專利名稱：盤記錄控制方法及盤記錄控制設(shè)備的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種盤記錄控制方法及盤記錄控制設(shè)備，通過在盤介質(zhì)的軌道中的扇區(qū)進行數(shù)據(jù)記錄。
背景技術(shù)：
(1)在光盤記錄時的缺陷管理處理在光盤介質(zhì)記錄處理中，用于執(zhí)行在記錄時的缺陷管理處理的標準變得更加普通，以便即使在發(fā)生由于缺陷，如在光盤介質(zhì)本身上的刮痕或灰塵所引起的記錄操作失敗、記錄質(zhì)量的降低等時，保護來自上級設(shè)備(higher-leveldevice)所請求的記錄數(shù)據(jù)。
在缺陷管理處理中，當在記錄操作期間發(fā)生錯誤或者在記錄之后的信息驗證操作失敗時，執(zhí)行分配在同一盤上準備的用于替換記錄的區(qū)域的部分區(qū)域(替換后區(qū)域)的處理(替換處理)，以將在其中發(fā)生失敗的區(qū)域(替換前區(qū)域)中的記錄數(shù)據(jù)記錄到該部分區(qū)域中。
在替換處理中，當?shù)教鎿Q后區(qū)域的記錄失敗或者當?shù)教鎿Q后區(qū)域的記錄之后的驗證操作失敗時，進一步分配另一替換后區(qū)域以再次執(zhí)行替換記錄。同時，執(zhí)行處理以便與替換前區(qū)域和替換后區(qū)域之間的替換有關(guān)的信息被注冊到缺陷管理表中。
也就是，即使發(fā)生記錄失敗，可通過對另一區(qū)域執(zhí)行替換記錄來防止記錄處理的錯誤終止和記錄數(shù)據(jù)消失。此外，當下次產(chǎn)生訪問注冊在缺陷管理表中的地址的請求時，該請求可按照缺陷管理表被用于訪問相應的替換后地址的請求所替換。
(2)光盤介質(zhì)上的區(qū)域的檢驗處理在記錄與在上述(1)中所說明的缺陷管理相關(guān)的光盤介質(zhì)中，對于數(shù)據(jù)記錄請求或者隨后的盤訪問請求來說，由于發(fā)生替換處理，可能出現(xiàn)延時。
為了避免這種問題，在記錄開始之前預先對光盤介質(zhì)上的記錄區(qū)域執(zhí)行檢驗刮痕和灰塵的處理(區(qū)域健全性檢驗處理)(例如，參見日本公開號為2001-256649的未審查專利)。
可以通過預先從將要進行記錄的區(qū)域中排除已經(jīng)確認存在刮痕或者灰塵的區(qū)域，并且分配替換區(qū)域來防止發(fā)生由于記錄處理中的失敗所引起的替換處理。
(1)在傳統(tǒng)方法中，關(guān)于為了避免在記錄處理中的失敗，而在記錄開始之前預先對光盤介質(zhì)上的記錄區(qū)域執(zhí)行檢驗刮痕和灰塵存在與否的處理，存在如下問題，即需要從上級設(shè)備側(cè)發(fā)出檢驗命令以檢驗刮痕或灰塵，以及還需要改變上級設(shè)備的應用程序以裝配健全性檢驗處理。
(2)通常通過利用再生級強度的激光束輻射光盤介質(zhì)來執(zhí)行將在記錄處理之前執(zhí)行的對光盤介質(zhì)上的區(qū)域的健全性檢驗處理。在此情況下，由于檢驗處理通過與在將實際執(zhí)行的記錄處理時使用的激光強度不同的激光強度來執(zhí)行，因此難以確定檢驗刮痕或者灰塵的閥值。相應地，可能出現(xiàn)過量的替換處理或者由于刮痕或者灰塵的檢測失敗而發(fā)生記錄延時的問題，這取決于用于確定刮痕或者灰塵的檢測閥值的方法。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明是一種用于通過扇區(qū)在帶有同心軌道或螺旋軌道的軌道中記錄數(shù)據(jù)和從所述軌道再現(xiàn)數(shù)據(jù)的盤記錄控制方法，包括識別其間對盤介質(zhì)沒有訪問請求的時間段的空閑時間識別步驟；區(qū)域健全性檢驗處理步驟，當在空閑時間識別步驟所識別的時間段等于或者大于設(shè)定時間段時，在盤介質(zhì)上識別能夠正常記錄的區(qū)域；和使得存儲裝置存儲在區(qū)域健全性檢驗處理步驟中所識別信息的區(qū)域健全性存儲步驟。對于這種結(jié)構(gòu)，利用存儲在存儲裝置中的、與在記錄處理之前執(zhí)行的健全性檢驗處理結(jié)果有關(guān)的信息來將無記錄失敗可能的扇區(qū)分配作為記錄區(qū)域，以便能夠記錄數(shù)據(jù)而沒有記錄失敗。
本發(fā)明進一步包括將信息記錄到盤介質(zhì)上的記錄步驟；和當在記錄步驟期間，盤介質(zhì)上的記錄位置被識別為不能正常記錄的區(qū)域時，基于存儲在存儲裝置中的識別信息，來分配替換區(qū)域作為記錄位置的替換步驟。對于這種結(jié)構(gòu)，當對盤介質(zhì)沒有訪問請求時，可在分配的替換區(qū)域上有效地執(zhí)行沒有失敗的數(shù)據(jù)記錄。
在本發(fā)明中，當在區(qū)域健全性檢驗處理步驟期間對該盤介質(zhì)沒有訪問請求時，為了響應訪問請求，健全性檢驗處理步驟被中斷。對于這種結(jié)構(gòu)，能夠降低與來自上級設(shè)備的盤訪問相關(guān)的命令請求的延時。
在本發(fā)明中，當在區(qū)域健全性檢驗處理步驟期間，對該盤有訪問請求時，根據(jù)在區(qū)域健全性檢驗處理步驟終止之前的剩余時間來切換(switch over)是中斷區(qū)域健全性檢驗處理步驟，還是不中斷區(qū)域健全性檢驗處理步驟。對于這種結(jié)構(gòu)，當剩余時間等于或大于設(shè)定時間段時，可以指示中斷區(qū)域健全性檢驗處理同時避開上級設(shè)備的盤訪問請求被延時。
此外，本發(fā)明是一種用于通過扇區(qū)在帶有同心軌道或螺旋軌道的軌道中記錄數(shù)據(jù)的盤記錄控制方法，包括識別其間對盤介質(zhì)沒有訪問請求的時間段的空閑時間識別步驟；區(qū)域健全性檢驗處理步驟，當在空閑時間識別步驟所識別的時間段等于或者大于設(shè)定的時間段時，在盤介質(zhì)上識別有可能記錄失敗的區(qū)域；和使得存儲裝置存儲在區(qū)域健全性檢驗處理步驟中所識別信息的區(qū)域健全性存儲步驟。對于這種結(jié)構(gòu)，利用存儲在存儲裝置中的、與在記錄處理之前執(zhí)行的健全性檢驗處理的結(jié)果有關(guān)的信息，來將無記錄失敗可能的扇區(qū)分配作為記錄區(qū)域，以便能夠記錄數(shù)據(jù)而沒有記錄失敗。
