專利名稱：偏移測量方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種用于測量由在用于將光束聚集在信息介質(zhì)上的物鏡的光軸中的漂移產(chǎn)生的偏移的偏移測量方法，以及用于實(shí)現(xiàn)偏移測量方法的記錄和再現(xiàn)設(shè)備。
這些盤包括例如以DVD-RAM盤和DVD-R盤為代表的可用于信息記錄和再現(xiàn)的可記錄盤，以及以DVD-ROM為代表的僅僅用于信息再現(xiàn)的只再現(xiàn)盤。為了把信息記錄在可記錄盤上或從可記錄盤上再現(xiàn)信息，或?yàn)榱藦闹辉佻F(xiàn)盤再現(xiàn)信息，需要通過跟蹤控制把光束定位在盤的磁道的中央。


圖14是顯示常規(guī)的記錄和再現(xiàn)設(shè)備的跟蹤控制的原理的方框圖。記錄和再現(xiàn)設(shè)備在其上記錄信息或記錄和再現(xiàn)設(shè)備從其上再現(xiàn)信息的盤31包括基底32。用于信息記錄和再現(xiàn)的信息層33在基底32上形成。記錄和再現(xiàn)設(shè)備包括提供的使其面對在盤31中形成的信息層33的光學(xué)拾取器1。光學(xué)拾取器1包括一個(gè)物鏡和一個(gè)具有兩個(gè)光接收部分的光電檢測器。在光學(xué)拾取器1中提供的物鏡把光束聚集到信息層33上。光電檢測器接收由信息層33反射的光束，把接收到的光束轉(zhuǎn)換為跟蹤信號，并把跟蹤信號輸出到跟蹤誤差檢測電路11?；谟稍诠鈱W(xué)拾取器1中提供的光電檢測器轉(zhuǎn)換的跟蹤信號，跟蹤誤差檢測電路11在聚集到信息層33上的光束的位置和在信息層33上形成的磁道的中央位置之間沿信息介質(zhì)31的徑向檢測一個(gè)代表誤差的跟蹤誤差信號。然后，跟蹤誤差檢測電路11把跟蹤誤差信號輸出到跟蹤控制電路13。基于由跟蹤誤差檢測電路11檢測的跟蹤誤差信號，跟蹤控制電路13產(chǎn)生一個(gè)用于執(zhí)行相位補(bǔ)償?shù)母欜?qū)動(dòng)信號，使得聚集到信息層33上的光束的位置跟蹤一個(gè)代表在信息層33上形成的磁道的中央位置的控制目標(biāo)位置。然后，跟蹤控制電路13把跟蹤驅(qū)動(dòng)信號輸出到跟蹤驅(qū)動(dòng)電路16?；谟筛櫩刂齐娐?3產(chǎn)生的跟蹤驅(qū)動(dòng)信號，跟蹤驅(qū)動(dòng)電路16控制在光學(xué)拾取器1中提供的物鏡的位置，使得聚集到信息層33上的光束的位置跟蹤磁道的中央位置。
跟蹤誤差檢測電路11用來檢測跟蹤誤差信號的許多系統(tǒng)已經(jīng)被提出并且實(shí)現(xiàn)。用于從由可用于信息記錄和再現(xiàn)的可記錄盤反射的光束檢測跟蹤誤差信號的一個(gè)典型的系統(tǒng)是推挽系統(tǒng)。在下文中，將描述推挽系統(tǒng)。
依據(jù)推挽系統(tǒng)，檢測由兩個(gè)光接收部分接收的光束的光強(qiáng)度的差值，作為跟蹤誤差信號，其中兩個(gè)光接收部分被定位為使其相對于在信息層33上形成的磁道的中央位置對稱。
由信息層33反射的光束的光強(qiáng)度顯著地依賴于在信息層33中形成的磁道的凹槽的深度或在信息層33上形成的凹坑(pit)的深度。
例如，信息層33具有一個(gè)其中形成螺旋凹槽的中凹部分(下文中，稱為“凹槽部分”)和一個(gè)在中凹部分之間的凸出部分(下文中，稱為“凸區(qū)部分”)。由凹槽部分反射的光束的光路徑長度比由凸區(qū)部分反射的光束的光路徑長度長凹槽深度的兩倍。因此，由凹槽部分反射的光束的波形和由凸區(qū)部分反射的光束的波形具有對應(yīng)于凹槽深度的兩倍的長度的相位差。
圖15是顯示在信息層33中形成的磁道的凹槽的深度和從由信息層33反射的光束轉(zhuǎn)換的跟蹤信號的強(qiáng)度之間的關(guān)系的圖。橫軸代表在信息層33中提供的凹槽部分的深度，λ代表被光學(xué)拾取器1指向信息層33(或者，光學(xué)拾取器1用來照射信息層33)的光束的波長?？v軸代表由在光學(xué)拾取器1中提供的光電檢測器檢測的跟蹤信號的強(qiáng)度。
當(dāng)盤31的信息層33中提供的凹槽部分的深度是λ/4時(shí)，由凹槽部分反射的光束的光路徑長度比由凸區(qū)部分反射的光束的光路徑長度長了λ/2，是凹槽深度、即λ/4的兩倍。因此，由凹槽部分反射的光束的波形和由凸區(qū)部分反射的光束的波形具有對應(yīng)于兩倍于凹槽深度的λ/2的π/2的相位差。因此，由凹槽部分反射的光束的波形和由凸區(qū)部分反射的光束的波形彼此抵消。結(jié)果，由在光學(xué)拾取器1中提供的光電檢測器檢測的跟蹤信號的強(qiáng)度是如圖15中所示的最小值。
當(dāng)凹槽的深度是λ/8時(shí)，由凹槽部分反射的光束的光路徑長度比由凸區(qū)部分反射的光束的光路徑長度長了λ/4，是凹槽深度即λ/8的兩倍。因此，產(chǎn)生了對應(yīng)于兩倍于凹槽深度的λ/4的π/4的相位差。在這一點(diǎn)，由在光學(xué)拾取器1中提供的光電檢測器檢測的跟蹤信號的強(qiáng)度是如圖15中所示的最大值。當(dāng)凹槽的深度是λ/8到λ/6時(shí)，跟蹤信號的強(qiáng)度沒有比當(dāng)凹槽深度是λ/8時(shí)獲得的最大強(qiáng)度顯著地減小。這就是在作為可用于信息記錄和再現(xiàn)的可記錄盤的DVD-R盤中提供的凹槽部分的深度被設(shè)置為等于或大于λ/8和等于或小于λ/6的原因。
當(dāng)光學(xué)拾取器1的用于把光束聚集到信息層33上的物鏡的光軸的中央從光電檢測器中提供的兩個(gè)光接收部分之間的邊界漂移時(shí)(此后，這個(gè)漂移被稱為“透鏡光軸漂移”)，由兩個(gè)光接收部分中的其中一個(gè)接收的光束的強(qiáng)度高于由兩個(gè)光接收部分中的另外一個(gè)接收的光束的強(qiáng)度。結(jié)果，DC偏移被疊加在由跟蹤誤差檢測電路11檢測的跟蹤誤差信號上。
圖16顯示了光束的光軸的中央和在光學(xué)檢測器中提供的兩個(gè)光接收部分之間的位置關(guān)系。在光學(xué)拾取器1(圖14)中提供的光電檢測器10中，兩個(gè)光接收部分a和b被定位為使其互相接觸，并使其相對于在信息層33上形成的磁道的中央位置對稱。在光學(xué)拾取器1(圖14)中提供的物鏡5被定位為使得其光軸中央A與光接收部分a和b之間的邊界相匹配。
當(dāng)物鏡5沿盤31的徑向從實(shí)線表示的位置向虛線表示的位置漂移時(shí)，物鏡5的光軸中央A朝著光接收部分b漂移了距離d到達(dá)光軸中央B。因此，在被盤31的信息層33反射和衍射之后入射在光電檢測器10上的光束的光軸的中央朝著光接收部分b漂移了距離d。結(jié)果，入射在光電檢測器10中提供的光接收部分a上的光束的光的總量小于入射在光接收部分b上的光束的光的總量。這樣，入射到光接收部分a上的光的總量和入射在光接收部分b上的光的總量變得不平衡。
如上所述，依據(jù)推挽系統(tǒng)，分別由兩個(gè)光接收部分接收的光束之間在光強(qiáng)上的差別被檢測作為跟蹤誤差信號。因此，當(dāng)入射在兩個(gè)光接收部分上的光的總量由于入射在光電檢測器10上的光束的光軸的中央的漂移而變得不平衡時(shí)，DC偏移被疊加在跟蹤誤差信號上。在可記錄盤例如DVD-R盤或類似的盤上，凹槽的深度被設(shè)置為等于或大于λ/8并且等于或小于λ/6，使得跟蹤信號的強(qiáng)度沒有顯著地減小。因此，疊加在跟蹤誤差信號上的DC偏移量在可記錄盤中增加了。
當(dāng)如上所述DC偏移被疊加在跟蹤誤差信號上時(shí)，甚至在基于跟蹤誤差信號來控制光束以使得在光束被指向的信息層33上的位置與磁道的中央相匹配時(shí)，光束被指向的信息層33上的實(shí)際位置也從磁道的中央漂移。因此，用于補(bǔ)償疊加在跟蹤誤差信號上的DC偏移的系統(tǒng)已經(jīng)被提出。
圖17是顯示具有補(bǔ)償DC偏移的功能的常規(guī)跟蹤控制的原理的方框圖。與前面相對于圖14討論的相同的單元具有相同的標(biāo)號，這里省略其詳細(xì)說明。圖17所示的設(shè)備與上面參考圖14所述的記錄和再現(xiàn)設(shè)備的不同之處在于，圖17所示的設(shè)備還包括一個(gè)光軸漂移量估計(jì)電路14、一個(gè)乘法電路15和一個(gè)開關(guān)電路SW1。
光軸漂移量估計(jì)電路14基于由跟蹤控制電路13產(chǎn)生的跟蹤驅(qū)動(dòng)信號，產(chǎn)生一個(gè)代表光軸漂移量估計(jì)值的信號，該估計(jì)值是透鏡光軸漂移量的一個(gè)估計(jì)值。然后，光軸漂移量估計(jì)電路14把所產(chǎn)生的信號輸出到乘法電路15。乘法電路15用補(bǔ)償增益與從光軸漂移量估計(jì)電路14輸出的代表光軸漂移量估計(jì)值的信號相乘，然后把所得的代表DC偏移估計(jì)量的信號輸出到開關(guān)電路SW1。當(dāng)開關(guān)電路SW1被打開時(shí)，從乘法電路15輸出的代表DC偏移估計(jì)量的信號被加到由跟蹤誤差檢測電路11檢測的跟蹤誤差信號上。由代表DC偏移估計(jì)量的信號補(bǔ)償疊加在跟蹤誤差信號上的DC偏移。當(dāng)開關(guān)電路SW1被關(guān)閉時(shí)，代表DC偏移估計(jì)量的信號不疊加在跟蹤誤差信號上。這樣，開關(guān)電路SW1被構(gòu)造為使其能夠基于DC偏移估計(jì)量打開或關(guān)閉一個(gè)負(fù)反饋。
