專利名稱：管理數(shù)據(jù)存儲介質(zhì)中的缺陷位置的方法及記錄介質(zhì)的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種處理在信息記錄介質(zhì)上所產(chǎn)生缺陷的方法，特別涉及到一種管理數(shù)據(jù)存儲介質(zhì)中的缺陷位置的方法，及使用該方法的記錄介質(zhì)。
對可重寫光盤(如DVD-RAM)，必須處理在其記錄表面出現(xiàn)的缺陷，以便使得數(shù)據(jù)不被寫入被檢測到的讀出錯(cuò)誤超出預(yù)定級別的扇區(qū)(以下稱“缺陷”或“壞”扇區(qū))，從而獲得高度可靠的寫/重放操作。為達(dá)此目的，必須執(zhí)行缺陷處理，使得缺陷扇區(qū)的地址被存貯于光盤的缺陷處理表中，而對缺陷扇區(qū)的寫或讀的數(shù)據(jù)存取被禁止。
如

圖1所示，在DVD-RAM的可重寫物理區(qū)有一個(gè)導(dǎo)入?yún)^(qū)，一個(gè)數(shù)據(jù)區(qū)和一個(gè)導(dǎo)出區(qū)。數(shù)據(jù)區(qū)被劃分成連續(xù)的24個(gè)組，每組前后各有一個(gè)保護(hù)區(qū)。每組由一個(gè)用于記錄數(shù)據(jù)的用戶區(qū)和一個(gè)備用區(qū)組成，備用區(qū)提供代替用戶區(qū)的缺陷部分的存儲區(qū)。
數(shù)據(jù)區(qū)也由多個(gè)區(qū)段所組成，每個(gè)區(qū)段包括16個(gè)扇區(qū)。每個(gè)扇區(qū)的位置由為每個(gè)扇區(qū)所唯一給定的物理地址所指定。當(dāng)數(shù)據(jù)被記錄時(shí)，除缺陷扇區(qū)外，每個(gè)扇區(qū)被順序分配LSN(邏輯扇區(qū)號)。
缺陷處理信息，或在數(shù)據(jù)區(qū)內(nèi)的缺陷扇區(qū)的物理地址被存貯于DMA(缺陷處理區(qū))內(nèi)。如圖1所示，在四個(gè)地方提供了DMA，兩個(gè)在導(dǎo)入?yún)^(qū)，另兩個(gè)在導(dǎo)出區(qū)，以防止在四個(gè)DMA本身內(nèi)出現(xiàn)的缺陷。
DMA由兩個(gè)ECC(錯(cuò)誤校正代碼)區(qū)段或32個(gè)扇區(qū)組成。第一ECC區(qū)段由一個(gè)用于DDS(盤定義結(jié)構(gòu))的扇區(qū)和15個(gè)用于PDL(初級缺陷列表)的其它扇區(qū)組成。第二ECC區(qū)段的16個(gè)扇區(qū)用于SDL(次級缺陷列表)。
DDS、PDL和SDL的例子分別在表1、表2和表3中給出。
DDS結(jié)構(gòu)
PDL結(jié)構(gòu)
SDL結(jié)構(gòu)

參照DVD-RAM，以下解釋建立和處理諸如PDL和SDL的缺陷處理信息的方法。PDL的建立和處理(在寫操作下)光盤，或DVD-RAM由制造商進(jìn)行測試以判斷每個(gè)扇區(qū)的有效性。測試方法是對每個(gè)扇區(qū)寫入數(shù)據(jù)后再讀出，從而檢查該扇區(qū)的好壞。測試到讀出錯(cuò)誤超出預(yù)定級別的扇區(qū)在制造時(shí)被歸類為缺陷扇區(qū)，其物理地址被順序存貯于PDL中，如圖1所示。
當(dāng)用戶請求對光盤寫數(shù)據(jù)時(shí)，寫命令被送至光盤驅(qū)動(dòng)器，然后數(shù)據(jù)開始被順序?qū)懭胗脩魠^(qū)的未用扇區(qū)中，如圖2所示。每次數(shù)據(jù)被寫入目標(biāo)扇區(qū)時(shí)，目標(biāo)扇區(qū)的物理地址都被與PDL中的缺陷扇區(qū)的那些地址進(jìn)行比較。當(dāng)目標(biāo)扇區(qū)的地址與PDL中缺陷扇區(qū)地址中的任一個(gè)相匹配時(shí)，該目標(biāo)扇區(qū)便被跳過，數(shù)據(jù)被寫入下一個(gè)有效扇區(qū)。這種對缺陷扇區(qū)進(jìn)行補(bǔ)償?shù)臋C(jī)制被稱作“滑動(dòng)置換”(slipping replacement)。
