專利名稱：一種內(nèi)存性能的生產(chǎn)測(cè)試方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種內(nèi)存測(cè)試方法，尤其涉及的是一種快速、高效的內(nèi)存性能 生產(chǎn)測(cè)試方法。
背景技術(shù)：
在計(jì)算機(jī)和通信領(lǐng)域內(nèi)，各種內(nèi)存(包括SRAM、 SDRAM和DDR SDRAM)的性能直接影響到單板乃至系統(tǒng)的穩(wěn)定性。如何對(duì)內(nèi)存進(jìn)行快速、 高效、全面的測(cè)試一直是業(yè)界研究的課題。
目前業(yè)界主要采用內(nèi)存壓力測(cè)試(RAM Stress Test)的方式對(duì)內(nèi)存進(jìn)行全 面的測(cè)試。其優(yōu)點(diǎn)是測(cè)試比較全面、可靠，但缺點(diǎn)是耗時(shí)太長(zhǎng)，而且需要對(duì) 內(nèi)存建立獨(dú)立的測(cè)試環(huán)境，不適宜于大批量的生產(chǎn)測(cè)試。
在生產(chǎn)測(cè)試中，往往對(duì)存儲(chǔ)器件采用簡(jiǎn)單的功能測(cè)試，例如對(duì)內(nèi)存的數(shù)據(jù) 線、地址線和存儲(chǔ)單元功能讀寫(xiě)功能進(jìn)行測(cè)試，這種方式速度很快，但是沒(méi) 有對(duì)內(nèi)存性能進(jìn)行測(cè)試，主要指的是內(nèi)存顆粒的穩(wěn)定性，往往會(huì)留下很大的 質(zhì)量隱患。
在中國(guó)專利號(hào)為CN01140560專利名稱為《動(dòng)態(tài)存儲(chǔ)器功能測(cè)試方法》中， 公開(kāi)了對(duì)RAM芯片進(jìn)行功能測(cè)試的方法，包括對(duì)數(shù)據(jù)線、地址線和存儲(chǔ)單元 的讀寫(xiě)功能測(cè)試等，但也沒(méi)有對(duì)內(nèi)存性能進(jìn)行測(cè)試。
因此，現(xiàn)有技術(shù)還有待于改進(jìn)和發(fā)展。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的在于提供一種內(nèi)存性能的生產(chǎn)測(cè)試方法，是為了解決內(nèi)存
的生產(chǎn)測(cè)試中測(cè)試效率與測(cè)試可靠性的矛盾而設(shè)計(jì)的，它主要應(yīng)用子內(nèi)存的 生產(chǎn)測(cè)試，能夠以較短的時(shí)間對(duì)內(nèi)存實(shí)觀身交為全面的測(cè)試。
本發(fā)明的技術(shù)方案包括
一種內(nèi)存性能的生產(chǎn)測(cè)試方法，其包括以下步驟 至少包括下列任意一種性能測(cè)試方法
A、 測(cè)試內(nèi)存在帶CACHE大面積寫(xiě)入后讀取的穩(wěn)定性；
B、 測(cè)試內(nèi)存在帶CACHE隨機(jī)地址大跨度跳躍讀寫(xiě)時(shí)的穩(wěn)定性。 所述的方法，其中，所述方法A具體還包括
Al、用帶Cache的方式申請(qǐng)最大的內(nèi)存空間； B1 、向申請(qǐng)到的所有內(nèi)存空間 一次性寫(xiě)入測(cè)試數(shù)據(jù)； Cl、逐個(gè)讀出各地址內(nèi)的數(shù)據(jù)，與寫(xiě)入的相應(yīng)測(cè)試數(shù)據(jù)進(jìn)行比較，如果 不一致則中止測(cè)試并報(bào)告故障信息；
