專利名稱：光盤片檢測(cè)方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種光盤片檢測(cè)方法，尤其涉及一種可判斷出光盤片大小的光 盤片檢測(cè)方法。
背景技術(shù)：
對(duì)于光儲(chǔ)存系統(tǒng)而言，在開(kāi)機(jī)的過(guò)程中需要判斷各種不同型態(tài)的光盤片， 以給予不同的參數(shù)設(shè)定值。例如不同光盤片大小會(huì)因?yàn)橹亓可喜町愡^(guò)大，即使 在同樣系統(tǒng)中操作，若未根據(jù)不同光盤片選擇相對(duì)合適的增益以供主軸馬達(dá)使 用，將使得系統(tǒng)的整體撥放效果變差，特別是在光儲(chǔ)存系統(tǒng)以等線性速度
(Constant Linear Velocity; CLV)進(jìn)行撥放控制時(shí)，將因主軸馬達(dá)的不同 負(fù)載進(jìn)而影響到鎖相回路(PLL)的穩(wěn)定性，而在實(shí)際撥放時(shí)產(chǎn)生許多明顯的雜音。
現(xiàn)有的光盤片大概可分為直徑12厘米(cm)與8厘米兩種不同大小的規(guī) 格，而對(duì)于光儲(chǔ)存系統(tǒng)而言需于開(kāi)機(jī)過(guò)程中判斷出所使用的光盤片大小，目前 常用的判斷方式是可以通過(guò)控制讀取頭移到直徑8厘米光盤片外以讀取光盤 片的反射量，而得知光盤片的大小，但此種判斷方式，所需時(shí)間會(huì)因控制讀取 頭來(lái)回移動(dòng)而拉長(zhǎng)。
而另外一種光盤片大小的判斷方式，則是使用有FG (Frequency Generator)信號(hào)的系統(tǒng)中，此FG信號(hào)主要是用來(lái)檢測(cè)主軸馬達(dá)轉(zhuǎn)子的轉(zhuǎn)動(dòng)角 度，以得知主軸馬達(dá)的轉(zhuǎn)動(dòng)速度，而由于直徑12厘米與8厘米的光盤片兩者 重量差異的特性，當(dāng)給予主軸馬達(dá)一段固定的輸入電壓來(lái)旋轉(zhuǎn)直徑12厘米與 8厘米的光盤片，主軸馬達(dá)旋轉(zhuǎn)直徑12厘米光盤片的轉(zhuǎn)速會(huì)較旋轉(zhuǎn)直徑8厘 米光盤片的轉(zhuǎn)速來(lái)得慢，因此利用FG信號(hào)來(lái)得知主軸馬達(dá)的轉(zhuǎn)動(dòng)速度之后， 通過(guò)判斷主軸馬達(dá)的轉(zhuǎn)動(dòng)速度即可區(qū)分出光盤片是屬于直徑12厘米或8厘米。 雖然此種方式相較于前述移動(dòng)讀取頭方式所需判斷時(shí)間可以更節(jié)省，但對(duì)FG 信號(hào)而言，其必須在主軸馬達(dá)的轉(zhuǎn)動(dòng)速度為等速時(shí)，才能正常做出判斷，也就
是說(shuō)此方式僅適用于光儲(chǔ)存系統(tǒng)使用等角速度(Constant Angular Velocity; CAV)的控制方式，但對(duì)于光儲(chǔ)存系統(tǒng)使用CLV的控制方式則不適用。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明所要解決的技術(shù)問(wèn)題在于提供一種光盤片檢測(cè)方法，利用主軸馬達(dá) 轉(zhuǎn)動(dòng)過(guò)程中的瞬時(shí)電壓變化以判斷出光盤片的大小，以達(dá)到縮短判斷時(shí)間，且 可以適用于以CLV控制的光儲(chǔ)存系統(tǒng)。
為了實(shí)現(xiàn)上述目的，根據(jù)本發(fā)明的一種方案，提供一種光盤片檢測(cè)方法， 包括首先驅(qū)動(dòng)一主軸馬達(dá)(spindle motor)來(lái)讓一光盤片旋轉(zhuǎn)；之后在主 軸馬達(dá)從開(kāi)回路(open lo叩)控制切換到閉回路(close loop)控制時(shí)，取 樣主軸馬達(dá)的一電壓變化值，接下來(lái)再將此電壓變化值與一臨界值做比較，而 根據(jù)比較結(jié)果即可得知光盤片的大小。