基于一個(gè)疊加在跟蹤誤差信號上的測量的DC偏移，確定補(bǔ)償增益，用乘法電路15將其與代表光軸漂移量估計(jì)值的信號相乘。下文中，將描述用于測量用于確定補(bǔ)償增益的DC偏移的方法和基于所測量的DC偏移確定補(bǔ)償增益的方法。
圖18顯示了常規(guī)的記錄和再現(xiàn)設(shè)備90的結(jié)構(gòu)。與前面相對于圖17討論的記錄和再現(xiàn)設(shè)備相同的單元具有相同的標(biāo)號，這里省略其詳細(xì)說明。記錄和再現(xiàn)設(shè)備90包括一個(gè)光學(xué)拾取器1。
光學(xué)拾取器1被置于運(yùn)輸裝置2上。其上放置了光學(xué)拾取器1的運(yùn)輸裝置2基于來自系統(tǒng)控制器17的指令沿信息介質(zhì)31的徑向運(yùn)送光學(xué)拾取器1。這樣，光學(xué)拾取器1由運(yùn)輸裝置2運(yùn)輸，這樣沿信息介質(zhì)31的徑向移動(dòng)到任意的位置，光學(xué)拾取器1可以在此操作來在信息層33上記錄信息或從信息層33再現(xiàn)信息。
光學(xué)拾取器1具有一個(gè)光源7。光源7由一個(gè)紅的半導(dǎo)體激光器形成。光源7振蕩一個(gè)具有650納米(nm)波長的光束并且向準(zhǔn)直透鏡8發(fā)射光束。從光源7發(fā)射的光束(此后，也稱為“發(fā)射光”)通過準(zhǔn)直透鏡8轉(zhuǎn)換為平行光，穿過射束分裂器9，由物鏡5會(huì)聚，并被指向盤31的信息層33。
由信息層33反射的光束穿過物鏡5和射束分裂器9，入射在具有兩個(gè)光接收部分的光電檢測器10上。光電檢測器10把由兩個(gè)光接收部分分別接收的光束之間的光強(qiáng)的差值作為一個(gè)跟蹤信號輸出到跟蹤誤差檢測電路11。
光學(xué)拾取器1包括跟蹤激勵(lì)器6。基于來自跟蹤驅(qū)動(dòng)電路16的驅(qū)動(dòng)電流，跟蹤激勵(lì)器6沿信息介質(zhì)31的徑向相對于運(yùn)輸裝置2移動(dòng)物鏡5。
跟蹤誤差檢測電路11由上述推挽系統(tǒng)從由光電檢測器10輸出的跟蹤信號檢測跟蹤誤差信號，并把跟蹤誤差信號輸出到偏移測量電路3和偏移減法電路12。偏移減法電路12從由跟蹤誤差檢測電路11檢測的跟蹤誤差信號減去代表DC偏移估計(jì)量的信號，并把生成的補(bǔ)償?shù)母櫿`差信號輸出到跟蹤控制電路13。DC偏移估計(jì)量將在后面詳細(xì)描述。
基于從偏移減法電路12輸出的補(bǔ)償?shù)母櫿`差信號，跟蹤控制電路13產(chǎn)生一個(gè)用于實(shí)現(xiàn)相位補(bǔ)償以使聚集到信息層33上的光束的位置跟蹤一個(gè)代表在信息層33上形成的磁道的中央位置的控制目標(biāo)位置的跟蹤驅(qū)動(dòng)信號。然后，跟蹤控制電路13把跟蹤驅(qū)動(dòng)信號輸出到開關(guān)電路SW2。
響應(yīng)系統(tǒng)控制器17的指令，開關(guān)電路SW2選擇從跟蹤控制電路13輸出的跟蹤驅(qū)動(dòng)信號或者從透鏡漂移驅(qū)動(dòng)電路18輸出的透鏡漂移驅(qū)動(dòng)信號，并把所選擇的信號輸出到跟蹤驅(qū)動(dòng)電路16。為了通過跟蹤控制使聚集到信息層33上的光束的位置跟蹤代表在信息層33上形成的磁道的中央位置的控制目標(biāo)位置，開關(guān)電路SW2選擇從跟蹤控制電路13輸出的跟蹤驅(qū)動(dòng)信號，并將該跟蹤驅(qū)動(dòng)信號輸出到跟蹤驅(qū)動(dòng)電路16。為了測量用于確定補(bǔ)償增益的DC偏移，或?yàn)榱擞蛇\(yùn)輸裝置2把光學(xué)拾取器1沿信息介質(zhì)31的徑向運(yùn)輸?shù)饺我馕恢?，開關(guān)電路SW2選擇從透鏡漂移驅(qū)動(dòng)電路18輸出的透鏡漂移驅(qū)動(dòng)信號，并將該透鏡漂移驅(qū)動(dòng)信號輸出到跟蹤驅(qū)動(dòng)電路16。從透鏡漂移驅(qū)動(dòng)電路18輸出的透鏡漂移驅(qū)動(dòng)信號將在下面參照圖21A描述。
依據(jù)由開關(guān)電路SW2輸出的跟蹤驅(qū)動(dòng)信號或透鏡漂移驅(qū)動(dòng)信號，跟蹤驅(qū)動(dòng)電路16把用于移動(dòng)物鏡5的驅(qū)動(dòng)電流輸出到跟蹤激勵(lì)器6?；趤碜愿欜?qū)動(dòng)電路16的驅(qū)動(dòng)電流，跟蹤激勵(lì)器6相對于運(yùn)輸裝置2沿信息介質(zhì)31的徑向移動(dòng)物鏡5。
接著，將詳細(xì)描述DC偏移估計(jì)量。DC偏移估計(jì)量是當(dāng)透鏡光軸漂移出現(xiàn)在物鏡5時(shí)疊加在跟蹤誤差信號上的DC偏移的一個(gè)估計(jì)值。DC偏移估計(jì)量將如下獲得。
偏移測量電路3檢測由跟蹤誤差檢測電路11檢測的跟蹤誤差信號的最大值和最小值。偏移測量電路3計(jì)算所檢測的最大和最小值之間的差值，以便測量疊加在跟蹤誤差信號上的DC偏移。然后，偏移測量電路3把DC偏移輸出到補(bǔ)償增益確定電路4?；谟善茰y量電路3測量的DC偏移，補(bǔ)償增益確定電路4確定補(bǔ)償增益并將該補(bǔ)償增益輸出到乘法電路15。
跟蹤控制電路13把跟蹤驅(qū)動(dòng)信號的低頻分量作為跟蹤校正信號輸出到光軸漂移量估計(jì)電路14。光軸漂移量估計(jì)電路14具有與物鏡5的動(dòng)態(tài)特性相同的動(dòng)態(tài)特性，根據(jù)來自跟蹤激勵(lì)器6的輸出來運(yùn)行?；趶母櫩刂齐娐?3輸出的跟蹤校正信號，光軸漂移量估計(jì)電路14產(chǎn)生一個(gè)代表光軸漂移估計(jì)值的信號，它指示一個(gè)大致等于由跟蹤激勵(lì)器6驅(qū)動(dòng)的物鏡5的透鏡光軸漂移引起的位移的位移。然后，光軸漂移量估計(jì)電路14將所產(chǎn)生的信號輸出到乘法電路15。
乘法電路15把由補(bǔ)償增益確定電路4確定的補(bǔ)償增益和由光軸漂移量估計(jì)電路14產(chǎn)生的代表光軸漂移估計(jì)值的信號相乘。然后，乘法電路15把生成的代表DC偏移估計(jì)量的信號輸出到開關(guān)電路SW1。響應(yīng)系統(tǒng)控制器17的指令，開關(guān)電路SW1打開或關(guān)閉。當(dāng)開關(guān)電路SW1打開時(shí)，開關(guān)電路SW1為偏移減法電路12提供從乘法電路15輸出的代表DC偏移估計(jì)量的信號。
參照圖19和20，將描述用于測量DC偏移的常規(guī)方法。圖19顯示了常規(guī)偏移測量方法的原理，圖20是顯示常規(guī)偏移測量方法的原理的流程圖。在圖19中，在步驟91、93和95的每一個(gè)步驟中，未顯示置于運(yùn)輸裝置2上的面向光學(xué)拾取器1的盤31，但是光學(xué)拾取器1實(shí)際上面對盤31。
假設(shè)開關(guān)電路SW2選擇從透鏡漂移驅(qū)動(dòng)電路18輸出的透鏡漂移驅(qū)動(dòng)信號，并且該透鏡漂移驅(qū)動(dòng)信號被輸入到跟蹤驅(qū)動(dòng)電路16。
具有物鏡5的光學(xué)拾取器1被置于運(yùn)輸裝置2的中心位置上。具有物鏡5的光學(xué)拾取器1由跟蹤激勵(lì)器6相對于運(yùn)輸裝置2在盤31的一個(gè)徑向(例如，朝盤31的外圓周)上移動(dòng)了距離X1，跟蹤激勵(lì)器6根據(jù)透鏡漂移驅(qū)動(dòng)信號接收來自跟蹤驅(qū)動(dòng)電路16的驅(qū)動(dòng)信號。由在一個(gè)徑向上移動(dòng)了距離X1的光學(xué)拾取器1引導(dǎo)的并且被信息層33反射的光束被光學(xué)拾取器1中提供的光電檢測器10轉(zhuǎn)換成跟蹤信號。跟蹤誤差檢測電路11從光電檢測器10轉(zhuǎn)換的跟蹤信號檢測跟蹤誤差信號。偏移測量電路3基于由跟蹤誤差檢測電路11檢測的跟蹤誤差信號測量DC偏移(步驟91)。
接著，具有物鏡5的光學(xué)拾取器1被跟蹤激勵(lì)器6驅(qū)動(dòng)，使得在另一個(gè)徑向(例如，朝盤31的內(nèi)圓周)移動(dòng)了距離2×X1。光學(xué)拾取器1從在一個(gè)徑向上距離中心位置距離X1遠(yuǎn)的位置移動(dòng)到在另一個(gè)徑向上距離中心位置距離X1遠(yuǎn)的位置。以上述方式，基于由在另一個(gè)徑向上移動(dòng)了2×距離X1的光學(xué)拾取器1引導(dǎo)的并被信息層33反射的光束來測量DC偏移(步驟93)。然后，具有物鏡5的光學(xué)拾取器1被移動(dòng)到中心位置(步驟95)。如上所述，在運(yùn)輸裝置2上用于測量DC偏移的光學(xué)拾取器1的兩個(gè)位置是關(guān)于中心位置對稱的。
