略使LD 7發(fā)光。另外，存儲在相位檢測設(shè)定系統(tǒng)4的RAM 31中的相位設(shè)定表32也可以保持于相位設(shè)定電路24等中。
接下來，對以上那樣構(gòu)成的光盤記錄裝置100中的多脈沖的相位 設(shè)定與相位檢測設(shè)定系統(tǒng)4中的多脈沖的平均化電平的測定值的關(guān)系 進(jìn)行說明。如上所述，對于顯示多脈沖波形的標(biāo)記部的激光功率電平，由LPF電路27進(jìn)行平均化，對平均化后的電平進(jìn)行采樣并保持，測定 出該電平。此時，進(jìn)行激光APC控制，以使激光功率成為恒定，所 以在多脈沖的相位設(shè)定Tmp發(fā)生了變化時，由LPF電路27平均化后 的電平變化。例如，使用圖2來對將多脈沖的輸出周期設(shè)為作為標(biāo)記.空白長 度的基本周期的1T時的1T多脈沖的情況進(jìn)行說明。圖2示出記錄中的標(biāo)記和空白的信號，示出寫策略的多脈沖的相 位設(shè)定Tmp-0.5T且占空比為50%的情況。圖2 (b)表示激光的輸 出，在圖2(b)中，Tmp表示多脈沖的相位設(shè)定，是Tmp的箭頭方 向(+ )可變的相位設(shè)定。另外，Tmp的箭頭的起始點(diǎn)是被固定的相 位設(shè)定。在圖2中，基本周期為1T，所以Tmp可以從OT到1T變化。圖2( a )表示作為記錄調(diào)制電路22的輸出信號的記錄波形NRZI， HIGH(高)的區(qū)間是記錄了數(shù)據(jù)的標(biāo)記部分，LOW(低)的區(qū)間是 沒有記錄數(shù)據(jù)或被擦除的空白部。對于空白部，以偏置功率bl來進(jìn) 行APC控制，對于標(biāo)記部的多脈沖，以峰值功率b2來進(jìn)行控制。另 外，對于底功率b3，設(shè)定電流，使其成為再現(xiàn)中的激光功率。該底功 率b3也可以根據(jù)記錄特性而變化。圖2 (c)表示激光控制系統(tǒng)3a中的信號輸出，分別表示標(biāo)記部 檢測系統(tǒng)3a中的SH信號和SH電路ll的輸出、以及空白/擦除部檢 測系統(tǒng)3b中的SH信號和SH電路16的輸出。在激光控制系統(tǒng)3a中， 在用于對標(biāo)記部的電平進(jìn)行檢測的SH信號為LOW的區(qū)間進(jìn)行采樣， 在從LOW到HIGH的定，采樣電平被保持。另外，在空白/擦除部檢 測系統(tǒng)3b中，在用于對空^部的電平進(jìn)行檢測的SH信號為LOW的 區(qū)間進(jìn)行采樣，在從LOW到HIGH的定時采樣電平被保持。另外， 在本發(fā)明的實(shí)施方式l中，只要采樣和保持的含義相同，則SH信號 的LOW和HIGH的極性就可以特別以反轉(zhuǎn)設(shè)定來進(jìn)行相同的動作。圖2 (d)示出相位檢測設(shè)定系統(tǒng)4中的LPF電路26、 SH信號 以及SH電路27各自的輸出。在相位檢測設(shè)定系統(tǒng)4中，對于LPF電路10的平均化信號，由于占空為50%，所以理想地如圖2(d)那 樣從峰值功率dl減去底功率d2后的50%的電平來進(jìn)行平均化。在該 標(biāo)記部分的位置，利用SH信號在LOW的區(qū)間進(jìn)行采樣，在從LOW 到HIGH的定時采樣電平被保持。
另外，在相位檢測設(shè)定系統(tǒng)4中，如圖3所示，在多脈沖的相位 設(shè)定為Tmp-O且作為1T單位中的記錄功率出射比率的占空比為0 %的情況下，由LPF電路10平均后的電平如圖3 (c)所示作為與底 功率c2大致相同的電平被檢測出。另外，例如如圖4所示，在多脈 沖的相位設(shè)定Tmp-lT且作為1T單位中的記錄功率出射比率的占空 比為100%的情況下，由LPF電路10平均后的電平如圖4 (c)所示 作為與峰值功率el大致相同的電平被檢測出。如果總結(jié)以上圖2、圖 3、圖4的結(jié)果，來表示使多脈沖的相位設(shè)定變化時的電平檢測的關(guān) 系，則可以如圖5所示。