本發(fā)明進一步包括將信息記錄到盤介質(zhì)上的記錄步驟；和當在記錄步驟期間，盤介質(zhì)上的記錄位置被識別為不能正常記錄的區(qū)域時，基于存儲在存儲裝置中的識別信息，按照記錄失敗可能性的升序順序來分配替換區(qū)域作為記錄位置的替換步驟。對于這種結(jié)構(gòu)，可以按照優(yōu)先順序，執(zhí)行到低記錄失敗可能性的區(qū)域的記錄。
本發(fā)明進一步包括將信息記錄到盤介質(zhì)上的記錄步驟；和當在記錄步驟期間，盤介質(zhì)上的記錄位置被識別為不能正常記錄的區(qū)域時，基于將要記錄的信息的重要性和存儲在存儲裝置中的識別信息，分配替換區(qū)域作為記錄位置的替換步驟。對于這種結(jié)構(gòu)，可按照基于信息重要性的優(yōu)先順序的定義來執(zhí)行分配。
本發(fā)明進一步包括將信息記錄到盤介質(zhì)上的記錄步驟；和當在記錄步驟期間，盤介質(zhì)上的記錄位置被識別為不能正常記錄的區(qū)域時，基于自開始搜索新替換區(qū)域起的流逝時間和存儲在存儲裝置中的識別信息，來分配替換區(qū)域作為記錄位置的替換步驟。對于這種結(jié)構(gòu)，能夠按照健全性特征和區(qū)域分配優(yōu)先順序之間關(guān)系的定義來執(zhí)行分配。
本發(fā)明進一步包括將信息記錄到盤介質(zhì)上的記錄步驟；和根據(jù)自接收到記錄步驟的可執(zhí)行指令到執(zhí)行記錄步驟的時間段，來分配替換區(qū)域作為記錄位置的替換步驟。對于這種結(jié)構(gòu)，能夠進一步降低記錄處理失敗或驗證處理失敗的可能性。
本發(fā)明進一步包括將信息記錄到盤介質(zhì)上的記錄步驟；和當在記錄步驟期間，盤介質(zhì)上的記錄位置被識別為不能正常記錄的區(qū)域時，基于將要記錄的信息的實時特征的度以及存儲在存儲裝置上的識別信息，來分配替換區(qū)域作為記錄位置的替換步驟。對于這種結(jié)構(gòu)，通過分配具有對應于實時特征的度的健全性特征的記錄區(qū)域，盤介質(zhì)的空間效率能夠提高。
在本發(fā)明中，用于在區(qū)域健全性存儲步驟中存儲信息的存儲裝置是光盤介質(zhì)。對于這種結(jié)構(gòu)，在區(qū)域健全性檢驗處理步驟中所識別的數(shù)據(jù)能夠被高速讀寫而無需外存儲器。
本發(fā)明包括在非易失性存儲裝置中存儲在區(qū)域健全性檢驗處理步驟中讀取的信息和用于識別從其中讀取健全性的盤介質(zhì)的ID信息的存儲步驟。對于這種結(jié)構(gòu)，能夠通過ID信息在非易失性存儲裝置上管理光盤介質(zhì)信息。
此外，本發(fā)明是一種用于通過扇區(qū)在帶有同心軌道或螺旋軌道的軌道中記錄數(shù)據(jù)的盤記錄控制設(shè)備，包括識別其間對盤介質(zhì)沒有訪問請求的時間段的空閑時間識別裝置；區(qū)域健全性檢驗處理裝置，當由空閑時間識別裝置識別的時間段等于或者大于設(shè)定時間段時，識別在盤介質(zhì)上能夠正常記錄的區(qū)域；和用于存儲由區(qū)域健全性檢驗處理裝置所識別的信息的區(qū)域健全性存儲裝置。對于這種結(jié)構(gòu)，當對盤介質(zhì)沒有訪問請求的時間段等于或大于設(shè)定時間段時，識別可以正常記錄的區(qū)域，并且利用識別信息來將沒有記錄失敗可能的扇區(qū)分配為記錄區(qū)域，以便實現(xiàn)沒有記錄失敗的數(shù)據(jù)記錄。
此外，本發(fā)明是一種用于通過扇區(qū)在帶有同心軌道或螺旋軌道的軌道中記錄數(shù)據(jù)的盤記錄控制設(shè)備，包括識別其間對盤介質(zhì)沒有訪問請求的時間段的空閑時間識別裝置；區(qū)域健全性檢驗處理裝置，當由空閑時間識別裝置識別的時間段等于或者大于設(shè)定時間段時，識別在盤介質(zhì)上具有記錄失敗可能的區(qū)域；和用于使得存儲裝置存儲由區(qū)域健全性檢驗處理裝置識別的信息的存儲裝置。對于這種結(jié)構(gòu)，當沒有訪問請求的時間段等于或大于設(shè)定時間段時，利用在記錄處理之前所存儲的信息將沒有記錄失敗可能的扇區(qū)分配為記錄區(qū)域，通過識別盤介質(zhì)上各個區(qū)域記錄失敗的可能性并將該識別信息存儲在存儲裝置中，以便實現(xiàn)沒有記錄失敗的數(shù)據(jù)記錄。
此外，本發(fā)明是一種可在其上記錄信息的光盤介質(zhì)，包括關(guān)于其本身的各個區(qū)域的記錄失敗可能性的信息。對于這種結(jié)構(gòu)，在健全性檢驗處理步驟識別的有關(guān)記錄失敗可能性的信息能被高速讀寫而無需外存儲器。
根據(jù)本發(fā)明，即使當在光盤介質(zhì)上的記錄區(qū)域上存在刮痕或灰塵時，記錄失敗的可能性能夠被降低，通過在記錄前預先檢驗灰塵和在記錄區(qū)域分配時訪問檢驗結(jié)果，能夠執(zhí)行有效的缺陷管理記錄。此外，能夠執(zhí)行針對記錄區(qū)域中的刮痕或灰塵的檢驗處理而不會延遲來自上級設(shè)備的請求。而且，通過執(zhí)行根據(jù)記錄數(shù)據(jù)的類型，如需要實時特征的AV數(shù)據(jù)的記錄或者需要低實時特征的數(shù)據(jù)記錄來執(zhí)行記錄區(qū)域分配，用于提高光盤介質(zhì)的空間效率的控制是可能的。


圖1是根據(jù)本發(fā)明的實施例的光盤記錄控制設(shè)備的方框圖。
圖2是根據(jù)本發(fā)明的實施例的光盤介質(zhì)的結(jié)構(gòu)示意圖。
圖3是根據(jù)本發(fā)明的實施例的缺陷管理記錄處理過程的流程圖。
圖4是根據(jù)本發(fā)明的實施例的空閑時間識別處理過程的流程圖。
圖5是根據(jù)本發(fā)明的實施例1的命令處理過程流程圖。