參照圖21A到21C和22，將描述基于測量的DC偏移確定補(bǔ)償增益的方法。圖21A是顯示依據(jù)常規(guī)方法的透鏡漂移驅(qū)動(dòng)信號和時(shí)間之間的關(guān)系的圖。圖21B是顯示依據(jù)常規(guī)方法的物鏡5的位置和時(shí)間之間的關(guān)系的圖。圖21C是顯示依據(jù)常規(guī)方法的跟蹤誤差信號和時(shí)間之間的關(guān)系的圖。圖22是顯示常規(guī)偏移測量方法的過程的流程圖。與前面相對于圖20討論的流程圖相同的單元具有相同的標(biāo)號，這里省略其詳細(xì)說明。
由光學(xué)拾取器1引導(dǎo)的光束被定位于在盤31的信息層33上提供的磁道上。假設(shè)光學(xué)檢測器10處于能夠接收由信息層33反射的光束并且將該光束轉(zhuǎn)換為跟蹤信號的狀態(tài)。
首先，如圖21A所示，響應(yīng)系統(tǒng)控制器17的指令，透鏡漂移驅(qū)動(dòng)電路18通過開關(guān)電路SW2向跟蹤驅(qū)動(dòng)電路16輸出一個(gè)透鏡漂移驅(qū)動(dòng)信號，用于將在光學(xué)拾取器1中的提供的物鏡5沿一個(gè)徑向以恒定速度移動(dòng)距離X1?；趶耐哥R漂移驅(qū)動(dòng)電路18輸出的透鏡漂移驅(qū)動(dòng)信號，跟蹤驅(qū)動(dòng)電路16輸出一個(gè)用于驅(qū)動(dòng)跟蹤激勵(lì)器6的驅(qū)動(dòng)電流。如圖21B所示，根據(jù)從跟蹤驅(qū)動(dòng)電路16輸出的驅(qū)動(dòng)電流，跟蹤激勵(lì)器6將物鏡5從運(yùn)輸裝置2上的中心位置沿一個(gè)徑向以恒定速度移動(dòng)距離X1(步驟91)。
當(dāng)如上所述將物鏡5從運(yùn)輸裝置2上的中心位置沿一個(gè)徑向移動(dòng)距離X1時(shí)，將由透鏡光軸漂移引起的DC偏移OS11疊加在由跟蹤誤差檢測電路11檢測出的如圖21C所示的跟蹤誤差信號上。偏移測量電路3測量由跟蹤誤差檢測電路11檢測出的跟蹤誤差信號的最大值和最小值，并根據(jù)測量出的最大值和最小值獲得DC偏移OS11(步驟92)。
接著，如圖21A所示，透鏡漂移驅(qū)動(dòng)電路18通過開關(guān)電路SW2向跟蹤驅(qū)動(dòng)電路16輸出一個(gè)透鏡漂移驅(qū)動(dòng)信號，用于將物鏡5沿另一個(gè)徑向以恒定速度移動(dòng)2×距離X1?；谕哥R漂移驅(qū)動(dòng)信號，跟蹤驅(qū)動(dòng)電路16輸出一個(gè)用于驅(qū)動(dòng)跟蹤激勵(lì)器6的驅(qū)動(dòng)電流。如圖21B所示，根據(jù)從跟蹤驅(qū)動(dòng)電路16輸出的驅(qū)動(dòng)電流，跟蹤激勵(lì)器6將物鏡5沿另一個(gè)徑向以恒定速度移動(dòng)到在另一個(gè)徑向距離運(yùn)輸裝置2上的中心位置為距離X1的位置上(步驟93)。
當(dāng)如上所述將物鏡5沿另一個(gè)徑向移動(dòng)到在距離運(yùn)輸裝置2上的中心位置為距離X1的位置上時(shí)，將具有與DC偏移OS11相反的特性的DC偏移OS12疊加在由跟蹤誤差檢測電路11檢測出的如圖21C所示的跟蹤誤差信號上。偏移測量電路3測量由跟蹤誤差檢測電路11檢測出的跟蹤誤差信號的最大值和最小值，并根據(jù)測量出的最大值和最小值獲得DC偏移OS12(步驟94)。
然后，如圖21A所示，透鏡漂移驅(qū)動(dòng)電路18通過開關(guān)電路SW2向跟蹤驅(qū)動(dòng)電路16輸出一個(gè)透鏡漂移驅(qū)動(dòng)信號，用于將物鏡5沿一個(gè)徑向以恒定速度移動(dòng)到執(zhí)行步驟91之前的初始位置。基于透鏡漂移驅(qū)動(dòng)信號，跟蹤驅(qū)動(dòng)電路16輸出一個(gè)用于驅(qū)動(dòng)跟蹤激勵(lì)器6的驅(qū)動(dòng)電流。如圖21B所示，根據(jù)從跟蹤驅(qū)動(dòng)電路16輸出的驅(qū)動(dòng)電流，跟蹤激勵(lì)器6將物鏡5移動(dòng)到初始位置(步驟95)。
補(bǔ)償增益確定電路4根據(jù)在步驟92測量的DC偏移OS11、在步驟94測量的DC偏移OS12、物鏡5在步驟93中移動(dòng)的距離2×X1以及下面所示的表達(dá)式(1)確定一個(gè)補(bǔ)償增益(步驟96)。
補(bǔ)償增益＝{OS11+OS12}/{X1+X1}……式(1)然后，響應(yīng)系統(tǒng)控制器17的指令，開關(guān)電路SW2選擇從跟蹤控制電路13輸出的跟蹤驅(qū)動(dòng)信號，并將跟蹤驅(qū)動(dòng)信號輸出到跟蹤驅(qū)動(dòng)電路16。根據(jù)跟蹤驅(qū)動(dòng)信號，跟蹤驅(qū)動(dòng)電路16輸出一個(gè)用于驅(qū)動(dòng)跟蹤激勵(lì)器6的驅(qū)動(dòng)電流。根據(jù)從跟蹤驅(qū)動(dòng)電路16輸出的驅(qū)動(dòng)電流，跟蹤激勵(lì)器6驅(qū)動(dòng)物鏡5。其結(jié)果是，由物鏡5會(huì)聚并指向盤31的信息層33的光束被定位在信息層33上提供的磁道的中央附近。
接著，通過系統(tǒng)控制器17的指令，開關(guān)電路SW1打開，將從乘法電路15輸出的代表DC偏移估計(jì)量的信號輸入到偏移減法電路12。偏移減法電路12從跟蹤誤差信號減去代表DC偏移估計(jì)量的信號，并將生成的補(bǔ)償?shù)母櫺盘栞敵龅礁櫩刂齐娐?3。其結(jié)果是，跟蹤控制中的控制目標(biāo)值變成一個(gè)通過減去疊加在跟蹤誤差信號上的DC偏移而獲得的校正值。因此，由物鏡5會(huì)聚并指向信息層33的光束被定位在信息層33上提供的磁道的大致中央。
因此，甚至在由于某些原因使得物鏡5出現(xiàn)透鏡光軸漂移并且因此在跟蹤誤差信號上疊加一個(gè)DC偏移時(shí)，只要開關(guān)電路SW1關(guān)閉，由物鏡5會(huì)聚并指向盤31的信息層33的光束也可以被定位在信息層33上提供的磁道的大致中央。因此，可以穩(wěn)定地執(zhí)行信息信號在信息層33上的記錄或信息信號從信息層33的再現(xiàn)。
然而，上述用于測量DC偏移的常規(guī)方法具有下列問題。如圖19所示，出于在步驟91第一次測量DC偏移的目的而將光束從光學(xué)拾取器1發(fā)出后指向信息層33上的位置不同于出于在步驟93第二次測量DC偏移的目的而將光束從光學(xué)拾取器1發(fā)出后指向信息層33上的位置。因此，當(dāng)信息層33在這兩個(gè)不同的位置具有不同的反射特性或不同的傳輸特性時(shí)，則不能以高精度測量出DC偏移。
例如，當(dāng)信息層33在出于在步驟91第一次測量DC偏移的目的而將光束從光學(xué)拾取器1發(fā)出后指向信息層33上的位置或出于在步驟93第二次測量DC偏移的目的而將光束從光學(xué)拾取器1發(fā)出后指向信息層33上的位置上具有污物、灰塵或不可恢復(fù)的缺陷(此后，稱為“缺陷”)時(shí)，在具有缺陷的位置反射的光束受到缺陷的影響以及透鏡光軸漂移的影響而波動(dòng)。因此，由透鏡光軸漂移的影響產(chǎn)生的除了DC偏移信號之外的信號被疊加在由跟蹤誤差檢測電路11檢測的跟蹤誤差信號上。其結(jié)果是，不能以高精度測量出DC偏移。
當(dāng)多個(gè)不同類型的盤可互換地用在一個(gè)普通記錄和再現(xiàn)設(shè)備中時(shí)還存在如下的另一個(gè)問題。直到記錄在安放在記錄和再現(xiàn)設(shè)備中的盤上的信息被再現(xiàn)，才能確定要用于信息記錄或再現(xiàn)的盤的區(qū)域是否是應(yīng)該用表示DC偏移估計(jì)量的信號補(bǔ)償DC偏移的區(qū)域。
用于解決這些問題的本發(fā)明的目的是提供一種用于以高精度測量疊加在由透鏡光軸漂移引起的跟蹤誤差信號上的DC偏移的偏移測量方法和一種記錄和再現(xiàn)設(shè)備。
本發(fā)明的另一個(gè)目的是提供一種用于確定盤上的應(yīng)該用表示DC偏移估計(jì)量的信號補(bǔ)償疊加在跟蹤誤差信號上的DC偏移的區(qū)域的偏移測量方法和一種記錄和再現(xiàn)設(shè)備。
運(yùn)輸裝置移動(dòng)步驟可以在第一光學(xué)拾取器驅(qū)動(dòng)步驟之前執(zhí)行。
偏移測量方法可以進(jìn)一步包括第二光學(xué)拾取器驅(qū)動(dòng)步驟，在第一偏移量測量步驟之前，將運(yùn)輸裝置上的光學(xué)拾取器沿徑向在第三方向驅(qū)動(dòng)第三距離。
第三方向可以與第一方向相同。
第三方向可以與第一方向相反。
第二光學(xué)拾取器驅(qū)動(dòng)步驟可以將光學(xué)拾取器從運(yùn)輸裝置上的中心位置驅(qū)動(dòng)第三距離。
信息介質(zhì)可以具有在其中形成的凹槽，光束指向該凹槽，光束可以具有波長λ，凹槽可以具有等于或大于λ/8以及等于或小于λ/6的深度。
信息信號可以用光熱轉(zhuǎn)換記錄在信息介質(zhì)上。
偏移測量方法可以進(jìn)一步包括補(bǔ)償增益確定步驟，基于由第一偏移量測量步驟測量的第一偏移量和第二偏移量測量步驟測量的第二偏移量確定代表光學(xué)拾取器相對于運(yùn)輸裝置的偏移特性的補(bǔ)償增益。
