專利名稱：光盤裝置、光盤重現(xiàn)方法和光盤的制作方法
技術領域：
本發(fā)明涉及一種光盤裝置、光盤記錄方法和光盤，它們可以應用于光盤系統(tǒng)，它們可以采用如溝槽用于記錄所要的數(shù)據(jù)。本發(fā)明可以根據(jù)通過激光束得到的返回光束偏振平面的改變，通過重現(xiàn)溝槽壁表面處的曲折所記錄的數(shù)據(jù)，可靠地實現(xiàn)以較高密度記錄的數(shù)據(jù)。
背景技術：
在諸如相關技術領域小型盤的光盤中，所要求的數(shù)據(jù)是通過相對于預定標準周期順序形成凹坑或標記而記錄下來的。
即，在磁盤的制造過程中，將糾錯碼(ECC)加到通過對聲頻信號進行取樣獲得的聲頻數(shù)據(jù)上，并且隨后通過EFM(八至十四調(diào)制)方法，可以產(chǎn)生一個調(diào)制信號。另外，在該過程中，激光束是受該調(diào)制信號的通—斷控制的，從而暴露該原始光盤，并且隨后用該原光盤制成一母盤，并從該母盤制造一磁盤。
因而在該磁盤中，8位的數(shù)據(jù)流通過EFM調(diào)制方法被轉換成17位的數(shù)據(jù)流，并且隨后該數(shù)據(jù)被轉換成串行的數(shù)據(jù)流，并串行形成相應于該串行數(shù)據(jù)流的邏輯電平的凹坑或空間。
在這種類型的光盤中，所要求的數(shù)據(jù)是根據(jù)所存在的凹坑通過二進制記錄方法而記錄下來的，并且人們最新建議針對上述數(shù)據(jù)記錄系統(tǒng)，建議采用由一種多級記錄系統(tǒng)記錄所要求的數(shù)據(jù)的方法。
即，日本公開的未經(jīng)審查的專利申請2-2123523中揭示了一種在軌道上形成梯度凹坑來進行多級記錄的方法，而日本未經(jīng)審查的專利申請7-21569建議了一種通過改變多級中改變凹坑深度和形狀的方法。
然而，這些方法具有這樣的問題，即，由于相鄰凹坑的碼間串擾而很難形成高密度的凹坑流，因此很難可靠地重現(xiàn)以較高密度記錄的數(shù)據(jù)。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明考慮到上述問題，因而本發(fā)明的目的是提供一種能夠可靠重現(xiàn)較高密度記錄的數(shù)據(jù)的光盤、光盤的制造方法和光盤。
為了解決上述問題，按照本發(fā)明的第一個方面是提供一種光盤裝置或光盤重現(xiàn)方法。因而根據(jù)通過激光束輻射得到的返回光束的接收結果，產(chǎn)生取決于返回光束極化平面改變其信號電平的極化檢測信號，并且通過處理該極化檢測信號，可以重現(xiàn)光盤上記錄的數(shù)據(jù)。
另外，按照本發(fā)明另一個方面是提供了一種光盤。因而根據(jù)激光束輻射得到的返回光束極化平面的改變，可以檢測所要求的數(shù)據(jù)，并且所要求的數(shù)據(jù)可以用溝槽壁表面處的曲折線而記錄下來。
按照本發(fā)明的一個方面，根據(jù)激光束輻射得到的返回光束接收結果并且隨后通過處理極化檢測信號重現(xiàn)光盤上記錄的數(shù)據(jù)，通過產(chǎn)生依返回光束的極化平面而改變信號電平的極化檢測信號，可以重現(xiàn)取決于溝槽壁表面上曲折線而記錄的數(shù)據(jù)。由于溝槽壁表面上曲折線是根據(jù)各種信號波形而形成的，所以通過數(shù)據(jù)調(diào)制的信號的多路復用或類似的處理，可以實現(xiàn)高記錄。另外，通過考慮光束直徑而在前一校正中形成的曲折線，可以有效地避免由凹坑流產(chǎn)生的碼間串擾的影響。
另外，按照本發(fā)明的另一個方面，由于所要求的數(shù)據(jù)是可以根據(jù)激光束輻射得到的返回光束極化平面的改變而檢測到，并且可以根據(jù)溝槽壁表面上的曲折線而記錄下來，根據(jù)各種信號波形，可以形成溝槽壁表面上的曲折線，并且通過由數(shù)據(jù)調(diào)制的信號的多路復用，可以實現(xiàn)高密度記錄。另外，考慮到光束直徑，通過形成前一校正中的曲折線，可以有效地避免凹坑流所觀察到的碼間串擾的影響。


圖1是相對于本發(fā)明的較佳實施例對一光盤進行重現(xiàn)的光盤裝置方框圖。
圖2是相對于本發(fā)明較佳實施例的光盤裝置的方框圖。
圖3A和3B是圖2所示光盤的光學系統(tǒng)的示意圖。
圖4是圖2所示光盤上應用的調(diào)制電路的方框圖。
圖5是圖4所示調(diào)制電路的電平轉換電路的方框圖。
圖6是圖4所示調(diào)制電路的+45°相移電路的方框圖。
圖7是圖4所示調(diào)制電路的-45°相移電路的方框圖。
圖8是圖2所示光盤裝置的特征校正電路的方框圖。
圖9是圖8所述特征校正電路的輸入/輸出特征的特征曲線圖。
圖10是采用圖2所示光盤裝置制造的光盤的透視圖。
圖11是圖1所示光盤裝置光學拾取的光學系統(tǒng)的示意圖。
圖12是說明圖11所示光學拾取的光學系統(tǒng)的示意圖。
圖13是圖1所示光盤裝置的譯碼電路的方框圖。
圖14是圖13所示譯碼電路的積分電路的方框圖。
具體實施例方式
下面參照附圖，詳細描述本發(fā)明的較佳實施例。
(1)第一個實施例，(1-1)第一個實施例的結構圖2是本發(fā)明較佳實施例的光盤裝置的方框圖。該光盤裝置1暴露了一個原盤2，用以記錄來自信息源3A、3B的輸入數(shù)據(jù)DA和DB。在制造光盤的過程中，在產(chǎn)生了該原盤2以后，用電形成過程產(chǎn)生一個母盤，并從該母盤產(chǎn)生一個標記。另外，在產(chǎn)生光盤的過程中，從上述產(chǎn)生的標記制得一個盤襯底，并通過形成一個反射膜以及該盤襯底上的保護膜，制得一光盤。
即，在該光盤裝置1中，主軸電機4使原盤2旋轉，并且保持在底部的頻率發(fā)生器(FG)信號發(fā)生電路輸出一FG信號FG，它使信號電平升高，用于每一預定的旋轉角。主軸伺服電路5驅動主軸電機4，根據(jù)原盤2的暴露位置，將FG信號FG的頻率設置成預定的頻率。因而主軸電機4根據(jù)原盤2的旋轉速度而旋轉。
