專利名稱：多層信息記錄介質(zhì)的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本申請(qǐng)涉及一種信息記錄介質(zhì)，如光盤、光卡等，更具體的說(shuō)，涉及一種多層信息記錄介質(zhì)，其具有多個(gè)層疊在隔離層上的記錄層。
背景技術(shù)：
近幾年，光盤被廣泛用作用于記錄和再現(xiàn)如視頻數(shù)據(jù)、音頻數(shù)據(jù)、計(jì)算機(jī)數(shù)據(jù)等數(shù)據(jù)的裝置。稱為DVD(數(shù)字通用盤)的高密度記錄盤已經(jīng)應(yīng)用于實(shí)際中。作為DVD中的一種，這種具有層壓結(jié)構(gòu)的多層盤具有多個(gè)記錄層，該記錄層可以從盤的一側(cè)進(jìn)行讀取。一側(cè)具有兩個(gè)記錄層的雙層盤已作為用于復(fù)制的盤應(yīng)用于實(shí)際中。
如圖1所示，用于復(fù)制的雙層DVD包括淺記錄層，其是由數(shù)據(jù)被讀取的一側(cè)的方向看過(guò)去的第一層，即最接近光線入射表面，和深或第二記錄層。在雙層盤中，任何記錄在淺記錄層內(nèi)和深記錄層內(nèi)的信號(hào)都可以僅通過(guò)移動(dòng)再現(xiàn)光束的焦點(diǎn)而從盤的一側(cè)讀取出來(lái)。淺記錄層由半透明薄膜制成以使光線可以穿過(guò)淺記錄層并讀取深記錄層的信號(hào)，對(duì)于淺記錄層可以便利地選用薄膜的厚度和材料。反射薄膜被用于深記錄層。對(duì)于光波長(zhǎng)具有高投射比的光透射隔離層設(shè)置在淺記錄層和深記錄層之間，以用固定距離分離這些層。
DVD標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定，僅具有一個(gè)記錄層的單層盤的記錄層上的透射保護(hù)層，為600μm厚，如圖2所示。另一方面，雙層盤具有分別位于距光線入射表面570μm和630μm處的第一記錄層和第二記錄層，即單層DVD的記錄層所位于的600μm的深度的上下。雙層盤采用在厚度方向上位于單記錄層上下的兩層定位，因?yàn)橛糜谟涗浐驮佻F(xiàn)符合DVD標(biāo)準(zhǔn)的信號(hào)的光拾取系統(tǒng)包括具有相對(duì)小的0.6的數(shù)值孔徑的物鏡，該數(shù)值孔徑是為600μm厚度的保護(hù)層而設(shè)計(jì)，并且即使使用這種小數(shù)值孔徑的物鏡，在第一層和第二層的深度方向上均距離單記錄層大約30μm的偏差不會(huì)顯著影響信號(hào)的讀取。在這種情況下，盡管記錄層的30μm的偏差引起讀取光線的波象差，波象差的數(shù)量太小以致不會(huì)在數(shù)值孔徑大約為0.6數(shù)量級(jí)時(shí)產(chǎn)生問(wèn)題。
超出了雙層盤的第一記錄層的長(zhǎng)節(jié)目，如電影，被從兩個(gè)記錄層進(jìn)行再現(xiàn)。DVD標(biāo)準(zhǔn)還規(guī)定了用于從兩層連續(xù)再現(xiàn)的單側(cè)信號(hào)再現(xiàn)方式，稱之為反向軌跡(opposite track path)再現(xiàn)方式。反向軌跡再現(xiàn)方式包括從位于570μm深度的記錄層由內(nèi)周向外圍進(jìn)行再現(xiàn)，將焦點(diǎn)從記錄層的外圍跳轉(zhuǎn)到位于630μm深度的記錄層上，并從外圍向內(nèi)周地再現(xiàn)較深記錄層上的信號(hào)。在這種情況下，通過(guò)讀取代表記錄在位于570μm深度的層上的盤內(nèi)容的信息區(qū)域，裝置可以依據(jù)反向軌跡再現(xiàn)方式讀出DVD的標(biāo)題、節(jié)目持續(xù)時(shí)間或雙層盤。
