專利名稱：數(shù)據(jù)再現(xiàn)設備的制作方法
技術領域：
本發(fā)明涉及用于再現(xiàn)記錄介質中記錄的數(shù)據(jù)的數(shù)據(jù)再現(xiàn)器。
背景技術：
在近年來的多樣化信息社會中，由于DVD(數(shù)字多功能盤)和MO(磁光盤)的密度變得越來越高，將來的數(shù)據(jù)再現(xiàn)器(例如光(磁)盤驅動器和硬盤驅動器(HDD))非常需要更大的容量和更高速的轉移。然而，對于用于這些數(shù)據(jù)再現(xiàn)器的記錄介質，軌道間隔變得非常窄。因此，再現(xiàn)信號的質量容易受串擾影響，因而更高密度是很困難的。
為了通過改善再現(xiàn)信號的質量而實現(xiàn)更高密度，需要檢測并消除串擾。
圖1和圖2的例圖示出了為檢測串擾而應用于記錄介質的格式示例。圖1示出了沒有對來自彼此相鄰的軌道的串擾進行區(qū)分的格式示例。圖2示出了對來自彼此相鄰的軌道的串擾進行區(qū)分的格式示例。
在圖1和圖2中的任何一個格式示例中，在串擾檢測區(qū)域3中，1T連續(xù)塊和4T連續(xù)塊被排列在軌道1_1、…和1_5上，并且在串擾檢測區(qū)域3中的相鄰軌道之間，1T連續(xù)塊和4T連續(xù)塊之間的塊排列模式是不同的。因此，當射束點2偏離排列有1T連續(xù)塊和4T連續(xù)塊的串擾檢測區(qū)域3中的軌道時，可以檢測到再現(xiàn)信號中產生的串擾。
對于這種情況，描述了從1T連續(xù)塊和4T連續(xù)塊再現(xiàn)的采樣數(shù)據(jù)值(再現(xiàn)信號)。
圖3的例圖示出了從1T連續(xù)塊和4T連續(xù)塊再現(xiàn)的采樣數(shù)據(jù)值。
圖3中示出的模式“10101010”示出了1T連續(xù)塊中記錄的數(shù)據(jù)，而模式“11110000”示出了4T連續(xù)塊中記錄的數(shù)據(jù)。這些記錄數(shù)據(jù)值被具有1+D特性的再現(xiàn)信道所再現(xiàn)，并且變?yōu)椴蓸訑?shù)據(jù)值(再現(xiàn)信號)“11111111”和“12221000”。因此，來自1T連續(xù)塊的再現(xiàn)信號是振幅為0的信號，而來自4T連續(xù)塊的再現(xiàn)信號具有大振幅。
通過使用再現(xiàn)信號的特性來測量有多少由相鄰軌道的4T連續(xù)塊引起的振幅信號在沒有振幅的1T連續(xù)塊中產生串擾，圖1和圖2中示出的格式示例分別計算串擾值。
圖4是串擾檢測的概念性示圖。
對于沒有串擾的再現(xiàn)信號4_1，在1T連續(xù)塊中振幅變?yōu)?。然而，對于存在串擾的再現(xiàn)信號4_2，在1T連續(xù)塊中檢測到振幅信號5，并且振幅信號5是由相鄰軌道的4T連續(xù)塊引起的串擾。而且，通過比較前一級的4T連續(xù)塊的振幅以及引起串擾的4T連續(xù)振幅，可以測量串擾的等級。
示出了根據(jù)串擾檢測概念原理在記錄介質的測試區(qū)域中檢測串擾并向射束點位置施加到軌道的偏離的技術(例如，參見專利文獻1)，以及通過使用預置凹點形成串擾檢測區(qū)域的技術(例如，參見專利文獻2)。
(專利文獻1)日本專利早期公開No.8-77627(專利文獻2)日本專利早期公開No.8-45080然而，利用根據(jù)所述原理的串擾檢測，難以獲得足以改善再現(xiàn)信號質量的精確度。而且，記錄介質的容量損失了等同于串擾檢測區(qū)域的數(shù)值。
當在用于在除串擾以外的其他情形處理再現(xiàn)信號的處理電路中發(fā)生信號強度的偏移或信號的增益缺陷時，再現(xiàn)信號的質量也受到影響。

發(fā)明內容
考慮到上述情形，本發(fā)明的目的是提供一種數(shù)據(jù)再現(xiàn)器，該數(shù)據(jù)再現(xiàn)器改善了再現(xiàn)信號的質量。具體而言，本發(fā)明的第一目的是通過高精度檢測串擾來改善質量，并且本發(fā)明的第二目的是通過校正再現(xiàn)信號的偏移或增益來改善質量。
實現(xiàn)上述目的的本發(fā)明第一數(shù)據(jù)再現(xiàn)器是這樣一種數(shù)據(jù)再現(xiàn)器，它從具有多條平行線性軌道且數(shù)據(jù)沿著軌道記錄的記錄介質再現(xiàn)數(shù)據(jù)，其中
所述記錄介質具有沿著軌道的第一區(qū)域以及沿著軌道在第一區(qū)域之前的第二區(qū)域，第一區(qū)域記錄用戶數(shù)據(jù)，且第二區(qū)域記錄用于校正用戶數(shù)據(jù)的再現(xiàn)定時的模式數(shù)據(jù)，并且在彼此相鄰的軌道之間，彼此相鄰的模式數(shù)據(jù)相互不同，并且所述數(shù)據(jù)再現(xiàn)器包括光頭，所述光頭面向所述記錄介質，再現(xiàn)所述記錄介質中記錄的數(shù)據(jù)，并獲得再現(xiàn)信號；第一模式比較部件，所述第一模式比較部件比較當所述光頭再現(xiàn)沿著軌道的第二區(qū)域時所獲得的再現(xiàn)信號和必須從第二區(qū)域再現(xiàn)的模式數(shù)據(jù)；定時校正部件，所述定時校正部件根據(jù)第一模式比較部件的比較結果來校正再現(xiàn)定時；第二模式比較部件，所述第二模式比較部件比較當所述光頭再現(xiàn)沿著軌道的第二區(qū)域時所獲得的再現(xiàn)信號和必須從沿著與所再現(xiàn)的軌道相鄰的軌道的第二區(qū)域再現(xiàn)的模式數(shù)據(jù)；以及串擾檢測部件，所述串擾檢測部件根據(jù)第一模式比較部件和第二模式比較部件的比較結果來檢測串擾。
根據(jù)本發(fā)明的第一數(shù)據(jù)再現(xiàn)器，可以根據(jù)第一模式比較部件和第二模式比較部件的比較結果來準確檢測由相鄰軌道上的模式數(shù)據(jù)所引起的串擾，減少串擾，進而改善信號質量。
而且，由于模式數(shù)據(jù)還用作目前已在記錄介質上準備的用于再現(xiàn)用戶數(shù)據(jù)的模式數(shù)據(jù)，所以可以避免記錄介質的容量損失。
對于本發(fā)明的第一數(shù)據(jù)再現(xiàn)器，優(yōu)選地，模式數(shù)據(jù)是這樣的模式數(shù)據(jù)，其自相關值僅在一致點(coincidence point)處顯示峰，并且與其它模式的互相關值小于該自相關值。在這種情況下，特別優(yōu)選的是，上述模式數(shù)據(jù)是最大長度移位寄存器序列(M序列)。
當模式數(shù)據(jù)是下述數(shù)據(jù)時，串擾的檢測精度被進一步改善，其中所述數(shù)據(jù)顯示由最長碼序列(M序列)表示的自相關值或互相關值。
優(yōu)選地，在本發(fā)明的第一數(shù)據(jù)再現(xiàn)器中包括循軌調節(jié)部件，該循軌調節(jié)部件根據(jù)串擾檢測部件檢測到的串擾來調節(jié)光頭到所再現(xiàn)軌道的再現(xiàn)位置。
因為當光頭的再現(xiàn)位置從目標軌道移位時產生了常規(guī)串擾，所以通過校正到軌道的再現(xiàn)位置減小了串擾。
允許具有循軌調節(jié)部件的第一數(shù)據(jù)再現(xiàn)器具有“上述記錄介質具有用于測試數(shù)據(jù)的記錄/再現(xiàn)的測試區(qū)域，以及循軌調節(jié)部件根據(jù)在測試區(qū)域中測試時檢測到的串擾來執(zhí)行調節(jié)”的構造，“在記錄/再現(xiàn)數(shù)據(jù)失敗并重試記錄/再現(xiàn)時，循軌調節(jié)部件執(zhí)行上述調節(jié)”的構造，或者“上述循軌調節(jié)部件根據(jù)再現(xiàn)數(shù)據(jù)時檢測到的串擾順序執(zhí)行調節(jié)”的構造。
當根據(jù)測試區(qū)域中的串擾執(zhí)行調節(jié)時，通過從測試區(qū)域中的串擾估計適于另一區(qū)域中的數(shù)據(jù)再現(xiàn)的調節(jié)值，來執(zhí)行調節(jié)。因此，通過在另一區(qū)域中再現(xiàn)數(shù)據(jù)的時候檢測串擾，可以減少再現(xiàn)器的負擔。
而且，當在重試記錄和再現(xiàn)時執(zhí)行調節(jié)時，通過保持實現(xiàn)了記錄和再現(xiàn)的串擾為原樣，可以減少再現(xiàn)器的負擔。
此外，當根據(jù)在再現(xiàn)時檢測到的串擾依次執(zhí)行調節(jié)時，可以防止發(fā)生與記錄和再現(xiàn)相對立的串擾，盡管再現(xiàn)器的負擔很大。