為了實(shí)現(xiàn)上述目的，根據(jù)本發(fā)明的另一種實(shí)施例，提供一種光盤片檢測(cè)方 法，包括
(a) 以開(kāi)回路方式驅(qū)動(dòng)一主軸馬達(dá)(spindle motor)以旋轉(zhuǎn)一光盤片；
(b) 切換至閉回路方式驅(qū)動(dòng)該主軸馬達(dá)；
(C)取樣該主軸馬達(dá)的一電壓變化值；
(d) 比較步驟(C)所取樣的該電壓變化值與一暫存值的大小；
(e) 若步驟(d)的比較結(jié)果為該電壓變化值大于該暫存值時(shí)，則該暫存 值設(shè)為步驟(c)中所取樣到的該電壓變化值，并回到步驟(c);
(f) 若步驟(d)的比較結(jié)果為該電壓變化值小于該暫存值時(shí)，則比較該 暫存值與一臨界值的大小，以決定出該光盤片的大小。
而且，為了實(shí)現(xiàn)上述技術(shù)問(wèn)題，根據(jù)本發(fā)明的再一實(shí)施例，提供一種光盤
片檢測(cè)方法，包括
(a) 以開(kāi)回路方式驅(qū)動(dòng)一主軸馬達(dá)(spindle motor)以旋轉(zhuǎn)一光盤片；
(b) 切換至閉回路方式驅(qū)動(dòng)該主軸馬達(dá)；
(c) 取樣該主軸馬達(dá)的一電壓變化值，并將一計(jì)數(shù)值減l;
(d) 判斷該計(jì)數(shù)值是否為O;
(e) 若步驟(d)判斷為否，則將步驟(c)中所取樣到的該電壓變化值 累加到一暫存值中，并回到步驟(c);
(f)若步驟(d)判斷為是，則比較該暫存值除以該計(jì)數(shù)值所得的值與一 臨界值的大小，以決定出該光盤片的大小。
因此，采用本發(fā)明的光盤片檢測(cè)方法，可以讓判斷時(shí)間達(dá)到縮短效果，且
不用增加新的硬件成本，另外，即使在無(wú)FG (Frequency Generator)信號(hào)的 系統(tǒng)中，仍可適用本發(fā)明的判斷方式。


圖1A為8厘米光盤片的馬達(dá)驅(qū)動(dòng)電壓的波形圖； 圖IB為12厘米光盤片的馬達(dá)驅(qū)動(dòng)電壓的波形圖； 圖2為本發(fā)明第一實(shí)施例的流程圖； 圖3為本發(fā)明第二實(shí)施例的流程圖4A為使用本發(fā)明以判斷光盤片大小所需開(kāi)機(jī)時(shí)間的波形圖；以及
圖4B為使用現(xiàn)有技術(shù)中使用檢測(cè)光盤片反射量以判斷光盤片大小所需開(kāi)
機(jī)時(shí)間的波形圖。
其中，附圖標(biāo)記 11、 12區(qū)域
具體實(shí)施例方式
本發(fā)明提出一種光盤片檢測(cè)方法，由于不同大小(如直徑12厘米或8厘米 )的光盤片重量上會(huì)有所不同，因此當(dāng)一光儲(chǔ)存系統(tǒng)的主軸馬達(dá)(spindle motor)以固定電壓來(lái)旋轉(zhuǎn)不同大小的光盤片，主軸馬達(dá)因?yàn)槌惺懿煌呢?fù)載 扭矩，而會(huì)有不同的轉(zhuǎn)速變化，而主軸馬達(dá)的負(fù)載扭矩通常是非線性且主要是 由磨擦扭矩、風(fēng)阻扭矩、機(jī)械扭矩所構(gòu)成。