圖5以平均化電平的底功率到峰值功率的關(guān)系來表示出從作為 標(biāo)記.空白長度的基本周期的1T的時間軸0。/。到100%。在圖5中， 橫軸為寫策略電路的多脈沖設(shè)定Tmp和占空比，縱軸為由SH電路 27保持的信號的AD轉(zhuǎn)換電平。如圖5所示，在本實(shí)施方式l中，用 占空比是0%時AD轉(zhuǎn)換電平為底功率的電平、而占空比是100%時 為峰值功率的電平的直線，來表示1T多脈沖的寬度設(shè)定和測定電平 的關(guān)系。
接下來，詳細(xì)說明在如上那樣構(gòu)成的光盤記錄裝置100中，對與 寫策略的相位設(shè)定對應(yīng)的電壓電平進(jìn)行采樣來決定最佳相位值的動 作。另夕卜，以下對作為標(biāo)記'空白長度的基本周期的1T的分辨率為1/10 的情況進(jìn)行說明。
1T的分辨率為1/10表示可以以0.1T單位來進(jìn)行多脈沖的相位 設(shè)定。在本實(shí)施方式1的光盤記錄裝置中，分辨率可以是1/n ( n為任 意的整數(shù))，即使是任意的分辨率n，也可以取得與10的分辨率的情 況相同的結(jié)果。
圖6是示出由本發(fā)明的實(shí)施方式1的光盤記錄裝置100對寫策略的相位設(shè)定進(jìn)行校正并輸出最佳相位設(shè)定的動作的概略的流程圖。
首先，在步驟Sll中，使寫策略的相位設(shè)定依次變化來進(jìn)行各相 位設(shè)定中的信號電平的測定。接下來在步驟S12中，針對各相位設(shè)定 中的每一個搜索最佳值，求出最佳相位設(shè)定。然后在步驟S13中，進(jìn) 行最佳相位值的輸出。
以下，對步驟Sll、步驟S12進(jìn)行詳細(xì)說明。首先，對步驟Sll 的處理進(jìn)行說明。
圖7示出以最小分辨率依次設(shè)定多脈沖的相位來進(jìn)行各相位設(shè) 定中的每一個的平均化電平的測定的流程。另外，以下的各步驟由
CPU 30執(zhí)行，并且，該流程中的變量或數(shù)組變量確保在與CPU 30 連接的RAM 31中。
首先，在步驟S21中，對變量進(jìn)行初始化。該變量為表示測定次 數(shù)的變量n，在本實(shí)施方式l的情況下，是從0到10的整數(shù)。
接下來，形成步驟S22到步驟S27的循環(huán)1處理，在變量n小 于等于10的情況下，重復(fù)處理步驟S23到步驟Sr7。
即，在步驟S23中，設(shè)定相位—0/10，在步驟S24中，取得相位 —0/10時的AD值，在步驟S25中，取得的AD值存儲到數(shù)組—測定值到理想值[10這11個數(shù)據(jù)存儲到 數(shù)組變量中。接下來，在步驟S31中，進(jìn)行變量m的初始化。變量m是在后 述的循環(huán)1的計數(shù)中使用的變量。接下來，形成步驟S32到步驟S44的循環(huán)1的處理，在變量m 小于10的情況下，重復(fù)處理步驟S33到步驟S43。在該循環(huán)l的處理 中，進(jìn)行如下處理針對某相位設(shè)定n,根據(jù)實(shí)測出的結(jié)果來檢索最 接近于理想值的最佳值并將與該最佳值對應(yīng)的相位設(shè)定決定為針對 某相位設(shè)定值n的最佳相位設(shè)定。接下來，在步驟S33中，在變量jS想值lm中，取得針對檢索最 佳相位設(shè)定的相位設(shè)定值在步驟S30中計算出的理想值。接下來，在步驟S34中，進(jìn)行變量的初始化。在步驟S34中被 初始化的變量是在后述的循環(huán)2的計數(shù)中使用的變量_11、最佳絕對值 以及最佳表[m。此處，變量_最小絕對值是在循環(huán)2的處理中在檢索 最接近于理想值的測定值時，存儲偏離理想值的誤差最小的值的變 量。