圖6是根據(jù)本發(fā)明的實施例1的光盤記錄控制設(shè)備的控制處理過程的流程圖。
圖7是根據(jù)本發(fā)明的實施例2的命令處理過程的流程圖。
圖8是根據(jù)本發(fā)明的實施例2的區(qū)域健全性檢驗處理過程的流程圖。
圖9是根據(jù)本發(fā)明的實施例的區(qū)域健全性檢驗結(jié)果信息的結(jié)構(gòu)的示意圖。
圖10是根據(jù)本發(fā)明的實施例的區(qū)域健全性檢驗結(jié)果信息的另一結(jié)構(gòu)的示意圖。
圖11是根據(jù)本發(fā)明的實施例的缺陷管理記錄處理過程的流程圖。
圖12是根據(jù)本發(fā)明的實施例1和2的區(qū)域分配優(yōu)先順序定義的示意圖。
圖13是根據(jù)本發(fā)明的實施例3的區(qū)域分配優(yōu)先順序定義的示意圖。
圖14是根據(jù)本發(fā)明的實施例4的區(qū)域分配優(yōu)先順序定義的示意圖。
圖15是根據(jù)本發(fā)明的實施例1和2的區(qū)域健全性檢驗結(jié)果的示意圖。
圖16是根據(jù)本發(fā)明的實施例1和2的區(qū)域分配處理操作示意圖。。
圖17是根據(jù)本發(fā)明的實施例1到4的區(qū)域健全性檢驗結(jié)果的初始化處理過程的流程圖。
圖18是根據(jù)本發(fā)明的實施例5的區(qū)域健全性檢驗結(jié)果信息的記錄處理過程的流程圖。
圖19是根據(jù)本發(fā)明的實施例5的區(qū)域健全性檢驗結(jié)果信息的初始化處理過程的流程圖。
圖20是根據(jù)本發(fā)明的實施例6的區(qū)域健全性檢驗結(jié)果信息的記錄處理過程的流程圖。
圖21是根據(jù)本發(fā)明的實施例6的區(qū)域健全性檢驗結(jié)果信息的初始化處理過程的流程圖。
具體實施例方式
(實施例1)圖1是一方框圖，示出一種由盤記錄再現(xiàn)設(shè)備和上級設(shè)備構(gòu)成的光盤記錄控制設(shè)備的實施例。圖1中的光盤記錄控制設(shè)備由上級設(shè)備(主設(shè)備)200和用于記錄和再現(xiàn)光盤介質(zhì)1的光盤記錄再現(xiàn)設(shè)備100構(gòu)成。
圖2是光盤介質(zhì)1的結(jié)構(gòu)示意圖。盤狀光盤介質(zhì)1具有同心或者螺旋軌道2，且各個軌道2具有再分扇區(qū)3。所有扇區(qū)都具有被稱作物理扇區(qū)地址的絕對地址。
光盤介質(zhì)1還具有控制信息區(qū)域4和數(shù)據(jù)記錄區(qū)域5，其中對數(shù)據(jù)記錄區(qū)域5執(zhí)行數(shù)據(jù)的記錄和再現(xiàn)。
缺陷管理信息6被記錄在控制信息區(qū)域4的一部分中。在缺陷管理信息6中，缺陷扇區(qū)的地址替換信息和替換扇區(qū)被記錄為列表中的數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)。
上級設(shè)備200與光盤記錄再現(xiàn)設(shè)備100通過I/O總線201連接。I/O總線201是通用總線，包括SCSI(小型計算機系統(tǒng)接口)、ATA(AT連接)、USB(通用串行總線架構(gòu))和IEEE 1394。
光盤記錄再現(xiàn)設(shè)備100由電機101、光頭102、區(qū)域健全性檢驗裝置103、空閑時間識別裝置104、伺服控制裝置105、外部I/F106、編碼/解碼裝置107、定時器中斷裝置108、存儲器109、驅(qū)動器控制裝置110、模擬信號處理裝置111和總線112構(gòu)成。
在光盤記錄再現(xiàn)設(shè)備100中，電機101被設(shè)計為旋轉(zhuǎn)和停止光盤介質(zhì)1，以及在訪問光盤介質(zhì)1時運行。
光頭102被設(shè)計為在光盤介質(zhì)1中記錄信息和從光盤介質(zhì)1再現(xiàn)信息，且由激光設(shè)備和透鏡構(gòu)成。
模擬信號處理裝置111將從編碼/解碼裝置107輸入的數(shù)字數(shù)據(jù)調(diào)制為模擬信號并把該模擬信號輸出到光頭102。模擬信號處理裝置111還將從光頭102輸入的模擬信號調(diào)制為數(shù)字位串，并將數(shù)字數(shù)據(jù)輸出到編碼/解碼裝置107。
伺服控制裝置105相對于光盤介質(zhì)1控制電機101和光頭102，以便當從光頭102發(fā)射激光束時，基于作為反射光而獲得的信號訪問光盤介質(zhì)1的目標位置。
編碼/解碼裝置107對從模擬信號處理裝置103或存儲器109輸入的數(shù)據(jù)行執(zhí)行相反的處理，如編碼、解碼、加擾和解擾，并分別向存儲器109或模擬信號處理裝置111輸出作為結(jié)果而獲得的數(shù)據(jù)行。
基于由編碼/解碼裝置107執(zhí)行的操作結(jié)果或從光頭102輸入到模擬信號處理裝置111的模擬信號，區(qū)域健全性檢驗裝置103檢驗光盤介質(zhì)1表面上的刮痕或灰塵的程度，并將檢驗結(jié)果存儲在存儲器109中。
存儲器109具有在記錄和再現(xiàn)數(shù)據(jù)時用作中間緩沖區(qū)的區(qū)域、用于編碼/解碼裝置107執(zhí)行的操作處理的區(qū)域、用于臨時存儲從區(qū)域健全性檢驗裝置103等獲得的檢驗結(jié)果的區(qū)域，并用于在光盤記錄再現(xiàn)裝置100中的全部數(shù)據(jù)處理。雖然圖1將存儲器109作為單個單元示出，但是存儲器109可客觀地分開或合并入每一控制裝置中。存儲器109還可以是非易失性存儲器或易失性存儲器。
當空閑時間識別裝置104在超過某一時間段內(nèi)沒有從上級設(shè)備200向光盤記錄再現(xiàn)設(shè)備100發(fā)出的命令中檢測到關(guān)于訪問光盤介質(zhì)1的請求時，空閑識別裝置104向驅(qū)動器控制裝置110發(fā)出報告。