此時(shí)，信息數(shù)量的增加要求下一代的光盤具有更高密度。應(yīng)當(dāng)考慮到物鏡的數(shù)值孔徑針對(duì)更高密度將增加到0.8或更高。當(dāng)使用具有這種大數(shù)值孔徑的物鏡時(shí)，由記錄層上的保護(hù)層的厚度的誤差所引起的波象差的數(shù)量增加太多以致于不能讀取信號(hào)，從而不易于再現(xiàn)具有兩個(gè)記錄層結(jié)構(gòu)的下一代光盤。因此，應(yīng)當(dāng)考慮到將能夠調(diào)整波象差數(shù)量的光學(xué)系統(tǒng)引入到拾取器中，以進(jìn)行補(bǔ)償從而避免記錄層深度產(chǎn)生的波象差。
當(dāng)用于補(bǔ)償波象差的光學(xué)系統(tǒng)被用于讀取單層盤和多層盤如下一代的雙層盤并同時(shí)保持兼容性時(shí)，差別存在于與各記錄層之間的深度相應(yīng)的保護(hù)層厚度中，從而光線必須聚焦在每個(gè)記錄層上并同時(shí)校正波象差，以搜索導(dǎo)入信息等。這引起了這樣的問(wèn)題，即如果在再現(xiàn)單層盤后立即再現(xiàn)雙層盤，開(kāi)始再現(xiàn)所用的時(shí)間將變長(zhǎng)。另外，通過(guò)采用大數(shù)值孔徑，更厚的保護(hù)層使得對(duì)傾斜盤的允許范圍顯著縮小，從而具有比單層盤更厚的保護(hù)層的多層盤必須制造為比單層盤更好的盤表面的平面性。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明是考慮到上述情況而作出的，本發(fā)明的目的在于提供一種多層信息記錄介質(zhì)，其允許即使在使用具有0.8或更高的大數(shù)值孔徑的物鏡進(jìn)行信息記錄或再現(xiàn)時(shí)，也能快速數(shù)據(jù)再現(xiàn)，并且其可以制造成與單層盤具有相等的平面性，本發(fā)明還提供一種適合使用多層信息記錄介質(zhì)的信息記錄和再現(xiàn)裝置。
根據(jù)本發(fā)明，提供了一種具有多個(gè)在一側(cè)層疊在隔離層上的記錄層的多層信息記錄介質(zhì)，其用于可以記錄或再現(xiàn)一側(cè)具有用作通過(guò)使光線穿過(guò)保護(hù)層照射到記錄層而改變反射率的單記錄層和保護(hù)層的單層信息記錄介質(zhì)上的信息的記錄和再現(xiàn)裝置。
本發(fā)明的多層信息記錄介質(zhì)包括最深記錄層，其位于從光入射側(cè)表面到最深的光程d1滿足等式d1＝nt的位置處，其中“n”表示至少在再現(xiàn)和記錄方面而言與所述多層信息記錄介質(zhì)兼容的單層信息記錄介質(zhì)的保護(hù)層的預(yù)定折射率，“t”表示所述保護(hù)層的厚度；和至少一個(gè)淺記錄層，其位于從光入射側(cè)表面到光程d2滿足不等式d2＜nt的位置處。
根據(jù)本發(fā)明的一方面，所述多層信息記錄介質(zhì)僅包括由所述最深記錄層和所述淺記錄層構(gòu)成的兩層。
根據(jù)本發(fā)明的多層信息記錄介質(zhì)的另一方面，物理地址信息由光入射側(cè)表面從所述淺記錄層向所述最深記錄層以較淺次序順序記錄。
根據(jù)本發(fā)明的多層信息記錄介質(zhì)的再一方面，物理地址信息從所述最深記錄層的內(nèi)周向外圍按順序順序記錄。
根據(jù)本發(fā)明的多層信息記錄介質(zhì)的還一方面，物理地址信息從光入射側(cè)表面在前進(jìn)方向上從內(nèi)周到外圍和在相反的方向上從外圍到內(nèi)周交替的在從所述淺記錄層到所述最深記錄層的記錄層的每個(gè)上以較淺次序順序記錄。