偏移測量方法可以進(jìn)一步包括根據(jù)由補(bǔ)償增益確定步驟確定的補(bǔ)償增益的值補(bǔ)償光學(xué)拾取器相對于運(yùn)輸裝置的偏移的步驟。
偏移測量方法可以進(jìn)一步包括第一跟蹤誤差信號檢測步驟，將光束沿徑向從光學(xué)拾取器指向信息介質(zhì)上的第三測量位置，從而基于在第三測量位置反射的光束由一個(gè)推挽系統(tǒng)檢測第一跟蹤誤差信號；第二跟蹤誤差信號檢測步驟，基于在第三檢測位置反射的光束由一個(gè)相差系統(tǒng)檢測第二跟蹤誤差信號；以及，基于由第一跟蹤誤差信號檢測步驟檢測的第一跟蹤誤差信號和由第二跟蹤誤差信號檢測步驟檢測的第二跟蹤誤差信號確定是否補(bǔ)償光學(xué)拾取器相對于運(yùn)輸裝置的偏移的步驟。
依據(jù)本發(fā)明的記錄和再現(xiàn)設(shè)備包括光學(xué)拾取器，放在運(yùn)輸裝置上以使其沿信息介質(zhì)的一個(gè)徑向被驅(qū)動(dòng)；偏移量測量裝置，用于基于從光學(xué)拾取器指向信息介質(zhì)上的第一測量位置并在第一測量位置反射的光束測量第一偏移量；控制裝置，在偏移量測量裝置測量出第一偏移量之后，將其上放置有光學(xué)拾取器的運(yùn)輸裝置沿徑向在第一方向移動(dòng)第一距離；以及，驅(qū)動(dòng)裝置，在偏移量測量裝置測量出第一偏移量之后，將運(yùn)輸裝置上的光學(xué)拾取器沿與第一方向相反的第二方向驅(qū)動(dòng)大致等于第一距離的第二距離。偏移量測量裝置基于在控制裝置將運(yùn)輸裝置沿第一方向移動(dòng)第一距離之后并且進(jìn)一步在驅(qū)動(dòng)裝置將光學(xué)拾取器沿第二方向驅(qū)動(dòng)第二距離之后從光學(xué)拾取器指向信息介質(zhì)上的第二測量位置并在第二測量位置反射的光束測量第二偏移量。這樣，實(shí)現(xiàn)了上述目的。
圖2顯示了依據(jù)第一個(gè)例子的偏移測量方法的原理。
圖3是顯示依據(jù)第一個(gè)例子的偏移測量方法的原理的流程圖。
圖4A是顯示依據(jù)第一個(gè)例子的透鏡漂移驅(qū)動(dòng)信號和時(shí)間的圖。
圖4B是顯示依據(jù)第一個(gè)例子的物鏡位置和時(shí)間的圖。
圖4C是顯示依據(jù)第一個(gè)例子的跟蹤誤差信號和時(shí)間的圖。
圖5是顯示依據(jù)第一個(gè)例子的偏移測量方法的過程的流程圖。
圖6A顯示了依據(jù)第一個(gè)例子的另一個(gè)偏移測量方法的原理。
圖6B是顯示依據(jù)第一個(gè)例子的另一個(gè)偏移測量方法的原理的流程圖。
圖7A顯示了依據(jù)第一個(gè)例子的又一個(gè)偏移測量方法的原理。
圖7B是顯示依據(jù)第一個(gè)例子的又一個(gè)偏移測量方法的原理的流程圖。
圖8A顯示了依據(jù)第一個(gè)例子的再一個(gè)偏移測量方法的原理。
圖8B是顯示依據(jù)第一個(gè)例子的再一個(gè)偏移測量方法的原理的流程圖。
圖9顯示了依據(jù)第二個(gè)例子的記錄和再現(xiàn)設(shè)備。
圖10A是顯示依據(jù)第二個(gè)例子的跟蹤誤差信號和時(shí)間的圖。
圖10B是顯示依據(jù)第二個(gè)例子的比較信號和時(shí)間的圖。
圖10C是顯示依據(jù)第二個(gè)例子的區(qū)域區(qū)別信號和時(shí)間的圖。
圖11A是顯示依據(jù)第二個(gè)例子的另一個(gè)跟蹤誤差信號和時(shí)間的圖。
圖11B是顯示依據(jù)第二個(gè)例子的另一個(gè)比較信號和時(shí)間的圖。
圖11C是顯示依據(jù)第二個(gè)例子的另一個(gè)區(qū)域區(qū)別信號和時(shí)間的圖。
圖12顯示了依據(jù)第三個(gè)例子的記錄和再現(xiàn)設(shè)備。
圖13A是顯示依據(jù)第三個(gè)例子的補(bǔ)償增益和時(shí)間的圖。
圖13B是顯示依據(jù)第三個(gè)例子的補(bǔ)償執(zhí)行區(qū)別信號和時(shí)間的圖。
圖14是顯示一個(gè)常規(guī)記錄和再現(xiàn)設(shè)備中的跟蹤控制的原理的方框圖。
圖15是顯示在磁道的凹槽深度與跟蹤誤差信號的強(qiáng)度之間的關(guān)系的圖。
圖16顯示了光束的中央位置和光接收部分之間的位置關(guān)系。
圖17是顯示具有偏移補(bǔ)償功能的常規(guī)跟蹤控制的原理的方框圖。
圖18顯示了一個(gè)常規(guī)記錄和再現(xiàn)設(shè)備的結(jié)構(gòu)。
圖19顯示了一個(gè)常規(guī)偏移測量方法的原理。
圖20是顯示常規(guī)偏移測量方法的原理的流程圖。
圖21A是顯示在常規(guī)技術(shù)中的透鏡漂移驅(qū)動(dòng)信號與時(shí)間之間的關(guān)系的圖。
圖21B是顯示在常規(guī)技術(shù)中的物鏡位置與時(shí)間之間的關(guān)系的圖。
圖21C是顯示在常規(guī)技術(shù)中的跟蹤誤差信號與時(shí)間之間的關(guān)系的圖。
圖22是顯示常規(guī)偏移測量方法的過程的流程圖。
實(shí)現(xiàn)發(fā)明的最佳方式依據(jù)本發(fā)明的記錄和再現(xiàn)設(shè)備測量疊加在從盤反射的光束檢測出的跟蹤誤差信號上的DC偏移。
(例子1)圖1顯示了依據(jù)第一個(gè)例子的記錄和再現(xiàn)設(shè)備50的結(jié)構(gòu)。記錄和再現(xiàn)設(shè)備50在其上記錄信息或記錄和再現(xiàn)設(shè)備50從其再現(xiàn)信息的盤31包括基底32。用于信息記錄和再現(xiàn)的信息層33在基底32上形成。信息通過光熱轉(zhuǎn)換記錄在信息層33上。記錄和再現(xiàn)設(shè)備50包括提供的使其面對在盤31中形成的信息層33的光學(xué)拾取器1。
光學(xué)拾取器1被置于運(yùn)輸裝置2上。其上放置有光學(xué)拾取器1的運(yùn)輸裝置2基于系統(tǒng)控制器17的指令沿信息介質(zhì)31的一個(gè)徑向運(yùn)輸光學(xué)拾取器1。這樣，光學(xué)拾取器1由運(yùn)輸裝置運(yùn)輸，并因而沿信息介質(zhì)31的徑向移動(dòng)到任意位置，在該位置，光學(xué)拾取器1可以將一個(gè)光束指向信息層33以便在信息層33上記錄信息或從信息層33再現(xiàn)信息。
光學(xué)拾取器1具有一個(gè)光源7。光源7由一個(gè)紅的半導(dǎo)體激光器形成。光源7振蕩一個(gè)具有650納米(nm)波長的光束并且向準(zhǔn)直透鏡8發(fā)射光束。從光源7發(fā)射的光束(此后，也稱為“發(fā)射光”)通過準(zhǔn)直透鏡8轉(zhuǎn)換為平行光，穿過射束分裂器9，由物鏡5會(huì)聚，并指向盤31的信息層33。
由信息層33反射的光束穿過物鏡5和射束分裂器9，入射在具有兩個(gè)光接收部分的光電檢測器10上。光電檢測器10把由兩個(gè)光接收部分分別接收的光束之間的光強(qiáng)的差值作為一個(gè)跟蹤信號輸出到跟蹤誤差檢測電路11。
光學(xué)拾取器1包括跟蹤激勵(lì)器6?；趤碜愿欜?qū)動(dòng)電路16的驅(qū)動(dòng)電流，跟蹤激勵(lì)器6沿信息介質(zhì)31的徑向相對于運(yùn)輸裝置2移動(dòng)物鏡5。
跟蹤誤差檢測電路11由上述推挽系統(tǒng)從由光電檢測器10輸出的跟蹤信號檢測疊加了DC偏移的跟蹤誤差信號，并把跟蹤誤差信號輸出到偏移測量電路3和偏移減法電路12。偏移減法電路12從由跟蹤誤差檢測電路11檢測的跟蹤誤差信號減去代表DC偏移估計(jì)量的信號，并把生成的補(bǔ)償?shù)母櫿`差信號輸出到跟蹤控制電路13。代表DC偏移估計(jì)量的信號將在后面詳細(xì)描述。
基于從偏移減法電路12輸出的補(bǔ)償?shù)母櫿`差信號，跟蹤控制電路13產(chǎn)生一個(gè)用于實(shí)現(xiàn)相位補(bǔ)償以使聚集到信息層33上的光束的位置跟蹤一個(gè)代表在信息層33上形成的磁道的中央位置的控制目標(biāo)位置的跟蹤驅(qū)動(dòng)信號。然后，跟蹤控制電路13把跟蹤驅(qū)動(dòng)信號輸出到開關(guān)電路SW2。
響應(yīng)來自系統(tǒng)控制器17的指令，開關(guān)電路SW2選擇從跟蹤控制電路13輸出的跟蹤驅(qū)動(dòng)信號或者從透鏡漂移驅(qū)動(dòng)電路18輸出的透鏡漂移驅(qū)動(dòng)信號，并把所選擇的信號輸出到跟蹤驅(qū)動(dòng)電路16。為了通過跟蹤控制使聚集到信息層33上的光束的位置跟蹤代表在信息層33上形成的磁道的中央位置的控制目標(biāo)位置，開關(guān)電路SW2選擇從跟蹤控制電路13輸出的跟蹤驅(qū)動(dòng)信號，并將該跟蹤驅(qū)動(dòng)信號輸出到跟蹤驅(qū)動(dòng)電路16。為了測量用于確定補(bǔ)償增益的DC偏移，或?yàn)榱擞蛇\(yùn)輸裝置2把光學(xué)拾取器1沿信息介質(zhì)31的徑向運(yùn)輸?shù)饺我馕恢?，開關(guān)電路SW2選擇從透鏡漂移驅(qū)動(dòng)電路18輸出的透鏡漂移驅(qū)動(dòng)信號，并將該透鏡漂移驅(qū)動(dòng)信號輸出到跟蹤驅(qū)動(dòng)電路16。