在用戶區(qū)沒有缺陷扇區(qū)的情況下，數(shù)據(jù)僅被寫入用戶區(qū)，如圖2中的上部分所示。另一方面，若在PDL中有缺陷扇區(qū)，則備用區(qū)中與用戶區(qū)中缺陷扇區(qū)數(shù)目相等的扇區(qū)被用于扇區(qū)置換，如圖2中的下部分所示。
一個(gè)扇區(qū)可能會(huì)由于光盤的循環(huán)重放操作而質(zhì)量變壞，由此成為缺陷扇區(qū)。這樣的缺陷扇區(qū)被認(rèn)為是“生長的”缺陷扇區(qū)。因此，當(dāng)數(shù)據(jù)被寫入光盤時(shí)，在PDL中未列入的每個(gè)扇區(qū)都被檢查，判斷它是否有生長的缺陷。每個(gè)被斷定為有缺陷的扇區(qū)遵從扇區(qū)滑動(dòng)算法，其地址被加入到PDL中，以確保在進(jìn)行下一個(gè)寫操作扇區(qū)校驗(yàn)過程之前，數(shù)據(jù)不被寫入缺陷扇區(qū)。
這樣，隨著寫操作的重復(fù)進(jìn)行，PDL中的條目數(shù)不斷增加。
用于斷定扇區(qū)為壞的標(biāo)準(zhǔn)如下。帶有ECC的扇區(qū)(以下稱“ECC扇區(qū)”)由182字節(jié)×13行的數(shù)據(jù)構(gòu)成，如圖5所示，并且對每個(gè)扇區(qū)分配一特定的PID(物理標(biāo)識)。該P(yáng)ID被寫在每個(gè)扇區(qū)的四個(gè)保留位置上。若一個(gè)扇區(qū)的PID讀出中有三個(gè)或更多的錯(cuò)誤，或是一個(gè)扇區(qū)中具有四個(gè)或更多個(gè)字節(jié)錯(cuò)誤的行數(shù)是一個(gè)或更多，則該扇區(qū)被斷定為缺陷扇區(qū)。當(dāng)在一個(gè)ECC區(qū)段中具有四個(gè)或更多個(gè)字節(jié)錯(cuò)誤的行數(shù)是六個(gè)或更多時(shí)，該ECC區(qū)段被歸類為壞的區(qū)段。SDL的建立和處理(在重放操作中)當(dāng)光盤被使用時(shí)，盤內(nèi)的扇區(qū)有可能出現(xiàn)缺陷。因此，當(dāng)重放光盤時(shí)，未在PDL中列出的扇區(qū)被檢查，以判斷它們是否變成生長的缺陷扇區(qū)。若一個(gè)扇區(qū)被斷定為壞的，記錄在具有壞扇區(qū)的ECC區(qū)段(壞ECC區(qū)段)的16個(gè)邏輯扇區(qū)中的數(shù)據(jù)被轉(zhuǎn)移到一有效的ECC區(qū)段中，該有效ECC區(qū)段在備用區(qū)中可順序地得到，如圖3所示。這種機(jī)制被稱作“線性置換”。然后，缺陷ECC區(qū)段的第一個(gè)或首扇區(qū)的物理地址和置換ECC區(qū)段的第一個(gè)扇區(qū)的物理地址被作為SDL的一個(gè)條目而存貯。
當(dāng)在當(dāng)前組中的可用備用區(qū)段缺乏時(shí)，在SDL中對應(yīng)于該組的滿標(biāo)志被置為1，并從另外組中的備用區(qū)中借用有效備用區(qū)段以供線性置換。
在重放操作中，當(dāng)一個(gè)ECC區(qū)段中具有四個(gè)或更多錯(cuò)誤字節(jié)的行數(shù)是8或更多時(shí)，或有一個(gè)或更多的扇區(qū)有多于三個(gè)的PID讀出產(chǎn)生，則該ECC區(qū)段被斷定為壞的。