激光器由氣體激光器之類的激光器組成，用以發(fā)射激光束L1，用來暴露原盤。光調(diào)制器7是一個由電聲光學元件之類的組成的AOM(聲光調(diào)制器)。所以，根據(jù)同步圖形(pattern)發(fā)生電路8的輸出的同步信號SY改變光束量的激光束L2是通過根據(jù)同步信號SY控制激光束L1來發(fā)射的。所以，光調(diào)制器7是通過插入同步圖形來發(fā)射激光束L1的。
分光器9通過使光調(diào)制器7輻射的激光束L2分裂而輻射兩個光束，而反射鏡使由分光器9反射的激光束LB在激光束LA和LB之間的光程彎曲，并在幾乎平行于其余激光束LA的光程中發(fā)射這一激光束。
光調(diào)制器11A是一種由電聲光學元件之類的元件形成的AOM，并通過使輻射光的方向根據(jù)調(diào)制信號VpA而沿與原盤2半徑相應的方向來輻射激光束LA。同時，光調(diào)制器11B也是一種由電聲光學元件之類的組成的AOM，并且根據(jù)調(diào)制信號VpB使輻射方向呈與原盤2半徑相應的方向來輻射激光束LB。
上述激光束LA、LB由于(未圖示的)鏡面而發(fā)生光程的彎曲，向原盤2輻射光，并且物鏡12聚焦到盤2上。這些反射鏡和物鏡12借助于未示出的滑動機構，同步地沿原盤2的外周邊方向順序移動。從而由激光束LA和LB所決定的暴露位置沿原盤2的外周邊方向順序發(fā)生位移。
因此，在該光盤裝置1中，當原盤2受到驅動而旋轉時，通過反射鏡和物鏡12的運動而形成螺旋槽。
這里，如圖3A和3B所示的那樣，在該光盤裝置中，原盤2的法線幾乎與物鏡12的光軸重合的，并且有一個激光束LA是沿與該物鏡12的光軸呈預定的傾斜方向入射的。從而，在該光盤裝置1中，激光束LA的光軸與原盤2的表面相交，其位置在激光束LA的焦點位置處與物鏡12的光軸相距僅0.1[μm]，并且該相隔的方向與原盤2的半徑方向相匹配。
另一方面，在光盤裝置1中，其余的激光束LB與激光束LA對稱地入射到物鏡12上，沿原盤2的周邊方向延伸的平面通過物鏡12的光軸。激光束LB的光軸與原盤2的表面相交，其位置沿激光束LA的相對一側，與物鏡的光軸僅相距0.1[μm]。所以，在光盤裝置1中，而激光束LA和LB的光束點是通過沿原盤2的半徑方向僅相隔0.2[μm]的位置處的部分重疊而形成的。
在兩條光束SA和SB部分重疊以后，就形成了原盤2。這時，將光敏物質的靈敏度設置成形成一個窄的凸起，它在兩個光束點SA和SB輻射的跡點處與一個槽對應。所以，在該光盤裝置1中，激光束LA和LB分別形成槽的內(nèi)壁表面和外壁表面。
另外，在該光盤裝置1中，槽的內(nèi)周邊側壁表面和外周邊側壁表面根據(jù)調(diào)制信號VpA和VpB是獨立彎曲的，通過使激光束LA和LB的輻射方向發(fā)生位移，來驅動光調(diào)制器11A和11B，在帶有光調(diào)制器11A和11B的原盤2的半徑方向，形成射束點SA和SB。
因而，在該實施例中，所要求的數(shù)據(jù)是在具有比采用凹坑更高密度的槽壁表面處記錄的，用以僅記錄二進制數(shù)據(jù)0或1。
定時發(fā)生器(TG)14(圖2)根據(jù)該光盤裝置1的標準操作，產(chǎn)生和輸出系統(tǒng)時鐘。另外，定時發(fā)生器14驅動該系統(tǒng)，產(chǎn)生用于數(shù)據(jù)傳送的時鐘BCLK，和用于插入同步圖形之類的定時信號SLCL。
同步圖形發(fā)生電路8產(chǎn)生并輸出一同步信號SY，用以在原盤2上記錄該同步圖形。這里，同步信號SY是由同步圖形、地址信息、伺服信息等組成的，它們是為重現(xiàn)操作而初始化的，并且至少包括產(chǎn)生重現(xiàn)側的數(shù)據(jù)傳送時鐘BCLK所需的參考信號和產(chǎn)生時鐘CL1至CK4所需的參考信號，這將后面說明。
參照從該定時發(fā)生器14輸出的參考信號，信息源3A和3B順序輸出數(shù)據(jù)DA和DB。糾錯碼發(fā)生電路(ECC)15A和15B分別接收數(shù)據(jù)DA和DB，并加上糾錯碼(ECC)，隨后，通過交織過程而輸出該數(shù)據(jù)。這時，糾錯碼發(fā)生電路15A和15B在與數(shù)據(jù)傳送時鐘BCLK同步的定時中輸出這些處理結果，作為并行位數(shù)據(jù)DA1(ab0，ab1，…，ab7)和DB1(bb0，bb1，…，bb7)。
調(diào)制電路16A、16B參照數(shù)據(jù)傳送時鐘BCLK，通過處理糾錯碼發(fā)生電路15A和15B的輸出數(shù)據(jù)DA1(ab0，ab1，…，ab7)和DB1(bb0，bb1，…，bb7)，產(chǎn)生和輸出用于激光束L1的調(diào)制的調(diào)制信號VmA和VmB。
特征校正電路17A和17B通過校正這些調(diào)制信號VmA和VmB的信號電平，輸出調(diào)制信號VpA和VpB，用以補償光調(diào)制器11A和11B的非線性特征，防止被重現(xiàn)的信號由于重現(xiàn)側光束直徑而劣化，并且獲得光學系統(tǒng)特征合適的特征。實際上，在本實施例的重現(xiàn)系統(tǒng)中，槽的曲折是根據(jù)通過激光束發(fā)生獲得的返回光束偏振平面的改變而檢測到的，并且特征校正電路17A和17B補償調(diào)制信號VmA和VmB，以檢測溝槽隨偏振平面的變化而出現(xiàn)的曲折。槽壁表面處的曲折可以在預先根據(jù)重現(xiàn)系統(tǒng)的特征而得到補償。
圖4是調(diào)制電路16A的方框圖。這里，調(diào)制電路16B具有與調(diào)制電路16A相同的結構，所不同的是處理的目標不同。所以，這里只說明調(diào)制電路16A，而調(diào)制電路16B的說明從略。
在調(diào)制電路16A中，電平轉換電路(LT)20A至20H是以與D觸發(fā)器、加法器和幅度調(diào)節(jié)電路等相同的方式形成的。電平轉換電路20A至20H接收數(shù)據(jù)DA1的每一位ab0至ab7，并輸出每一位ab0至ab7的數(shù)據(jù)，在對數(shù)據(jù)校正以后從0電平上升到預定的信號電平，從而信號電平在0電平附件改變。
即，如圖5所示，電平轉換電路20A至20H以D觸發(fā)器21中的數(shù)據(jù)傳送時鐘BCLK為基準，順序鎖存和保持每一位ab0至ab7的連續(xù)數(shù)據(jù)。例如，每一位ab0至ab7的數(shù)據(jù)以TTL(晶體管晶體管邏輯)電平從D觸發(fā)器21輸出，從而該D觸發(fā)器的輸出端電壓VS在0[V]到約+4[V]的范圍內(nèi)變化。