依據(jù)由開關(guān)電路SW2輸出的跟蹤驅(qū)動(dòng)信號或透鏡漂移驅(qū)動(dòng)信號，跟蹤驅(qū)動(dòng)電路16把用于移動(dòng)物鏡5的驅(qū)動(dòng)電流輸出到跟蹤激勵(lì)器6?；趤碜愿欜?qū)動(dòng)電路16的驅(qū)動(dòng)電流，跟蹤激勵(lì)器6相對于運(yùn)輸裝置2沿信息介質(zhì)31的徑向移動(dòng)物鏡5。
偏移測量電路3檢測由跟蹤誤差檢測電路11檢測的跟蹤誤差信號的最大值和最小值。偏移測量電路3計(jì)算所檢測的最大和最小值之間的差值，以便測量疊加在跟蹤誤差信號上的DC偏移。然后，偏移測量電路3把DC偏移輸出到補(bǔ)償增益確定電路4。基于由偏移測量電路3測量的DC偏移，補(bǔ)償增益確定電路4確定補(bǔ)償增益并將該補(bǔ)償增益輸出到乘法電路15。
跟蹤控制電路13把跟蹤驅(qū)動(dòng)信號的低頻分量作為跟蹤校正信號輸出到光軸漂移量估計(jì)電路14。光軸漂移量估計(jì)電路14具有與物鏡5的動(dòng)態(tài)特性相同的動(dòng)態(tài)特性，根據(jù)來自跟蹤激勵(lì)器6的輸出來運(yùn)行?；趶母櫩刂齐娐?3輸出的跟蹤校正信號，光軸漂移量估計(jì)電路14產(chǎn)生一個(gè)代表光軸漂移估計(jì)值的信號，它指示一個(gè)大致等于由跟蹤激勵(lì)器6驅(qū)動(dòng)的物鏡5的透鏡光軸漂移引起的位移的位移。然后，光軸漂移量估計(jì)電路14將所產(chǎn)生的信號輸出到乘法電路15。
乘法電路15把由補(bǔ)償增益確定電路4確定的補(bǔ)償增益和由光軸漂移量估計(jì)電路14產(chǎn)生的代表光軸漂移估計(jì)值的信號相乘。然后，乘法電路15把生成的代表DC偏移估計(jì)量的信號輸出到開關(guān)電路SW1。響應(yīng)系統(tǒng)控制器17的指令，開關(guān)電路SW1打開或關(guān)閉。當(dāng)開關(guān)電路SW1打開時(shí)，開關(guān)電路SW1為偏移減法電路12提供從乘法電路15輸出的代表DC偏移估計(jì)量的信號。
參照圖2和3，將描述依據(jù)第一個(gè)例子的具有上述結(jié)構(gòu)的記錄和再現(xiàn)設(shè)備50測量DC偏移的方法。圖2顯示了依據(jù)第一個(gè)例子的偏移測量方法的原理，圖3是顯示依據(jù)第一個(gè)例子的偏移測量方法的原理的流程圖。在圖2中，未顯示在步驟1到7的每一個(gè)步驟中面向置于運(yùn)輸裝置2上的光學(xué)拾取器1的盤31，但是光學(xué)拾取器1實(shí)際上面對盤31。假設(shè)開關(guān)電路SW2選擇從透鏡漂移驅(qū)動(dòng)電路18輸出的透鏡漂移驅(qū)動(dòng)信號，并且該透鏡漂移驅(qū)動(dòng)信號被輸入到跟蹤驅(qū)動(dòng)電路16。
具有物鏡5的光學(xué)拾取器1(圖1)被置于運(yùn)輸裝置2的中心位置上。具有物鏡5的光學(xué)拾取器1由跟蹤激勵(lì)器6相對于運(yùn)輸裝置2在盤31的一個(gè)徑向(例如，朝盤31的外圓周)上移動(dòng)了距離X1，跟蹤激勵(lì)器6根據(jù)透鏡漂移驅(qū)動(dòng)信號接收來自跟蹤驅(qū)動(dòng)電路16的驅(qū)動(dòng)信號(步驟1)。
在一個(gè)徑向上移動(dòng)了距離X1的光學(xué)拾取器1沿信息層33的徑向向第一測量位置引導(dǎo)光束。在光學(xué)拾取器1中提供的光電檢測器10(圖1)將在信息層33上的第一測量位置反射的光束轉(zhuǎn)換成跟蹤信號。跟蹤誤差檢測電路11從光電檢測器10轉(zhuǎn)換的跟蹤信號檢測跟蹤誤差信號。偏移測量電路3基于由跟蹤誤差檢測電路11檢測的跟蹤誤差信號測量DC偏移(步驟2)。
接著，將其上放置有光學(xué)拾取器1的運(yùn)輸裝置2沿盤31的一個(gè)徑向移動(dòng)距離Y1(步驟3)。將距離Y1設(shè)置為比步驟1中的光學(xué)拾取器1在運(yùn)輸裝置2上移動(dòng)的距離X1長。
然后，跟蹤激勵(lì)器6驅(qū)動(dòng)具有物鏡5的光學(xué)拾取器1，使其在運(yùn)輸裝置2上在另一個(gè)方向移動(dòng)距離(X1+X2)。光學(xué)拾取器1從在一個(gè)徑向上距離運(yùn)輸裝置2的中心位置為距離X1的位置移動(dòng)到在另一個(gè)徑向(例如，朝盤3 1的內(nèi)圓周)上距離中心位置為距離X2的位置(步驟4)。
已經(jīng)在運(yùn)輸裝置2上沿另一個(gè)徑向移動(dòng)了距離(X1+X2)的光學(xué)拾取器1沿信息層33的徑向向第二測量位置引導(dǎo)光束。接著，基于在信息層33上的第二測量位置反射的光束，以在步驟2中所述的方式測量DC偏移OS2(步驟5)。
將在步驟3中其上放置有光學(xué)拾取器1的運(yùn)輸裝置2在一個(gè)徑向移動(dòng)的距離Y1設(shè)置為等于在步驟4中光學(xué)拾取器1在運(yùn)輸裝置2上在另一個(gè)徑向移動(dòng)的距離(X1+X2)。因此，在步驟2中由光學(xué)拾取器1將光束發(fā)射到的用于測量DC偏移的沿信息層33的徑向的第一測量位置與在步驟5中由光學(xué)拾取器1將光束發(fā)射到的沿信息層33的徑向的第二測量位置大致相同。
因此，步驟2的位置上的用于DC偏移的第一測量的信息層33的反射特性或傳輸特性與步驟5的位置上的用于DC偏移的第二測量的信息層33的反射特性或傳輸特性大致相同。結(jié)果，不會(huì)出現(xiàn)上述的信息層33在光束所指向的兩個(gè)不同位置具有不同的反射特性或不同的傳輸特性的問題。于是，可以以高精度測量由于透鏡光軸漂移而產(chǎn)生的疊加在跟蹤誤差信號上的DC偏移。
然后，將光學(xué)拾取器1相對于運(yùn)輸裝置2在一個(gè)徑向移動(dòng)距離X2，直至運(yùn)輸裝置2的中心位置(步驟6)。將其上放置有已經(jīng)移動(dòng)到運(yùn)輸裝置2的中心位置的光學(xué)拾取器1的運(yùn)輸裝置2在盤31的另一個(gè)徑向移動(dòng)距離Y1。于是，將光學(xué)拾取器1和運(yùn)輸裝置2移回初始位置(步驟7)。
參照圖4A至4C和圖5，描述用于基于測量出的DC偏移來確定補(bǔ)償增益的方法。圖4A是顯示依據(jù)第一個(gè)例子的透鏡漂移驅(qū)動(dòng)信號和時(shí)間之間的關(guān)系的圖。圖4B是顯示依據(jù)第一個(gè)例子的光學(xué)拾取器1的位置和時(shí)間之間的關(guān)系的圖。圖4C是顯示依據(jù)第一個(gè)例子的跟蹤誤差信號和時(shí)間之間的關(guān)系的圖。圖5是顯示依據(jù)第一個(gè)例子的用于基于測量出的DC偏移來確定補(bǔ)償增益的方法的過程的流程圖。與先前相對于圖3討論的用于顯示偏移測量方法的原理的流程圖中相同的單元具有相同的標(biāo)號，這里省略其詳細(xì)說明。由光學(xué)拾取器1引導(dǎo)的光束被定位在盤31的信息層33上的磁道上。假設(shè)在光學(xué)拾取器1中提供的光電檢測器10處于能夠接收由信息層33反射的光束并將光束轉(zhuǎn)換成一個(gè)跟蹤信號的狀態(tài)。
首先，如圖4A所示，響應(yīng)系統(tǒng)控制器17的指令，透鏡漂移驅(qū)動(dòng)電路18通過開關(guān)電路SW2向跟蹤驅(qū)動(dòng)電路16輸出一個(gè)透鏡漂移驅(qū)動(dòng)信號，用于將在光學(xué)拾取器1提供的物鏡5在一個(gè)徑向以恒定速度移動(dòng)距離X1?；趶耐哥R漂移驅(qū)動(dòng)電路18輸出的透鏡漂移驅(qū)動(dòng)信號，跟蹤驅(qū)動(dòng)電路16輸出一個(gè)用于驅(qū)動(dòng)跟蹤激勵(lì)器6的驅(qū)動(dòng)電流。如圖2和4B所示，根據(jù)從跟蹤驅(qū)動(dòng)電路16輸出的驅(qū)動(dòng)電流，跟蹤激勵(lì)器6將具有物鏡5的光學(xué)拾取器1從運(yùn)輸裝置2上的中心位置相對于運(yùn)輸裝置2在一個(gè)徑向以恒定速度移動(dòng)距離X1(步驟1)。
已經(jīng)從運(yùn)輸裝置2上的中心位置在一個(gè)徑向移動(dòng)了距離X1的光學(xué)拾取器1將光束沿信息層33的徑向指向第一測量位置。在光學(xué)拾取器1中提供的光電檢測器10將在第一測量位置反射的光束轉(zhuǎn)換成一個(gè)跟蹤信號。跟蹤誤差檢測電路11從跟蹤信號檢測出一個(gè)跟蹤誤差信號。在由跟蹤誤差檢測電路11檢測出的跟蹤誤差信號上，疊加由于如圖4C所示的透鏡光軸漂移而產(chǎn)生的DC偏移OS1。偏移測量電路3測量由跟蹤誤差檢測電路11檢測出的跟蹤誤差信號的最大值和最小值，并根據(jù)測量出的最大值和最小值獲得DC偏移OS1(步驟2)。
接著，將在步驟1中光學(xué)拾取器1在運(yùn)輸裝置2上移動(dòng)的距離X1和在步驟2中由偏移測量電路3測量的DC偏移OS1存儲(chǔ)在補(bǔ)償增益確定電路4中提供的存儲(chǔ)電路(未顯示)中(步驟2-1)。