根據(jù)本發(fā)明的多層信息記錄介質(zhì)的另一方面，與在所述淺記錄層上的所有內(nèi)容相關(guān)的預(yù)定內(nèi)容信息記錄在所述最深記錄層內(nèi)。
根據(jù)本發(fā)明，還提供了一種信息記錄和再現(xiàn)裝置，其可以通過(guò)光束照射記錄或再現(xiàn)具有單記錄層的單層信息記錄介質(zhì)或一側(cè)具有多個(gè)層疊在保護(hù)層上的記錄層的多層信息記錄介質(zhì)上的信息。
本發(fā)明的信息記錄和再現(xiàn)裝置包括光學(xué)拾取器，其具有將光線照射到多層信息記錄介質(zhì)上的物鏡，該多層信息記錄介質(zhì)包括最深記錄層，其位于從光入射側(cè)表面到最深的光程d1滿足等式d1＝nt的位置處，其中“n”表示至少在再現(xiàn)和記錄方面而言與所述多層信息記錄介質(zhì)兼容的單層信息記錄介質(zhì)的保護(hù)層的預(yù)定折射率，“t”表示所述保護(hù)層的厚度，和至少一個(gè)淺記錄層，其位于從光入射側(cè)表面到光程d2滿足不等式d2＜nt的位置處；和聚焦伺服電路，其控制物鏡首先將光線聚焦到位于光程d1的所述最深記錄層上，并執(zhí)行初始聚焦伺服操作。
根據(jù)本發(fā)明的信息記錄和再現(xiàn)裝置的另一方面，所述聚焦伺服電路執(zhí)行在執(zhí)行所述初始聚焦伺服操作之后將聚焦位置跳躍到位于光程d2的所述淺記錄層上的聚焦伺服操作。
根據(jù)本發(fā)明的信息記錄和再現(xiàn)裝置的再一方面，所述物鏡具有等于和大于0.8的數(shù)值孔徑，以用于產(chǎn)生光線的會(huì)聚光點(diǎn)。
根據(jù)本發(fā)明的信息記錄和再現(xiàn)裝置的還一方面，該裝置進(jìn)一步包括波象差校正部分，其改變包括在所述聚焦光點(diǎn)內(nèi)的波象差的數(shù)量。
根據(jù)本發(fā)明的信息記錄和再現(xiàn)裝置的又一方面，所述物鏡包括一組物鏡，其在光點(diǎn)聚焦于距離光程d1的位置處時(shí)最小化光束內(nèi)的波象差的數(shù)量。


圖1是雙層盤的橫截面示意圖；圖2是單層盤的橫截面示意圖；圖3是根據(jù)本發(fā)明的雙層盤的橫截面示意圖；
圖4是與本發(fā)明的雙層盤兼容的單層盤橫截面示意圖；和圖5是說(shuō)明根據(jù)本發(fā)明的記錄和再現(xiàn)裝置的結(jié)構(gòu)的示意性方框圖。
優(yōu)選實(shí)施方式下面將結(jié)合附圖對(duì)本發(fā)明的實(shí)施例進(jìn)行說(shuō)明。
<雙層盤>
根據(jù)本發(fā)明的第一實(shí)施例的典型的多層盤是具有由例如圖3所示的記錄層L1、L2構(gòu)成的兩層結(jié)構(gòu)的雙層盤。這種雙層盤在再現(xiàn)或記錄方面而言與單層盤(圖4)是兼容的，在單層盤上通過(guò)預(yù)定的再現(xiàn)和記錄裝置穿過(guò)具有預(yù)定折射率n和厚度t的光入射側(cè)表面上的記錄層上的保護(hù)層而執(zhí)行記錄或再現(xiàn)。
最深記錄層，即與雙層盤的記錄層的光線入射側(cè)表面相距最深的記錄層被具有一定厚度的保護(hù)層覆蓋，所述保護(hù)層的厚度與用d1＝n×t表示的光程d1相關(guān)。
淺記錄層，不同于最深記錄層，被厚度與以d2＜n×t表示的光程d2相關(guān)的保護(hù)層覆蓋。雙層盤包括形成在滿足等式d1＝n×t的光程d1處的最深記錄層和形成在滿足不等式d2＜n×t的光程d2處的淺記錄層。