偏置發(fā)生電路22產(chǎn)生和輸出具有-Vsp/2的DC偏置電壓，它等于該D觸發(fā)器21的輸出端電壓VS的幅度值Vsp的二分之一。加法電路23通過校正每一位ab0到ab7的信號電平，來輸出該信號電平，通過在從D觸發(fā)器21輸出的每一位ab0到ab7中加入該DC電壓，在0[V]周圍的-2[V]到2[V]的范圍內(nèi)變化。
放大電路(G1)校正每一位ab0到ab7的信號電平，通過用預定的增益放大和輸出該加法電路23的輸出數(shù)據(jù)，校正每一位ab0到ab7的信號電平，而在0[V]周圍的-1[V]到1[V]的范圍內(nèi)變化。從而相應于數(shù)據(jù)DA1的每一位ab0到ab7，在信號電平于0[V]周圍-1[V]到1[V]的范圍內(nèi)改變的八個系統(tǒng)的偏振方向，輸出信號P0到P7。
振蕩器26A至26D(圖4)參照數(shù)據(jù)傳送時鐘BCLK，在不同的頻率下輸出正弦波信號SA至SD。這里，第一個振蕩器26A產(chǎn)生與數(shù)據(jù)傳送時鐘BCLK相同的頻率f1的正弦波信號SA，而第二振蕩器26B產(chǎn)生兩倍于數(shù)據(jù)傳送時鐘BCLK頻率f1的頻率f2的正弦波信號SB。第三和第四振蕩器26C和26D分別產(chǎn)生三倍和四倍于數(shù)據(jù)傳送時鐘BCLK的頻率f1的頻率f3和f4的正弦波信號SC和SD。
+45°相移電路(+45°)27A、27B、27C和27D使從振蕩器26A至26D輸出的正弦波信號SA至SD的相位向前進45度，隨后輸出這些信號。即，如圖6中所示，+45°相移電路27A、27B、27C和27D將正弦波信號SA至SD輸入到由電阻29和電容30組成的低通濾波器中。這里，在+45°相移電路27A、27B、27C和27D中，選擇電阻29的阻值R29和電容30的容值30，從而對于正弦波信號SA到SD的頻率f，分別建立起下面的關系式。因而輸入的正弦波信號SA到SD的相位向前進45度f＝1/(2π·R29·C30)……(1)放大電路31如上所述校正相位，在對其放大了3[dB]以后，通過輸出該低通濾波器的輸出信號，補償改變的信號電平。從而根據(jù)該正弦波信號，+45°相移電路27A、27B、27C和27D分別輸出具有恒定幅度的參考信號S1、S3、S5、S7。
-45°相移電路(-45°)28A、28B、28C和28D分別使從振蕩器26A至26D輸出的正弦波信號SA至SD的相位延遲45度，并且隨后輸出這些信號。即，如圖7所示，-45°相移電路28A、28B、28C和28D分別將正弦波信號SA至SD輸入到由電容器33和電阻器34組成的高通濾波器內(nèi)。這里，在-45°相移電路28A、28B、28C和28D中，選擇電容器33的電容C33和電阻器34的阻值，對于正弦波信號SA至SD的頻率，分別建立起下述關系，從而輸入的正弦波信號SA至SD的相位延遲45度。
f＝1/(2π·R34·C33)……(2)放大電路35如上面說明的那樣，參照校正改變的信號電平，通過放大該高通濾波器的輸出信號3[dB]，來校正相位。從而，-45°相移電路28A、28B、28C和28D分別輸出由余弦波組成的具有恒定幅度的參考信號S2、S4、S6、S8。
所以，+45°相移電路27A、27B、27C和27D以及-45°相移電路28A、28B、27C和28D采用如下面公式所表述的不同的頻率，產(chǎn)生多對正交參考信號S1至S8。
S1＝A·sin(2π·f1·t)S2＝A·cos(2π·f1·t)S3＝A·sin(2π·2·f1·t)S4＝A·cos(2π·2·f1·t)S5＝A·sin(2π·3·f1·t)S6＝A·cos(2π·3·f1·t)S7＝A·sin(2π·4·f1·t)S8＝A·cos(2π·4·f1·t)……(3)通過將這些參考信號S1至S8乘以從電平轉換電路20A至20H輸出的偏振信號P0至P7，乘法電路36A至36H用相應的偏振信號P0至P7調(diào)制這些參考信號S1至S8，并隨后提供輸出。
放大電路37A至37H(圖4)放大乘法電路36A至36H的輸出信號，并隨后提供輸出。因而，從放大電路37A至37H輸出的調(diào)制信號V1至V8分別用下面定義放大電路37A至37H的增益的公式表述為K1至K8。
V1＝+K1·A·sin(2πf1·t) ……當ab0為邏輯1時V1＝-K1·A·sin(2πf1·t) ……當ab0為邏輯0時V2＝+K2·A·cos(2πf1·t) ……當ab1為邏輯1時V2＝-K2·A·cos(2πf1·t) ……當ab1為邏輯0時V3＝+K1·A·sin(2π2f1·t)……當ab2為邏輯1時V3＝-K1·A·sin(2π2f1·t)……當ab2為邏輯0時V4＝+K1·A·cos(2π2f1·t)……當ab3為邏輯1時V4＝-K1·A·cos(2π2f1·t)……當ab3為邏輯0時……(4)V5＝+K5·A·sin(2π3f1·t)……當ab4為邏輯1時
V5＝-K5·A·sin(2π3f1·t)……當ab4為邏輯0時V6＝+K6·A·cos(2π3f1·t)……當ab5為邏輯1時V6＝-K6·A·cos(2π3f1·t)……當ab5為邏輯0時V7＝+K7·A·sin(2π4f1·t)……當ab6為邏輯1時V7＝-K7·A·sin(2π4f1·t)……當ab6為邏輯0時V8＝+K8·A·cos(2π4f1·t)……當ab7為邏輯1時V8＝-K8·A·cos(2π4f1·t)……當ab7為邏輯0時……(5)這里，將放大電路37A至37H設置成使K1至K8在是放大目標的調(diào)制信號V1至V8的頻率變大時而增加，并且這可以用下面的關系式來表述。因而在通過光學系統(tǒng)的重現(xiàn)操作期間檢測到的調(diào)制信號V1至V8的幅度幾乎是相等的。
即，在對光盤進行重現(xiàn)時，由于用來進行重現(xiàn)操作的光點的大小是有限的，重現(xiàn)信號的幅度依頻率成分而變，并且重現(xiàn)信號的幅度隨普通重現(xiàn)系統(tǒng)中使用的光學系統(tǒng)中的頻率的增高而減小。在放大電路37A至37H中，考慮到減小這種頻率特征的影響，根據(jù)輸入的載波信號S1至S8的頻率，將幅度倍數(shù)K1至K8設置成用下面的關系式來表示，從而可以校正記錄和重現(xiàn)系統(tǒng)的頻率特征。