經(jīng)由總線112，驅(qū)動器控制裝置110被分別連接到區(qū)域健全性檢驗裝置103、空閑時間識別裝置104、伺服控制裝置105、外部I/F106、編碼/解碼裝置107、定時器中斷裝置108和存儲器109，并通過向各個單元103至109發(fā)出指令，控制整個光盤記錄再現(xiàn)設(shè)備100。其操作軟件被存儲在存儲器109中。
與總線112相連的外部接口106，通過I/O總線201接收從外部到光盤記錄再現(xiàn)設(shè)備100的命令，輸出狀態(tài)，并輸入和輸出數(shù)據(jù)。
定時器中斷裝置108檢測由驅(qū)動器控制裝置110指定的預定時間段已流逝，并向驅(qū)動器控制裝置110報告。
關(guān)于如上述構(gòu)造的信息處理系統(tǒng)，根據(jù)本發(fā)明的缺陷記錄處理流程在圖3中示出。應該注意，為了方便，在圖3中還省略了除記錄請求之外的命令處理。
在光盤介質(zhì)1被裝配(步驟S1001)之后，光盤記錄再現(xiàn)設(shè)備100初始化關(guān)于由區(qū)域健全性檢驗裝置103執(zhí)行的對光盤介質(zhì)1表面刮痕或灰塵的檢驗結(jié)果的信息(步驟S1002)。響應于接收到從上級設(shè)備發(fā)出的記錄命令(步驟S1004)，光盤記錄再現(xiàn)設(shè)備100執(zhí)行缺陷管理記錄處理(步驟S1006)。
當在由空閑時間識別裝置104執(zhí)行的空閑時間識別處理中檢測到空閑時間(步驟S1003)同時等待接收記錄命令時，區(qū)域健全性檢驗處理裝置103對光盤介質(zhì)1的數(shù)據(jù)記錄區(qū)域5執(zhí)行健全性檢驗處理(步驟S1005)。該檢驗處理的檢驗結(jié)果作為區(qū)域健全性檢驗信息被存儲在存儲器(存儲裝置)109中(步驟S1007)并在缺陷管理記錄處理時被參照(步驟S1006)。該區(qū)域健全性檢驗信息在裝入盤之后被初始化(步驟S1002)。
以下描述將對在圖3中執(zhí)行的空閑時間識別處理(步驟S1003)、區(qū)域健全性檢驗處理(步驟S1005)和缺陷管理記錄處理(步驟S1006)進行詳細說明。
(1)空閑時間識別處理以下描述將說明空閑時間識別裝置104在超過特定的時間段內(nèi)沒有從上級設(shè)備200向光盤記錄再現(xiàn)設(shè)備100發(fā)出的命令中檢測到關(guān)于訪問光盤介質(zhì)1的請求，并指示開始區(qū)域健全性檢驗處理的過程。
圖5是一當接收到來自上級設(shè)備命令時執(zhí)行的處理(步驟S1200)的流程圖。
在接收到命令之后，該命令被分析(步驟S1201)，且當沒有對光盤介質(zhì)1的訪問請求時(步驟S1202)，執(zhí)行相應于各個命令的處理(步驟S1206)。當區(qū)域健全性處理在運行時，一旦收到與盤訪問有關(guān)的命令，則在區(qū)域健全性處理終止之后執(zhí)行命令處理(步驟S1206)。在命令處理終止后，將結(jié)果送回上級設(shè)備(步驟S1207)。
圖4是一流程圖，示出了用于檢測空閑時間的處理以及指示區(qū)域健全性檢驗處理的開始的流程。
在圖4中示出的處理使用定時器中斷在固定的時間間隔執(zhí)行。定時計數(shù)器為各個處理計時(步驟S1101)，判斷定時計數(shù)器值是否超過固定值(步驟S1102)，并在計數(shù)器值大于或等于固定值時，指示開始健全性檢驗處理(步驟S1103)和停止定時器操作(步驟S1104)。
定時計數(shù)器值的初始化和定時器操作的開始處理在裝入光盤介質(zhì)之后立即被執(zhí)行。每次收到來自上級設(shè)備的盤訪問請求命令時，啟動計數(shù)器并停止計時操作(步驟S1203、S1204)。在對盤訪問請求命令的響應完成后，停止的計數(shù)器操作被重新開始(步驟S1208、S1209)。
在上述控制中檢測其間不產(chǎn)生與來自上層設(shè)備的命令中的盤訪問相關(guān)的請求超過某一時間段的空閑時間，并且當檢測到這種空閑時間時，指示區(qū)域健全性檢驗處理的開始。將被用做檢測空閑時間的標準的時間段被預先設(shè)置為給定值。
(2)區(qū)域健全性檢驗處理圖6是一流程圖，示出區(qū)域健全性檢驗處理的流程(步驟S1300)。
在圖6中示出的處理中，位于檢驗區(qū)域的最上部的地址首先被設(shè)定(步驟S1301)，并進一步設(shè)定要檢驗的扇區(qū)尺寸(步驟S1302)。
向伺服控制裝置105發(fā)出指示，并且控制電機101和光頭102去訪問在要被檢驗的光盤介質(zhì)上的區(qū)域位置。
當光頭102提供該訪問時，執(zhí)行區(qū)域健全性檢驗(步驟S1303)。應當假定作為檢驗測量結(jié)果而獲得的健全性檢驗結(jié)果信息的值是與將被檢驗的區(qū)域的記錄處理失敗可能性相關(guān)聯(lián)的值，并且能被表示成分級的值。
以下是建議的用于獲得健全性檢驗結(jié)果的健全性檢驗方法。
(a)從反射光的反射計算健全性檢驗結(jié)果的值，其中所述反射光是在光頭102用激光束輻射要檢驗的區(qū)域時獲得的。
例如，分配一個值，通過該值，從該區(qū)域的健全性檢驗結(jié)果判斷出當反射較低時，記錄失敗的可能性較高。
(b)從伺服信號的幅度計算健全性檢驗結(jié)果的值，其中該伺服信號是在光頭102用激光束輻射要檢驗的區(qū)域時獲得的。
例如，分配一個值，通過該值，從該區(qū)域的健全性檢驗結(jié)果判斷出當伺服信號的幅度的平均值或最大值較大時，記錄失敗的可能性較高。
(c)從錯誤檢測/校正結(jié)果信息計算健全性檢驗結(jié)果的值，其中該結(jié)果信息在當為要檢驗的區(qū)域執(zhí)行再現(xiàn)操作時由編碼/解碼裝置執(zhí)行。
例如，分配是一個值，通過該值，從該區(qū)域的健全性檢驗結(jié)果判斷出當錯誤檢測/校正次數(shù)較多時，記錄失敗的可能性較高。
通過上述方法獲得的健全性檢驗結(jié)果的值作為健全性檢驗結(jié)果信息(在圖3中，1007)被存儲在存儲器109中(步驟S1304)。健全性檢驗結(jié)果信息的格式的實例在圖9和10中示出。