在該雙層盤上，由于最深記錄層設(shè)置在光程d1處，光程d1與單層盤的記錄層的光路厚度相同，因此，甚至可以不進(jìn)行多層盤的淺記錄層的位置搜索而僅使用一個(gè)適用于使單層盤的波象差最小化的拾取器即可再現(xiàn)位于光程d1處的最深記錄層上的信息。并且，由于光程d2被設(shè)置為小于d1，因此，當(dāng)在淺記錄層上執(zhí)行記錄或再現(xiàn)時(shí)，對(duì)傾斜光盤的限制(allowance)并不比單層盤更嚴(yán)格，從而與單層盤相比，并不需要改進(jìn)其平面性。
在假設(shè)以預(yù)定次序從兩層進(jìn)行再現(xiàn)，即位于光程d2處的淺記錄層在最深記錄層之前被再現(xiàn)的情況下，將信息記錄在雙層盤中。具體地，可以從淺記錄層到最深記錄層順序地記錄物理地址信息，深淺的順序是相對(duì)于光入射側(cè)表面的。
另外，利用雙層盤，從位于光程d2處的表面的內(nèi)周向外圍再現(xiàn)信號(hào)?？蛇x擇地，也可以從位于光程d1處的表面的外圍向內(nèi)周再現(xiàn)信號(hào)。并且，也可以按照從最深記錄層的內(nèi)周到外周的順序記錄物理地址信息。
為了再現(xiàn)一個(gè)超過(guò)淺記錄層的記錄限制容量的節(jié)目，通過(guò)如此設(shè)計(jì)雙層盤，在完成了從具有對(duì)傾斜盤的較大容差的淺記錄層的再現(xiàn)之后，再現(xiàn)記錄在最深記錄層上的剩余信息，從而使增加對(duì)正常傾斜的盤的容差成為可能。
在雙層盤中，與兩層上的所有內(nèi)容相關(guān)的預(yù)定內(nèi)容信息可以被記錄在光程d1處的最深記錄層上。在這種情況下，信號(hào)再現(xiàn)裝置從位于光程d1處的最深記錄層讀取雙層盤的標(biāo)題、節(jié)目記錄時(shí)間或指示此雙層盤遵循反向軌跡再現(xiàn)方式等的預(yù)定信息，然后，將聚焦位置跳轉(zhuǎn)到位于光程d2處的淺記錄層的內(nèi)周并繼續(xù)再現(xiàn)信號(hào)。物理地址信息以從最深記錄層到淺記錄層的深度次序、在從內(nèi)周到外圍的正向和從外圍到內(nèi)周的反向上交替地在每個(gè)記錄層上順序記錄。
利用以前述方式記錄信息的盤，在與單層盤相同的波象差校正狀態(tài)下，可以讀出指示兩層上的盤內(nèi)容的預(yù)定信息，以使再現(xiàn)裝置可以知道其上記錄有信息的雙層盤而不用通過(guò)其波象差校正單元搜索記錄層的位置，并可以立即開(kāi)始再現(xiàn)。因此，根據(jù)本發(fā)明，當(dāng)從淺記錄層開(kāi)始再現(xiàn)相鄰記錄層時(shí)，光拾取器可以在記錄層的再現(xiàn)平面之間平穩(wěn)移動(dòng)。
這個(gè)信息可以是記錄在最深記錄層的內(nèi)周部分的凹坑、或條碼、或使用凹坑形成類似條碼的所謂PEF，或一個(gè)用于一個(gè)區(qū)域以校正波象差的波象差校正信號(hào)，在所述區(qū)域中記錄有一個(gè)用于檢測(cè)波象差的信號(hào)。
當(dāng)用于會(huì)聚光點(diǎn)的物鏡的數(shù)值孔徑被選為0.8或更高時(shí)，物鏡被設(shè)計(jì)為在其穿過(guò)光程d1聚焦時(shí)使波象差的數(shù)量最小化。
上述實(shí)施例已經(jīng)描述了雙層盤的情況，具有三層或更多層的盤也可以以相同方式進(jìn)行設(shè)計(jì)，并且即使不滿足前述條件，其他記錄層也可以被提供。此外，雖然沒(méi)有對(duì)記錄密度進(jìn)行描述，兩個(gè)記錄層可以具有相同的記錄密度，或不同的記錄密度。