Dl、重復(fù)步驟B1—Cl的操作直至達(dá)到設(shè)定的重復(fù)測(cè)試次數(shù)； El、測(cè)試完后釋^L所申請(qǐng)的內(nèi)存空間。 所述的方法，其中，所述方法B還包括 A2、用帶Cache的方式申請(qǐng)最大的內(nèi)存空間； B2、定義一個(gè)指針數(shù)組；
C2、依次給指針數(shù)組中的各指針賦值，使得各指針隨機(jī)指向所述步驟A2 中申請(qǐng)到的地址空間內(nèi)的任意地址值，直至數(shù)組中的所有指針地址均賦值完
畢；
D2、依次向各指針?biāo)赶虻膬?nèi)存地址中寫(xiě)入隨機(jī)的測(cè)試數(shù)據(jù)； E2、依次讀出各指針?biāo)赶虻膬?nèi)存地址中的實(shí)際數(shù)據(jù)，與寫(xiě)入的測(cè)試數(shù) 據(jù)進(jìn)行比較，如果不一致則中止測(cè)試并報(bào)告故障信息；
F2、重復(fù)步驟C2—E2的搡作直至達(dá)到設(shè)定的重復(fù)測(cè)試次數(shù)； G2、測(cè)試完后釋放所申請(qǐng)的內(nèi)存空間。
所述的方法，其中，所述步驟C2中的各指針的賦值不重復(fù)，如果某次指
針地址的賦值與前面任意一個(gè)地址值相同，則對(duì)其重新賦值。
所述的方法，其中，在所述性能測(cè)試之前進(jìn)行常規(guī)功能測(cè)試，其包括
A3、對(duì)內(nèi)存的地址空間測(cè)試；
B3、對(duì)數(shù)據(jù)線斷路或短路故障測(cè)試；
C3、對(duì)地址線斷路或短路故障測(cè)試；
D3、對(duì)內(nèi)存數(shù)據(jù)讀寫(xiě)測(cè)試，對(duì)所有的可用內(nèi)存空間進(jìn)行一次數(shù)據(jù)讀寫(xiě)的 遍歷測(cè)試。
所述的方法，其中，所述步驟A3還包括盡可能的申請(qǐng)最大的地址空間， 驗(yàn)證內(nèi)存的實(shí)際地址空間是否與設(shè)計(jì)容量相符。 所述的方法，其中，所述步驟A3還包括 A31、用帶Cache的方式申請(qǐng)最大的內(nèi)存空間。 所述的方法，其中，所述步驟B3和C3還包括
采用走"o"法或走"r，法對(duì)地址線或數(shù)據(jù)線進(jìn)行測(cè)試。
所述的方法，其中，所述步驟D3還包括
D31、從所申請(qǐng)內(nèi)存區(qū)的起始地址開(kāi)始，寫(xiě)入測(cè)試數(shù)據(jù)，讀出該地址中的 數(shù)據(jù)，檢測(cè)與寫(xiě)入的數(shù)據(jù)是否一致，出錯(cuò)即報(bào)告測(cè)試結(jié)果，否則繼續(xù)測(cè)試；
D32、測(cè)試地址指針依次加l，重復(fù)第二步的測(cè)試步驟，直至所有地址測(cè) 試完畢；
D33、測(cè)試完后釋放所申請(qǐng)的內(nèi)存空間。
本發(fā)明所提供的 一種內(nèi)存性能的生產(chǎn)測(cè)試方法，所采用的測(cè)試方法與業(yè)界 常用的內(nèi)存壓力測(cè)試(RAM Stress Test)方式相比，能節(jié)省測(cè)試時(shí)間，提高測(cè) 試效率，而且更適用于生產(chǎn)測(cè)試；而與生產(chǎn)測(cè)試中常用的功能測(cè)試方法相比， 則能彌補(bǔ)其對(duì)內(nèi)存性能(內(nèi)存顆粒的穩(wěn)定性)測(cè)試方面的不足。


圖1為本發(fā)明方法的內(nèi)存在帶CACHE大面積寫(xiě)入后讀取的穩(wěn)定性測(cè)試流
程示意圖2為本發(fā)明方法的內(nèi)存在帶CACHE隨機(jī)地址大跨度跳躍讀寫(xiě)的穩(wěn)定性 測(cè)試流程示意圖。
具體實(shí)施例方式