而對(duì)于光儲(chǔ)存系統(tǒng)的主軸馬達(dá)而言，其主要的轉(zhuǎn)速控制方式，先以開(kāi)回路 (叩en loop)方式驅(qū)動(dòng)主軸馬達(dá)的轉(zhuǎn)速朝一目標(biāo)轉(zhuǎn)速來(lái)旋轉(zhuǎn)，并在主軸馬達(dá) 的轉(zhuǎn)速接近目標(biāo)轉(zhuǎn)速時(shí)，將開(kāi)回路控制方式鎖入至閉回路(close loop)控制 方式以驅(qū)動(dòng)主軸馬達(dá)的轉(zhuǎn)速能精準(zhǔn)控制在目標(biāo)轉(zhuǎn)速。因此在主軸馬達(dá)的驅(qū)動(dòng)電 壓為固定時(shí)，當(dāng)主軸馬達(dá)的負(fù)載扭矩較大時(shí)，主軸馬達(dá)的轉(zhuǎn)速較低，故在鎖閉 回路控制時(shí)因與目標(biāo)轉(zhuǎn)速較接近，因此主軸馬達(dá)此時(shí)的瞬時(shí)電壓變化較小；反 之當(dāng)主軸馬達(dá)的負(fù)載扭矩較小時(shí)，主軸馬達(dá)的轉(zhuǎn)速較高，故在鎖閉回路控制時(shí)因與目標(biāo)轉(zhuǎn)速較接遠(yuǎn)，因此主軸馬達(dá)此時(shí)的瞬時(shí)電壓變化相對(duì)較大。
經(jīng)由前述分析可知，可由觀察主軸馬達(dá)的瞬時(shí)輸入電壓變化而得以明顯區(qū) 分出不同的負(fù)載，而所述瞬時(shí)輸入電壓變化的發(fā)生時(shí)間點(diǎn)是在主軸馬達(dá)的轉(zhuǎn)速 控制由開(kāi)回路控制方式鎖入至閉回路控制方式的瞬間。
如圖1A及圖1B所示，在相同設(shè)定值下，實(shí)際測(cè)量主軸馬達(dá)驅(qū)動(dòng)電壓的變 化，圖1A為驅(qū)動(dòng)直徑8厘米光盤片旋轉(zhuǎn)時(shí)的主軸馬達(dá)驅(qū)動(dòng)電壓波形圖，圖1B 為驅(qū)動(dòng)直徑12厘米光盤片旋轉(zhuǎn)時(shí)的主軸馬達(dá)驅(qū)動(dòng)電壓波形圖，其中區(qū)域11 及12為從開(kāi)回路控制鎖入閉回路控制所發(fā)生瞬時(shí)電壓變化的區(qū)域，很明顯看 出在此區(qū)域中直徑8厘米光盤片的電壓變化值大于直徑12厘米光盤片的電壓 變化值，而此電壓變化值指主軸馬達(dá)在開(kāi)回路控制時(shí)的電壓與在閉回路控制時(shí) 的瞬時(shí)電壓之間的電壓差異。故從區(qū)域11及12可得出只要通過(guò)判斷瞬時(shí)電壓 變化的電壓變化值大小即可得知光盤片的型態(tài)，因此在判斷光盤片時(shí)即可利用 一臨界值來(lái)與區(qū)域11及12中的電壓變化值作比較，當(dāng)電壓變化值大于臨界值 即判此光盤片屬于直徑8厘米光盤片，或是當(dāng)電壓變化值小于臨界值即判此光 盤片屬于直徑12厘米光盤片。此外也可以通過(guò)取樣及累積區(qū)域11及12的瞬 時(shí)電壓變化值以求出區(qū)域11或12的面積值，由此面積值的大小同樣可區(qū)分出 光盤片的型態(tài)為直徑8厘米或12厘米。
故利用前述的原理，本發(fā)明在光儲(chǔ)存系統(tǒng)開(kāi)機(jī)時(shí)，以一個(gè)固定的輸入電壓 輸入到主軸馬達(dá)，而當(dāng)主軸馬達(dá)由開(kāi)回路控制進(jìn)入到閉回路控制時(shí)，取樣此時(shí) 主軸馬達(dá)的瞬時(shí)電壓變化值，再將此取樣的瞬時(shí)電壓變化值與一臨界值作比較 即可得迅速判斷得知是12厘米或8厘米光盤片。
為了更清楚解說(shuō)本發(fā)明實(shí)際判斷光盤片大小的操作方式，本發(fā)明將于后面 提供兩個(gè)實(shí)施例解說(shuō)。
如圖2所示，其為本發(fā)明第一實(shí)施例之流程圖。首先在步驟S201中，設(shè)定 主軸馬達(dá)的轉(zhuǎn)速控制為開(kāi)回路控制即提供固定的一開(kāi)回路踢出(open kick) 電壓供給主軸馬達(dá)以旋轉(zhuǎn)一光盤片，以及設(shè)定一臨界值及一暫存值為O，及設(shè) 定主軸馬達(dá)增益預(yù)設(shè)為供直徑12厘米光盤片使用。接下再將主軸馬達(dá)的轉(zhuǎn)速控 制由開(kāi)回路控制切換至閉回路控制(如步驟S203);以取樣主軸馬達(dá)從開(kāi)回路 控制鎖入閉回路控制所發(fā)生的電壓變化值(如步驟S205);之后判斷所取樣的 電壓變化值是否小于暫存值(如步驟S207)。