在前述實(shí)施例中，保護(hù)層的厚度等于光路長(zhǎng)度。這通過(guò)采用折射率彼此相等并且厚度相同的材料自然可以實(shí)現(xiàn)。另外，即使采用具有不同折射率的材料，也可以將其構(gòu)造為折射率與厚度之積，即光學(xué)厚度(光程)，相等。并且，當(dāng)填充在各層之間的材料(隔離層)具有不同的折射率時(shí)，也可以通過(guò)順序(sequential)計(jì)算被設(shè)定為具有一個(gè)等效的光路長(zhǎng)度。
例如，假設(shè)雙層盤的光入射側(cè)表面上的保護(hù)層具有折射率nc和厚度tc，淺記錄層L1具有折射率nL1和厚度tL1記錄層L1、L2之間的隔離層具有折射率ns和厚度ts，盤被設(shè)計(jì)成從最深記錄層L2的光入射側(cè)表面開(kāi)始的光程d1滿足d1＝n×t＝nc×tc+nL1×tL1+ns×ts，并且從淺記錄層L1的光入射側(cè)表面開(kāi)始的光程d2滿足d2＝nc×tc＜n×t。
記錄層L1、L2的每一個(gè)都具有層壓結(jié)構(gòu)，該結(jié)構(gòu)包括由相變材料如Ag-In-Sb-Te制成的記錄層和由如ZnS-SiO2等制成的夾在記錄層之間的玻璃保護(hù)層。對(duì)于使用由相變材料制成的記錄層并且其上的數(shù)據(jù)可以被記錄或擦除，即可利用光束重寫，的光盤，每個(gè)記錄層都可以設(shè)置一個(gè)其中數(shù)據(jù)可被重寫，即記錄或擦除的可重寫區(qū)域，和一個(gè)預(yù)置坑區(qū)域，該區(qū)域具有一連串的壓紋(embossed)凹坑，用于承載作為順序物理地址的地址和如記錄定時(shí)之類的信息。雖然已經(jīng)描述了使用相變材料的可重寫雙層盤的實(shí)施例，但是本發(fā)明的記錄層所用的材料并不局限于相變材料，也可以采用一次性寫入的涂料材料。此外，雙層盤可以用作再現(xiàn)專用盤。
再現(xiàn)和記錄兼容的單層盤和多層盤除了上述條件外具有相同的盤直徑、整體盤厚度、道間距、最小間距長(zhǎng)度、彎曲角度、雙折射率、格式等。例如，它們可以符合CAV(恒定角速度)或CLV(恒定線速度)方式?；蛘撸鼈兛梢允亲裱M合了CAV和CLV的區(qū)域CAV或CLV方式的多層盤。多層盤的每個(gè)記錄層預(yù)先以螺旋或同心圓形交替地形成凸槽軌跡和凹槽軌跡。每個(gè)槽跡都可以以相應(yīng)于多層盤的旋轉(zhuǎn)速度的頻率擺動(dòng)。
<記錄/再現(xiàn)裝置>
通過(guò)利用一個(gè)具有低強(qiáng)度(讀取能量)再現(xiàn)光束照射記錄層的預(yù)置坑區(qū)域和可重寫區(qū)域，以便進(jìn)行掃描從而檢測(cè)脊預(yù)置坑和槽預(yù)置坑、識(shí)別將被記錄的軌跡上的位置，并利用根據(jù)數(shù)據(jù)而被調(diào)節(jié)的高強(qiáng)度聚焦記錄光束(寫入能量)照射軌跡可重寫區(qū)域，而將數(shù)據(jù)記錄在多層盤上。
圖5是依據(jù)本發(fā)明的記錄和再現(xiàn)裝置的結(jié)構(gòu)方框圖。
光拾取器21由一個(gè)包括聚焦透鏡、分束器、物鏡等的光學(xué)系統(tǒng)；一個(gè)作為光源的半導(dǎo)體激光器；一個(gè)光電檢測(cè)器；物鏡致動(dòng)器等構(gòu)成。物鏡21a具有等于或大于0.8的數(shù)值孔徑，并在記錄層上產(chǎn)生光束的聚焦光點(diǎn)。物鏡21a由一組透鏡構(gòu)成，其可以在兼容的單層或多層盤位于正常位置時(shí)，或在光點(diǎn)聚焦到距離表面光程d1的位置上時(shí)，使光束波象差的數(shù)量最小化。光學(xué)拾取器21還包括一個(gè)波象差校正裝置21b，用于改變包括在聚焦光點(diǎn)內(nèi)的波象差數(shù)量。