K1，K2＜K3，K4＜K5，K6＜K7，K8 ……(6)通過將這些調(diào)制信號V1至V8相加，加法電路40輸出加法信號Vk。偏置發(fā)生電路41產(chǎn)生并輸出預定的偏置電壓，從而該加法信號Vk的信號電平變化變成與適用于驅動光調(diào)制器7信號電平的變化是相同的。加法電路42將從偏置發(fā)生電路41輸出的偏置電壓加到加法信號Vk上，輸出調(diào)制信號VmA(VmB)，從而將在0電平附近改變信號電平的加法信號Vk轉換成從0電平起增加信號電平的調(diào)制信號VmA(VmB)上。
圖8是特征校正電路17A和17B(圖2)的方框圖。在特征校正電路17A和17B中，模擬/數(shù)字轉換電路(A/D)45參照從振蕩器(OSC)46輸出的時鐘ADCK，對調(diào)制信號VmA(VmB)進行模擬/數(shù)字轉換處理，并且隨后輸出該調(diào)制信號。
只讀存儲器(ROM)48用模擬/數(shù)字轉換電路的輸出，輸出所包含的校正值數(shù)據(jù)，作為地址，而數(shù)字/模擬轉換電路(D/A)49對只讀存儲器48的輸出執(zhí)行數(shù)字/模擬轉換過程，并輸出調(diào)制信號VpA(VpB)。
這里，只讀存儲器48存儲校正值數(shù)據(jù)，以便校正光調(diào)制器11A和11B的非線性特征、檢測槽因返回光束的偏振平面變化而產(chǎn)生的曲折，并校正這種偏振的檢測期間的非線性特征。從而通過校正具有圖9所示輸入/輸出特征的調(diào)制信號VmA和VmB的信號電平，可以輸出調(diào)制信號VpA和VpB。
圖10是由該光盤裝置1暴露的原盤2所制得的光盤的透視圖。在原盤2中，激光束的輻射方向是用調(diào)制信號VpA和VpB調(diào)制的，并且校正信號電平，使得在將參考信號S1到S8產(chǎn)生的調(diào)制信號V1到V8相加以后，產(chǎn)生調(diào)制信號VpA和VpB。從而暴露連續(xù)暴露的跡線)continuous exposing lotus)的內(nèi)周邊側壁和外周邊側壁，使之根據(jù)調(diào)制信號VpA和VpB的信號電平而變。
因而，在光盤50中，與就象是圖10的放大部分(A)那樣，內(nèi)周邊壁表面和外周邊壁表面之間形成的槽是根據(jù)調(diào)制信號VpA和VpB的信號電平而形成的。另外，在這樣一種連續(xù)的槽中，凹坑的同步圖形是用恒定的間距形成的。
在該光盤產(chǎn)生過程中，光盤可以用這樣一種過程來制造，即，光盤中槽的深度和槽的壁表面的梯度等，通過選擇原盤2上涂覆的光敏物質、曝光條件和沖洗條件等而最佳化，從而得到具有如上所述形成的槽的曲折而有效地改變返回光束偏振平面。
圖1是重現(xiàn)該光盤50的光盤裝置的方框圖。在該光盤裝置60中，主軸電機59驅動光盤50，使之在伺服電路61的控制下，在預定的旋轉速度下旋轉。光學拾取裝置62產(chǎn)生偏振檢測信號SXA(SXB)，其信號電平是隨通過輻射到光盤50上的激光束得到的返回光束偏振平面的變化而變化的。另外，采用預定的光敏元件，通過接收如上所述獲得的返回光束，光學拾取裝置62輸出光束接收結果，并且后續(xù)的矩陣電路(MA)63從這樣的光束接收結果，產(chǎn)生跟蹤控制和聚焦控制等所需的各種信號。
即，如圖11所示，光學拾取器62中的半導體激光器70以恒定的光束量，輻射具有線性偏振的激光束，而后續(xù)的準直透鏡71將半導體激光器70輻射的激光束轉換成平行光束。后面的光柵72將從準直透鏡71輻射的激光束與主光束隔開，其中，主光束是0級衍射光，而邊上的光束是第1級衍射光和第-1級衍射光；并且隨后通過分光器74，將包括這樣的主光束和邊光束的激光束輻射到物鏡73上。
物鏡73用包括有從分光器74入射的主光束和邊光束的激光束照射光盤50，并且接收因主光束和邊光束產(chǎn)生的來自光盤50的返回光束。
這里，如圖12所示，光學拾取器62以這樣的方式輻射包括主光束和邊光束的激光束，即，沿槽的延伸方向，將通過包括主光束和邊光束的激光束輻射形成的光點(下文中稱為主光點和邊光點)SM、SS1、SS-1排列起來。另外，光學拾取器62還以這樣方式輻射包括主光束和邊光束的激光束，即，當用處于聚焦狀態(tài)下的主光點SM輻射槽的壁表面時，在光盤50的內(nèi)周邊側和外周邊側，每一側面點SS1、SS-1幾乎與槽的壁表面是接觸的。因而通過光盤準直中的3點方法，可以實現(xiàn)跟蹤控制。
這里，所提供的半導體激光器70給出與來自物鏡73照射光盤50的激光束的偏振平面方向與光盤50的槽延伸方向呈45度的角。所以，在光盤裝置60中，激光束是用包括垂直于和平行于槽延伸方向的偏振分量的合成光束輻射的，從而返回光束的偏振平面隨槽的曲折而變。因此，在光盤裝置60中，通過檢測偏振平面與主光束返回光束的改變，可以檢測到槽的曲折。
分光器74(圖11)反射從光柵72入射的主光束和邊光束，并且隨后將這些光束發(fā)射到物鏡73，物鏡73發(fā)射從物鏡73入射的返回光束，隔開光程，并且隨后將光束輻射到分光器75。
分光器75發(fā)射和反射從分光器74入射的返回光束，并通過隔離將該返回光束發(fā)射到兩個光通量中。
聚焦透鏡76接收已經(jīng)通過分光器75的返回光束，并將該返回光束轉換成匯聚的光通量。從聚焦透鏡76發(fā)出的返回光用未示出的柱形透鏡而成為散光。
檢測器77接收包括從聚焦透鏡76發(fā)出的主光束和邊光束的返回光。這里，檢測器77(圖12)用光束接收元件77SM接收主光束的返回光束，光束接收元件77SM的接收表面被分成四個區(qū)域A至D，其分界線沿光盤的槽延伸方向和半徑方向延伸。另外，檢測器77還用光束接收元件77SS1和77SS-1接收邊光束的返回光束，光束接收元件77SS1和77SS-1的光束接收表面分別被分成區(qū)域E、F以及區(qū)域G、H，其分界線沿光盤的半徑方向延伸。檢測器77還輸出這些區(qū)域A至H的光束接收結果。
聚焦透鏡78接收由分光器75反射的返回光束，并將該返回光束轉換成匯聚的光通量。