另外，作為最小絕對值的初始值，存儲作為值可以取得的最大值。另外，變量—最佳表[m]是存儲在循環(huán)1的處理中檢索出相對于某相位 設(shè)定誤差最小的值時的相位設(shè)定值的變量。接下來，形成步驟S35到步驟S41的循環(huán)2的處理，在變量n 小于10的情況下，重復(fù)處理步驟S36到步驟S40。在該循環(huán)2的處理 中，進(jìn)行如下處理針對上述循環(huán)1處理中的檢索最佳相位設(shè)定值的 相位設(shè)定值，比較理想值[mj和所有的實(shí)測值來檢索最接近于理想值 的測定值。即，在步驟S36中，計算出數(shù)組變量一測定值[n和通過計算求出 的理想值[m的差分的絕對值。在步驟S37中，對該差分絕對值和最 小絕對值進(jìn)行比較，在差分絕對值的一方小時，轉(zhuǎn)移到步驟S38，在 差分絕對值的一方大時，轉(zhuǎn)移到步驟S40。在步驟S38中，在變量_最小絕對值中存儲差分絕對值，在步驟 S39中，在變量一最佳相位設(shè)定中設(shè)定變量n。然后，在步驟SW中， 變量n遞增，在步驟S41中，判斷繼續(xù)還是結(jié)束利用步驟S35的條件 形成的循環(huán)2。在結(jié)束循環(huán)2的情況下，在步驟S42中，在數(shù)組變量_ 最佳表ml中，存儲最佳相位設(shè)定。接下來，在步驟S43中，使變量m遞增，在步驟S44中，判斷 繼續(xù)還是結(jié)束利用步驟S32的條件形成的循環(huán)1，通過循環(huán)1的結(jié)束， 對各相位設(shè)定的最佳值進(jìn)行搜索的處理結(jié)束。圖12和圖13示出如以上那樣進(jìn)行了處理的結(jié)果。圖12分別示出校正前和校正后的與相位設(shè)定n對應(yīng)的理想值、 測定值、電平誤差以及誤差(LSB)。在圖12中，理想值為在步驟 S30中求出的值，測定值是在步驟Sll中求出的值。另外，電平誤差 表示測定值與理想值之差，誤差(LSB)是將測定值與理想值之差用 理想直線的斜率來除后的結(jié)果，表示與相位設(shè)定對應(yīng)的誤差。另外， 在圖12中，校正后的"校正n，，的欄相當(dāng)于利用在圖11中說明的流程 得到的最佳表m。如圖12所示，通過上述的校正，電平誤差、誤差(LSB)與校 正前相比變小。另外，圖13是對圖12所示的各數(shù)值進(jìn)行圖形化后的圖，針對橫 軸的相位設(shè)定n，左側(cè)第一軸表示測定值，右側(cè)第二軸表示誤差 (LSB)。如圖13所示，相對于理想的直線，在校正前存在-0.8(LSB) 到+ 1.0 ( LSB )的誤差，但在校正后，降低到-0.7 ( LSB )到+ 0.4 (LSB)的誤差。
通過以上的動作得到的校正后的相位設(shè)定保持在非易失性存儲 器31的相位設(shè)定表32中。具體而言，利用校正結(jié)果，將在校正前依 次存儲成[O、 1、 2、 3、 4、 5、 6、 7、 8、 9的設(shè)定改寫成
-600的狀態(tài)。
另外，本實(shí)施方式8的光盤記錄裝置在上述的實(shí)施方式1的光盤 記錄裝置中追加了占空比校正電路33，但如果將在該方式8中追加的 占空比校正電路33向上述的實(shí)施方式2至7的光盤記錄裝置追加， 也可以取得同樣的效果。
另外，在本發(fā)明的實(shí)施方式8中，也可以按照AD轉(zhuǎn)換電路29 的分辨率或范圍，使VGA28的設(shè)定可變，來提高S/N比。另外，也 可以通過使激光功率可變，利用檢測系統(tǒng)的動態(tài)范圍，來提高S/N比。 另外，也可以分別比較使VGA28的設(shè)定或激光功率可變的結(jié)果，來
進(jìn)行精度更佳的檢測。
如上所述，本發(fā)明的實(shí)施方式8的光盤記錄裝置利用占空比校正