然后，將其上放置有光學(xué)拾取器1的運(yùn)輸裝置2在盤31的一個(gè)徑向移動(dòng)距離Y1，其中距離Y1比距離X1長(步驟3)。如圖2和4B所示，由跟蹤激勵(lì)器6驅(qū)動(dòng)具有物鏡5的光學(xué)拾取器1，使其在運(yùn)輸裝置2上在另一個(gè)徑向移動(dòng)距離(X1+X2)。光學(xué)拾取器1從在一個(gè)徑向上距離運(yùn)輸裝置2的中心位置為距離X1的位置移動(dòng)到在另一個(gè)徑向上距離中心位置為距離X2的位置(步驟4)。
已經(jīng)在運(yùn)輸裝置2上沿另一個(gè)徑向移動(dòng)了距離(X1+X2)的光學(xué)拾取器1將光束指向信息層33上的第二測量位置，第二測量位置與第一測量位置大致相同。接著，基于在信息層33上的第二測量位置反射的光束，以在步驟2中所述的方式測量DC偏移OS2(步驟5)。
接著，將通過從距離(X1+X2)中減去距離X1而獲得的、在步驟4中光學(xué)拾取器1在運(yùn)輸裝置2上移動(dòng)的距離X2以及在步驟5中由偏移測量電路3測量的DC偏移OS2存儲(chǔ)在補(bǔ)償增益確定電路4中提供的存儲(chǔ)電路(未顯示)中(步驟5-1)。
然后，將具有物鏡5的光學(xué)拾取器1在一個(gè)徑向移動(dòng)距離X2，直至運(yùn)輸裝置2的中心位置(步驟6)。將其上放置有已經(jīng)移動(dòng)到運(yùn)輸裝置2的中心位置的光學(xué)拾取器1的運(yùn)輸裝置2在盤31的另一個(gè)徑向移動(dòng)距離Y1。于是，將光學(xué)拾取器1和運(yùn)輸裝置2移回初始位置(步驟7)。
補(bǔ)償增益確定電路4根據(jù)在步驟2-1中存儲(chǔ)在存儲(chǔ)電路(未顯示)中的光學(xué)拾取器1的移動(dòng)距離X1和DC偏移OS1、在步驟5-1中存儲(chǔ)在存儲(chǔ)電路(未顯示)中的光學(xué)拾取器1的移動(dòng)距離X2和DC偏移OS2以及下面所示的表達(dá)式(2)確定一個(gè)補(bǔ)償增益(步驟8)。
補(bǔ)償增益＝{OS1+OS2}/{X1+X2}……式(2)如上所述，依據(jù)本發(fā)明的偏移測量方法包括第一偏移量測量步驟(步驟2)，將光束從放置在運(yùn)輸裝置2上以便可沿盤31的徑向驅(qū)動(dòng)的光學(xué)拾取器指向沿信息介質(zhì)31的徑向的第一測量位置，從而根據(jù)在第一測量位置反射的光束測量DC偏移OS1；運(yùn)輸裝置移動(dòng)步驟(步驟3)，在第一偏移量測量步驟之后，將其上放置有光學(xué)拾取器1的運(yùn)輸裝置2在一個(gè)徑向移動(dòng)舉例Y1；第一光學(xué)拾取器驅(qū)動(dòng)步驟(步驟4)，在第一偏移量測量步驟之后，將光學(xué)拾取器在運(yùn)輸裝置2上沿另一徑向驅(qū)動(dòng)距離(X1+X2)；以及，第二偏移量測量步驟(步驟5-1)，在運(yùn)輸裝置移動(dòng)步驟(步驟3)和第一光學(xué)拾取器驅(qū)動(dòng)步驟(步驟4)之后，將光束從光學(xué)拾取器1指向沿盤31的徑向的第二測量位置，從而根據(jù)在第二測量位置反射的光束測量DC偏移OS2。距離(X1+X2)大致等于距離Y1。
因此，在步驟5中光束指向的第二測量位置大致等于在步驟2中光束指向的第一測量位置。因此，步驟2的位置上的第一DC偏移測量中光束所指向的信息層33的反射特性或傳輸特性與步驟5的位置上的第二DC偏移測量中光束所指向的信息層33的反射特性或傳輸特性大致相同。結(jié)果，不會(huì)出現(xiàn)上述的信息層33在光束所指向的兩個(gè)不同位置具有不同的反射特性或不同的傳輸特性的問題。于是，可以以高精度測量由于透鏡光軸漂移而產(chǎn)生的疊加在跟蹤誤差信號上的DC偏移。
在第一個(gè)例子中，距離(X1+X2)大致等于距離Y1。本發(fā)明并不限于這一點(diǎn)。距離(X1+X2)與距離Y1可以稍有不同，使得第二測量位置接近第一測量位置。其原因?qū)⒃谙旅孢M(jìn)行描述。當(dāng)在步驟5中第二次測量DC偏移所在的第二測量位置接近在步驟2中第一次測量DC偏移所在的第一測量位置時(shí)，用于第一和第二DC偏移測量的信息層33的反射特性或傳輸特性之間的差別顯著小于常規(guī)技術(shù)中的差別，在常規(guī)技術(shù)中，第二測量位置遠(yuǎn)離第一測量位置。因此，與常規(guī)技術(shù)相比，可以以高得多的精度測量由于透鏡光軸漂移而產(chǎn)生的疊加在跟蹤誤差信號上的DC偏移。
在第一個(gè)例子中，運(yùn)輸裝置移動(dòng)步驟(步驟3)在第一光學(xué)拾取器驅(qū)動(dòng)步驟(步驟4)之前執(zhí)行。本發(fā)明并不限于這一順序。運(yùn)輸裝置移動(dòng)步驟(步驟3)在第一光學(xué)拾取器驅(qū)動(dòng)步驟(步驟4)之后執(zhí)行。
出于下面的原因，距離(X1+X2)最好完全等于距離Y1。采用這種設(shè)置，步驟2的位置上的用于第一DC偏移測量的信息層33的反射特性或傳輸特性與步驟5的位置上的用于第DC偏移測量的信息層33的反射特性或傳輸特性完全相同。因此，在步驟5中光束所指向的第二測量位置與在步驟2中光束所指向的第一測量位置完全相同。
將在步驟3中運(yùn)輸裝置2移動(dòng)的距離Y1設(shè)置為比在步驟1中光學(xué)拾取器1在運(yùn)輸裝置2上移動(dòng)的距離X1長。因此，在步驟2中的第一DC偏移測量時(shí)相對于運(yùn)輸裝置2的中心位置向盤31的外圓周漂移的光學(xué)拾取器1在步驟5中的第DC偏移測量時(shí)相對于運(yùn)輸裝置2的中心位置向盤31的內(nèi)圓周漂移。
因此，在測量DC偏移時(shí)運(yùn)輸裝置2上的光學(xué)拾取器1的兩個(gè)位置覆蓋了包含中心位置的一個(gè)較大的區(qū)域。于是，可以更精確地測量代表相對于運(yùn)輸裝置2上的光學(xué)拾取器1的位置的DC偏移特性的透鏡漂移特性。
出于下面的原因，最好將距離X1設(shè)置為等于距離X2。采用這種設(shè)置，在步驟2中的第一DC測量時(shí)運(yùn)輸裝置2上的光學(xué)拾取器1的位置與在步驟5中的第二DC測量時(shí)運(yùn)輸裝置2上的光學(xué)拾取器1的位置是關(guān)于運(yùn)輸裝置2的中心位置對稱的。于是，可以提高測量出的透鏡漂移特性的可靠性。
圖6A顯示了依據(jù)第一個(gè)例子的另一個(gè)偏移測量方法的原理。圖6B是顯示圖6A所示方法的過程的流程圖。與前面相對于圖2和3討論的偏移測量方法中相同的單元具有相同的標(biāo)號，這里省略其詳細(xì)說明。與上述第一個(gè)例子中的偏移測量方法不同，在圖6A和6B所示的偏移測量方法中，距離Y1等于或小于距離X1(步驟3A)，并且，距離Y1大致等于距離X2(步驟4A)。
參照圖6A和6B，具有物鏡5的光學(xué)拾取器1被置于運(yùn)輸裝置2的中心位置。光學(xué)拾取器1由跟蹤激勵(lì)器6相對于運(yùn)輸裝置2在盤31的一個(gè)徑向移動(dòng)距離X1(步驟1)。
已經(jīng)在一個(gè)徑向移動(dòng)了距離X1的光學(xué)拾取器1將光束指向信息層33上的第一測量位置。在光學(xué)拾取器1中提供的光電檢測器10將在信息層33上的第一測量位置反射的光束轉(zhuǎn)換成一個(gè)跟蹤信號。跟蹤誤差檢測電路11從跟蹤信號檢測出一個(gè)跟蹤誤差信號。偏移測量電路3根據(jù)跟蹤誤差信號測量出DC偏移(步驟2)。
接著，將其上放置有光學(xué)拾取器1的運(yùn)輸裝置2在盤31的一個(gè)徑向移動(dòng)距離Y1。將距離Y1設(shè)置為等于或小于在步驟1中光學(xué)拾取器1在運(yùn)輸裝置2上移動(dòng)的距離X1(步驟3A)。
然后，由跟蹤激勵(lì)器6驅(qū)動(dòng)具有物鏡5的光學(xué)拾取器1，使其在運(yùn)輸裝置2上在另一個(gè)徑向從在一個(gè)徑向上距離運(yùn)輸裝置2的中心位置為距離X1的位置移動(dòng)距離X2。將距離X2設(shè)置為大致等于在步驟3A中運(yùn)輸裝置2在一個(gè)徑向移動(dòng)的距離Y1(步驟4A)。
已經(jīng)在運(yùn)輸裝置2上沿另一個(gè)徑向移動(dòng)了距離X2的光學(xué)拾取器1將光束指向信息層33上的第二測量位置。接著，基于在信息層33上的第二測量位置反射的光束，以在步驟2中所述的方式測量DC偏移OS2(步驟5)。
然后，將光學(xué)拾取器1相對于運(yùn)輸裝置2在另一個(gè)徑向移動(dòng)距離(X1-X2)，直至運(yùn)輸裝置2的中心位置(步驟6)。將其上放置有已經(jīng)移動(dòng)到運(yùn)輸裝置2的中心位置的光學(xué)拾取器1的運(yùn)輸裝置2在盤31的另一個(gè)徑向移動(dòng)距離Y1。于是，將光學(xué)拾取器1和運(yùn)輸裝置2移回初始位置(步驟7)。