當(dāng)數(shù)據(jù)被寫入或從DVD-RAM中讀出時(shí)，從關(guān)聯(lián)的宿主計(jì)算機(jī)發(fā)送到DVD-RAM驅(qū)動(dòng)器的一邏輯區(qū)段地址被轉(zhuǎn)化成一物理目標(biāo)地址。接著，PDL被重新檢查，以判斷是否需要進(jìn)行滑動(dòng)調(diào)整。也就是說，將物理目標(biāo)地址與PDL中缺陷扇區(qū)的地址相比較。若斷定該物理目標(biāo)地址的扇區(qū)是有缺陷的，該缺陷扇區(qū)被跳過，并檢查下面的扇區(qū)，直到發(fā)現(xiàn)一有效的扇區(qū)。然后，物理目標(biāo)地址被調(diào)整，以便定位下一個(gè)有效扇區(qū)。在重放操作中，將物理目標(biāo)地址與SDL的列表相比較，以檢查是否需要扇區(qū)置換。若該物理目標(biāo)地址與SDL中的任一地址相匹配，置換扇區(qū)的物理目標(biāo)地址被從SDL中讀出。
在光盤用于存貯活動(dòng)圖象或語音的情況下，音頻/視頻數(shù)據(jù)的實(shí)時(shí)重放至關(guān)重要。然而，當(dāng)在重放中檢測到未在SDL中列出的生長的缺陷扇區(qū)時(shí)，對應(yīng)于要求在光盤上移動(dòng)數(shù)據(jù)的扇區(qū)置換，重放操作會(huì)有短時(shí)中斷。在此情況下，記錄在缺陷扇區(qū)上數(shù)據(jù)的重放速度變慢，導(dǎo)致音頻/視頻數(shù)據(jù)的重放出現(xiàn)一個(gè)短時(shí)的中斷。
在重放時(shí)，對于未在PDL和SDL中列出的新缺陷扇區(qū)的不加處理可成為一種解決線性置換引起的短時(shí)中斷的方法?？墒牵诖饲闆r下，當(dāng)已寫入的音頻/視頻數(shù)據(jù)被擦除，然后對該VDR重寫入新的音頻/視頻數(shù)據(jù)時(shí)，新的數(shù)據(jù)可能被寫到缺陷扇區(qū)或區(qū)段中。其結(jié)果是在該缺陷扇區(qū)上新記錄的音頻/視頻數(shù)據(jù)不可避免地出現(xiàn)讀出錯(cuò)誤。

發(fā)明內(nèi)容
因此，本發(fā)明的主要目的就是提供一種建立缺陷處理信息的方法，無論存在缺陷扇區(qū)與否，依然能夠?qū)崟r(shí)重放信息記錄介質(zhì)上的音頻/視頻數(shù)據(jù)；并且當(dāng)新的音頻/視頻數(shù)據(jù)寫入該記錄介質(zhì)上時(shí)避免將數(shù)據(jù)寫入缺陷扇區(qū)。還提供用于實(shí)現(xiàn)該方法的裝置和光盤。
為達(dá)此目的，本發(fā)明提供一種管理數(shù)據(jù)存儲介質(zhì)中的缺陷位置的方法，該數(shù)據(jù)存儲介質(zhì)包括通過至少格式化模式、記錄模式或重放模式之一至少識別缺陷位置的基本缺陷管理信息，該方法包括接收用來重放記錄在預(yù)定位置上的數(shù)據(jù)的重放命令；確定在重放模式期間該位置是否有缺陷；根據(jù)確定步驟的結(jié)果，臨時(shí)生成該位置的缺陷管理信息；和將臨時(shí)缺陷管理信息添加至基本缺陷管理信息中。
根據(jù)本發(fā)明的記錄介質(zhì)，其特征在于包括基本缺陷管理區(qū)，至少通過格式化模式、記錄模式或重放模式之一識別缺陷位置；和臨時(shí)缺陷管理區(qū)，至少根據(jù)當(dāng)前重放模式臨時(shí)識別缺陷位置，其中基本缺陷管理區(qū)允許至少發(fā)送通過當(dāng)前重放模式從臨時(shí)缺陷管理區(qū)中發(fā)現(xiàn)的缺陷位置。