在返回光束聚焦位置處有一個針孔79，主光束和邊光束的中央?yún)^(qū)域處的主光束返回光束有選擇地通過該針孔79。所以，考慮到提高槽壁表面處曲折檢測的靈敏度，在光盤裝置60中，在壁表面內(nèi)、外周邊處分別形成光束點的邊光束的返回光束是不用作偏振平面的檢測的。
準直透鏡80將已經(jīng)通過針孔79的返回光束轉換成平行光束，并且相位校正片81向從準直透鏡80發(fā)出的返回光束提供預定的相位，從而校正因光盤50中的雙折射而引起的偏振平面的改變。因而相位校正片81可以提高偏振平面因槽的壁表面處的曲折而變化的檢測精度。
偏振分光器82接收從相位校正片81發(fā)出的返回光束，并沿與紙面垂直的偏振方向反射一個分量(element)(s偏振分量)，并沿與紙面平行的方向發(fā)射一個分量(p偏振分量)。從而來自相位校正片81的返回光束被分隔成兩個光通量，它們是根據(jù)返回光束的偏振平面互補變化的。
檢測器83和84分別接收由偏振分光器82隔開的兩個光通量(p偏振分量和s偏振分量)，并接收芯片電平隨接收光束的量而變的光束接收結果K和J。減法器85接收這兩個檢測器83和84的光束接收結果K和J，并得到這兩個光束接收結果K和J的差，從而輸出信號電平隨返回光束的偏振平面而變的偏振檢測信號SXA(SXB)。
光學拾取器62有兩個如圖11中所示的光學結構系統(tǒng)，可以同時檢測作為槽的內(nèi)周邊側壁表面曲折檢測結果的偏振檢測信號SXA，和作為槽外周邊側壁表面曲折檢測結果的偏振檢測信號SXB。
因此，矩陣電路(MA)63(圖10)是由運算放大器之類的元件組成的。區(qū)域A至H的光束接收結果經(jīng)處理，用于采用未圖示的電流/電壓轉換電路進行電流和電壓轉換，并且隨后用后續(xù)放大電路中的預定的增益進行放大。另外，矩陣電路63用預定的編碼來表述從區(qū)域A至H獲得的電流/電壓轉換結果，并象下面公式中所表述的那樣，對這些光束接收結果進行處理。因而，矩陣電路63產(chǎn)生聚焦誤差信號PE、跟蹤誤差信號TE和重現(xiàn)信號HF。
HF＝A+B+C+DFE＝A-B+C-DTE＝(E-F)-(G-H) ………(7)因此，當主點SM的中心掃描槽壁表面處的曲折中心時，以及當主點SM從曲折的中心在內(nèi)周邊側和外周邊側移動時，如上所述得到的跟蹤誤差信號TE的信號電平變成0，信號電平發(fā)生變化。
所以，在伺服電路61中，可以進行跟蹤控制，而通過移動光學拾取器62的物鏡73，匹配于曲折的中心和主光束SM的中心，從而將跟蹤誤差信號TE的信號電平設置成0電平。另外，伺服電路61移動物鏡73，將聚焦誤差信號FE的信號電平設置成0電平，從而實現(xiàn)聚焦控制。
PLL電路64有選擇地處理從同步圖形得到的重現(xiàn)信號HF，從而產(chǎn)生數(shù)據(jù)傳送時鐘BCLK和時鐘CK1至CK4，與正弦波信號SA至SD同步。
譯碼電路65參照這些數(shù)據(jù)傳送時鐘BCLK和時鐘CK1至CK4，對偏振檢測信號SXA(SXB)進行處理，產(chǎn)生重現(xiàn)數(shù)據(jù)DA1(ab0至ab7)和重現(xiàn)數(shù)據(jù)DB1(bb0至bb7)，前者是根據(jù)通過偏振檢測信號SXA(SXB)的同步檢測在內(nèi)周邊側壁表面上的曲折記錄下來的，而后者是根據(jù)外周邊側壁表面上的曲折記錄下來的。
誤差校正電路(ECC)66根據(jù)記錄操作期間加入的糾錯碼，對重現(xiàn)數(shù)據(jù)DA1(ab0至ab7)或DB(bb0至bb7)進行交織處理，糾錯處理，并且隨后作為所需的結果向外部裝置輸出獲得的重現(xiàn)數(shù)據(jù)DA或DB。
圖13是譯碼電路65的方框圖。在該譯碼電路65中，帶通濾波器(BPF)87A至87D分別輸出具有頻帶限止的時鐘CK1至CK4，以便分別產(chǎn)生在通過壓縮時鐘CK1至CK4的高頻諧波在進行記錄操作期間產(chǎn)生的正弦波信號SA至SD。
+45°相移電路(+45°)88A、88B、88C、88D分別被構成與光盤裝置1的+45°相移電路27A、27B、27C、27D是相同的，因而輸出與正弦波信號SA至SD相同的參考信號S1、S3、S5、S7，使相位向前進45度。
-45°相移電路(-45°)89A、89B、89C、8D分別被構成與光盤裝置1的-45°相移電路(-45°)28A、28B、28C、28D是相同的，因而輸出與相位延遲了45度的正弦波信號SA至SD相同的參考信號S2、S4、S6、S8，使相位延遲45度。
所以，+45°相移電路88A、88B、88C、88D和-45°相移電路89A、89B、89C、89D產(chǎn)生多個與在記錄操作時產(chǎn)生的參考信號不同頻率的正交參考信號對S1至S8。
乘法電路90A至90H將偏振檢測信號SXA(SXB)和每一個參考信號S1至S8相乘，并輸出乘法結果M1至M8。積分電路(∑)91A至91H在數(shù)據(jù)傳送時鐘BCLK周期內(nèi)積分并輸出乘法電路91A至91H的輸出信號M1至M8。
即，如圖13所示，積分電路91A至91H包含一個積分電路，它是由電阻器94和電容器95和一個開關電路96組成的。根據(jù)數(shù)據(jù)傳送時鐘BCLK，開關電路96通過終斷電容器95的兩個端子，清除積分結果，并通過緩沖放大電路97輸出積分結果X1至X8。
因此，在本實施例中，參考信號S1至S8是由在積分時間頻率下正交正弦波信號對組成的，并且參考信號S1至S8是用與這些信號間最低頻率的參考信號S1同步變化的位ab0至ab7調(diào)制的，并且隨后相加，產(chǎn)生調(diào)制信號VmA。因而通過參照數(shù)據(jù)傳送時鐘BCLK由積分獲得的積分結果X1至X8根據(jù)相應位ab0至ab7的邏輯電平改變其值，但不會根據(jù)不與其他位ab0至ab7相應的邏輯電平改變信號電平。
比較電路100A至100H通過將積分結果X1至X8與預定閾值比較，重現(xiàn)并輸出光盤裝置1中位ab0至ab7(bb0至bb7)的信號電平。D觸發(fā)器101A至101H用數(shù)據(jù)傳送時鐘BCLK鎖存比較電路100A至100H的輸出信號，從而輸出位ab0至ab7(bb0至bb7)的重現(xiàn)數(shù)據(jù)DA1(DB1)。