如上所述，將在步驟4A中光學(xué)拾取器1在運(yùn)輸裝置2上在另一個(gè)徑向移動(dòng)的距離X2設(shè)置為大致等于在步驟3A中運(yùn)輸裝置2在一個(gè)徑向移動(dòng)的距離Y1。因此，與上述參考圖2的偏移測量方法類似，在用于測量DC偏移的步驟2中由光學(xué)拾取器1發(fā)出的光束所指向的沿信息層33的徑向的第一測量位置與在步驟5中由光學(xué)拾取器1發(fā)出的光束所指向的沿信息層33的徑向的第二測量位置大致相同。
因此，步驟2的位置上的用于DC偏移的第一測量的信息層33的反射特性或傳輸特性與步驟5的位置上的用于DC偏移的第二測量的信息層33的反射特性或傳輸特性大致相同。其結(jié)果是，可以以高精度測量由于透鏡光軸漂移而產(chǎn)生的疊加在跟蹤誤差信號上的DC偏移。
圖7A顯示了依據(jù)第一個(gè)例子的又一個(gè)偏移測量方法的原理。圖7B是顯示圖7A所示方法的過程的流程圖。與前面相對于圖2和3討論的偏移測量方法中相同的單元具有相同的標(biāo)號，這里省略其詳細(xì)說明。與上述偏移測量方法不同，在圖7A和7B所示的偏移測量方法中，運(yùn)輸裝置2在與所述一個(gè)徑向相反的另一個(gè)徑向移動(dòng)距離Y1(步驟3B)，光學(xué)拾取器1在運(yùn)輸裝置2上在與所述另一個(gè)方向相反的一個(gè)徑向移動(dòng)距離X2(步驟4B)。
參照圖7A和7B，具有物鏡5的光學(xué)拾取器1被置于運(yùn)輸裝置2的中心位置。光學(xué)拾取器1由跟蹤激勵(lì)器6相對于運(yùn)輸裝置2在盤31的一個(gè)徑向移動(dòng)距離X1(步驟1)。
已經(jīng)在一個(gè)徑向移動(dòng)了距離X1的光學(xué)拾取器1將光束指向信息層33上的第一測量位置。在光學(xué)拾取器1中提供的光電檢測器10將在第一測量位置反射的光束轉(zhuǎn)換成一個(gè)跟蹤信號。跟蹤誤差檢測電路11從跟蹤信號檢測出一個(gè)跟蹤誤差信號。偏移測量電路3根據(jù)跟蹤誤差信號測量出DC偏移(步驟2)。
接著，將其上放置有光學(xué)拾取器1的運(yùn)輸裝置2在盤31的與所述一個(gè)徑向相反的另一個(gè)徑向移動(dòng)距離Y1(步驟3B)。
然后，由跟蹤激勵(lì)器6驅(qū)動(dòng)具有物鏡5的光學(xué)拾取器1，使其在運(yùn)輸裝置2上在一個(gè)徑向從在一個(gè)徑向上距離運(yùn)輸裝置2的中心位置為距離X1的位置移動(dòng)距離X2。將距離X2設(shè)置為大致等于在步驟3B中運(yùn)輸裝置2在另一個(gè)徑向移動(dòng)的距離Y1(步驟4B)。
已經(jīng)在步驟4B在運(yùn)輸裝置2上沿一個(gè)徑向移動(dòng)了距離X2的光學(xué)拾取器1將光束指向信息層33上的第二測量位置。接著，基于在信息層33上的第二測量位置反射的光束，以在步驟2中所述的方式測量DC偏移OS2(步驟5)。
然后，將光學(xué)拾取器1相對于運(yùn)輸裝置2在另一個(gè)徑向移動(dòng)距離(X1+X2)，直至運(yùn)輸裝置2的中心位置(步驟6)。將其上放置有已經(jīng)移動(dòng)到運(yùn)輸裝置2的中心位置的光學(xué)拾取器1的運(yùn)輸裝置2在盤31的一個(gè)徑向移動(dòng)距離Y1。于是，將光學(xué)拾取器1和運(yùn)輸裝置2移回初始位置(步驟7)。
如上所述，將在步驟4B中光學(xué)拾取器1在運(yùn)輸裝置2上在一個(gè)徑向移動(dòng)的距離X2設(shè)置為大致等于在步驟3B中運(yùn)輸裝置2在另一個(gè)徑向移動(dòng)的距離Y1。因此，與上述參考圖2的偏移測量方法類似，在步驟2中由光學(xué)拾取器1發(fā)出的光束所指向的信息層33上的第一測量位置與在步驟5中由光學(xué)拾取器1發(fā)出的光束所指向的第二測量位置大致相同。
因此，步驟2的位置上的用于DC偏移的第一測量的信息層33的反射特性或傳輸特性與步驟5的位置上的用于DC偏移的第二測量的信息層33的反射特性或傳輸特性大致相同。其結(jié)果是，可以以高精度測量由于透鏡光軸漂移而產(chǎn)生的疊加在跟蹤誤差信號上的DC偏移。
圖8A顯示了依據(jù)第一個(gè)例子的再一個(gè)偏移測量方法的原理。圖8B是顯示圖8A所示方法的過程的流程圖。與前面相對于圖2和3討論的偏移測量方法中相同的單元具有相同的標(biāo)號，這里省略其詳細(xì)說明。與上述偏移測量方法不同，在圖8A和8B所示的偏移測量方法中，光學(xué)拾取器1從在一個(gè)徑向距離運(yùn)輸裝置2上的中心位置為距離X1的位置移動(dòng)到在另一個(gè)徑向距離中心位置最遠(yuǎn)的位置、即距離中心位置為距離X2max的界限位置(步驟4C)。
如上所述，在步驟4C中，光學(xué)拾取器1移到運(yùn)輸裝置2上距離中心位置最遠(yuǎn)的界限位置。因此，不需要控制光學(xué)拾取器1在步驟4C中移到的位置。這可以簡化用于控制運(yùn)輸裝置2上的光學(xué)拾取器1的位置的控制系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)。
在圖2和3所示的步驟1中，光學(xué)拾取器1可以移到在一個(gè)徑向距離中心位置最遠(yuǎn)的界限位置。在圖2和3所示的步驟4中，光學(xué)拾取器1可以移到在另一個(gè)徑向距離中心位置最遠(yuǎn)的界限位置。最好地，在步驟1中，將光學(xué)拾取器1移到在一個(gè)徑向距離中心位置最遠(yuǎn)的界限位置，然后，在步驟4中，將光學(xué)拾取器1移到在另一個(gè)徑向距離中心位置最遠(yuǎn)的界限位置。其原因如下。采用這種設(shè)置，用于測量DC偏移的光學(xué)拾取器1的兩個(gè)位置是關(guān)于中心位置對稱的。因此，可以提高測量出的透鏡漂移特性的可靠性。另外，可以簡化用于控制運(yùn)輸裝置2上的光學(xué)拾取器1的位置的控制系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)。
在圖6A和6B所示的步驟1中，光學(xué)拾取器1可以移到在一個(gè)徑向距離中心位置最遠(yuǎn)的界限位置。在圖7A和7B所示的步驟4中，光學(xué)拾取器1可以移到在另一個(gè)徑向距離中心位置最遠(yuǎn)的界限位置。
在第一個(gè)例子中，為了測量DC偏移，沿盤31的徑向移動(dòng)光學(xué)拾取器1。本發(fā)明并不限于這一點(diǎn)。本發(fā)明的技術(shù)思想在于使光束所指向的用于測量DC偏移的第一測量位置和第二測量位置彼此靠近。因此，本發(fā)明可應(yīng)用于一種通過沿盤的徑向傾斜在光學(xué)拾取器中提供的物鏡的光軸的中心來測量DC偏移的偏移測量方法。
(例子2)圖9顯示了依據(jù)本發(fā)明的第二個(gè)例子的記錄和再現(xiàn)設(shè)備60的結(jié)構(gòu)。與上面第一個(gè)例子中所述的記錄和再現(xiàn)設(shè)備50相同的單元具有相同的標(biāo)號，這里省略其詳細(xì)說明。與第一個(gè)例子中的記錄和再現(xiàn)設(shè)備50不同，記錄和再現(xiàn)設(shè)備60進(jìn)一步包括一個(gè)區(qū)域區(qū)別功能塊21，并且用一個(gè)跟蹤誤差檢測電路11A代替跟蹤誤差檢測電路11。
區(qū)域區(qū)別功能塊21包括一個(gè)基準(zhǔn)電壓源22。響應(yīng)系統(tǒng)控制器17的指令，基準(zhǔn)電壓源22選擇一個(gè)基準(zhǔn)電壓Vref1或Vref2并向比較器23輸出。比較器23將由跟蹤誤差檢測電路11A檢測的跟蹤誤差信號與從比較器23輸出的基準(zhǔn)電壓Vref1或Vref2進(jìn)行比較，并向一個(gè)區(qū)域檢測電路24輸出一個(gè)代表比較結(jié)果的信號。區(qū)域檢測電路24包括電阻R和電容C。區(qū)域檢測電路24基于從比較器23輸出的比較結(jié)果產(chǎn)生一個(gè)區(qū)域區(qū)別信號，并將該區(qū)域區(qū)別信號輸出到系統(tǒng)控制器17。
具有上述結(jié)構(gòu)的記錄和再現(xiàn)設(shè)備60的操作如下。響應(yīng)系統(tǒng)控制器17的一個(gè)指令，跟蹤誤差檢測電路11A作為一個(gè)用于從跟蹤信號檢測跟蹤誤差信號的系統(tǒng)選擇上述推挽系統(tǒng)或相差，并檢測跟蹤誤差信號。
下面將描述相差系統(tǒng)。根據(jù)相差系統(tǒng)，利用這樣一個(gè)現(xiàn)象來檢測跟蹤誤差信號，即，在光束的會(huì)聚點(diǎn)經(jīng)過盤上提供的一個(gè)磁道時(shí)，由盤反射的光束的強(qiáng)度圖形隨時(shí)間而變化。
當(dāng)光束的會(huì)聚點(diǎn)經(jīng)過記錄在磁道上的凹坑的中心、即磁道的中心時(shí)，在光學(xué)拾取器1中提供的光電檢測器的四個(gè)光檢測部分中的每一個(gè)的輸出改變其圖形，使得波形的左半邊和右半邊是彼此對稱的。四個(gè)光接收部分是光電檢測器的平均劃分部分。當(dāng)光束的會(huì)聚點(diǎn)經(jīng)過磁道的右半邊中的一點(diǎn)時(shí)，四個(gè)光檢測部分中的每一個(gè)的輸出改變其圖形，使其是逆時(shí)針旋轉(zhuǎn)的。當(dāng)光束的會(huì)聚點(diǎn)經(jīng)過磁道的左半邊中的一點(diǎn)時(shí)，四個(gè)光檢測部分中的每一個(gè)的輸出改變其圖形，使其是順時(shí)針旋轉(zhuǎn)的。隨著光束的會(huì)聚點(diǎn)距離磁道的中心越來越遠(yuǎn)，四個(gè)光檢測部分中的每一個(gè)的輸出的圖形的使其旋轉(zhuǎn)的這種變化變得更突出。