下面通過(guò)具體的實(shí)例并結(jié)合附圖，將對(duì)本發(fā)明作進(jìn)一步詳細(xì)描述。 本發(fā)明的內(nèi)存性能的生產(chǎn)測(cè)試方法，其測(cè)試步驟如圖l所示的，包括如下 步驟
首先對(duì)內(nèi)存進(jìn)行常規(guī)功能測(cè)試；所述常規(guī)功能測(cè)試主要包括以下各步驟 第一，對(duì)內(nèi)存的地址空間測(cè)試；內(nèi)存地址空間測(cè)試的主要目的是驗(yàn)證內(nèi)
存容量大小是否正確。其測(cè)試方式為盡可能的申請(qǐng)最大的地址空間，驗(yàn)證
內(nèi)存的實(shí)際地址空間是否與設(shè)計(jì)容量相符。
第二，對(duì)數(shù)據(jù)線斷路或短路故障測(cè)試主要目的是測(cè)試內(nèi)存數(shù)據(jù)線是否
存在斷路(虛焊)和短路的現(xiàn)象?？梢圆捎米?O"法或走'T，法對(duì)數(shù)據(jù)線進(jìn)行測(cè)試。
第三，對(duì)地址線斷路或短路故障測(cè)試在數(shù)據(jù)線測(cè)試通過(guò)的前提下，進(jìn) 行地址線測(cè)試。本測(cè)試的主要目的是測(cè)試內(nèi)存數(shù)據(jù)線是否存在斷路(虛焊) 和短路的現(xiàn)象。與數(shù)據(jù)線測(cè)試類似，可以采用走"O"法或走"l"法對(duì)地址線進(jìn)行 測(cè)試。
第四，對(duì)內(nèi)存數(shù)據(jù)讀寫(xiě)測(cè)試對(duì)所有的可用內(nèi)存空間進(jìn)行一次數(shù)據(jù)讀寫(xiě) 的遍歷測(cè)試。
本實(shí)施例中，為了提高測(cè)試的效率和可靠性，本發(fā)明方法對(duì)常規(guī)測(cè)試方 法作出一點(diǎn)改進(jìn)，采取帶Cache的方式來(lái)進(jìn)行讀寫(xiě)測(cè)試。具體測(cè)試步驟為
A、用帶Cache的方式申請(qǐng)最大的內(nèi)存空間，之所以采用帶Cache的方式 的方式， 一方面是加快測(cè)試速度，提高測(cè)試效率；另一方面也對(duì)內(nèi)存數(shù)據(jù)讀 寫(xiě)提出了更高的速率要求，使得測(cè)試更為可靠。
B、 從所申請(qǐng)內(nèi)存區(qū)的起始地址開(kāi)始，寫(xiě)入測(cè)試數(shù)據(jù)，然后讀出該地址中 的數(shù)據(jù)，檢測(cè)與寫(xiě)入的數(shù)據(jù)是否一致，出錯(cuò)即報(bào)告測(cè)試結(jié)果，否則繼續(xù)測(cè)試；
C、 測(cè)試地址指針依次加l,重復(fù)步驟B中的測(cè)試，直至所有地址測(cè)試完
畢；
D、 測(cè)試完后釋放所申請(qǐng)的內(nèi)存空間。
其次，對(duì)內(nèi)存進(jìn)行性能測(cè)試，內(nèi)存性能測(cè)試主要是對(duì)內(nèi)存的顆粒穩(wěn)定性進(jìn) 行測(cè)試，如圖2所示的，其測(cè)試至少包括下列任意一種測(cè)試方法
其一，測(cè)試內(nèi)存在帶CACHE大面積寫(xiě)入后讀取的穩(wěn)定性，該步驟包括以 下各步驟
Al、用帶Cache的方式申請(qǐng)最大的內(nèi)存空間。 Bl、向申請(qǐng)到的所有內(nèi)存空間一次性寫(xiě)入測(cè)試數(shù)據(jù)，這里的"一次性" 是指向所申請(qǐng)到的內(nèi)存空間逐個(gè)地址連續(xù)寫(xiě)入測(cè)試數(shù)據(jù)，而不進(jìn)行讀取操 作。另外，為了保證測(cè)試的可靠性，寫(xiě)入數(shù)據(jù)時(shí)應(yīng)該保證各地址間的測(cè)試 數(shù)據(jù)各不相同，例如分別向地址i寫(xiě)入數(shù)據(jù)i，或者i+l， i + 2等。