當(dāng)將多層盤1裝載到由主軸馬達(dá)驅(qū)動(dòng)的轉(zhuǎn)盤1a上時(shí)，光學(xué)驅(qū)動(dòng)器21將作為記錄光或讀取光的光束照射到多層盤1上。光學(xué)拾取器21包括光電檢測(cè)器，其檢測(cè)從多層盤的記錄層反射回來(lái)的反射光束，以讀取與形成在多層盤1上的軌跡和預(yù)置坑或記錄標(biāo)記相應(yīng)的信號(hào)，作為一個(gè)反射率的改變。伺服電路20具有一個(gè)聚焦伺服電路和一個(gè)跟蹤伺服電路，用于根據(jù)光學(xué)拾取器21提供的一個(gè)控制信號(hào)和控制單元(CPU)26提供的一個(gè)控制命令，執(zhí)行拾取器的聚焦和跟蹤的伺服控制、再現(xiàn)位置(徑向位置)的控制、主軸馬達(dá)的旋轉(zhuǎn)速度控制等。當(dāng)前面所述的實(shí)施例中的多層盤，如雙層盤，被加載時(shí)，光束首先照射到位于光程d1處的最深記錄層L2，執(zhí)行初始聚焦伺服操作，并執(zhí)行物鏡的跟蹤伺服和聚焦伺服控制，以使光束正確聚焦在多層盤的記錄層上。聚焦伺服電路在執(zhí)行初始聚焦伺服操作之后，還執(zhí)行用于使聚焦位置跳轉(zhuǎn)到位于光程d2處的淺記錄層L1上的聚焦伺服操作。
從光學(xué)拾取器21輸出的讀取信號(hào)(RF信號(hào))在放大電路中被放大，并提供給預(yù)尋址(pre-address)解碼器23和解碼器43。
預(yù)尋址解碼器23提取預(yù)置坑、擺動(dòng)信號(hào)等，并且預(yù)尋址解碼器23內(nèi)的同步時(shí)鐘和定時(shí)信號(hào)發(fā)生器電路產(chǎn)生與多層盤1的旋轉(zhuǎn)同步的時(shí)鐘信號(hào)和定時(shí)信號(hào)。定時(shí)信號(hào)代表盤上的當(dāng)前位置，如通過(guò)光束記錄(再現(xiàn))的預(yù)置坑區(qū)域或可重寫區(qū)域，或脊軌道或槽軌道等。預(yù)尋址解碼器23依據(jù)拾取器從盤的預(yù)置坑區(qū)域內(nèi)的壓紋凹坑中讀取的信號(hào)來(lái)讀取地址信息，并將地址信息和定時(shí)信號(hào)傳送到CPU26。預(yù)尋址解碼器23包括用于檢測(cè)多層盤上的可重寫區(qū)域和預(yù)置坑區(qū)域的電路。
CPU26根據(jù)這些信號(hào)檢測(cè)記錄層上的預(yù)置坑區(qū)域的位置。存儲(chǔ)裝置被包含在或連接到CPU26，用于存儲(chǔ)必要的數(shù)據(jù)等。CPU26通常根據(jù)提供給它的信號(hào)來(lái)控制裝置。CPU26從預(yù)尋址解碼器23讀取地址信息，并將控制命令發(fā)送到記錄控制電路36和伺服電路20，以控制在一個(gè)預(yù)定地址上的記錄和再現(xiàn)操作。
記錄控制電路36根據(jù)來(lái)自CPU26的控制命令和來(lái)自預(yù)尋址解碼器23的定時(shí)信號(hào)，依據(jù)諸如記錄、擦除、再現(xiàn)等特定狀態(tài)來(lái)控制拾取器內(nèi)激光器的功率。在記錄狀態(tài)下，記錄控制電路根據(jù)來(lái)自編碼器27的一個(gè)信號(hào)，調(diào)節(jié)拾取器內(nèi)的激光器的功率以在盤上記錄信息。在再現(xiàn)狀態(tài)下(當(dāng)再現(xiàn)可重寫區(qū)域內(nèi)的數(shù)據(jù)時(shí)，或再現(xiàn)預(yù)置坑區(qū)域內(nèi)的地址信息時(shí))，記錄控制電路36控制讀取功率保持在一個(gè)恒定的低功率，以便不擦除記錄在盤上的信息。