根據(jù)本發(fā)明提供一種管理數(shù)據(jù)存儲介質(zhì)中缺陷位置的方法，該數(shù)據(jù)存儲介質(zhì)包括通過至少格式化模式、記錄模式或重放模式之一至少識別缺陷位置的基本缺陷管理信息，該方法包括接收用來重放記錄在預(yù)定位置上的數(shù)據(jù)的重放命令；確定在重放模式期間該位置是否有缺陷；根據(jù)確定步驟的結(jié)果，臨時(shí)生成該位置的缺陷管理信息；和根據(jù)命令將臨時(shí)缺陷管理信息發(fā)送至基本缺陷管理信息。
附圖中
圖1是一個(gè)布置圖，顯示了一光盤的可重寫區(qū)的劃分及缺陷列表；圖2解釋了在寫操作中的滑動(dòng)置換算法；圖3解釋了在重放操作中的線性置換算法；圖4是一方區(qū)段圖，顯示了本發(fā)明的光盤記錄/重放裝置的一優(yōu)選實(shí)施例；圖5顯示了帶ECC的一扇區(qū)的布置；圖6是一流程圖，顯示了對光盤進(jìn)行寫操作的過程；圖7是一流程圖，顯示了根據(jù)本發(fā)明建立缺陷處理信息的方法對來自光盤的音頻/視頻(A/V)數(shù)據(jù)的重放過程；圖8是一流程圖，顯示了對來自光盤的非A/V數(shù)據(jù)的重放過程；圖9是一流程圖，顯示了當(dāng)A/V數(shù)據(jù)被擦除時(shí)缺陷列表的更新過程；而圖10是一布置圖，顯示了根據(jù)本發(fā)明的光盤的可重寫區(qū)。
圖4描述了根據(jù)本發(fā)明實(shí)現(xiàn)缺陷處理信息建立方法的一VDR播放器的部分方區(qū)段圖。該VDR播放器包括從光盤讀或向光盤寫數(shù)據(jù)的光拾取裝置10；控制光拾取裝置10的伺服控制器110；用于將光盤要重放的數(shù)據(jù)歸類的讀出信號處理單元40；用于測試從光盤讀出數(shù)據(jù)的PID的PID檢測器50；基于被檢測出的PID的讀出錯(cuò)誤判斷一扇區(qū)是否有缺陷的SDL管理器90，它也用于通過使用SDL中的缺陷信息而選擇未在SDL中列出的新的缺陷扇區(qū)；用于對從讀出信號處理單元40所接收到的A/V數(shù)據(jù)進(jìn)行解壓縮和處理的重放單元60；臨時(shí)存貯發(fā)送到宿主計(jì)算機(jī)的A/V數(shù)據(jù)的接口RAM130；基于A/V數(shù)據(jù)的讀出錯(cuò)誤判斷一扇區(qū)是否有缺陷，并用于選取未在T-PDL中列出的新缺陷扇區(qū)的T-PDL(臨時(shí)PDL)管理器80；用于臨時(shí)存貯PDL、SDL和T-PDL的存貯器70；地址管理器120，用于當(dāng)請求數(shù)據(jù)擦除操作時(shí)，獲取要擦除的數(shù)據(jù)被記錄其上的扇區(qū)的物理地址；寫信號處理單元30，用于將與存貯在T-PDL中的地址相匹配的物理地址中的信息移動(dòng)到光盤的PDL中去；和激光束控制器20，用于控制將數(shù)據(jù)寫入光盤的激光。
參照圖6或圖9的流程圖和圖4，以下將詳細(xì)描述根據(jù)本發(fā)明建立光盤缺陷處理信息的方法。
一旦光盤驅(qū)動(dòng)開始重放光盤，則PDL和SDL被從光盤的導(dǎo)入?yún)^(qū)讀出，并分別被存貯于PDL存貯器70a和SDL存貯器70c。存貯在PDL中的缺陷扇區(qū)被跳過，取代保存在SDL中的壞扇區(qū)，數(shù)據(jù)被從相應(yīng)的置換扇區(qū)中讀出和重放。
同時(shí)，由光盤拾取裝置10從光盤讀出的數(shù)據(jù)被輸入到讀出信號處理單元40，在那兒對數(shù)據(jù)進(jìn)行分類，判斷數(shù)據(jù)是否是A/V數(shù)據(jù)。通過PID檢測器50，非A/V數(shù)據(jù)或控制數(shù)據(jù)被提供給SDL管理器90。SDL管理器判斷該非A/V數(shù)據(jù)是否有讀出錯(cuò)誤。若有，則包含記錄有該非A/V數(shù)據(jù)的扇區(qū)的ECC區(qū)段被備用區(qū)的置換ECC區(qū)段取代。因此，該非A/V數(shù)據(jù)被記錄于那兒。缺陷ECC區(qū)段的第一個(gè)扇區(qū)的PID和置換ECC區(qū)段的第一個(gè)扇區(qū)的PID被存貯于SDL存貯器70c中。