(1-2)第一個實施例的操作采用上面說明的結構，將糾錯碼加到糾錯碼發(fā)生電路15A中原盤2(圖2)上記錄的數(shù)據(jù)DA上用于交織處理，并且隨后以8位并行格式輸入到調(diào)制電路16A。在該調(diào)制電路16A中，位ab0至ab7(圖4)的八個數(shù)據(jù)流以與數(shù)據(jù)傳送時鐘BCLK同步的定時順序輸入，從而其信號電平經(jīng)校正，由電平轉換電路20A至20H分別參照0電平變化，產(chǎn)生極性信號P0至P7。
在調(diào)制電路16A中由于從振蕩器26A至26D輸出的正弦波信號SA至SD的相位分別由+45°相移電路27A、27B、27C、27D和+45°相移電路28A、28B、28C、28D校正，因而由與數(shù)據(jù)傳送時鐘BCLK同步的頻率f1產(chǎn)生一對正交參考信號S1和S2和三對正交參考信號S3和S4、S5和S6、S7和S8，三對參考信號的頻率是這樣一對參考信號S1和S2的頻率的整數(shù)倍。隨后，這些參考信號S1至S8分別與極性信號P0至P7相乘，以便產(chǎn)生調(diào)制信號V1至V8。
當在放大電路27A至37H中頻率較高時，這些調(diào)制信號V1至V8用更大的增益放大。因而在重現(xiàn)操作時，信號電平是相應于記錄和重現(xiàn)系統(tǒng)中的頻率特征來校正的，從而重現(xiàn)幾乎是等幅的即使是在任一調(diào)制信號V1至V8中進行的。
隨后，這些調(diào)制信號V1至V8在加法電路40中相加，并且隨后這些信號的直流(DC)電平用偏置發(fā)生電路41中產(chǎn)生的偏置電壓校正。另外，信號電平在后面的特征校正電路17A(圖8)中校正，校正光調(diào)制器11A的非線性特征，預先校正重現(xiàn)側的特征，并有效地檢測具有變化偏振平面的槽的曲折。
在光盤裝置1中，來自信息源3B的數(shù)據(jù)DB經(jīng)處理，在糾錯碼發(fā)生電路15B中與糾錯碼相加，用于交織處理，并且隨后該數(shù)據(jù)以8位并行格式被輸入到調(diào)制電路16B中，用于產(chǎn)生極性信號P0至P7。另外，在調(diào)制電路16B中，在頻率f1下，這些極性信號P0至P7分別與一對正交參考信號S1和S2相乘，并且在頻率是參考信號對S1和S2的整數(shù)倍的頻率下與一對正交參考信號S3和S4、S5和S6、S7和S8相乘，用于產(chǎn)生調(diào)制信號V1至V8。
另外，在校正了這些調(diào)制信號V1至V8的頻率特征以后，校正信號電平，用偏置發(fā)生電路41中產(chǎn)生的偏置電壓校正直流電平，用后續(xù)特征校正電路17B(圖8)校正光調(diào)制器11B的非線性特征，并有效地檢測具有變化偏振平面的槽的曲折。
在光盤裝置1中，如上所述產(chǎn)生的兩個系統(tǒng)的調(diào)制信號VmA和VmB(圖2)平移(displace)了光調(diào)制器11A中沿原盤2半徑方向插入的同步圖形的兩個系統(tǒng)的激光束LA和LB的發(fā)射方向，從而兩個系統(tǒng)LA和LB照射原盤2，并且局部重疊，沿原盤2的半徑方向隔開(圖3A和3B)。
因而，在通過原盤2的過程制得的光盤50(圖10)中，槽是在激光束的輻射軌跡處產(chǎn)生的，并且分別形成這些槽的內(nèi)周邊側壁表面和外周邊側壁表面，根據(jù)調(diào)制信號VpA和VpB的信號電平而分別形成曲折。
因而，在由原盤2制得的光盤50中，可以記錄獨立的數(shù)據(jù)DA和DB，這些數(shù)據(jù)是可以通過改變槽的內(nèi)、外周邊側壁表面上返回光束的偏振平面來檢測，所以現(xiàn)在與僅采用槽的曲折記錄想要的數(shù)據(jù)相比，可以采用更高密度來記錄想要的數(shù)據(jù)。
另外，想要的數(shù)據(jù)DA和DB是根據(jù)槽的壁表面位移來記錄的，并且這樣的數(shù)據(jù)DA和DB可以通過檢測照射在槽壁表面處的曲折的返回光束偏振平面的變化來重現(xiàn)。因此，數(shù)據(jù)的重現(xiàn)可以不考慮相關技術領域中形成凹坑串(pit train)在記錄數(shù)據(jù)時可以看到的凹坑間的干擾。因而可以確保重現(xiàn)在更高密度下記錄的數(shù)據(jù)。
另外，由于與凹坑流的形成用來僅記錄二進制數(shù)據(jù)0和1的情況相比，槽壁表面處的曲折可以用各種不同的信號波形形成，所以可以用由數(shù)據(jù)調(diào)制的信號的多路復用，來實現(xiàn)高密度記錄。
這種情況下，形成槽壁表面處的曲折的調(diào)制信號VmA和VmB是與數(shù)據(jù)傳送時鐘BCLK同步產(chǎn)生的，并且形成調(diào)制信號VmA和VmB的信號分量最低頻率正弦波信號SA被設置成在頻率上與數(shù)據(jù)傳送時鐘BCLK是相同的。
所以，在可以通過將偏振檢測信號SXA(SXB)乘以每一參考信號S1至S7得到的同步檢測結果中，解調(diào)位bb0至ab7、bb0至bb7的邏輯電平。另外，在可以通過在數(shù)據(jù)傳送時鐘BCLK周期中對乘法結果進行積分得到的積分結果中，信號電平是不隨其他的位ab0至ab7、bb0至bb7而變化的，并且信號電平僅隨相應的位ab0至ab7和bb0至bb7的邏輯電平而變化。
所以，由位ab0至ab7和bb0至bb7得到的8進制的數(shù)據(jù)流可以用一個周期的數(shù)據(jù)傳送時鐘BCLK多路復用，并分散(disperse)在該一個周期中，用于記錄到光盤中每一槽的壁表面上。另一方面，在相關技術領域的光盤中，可以在凹坑或標記的邊緣的定時中，順序重現(xiàn)1位數(shù)據(jù)。所以，在該實施例中，可以減小瞬時噪聲的影響，并且對于從該光盤50得到的重現(xiàn)信號，可以大大提高有效SNR，并且與相關技術領域中的情況相比，現(xiàn)在可以保留用于高密度記錄的更充分的容限。
同時，在通過檢測槽壁表面變化得到的偏振檢測信號SXA(SXB)的頻帶中，可以將用于這些正弦波信號SA至SD的調(diào)幅的頻帶組合起來。所以，正弦波信號SA至SD的頻率被設置成避免了這種類型的系統(tǒng)中噪聲集中的頻帶，從而可以進一步提高有效的SNR(信噪比)，并且與相關技術領域中的情況相比，可以多多保留高密度記錄的充足的容限。