此外，本發(fā)明的第一數(shù)據(jù)再現(xiàn)器優(yōu)選地具有角度調節(jié)部件，其根據(jù)串擾檢測部件檢測到的串擾，調節(jié)光頭的角度以使其面向記錄介質。
而且，當光頭相對于記錄介質傾斜而沒有位于正確位置時，這變成串擾的起因。在這種情況下，即使校正光頭的再現(xiàn)位置，也會很難減少串擾。因此，可以通過使用角度調節(jié)部件來減少串擾。
允許具有上述角度調節(jié)部件的第一數(shù)據(jù)再現(xiàn)器具有“上述記錄介質具有用于測試數(shù)據(jù)的記錄/再現(xiàn)的測試區(qū)域，以及上述角度調節(jié)部件根據(jù)在測試區(qū)域中測試時檢測到的串擾來執(zhí)行調節(jié)”的構造，“在記錄/再現(xiàn)數(shù)據(jù)失敗并重試記錄/再現(xiàn)時，上述角度調節(jié)部件執(zhí)行上述調節(jié)”的構造，或者“上述角度調節(jié)部件根據(jù)再現(xiàn)數(shù)據(jù)時檢測到的串擾順序執(zhí)行上述調節(jié)”的構造。
上面示出的構造的優(yōu)點與使用循軌調節(jié)部件時的構造的優(yōu)點相同。
而且，第一數(shù)據(jù)再現(xiàn)器優(yōu)選地包括再現(xiàn)功率調節(jié)部件，其根據(jù)串擾檢測部件檢測到的串擾來調節(jié)光頭的再現(xiàn)功率。
當再現(xiàn)功率不正常特別是太強的時候，介質上的射束點變得太大而發(fā)生串擾。因此，通過使用再現(xiàn)功率調節(jié)部件，可以通過將射束點尺寸調節(jié)到適當尺寸來減少串擾。
允許具有上述再現(xiàn)功率調節(jié)部件的第一數(shù)據(jù)再現(xiàn)器具有“上述記錄介質具有用于測試數(shù)據(jù)的記錄/再現(xiàn)的測試區(qū)域，以及再現(xiàn)功率調節(jié)部件根據(jù)在測試區(qū)域中測試時檢測到的串擾來執(zhí)行上述調節(jié)”的構造，“在記錄/再現(xiàn)數(shù)據(jù)失敗并重試記錄/再現(xiàn)時，上述再現(xiàn)功率調節(jié)部件執(zhí)行上述調節(jié)”的構造，或者“上述再現(xiàn)功率調節(jié)部件根據(jù)再現(xiàn)數(shù)據(jù)時檢測到的串擾順序執(zhí)行上述調節(jié)”的構造。
上面示出的構造的優(yōu)點與使用循軌調節(jié)部件時的構造的優(yōu)點相同。
而且，本發(fā)明的第一數(shù)據(jù)再現(xiàn)器優(yōu)選地包括距離調節(jié)部件，其根據(jù)串擾檢測部件檢測到的串擾來調節(jié)光頭到所面向的記錄介質的距離。
當光頭到所面向的記錄介質的距離不適當時，介質上的射束點沒有對準焦點，并且串擾比增加。因此，通過使用上述距離調節(jié)部件，可以修復焦點沒有對準的狀態(tài)，進而減少串擾。
允許具有上述距離調節(jié)部件的第一數(shù)據(jù)再現(xiàn)器具有“上述記錄介質具有用于測試數(shù)據(jù)的記錄/再現(xiàn)的測試區(qū)域，以及上述距離調節(jié)部件根據(jù)在測試區(qū)域中測試時檢測到的串擾來執(zhí)行上述調節(jié)”的構造，“在記錄/再現(xiàn)數(shù)據(jù)失敗并重試記錄/再現(xiàn)時，距離調節(jié)部件執(zhí)行上述調節(jié)”的構造，或者“距離調節(jié)部件根據(jù)再現(xiàn)數(shù)據(jù)時檢測到的串擾順序執(zhí)行上述調節(jié)”的構造。
上面示出的構造的優(yōu)點與使用循軌調節(jié)部件時的構造的優(yōu)點相同。
而且，本發(fā)明的第一數(shù)據(jù)再現(xiàn)器優(yōu)選地具有下述構造“上述光頭在記錄介質中記錄數(shù)據(jù)，并且數(shù)據(jù)再現(xiàn)器包括記錄功率調節(jié)部件，其根據(jù)串擾檢測部件檢測到的串擾來調節(jié)光頭的記錄功率”。
當發(fā)生串擾時，在記錄數(shù)據(jù)時可能發(fā)生串寫，其重寫相鄰軌道中的數(shù)據(jù)。因此，通過使用上述的記錄功率調節(jié)部件，可以通過將記錄功率調節(jié)到適當功率來防止串寫。
具有記錄功率調節(jié)部件的第一數(shù)據(jù)再現(xiàn)器優(yōu)選地具有“上述記錄介質具有用于測試數(shù)據(jù)的記錄/再現(xiàn)的測試區(qū)域，以及上述記錄功率調節(jié)部件根據(jù)在測試區(qū)域中測試時檢測到的串擾來執(zhí)行上述調節(jié)”的構造。通過根據(jù)測試區(qū)域中的串擾來預先適當?shù)卣{節(jié)記錄功率，可以防止在永久性記錄用戶數(shù)據(jù)時發(fā)生串寫。
本發(fā)明的第一數(shù)據(jù)再現(xiàn)器優(yōu)選地在第一模式比較部件和第二模式比較部件比較模式數(shù)據(jù)和再現(xiàn)信號時獲得互相關值以作為結果。
通過獲得互相關值，可以準確確定模式匹配或不匹配，并且作為結果，可以準確確定串擾存在或不存在。
而且，本發(fā)明的第一數(shù)據(jù)再現(xiàn)器優(yōu)選地在第一模式比較部件和第二模式比較部件比較模式數(shù)據(jù)和再現(xiàn)信號時轉換模式數(shù)據(jù)，使得數(shù)據(jù)電平的總和變?yōu)?，并且比較經轉換的模式數(shù)據(jù)和再現(xiàn)信號以獲得互相關值。
當模式數(shù)據(jù)被轉換使得模式數(shù)據(jù)電平的總和變?yōu)?，并且經轉換的模式數(shù)據(jù)被用于比較時，與不相關的信號比較時的相關值變?yōu)?，因而是否存在相關變得清楚。
而且，對于本發(fā)明的第一數(shù)據(jù)再現(xiàn)器，串擾檢測部件優(yōu)選地根據(jù)第一模式比較部件和第二模式比較部件所獲得的互相關值的最大值之間的相對比率，來檢測串擾。可以根據(jù)上述相對比率來準確檢測是否存在串擾以及串擾比。
此外，本發(fā)明的第一數(shù)據(jù)再現(xiàn)器的上述串擾檢測部件優(yōu)選地在第二模式比較部件所獲得的互相關值超過預定閾值時，確定存在串擾。
當所述預定閾值被用作確定參考時，實現(xiàn)了不受由串擾之外的原因產生的閾值影響的準確確定。在這種情況下，還允許串擾檢測部件利用設定的預定閾值來確定是否存在串擾。
實現(xiàn)上述目的的本發(fā)明的第二數(shù)據(jù)再現(xiàn)器是這樣的數(shù)據(jù)再現(xiàn)器，其從下述記錄介質中再現(xiàn)數(shù)據(jù)，所述記錄介質具有多條平行線性軌道，并且其中數(shù)據(jù)沿著軌道記錄，其中記錄介質具有沿著軌道的第一區(qū)域以及沿著軌道在第一區(qū)域之前的第二區(qū)域，其中第一區(qū)域記錄了用戶數(shù)據(jù)，第二區(qū)域被用于校正用戶數(shù)據(jù)的再現(xiàn)定時，并且其中記錄了其自相關值僅在一致點處顯示峰的模式數(shù)據(jù)，并且所述數(shù)據(jù)再現(xiàn)器包括光頭，所述光頭面向記錄介質，并且再現(xiàn)記錄在記錄介質中的數(shù)據(jù)以獲得再現(xiàn)信號；模式比較部件，所述模式比較部件比較在所述光頭所要再現(xiàn)和獲得的沿著軌道的第二區(qū)域中再現(xiàn)的再現(xiàn)信號和必須從第二區(qū)域中再現(xiàn)的模式數(shù)據(jù)；定時校正部件，所述定時校正部件根據(jù)模式比較部件的比較結果，校正再現(xiàn)定時；以及DC偏移校正部件，所述DC偏移校正部件根據(jù)模式比較部件的比較結果來檢測所述光頭獲得的再現(xiàn)信號的DC分量，并利用與該DC分量相對應的偏移校正值來校正再現(xiàn)信號的DC分量。
根據(jù)本發(fā)明的第二數(shù)據(jù)再現(xiàn)器，可以利用模式比較部件的比較結果來準確獲得和校正再現(xiàn)信號的DC分量偏離適于信號處理的原始電平的數(shù)值(偏移值)，進而改善信號質量。
允許本發(fā)明的第二數(shù)據(jù)再現(xiàn)器具有“上述DC偏移校正部件通過將偏移校正值反饋到光頭的輸出來校正再現(xiàn)信號的DC分量”的構造，或者“DC偏移校正部件利用偏移校正值校正下述再現(xiàn)信號的DC分量，所述再現(xiàn)信號的再現(xiàn)定時由定時校正部件進行校正”的構造。