在圖9和10示出的實例中，健全性檢驗結(jié)果信息被存儲為從0到7的八級之一的值，其中值0表示健全性仍然未知，而值1-7表示數(shù)值越大記錄失敗的可能性越大。雖然在此實例中，使用八級值來代表健全性檢驗結(jié)果信息，但是可使用不同于八級的多級值。
圖10是一實例，其中為將要檢驗的區(qū)域存儲由兩種類型的檢驗方法執(zhí)行的區(qū)域健全性檢驗處理的結(jié)果。與此相似，可由兩種或兩種以上的方法執(zhí)行檢驗，而且可為相同區(qū)域存儲多個健全性檢驗結(jié)果信息。
圖17是示出區(qū)域健全性檢驗結(jié)果信息的初始化處理(步驟S2300)的流程圖。利用預定的初始值(步驟S2301)，在裝配盤之后立即初始化區(qū)域健全性檢驗結(jié)果信息。
返回圖6，當在區(qū)域健全性處理的第一步驟(步驟S1302)中對檢驗扇區(qū)尺寸設(shè)定的健全性檢驗處理終止時，則判斷是否存在要檢驗的區(qū)域(步驟S1305)，并且當不需要進一步的檢驗時，用于空閑時間檢測判斷的定時計數(shù)器值被初始化(步驟S1307)。從那時起，控制不執(zhí)行對當前裝配(步驟S1308)的光盤介質(zhì)1的區(qū)域健全性檢驗處理。在還需要任何檢驗的情況下，當判斷空閑時間的計數(shù)器值小于設(shè)定值(設(shè)定時間段)(步驟S1306)時，執(zhí)行步驟S1301后的處理，而當判斷空閑時間的計數(shù)器值等于或大于設(shè)定值時，則健全性檢驗處理終止。
應該注意，雖然在接收到來自上級設(shè)備的與盤訪問相關(guān)聯(lián)的請求時區(qū)域健全性檢驗處理處于運行中的情況下，在利用圖5說明的、一旦接收到來自上級設(shè)備的命令就執(zhí)行處理的實例中，直到區(qū)域健全性檢驗處理終止才執(zhí)行命令處理(步驟S1205)，但是可以通過在區(qū)域健全性處理的第一步驟S1302將檢驗扇區(qū)尺寸設(shè)定設(shè)置得較小而降低與盤訪問請求有關(guān)的命令處理延時。
(3)缺陷管理記錄處理圖11是一流程圖，示出與缺陷管理有關(guān)的記錄處理流程。
圖12是用于定義健全性結(jié)果和區(qū)域分配優(yōu)先順序之間關(guān)系的視圖，該圖變?yōu)橛糜谂袛嘣谌毕莨芾硖幚碇惺欠裥枰匦路峙溆涗泤^(qū)域的標準，用于選擇將被重新分配的區(qū)域等，用于在如利用圖9說明的具有八級值的健全性結(jié)果信息實例的情形。
做出在圖12中示出的優(yōu)先順序的定義以便較高優(yōu)先順序被附到具有較低記錄失敗可能性的區(qū)域上。
根據(jù)圖12中定義的優(yōu)先順序，關(guān)于0到7的八級健全性結(jié)果信息的值，用于分配區(qū)域的優(yōu)先順序具有“值1”＝“值2”＞“值3”＞“值0”＞“值4”＞“值5”的優(yōu)選高度關(guān)系。在圖12中，用于定義優(yōu)先順序“值6”和“值7”的符號“x”表示排除在將要分配的區(qū)域的選擇之外。
圖15是一示意圖，示出在記錄時光盤介質(zhì)1的從扇區(qū)號001到020范圍的區(qū)域的健全性檢驗結(jié)果的狀態(tài)。圖15中的健全性檢驗結(jié)果的值是在圖9中說明的0到7八級值中的任一個。也就是，關(guān)于圖15中示出的健全性檢驗結(jié)果值1到7，具有較大健全性檢驗結(jié)果值的區(qū)域是記錄失敗可能性較大的區(qū)域。
圖16是一示意圖，用于示出為圖15中示出的在光盤介質(zhì)1上的記錄區(qū)域執(zhí)行響應來自上級設(shè)備記錄的、用于記錄5個扇區(qū)的數(shù)據(jù)的請求的初始記錄區(qū)域分配和以圖12中的優(yōu)先順序的記錄區(qū)域的重新分配。
下面的描述將說明沿著圖11中示出的缺陷管理記錄處理處理(1700)的流程圖的、圖16中示出的區(qū)域分配處理。
首先，作為記錄區(qū)域初始化處理(步驟S1701)，分配將要記錄和來自上級設(shè)備的記錄請求一起接收的記錄數(shù)據(jù)的光盤介質(zhì)1的地址位置(步驟S1701)。如圖16所示出的，作為初始分配，記錄請求所請求的五個扇區(qū)的數(shù)據(jù)被分配到扇區(qū)號001到005上。
此后，參照關(guān)于所分配記錄區(qū)域的區(qū)域健全性檢驗結(jié)果信息來判斷是否需要重新分配記錄區(qū)域(步驟S1702)。當相對于此時分配的區(qū)域的健全性檢驗結(jié)果信息，存在具有較高優(yōu)先順序的健全性結(jié)果信息的另一區(qū)域時，執(zhí)行重新分配(步驟S1703)并且區(qū)域的替換信息被注冊為缺陷管理表(步驟S1704)。
在圖15示出的記錄區(qū)域的狀態(tài)下，扇區(qū)號003、004和005的健全性檢驗結(jié)果分別是4、5和6，并且假定在該區(qū)域中的記錄處理失敗的可能性高。參照圖12中的優(yōu)先順序，扇區(qū)號003、004和005的優(yōu)先順序分別是4、5和x(參見圖16)。由于較高優(yōu)先順序的扇區(qū)被包括在扇區(qū)號006之后的扇區(qū)中，在判斷處理中(步驟S1702)能夠判斷需要重新分配區(qū)域。
在圖16示出的實例中，由于在步驟S1703中的重新分配，扇區(qū)號003被重新分配到扇區(qū)號006；扇區(qū)號004被重新分配到扇區(qū)號007；和扇區(qū)號005被重新分配到扇區(qū)號009。
此后，對所分配區(qū)域執(zhí)行記錄操作(步驟S1705)。根據(jù)需要，該記錄處理可包括驗證操作。
如果在步驟S1705的處理中發(fā)生記錄失敗或者驗證失敗，則處理返回到步驟S1706或者S1702以重新分配記錄區(qū)域，并在另一區(qū)域再次記錄相同的數(shù)據(jù)(替換處理)。
在替換處理中的記錄區(qū)域的重新分配中，基于根據(jù)圖12中定義的優(yōu)先順序的判斷來選擇分配目標。