Cl、逐個(gè)讀出各地址內(nèi)的數(shù)據(jù)，與寫(xiě)入的相應(yīng)測(cè)試數(shù)據(jù)進(jìn)行比較，如 果不一致則中止測(cè)試并報(bào)告故障信息；在上面步驟Bl中完成了所有地址 空間的寫(xiě)操作后，本步驟即進(jìn)行讀操作，并驗(yàn)證讀取到的實(shí)際數(shù)據(jù)與原來(lái) 寫(xiě)入的數(shù)據(jù)是否一致，如果不一致則說(shuō)明內(nèi)存存在故障，此時(shí)即退出測(cè)試， 根據(jù)出錯(cuò)地址進(jìn)行故障定位，并報(bào)告故障信息。如果一致則繼續(xù) ￡下個(gè) 地址空間的數(shù)據(jù)，直至所有地址空間均驗(yàn)證通過(guò)。
Dl、重復(fù)步驟B1—Cl的才喿作直至達(dá)到設(shè)定的重復(fù)測(cè)試次數(shù)；為測(cè)試 內(nèi)存顆粒的穩(wěn)定性，本項(xiàng)測(cè)試需要重復(fù)多次，重復(fù)次數(shù)可根據(jù)測(cè)試時(shí)間和 所需達(dá)到的測(cè)試效果進(jìn)行調(diào)整。測(cè)試次數(shù)越多，測(cè)試越嚴(yán)格，但耗時(shí)越長(zhǎng)。 一般說(shuō)來(lái)，本項(xiàng)測(cè)試需重復(fù)5次以上。
El、測(cè)試完后釋;^文所申請(qǐng)的內(nèi)存空間。 其二，測(cè)試內(nèi)存在帶CACHE隨機(jī)地址大跨度跳躍讀寫(xiě)時(shí)的穩(wěn)定性，該步
驟包括以下各步驟
A2、用帶Cache的方式申請(qǐng)最大的內(nèi)存空間。
B2、定義一個(gè)指針數(shù)組；這里的指針數(shù)組一般為一維數(shù)組，指針數(shù)組 的類型應(yīng)與測(cè)試內(nèi)存所讀寫(xiě)的數(shù)據(jù)類型一致，而數(shù)組的容量(即數(shù)組中所 包含的指針的個(gè)數(shù))可根據(jù)期望的測(cè)試時(shí)間和所需達(dá)到的測(cè)試效果進(jìn)行調(diào) 整。數(shù)組容量越大，測(cè)試越嚴(yán)格，但耗時(shí)越長(zhǎng)。 一般來(lái)說(shuō)，以512M容量 的內(nèi)存為例，數(shù)組的容量可以取200左右。
C2、依次給指針數(shù)組中的各指針賦值，使得各指針隨機(jī)指向前面A2 步驟中申請(qǐng)到的地址空間內(nèi)的任意地址值，直至數(shù)組中的所有指針地址均 賦值完畢。但須注意各指針的賦值不得重復(fù)，如果某次指針地址的賦值 與前面任意一個(gè)地址值相同，則必須對(duì)其重新賦值。
這里還需要注意的是各指針?biāo)赶虻牡刂繁仨毷窃谒暾?qǐng)到的地址空 間內(nèi)隨意分配的，不能按地址空間的順序連續(xù)分配，不然就起不到測(cè)試其 大if爭(zhēng)度跳越讀寫(xiě)穩(wěn)定性的效果。
D2、依次向各指針?biāo)赶虻膬?nèi)存地址中寫(xiě)入隨機(jī)的測(cè)試數(shù)據(jù)；同樣， 這里只向所有指針?biāo)赶虻牡刂房臻g內(nèi)依次寫(xiě)入測(cè)試數(shù)據(jù)，而不進(jìn)行讀操 作。
E2、依次讀出各指針?biāo)赶虻膬?nèi)存地址中的實(shí)際數(shù)據(jù)，與寫(xiě)入的測(cè)試 數(shù)據(jù)進(jìn)行比較，如果不一致則中止測(cè)試并報(bào)告故障信息。