當校正再現(xiàn)定時被校正了的再現(xiàn)信號的偏移校正值時，可以進行前饋數(shù)字校正，并且這適于改善信號處理速度。
而且，允許本發(fā)明的第二數(shù)據(jù)再現(xiàn)器具有“DC偏移校正部件通過從模式比較部件的比較結果獲得模式數(shù)據(jù)變?yōu)椤?”電平的定時以及計算在該定時處的再現(xiàn)信號值的總和，來獲得再現(xiàn)信號的DC分量”的構造，或者“上述DC偏移檢測部件通過從模式比較部件的比較結果獲得模式數(shù)據(jù)變?yōu)樽畲箅娖降亩〞r和模式數(shù)據(jù)變?yōu)樽钚‰娖降亩〞r，以及計算模式數(shù)據(jù)變?yōu)樽畲箅娖降亩〞r處的再現(xiàn)信號值的平均值和模式數(shù)據(jù)變?yōu)樽钚‰娖降亩〞r處的再現(xiàn)信號值的平均值之間的中間值，來獲得再現(xiàn)信號的DC分量”的構造。
而且，對于本發(fā)明的第二數(shù)據(jù)再現(xiàn)器，DC偏移校正部件優(yōu)選地接收參考電平的設置，并且根據(jù)參考電平和DC分量之間的差異來獲得偏移校正值。
根據(jù)該優(yōu)選實施例，當用來處理再現(xiàn)信號的處理系統(tǒng)所安排的DC分量電平被設置為參考電平時，獲得了適當?shù)钠菩Ｕ?，進而實現(xiàn)了利用適當校正對信號質量的改善。
實現(xiàn)上述目的的本發(fā)明的第三數(shù)據(jù)再現(xiàn)器是這樣的數(shù)據(jù)再現(xiàn)器，該數(shù)據(jù)再現(xiàn)器從具有多條平行線性軌道且沿著軌道記錄了數(shù)據(jù)的記錄介質再現(xiàn)數(shù)據(jù)，其中所述記錄介質具有沿著軌道的第一區(qū)域以及沿著軌道在第一區(qū)域之前的第二區(qū)域，其中第一區(qū)域記錄了用戶數(shù)據(jù)，第二區(qū)域被用于校正用戶數(shù)據(jù)的再現(xiàn)定時，并且其中記錄了其自相關值僅在一致點處顯示峰的模式數(shù)據(jù)，并且所述數(shù)據(jù)再現(xiàn)器包括光頭，所述光頭面向記錄介質，并且再現(xiàn)記錄在記錄介質中的數(shù)據(jù)以獲得再現(xiàn)信號；模式比較部件，所述模式比較部件比較在所述光頭再現(xiàn)沿著軌道的第二區(qū)域時獲得的再現(xiàn)信號和必須從第二區(qū)域中再現(xiàn)的模式數(shù)據(jù)；定時校正部件，所述定時校正部件根據(jù)模式比較部件的比較結果，校正再現(xiàn)定時；以及增益調節(jié)部件，所述增益調節(jié)部件根據(jù)模式比較部件的比較結果而檢測所述光頭獲得的再現(xiàn)信號的增益，并且調節(jié)所述增益。
根據(jù)本發(fā)明的第三數(shù)據(jù)再現(xiàn)器，可以利用模式比較部件的比較結果準確地獲得再現(xiàn)信號的增益，將該增益校正為適于信號處理器的原始增益，進而改善信號質量。
本發(fā)明的第三實施例優(yōu)選地具有“模式比較部件獲得互相關值作為比較模式數(shù)據(jù)和再現(xiàn)信號的結果，并且增益調節(jié)部件通過在模式比較部件所獲得的互相關值的最大值和預定目標最大值之間的比較來檢測再現(xiàn)信號的增益”的構造。
根據(jù)優(yōu)選的第三數(shù)據(jù)再現(xiàn)器，可以準確地獲得再現(xiàn)信號的增益，這是因為使用了互相關值的最大值。
而且，本發(fā)明的第三數(shù)據(jù)再現(xiàn)器優(yōu)選地具有“上述光頭獲得模擬再現(xiàn)信號，并且所述再現(xiàn)器包括轉換部件，用于將所述光頭獲得的模擬再現(xiàn)信號轉換為由數(shù)字值串構成的數(shù)字再現(xiàn)信號；以及數(shù)字濾波器，所述數(shù)字濾波器重復操作，以通過在移位來自數(shù)字再現(xiàn)信號的部分塊的同時將該數(shù)字再現(xiàn)信號的部分塊中的每個數(shù)字值乘以預定系數(shù)，來獲得總和，并且增益調節(jié)部件通過設置數(shù)字濾波器的系數(shù)來調節(jié)再現(xiàn)信號的增益”的構造。根據(jù)本實施例的第三數(shù)據(jù)再現(xiàn)器，可以通過設置數(shù)字濾波器的系數(shù)來方便自由地調節(jié)增益。
而且，在該優(yōu)選實施例中，優(yōu)選使用數(shù)字濾波器來利用定時校正部件校正再現(xiàn)定時。
數(shù)字濾波器是具有多功能性的電路，其通過適當?shù)卦O置系數(shù)能夠用作數(shù)字均衡器或信號相位轉換器，并且它還可以提供濾波器的多種功能。通過為數(shù)字濾波器提供增益調節(jié)功能和相位調節(jié)功能，可以減小電路規(guī)模。


圖1的例圖示出了為檢測串擾而被應用于記錄介質的格式示例，所述格式沒有區(qū)分來自彼此相鄰的軌道的串擾；圖2的例圖示出了為檢測串擾而被應用于記錄介質的格式示例，所述格式區(qū)分了來自彼此相鄰的軌道的串擾；圖3的例圖示出了從1T連續(xù)塊和4T連續(xù)塊再現(xiàn)的采樣數(shù)據(jù)值；圖4是串擾檢測的概念性示圖；圖5的例圖示出了實施例中的用于檢測串擾的格式概念；圖6的例圖示出了模式數(shù)據(jù)的具體示例；圖7的例圖示出了本發(fā)明的數(shù)據(jù)再現(xiàn)器的實施例；圖8的例圖示出了從光盤上記錄的精細時鐘標記(FCM)和精細時鐘標記信號(Tpp)產生外部時鐘信號的原理；圖9的例圖示出了頭部模式發(fā)生器的配置；
圖10是M序列發(fā)生器的概念性框圖；圖11是信道特性轉換器的概念性框圖；圖12是相差檢測器的框圖；圖13是同步檢測器的框圖；圖14是相差檢測器的框圖；圖15是相差調節(jié)部件的框圖；圖16是FIR濾波器的框圖；圖17是示出了頭部檢測門產生過程的時序圖；圖18的例圖再次示出了頭部模式發(fā)生器的配置；圖19是串擾值檢測器的框圖；圖20的例圖示出了第一串擾檢測示例；圖21的例圖示出了第二串擾檢測示例；圖22的例圖示出了第三串擾檢測示例；圖23是描述傾角調節(jié)的功能性示圖；圖24的例圖示出了第四串擾檢測示例；圖25是聚焦偏移調節(jié)的概念性示圖；圖26的例圖示出了內建在第二實施例中的配置部件，所述配置部件負責校正信號強度偏移的校正功能；圖27的例圖示出了沒有DC偏移的理想狀態(tài)；圖28的例圖示出了發(fā)生DC偏移的狀態(tài)；圖29的例圖示出了DC偏移檢測器中的偏移值檢測的原理；圖30是DC偏移檢測器的框圖；圖31的例圖示出了由求和放大器計算的總和；圖32的例圖示出了另一DC偏移檢測器中的偏移值檢測的原理；圖33是另一DC偏移檢測器的框圖；圖34的例圖示出了第三實施例中的配置部件，該配置部件負責DC偏移的校正；圖35的例圖示出了第四實施例中的配置部件，該配置部件負責增益缺陷的校正；
圖36是增益抽頭(tap)調整器的框圖；圖37的例圖示出了第四實施例的修改形式。
具體實施例方式
下面描述本發(fā)明的多個實施例。
圖5的例圖示出了本實施例中用于檢測串擾的格式概念。
在本實施例中，相鄰軌道之間不同的模式數(shù)據(jù)被記錄在軌道101、102和103中的每個軌道的頭部區(qū)域11中，并且頭部區(qū)域11還用作串擾檢測區(qū)域。而且，頭部區(qū)域11中記錄的模式數(shù)據(jù)是這樣的數(shù)據(jù)，該數(shù)據(jù)在模式被匹配用于對記錄在數(shù)據(jù)區(qū)域12中的用戶數(shù)據(jù)進行相位調節(jié)時，具有大的自相關，如下所述。對于本實施例，模式數(shù)據(jù)被用于檢測串擾。
對于本發(fā)明，可以對地址數(shù)據(jù)提供模式數(shù)據(jù)的功能。下面描述了獨立于地址而準備頭部的示例。
圖6的例圖示出了模式數(shù)據(jù)的具體示例。
圖6示出了五條軌道10_1、…、和10_5，并且作為上述模式數(shù)據(jù)的示例，16字節(jié)M序列(最大序列)被記錄在每條軌道的頭部區(qū)域11中。例如，由反饋方法[7，1]產生的M序列被記錄在具有軌道號“n”的軌道103中。而且，由三類反饋方法[7，1]，[7，3]和[7，3，2，1]的每種產生的M序列被記錄在每條軌道的頭部區(qū)域11中。例如，由反饋方法[7，3，2，1]產生的M序列被記錄在具有軌道號“n-1”的軌道10_2中，其中軌道10_2與具有軌道號“n”的軌道10_3的一側相鄰，并且由反饋方法[7，3]產生的M序列被記錄在具有軌道號“n+1”的軌道10_4中，其中軌道10_4與軌道10_3的另一側相鄰。這樣，在相鄰軌道之間，M序列是不同的，并且在與任意軌道的兩側相鄰的兩條軌道之間，M序列是不同的。圖7的例圖示出了本發(fā)明的數(shù)據(jù)再現(xiàn)器的實施例。