而當(dāng)步驟S207的判斷為否，則將暫存值設(shè)定為步驟S205的所取樣電壓變化 值(如步驟S209)，再回到步驟S205繼續(xù)執(zhí)行。
而當(dāng)步驟S207的判斷為是，則進(jìn)一步判斷暫存值是否大于臨界值(如歩驟 S211);當(dāng)步驟S211的判斷為否時(shí)，則表示此光盤片為直徑12厘米的光盤片。 而當(dāng)步驟S211的判斷為是時(shí)，則表示此光盤片為直徑8厘米的光盤片，之后需 設(shè)定主軸馬達(dá)的轉(zhuǎn)速控制為開(kāi)回路控制且設(shè)定主軸馬達(dá)增益為供直徑8厘米光 盤片使用(如步驟S213)，最后再將主軸馬達(dá)的轉(zhuǎn)速控制設(shè)定為閉回路控制( 如步驟S215)。
如圖3所示，其為本發(fā)明第二實(shí)施例之流程圖。首先在步驟S301中，設(shè)定 主軸馬達(dá)的轉(zhuǎn)速控制為開(kāi)回路控制即提供固定的一開(kāi)回路踢出(open kick) 電壓供給主軸馬達(dá)以旋轉(zhuǎn)一光盤片，以及設(shè)定一臨界值、 一暫存值為O及一計(jì) 數(shù)值，以及設(shè)定主軸馬達(dá)增益預(yù)設(shè)為供直徑12厘米光盤片使用。接下再將主軸 馬達(dá)的轉(zhuǎn)速控制由開(kāi)回路控制切換至閉回路控制(如步驟S303);以取樣主軸 馬達(dá)從開(kāi)回路控制鎖入閉回路控制所發(fā)生的電壓變化值以及將計(jì)數(shù)值減l (如 步驟S305);之后經(jīng)過(guò)一段時(shí)間延遲(如步驟S307)，再判斷計(jì)數(shù)值是否為O ( 如步驟S309)。
而當(dāng)步驟S309的判斷為否，則將步驟S305所取樣電壓變化值累加至?xí)捍嬷?(如步驟S311)，再回到步驟S305繼續(xù)執(zhí)行。
而當(dāng)步驟S309的判斷為是，則進(jìn)一步判斷(暫存值/計(jì)數(shù)值)是否大于臨 界值(如步驟S313);當(dāng)步驟S313的判斷為否時(shí)，則表示此光盤片為直徑12厘 米的光盤片。而當(dāng)歩驟S313的判斷為是時(shí)，則表示此光盤片為直徑8厘米的光 盤片，之后需設(shè)定主軸馬達(dá)的轉(zhuǎn)速控制為開(kāi)回路控制且設(shè)定主軸馬達(dá)增益為供 8厘米光盤片使用(如步驟S315)，最后再將主軸馬達(dá)的轉(zhuǎn)速控制設(shè)定為閉回路 控制(如步驟S317)。
請(qǐng)參閱圖4A及圖4B所示，其中圖4A為以本發(fā)明判斷光盤片大小所需開(kāi)機(jī)時(shí) 間，圖4B為使用檢測(cè)光盤片反射量以判斷光盤片大小所需開(kāi)機(jī)時(shí)間，圖4A及圖 4B的開(kāi)機(jī)時(shí)間指電壓準(zhǔn)位為高準(zhǔn)位的維持時(shí)間，經(jīng)由比較圖4A及圖4b很明顯可 以得知利用本發(fā)明的方式可以讓開(kāi)機(jī)時(shí)間有效縮短。
綜上所述，本發(fā)明所提供的光盤片檢測(cè)方法，具有下列特點(diǎn)
1、判斷光盤片大小所需的時(shí)間可大幅節(jié)省，且對(duì)于光儲(chǔ)存系統(tǒng)而言，其
完整的開(kāi)機(jī)流程主要是指從按下?lián)芊沛I開(kāi)始讀取光盤片，直到撥出聲音為止， 而其中的處理包括判斷盤片型態(tài)、信號(hào)大小的校正，讀取頭或馬達(dá)由開(kāi)回路 鎖上閉回路的相關(guān)控制等，而本發(fā)明主要利用主軸馬達(dá)由開(kāi)回路鎖上閉回路的 這一段時(shí)間來(lái)判斷光盤片大小，而此段時(shí)間原本即已在完整開(kāi)機(jī)過(guò)程中，因此 本發(fā)明提供的判斷方式并不會(huì)額外增加開(kāi)機(jī)流程的時(shí)間。