另外，通過僅根據(jù)噪聲的頻帶但也根據(jù)記錄和重現(xiàn)系統(tǒng)總體的頻率特征來設置正弦波信號SA至SD的頻率，通過有效和充分的使用記錄和重現(xiàn)系統(tǒng)的頻率特征，可以實現(xiàn)高密度的記錄。
另外，通過采用校正相應于這種記錄和重現(xiàn)系統(tǒng)的頻率特征的調(diào)制信號V1至V8的幅度來記錄數(shù)據(jù)，也可以實現(xiàn)通過有效和充分使用記錄和重現(xiàn)系統(tǒng)的頻率特征來進行的高密度記錄。
在該光盤裝置60中，通過衍射光柵分解成三個光束的激光束照射光盤50(圖1)以及接收其返回的光束(圖11)，采用3點方法，可以產(chǎn)生跟蹤誤差信號TE，因此，采用掃描槽的內(nèi)周邊側壁表面曲折中心或具有主光束點中心的槽外周邊側壁表面處曲折中心的方法，可以用該跟蹤誤差信號TE來進行跟蹤控制。
因此，主光束在跟蹤中受到控制，使得可以重現(xiàn)通過槽內(nèi)周邊側壁表面或槽外周邊側壁表面上的曲折記錄的數(shù)據(jù)DA或DB。
即，由這三個光束中的主光束的返回光束被分隔成與紙面平行的偏振方向的分量(p偏振分量)和與紙面垂直的偏振方向的分量(s偏振分量)，并且偏振檢測信號SXA(SXB)是由兩個光束接收結果的差產(chǎn)生的。另外，根據(jù)主光束的相位來改變信號電平的重現(xiàn)信號被檢測到，并且可以用所分配的同步圖形的重現(xiàn)信號HF，可以重現(xiàn)作為正弦波信號SA至SD的發(fā)生標準的時鐘CK1至CK4和數(shù)據(jù)傳送時鐘BCLK。
這些時鐘CK1至CK4(圖13)在頻帶上是受到限制的，它采用帶通濾波器87A至87D產(chǎn)生正弦波信號SA至SD。這些正弦波信號SA至SD隨后在+45°相移電路88A至88D中和-45°相移電路89A至89D中經(jīng)處理，產(chǎn)生參考信號S1至S8。
偏振檢測信號SXA或SXB分別在乘法電路90A至90H中與參考信號S1至S8中相乘，并且在積分電路91A至91H中，在數(shù)據(jù)傳送時鐘BCLK時間里，對乘法結果M1至M8積分。另外，在比較電路100A至100H中，分別將積分結果M1至M8轉換成二進制數(shù)據(jù)，從而可以重現(xiàn)8進制ab0至ab7的原始的數(shù)據(jù)流。在這種情況下，通過積分電路91A至91H中的積分，混入偏振檢測信號SXA或SXB中的使噪聲分量得到平滑，從而與相關技術中的比較，可以顯著地改進重現(xiàn)數(shù)據(jù)DA1(ab0至ab7)、DB1(bb0至bb7)中的位誤差。
另外，由于包括有偏振檢測信號SXA或SXB的相當?shù)脑肼暦至康牡皖l帶受到了抑制，從而與相關技術領域的CA系統(tǒng)的重現(xiàn)信號HF中的情況相比SNR得到顯著提高，所以，與相關技術領域中的情況相比，可以顯著地改進位誤差。
由于在記錄操作時設置了用于放大調(diào)制信號V1到V8的放大電路37A至37H的增益以重現(xiàn)相對于上述處理的偏振檢測信號SXA或SXB幾乎具有均勻的信號電平的調(diào)制信號V1至V8的分量，所以，可以避免特定的調(diào)制信號V1至V8的SNR的劣化，從而可以可靠地重現(xiàn)高記錄密度下記錄的數(shù)據(jù)。
在后面的糾錯電路66中為糾錯而處理上述重現(xiàn)的數(shù)據(jù)DA或DB(圖1)，從而可以重現(xiàn)正確的原始數(shù)據(jù)。因此，在將本發(fā)明的光盤裝置60放入光盤播放器時，通過將DA轉換器和揚聲器與ECC電路66的輸出相連，可以重現(xiàn)來自揚聲器的音樂信號。
另外，在這種情況下，用戶可以欣賞兩種音樂節(jié)目，例如，通過將不同的數(shù)字音頻信號分配給信息源3A和3B，并且隨后在槽的內(nèi)周邊側壁表面和外周邊側壁表面之間切換閱讀目標。
按照上述結構，根據(jù)返回光束的光束接收結果，產(chǎn)生依返回光束的偏振平面改變其信號電平的偏振檢測信號，并且通過處理這樣的偏振檢測信號，可以重現(xiàn)光盤上記錄的數(shù)據(jù)，從而可以確保重現(xiàn)依槽的壁表面處曲折的以高密度記錄的數(shù)據(jù)。
另外，通過分解成偏振平面正交交叉的兩個光通量接收返回光束并且檢測這兩個光通量接收結果的差信號，可以容易地和確保產(chǎn)生偏振檢測信號，以產(chǎn)生偏振檢測信號。
另外，還產(chǎn)生分解成與記錄數(shù)據(jù)時產(chǎn)生的參考信號相同的不同頻率的多對正交參考信號，并且隨后通過將這些用于偏振檢測信號解調(diào)的這些多對參考信號對相乘得到的多對相乘信號的二進制標識對這些數(shù)據(jù)進行重現(xiàn)。從而，將多個調(diào)制信號進行多路復用，以確保重現(xiàn)以更高記錄密度記錄的數(shù)據(jù)。
另外，在光盤中，由于數(shù)據(jù)是根據(jù)要用返回光束偏振平面的改變來檢測槽壁表面處的曲折來記錄的，所以，以這樣一種方式，即可以在重現(xiàn)側確保重現(xiàn)，可以以更高的密度來記錄想要的數(shù)據(jù)。
另外，因為槽的內(nèi)周邊側壁表面和外周邊側壁表面是獨立曲折的，所以可以用更高的密度記錄想要的數(shù)據(jù)。
另外，由于調(diào)制信號是通過調(diào)制產(chǎn)生的，所以采用8個系統(tǒng)的數(shù)據(jù)，將用于解調(diào)的多對不同頻率的正交參考信號相加，并且根據(jù)如結果獲得的調(diào)制信號的信號電平使槽表面位移。因而8個系統(tǒng)的數(shù)據(jù)可以多路復用，并且可以通過分散成(dispersion)與這些數(shù)據(jù)的一個周期相應的長度記錄下來，并且通過有效地避免因噪聲等的影響產(chǎn)生的位誤差，可以以更高的記錄密度記錄下來。
另外，可以確保記錄了想要的數(shù)據(jù)，使得通過校正和記錄調(diào)制信號進行的重現(xiàn)可以防止重現(xiàn)信號因重現(xiàn)側光束直徑而劣化，并提供適合于重現(xiàn)側光學系統(tǒng)特征的特征。