編碼器27將用于誤差校正的奇偶校驗(yàn)碼添加到將被記錄的數(shù)據(jù)中，并將合成數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換為用于將其編碼成一個(gè)適于記錄在多層盤1上的信號(hào)的RLL(游程長(zhǎng)度受限)碼。編碼信號(hào)被從編碼器27發(fā)送到記錄控制電路36。
解碼器43對(duì)從盤的可重寫的區(qū)域讀出的信號(hào)執(zhí)行與編碼器相反的處理過(guò)程(RLL編碼、誤差校正等的解調(diào))以恢復(fù)原始記錄的數(shù)據(jù)。
如上所述，本發(fā)明提供了一種多層信息記錄介質(zhì)，其具有兩個(gè)和多個(gè)與單層盤兼容的記錄層和一個(gè)與單層盤的保護(hù)層的光路長(zhǎng)度相同的保護(hù)層，另一記錄層位于比它薄的保護(hù)層的位置上，從而使該多層信息記錄介質(zhì)在盤平面的穩(wěn)定性上優(yōu)越，并且可以以能夠連續(xù)從這些記錄層再現(xiàn)信號(hào)的順序記錄和再現(xiàn)信息。
上述描述和結(jié)合附圖的對(duì)本發(fā)明的優(yōu)選實(shí)施例的闡述是易于理解的。當(dāng)然，不同的改進(jìn)、添加和替換設(shè)計(jì)根據(jù)不背離本發(fā)明的精神和范圍的教導(dǎo)對(duì)于本領(lǐng)域的技術(shù)人員是顯而易見(jiàn)的。因此，應(yīng)當(dāng)理解，本發(fā)明并不局限于實(shí)施例披露的內(nèi)容，而是包括了附加權(quán)利要求的全部范圍。
權(quán)利要求
1.一種多層信息記錄介質(zhì)，其在記錄或再現(xiàn)方面與單層信息記錄介質(zhì)兼容，該單層信息記錄介質(zhì)具有折射率為n、沿光入射側(cè)的厚度為t的保護(hù)層，所述多層信息記錄介質(zhì)包括從該多層信息記錄介質(zhì)的光入射側(cè)表面按順序?qū)臃诺牡谝挥涗泴雍偷诙涗泴樱涮卣髟谟?，所述第二記錄層位于距所述光入射?cè)表面光程d1處，且d1滿足等式d1＝n×t；所述第一記錄層位于距所述光入射側(cè)表面光程d2處，且d2滿足不等式d2＜n×t；以及從所述第二記錄層到所述第一記錄層按順序記錄有物理地址信息。
2.根據(jù)權(quán)利要求1的多層信息記錄介質(zhì)，其中物理地址信息是按照從所述第二記錄層的內(nèi)周向外圍的順序記錄的。
3.根據(jù)權(quán)利要求2的多層信息記錄介質(zhì)，其中物理地址信息是按照從所述第一記錄層的外圍向內(nèi)周的順序記錄的。
4.根據(jù)權(quán)利要求1的多層信息記錄介質(zhì)，其中多層信息記錄介質(zhì)與單層信息記錄介質(zhì)的兼容性體現(xiàn)在盤直徑、整個(gè)盤厚度以及軌道節(jié)距方面是共同的。
5.根據(jù)權(quán)利要求4的多層信息記錄介質(zhì)，其中多層信息記錄介質(zhì)與單層信息記錄介質(zhì)的兼容性體現(xiàn)在最小節(jié)距長(zhǎng)度、彎曲角度、雙折射率、格式方面是共同的。
6.一種多層信息記錄介質(zhì)，其在記錄或再現(xiàn)方面與單層信息記錄介質(zhì)兼容，該單層信息記錄介質(zhì)具有折射率為n、沿光入射側(cè)的厚度為t的保護(hù)層，所述多層信息記錄介質(zhì)包括從該多層信息記錄介質(zhì)的光入射側(cè)表面按順序?qū)臃诺谋Ｗo(hù)層、第一記錄層、隔離層和第二記錄層，其特征在于，假設(shè)該保護(hù)層的折射率為nC、厚度為tC，第一記錄層的折射率為nL1、厚度為tL1，隔離層的折射率為nS、厚度為tS，則第二記錄層位于距該光入射側(cè)表面光程d1處，且d1滿足等式d1＝n×t＝nC×tC+nL1×tL1+nS×tS；以及第一記錄層位于距入射側(cè)表面光程d2處，且d2滿足等式d2＝nC×tC＜n×t；以及從所述第二記錄層到所述第一記錄層按順序記錄有物理地址信息。