另一方面，若是A/V數(shù)據(jù)被重放，該A/V數(shù)據(jù)被通過重放單元60和接口RAM130發(fā)送給宿主計(jì)算機(jī)。由T-PDL管理器80來判斷該A/V數(shù)據(jù)是否有讀出錯(cuò)誤。被判斷有缺陷的扇區(qū)的PID被存貯于T-PDL存貯器70b中。
以此方法，記錄有A/V數(shù)據(jù)的缺陷扇區(qū)的PID被存貯于T-PDL存貯器70b中，而記錄有非A/V數(shù)據(jù)的缺陷扇區(qū)的PID被存貯于SDL存貯器70c中。重放操作完成之后，被加入到T-PDL存貯器和SDL存貯器中的缺陷信息被寫入光盤上各自的保留區(qū)中，如圖10所示。此后，當(dāng)盤再次重放時(shí)，存貯于PDL和SDL中的缺陷扇區(qū)被跳過，而保存在T-PDL中的缺陷扇區(qū)被重放，而不是跳過。其結(jié)果就是，即使包含有A/V數(shù)據(jù)的扇區(qū)被判斷有缺陷，不用任何扇區(qū)置換，A/V數(shù)據(jù)也被實(shí)時(shí)重放了。
當(dāng)用戶請求擦除光盤上的數(shù)據(jù)以便記錄新數(shù)據(jù)時(shí)，通告擦除操作的信號被送到光盤驅(qū)動(dòng)器。一旦接收到該信號，光盤上的PDL、SDL和T-PDL都被讀出，并被存貯于各自的存貯器70a、70b和70c。包含有要擦除數(shù)據(jù)的扇區(qū)的PID被與存貯于T-PDL存貯器70b中的缺陷扇區(qū)的PID進(jìn)行比較。若有匹配的PID，則通過總線(圖中未顯示)將其由T-PDL存貯器70b移到PDL存貯器70a中。結(jié)果，在重寫操作時(shí)，缺陷扇區(qū)被允許滑過，而數(shù)據(jù)被禁止寫入與匹配的PID相關(guān)的缺陷扇區(qū)。重寫操作完成之后，更新的PDL被寫入光盤上的保留區(qū)。
另一方面，在本發(fā)明的這一實(shí)施例中，有可能記錄有非A/V數(shù)據(jù)的缺陷扇區(qū)不被置換扇區(qū)所取代，但其PID卻可能被存貯于T-PDL存貯器70b中，如記錄有A/V數(shù)據(jù)的缺陷扇區(qū)一樣。
以下，參照圖6，對根據(jù)本發(fā)明的建立缺陷處理信息的方法的寫操作給予描述。該操作與現(xiàn)有技術(shù)相同。
若寫命令被輸入到光盤驅(qū)動(dòng)器中(S10)，首先判斷該寫操作是否完成(S13)。然后，存貯于存貯器70a中的PDL被檢查，以便判斷目標(biāo)扇區(qū)的物理地址是否包括在PDL中(S15)。
若判斷出目標(biāo)扇區(qū)的物理地址包括在PDL中，該目標(biāo)扇區(qū)被跳過，隨后判斷下一個(gè)扇區(qū)(S17)。對下一個(gè)目標(biāo)扇區(qū)，重復(fù)從S13步驟開始的過程。另一方面，若在S15步驟中判斷出目標(biāo)扇區(qū)未包括在PDL中，檢查該目標(biāo)扇區(qū)，以判斷其在上一次更新PDL后是否變成了缺陷扇區(qū)。也就是說，對記錄在該扇區(qū)的四個(gè)PID進(jìn)行讀出和解碼后，檢查在PID讀出中是否有三個(gè)或更多個(gè)錯(cuò)誤(S19)。