2、本發(fā)明所提供的判斷方式無(wú)需額外新增硬件成本，在既有光儲(chǔ)存系統(tǒng)
中即可執(zhí)行，且可彈性適用于光儲(chǔ)存系統(tǒng)使用于CLV或CAV的控制方式。
當(dāng)然，本發(fā)明還可有其它多種實(shí)施例，在不背離本發(fā)明精神及其實(shí)質(zhì)的情 況下，熟悉本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員當(dāng)可根據(jù)本發(fā)明做出各種相應(yīng)的改變和變 形，但這些相應(yīng)的改變和變形都應(yīng)屬于本發(fā)明所附的權(quán)利要求的保護(hù)范圍。
權(quán)利要求
1、一種光盤片檢測(cè)方法，其特征在于，包括驅(qū)動(dòng)一主軸馬達(dá)以旋轉(zhuǎn)一光盤片；取樣該主軸馬達(dá)的一電壓變化值，在該主軸馬達(dá)從開(kāi)回路控制切換到閉回路控制時(shí)；以及比較該電壓變化值與一臨界值，以決定出該光盤片的大小。
2、 根據(jù)權(quán)利要求1所述的光盤片檢測(cè)方法，其特征在于，當(dāng)該電壓變化 值小于該臨界值時(shí)，表示該光盤片的大小屬于直徑12厘米光盤片。
3、 根據(jù)權(quán)利要求1所述之光盤片檢測(cè)方法，其特征在于，當(dāng)該電壓變化 值大于該臨界值時(shí)，表示該光盤片的大小屬于直徑8厘米光盤片。
4、 根據(jù)權(quán)利要求1所述的光盤片檢測(cè)方法，其特征在于，該主軸馬達(dá)在 開(kāi)回路控制時(shí)的供應(yīng)電壓為固定值。
5、 根據(jù)權(quán)利要求1所述的光盤片檢測(cè)方法，其特征在于，該電壓變化值 為該主軸馬達(dá)在開(kāi)回路控制時(shí)的電壓與在閉回路控制時(shí)的瞬時(shí)電壓之間的電 壓差異。
6、 一種光盤片檢測(cè)方法，其特征在于，包括(a) 以開(kāi)回路方式驅(qū)動(dòng)一主軸馬達(dá)以旋轉(zhuǎn)一光盤片-，(b) 切換至閉回路方式驅(qū)動(dòng)該主軸馬達(dá)；(c) 取樣該主軸馬達(dá)的一電壓變化值；(d) 比較步驟(c)所取樣的該電壓變化值與一暫存值的大??；(e) 若步驟(d)的比較結(jié)果為該電壓變化值大于該暫存值時(shí)，則該暫存 值設(shè)為步驟(c)中所取樣到的該電壓變化值，并回到步驟(c);以及(f) 若步驟(d)的比較結(jié)果為該電壓變化值小于該暫存值時(shí)，則比較該 暫存值與一臨界值的大小，以決定出該光盤片的大小。
7、 根據(jù)權(quán)利要求6所述的光盤片檢測(cè)方法，其特征在于，當(dāng)該暫存值小 于該臨界值時(shí)，表示該光盤片的大小屬于直徑12厘米光盤片。
8、 根據(jù)權(quán)利要求6所述的光盤片檢測(cè)方法，其特征在于，當(dāng)該暫存值大 于該臨界值時(shí)，表示該光盤片的大小屬于直徑8厘米光盤片。
9、 根據(jù)權(quán)利要求8所述的光盤片檢測(cè)方法，其特征在于，還進(jìn)一步包括- (g)切換至閉回路方式驅(qū)動(dòng)該主軸馬達(dá)，以及設(shè)定該主軸馬達(dá)的增益為供直徑8厘米光盤片使用。
10、 根據(jù)權(quán)利要求項(xiàng)所9述的光盤片檢測(cè)方法，其特征在于，還進(jìn)一步 包括(h)切換至開(kāi)回路方式驅(qū)動(dòng)該主軸馬達(dá)。
11、 根據(jù)權(quán)利要求6所述的光盤片檢測(cè)方法，其特征在于，該主軸馬達(dá) 在開(kāi)回路控制時(shí)的供應(yīng)電壓為固定值。