在上面D2步驟中完成了所有指針的寫(xiě)操作后，本步驟即進(jìn)行讀操作， 并驗(yàn)證讀取到的實(shí)際數(shù)據(jù)與原來(lái)寫(xiě)入的數(shù)據(jù)是否一致，如果不一致則說(shuō)明 內(nèi)存存在故障，此時(shí)立即退出測(cè)試，根據(jù)出錯(cuò)地址進(jìn)行故障定位，并報(bào)告 故障信息。如果一致則繼續(xù)驗(yàn)證下個(gè)指針?biāo)赶虻牡刂房臻g內(nèi)的數(shù)據(jù)，直 至所有指針均驗(yàn)證通過(guò)。
F2、重復(fù)C2—E2的操作直至達(dá)到設(shè)定的重復(fù)測(cè)試次數(shù)；注意，為測(cè) 試內(nèi)存顆粒的穩(wěn)定性，本項(xiàng)測(cè)試必須重復(fù)多次！重復(fù)次數(shù)可根據(jù)測(cè)試時(shí)間
和所需達(dá)到的測(cè)試效果進(jìn)行調(diào)整。測(cè)試次數(shù)越多，測(cè)試越嚴(yán)格，但耗時(shí)越
長(zhǎng)。 一般來(lái)講本項(xiàng)重復(fù)次數(shù)應(yīng)該在105數(shù)量級(jí)。 G2、測(cè)試完后釋力文所申請(qǐng)的內(nèi)存空間。 總之，本發(fā)明方法能夠在較短的時(shí)間內(nèi)，在內(nèi)存基本功能測(cè)試的基礎(chǔ)上， 對(duì)內(nèi)存的性能進(jìn)行比較全面的測(cè)試，極其適用于大批量的生產(chǎn)測(cè)試中對(duì)內(nèi)存 進(jìn)行性能測(cè)試。
但應(yīng)當(dāng)理解的是，上述針對(duì)具體實(shí)施例的描述較為詳細(xì)，并不能因此而認(rèn) 為是對(duì)本發(fā)明專利保護(hù)范圍的限制，本發(fā)明的專利保護(hù)范圍應(yīng)以所附權(quán)利要 求為準(zhǔn)。
權(quán)利要求
1、一種內(nèi)存性能的生產(chǎn)測(cè)試方法，其包括以下步驟至少包括下列任意一種性能測(cè)試方法A、測(cè)試內(nèi)存在帶CACHE大面積寫(xiě)入后讀取的穩(wěn)定性；B、測(cè)試內(nèi)存在帶CACHE隨機(jī)地址大跨度跳躍讀寫(xiě)時(shí)的穩(wěn)定性。
2、 根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法A具體還包括 Al、用帶Cache的方式申請(qǐng)最大的內(nèi)存空間；B1 、向申請(qǐng)到的所有內(nèi)存空間 一次性寫(xiě)入測(cè)試數(shù)據(jù)； Cl、逐個(gè)讀出各地址內(nèi)的數(shù)據(jù)，與寫(xiě)入的相應(yīng)測(cè)試數(shù)據(jù)進(jìn)行比較，如 果不一致則中止測(cè)試并報(bào)告故障信息；Dl、重復(fù)步驟B1—C1的操作直至達(dá)到設(shè)定的重復(fù)測(cè)試次數(shù)； El、測(cè)試完后釋放所申請(qǐng)的內(nèi)存空間。
3、 根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法B還包括 A2、用帶Cache的方式申請(qǐng)最大的內(nèi)存空間；B2、定義一個(gè)指針數(shù)組；C2、依次給指針數(shù)組中的各指針賦值，使得各指針隨機(jī)指向所述步驟 A2中申請(qǐng)到的地址空間內(nèi)的任意地址值，直至數(shù)組中的所有指針地址均賦 值完畢；D2、依次向各指針?biāo)赶虻膬?nèi)存地址中寫(xiě)入隨機(jī)的測(cè)試數(shù)據(jù)； E2、依次讀出各指針?biāo)赶虻膬?nèi)存地址中的實(shí)際數(shù)據(jù)，與寫(xiě)入的測(cè)試 數(shù)據(jù)進(jìn)行比較，如果不一致則中止測(cè)試并才艮告故障信息；F2、重復(fù)步驟C2—E2的操作直至達(dá)到設(shè)定的重復(fù)測(cè)試次數(shù)； G2、測(cè)試完后釋放所申請(qǐng)的內(nèi)存空間。