當(dāng)PID讀出中檢測到三個(gè)或更多個(gè)錯(cuò)誤時(shí)，相應(yīng)的扇區(qū)被歸類為缺陷扇區(qū)，寫操作停止。接下來，通過使用寫信號處理單元30和激光束控制器20，最新檢測到的缺陷扇區(qū)的物理地址被加入到光盤的PDL中。判斷下一個(gè)目標(biāo)地址(S17)，重復(fù)從S13步驟開始的過程。
在目標(biāo)扇區(qū)的PID讀出錯(cuò)誤數(shù)少于3個(gè)的情況下，該扇區(qū)被認(rèn)為是非缺陷扇區(qū)。因此，數(shù)據(jù)被寫入有效扇區(qū)，并判斷下一目標(biāo)地址(S21)。在以上步驟的重復(fù)中，若在S13步驟判斷出所有數(shù)據(jù)的記錄完成，則寫操作終止。
對于寫操作，無論要記錄的數(shù)據(jù)是否是A/V數(shù)據(jù)，都參照PDL進(jìn)行滑動(dòng)置換。
以下，參照圖7和圖8，對根據(jù)本發(fā)明的建立缺陷處理信息的方法的重放操作給予詳細(xì)描述。
若重放命令被輸入到光盤驅(qū)動(dòng)器(S40)，讀出信號處理單元40通過解碼從光拾取裝置10讀出的數(shù)據(jù)，判斷要被重放的數(shù)據(jù)是否是A/V數(shù)據(jù)(S41)，并根據(jù)數(shù)據(jù)類型將數(shù)據(jù)輸出至PID檢測器50或是重放單元60。
在非A/V數(shù)據(jù)的情況下，完美的重放比無延遲的連續(xù)重放更重要。因此，相應(yīng)于非A/V數(shù)據(jù)的缺陷扇區(qū)優(yōu)選使用線性置換算法，如在現(xiàn)有技術(shù)方法中一樣，以下給予詳細(xì)描述。
在檢查完重放是否完成后(S71)，從目標(biāo)扇區(qū)中讀出數(shù)據(jù)并重放(S73)。此時(shí)，由PID檢測器50檢查在一個(gè)ECC區(qū)段中是否有一個(gè)或多個(gè)扇區(qū)具有三個(gè)或更多個(gè)PID讀出錯(cuò)誤(以下稱PID錯(cuò)誤扇區(qū))(S75)。
在一個(gè)ECC區(qū)段中存在一個(gè)或多個(gè)PID錯(cuò)誤扇區(qū)的情況下，SDL管理器90判斷包含有PID錯(cuò)誤扇區(qū)的ECC區(qū)段為缺陷區(qū)段。通過線性置換過程，缺陷的ECC區(qū)段被備用區(qū)中非缺陷的置換ECC區(qū)段所取代，然后相應(yīng)的數(shù)據(jù)被記錄其中。此時(shí)，顯示缺陷ECC區(qū)段被置換ECC區(qū)段所取代的信息被存貯于SDL存貯器70c中。然后，下一個(gè)目標(biāo)扇區(qū)被判斷和定位(S77)。
即使沒有PID錯(cuò)誤扇區(qū)，ECC區(qū)段也被檢查是否存在新生長的缺陷。若在一個(gè)ECC區(qū)段中每行182字節(jié)的行中具有4個(gè)或更多個(gè)錯(cuò)誤字節(jié)的行數(shù)是8或更多，該ECC區(qū)段被判斷為壞的區(qū)段(S79)。通過S77步驟，壞的ECC區(qū)段被置換ECC區(qū)段所取代。
若在S79步驟中ECC區(qū)段被判斷為有效ECC區(qū)段，則記錄在該ECC區(qū)段上的數(shù)據(jù)被重放，并判斷下一個(gè)目標(biāo)扇區(qū)(S81)。若在S71步中判斷出不再有數(shù)據(jù)要被重放，則重放操作結(jié)束。
另一方面，若在S41步中判斷要被重放的數(shù)據(jù)是A/V數(shù)據(jù)時(shí)，根據(jù)本發(fā)明的、不同于現(xiàn)有技術(shù)的重放方法被執(zhí)行。以下參照圖7的流程圖給予詳細(xì)描述。