圖7所示的數(shù)據(jù)再現(xiàn)器100的再現(xiàn)系統(tǒng)由光學拾取器(opticalpickup)102、AGC(自動增益控制)104、模擬均衡器105、A/D轉換器106、內插相差校正系統(tǒng)150、頭部模式發(fā)生器151、數(shù)字波形均衡器107、用于將采樣值解調為二進制數(shù)據(jù)的解調器108、精細時鐘標記(FCM)檢測器112、PLL 113和地址標記檢測器114組成，其中光學拾取器102主要接收通過將光束施加到光盤101而從光盤101反射的光，并將反射光轉換為電信號，AGC 104通過接收從光學拾取器102輸出的信號來控制信號增益常數(shù)。
圖7所示的數(shù)據(jù)再現(xiàn)器100通過使用下面描述的外部時鐘系統(tǒng)，將從光盤101再現(xiàn)的MO信號(再現(xiàn)信號)轉換為用戶數(shù)據(jù)。在這種情況中，外部時鐘系統(tǒng)是這樣的系統(tǒng)，其在再現(xiàn)數(shù)據(jù)時從介質中嵌入的特定精細時鐘標記獲得時鐘。在這種情況中，從切向推挽(Tpp)信號產生外部時鐘，其中通過讓PLL 113與精細時鐘標記檢測器112所檢測的信號同步來從所述切向推挽信號重現(xiàn)精細時鐘標記。
圖8的例圖示出了由PLL 113從精細時鐘標記信號(Tpp)和記錄在光盤101中的精細時鐘標記(FCM)201產生外部時鐘的原理。通過參考圖7和圖8，下面將繼續(xù)進行說明。
圖8最高段示出的精細時鐘標記(FCM)201是由光學拾取器102使用光束再現(xiàn)的。圖8中間段示出的Tpp信號是在再現(xiàn)精細時鐘標記(FCM)201時獲得的。Tpp信號被精細時鐘標記檢測器112所檢測，變?yōu)槊}沖FCM檢測信號123，并被從精細時鐘標記檢測器112輸出。當FCM檢測信號123被PLL 113乘時，就產生了外部時鐘(采樣時鐘)124。
對于由光學拾取器102從光盤101再現(xiàn)的MO信號，信號振幅被AGC104控制，由模擬波形均衡器105進行波形均衡，隨后由A/D轉換器106進行采樣，所述A/D轉換器106使用如上所述產生的外部時鐘作為采樣時鐘。
在這種情況中，在A/D轉換器106所采樣的MO信號和輸入到A/D轉換器106的采樣時鐘之間存在相差，這是因為用于處理MO信號的處理系統(tǒng)在物理上不同于用于產生部件時鐘的發(fā)生系統(tǒng)。為了對再現(xiàn)信號最優(yōu)采樣，需要調節(jié)相差。因此，內插相差校正系統(tǒng)150被設置到圖7所示的數(shù)據(jù)再現(xiàn)器100中，在經過了AGC 104和模擬波形均衡器105之后，A/D轉換是利用不必與最優(yōu)采樣點同步的采樣時鐘執(zhí)行的，并且所獲得的采樣信號被提供給內插相差校正系統(tǒng)150，系統(tǒng)150執(zhí)行相差校正和數(shù)據(jù)頭部檢測調節(jié)，并且采樣信號被轉換為與在最優(yōu)采樣點處采樣的信號等同的信號，并被輸出。內插相差校正系統(tǒng)150進行的相差校正對應于數(shù)據(jù)再現(xiàn)定時的校正。而且，經相差校正的信號由數(shù)字波形均衡器107進行波形均衡，由解調器108解調，被發(fā)送到光盤控制部件109，并作為用戶數(shù)據(jù)130從光盤控制部件109輸出。
下面描述內插相差校正系統(tǒng)150的細節(jié)。
如圖7所示，內插相差校正系統(tǒng)150包括緩沖器152、相差檢測部件153和相差調節(jié)部件154，緩沖器152用來臨時存儲采樣數(shù)據(jù)，相差檢測部件153通過使用頭部模式發(fā)生器151所產生的頭部模式來檢測相差，相差調節(jié)部件154根據(jù)相差檢測部件153檢測出的相差來調節(jié)采樣數(shù)據(jù)的相差。
圖9的例圖示出了頭部模式發(fā)生器的配置。
頭部模式發(fā)生器由M序列發(fā)生器155和信道特性轉換器156構成，M序列發(fā)生器155產生與軌道信息相對應的M序列，信道特性轉換器156根據(jù)再現(xiàn)信道的1+D特性來轉換M序列，并將該M序列作為頭部模式輸出。
圖10是M序列發(fā)生器155的概念性框圖。
M序列發(fā)生器155具有開關組155a、n個存儲器155b以及邏輯元件155c，開關組155a根據(jù)軌道信息切換反饋方法，n個存儲器155b逐比特保存構成M序列的數(shù)據(jù)，邏輯元件155c將EXOR操作應用于由開關組155a從存儲器155b所保存的數(shù)據(jù)中選擇出的數(shù)據(jù)，并且將其返回。邏輯元件155c的操作結果被發(fā)送到n個存儲器155b中的第一存儲器，由每個存儲器155b所保存的每比特的數(shù)據(jù)被依次傳遞，并且從最后的第n個存儲器依次輸出M序列數(shù)據(jù)。
圖11是信道特性轉換器156的概念性框圖。
信道特性轉換器156由延遲器件156a、加法器156b、除法器156c和減法器156d構成。當“0”和“1”的二進制數(shù)據(jù)串被輸入到信道特性轉換器156中時，數(shù)據(jù)串被延遲器件156a延遲了一個數(shù)據(jù)值，經延遲的數(shù)據(jù)串和原始數(shù)據(jù)串被加法器156b相加，并且變?yōu)椤?”、“1”和“2”的三值數(shù)據(jù)串。之后，由除法器156c計算數(shù)據(jù)串中的最大值(在此情況中為“2”)的半值，利用減法器156d從三值數(shù)據(jù)串的每個數(shù)據(jù)中減去該半值，進而獲得了“-1”、“0”和“1”的三值數(shù)據(jù)串。對于由信道特性轉換器156進行轉換進而獲得的數(shù)據(jù)串，當原始二進制數(shù)據(jù)串是象M序列那樣其中“0”的數(shù)目與“1”的數(shù)目相等的數(shù)據(jù)串時，數(shù)據(jù)電平的總和變?yōu)椤?”。
這樣，由圖7和圖9所示的頭部模式發(fā)生器151產生了下述頭部模式，所述頭部模式是由M序列發(fā)生器155產生的，且其中數(shù)據(jù)電平的總和被信道特性轉換器156變?yōu)椤?”，并且該頭部模式被輸入到內插相差校正系統(tǒng)150的相差檢測部件153。
圖12是相差檢測部件153的框圖。
在這種情況中，相差檢測部件153由同步檢測器157、微分器158和相差檢測器159構成。同步檢測器157計算采樣數(shù)據(jù)和頭部模式之間的互相關值，該互相關值作為根據(jù)采樣數(shù)據(jù)隨時間的改變而改變的函數(shù)值，并且微分器158計算互相關值的微分值。然后，在頭部檢測門處于聲明“assert(聲明)”狀態(tài)時，相差檢測器159根據(jù)互相關值和微分值計算相差和頭部位置。
圖13是同步檢測器157的框圖。
同步檢測器157由移位寄存器157a、寄存器組157b、預定數(shù)目的乘法器157c和求和放大器157d構成，移位寄存器157a存儲要與頭部模式比較的采樣數(shù)據(jù)s(t)，并逐個時鐘對數(shù)據(jù)移位，寄存器組157b中存儲了參考頭部模式，求和放大器157d計算乘法器157c的輸出的總和。
在移位寄存器157a的每個部分中所存儲的采樣值和在寄存器組157b的每個寄存器中所存儲的頭部模式值被每個乘法器157c進行乘法運算，由求和放大器157d計算乘法器157c的輸出的總和，并且該總和作為互相關值r(t)被輸出。
由求和放大器157如此輸出的互相關值r(t)和當互相關值r(t)被上述微分器158進行微分時獲得的微分互相關值r′(t)被輸入到相差檢測器159。
圖14是相差檢測器159的框圖。
相差檢測器159主要由互相關值檢測器159a和最優(yōu)位置檢測計算單元159b構成。每個相差檢測器159在頭部檢測門處于“聲明”狀態(tài)時工作，并且頭部檢測門、互相關值r(t)和閾值被輸入到互相關閾值檢測器159a。當互相關值r(t)超過閾值時，互相關閾值檢測器159a發(fā)送互相關值r(t)到最優(yōu)相差檢測計算單元159b。
對于最優(yōu)相差檢測計算單元159b，在互相關值被更新之前或在最大值被更新時，當所發(fā)送的互相關值變得大于最大值時，頭部位置信息h被更新并被輸出。而且，計算單元159b獲得微分互相關值r′(t)的零交叉位置，并輸出相差信息p。