與替換操作相關(guān)的記錄操作被重復進行，直到所有的記錄請求數(shù)據(jù)的記錄都完成。
如上所述，通過參照在記錄區(qū)域分配中的空閑時間期間執(zhí)行的由健全性檢驗處理獲得的健全性檢驗結(jié)果信息，并且優(yōu)先分配具有低記錄失敗可能性的區(qū)域，能夠降低數(shù)據(jù)記錄中的記錄處理失敗和驗證處理失敗的可能性。
(實施例2)根據(jù)實施例2的光盤記錄控制設(shè)備在構(gòu)造是與實施例的相同，并且其操作也與實施例1的相同。
實施例2中的缺陷管理記錄處理的流程與實施例1中利用圖3說明的流程相同，且(1)空閑時間識別處理(步驟S1003)和(3)缺陷管理記錄處理(步驟S1006)的處理分別與實施例1中的說明的處理相同。
(2)區(qū)域健全性檢驗處理實施例2中的區(qū)域健全性檢驗處理(步驟S1005)將利用圖7和8來說明。
圖7是一流程圖，示出一旦接收到來自上級設(shè)備的命令，就執(zhí)行命令中斷處理(1400)。
圖8是一流程圖，示出實施例2中的區(qū)域健全性檢驗處理(1500)過程。
關(guān)于圖7，一旦接收到命令，就分析該命令(步驟S1201)，并當沒有盤訪問請求時(步驟S1202)，則執(zhí)行相應與每一命令的處理(步驟S1206)。
當發(fā)出盤訪問請求并收到命令時，一旦收到與盤訪問請求有關(guān)的命令，就初始化定時計數(shù)器(步驟S1203)，使用與在實施例1中用圖5所說明的相同方式來執(zhí)行定時器操作停止處理(步驟S1204)以及判斷(步驟S1205)區(qū)域健全性處理是否處在運行中。
相似地，在圖7中，用于各個命令的處理(步驟S1206)、用于在命令處理終止之后響應于上級設(shè)備的處理(步驟S1207)和空閑時間計算重啟處理(步驟S1208，S1209)與在實施例1中利用圖5所做的說明相同。
另一方面，當在步驟S1205的判斷中判斷健全性檢驗處理處在運行中時，導出并獲得在運行中的區(qū)域健全性檢驗處理終止之前的剩余時間(步驟S1401)。
判斷該剩余時間是否大于給定值(步驟S1402)，并且當剩余時間等于或大于給定值時，做出立即中斷區(qū)域健全性檢驗處理的指示以便不延遲上級設(shè)備的盤訪問請求(步驟S1403)。
應該注意，步驟S1402的判斷可以省略，且可執(zhí)行中斷處理(步驟S1403)而沒有限制。
在區(qū)域健全性檢驗處理中(圖8中的步驟S1501)，當識別出已經(jīng)作出中斷指示時(圖7中的步驟S1403)，則區(qū)域健全性檢驗處理立即終止，無論區(qū)域健全性檢驗處理之前的處理中的扇區(qū)尺寸設(shè)定檢驗處理是否完成。
關(guān)于圖8，除了區(qū)域健全性檢驗處理(步驟S1501)之外，其它的與實施例1中利用圖6所作的說明相同。
在區(qū)域健全性檢驗處理(步驟S1501)中，與圖6中的區(qū)域健全性檢驗處理(步驟S1303)相比，加入了在處理過程中識別中斷指示(圖7中的1403)和立即終止處理的控制。
通過上述的控制，能夠減少來自上級設(shè)備的與盤訪問有關(guān)的命令請求的延遲。
(實施例3)根據(jù)實施例3的光盤記錄控制設(shè)備在構(gòu)造上與實施例1相同，并且其操作也與實施例1相同。
實施例3中的缺陷管理記錄處理的流程與實施例1中利用圖3中的缺陷管理記錄處理所說明的流程相同，且(1)空閑時間識別處理和(2)區(qū)域健全性檢測處理與在實施例1或2中所說明的處理(步驟S1003、S1005)相同。
(3)缺陷管理記錄處理實施例4中的健全性管理記錄處理的流程(步驟S1006)與實施例1中利用圖11所做的說明相同。
在實施例4中，當參照來自步驟S1702和S1703的處理的區(qū)域健全性檢驗結(jié)構(gòu)信息(步驟S1007)判斷記錄區(qū)域分配時，采用如圖14中示出(代替實施例1中的圖12)的區(qū)域健全性檢驗結(jié)果和區(qū)域分配優(yōu)先順序之間的關(guān)系的定義。
在圖13中示出的優(yōu)先順序定義中，在優(yōu)先順序判斷時，優(yōu)先順序被設(shè)計為能夠根據(jù)來自上級設(shè)備的記錄請求的延時時間而改變。
當延時時間比固定值短時，把較高的優(yōu)先順序附著于具有較高記錄失敗可能性的區(qū)域，而當延時時間等于或大于固定時間時，把較高的優(yōu)先順序附著于具有較低記錄失敗可能性的區(qū)域。
根據(jù)圖13中定義的優(yōu)先順序，執(zhí)行控制以便把具有相對低健全性的區(qū)域作為記錄區(qū)域分配，并嘗試在延時時間短時記錄，以便提高盤的空間效率。
由于當在重復執(zhí)行替換處理之后延時時間變長時，具有較低記錄失敗可能性的區(qū)域被分配，所以還提供了防止超時引起的記錄錯誤的效果。
雖然在圖13中，定義在兩個區(qū)之間，即根據(jù)延時時間是否小于固定值來切換，但是定義也可以在三個或者更多個區(qū)之間切換。需要預置將用作分區(qū)標準的時間段。
(實施例4)根據(jù)實施例4的光盤記錄控制設(shè)備在構(gòu)造上與實施例1相同，并且其操作也與實施例1的相同。
實施例4中的缺陷管理記錄處理的流程與實施例1中利用圖3中的缺陷管理記錄處理(步驟S1006)所說明的流程相同，且(1)空閑時間識別處理和(2)區(qū)域健全性檢測處理與在實施例1或2中所說明的相應處理(步驟S1003、S1005)相同。
(3)區(qū)域健全性檢驗處理實施例4中的健全性管理記錄處理的流程(步驟S1006)與實施例1中利用圖11所做的說明相同。
在實施例4中，為了參照來自步驟S1702和S1703的處理的區(qū)域健全性檢驗結(jié)構(gòu)信息(1007)來做出記錄區(qū)域分配的判斷，采用如圖14中示出(代替實施例1中的圖12)的健全性結(jié)果和區(qū)域分配優(yōu)先順序之間的關(guān)系的定義。
在圖14中示出的優(yōu)先順序定義中，優(yōu)先順序被設(shè)計為能夠根據(jù)將要記錄的數(shù)據(jù)的重要性和用于記錄區(qū)域分配的記錄處理所需的實時特征而改變。以下描述將說明圖14中示出的定義。