首先，檢查重放操作是否完成(S43)。若未完成，從目標(biāo)扇區(qū)讀出數(shù)據(jù)并重放(S45)。此時(shí)，PID檢測器50檢查在目標(biāo)扇區(qū)的PID讀出中是否有兩個(gè)或更多個(gè)錯(cuò)誤(S47)。若有兩個(gè)或更多個(gè)PID讀出錯(cuò)誤，T-PDL管理器80斷定該目標(biāo)扇區(qū)為壞的，并將其地址存貯于T-PDL存貯器70b中。隨后，判斷下一個(gè)目標(biāo)地址，光拾取裝置移動(dòng)到下一個(gè)目標(biāo)扇區(qū)(S49)。
即使PID讀出錯(cuò)誤數(shù)小于2，還要通過檢查在一個(gè)扇區(qū)中具有四個(gè)或更多個(gè)錯(cuò)誤字節(jié)的行數(shù)是否是4或更多來判斷該目標(biāo)扇區(qū)是否是壞扇區(qū)(S51)。被判斷為壞的扇區(qū)也被存貯于T-PDL存貯器70b中。接著，判斷下一目標(biāo)扇區(qū)(S49)。
若在S51步驟中判斷一目標(biāo)扇區(qū)為有效，則判斷下一扇區(qū)，而光拾取裝置移動(dòng)到那個(gè)扇區(qū)(S53)。最后，若在S43步驟中判斷不再有A/V數(shù)據(jù)要被重放，則重放操作結(jié)束。
簡而言之，若記錄有非A/V數(shù)據(jù)的扇區(qū)被判斷為壞的，則該扇區(qū)被備用區(qū)的有效扇區(qū)所置換，以便非A/V數(shù)據(jù)在下一次重放中沒有讀出錯(cuò)誤地被重放。另一方面，在記錄有A/V數(shù)據(jù)的扇區(qū)中，若扇區(qū)被判斷為壞的，則不執(zhí)行扇區(qū)置換，以保證實(shí)時(shí)重放。而是將壞扇區(qū)的地址保存在光盤的一保留區(qū)中，該保留區(qū)與PDL和SDL的保留區(qū)隔離。
若光盤上的A/V數(shù)據(jù)被重復(fù)重放，T-PDL存貯器70b開始存貯在重放操作中新檢測到的壞扇區(qū)的地址。當(dāng)用戶發(fā)出一擦除命令時(shí)，這些關(guān)于新的壞扇區(qū)的信息被寫入光盤上PDL的保留區(qū)。這一點(diǎn)在以下參照流程圖9給予解釋。
若一個(gè)擦除命令被輸入給光盤驅(qū)動(dòng)器(S101)，地址管理器120便獲取記錄有要擦除數(shù)據(jù)的扇區(qū)的物理地址(S107)。隨后，存貯于T-PDL存貯器70b中的物理地址被讀出(S109)，并且，地址管理器120所獲取的地址被與T-PDL存貯器中壞扇區(qū)的地址進(jìn)行比較(S111)。若無匹配的地址，則執(zhí)行擦除過程(S115)。若至少有一個(gè)相匹配的地址，則存貯于T-PDL存貯器70b中的相匹配的地址被通過總線移到PDL存貯器70a中(S113)，然后再執(zhí)行擦除過程(S115)。
如圖10所示，在光盤上用于T-PDL的保留區(qū)可置于數(shù)據(jù)區(qū)內(nèi)，與PDL和SDL相隔離；或是在導(dǎo)入?yún)^(qū)的DMA中，與PDL和SDL在一起。前一種安排具有為PDL和SDL保存現(xiàn)有的缺陷處理信息區(qū)的優(yōu)點(diǎn)。在此安排下，優(yōu)選將T-PDL的空間保留在存貯程序菜單信息的區(qū)域之前或之后的位置，程序菜單信息在寫或重放操作中會(huì)被重復(fù)訪問。在后一種安排中，三種缺陷列表在DMA中的排列順序可以改變。
當(dāng)擦除操作完成、新數(shù)據(jù)被重新寫入光盤中時(shí)，其地址被從T-PDL存貯器70b移到PDL存貯器70a的壞扇區(qū)被滑動(dòng)置換算法所跳過。結(jié)果，數(shù)據(jù)被禁止寫入壞的扇區(qū)。
以上所述僅僅是為了對本發(fā)明的優(yōu)選實(shí)施例給予演示和解釋。此，可作出不脫離本發(fā)明精神和范圍的變化、修正和更改。