(2)其他的實施例在上述實施例中，數(shù)據(jù)是通過同步檢測重現(xiàn)側的偏振檢測信號而形成的，但本發(fā)明不僅限于此，還可以采用數(shù)字信號處理器(DSP)，通過高速Fourier變換分析偏振檢測信號，重現(xiàn)光盤上記錄的數(shù)據(jù)。
另外，在上述實施例中，數(shù)據(jù)傳送時鐘BCLK是以與最低頻率的正弦波信號SA同步的方式產(chǎn)生的。但是，本發(fā)明并非僅限于此，可以根據(jù)需要，將數(shù)據(jù)傳送時鐘BCLK設置成各種周期。盡管根據(jù)其他的正弦波信號的頻率它可以是不同的，但通過將數(shù)據(jù)傳送時鐘BCLK的周期設置成是最低頻率的正弦波信號SA的周期的整數(shù)倍，可以最有效地在積分電路91A至91H中消除除目標信號以外的調(diào)制信號的影響。
另外，在上述實施例中，已經(jīng)描述了將其他對的正交信號S3和S4、S5和S6、S7和S8的頻率設置成是最低頻率的正交信號對S1和S2的頻率f1的整數(shù)倍，但本發(fā)明并非僅限于此。當每一位可以被解調(diào)用于實際使用而沒有接收到其他調(diào)制信號的影響時，頻率可以被設置成是除整數(shù)倍以外的其他頻率。
另外，在上述實施例中，通過處理從積分電路91A至91H中乘法電路90A至90H得到的同步檢測結果，可以重現(xiàn)數(shù)據(jù)DA、DB，但本發(fā)明并非僅限于此。例如，當?shù)屯ǚ糯笃饔脕砣〈e分電路91A至91H時，可以根據(jù)需要，還可以采用各種結構。
在上述實施例中，以相同的數(shù)據(jù)傳送速率記錄和重現(xiàn)8個系統(tǒng)的數(shù)據(jù)流ab0至ab7、bb0至bb7，但本發(fā)明并非僅限于此。即，根據(jù)需要，可以減小任何數(shù)據(jù)流的數(shù)據(jù)傳送速率。換言之，當減小數(shù)據(jù)傳送速率時，例如，對于分配給頻率特征已劣化的低頻側和高頻側的數(shù)據(jù)流，一個位可以離散地被記錄下來，使得這樣的數(shù)據(jù)流在光盤上有足夠長距離從而由噪聲而引起的位誤差可以進一步改善。
另外，在上述實施例中，通過調(diào)制處理四對和8個系統(tǒng)的參考信號S1至S8中的任何一個，但本發(fā)明并非僅限于此。例如，可以將最高頻率的參考信號中的一個分配給地址信息，并且也可以將其記錄為用于產(chǎn)生時鐘的參考信號而不經(jīng)任何調(diào)制。
另外，在上述實施例中，多對正交參考信號S1至S8是用二進制信號調(diào)制的，但本發(fā)明并非僅限于此，并且每一參考信號是可以用多電平信號調(diào)制的。這時，可以進一步提高記錄密度。
另外，在上述實施例中，采用了兩束激光束，但本發(fā)明并非僅限于此，而只要在槽的內(nèi)周邊側壁表面和外周邊側壁表面發(fā)生曲折時足夠了。例如，還可以形成采用三個激光并且中央激光不執(zhí)行調(diào)制的結構。
在上述實施例中，槽的內(nèi)周邊側壁表面和外周邊側壁表面處記錄的數(shù)據(jù)是同時并行重現(xiàn)在重現(xiàn)側的，但本發(fā)明并非僅限于此，還可以采用選擇重現(xiàn)操作。
另外，在上述實施例中，數(shù)據(jù)是通過處理偏振檢測信號來重現(xiàn)的，但本發(fā)明并非僅限于此。例如，還可以從返回光束的光束接收結果A至D，例如，通過在偏振檢測信號中加入主光束和該切向推挽信號(tangential push-pull signal)，產(chǎn)生所謂的切向推挽信號，以重現(xiàn)數(shù)據(jù)。因而，可以進一步提高S/N比，并且可以確保重現(xiàn)數(shù)據(jù)。
與公式(7)比較，切向推挽信號TPP通過下面公式的算術運算，產(chǎn)生光束接收結果A至D。
TPP＝A-B-C+D…………(8)另外，在上述實施例中，重現(xiàn)了數(shù)據(jù)記錄在槽的內(nèi)周邊側壁表面和外周邊側壁表面上的光盤，但本發(fā)明并非僅限于此。例如，本發(fā)明可以廣泛地應用于采用凹坑曲折記錄數(shù)據(jù)的光盤重現(xiàn)。
在上述實施例中，光盤是通過暴露原盤而制造的，但本發(fā)明并非僅限于此。例如，本發(fā)明還可以廣泛地應用于各種光盤系統(tǒng)，如在將所要求的數(shù)據(jù)記錄到寫后直接讀類型的光盤等。
權利要求
1.一種在其上形成同心或螺旋凹坑的光盤，其特征在于，想要的數(shù)據(jù)是根據(jù)所述凹坑的壁表面曲折而記錄的，從而從通過激光束的照射獲得的返回光束偏振平面的變化，可以檢測到數(shù)據(jù)，其中所述凹坑壁表面上的曲折包括所述凹坑內(nèi)周邊側壁表面上的曲折和獨立于所述凹坑內(nèi)周邊側壁表面上曲折的所述凹坑外周邊側壁表面上的曲折。
2.如權利要求1所述的光盤，其特征在于，所述內(nèi)周邊側壁表面上的所述曲折是根據(jù)第一記錄信號形成的；所述外周邊側壁表面上的所述曲折是根據(jù)所述第二記錄信號形成的；以及所述第一和第二記錄信號根據(jù)分別通過調(diào)制與預定的數(shù)據(jù)流正交相交的多個參考信號產(chǎn)生的多組調(diào)制信號的相加信號而改變其信號電平。
3.如權利要求2所述的光盤，其特征在于，多個所述正交相交的參考信號包括具有不同頻率的多個正弦波信號和與所述多個正弦波信號相應的多個余弦波信號。
4.如權利要求3所述的光盤，其特征在于，多個所述正弦波信號將所述頻率設置成是所述預定參考頻率的整數(shù)倍。
5.如權利要求1所述的光盤，其特征在于，根據(jù)重現(xiàn)系統(tǒng)的特征補償所述凹坑壁表面上的曲折。
全文摘要
本發(fā)明涉及一種光盤裝置、光盤重現(xiàn)方法和光盤。因而，例如，本發(fā)明可以應用于一種光盤系統(tǒng)，該系統(tǒng)中，為了確保重現(xiàn)較高記錄密度記錄的數(shù)據(jù)，通過凹坑的曲折，可以記錄想要的數(shù)據(jù)。從通過激光束照射獲得的返回光束極化平面的變化，可以重現(xiàn)凹坑壁表面上曲折所記錄的數(shù)據(jù)。
文檔編號G11B7/125GK1495714SQ03124960
公開日2004年5月12日 申請日期2000年6月9日 優(yōu)先權日1999年6月9日
發(fā)明者小林誠司 申請人:索尼株式會社