這樣，圖7和圖12所示的相差檢測部件153獲得并輸出頭部位置信息h和相差信息p。由上述同步檢測器157所獲得的互相關值的最大值也被輸出。相差信息p和圖7所示的緩沖器中存儲的采樣數(shù)據(jù)一同被提供給相差調節(jié)部件154。
圖15是相差調節(jié)部件154的框圖。
相差調節(jié)部件154由抽頭系數(shù)選擇器160和FIR濾波器161構成，相差信息p被輸入到抽頭系數(shù)選擇器160，而采樣數(shù)據(jù)被輸入到FIR濾波器161。抽頭系數(shù)選擇器160基于相差信息p選擇抽頭系數(shù)以獲得與在最優(yōu)采樣定時處所采樣的采樣數(shù)據(jù)相等的內插值。
圖16是FIR濾波器161的框圖。
FIR濾波器161由移位寄存器161a、寄存器組161b、預定數(shù)目的乘法器161c和求和放大器161d構成，移位寄存器161a存儲采樣數(shù)據(jù)s(t)并逐個時鐘對其移位，寄存器組161b中存儲了所選的抽頭系數(shù)，求和放大器161d計算乘法器161c的輸出的總和。
存儲在移位寄存器161a的每個部分中的采樣值和存儲在寄存器組161b的每個寄存器中的抽頭系數(shù)被每個乘法器161c進行乘法運算，并且由求和放大器161d計算乘法器161c的輸出的總和。該總和是內插數(shù)據(jù)e(t)，內插數(shù)據(jù)e(t)等于在適當采樣定時處所采樣的采樣數(shù)據(jù)，并且內插數(shù)據(jù)e(t)作為相位進行了調節(jié)的采樣數(shù)據(jù)而被輸出。
之后，下面將描述用來控制上述內插相差校正系統(tǒng)150的操作定時的頭部檢測門的產生過程。
圖17的時序圖示出了頭部檢測門的產生過程。當圖7所示的地址檢測器114檢測到地址區(qū)域中所包括的預定尋址標記時，產生地址脈沖信號162。讀取門163變?yōu)椤奥暶鳌睜顟B(tài)，從而基于地址脈沖信號162的上升時間點從緩沖區(qū)域開始MO信號的讀取，并且頭部檢測觸發(fā)信號164在緩沖區(qū)域中上升。然后，通過從頭部檢測觸發(fā)信號164的上升開始延遲一個頭部長度，頭部檢測門165變?yōu)椤奥暶鳌睜顟B(tài)，并且上述內插相差校正系統(tǒng)150的操作被執(zhí)行。這樣，從數(shù)據(jù)的頭部開始，其中數(shù)據(jù)區(qū)域中的用戶數(shù)據(jù)被采樣的采樣數(shù)據(jù)(再現(xiàn)信號)被校正為最優(yōu)定時處所采樣的數(shù)據(jù)(信號)，并被從內插相差校正系統(tǒng)150輸出。
如上所述，校正再現(xiàn)信號的再現(xiàn)定時以及改善信號質量的功能被內建在圖7所示的數(shù)據(jù)再現(xiàn)器100中。而且，準確檢測串擾以及改善信號質量的功能也被內建在數(shù)據(jù)再現(xiàn)器100中。該功能在下文中描述。
為了檢測串擾，前軌道同步檢測器166、后軌道同步檢測器167和串擾值檢測器168被內建在數(shù)據(jù)再現(xiàn)器100中。前軌道同步檢測器166和后軌道同步檢測器167分別具有與上述相差檢測器153中所包括的同步檢測器157完全相同的結構(參見圖12)。前軌道同步檢測器166計算與所再現(xiàn)的軌道之前的那個軌道相對應的頭部模式和采樣數(shù)據(jù)之間的互相關值，而后軌道同步檢測器167計算與所再現(xiàn)的軌道之后的那個軌道相對應的頭部模式和采樣數(shù)據(jù)之間的互相關值。而且，串擾值檢測器168根據(jù)從同步檢測器157(參見圖12)、前軌道同步檢測器166和后軌道同步檢測器167輸出的互相關值的每個最大值，獲得串擾比和串擾方向(在成為發(fā)生源的軌道之前或之后)。
上述頭部模式發(fā)生器151不僅產生用于相差檢測器153中所包括的同步檢測器157(參見圖12)的頭部模式，還產生用于前軌道同步檢測器166和后軌道同步檢測器167的頭部模式。
圖18的例圖再次示出了頭部模式發(fā)生器151的配置。
如參考圖9所描述的那樣，頭部模式發(fā)生器151具有M序列串發(fā)生器155和信道特性轉換器156。更為具體地，如圖18所示，發(fā)生器151具有三個M序列發(fā)生器155_1、155_2和155_3，以及三個信道特性轉換器156_1、156_2和156_3。而且，不僅產生了所要再現(xiàn)的具有軌道號“n”的軌道的頭部模式，還產生了在具有軌道號“n”的軌道的頭部模式之前和之后的軌道號為“n-1”和“n+1”的頭部模式。
如此產生的三類頭部模式被分別輸入到上述的同步檢測器157(參見圖12)、前軌道同步檢測器166(參見圖7)和后軌道同步檢測器167(參見圖7)，并且計算互相關值。而且，串擾被圖7所示的串擾值檢測器168檢測。
圖19是串擾值檢測器168的框圖。
串擾值檢測器168具有兩個閾值確定器169和170、兩個除法器171和172以及一個比較控制器173。閾值被固化設置到兩個閾值確定器169和170中，并且閾值確定器169和170中的每個將相鄰軌道的頭部模式的最大互相關值與該閾值比較。當最大互相關值超過閾值時，確定存在串擾，最大互相關值被發(fā)送到除法器171和172，并被所再現(xiàn)軌道的頭部模式的最大互相關值除。從而，從與所再現(xiàn)的軌道相鄰的軌道獲得了串擾。而且，這些串擾由比較控制器173來進行比較，進而獲得每個軌道中的串擾等級。
圖20至圖22的例圖示出了串擾的檢測示例。
射束點20的位置在每個附圖的最高段(A)中示出，并且在第二段(B)、第三段(C)和最低段(D)處分別示出了由“前”側軌道10_1的頭部模式得到的互相關值的圖形、由所再現(xiàn)的軌道102的頭部模式得到的互相關值的圖形、以及由“后”側軌道10_3的頭部模式得到的互相關值的圖形。
如圖20的最高段(A)所示，當射束點20的位置從所再現(xiàn)的軌道10_2的中心偏離到“前”軌道10_1側時，可以清楚地看到，在第三段(C)處所示的圖中出現(xiàn)大峰，而在第二段(B)處所示的圖中出現(xiàn)些許小峰，因而出現(xiàn)了由“前”側軌道10_1引起的串擾。
而且，如圖21的最高段(A)所示，當射束點20的位置存在于所再現(xiàn)的軌道10_2的中心處時，發(fā)現(xiàn)峰僅出現(xiàn)在第三段(C)處所示的圖中，在第二段(B)和最低段(D)處所示的圖中沒有出現(xiàn)峰，因而沒有發(fā)生串擾。
此外，如圖22的最高段(A)所示，當射束點20的位置從所再現(xiàn)的軌道10_2的中心偏離到“后”軌道10_3側時，可以清楚地看到，在第三段(C)處所示的圖中出現(xiàn)大峰，而在最低段(D)處所示的圖中出現(xiàn)些許小峰，因而出現(xiàn)了由“后”側軌道10_3引起的串擾。
因此，可以根據(jù)使用互相關值的串擾檢測來準確檢測串擾。
對于圖7所示的再現(xiàn)器100，當檢測到串擾時，為減少串擾，光學拾取器102的伺服驅動器103被光盤控制部件109控制，并且執(zhí)行下述操作將光學拾取器102的再現(xiàn)位置調節(jié)到所再現(xiàn)的軌道(偏離軌道調節(jié))；將光學拾取器102的角度調節(jié)為面向光盤101(傾角調節(jié))；寫功率調節(jié)；讀功率調節(jié)；以及調節(jié)光學拾取器102和光盤101之間的距離(聚焦偏移調節(jié))。
在本實施例中，這些調節(jié)是根據(jù)所檢測的串擾而執(zhí)行的，如下文所述的那樣。首先根據(jù)在向光盤101記錄或從光盤101再現(xiàn)數(shù)據(jù)之前在測試區(qū)域中執(zhí)行的記錄/再現(xiàn)測試時檢測到的串擾，執(zhí)行粗調節(jié)。其次，根據(jù)實際再現(xiàn)數(shù)據(jù)時檢測到的串擾順序執(zhí)行細調節(jié)。再次，根據(jù)在記錄/再現(xiàn)數(shù)據(jù)中發(fā)生失敗時檢測到的串擾，執(zhí)行個別調節(jié)。然而，為了避免發(fā)生串寫，僅第一調節(jié)被應用于寫功率調節(jié)。
在上述多種調節(jié)中，偏離軌道調節(jié)校正圖20和圖22中所示的射束點20的移位，并且射束點向與串擾方向相反的方向移動。
然后，描述傾角調節(jié)。
圖23是描述傾角調節(jié)的概念性示圖。