(優(yōu)先順序A)在記錄需要實時特征時，啟動該優(yōu)先順序定義。僅具有最低記錄失敗可能性的區(qū)域(檢驗結(jié)果為“值1”或者“值2”的區(qū)域)被優(yōu)先分配。
(優(yōu)先順序B)當記錄不需要實時特征但是數(shù)據(jù)重要時，啟動該優(yōu)先順序定義。雖然具有低記錄失敗可能性的區(qū)域被分配，但是具有最低失敗可能性的區(qū)域(檢驗結(jié)果為“值1”的區(qū)域)被設(shè)定為低分配優(yōu)先順序以便為出現(xiàn)(優(yōu)先順序A)的記錄區(qū)域分配的情形做準備。
(優(yōu)先順序C)當記錄不需要實時特征且數(shù)據(jù)相對不重要時，啟動該優(yōu)先順序定義。具有相對高的記錄失敗可能性的區(qū)域被優(yōu)先分配。
注意具有低記錄失敗可能性的區(qū)域(檢驗結(jié)果為“值1”的區(qū)域)被控制不被分配，以為出現(xiàn)(優(yōu)先順序A)或(優(yōu)先順序B)的記錄區(qū)域分配的情形做準備。
根據(jù)圖14中定義的優(yōu)先順序，執(zhí)行控制以便把具有對應于記錄數(shù)據(jù)的重要性和記錄處理所需要的實時特征的健全性的區(qū)域分配作為記錄區(qū)域，以便提高盤的空間效率。
雖然在圖14中示出的例子中根據(jù)記錄類型，定義在三個區(qū)之間轉(zhuǎn)變，但是定義也可以在除三個區(qū)之外的多個區(qū)之間切換。
(實施例5)根據(jù)實施例5的光盤記錄控制設(shè)備在構(gòu)造上與實施例1相同，并且其操作也與實施例1的相同。
實施例5中的缺陷管理記錄處理的流程與實施例1中利用圖3說明的流程相同，且(1)空閑時間識別處理和(3)缺陷管理記錄處理分別與實施例1中分別說明的相應處理(步驟S1003、S1006)相同。
(2)區(qū)域健全性檢驗處理實施例5中的區(qū)域健全性處理的流程(步驟S1005)與實施例1中利用圖5和6說明的方法或者實施例2中利用圖7和8所說明的方法相同。
圖18是一流程圖，示出區(qū)域健全性檢驗結(jié)果信息的存儲處理(2400)過程，該過程在實施例5中的光盤介質(zhì)彈出之前將被執(zhí)行。
圖19是一流程圖，示出區(qū)域健全性檢驗結(jié)果信息的初始化處理(2410)過程。
在實施例5中，一旦接收到來自上級設(shè)備的光盤介質(zhì)彈出請求，則執(zhí)行處理，以便將在接收到彈出請求之前獲得的區(qū)域健全性檢驗結(jié)果信息記錄在圖18中所示的光盤介質(zhì)1的管理信息區(qū)域4中(步驟S2401)，并且在此記錄之后，光盤介質(zhì)1被彈出。
當下次裝配同一光盤介質(zhì)1時，如圖在19中所示，讀取在光盤介質(zhì)1彈出之前所記錄的健全性檢驗結(jié)果信息(步驟S2411)，并且當讀取操作完成(步驟S2412)時，使用所獲得的值初始化健全性檢驗結(jié)果信息(步驟S2413)。當讀取操作失敗或者當獲得值中存在問題時，如實施例1中利用圖17說明的那樣執(zhí)行利用初始化值的初始化(步驟S2301)。
對于上述處理，通過利用當光盤介質(zhì)1與上次裝配的光盤介質(zhì)相同時獲得的區(qū)域健全性檢驗結(jié)果信息，可以省略區(qū)域健全性檢驗處理或者可以減少區(qū)域健全性檢驗結(jié)構(gòu)信息不確定的區(qū)域，以便執(zhí)行有效的記錄區(qū)域分配。
應該注意，可以執(zhí)行使用圖18所說明的用于把健全性檢驗結(jié)果信息記錄在光盤介質(zhì)1中的處理以及使用圖19所說明的用于讀取儲存在光盤介質(zhì)1中的健全性信息的處理中的僅僅一個。
(實施例6)根據(jù)實施例6的光盤記錄控制設(shè)備在構(gòu)造上與實施例1相同，并且其操作也與實施例1相同。
實施例6中的缺陷管理記錄處理的流程與實施例1中利用圖3說明的流程相同，且(1)空閑時間識別處理和(3)缺陷管理記錄處理分別與實施例1中分別說明的相應處理(步驟S1003、S1006)相同。
(2)區(qū)域健全性檢驗處理實施例6中的區(qū)域健全性檢測處理的流程(步驟S1005)與實施例1中利用圖5和6說明的方法或者實施例2中利用圖7和8說明的方法相同。
圖20是一流程圖，示出了區(qū)域健全性檢驗結(jié)果的存儲處理過程，該過程在實施例6中的光盤介質(zhì)1彈出之前將被執(zhí)行。
圖21是一流程圖，示出了區(qū)域健全性檢驗結(jié)果信息的初始化處理過程。
在實施例6中，一旦接收到來自上級設(shè)備的光盤介質(zhì)彈出請求，則將在接收到彈出請求之前獲得的區(qū)域健全性檢驗結(jié)果信息和所裝配光盤介質(zhì)1的ID序號(ID信息)以圖20中所示的列表形式的結(jié)構(gòu)存儲在存儲器109中，其中該存儲器是非易失性存儲裝置。在信息存儲操作之后，光盤介質(zhì)1被彈出。
當下次裝配同一光盤介質(zhì)1時，相應于所裝配光盤介質(zhì)的ID序號的區(qū)域健全性檢驗結(jié)果信息從存儲在非易失性存儲器109中的區(qū)域健全性檢驗結(jié)果信息列表中檢索，如圖21所示(步驟S2511)。當通過檢索找到相應的區(qū)域健全性檢驗結(jié)果信息時，利用獲得值來初始化健全性檢驗結(jié)果信息(步驟S2513)。當讀取操作失敗時或者當在獲得值中存在問題時，如實施例1中利用圖17說明的那樣執(zhí)行利用初始化值的初始化(步驟S2301)。
用上述處理，通過利用當光盤介質(zhì)1與上次裝配的光盤介質(zhì)相同時獲得的區(qū)域健全性檢驗結(jié)果信息，可以省略區(qū)域健全性檢驗處理或者減少區(qū)域健全性檢驗結(jié)構(gòu)信息不確定的區(qū)域，以便使用ID序號來執(zhí)行有效的記錄區(qū)域分配。