7.根據(jù)權(quán)利要求6的多層信息記錄介質(zhì)，其中物理地址信息是按照從所述第二記錄層的內(nèi)周向外圍的順序記錄的。
8.根據(jù)權(quán)利要求7的多層信息記錄介質(zhì)，其中物理地址信息是按照從所述第一記錄層的外圍向內(nèi)周的順序記錄的。
9.根據(jù)權(quán)利要求6的多層信息記錄介質(zhì)，其中多層信息記錄介質(zhì)與單層信息記錄介質(zhì)的兼容性體現(xiàn)在盤直徑、整個(gè)盤厚度以及軌道節(jié)距方面是共同的。
10.根據(jù)權(quán)利要求9的多層信息記錄介質(zhì)，其中多層信息記錄介質(zhì)與單層信息記錄介質(zhì)的兼容性體現(xiàn)在最小節(jié)距長(zhǎng)度、彎曲角度、雙折射率、格式方面是共同的。
11.一種多層信息記錄介質(zhì)，其在記錄或再現(xiàn)方面與單層信息記錄介質(zhì)兼容，該單層信息記錄介質(zhì)具有折射率為n、沿光入射側(cè)的厚度為t的一層保護(hù)層，所述多層信息記錄介質(zhì)包括由該多層信息記錄介質(zhì)的光入射側(cè)表面層放的一個(gè)最深記錄層和一個(gè)或多個(gè)比該最深記錄層淺的淺記錄層，其特征在于，所述最深記錄層位于距所述光入射側(cè)表面光程d1處，且d1滿足等式d1＝n×t；所述淺記錄層位于距所述光入射側(cè)表面光程d2處，且d2滿足不等式d2＜n×t；以及從所述最深記錄層到所述淺記錄層按順序記錄有物理地址信息。
12.根據(jù)權(quán)利要求11所述的多層信息記錄介質(zhì)，其中所述多層信息記錄介質(zhì)僅包括由所述最深記錄層和所述淺記錄層構(gòu)成的兩層。
13.根據(jù)權(quán)利要求11的多層信息記錄介質(zhì)，其中物理地址信息是按照從所述最深記錄層的內(nèi)周向外圍的順序記錄的。
14.根據(jù)權(quán)利要求13的多層信息記錄介質(zhì)，其中物理地址信息是按照所述最深記錄層的下一個(gè)淺記錄層的由外圍向內(nèi)周的順序記錄的。
15.根據(jù)權(quán)利要求11的多層信息記錄介質(zhì)，其中多層信息記錄介質(zhì)與單層信息記錄介質(zhì)的兼容性體現(xiàn)在盤直徑、整個(gè)盤厚度以及軌道節(jié)距方面是共同的。
16.根據(jù)權(quán)利要求9的多層信息記錄介質(zhì)，其中多層信息記錄介質(zhì)與單層信息記錄介質(zhì)的兼容性體現(xiàn)在最小節(jié)距長(zhǎng)度、彎曲角度、雙折射率、格式方面是共同的。
全文摘要
一種多層信息記錄介質(zhì)，其在記錄或再現(xiàn)方面與單層信息記錄介質(zhì)兼容，該單層信息記錄介質(zhì)具有折射率為n、沿光入射側(cè)的厚度為t的保護(hù)層，所述多層信息記錄介質(zhì)包括從該多層信息記錄介質(zhì)的光入射側(cè)表面按順序?qū)臃诺牡谝挥涗泴雍偷诙涗泴?，其中所述第二記錄層位于距所述光入射?cè)表面光程d1處，且d1滿足等式d1＝n×t；所述第一記錄層位于距所述光入射側(cè)表面光程d2處，且d2滿足不等式d2＜ n×t；以及從所述第二記錄層到所述第一記錄層按順序記錄有物理地址信息。
文檔編號(hào)G11B7/007GK1619673SQ200410100608
公開(kāi)日2005年5月25日 申請(qǐng)日期2002年5月24日 優(yōu)先權(quán)日2001年5月25日
發(fā)明者大澤誠(chéng)一, 前田孝則 申請(qǐng)人:先鋒株式會(huì)社