如圖23所示，當光盤101相對于光學拾取器的鏡頭102a傾斜時，射束點發(fā)生變形。因此，僅僅通過上述的偏離軌道調節(jié)不足以減少串擾。因此，用來調節(jié)鏡頭102a的傾角的致動器被內建在本實施例中，并且致動器將鏡頭102a向串擾減小的方向傾斜。
然后，在上述多種調節(jié)中，下文描述寫功率調節(jié)、讀功率調節(jié)和聚焦偏移調節(jié)。
當寫功率或讀功率太大或焦點位置移位時，射束點尺寸變得大于優(yōu)選尺寸，進而發(fā)生串擾。
圖24的例圖示出了第四串擾檢測示例。
在圖24的情形中，射束點20的位置在最高段(A)中示出，并且由軌道10_1、10_2和10_3的頭部模式引起的相關功能的圖在其它段(B)、(C)和(D)處示出。
如圖24所示，當射束點20的尺寸增加時，射束點20停留在與所再現(xiàn)的軌道10_2相鄰的兩個軌道10_1和10_3上。結果，如第二段(B)和最低段(D)所示，可以清楚地看到，在每個相關值中出現(xiàn)些許小峰，并且從在兩側相鄰的軌道10_1和10_3發(fā)生串擾。
因此，當在兩個方向上都出現(xiàn)串擾時，由功率調節(jié)(降低)或聚焦偏移調節(jié)來減少串擾。
圖25是聚焦偏移調節(jié)的概念性示圖。
如圖25的(A)部分所示，當鏡頭102離光盤101的距離不足(在本情形中是太近)時，射束點20的尺寸由于沒有對準焦點而增加(如(B)部分所示)，并且檢測到上面的串擾。調節(jié)鏡頭102a的位置，使得串擾減少，并且鏡頭102a被移動到適當距離(如(C)部分所示)。在這種情況下，射束點20尺寸變得足夠小，如(D)所示。
這樣，就完成了對本發(fā)明第一實施例的說明，然后下文描述本發(fā)明的另一實施例。通過檢測并減小串擾來改善再現(xiàn)信號質量的功能被內建在上述的第一實施例中。在下文描述的每個實施例中，構建了下述功能，該功能校正再現(xiàn)信號的信號強度的偏移和再現(xiàn)信號的增益缺陷，進而改善再現(xiàn)信號的質量。由于下述的每個實施例除了上述方面之外與上面第一實施例相同，因此下文僅描述校正再現(xiàn)信號的增益缺陷或信號強度的偏移的功能。
圖26的例圖示出了第二實施例中構建的用來負責信號強度偏移的校正功能的配置部件。
在圖26所示的配置部件中，具有與圖7中相同標號的部件是與參考圖7所描述的配置部件相同的部件。
為了校正信號強度的偏移，配置部件中構建了DC偏移檢測器174、電壓轉換器175和偏移調節(jié)放大器176。
在這種情況中，首先描述要校正的DC偏移。
圖27和圖28是描述DC偏移的例圖，其中圖27示出了沒有DC偏移的理想狀態(tài)，而圖28示出了發(fā)生DC偏移的狀態(tài)。
這些圖形中每個圖形的橫軸表示再現(xiàn)信號的信號強度，縱軸表示信號強度的發(fā)生頻率。
在圖27的圖形中，再現(xiàn)信號是三元(ternary)信號，并且產生了每個值在中心的頻率峰177、178和179。A/D轉換器106具有0至128的量程，并且理想狀態(tài)下再現(xiàn)信號的三個值被轉換為“32”、“64”和“96”。與圖27所示的理想狀態(tài)類似，圖28中也出現(xiàn)了三個峰180、181和182。然而，這些峰的位置從理想位置移位了。這些移位是DC偏移。這些DC偏移影響圖7所示的解調器108中的解調，并且出現(xiàn)信號處理方面的問題，諸如正常的解調變得困難。
對于圖26所示的DC偏移檢測器174，DC偏移值是根據(jù)用于再現(xiàn)頭部模式的采樣數(shù)據(jù)和由相差檢測器153所獲得的相差信息而計算出來的，DC偏移值被電壓轉換器175轉換為電壓值，并被偏移調節(jié)放大器176反饋到再現(xiàn)信號(MO信號)，從而調節(jié)了偏移。
圖29的例圖示出了DC偏移檢測器174中的偏移值檢測的原理。
圖29中示出了采樣數(shù)據(jù)183。在DC偏移檢測器174中，根據(jù)相差信息，僅抽取出與三個值“1”、“0”和“-1”中的中間值“0”相對應的部分184，并且計算出信號電平的總和。這對應于獲得圖28所示的中心峰181的中心位置，并且通過比較該中心位置和示出了理想中心位置的參考電平(本例中的“64”)，獲得了偏移值。
圖30是DC偏移檢測器174的框圖。
DC偏移檢測器174由移位寄存器174a、開關組174b、寄存器組174c、求和放大器174d、數(shù)據(jù)鎖存電路174e以及偏移值計算器174f構成，移位寄存器174a存儲采樣數(shù)據(jù)并逐個時鐘對數(shù)據(jù)移位，開關組174b抽取與采樣數(shù)據(jù)的中間值“0”相對應的部分，寄存器組174c中存儲了頭部模式，求和放大器174d計算由開關組174b的開關所選擇的數(shù)據(jù)的總和，數(shù)據(jù)鎖存電路174e將從求和放大器174d輸出的數(shù)據(jù)和根據(jù)相差信息的最優(yōu)頭部位置信息鎖存在一起，偏移值計算器174f從鎖存的數(shù)據(jù)計算偏移值。
從移位寄存器174a的每個部分中所存儲的采樣值僅抽取出與存儲在寄存器組174c的每個寄存器中的頭部模式的“0”值相對應的采樣值，并且該采樣值被發(fā)送到求和放大器174d，并且總和由求和放大器174d來計算。
圖31的例圖示出了由求和放大器174d計算出的總和。
圖31中的橫軸表示采樣定時，并且在圖31的較低段示出了總和的圖形。而且，在較高段示出了由圖12和圖13所示的同步檢測器獲得的互相關值。圖30所示的數(shù)據(jù)鎖存電路154e鎖存(較高段的圖中的)峰位置p處的(較低段的圖中的)總和。
通過將鎖存的總和除以開關組174b所選的數(shù)據(jù)值的數(shù)目以及比較除法結果和固化設置的參考電平，偏移值計算器174f計算DC偏移值。
在第二實施例中，如此計算的DC偏移值被反饋和校正，如圖26所示。因此，在發(fā)送到解調器的數(shù)據(jù)中不存在DC偏移，并且執(zhí)行了準確的解調。
可以存在其它構造，其中用另一個DC偏移檢測器來代替前述的DC偏移檢測器。
圖32的例圖示出了另一DC偏移檢測器中的偏移值檢測的原理。
圖32還示出了與圖29的情形類似的采樣數(shù)據(jù)183。
上述第二實施例的DC偏移檢測器174從采樣數(shù)據(jù)183中抽取與三個值“1”、“0”和“-1”中的中間值“0”相對應的部分，并且檢測偏移值。然而，下面描述的另一DC偏移檢測器通過抽取與三個值“1”、“0”和“-1”中的最大值“1”相對應的部分185和與三個值“1”、“0”和“-1”中的最小值“-1”相對應的部分186并計算它們的中間值，來檢測偏移值。這意味著獲得了圖28所示的左峰180和右峰182的中心位置，并且通過比較這些位置的中間值和示出了理想中間值的參考電平(本例中的“64”)，獲得了偏移值。
圖33是另一DC偏移檢測器的框圖。
DC偏移檢測器187由最大值與最小值求和放大器188、最小值平均計算單元189、最大值平均計算單元190、減法器191、除法器192、減法器193和比較器194構成，最大值與最小值求和放大器188計算與圖32所示的最大值“1”相對應的部分185的總和，并計算與最小值“-1”相對應的部分186的總和；最小值平均計算單元189通過將最大值與最小值求和放大器188所計算的“最小值”的總和除以“最小值”的總數(shù)，獲得“最小值”的平均值；最大值平均計算單元190類似地獲得“最大值”的平均值；減法器191從最大值的平均值減去最小值的平均值；除法器192將減法器191的結果除以值“2”，減法器193從最大值的平均值減去減法器192的結果，并且獲得“最小值”的平均值和“最大值”的平均值之間的中間值，比較器194比較該中間值和從固件提供的參考電平，進而獲得偏移值。
盡管省略了對最大值與最小值求和放大器188的詳細說明，但是構成放大器188的電路組類似于由下述元件構成的電路組移位寄存器174a、開關組174b、寄存器組174c、求和放大器174d和數(shù)據(jù)鎖存電路174e，其中開關組174b的選擇對象是不同的。
通過使用DC偏移檢測器187，也可以獲得DC偏移值。
然而，對于圖26所示的構造，DC偏移檢測器174所檢測出的DC偏移值被反饋給A/D轉換器106之前的模擬信號。當包括該反饋配置時，信號處理所需的時間增加。因此，根據(jù)數(shù)字處理通過前饋來校正DC偏移是優(yōu)選的。下文描述了第三實施例，其如上所述根據(jù)數(shù)字處理通過前饋來校正DC偏移。
圖34的例圖示出了第三實施例中的用來負責校正DC偏移的配置部件。
組成部件中具有與其它附圖相同標號的組件是與參考其它附圖描述的組成部件相同的組件。