利用本發(fā)明，通過在記錄之前預先檢驗灰塵和通過在記錄區(qū)域分配時參照檢驗結(jié)果，能夠降低記錄失敗的可能性，且即使在光盤介質(zhì)上的記錄區(qū)域中存在刮痕或灰塵時也能夠執(zhí)行有效的缺陷管理記錄。本發(fā)明還具有執(zhí)行對記錄區(qū)域中的刮痕或灰塵的檢驗處理而不延遲來自上級設(shè)備的請求的效果，其對用于執(zhí)行缺陷管理記錄的光盤記錄控制等非常有效，所述操作用于遵循CD-RW的Mr.Rainier標準的記錄驅(qū)動器、DVD-RAM可記錄驅(qū)動器、DVD+MRW可記錄驅(qū)動器等。
權(quán)利要求
1.一種用于通過扇區(qū)在帶有同心軌道或螺旋軌道的軌道中記錄數(shù)據(jù)的盤記錄控制方法，包括空閑時間識別步驟，用于識別其間對盤介質(zhì)沒有訪問請求的時間段；區(qū)域健全性檢驗處理步驟，當在空閑時間識別步驟中所識別的時間段等于或者大于設(shè)定時間段時，在光盤介質(zhì)上識別其中可以正常記錄的區(qū)域；和區(qū)域健全性存儲步驟，使得存儲裝置存儲在區(qū)域健全性檢驗處理步驟中所識別的信息。
2.如權(quán)利要求1所述的盤記錄控制方法，包括記錄步驟，將信息記錄到盤介質(zhì)中；和替換步驟，當在記錄步驟期間，盤介質(zhì)上的記錄位置被識別為不能正常記錄的區(qū)域時，基于存儲在存儲裝置中的識別信息來分配替換區(qū)域作為記錄位置。
3.如權(quán)利要求1所述的盤記錄控制方法，其中在區(qū)域健全性檢驗處理步驟中，當對該盤介質(zhì)發(fā)出訪問請求時，為了響應訪問請求，健全性檢驗處理步驟被中斷。
4.如權(quán)利要求1所述的盤記錄控制方法，其中在區(qū)域健全性檢驗處理步驟中，當對該盤介質(zhì)發(fā)出訪問請求時，根據(jù)在區(qū)域健全性檢測處理步驟終止之前的剩余時間來切換是中斷區(qū)域健全性檢測處理步驟，還是不中斷區(qū)域健全性檢測處理步驟。
5.一種用于通過扇區(qū)在帶有同心軌道或螺旋軌道的軌道中記錄數(shù)據(jù)的盤記錄控制方法，包括空閑時間識別步驟，識別其間對盤介質(zhì)沒有訪問請求的時間段；區(qū)域健全性檢驗處理步驟，當在空閑時間識別步驟所識別的時間段等于或者大于設(shè)定時間段時，在盤介質(zhì)上識別有可能記錄失敗的區(qū)域；和區(qū)域健全性存儲步驟，使得存儲裝置存儲在區(qū)域健全性檢驗處理步驟中所識別的信息。
6.如權(quán)利要求5所述的盤記錄控制方法，包括記錄步驟，將信息記錄到盤介質(zhì)中；和替換步驟，當在記錄步驟期間，盤記錄介質(zhì)上的記錄位置被識別為不能正常記錄的區(qū)域時，基于存儲在存儲裝置中的識別信息，按照記錄失敗可能性的升序順序來分配替換區(qū)域作為記錄位置。
7.如權(quán)利要求5所述的盤記錄控制方法，包括記錄步驟，將信息記錄到盤介質(zhì)中；和替換步驟，當在記錄步驟期間，盤介質(zhì)上的記錄位置被識別為不能正常記錄的區(qū)域時，基于將要記錄的信息的重要性和存儲在存儲裝置中的識別信息，來分配替換區(qū)域作為記錄位置。
8.如權(quán)利要求5所述的盤記錄控制方法，包括記錄步驟，將信息記錄到盤介質(zhì)中；和替換步驟，當在記錄步驟期間，盤介質(zhì)上的記錄位置被識別為不能正常記錄的區(qū)域時，基于自開始搜索新替換區(qū)域起的流逝時間和存儲在存儲裝置中的識別信息，來分配替換區(qū)域作為記錄位置。
9.如權(quán)利要求5所述的盤記錄控制方法，包括記錄步驟，將信息記錄到盤介質(zhì)中；和替換步驟，基于自接收到記錄步驟的可執(zhí)行指令到執(zhí)行記錄步驟的時間段，來分配替換區(qū)域作為記錄位置。
10.如權(quán)利要求5所述的盤記錄控制方法，包括記錄步驟，將信息記錄到盤介質(zhì)中；和替換步驟，當在記錄步驟期間，盤介質(zhì)上的記錄位置被識別為不能正常記錄的區(qū)域時，基于將要記錄的信息的實時特征的度以及存儲在存儲裝置上的識別信息，來分配替換區(qū)域作為記錄位置。
11.如權(quán)利要求5至10中的任一項所述的盤記錄控制方法，其中在區(qū)域健全性存儲步驟中用于存儲信息的存儲器是光盤介質(zhì)。
12.如權(quán)利要求1至11中的任一項所述的盤記錄控制方法，包括存儲步驟，在非易失性存儲裝置中存儲在區(qū)域健全性檢驗處理步驟中讀取的健全性信息和用于識別從其中讀取健全性特征的盤介質(zhì)的ID信息。
13.一種用于通過扇區(qū)在帶有同心軌道或螺旋軌道的軌道中記錄數(shù)據(jù)的盤記錄控制設(shè)備，包括空閑時間識別裝置，識別其間對盤介質(zhì)沒有訪問請求的時間段；區(qū)域健全性檢驗處理裝置，當由空閑時間識別裝置識別的時間段等于或者大于設(shè)定時間段時，識別在盤介質(zhì)上可以正常記錄的區(qū)域；和存儲器，用于存儲由區(qū)域健全性檢驗處理裝置所識別的信息。
14.一種用于通過扇區(qū)在帶有同心軌道或螺旋軌道的軌道中記錄數(shù)據(jù)的盤記錄控制設(shè)備，包括空閑時間識別裝置，識別其間對盤介質(zhì)沒有訪問請求的時間段；區(qū)域健全性檢驗處理裝置，當由空閑時間識別裝置識別的時間段等于或者大于設(shè)定時間段時，識別在盤介質(zhì)上的具有記錄失敗可能性的區(qū)域；和存儲裝置，用于存儲由區(qū)域健全性檢驗處理裝置所識別的信息。
15.一種盤介質(zhì)，其中可以記錄信息，包括關(guān)于其本身各個記錄區(qū)域的記錄失敗可能性的信息。
全文摘要
空閑時間識別裝置(104)識別其間沒有對光盤介質(zhì)(1)訪問請求的時間段，和當由空閑時間識別裝置(104)識別的時間段等于或者大于設(shè)定時間段時，區(qū)域健全性檢驗處理裝置(103)識別在光盤介質(zhì)(1)上可正常記錄的區(qū)域，和存儲裝置(109)存儲由區(qū)域健全性檢驗處理裝置(103)所識別的信息。
文檔編號G11B7/00GK1700338SQ20051006854
公開日2005年11月23日 申請日期2005年2月25日 優(yōu)先權(quán)日2004年2月25日
發(fā)明者番正聰志 申請人:松下電器產(chǎn)業(yè)株式會社