電路來對占空比進(jìn)行校正，根據(jù)該校正后的占空比來進(jìn)行激光APC 控制，所以可以進(jìn)行多脈沖的激光控制時的功率校正。 產(chǎn)業(yè)上的可利用性
根據(jù)本發(fā)明，在可以提供能夠抑制每種裝置的偏差、進(jìn)行最佳的 記錄的光盤記錄裝置的方面是有用的。
權(quán)利要求
1. 一種光盤記錄裝置，針對1個記錄標(biāo)記，根據(jù)由比該記錄標(biāo)記更短的多個脈沖構(gòu)成的寫策略波形來進(jìn)行記錄，其特征在于，具備寫策略生成電路，生成上述寫策略波形；激光光源，出射激光；激光驅(qū)動電路，按照上述寫策略波形的脈沖串來對上述激光光源進(jìn)行驅(qū)動；光檢測器，輸出從上述激光光源出射的激光的光強(qiáng)度；激光功率控制電路，通過按照上述光檢測器所輸出的光強(qiáng)度信號來對從上述激光驅(qū)動電路向上述激光光源供給的電流量進(jìn)行控制，對上述激光光源的光強(qiáng)度進(jìn)行控制；平均化電路，對從上述光檢測器輸出的標(biāo)記部的脈沖串的光強(qiáng)度信號進(jìn)行平均化，并作為平均化電平輸出；采樣·保持電路，對上述標(biāo)記部中的上述平均化電路的輸出進(jìn)行采樣·保持；電壓測定電路，將由上述采樣·保持電路保持的模擬電平作為電壓值來進(jìn)行測定；以及相位設(shè)定重新排列電路，將上述寫策略波形的一部分設(shè)定成以預(yù)定的周期重復(fù)相同形狀的脈沖的多脈沖，固定上述多脈沖的一個脈沖邊緣的相位設(shè)定，依次變更另一個脈沖邊緣的相位設(shè)定，根據(jù)對上述標(biāo)記部的多脈沖串的光強(qiáng)度信號進(jìn)行平均化而得到的上述平均化電平的測定值和其理想值，求出實(shí)際輸出的時間軸的脈沖邊緣的相位誤差最小的最佳相位設(shè)定，變更預(yù)先設(shè)定的相位設(shè)定。
2. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的光盤記錄裝置，其特征在于，上述多 脈沖的輸出周期是作為標(biāo)記'空白長度的基本周期的1T，上述相位設(shè) 定重新排列電路將多脈沖的脈沖邊緣的相位設(shè)定從(rl )T變更到(r2 ) T (rl表示0^rlSl的范圍的實(shí)數(shù)，r2表示0Sr2Sl的范圍的實(shí)數(shù)，且 rl<r2)，從而使上述多脈沖的占空比從(rlx100) %變化到(r2xl00)上述平均化電路對與上述相位設(shè)定中的每一個對應(yīng)的上述平均 化電平進(jìn)行測定。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的光盤記錄裝置，其特征在于，上述相 位設(shè)定重新排列電路將上述(rl)和上述(r2)設(shè)定為rl-0、 r2 = l， 使上述多脈沖的脈沖邊緣的相位設(shè)定從OT變更到1T，從而使上述多 脈沖的占空比從0%變化到100%，平進(jìn)行測定。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光盤記錄裝置，其特征在于，上迷多 脈沖的輸出周期是作為標(biāo)記.空白長度的基本周期的1T的2倍的2T，上述相位設(shè)定重新排列電路將上述多脈沖的脈沖邊緣的相位設(shè) 定從(r3) T變更到(r3 + l) T ( r3表示0^r3￡l的范圍的實(shí)數(shù))， 從而使上述多脈沖的占空比從(r3+2xl00 ) %變化到((r3 + 1 )+2xl00 ) %，進(jìn)行測定。
5. 根據(jù)權(quán)利要求4所述的光盤記錄裝置，其特征在于，上迷相 位設(shè)定重新排列電路將上述(rl)設(shè)定為r3-0.5，將多脈沖的脈沖邊 緣的相位設(shè)定從0.5T變更到1.5T，從而使多脈沖的占空比從25%變 化到75 % ，上述平均化電路對所有與各個上述相位設(shè)定對應(yīng)的平均電平進(jìn) 行測定。
6. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的光盤記錄裝置，其特征在于，上述相 位設(shè)定重新排列電路在連結(jié)相位設(shè)定最小的多脈沖的占空比為(xl) %時的平均化電平(yl)和相位設(shè)定最大的多脈沖的占空比為(x2) %時的平均化電平(y2)的直線的斜率(y2-yl) + ( x2 - xl)、截 距yl中進(jìn)行插值來求出上述理想值，將該理想值與針對各相位設(shè)定 中的每一個得到的多脈沖串的平均化電平的測定值中的每一個進(jìn)行比較，將與上述各測定值中取最接近于上述理想值的值的測定值對應(yīng) 的相位設(shè)定設(shè)為上述最佳相位設(shè)定。
7. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的光盤記錄裝置，其特征在于，具備切 換電路，該切換電路在上述光檢測電路的輸出和與該光盤記錄裝置連 接且輸出與上述寫策略波形等同的波形信號的標(biāo)準(zhǔn)信號發(fā)生裝置的 輸出之間，切換向上述平均化電路的輸出，上述相位設(shè)定重新排列電路將在上述切換電路選擇上述標(biāo)準(zhǔn)信 號發(fā)生裝置的輸出的情況下得到的上述平均化電平作為上述理想值，下得到的針對各相位設(shè)定中的每一個得到的多脈沖串的平均化電平 的測定值進(jìn)行比較，將與上述各測定值中取最接近于上述理想值的值 的測定值對應(yīng)的相位設(shè)定設(shè)為上述最佳相位設(shè)定。
8. 根據(jù)權(quán)利要求6或7所述的光盤記錄裝置，其特征在于，具 備判定電路，該判定電路計算出上述各測定值與上述理想值的誤差， 在該誤差大的情況下，將該光盤記錄裝置判定為不良品。
9. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的光盤記錄裝置，其特征在于，上述相 位設(shè)定重新排列電路在與上述多脈沖的占空比的時間寬度對應(yīng)的電 壓值的測定困難的相位設(shè)定中，不進(jìn)行上迷最佳相位設(shè)定的計算。
10. —種光盤記錄裝置，針對1個記錄標(biāo)記，利用由1個塊脈沖 構(gòu)成的寫策略來進(jìn)行記錄，其特征在于，具備寫策略生成電路，生成上述寫策略波形； 激光光源，出射激光；激光驅(qū)動電路，按照上述寫策略波形的脈沖串來對上述激光光源 進(jìn)行驅(qū)動；光檢測器，輸出從上述激光光源出射的激光的光強(qiáng)度； 激光功率控制電路，通過按照上述光檢測器所輸出的光強(qiáng)度信號來對從上述激光驅(qū)動電路向上述激光光源供給的電流量進(jìn)行控制，對 上述激光光源的光強(qiáng)度進(jìn)行控制；平均化電路，對從上述光檢測器輸出的標(biāo)記部的脈沖串的光強(qiáng)度信號進(jìn)行平均化，并作為平均化電平輸出；采樣'保持電路，對上述標(biāo)記部中的上述平均化電路的輸出進(jìn)行 采樣，保持；電壓測定電路，將由上述采樣.保持電路保持的模擬電平作為電壓值來進(jìn)行測定；以及相位設(shè)定重新排列電路，將上述寫策略波形的一部分設(shè)定成以預(yù) 定的周期重復(fù)相同形狀的脈沖的塊脈沖，固定上述塊脈沖的一個脈沖 邊緣的相位設(shè)定，依次變更另一個脈沖邊緣的相位設(shè)定，固定上述多 脈沖的一個脈沖邊緣的相位設(shè)定，依次變更另一個脈沖邊緣的相位設(shè) 定，根據(jù)對上述標(biāo)記部的多脈沖串的光強(qiáng)度信號進(jìn)行平均化而得到的 上述平均化電平的測定值和其理想值，求出實(shí)際輸出的時間軸的脈沖 邊緣的相位誤差最小的上述相位設(shè)定，變更預(yù)先設(shè)定的相位設(shè)定。
11. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的光盤記錄裝置，其特征在于，還具備 保持控制電路，停止基于上述激光功率控制電路的激光控制；以及采樣位置設(shè)定電路，使上述采樣.保持電路中的上述平均化電平 的采樣位置向預(yù)定的位置移動，上述激光功率控制電路根據(jù)上述電壓測定電路的輸出，對上述激 光光源的光強(qiáng)度進(jìn)行控制，在上述激光功率控制電路進(jìn)行激光控制的情況下，上述采樣位置 設(shè)定電路使上述釆樣位置向上述標(biāo)記部的大脈沖部移動，在上述相位設(shè)定重新排列電路進(jìn)行上述相位設(shè)定的變更的情況 下，上述采樣位置設(shè)定電路使上述采樣位置向上述標(biāo)記部的多脈沖部 移動，上述保持控制電路對激光控制進(jìn)行保持。
12. 根據(jù)權(quán)利要求1或10所述的光盤記錄裝置，其特征在于， 具備電壓增益放大器，該電壓增益放大器任意地對上述采樣保持電路 的輸出信號的電壓電平進(jìn)行控制。
13. 根據(jù)權(quán)利要求1或10所述的光盤記錄裝置，其特征在于， 上述激光功率控制電路變更激光出射功率電平來進(jìn)行多次激光功率控制，并利用激光功率控制的精度最高的激光功率，對上述激光光源 的光強(qiáng)度進(jìn)行控制。
14，根據(jù)權(quán)利要求1或10所述的光盤記錄裝置，其特征在于， 在向光盤的聚焦偏離期間，上述相位設(shè)定重新排列電路依次變更上述 相位設(shè)定，上述平均化電路針對各相位設(shè)定中的每一個對上述標(biāo)記部 的多脈沖串的光強(qiáng)度信號進(jìn)行平均化，并對上述平均化電平進(jìn)行測 定。
15. 根據(jù)權(quán)利要求1或10所述的光盤記錄裝置，其特征在于， 上述平均化電路對從上述寫策略生成電路輸出的上述寫策略波形的 脈沖信號直接進(jìn)行平均化，并作為上述平均化電平輸出。
16. 根據(jù)權(quán)利要求15所述的光盤記錄裝置，其特征在于，具備 切換電路，該切換電路在上述光檢測器的輸出和上述寫策略生成電路 的輸出之間切換向上述平均化電路的輸出。
17. 根據(jù)權(quán)利要求6或7所述的光盤記錄裝置，其特征在于，具 備占空比校正電路，該占空比校正電路根據(jù)上述理想值和上述測定 值，對上述多脈沖的占空比的設(shè)定進(jìn)行校正，上述激光功率控制電路根據(jù)上述電壓測定電路的輸出和上迷校 正后的占空比，進(jìn)行峰值功率換算計算。
18. 根據(jù)權(quán)利要求1或10所述的光盤記錄裝置，其特征在于， 具備非易失性存儲器，該非易失性存儲器保持由上述相位設(shè)定重新排 列電路計算出的校正參數(shù)的值。
全文摘要
本發(fā)明提供一種光盤記錄裝置，在數(shù)據(jù)的記錄中，進(jìn)行激光的輸出脈沖的測定，并對寫策略的相位設(shè)定進(jìn)行校正來記錄，以便以正確的相位輸出脈沖。在激光控制系統(tǒng)中，在激光以恒定的功率出射的狀態(tài)下，使寫策略的相位設(shè)定變化。針對作為激光的標(biāo)記部的多脈沖的出射光，由光檢測器進(jìn)行電壓轉(zhuǎn)換后，由LPF進(jìn)行平均化。以電壓電平對與相位設(shè)定對應(yīng)的時間性變化進(jìn)行測定檢測，對寫策略生成電路的相位設(shè)定進(jìn)行校正更新，以使測定電平成為理想電平。
文檔編號G11B7/00GK101305419SQ20068004162
公開日2008年11月12日 申請日期2006年11月6日 優(yōu)先權(quán)日2005年11月7日
發(fā)明者伊佐地昭裕, 藪野寬之, 西川和彥 申請人:松下電器產(chǎn)業(yè)株式會社