第三實施例除了具有上述DC偏移檢測器174之外，還具有偏移系數(shù)調節(jié)器195和加法器196，以便校正信號強度的偏移。對于第三實施例，由DC偏移檢測器174獲得的DC偏移值被偏移系數(shù)調節(jié)器195轉換為數(shù)字數(shù)據(jù)形式的系數(shù)值，并且該系數(shù)值被加法器196加到下述數(shù)字數(shù)據(jù)上，所述數(shù)字數(shù)據(jù)的相位已被內插相差校正系統(tǒng)150校正。從而，根據(jù)數(shù)字處理通過前饋校正了DC偏移，進而改善了處理速度。
然后，描述了第四實施例，其中構建了校正再現(xiàn)信號的增益缺陷的功能。
圖35的例圖示出了第四實施例中用來負責校正增益缺陷的配置部件。
第四實施例具有增益抽頭調節(jié)器197來校正增益缺陷。增益抽頭調節(jié)器197通過比較由內插相差校正系統(tǒng)150的相差檢測部件153獲得的互相關值的最大值和固件設置的目標互相關值，來檢測再現(xiàn)信號的增益。而且，為了校正增益使得互相關值的最大值與目標互相關值一致，調節(jié)器197調節(jié)數(shù)字波形均衡器107的抽頭系數(shù)。
圖36是增益抽頭調節(jié)器197的框圖。
增益抽頭調節(jié)器197由增益計算器197a和預定數(shù)目的乘法器197b構成。增益計算器197a比較互相關值的最大值和目標相關值，并計算增益校正值，以使得互相關值的最大值與目標相關值一致。而且，增益校正值被乘以數(shù)字波形均衡器107的缺省抽頭系數(shù)c0、c1和c2，進而獲得新的抽頭系數(shù)c0`、c1`和c2`。當這些新的抽頭系數(shù)c0`、c1`和c2`被數(shù)字波形均衡器107使用時，再現(xiàn)信號的增益被校正，進而確保了解調器的準確解調。
最后，描述了第四實施例的修改形式。對于圖35所示出的構造，數(shù)字波形均衡器107的抽頭系數(shù)被調節(jié)。因為數(shù)字波形均衡器107的結構與圖16所示的FIR濾波器161的結構相同，所以可以由FIR濾波器161來調節(jié)增益。
圖37的例圖示出了第四實施例的修改形式。
對于該修改形式，與圖36所示的增益抽頭調節(jié)器197相同的抽頭系數(shù)調節(jié)器198被設置在圖15所示的抽頭系數(shù)選擇器160和FIR濾波器161之間，并且抽頭系數(shù)調節(jié)器198校正由抽頭系數(shù)選擇器160所選擇的FIR濾波器161的抽頭系數(shù)，從而使互相關值的最大值與目標相關值一致，并發(fā)送校正后的抽頭系數(shù)到FIR濾波器160。在該配置中，可以將再現(xiàn)信號的增益校正為理想增益，進而改善信號質量。
權利要求
1.一種數(shù)據(jù)再現(xiàn)器，所述數(shù)據(jù)再現(xiàn)器從具有多條平行線性軌道且沿著軌道記錄了數(shù)據(jù)的記錄介質中再現(xiàn)數(shù)據(jù)，其中所述記錄介質具有沿著軌道的第一區(qū)域以及沿著軌道在第一區(qū)域之前的第二區(qū)域，第一區(qū)域記錄用戶數(shù)據(jù)，第二區(qū)域記錄用于校正用戶數(shù)據(jù)的再現(xiàn)定時的模式數(shù)據(jù)，并且在彼此相鄰的軌道之間，彼此相鄰的模式數(shù)據(jù)相互不同，并且所述數(shù)據(jù)再現(xiàn)器包括光頭，所述光頭面向所述記錄介質，再現(xiàn)所述記錄介質中記錄的數(shù)據(jù)，并獲得再現(xiàn)信號；第一模式比較部件，所述第一模式比較部件比較當所述光頭再現(xiàn)沿著軌道的第二區(qū)域時所獲得的再現(xiàn)信號和必須從第二區(qū)域再現(xiàn)的模式數(shù)據(jù)；定時校正部件，所述定時校正部件根據(jù)所述第一模式比較部件的比較結果來校正再現(xiàn)定時；第二模式比較部件，所述第二模式比較部件比較當所述光頭再現(xiàn)沿著軌道的第二區(qū)域時所獲得的再現(xiàn)信號和必須從沿著與所再現(xiàn)的軌道相鄰的軌道的第二區(qū)域再現(xiàn)的模式數(shù)據(jù)；以及串擾檢測部件，所述串擾檢測部件根據(jù)所述第一模式比較部件和所述第二模式比較部件的比較結果來檢測串擾。
2.如權利要求1所述的數(shù)據(jù)再現(xiàn)器，其中所述模式數(shù)據(jù)是這樣的模式數(shù)據(jù)，該模式數(shù)據(jù)的自相關值僅在一致點處顯示峰，并且與其它模式的互相關值小于所述自相關值。
3.如權利要求1所述的數(shù)據(jù)再現(xiàn)器，其中所述模式數(shù)據(jù)是最大長度移位寄存器序列(M序列)。
4.如權利要求1所述的數(shù)據(jù)再現(xiàn)器，還包括循軌調節(jié)部件，所述循軌調節(jié)部件根據(jù)所述串擾檢測部件檢測到的串擾來調節(jié)所述光頭到所再現(xiàn)軌道的再現(xiàn)位置。
5.如權利要求4所述的數(shù)據(jù)再現(xiàn)器，其中所述記錄介質具有用于測試數(shù)據(jù)的記錄/再現(xiàn)的測試區(qū)域，并且所述循軌調節(jié)部件根據(jù)在所述測試區(qū)域中測試時檢測到的串擾來執(zhí)行所述調節(jié)。
6.如權利要求4所述的數(shù)據(jù)再現(xiàn)器，其中所述循軌調節(jié)部件在記錄/再現(xiàn)數(shù)據(jù)失敗并重試記錄/再現(xiàn)時，執(zhí)行所述調節(jié)。
7.如權利要求4所述的數(shù)據(jù)再現(xiàn)器，其中所述循軌調節(jié)部件根據(jù)再現(xiàn)數(shù)據(jù)時檢測到的串擾來順序執(zhí)行所述調節(jié)。
8.如權利要求1所述的數(shù)據(jù)再現(xiàn)器，還包括角度調節(jié)部件，所述角度調節(jié)部件根據(jù)所述串擾檢測部件檢測到的串擾，調節(jié)所述光頭的角度以使所述光頭面向所述記錄介質。
9.如權利要求8所述的數(shù)據(jù)再現(xiàn)器，其中所述記錄介質具有用于測試數(shù)據(jù)的記錄/再現(xiàn)的測試區(qū)域，并且所述角度調節(jié)部件根據(jù)在所述測試區(qū)域中測試時檢測到的串擾來執(zhí)行所述調節(jié)。
10.如權利要求8所述的數(shù)據(jù)再現(xiàn)器，其中所述角度調節(jié)部件在記錄/再現(xiàn)數(shù)據(jù)失敗并重試記錄/再現(xiàn)時，執(zhí)行所述調節(jié)。
11.如權利要求8所述的數(shù)據(jù)再現(xiàn)器，其中所述角度調節(jié)部件根據(jù)再現(xiàn)數(shù)據(jù)時檢測到的串擾來順序執(zhí)行所述調節(jié)。
12.如權利要求1所述的數(shù)據(jù)再現(xiàn)器，還包括再現(xiàn)功率調節(jié)部件，所述再現(xiàn)功率調節(jié)部件根據(jù)所述串擾檢測部件檢測到的串擾來調節(jié)所述光頭的再現(xiàn)功率。
13.如權利要求12所述的數(shù)據(jù)再現(xiàn)器，其中所述記錄介質具有用于測試數(shù)據(jù)的記錄/再現(xiàn)的測試區(qū)域，并且所述再現(xiàn)功率調節(jié)部件根據(jù)在所述測試區(qū)域中測試時檢測到的串擾來執(zhí)行所述調節(jié)。
14.如權利要求12所述的數(shù)據(jù)再現(xiàn)器，其中所述再現(xiàn)功率調節(jié)部件在記錄/再現(xiàn)數(shù)據(jù)失敗并重試記錄/再現(xiàn)時，執(zhí)行所述調節(jié)。
15.如權利要求12所述的數(shù)據(jù)再現(xiàn)器，其中所述再現(xiàn)功率調節(jié)部件根據(jù)再現(xiàn)數(shù)據(jù)時檢測到的串擾來順序執(zhí)行所述調節(jié)。
16.如權利要求1所述的數(shù)據(jù)再現(xiàn)器，還包括距離調節(jié)部件，所述距離調節(jié)部件調節(jié)所述光頭到所面向的記錄介質的距離。
17.如權利要求16所述的數(shù)據(jù)再現(xiàn)器，其中所述記錄介質具有用于測試數(shù)據(jù)的記錄/再現(xiàn)的測試區(qū)域，并且所述距離調節(jié)部件根據(jù)在所述測試區(qū)域中測試時檢測到的串擾來執(zhí)行所述調節(jié)。