12、 根據(jù)權(quán)利要求6所述的光盤片檢測(cè)方法，其特征在于，該電壓變化值 為該主軸馬達(dá)在開(kāi)回路控制時(shí)的電壓與在閉回路控制時(shí)的瞬時(shí)電壓之間的電 壓差異。
13、 根據(jù)權(quán)利要求6所述的光盤片檢測(cè)方法，其特征在于，該步驟(a) 中還包括設(shè)定該暫存值為O及設(shè)定該臨界值，以及設(shè)定該主軸馬達(dá)的增益為 供直徑12厘米光盤片使用。
14、 一種光盤片檢測(cè)方法，其特征在于，包括(a) 以開(kāi)回路方式驅(qū)動(dòng)一主軸馬達(dá)以旋轉(zhuǎn)一光盤片；(b) 切換至閉回路方式驅(qū)動(dòng)該主軸馬達(dá)；(C)取樣該主軸馬達(dá)的一電壓變化值，并將一計(jì)數(shù)值減l;(d) 判斷該計(jì)數(shù)值是否為0;(e) 若步驟(d)判斷為否，則將步驟(c)中所取樣到的該電壓變化值 累加到一暫存值中，并回到步驟(c);以及(f) 若步驟(d)判斷為是，則比較該暫存值除以該計(jì)數(shù)值所得的值與一 臨界值的大小，以決定出該光盤片的大小。
15、 根據(jù)權(quán)利要求14所述的光盤片檢測(cè)方法，其特征在于，該暫存值除 以該計(jì)數(shù)值所得的值小于該臨界值時(shí)，表示該光盤片的大小屬于直徑12厘米 光盤片。
16、 根據(jù)權(quán)利要求14所述的光盤片檢測(cè)方法，其特征在于，該暫存值除 以該計(jì)數(shù)值所得的值大于該臨界值時(shí)，表示該光盤片的大小屬于直徑8厘米光 盤片。
17、 根據(jù)權(quán)利要求16所述的光盤片檢測(cè)方法，其特征在于，還進(jìn)一步包括(g)切換至閉回路方式驅(qū)動(dòng)該主軸馬達(dá)，以及設(shè)定該主軸馬達(dá)的增益為 供直徑8厘米光盤片使用。
18、 根據(jù)權(quán)利要求17所述的光盤片檢測(cè)方法，其特征在于，還進(jìn)一步包括(h)切換至開(kāi)回路方式驅(qū)動(dòng)該主軸馬達(dá)。
19、 根據(jù)權(quán)利要求14所述的光盤片檢測(cè)方法，其特征在于，該主軸馬達(dá) 于開(kāi)回路控制時(shí)的供應(yīng)電壓為固定值。
20、 根據(jù)權(quán)利要求14所述的光盤片檢測(cè)方法，其特征在于，該電壓變化 值為該主軸馬達(dá)在開(kāi)回路控制時(shí)的電壓與在閉回路控制時(shí)的瞬時(shí)電壓之間的電壓差異。
21、 根據(jù)權(quán)利要求14所述的光盤片檢測(cè)方法，其特征在于，該步驟(a) 中還包括設(shè)定該暫存值為0，設(shè)定該臨界值，設(shè)定該計(jì)數(shù)值，以及設(shè)定該主 軸馬達(dá)的增益為供直徑12厘米光盤片使用。
22、 根據(jù)權(quán)利要求14所述的光盤片檢測(cè)方法，其特征在于，還進(jìn)一步包 括(cl)于步驟(c)之后延遲一段時(shí)間。
全文摘要
本發(fā)明公開(kāi)了一種光盤片檢測(cè)方法，利用直徑12厘米及8厘米光盤片大小的重量不同，當(dāng)主軸馬達(dá)在固定電壓驅(qū)動(dòng)下時(shí)，以承載不同負(fù)載時(shí)，主軸馬達(dá)的轉(zhuǎn)速會(huì)有所不同，特別是在主軸馬達(dá)從開(kāi)回路控制切入到閉回路控制時(shí)，此時(shí)主軸馬達(dá)的瞬時(shí)電壓變化值可以反應(yīng)出不同光盤片的大小，因此本發(fā)明通過(guò)判斷此電壓變化值，而決定出光盤片的大小。
文檔編號(hào)G11B7/00GK101114487SQ20061010396
公開(kāi)日2008年1月30日 申請(qǐng)日期2006年7月28日 優(yōu)先權(quán)日2006年7月28日
發(fā)明者王良彥 申請(qǐng)人:揚(yáng)智科技股份有限公司