權(quán)利要求
1.一種管理數(shù)據(jù)存儲介質(zhì)中的缺陷位置的方法，該數(shù)據(jù)存儲介質(zhì)包括通過至少格式化模式、記錄模式或重放模式之一至少識別缺陷位置的基本缺陷管理信息，該方法包括接收用來重放記錄在預(yù)定位置上的數(shù)據(jù)的重放命令；確定在重放模式期間該位置是否有缺陷；根據(jù)確定步驟的結(jié)果，臨時(shí)生成該位置的缺陷管理信息；和將臨時(shí)缺陷管理信息添加至基本缺陷管理信息中。
2.如權(quán)利要求1的方法，其中記錄在預(yù)定位置上的數(shù)據(jù)是實(shí)時(shí)數(shù)據(jù)。
3.如權(quán)利要求1的方法，其中，生成步驟進(jìn)一步包括將預(yù)定位置的缺陷管理信息臨時(shí)記錄在數(shù)據(jù)存儲介質(zhì)中。
4.一種記錄介質(zhì)，其特征在于包括基本缺陷管理區(qū)，至少通過格式化模式、記錄模式或重放模式之一識別缺陷位置；和臨時(shí)缺陷管理區(qū)，至少根據(jù)當(dāng)前重放模式臨時(shí)識別缺陷位置，其中基本缺陷管理區(qū)允許至少發(fā)送通過當(dāng)前重放模式從臨時(shí)缺陷管理區(qū)中發(fā)現(xiàn)的缺陷位置。
5.如權(quán)利要求4的記錄介質(zhì)，進(jìn)一步包括數(shù)據(jù)區(qū)，包括好的數(shù)據(jù)塊或缺陷數(shù)據(jù)塊。
6.如權(quán)利要求5的記錄介質(zhì)，其中的數(shù)據(jù)塊包括實(shí)時(shí)數(shù)據(jù)。
7.一種管理數(shù)據(jù)存儲介質(zhì)中缺陷位置的方法，該數(shù)據(jù)存儲介質(zhì)包括通過至少格式化模式、記錄模式或重放模式之一至少識別缺陷位置的基本缺陷管理信息，該方法包括接收用來重放記錄在預(yù)定位置上的數(shù)據(jù)的重放命令；確定在重放模式期間該位置是否有缺陷；根據(jù)確定步驟的結(jié)果，臨時(shí)生成該位置的缺陷管理信息；和根據(jù)命令將臨時(shí)缺陷管理信息發(fā)送至基本缺陷管理信息。
8.如權(quán)利要求7的方法，其中記錄在預(yù)定位置上的數(shù)據(jù)是實(shí)時(shí)數(shù)據(jù)。
9.如權(quán)利要求7的方法，其中，生成步驟進(jìn)一步包括將預(yù)定位置的缺陷管理信息臨時(shí)記錄在數(shù)據(jù)存儲介質(zhì)中。
10.如權(quán)利要求7的方法，其中，該命令是用于確認(rèn)該位置是否有缺陷的請求信號。
11.如權(quán)利要求7的方法，其中，該命令是用于清除該位置以在數(shù)據(jù)存儲介質(zhì)的該位置上重記錄數(shù)據(jù)的請求信號。
全文摘要
本發(fā)明提供了建立/寫入信息記錄介質(zhì)的缺陷處理信息的方法和基于本方法的裝置及光盤。在本發(fā)明中，基于要重放的數(shù)據(jù)類型來決定在重放操作中檢測到的缺陷扇區(qū)是否被非缺陷扇區(qū)所置換。在重放非音頻/視頻數(shù)據(jù)時(shí)，若檢測到讀出錯(cuò)誤，則線性置換算法被應(yīng)用于相應(yīng)的缺陷扇區(qū)中。另一方面，在重放音頻/視頻數(shù)據(jù)的情況下，若檢測到讀出錯(cuò)誤，相應(yīng)的缺陷扇區(qū)的位置信息僅僅被保存，而不進(jìn)行任何扇區(qū)置換。
文檔編號G11B20/18GK1479304SQ0314243
公開日2004年3月3日 申請日期1999年3月2日 優(yōu)先權(quán)日1998年3月2日
發(fā)明者金柄振, 姜棋元 申請人:Lg電子株式會(huì)社