18.如權利要求16所述的數(shù)據(jù)再現(xiàn)器，其中所述距離調節(jié)部件在記錄/再現(xiàn)數(shù)據(jù)失敗并重試記錄/再現(xiàn)時，執(zhí)行所述調節(jié)。
19.如權利要求16所述的數(shù)據(jù)再現(xiàn)器，其中所述距離調節(jié)部件根據(jù)再現(xiàn)數(shù)據(jù)時檢測到的串擾來順序執(zhí)行所述調節(jié)。
20.如權利要求1所述的數(shù)據(jù)再現(xiàn)器，其中所述光頭在所述記錄介質中記錄數(shù)據(jù)，并且所述數(shù)據(jù)再現(xiàn)器還包括記錄功率調節(jié)部件，所述記錄功率調節(jié)部件根據(jù)所述串擾檢測部件檢測到的串擾來調節(jié)所述光頭的記錄功率。
21.如權利要求20所述的數(shù)據(jù)再現(xiàn)器，其中所述記錄介質具有用于測試數(shù)據(jù)的記錄/再現(xiàn)的測試區(qū)域，并且所述記錄功率調節(jié)部件根據(jù)在所述測試區(qū)域中測試時檢測到的串擾來執(zhí)行所述調節(jié)。
22.如權利要求1所述的數(shù)據(jù)再現(xiàn)器，其中所述第一模式比較部件和所述第二模式比較部件分別獲得互相關值作為比較模式數(shù)據(jù)和再現(xiàn)信號的結果。
23.如權利要求1所述的數(shù)據(jù)再現(xiàn)器，其中所述第一模式比較部件和所述第二模式比較部件在比較模式數(shù)據(jù)和再現(xiàn)信號時分別轉換模式數(shù)據(jù)，使得數(shù)據(jù)電平的總和變?yōu)?，并且比較經轉換的模式數(shù)據(jù)和再現(xiàn)信號以獲得互相關值。
24.如權利要求23所述的數(shù)據(jù)再現(xiàn)器，其中所述串擾檢測部件根據(jù)所述第一模式比較部件和所述第二模式比較部件所獲得的互相關值的最大值之間的相對比率，來檢測串擾。
25.如權利要求23所述的數(shù)據(jù)再現(xiàn)器，其中所述串擾檢測部件在所述第二模式比較部件所獲得的互相關值超過預定閾值時，確定存在串擾。
26.如權利要求25所述的數(shù)據(jù)再現(xiàn)器，其中所述預定閾值被設置到所述串擾檢測部件，并且所述串擾檢測部件利用所設置的閾值來確定是否存在串擾。
27.一種數(shù)據(jù)再現(xiàn)器，所述數(shù)據(jù)再現(xiàn)器從具有多條平行線性軌道且沿著軌道記錄了數(shù)據(jù)的記錄介質中再現(xiàn)數(shù)據(jù)，其中所述記錄介質具有沿著軌道的第一區(qū)域以及沿著軌道在第一區(qū)域之前的第二區(qū)域，第一區(qū)域記錄了用戶數(shù)據(jù)，第二區(qū)域被用于校正用戶數(shù)據(jù)的再現(xiàn)定時，并且記錄了其自相關值僅在一致點處顯示峰的模式數(shù)據(jù)，并且所述數(shù)據(jù)再現(xiàn)器包括光頭，所述光頭面向所述記錄介質，并且再現(xiàn)記錄在所述記錄介質中的數(shù)據(jù)以獲得再現(xiàn)信號；模式比較部件，所述模式比較部件比較在所述光頭所要再現(xiàn)和獲得的沿著軌道的第二區(qū)域中再現(xiàn)的再現(xiàn)信號和必須從第二區(qū)域中再現(xiàn)的模式數(shù)據(jù)；定時校正部件，所述定時校正部件根據(jù)所述模式比較部件的比較結果，校正再現(xiàn)定時；以及DC偏移校正部件，所述DC偏移校正部件根據(jù)所述模式比較部件的比較結果來檢測所述光頭獲得的再現(xiàn)信號的DC分量，并利用與所述DC分量相對應的偏移校正值來校正所述再現(xiàn)信號的DC分量。
28.如權利要求27所述的數(shù)據(jù)再現(xiàn)器，其中所述DC偏移校正部件通過將所述偏移校正值反饋到所述光頭的輸出來校正所述再現(xiàn)信號的DC分量。
29.如權利要求27所述的數(shù)據(jù)再現(xiàn)器，其中所述DC偏移校正部件利用所述偏移校正值，校正其再現(xiàn)定時被所述定時校正部件校正了的再現(xiàn)信號的DC分量。
30.如權利要求27所述的數(shù)據(jù)再現(xiàn)器，其中所述DC偏移校正部件從所述模式比較部件的比較結果獲得模式數(shù)據(jù)變?yōu)?電平的定時并計算在所述定時處的再現(xiàn)信號值的總和，以獲得再現(xiàn)信號的DC分量。
31.如權利要求27所述的數(shù)據(jù)再現(xiàn)器，其中所述DC偏移檢測部件通過從所述模式比較部件的比較結果獲得模式數(shù)據(jù)變?yōu)樽畲箅娖降亩〞r和模式數(shù)據(jù)變?yōu)樽钚‰娖降亩〞r，并計算模式數(shù)據(jù)變?yōu)樽畲箅娖降亩〞r處的再現(xiàn)信號的平均值和模式數(shù)據(jù)變?yōu)樽钚‰娖降亩〞r處的再現(xiàn)信號的平均值之間的中間值，來獲得再現(xiàn)信號的DC分量。
32.如權利要求27所述的數(shù)據(jù)再現(xiàn)器，其中所述DC偏移校正部件接收參考電平的設置，并且根據(jù)所述參考電平和DC分量之間的差異來獲得偏移校正值。
33.一種數(shù)據(jù)再現(xiàn)器，所述數(shù)據(jù)再現(xiàn)器從具有多條平行線性軌道且沿著軌道記錄了數(shù)據(jù)的記錄介質中再現(xiàn)數(shù)據(jù)，其中所述記錄介質具有沿著軌道的第一區(qū)域以及沿著軌道在第一區(qū)域之前的第二區(qū)域，第一區(qū)域記錄了用戶數(shù)據(jù)，第二區(qū)域被用于校正用戶數(shù)據(jù)的再現(xiàn)定時，并且具有其自相關值僅在一致點處顯示峰的模式數(shù)據(jù)，并且所述數(shù)據(jù)再現(xiàn)器包括光頭，所述光頭面向所述記錄介質，并且再現(xiàn)記錄在所述記錄介質中的數(shù)據(jù)以獲得再現(xiàn)信號；模式比較部件，所述模式比較部件比較在所述光頭再現(xiàn)沿著軌道的第二區(qū)域時獲得的再現(xiàn)信號和必須從第二區(qū)域中再現(xiàn)的模式數(shù)據(jù)；定時校正部件，所述定時校正部件根據(jù)所述模式比較部件的比較結果，校正再現(xiàn)定時；以及增益調節(jié)部件，所述增益調節(jié)部件根據(jù)所述模式比較部件的比較結果來檢測所述光頭獲得的再現(xiàn)信號的增益，并且調節(jié)所述增益。
34.如權利要求33所述的數(shù)據(jù)再現(xiàn)器，其中所述模式比較部件獲得互相關值作為比較模式數(shù)據(jù)和再現(xiàn)信號的結果，并且所述增益調節(jié)部件通過比較所述模式比較部件所獲得的互相關值的最大值和預定目標最大值來檢測再現(xiàn)信號的增益。
35.如權利要求33所述的數(shù)據(jù)再現(xiàn)器，其中所述光頭獲得模擬再現(xiàn)信號，所述數(shù)字再現(xiàn)器還包括轉換部件，所述轉換部件將所述光頭獲得的模擬再現(xiàn)信號轉換為由數(shù)字值串構成的數(shù)字再現(xiàn)信號；以及數(shù)字濾波器，所述數(shù)字濾波器重復操作，以通過在移位來自所述數(shù)字再現(xiàn)信號的部分塊的同時將所述數(shù)字再現(xiàn)信號的部分塊中的每個數(shù)字值乘以預定系數(shù)，來獲得總和，并且所述增益調節(jié)部件通過設置所述數(shù)字濾波器的系數(shù)來調節(jié)再現(xiàn)信號的增益。
36.如權利要求35所述的數(shù)據(jù)再現(xiàn)器，其中所述數(shù)字濾波器被用于利用所述定時校正部件來校正再現(xiàn)定時。
全文摘要
一種用于產生具有改進質量的再現(xiàn)信號的數(shù)據(jù)再現(xiàn)設備。該數(shù)據(jù)再現(xiàn)設備包括相差檢測部件(153)，用于確定再現(xiàn)對象的軌道上的頭部模式和再現(xiàn)信號之間的互相關；互相關器(166，167)用于確定與再現(xiàn)對象軌道相鄰的軌道上的頭部模式和再現(xiàn)信號之間的互相關；以及串擾檢測部件(168)，用于從所述互相關確定串擾方向和串擾比?；蛘?，數(shù)據(jù)再現(xiàn)設備具有相關功能，用于根據(jù)相差檢測部件(153)所確定的相差和相關來校正再現(xiàn)信號的偏移和增益。
文檔編號G11B7/0045GK1788307SQ03826590
公開日2006年6月14日 申請日期2003年8月29日 優(yōu)先權日2003年8月29日
發(fā)明者金岡利知 申請人:富士通株式會社