4、 根據(jù)權(quán)利要求3所述的方法，其特征在于，所述步驟C2中的各指 針的賦值不重復(fù)，如果某次指針地址的賦值與前面任意一個(gè)地址值相同，則對(duì)其重新賦值。
5、 根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，在所述性能測(cè)試之前進(jìn) 行常規(guī)功能測(cè)試，其包括A3、對(duì)內(nèi)存的地址空間測(cè)試；B3、對(duì)數(shù)據(jù)線斷路或短路故障測(cè)試；C3、對(duì)地址線斷路或短路故障測(cè)試；D3、對(duì)內(nèi)存數(shù)據(jù)讀寫(xiě)測(cè)試，對(duì)所有的可用內(nèi)存空間進(jìn)行一次數(shù)據(jù)讀寫(xiě) 的遍歷測(cè)-試。
6、 根據(jù)權(quán)利要求5所述的方法，其特征在于，所述步驟A3還包括 盡可能的申請(qǐng)最大的地址空間，驗(yàn)證內(nèi)存的實(shí)際地址空間是否與設(shè)計(jì)容量相符。
7、 根據(jù)權(quán)利要求6所述的方法，其特征在于，所述步驟A3還包括 A31、用帶Cache的方式申請(qǐng)最大的內(nèi)存空間。
8、 根據(jù)權(quán)利要求5所述的方法，其特征在于，所述步驟B3和C3還包括采用走"O"法或走'T，法對(duì)地址線或數(shù)據(jù)線進(jìn)行測(cè)試。
9、 根據(jù)權(quán)利要求5所述的方法，其特征在于，所述步驟D3還包括 D31、從所申請(qǐng)內(nèi)存區(qū)的起始地址開(kāi)始，寫(xiě)入測(cè)試數(shù)據(jù)，讀出該地址中的數(shù)據(jù)，檢測(cè)與寫(xiě)入的數(shù)據(jù)是否一致，出錯(cuò)即報(bào)告測(cè)試結(jié)果，否則繼續(xù)測(cè)試;D32、測(cè)試地址指針依次加1，重復(fù)第二步的測(cè)試步驟，直至所有地址 測(cè)試完畢；D33、測(cè)試完后釋^t所申請(qǐng)的內(nèi)存空間。
全文摘要
本發(fā)明公開(kāi)了一種內(nèi)存性能的生產(chǎn)測(cè)試方法，其包括以下步驟至少包括下列任意一種性能測(cè)試方法測(cè)試內(nèi)存在帶CACHE大面積寫(xiě)入后讀取的穩(wěn)定性；測(cè)試內(nèi)存在帶CACHE隨機(jī)地址大跨度跳躍讀寫(xiě)時(shí)的穩(wěn)定性。本發(fā)明方法所采用的測(cè)試方法與業(yè)界常用的內(nèi)存壓力測(cè)試(RAM Stress Test)方式相比，能節(jié)省測(cè)試時(shí)間，提高測(cè)試效率，而且更適用于生產(chǎn)測(cè)試；而與生產(chǎn)測(cè)試中常用的功能測(cè)試方法相比，則能彌補(bǔ)其對(duì)內(nèi)存性能(內(nèi)存顆粒的穩(wěn)定性)測(cè)試方面的不足。
文檔編號(hào)G11C29/00GK101110271SQ20061009887
公開(kāi)日2008年1月23日 申請(qǐng)日期2006年7月17日 優(yōu)先權(quán)日2006年7月17日
發(fā)明者汪浩然, 浩 陳, 毅 黃 申請(qǐng)人:中興通訊股份有限公司