依據(jù)相差系統(tǒng)，將通過分別將光電檢測器的對角線上的兩個(gè)光檢測部分的輸出相加而獲得的兩個(gè)信號的相位相互進(jìn)行比較。根據(jù)一個(gè)相位相對于另一個(gè)相位的提前量或延遲量，檢測代表在光束的會(huì)聚點(diǎn)與磁道中心之間的位置漂移的跟蹤誤差信號。因此，利用相差系統(tǒng)，當(dāng)在以光束照射的盤上提供的信息層上沒有記錄凹坑時(shí)，則不能檢測出跟蹤誤差信號。
在包括可重寫盤和一次寫入類型盤的可記錄盤中，在信息層提供了凹槽狀的磁道。在只再現(xiàn)盤中，未提供凹槽狀磁道，信息是以凹坑形式記錄的，其中凹坑是通過改變本來平坦的信息層的形狀而形成的。在可記錄盤中，一次寫入類型盤將信息以凹坑的形式記錄在具有凹槽狀磁道的信息層中，其中凹坑是通過改變信息層的形狀形成的。在可記錄盤中，可重寫盤將信息以記錄標(biāo)志的形式記錄在具有凹槽狀磁道的信息層中，其中記錄標(biāo)志是通過改變形成信息層的化學(xué)元素的排列而形成的。
圖10A是顯示依據(jù)第二個(gè)例子的跟蹤誤差信號和時(shí)間之間的關(guān)系的圖。垂直軸代表由跟蹤誤差檢測電路11A以推挽系統(tǒng)檢測的跟蹤誤差信號，水平軸代表時(shí)間。
假設(shè)跟蹤誤差檢測電路11A響應(yīng)于系統(tǒng)控制器17的指令選擇推挽系統(tǒng)作為用于檢測跟蹤誤差信號的系統(tǒng)。在具有凹槽狀磁道的一次寫入類型盤中，信息是以通過改變信息層的形狀而形成的凹坑的形式記錄的。將光束指向一個(gè)具有以這種方式記錄的信息的區(qū)域，或指向一個(gè)沒有凹坑的區(qū)域，并且，跟蹤誤差檢測電路11A基于反射的光束以推挽系統(tǒng)檢測跟蹤誤差信號。以這種方式檢測的跟蹤誤差信號具有如圖10A中所示的區(qū)域B中的鋸齒波形。鋸齒狀跟蹤誤差信號的振幅依賴于盤的反射比、凹槽的結(jié)構(gòu)和凹坑的結(jié)構(gòu)。如圖10A所示，將基準(zhǔn)電壓源22輸出的基準(zhǔn)電壓Vref1設(shè)置為具有比鋸齒狀信號的振幅小的振幅。
在具有平坦信息層的只再現(xiàn)盤的情況下，信息是以通過改變信息層的形狀而形成的凹坑的形式記錄的。將光束指向一個(gè)具有以這種方式記錄的信息的區(qū)域，或指向一個(gè)沒有凹坑的區(qū)域，并且，跟蹤誤差檢測電路11A基于反射的光束以推挽系統(tǒng)檢測跟蹤誤差信號。以這種方式檢測的跟蹤誤差信號具有如圖10A中所示的區(qū)域A中的零電平振幅。
圖10B是顯示依據(jù)第二個(gè)例子的比較信號和時(shí)間之間的關(guān)系的圖?；谟筛櫿`差檢測電路11A檢測的跟蹤誤差信號(圖11A)和基準(zhǔn)電壓Vref1，比較器23產(chǎn)生一個(gè)比較信號。比較信號是作為對跟蹤誤差信號進(jìn)行電平限幅的結(jié)果而獲得的，其形式為區(qū)域B中的矩形脈沖流。比較器23將比較信號輸出到區(qū)域檢測電路24。
圖10C是顯示依據(jù)第二個(gè)例子的區(qū)域區(qū)別信號和時(shí)間之間的關(guān)系的圖。區(qū)域檢測電路24采用區(qū)域檢測電路24中包括的電阻R和電容C將比較器23輸出的如圖10B所示的比較信號變換成一個(gè)具有矩形脈沖的區(qū)域區(qū)別信號。然后，區(qū)域檢測電路24將矩形區(qū)域區(qū)別信號輸出到系統(tǒng)控制器17。
圖11A是顯示依據(jù)第二個(gè)例子的另一個(gè)跟蹤誤差信號和時(shí)間之間的關(guān)系的圖。垂直軸代表由跟蹤誤差檢測電路11A以相差系統(tǒng)檢測的跟蹤誤差信號，水平軸代表時(shí)間。假設(shè)跟蹤誤差檢測電路11A響應(yīng)于系統(tǒng)控制器17的指令選擇相差系統(tǒng)作為用于檢測跟蹤誤差信號的系統(tǒng)。
在具有凹槽狀磁道的一次寫入類型盤中，可以將光束指向一個(gè)不具有以通過改變信息層的形狀而形成的凹坑的形式記錄的信息的區(qū)域。在這種情況下，由跟蹤誤差檢測電路11A檢測的跟蹤誤差信號具有如圖11A中所示的區(qū)域C中的零電平振幅。在可重寫盤的情況下，可以將光束指向一個(gè)具有以記錄標(biāo)志的形式記錄的信息的區(qū)域或指向一個(gè)不具有以記錄標(biāo)志的形式記錄的信息的區(qū)域。在具有平坦信息層的只再現(xiàn)盤的情況下，可以將光束指向一個(gè)不具有以通過改變信息層的形狀而形成的凹坑的形式記錄的信息的區(qū)域。在所有這些情況下，所獲得的跟蹤誤差信號也具有如圖11A中所示的區(qū)域C中的零電平振幅。
在一次寫入類型盤的情況下，可以將光束指向一個(gè)具有以通過改變信息層的形狀而形成的凹坑的形式記錄的信息的區(qū)域。在只再現(xiàn)盤的情況下，可以將光束指向一個(gè)具有以通過改變信息層的形狀而形成的凹坑的形式記錄的信息的區(qū)域。在這些情況下，由跟蹤誤差檢測電路11A以相差系統(tǒng)檢測的跟蹤誤差信號具有如圖11A中所示的區(qū)域D中的鋸齒波形。如圖11A所示，將基準(zhǔn)電壓源22輸出的基準(zhǔn)電壓Vref2設(shè)置為具有比鋸齒狀信號的振幅小的振幅。
圖11B是顯示依據(jù)第二個(gè)例子的比較信號和時(shí)間之間的關(guān)系的圖。基于由跟蹤誤差檢測電路11A檢測的跟蹤誤差信號(圖11A)和基準(zhǔn)電壓Vref2，比較器23產(chǎn)生一個(gè)比較信號。比較信號是作為對跟蹤誤差信號進(jìn)行電平限幅的結(jié)果而獲得的，其形式為區(qū)域D中的矩形脈沖流。比較器23將比較信號輸出到區(qū)域檢測電路24。
圖11C是顯示依據(jù)第二個(gè)例子的區(qū)域區(qū)別信號和時(shí)間之間的關(guān)系的圖。區(qū)域檢測電路24采用區(qū)域檢測電路24中包括的電阻R和電容C將比較器23輸出的比較信號變換成一個(gè)具有矩形脈沖的區(qū)域區(qū)別信號。然后，區(qū)域檢測電路24將矩形區(qū)域區(qū)別信號輸出到系統(tǒng)控制器17。
下面描述記錄和再現(xiàn)設(shè)備60的操作。作為一個(gè)例子，將描述一個(gè)記錄操作。首先，響應(yīng)系統(tǒng)控制器的指令，跟蹤誤差檢測電路11A選擇相差系統(tǒng)作為用于檢測跟蹤誤差信號的系統(tǒng)。光學(xué)拾取器1用光束照射盤31的信息層33。跟蹤誤差檢測電路11A用相差系統(tǒng)檢測跟蹤誤差信號。比較器23基于由跟蹤誤差檢測電路11A以相差系統(tǒng)檢測出的跟蹤誤差信號和基準(zhǔn)電壓源22輸出的基準(zhǔn)電壓Vref2產(chǎn)生一個(gè)比較信號，并將比較信號輸出到區(qū)域檢測電路24。區(qū)域檢測電路24基于比較器23輸出的比較信號產(chǎn)生一個(gè)區(qū)域區(qū)別信號，并將區(qū)域區(qū)別信號輸出到系統(tǒng)控制器17。
接著，響應(yīng)系統(tǒng)控制器17的指令，跟蹤誤差檢測電路11A選擇推挽系統(tǒng)作為用于檢測跟蹤誤差信號的系統(tǒng)。光學(xué)拾取器1用光束照射盤31的信息層33。跟蹤誤差檢測電路11A用推挽系統(tǒng)檢測跟蹤誤差信號。比較器23基于由跟蹤誤差檢測電路11A以推挽系統(tǒng)檢測出的跟蹤誤差信號和基準(zhǔn)電壓源22輸出的基準(zhǔn)電壓Vref1產(chǎn)生一個(gè)比較信號，并將比較信號輸出到區(qū)域檢測電路24。區(qū)域檢測電路24基于比較器23輸出的比較信號產(chǎn)生一個(gè)區(qū)域區(qū)別信號，并將區(qū)域區(qū)別信號輸出到系統(tǒng)控制器17。
在(i)由相差系統(tǒng)檢測的跟蹤誤差信號具有代表圖11A到11C所示的區(qū)域C的零電平振幅，因此從區(qū)域檢測電路24輸出的區(qū)域區(qū)別信號具有零電平振幅，并且(ii)由推挽系統(tǒng)檢測的跟蹤誤差信號具有代表圖10A到10C所示的區(qū)域B的鋸齒波形，因此區(qū)域區(qū)別信號具有高電平振幅時(shí)，系統(tǒng)控制器17打開開關(guān)電路SW1。響應(yīng)系統(tǒng)控制器17的指令，開關(guān)電路SW1打開。將一個(gè)從乘法電路15輸出的代表DC偏移估計(jì)量的信號提供給偏移減法電路12。
偏移減法電路12從跟蹤誤差信號中減去代表DC偏移估計(jì)量的信號，并將所得的經(jīng)補(bǔ)償?shù)母櫿`差信號輸出到跟蹤控制電路13。響應(yīng)系統(tǒng)控制器17的指令，開關(guān)電路SW2選擇從跟蹤控制電路13輸出的跟蹤驅(qū)動(dòng)信號。通過開關(guān)電路SW2將跟蹤驅(qū)動(dòng)信號提供給跟蹤驅(qū)動(dòng)電路16?；诟欜?qū)動(dòng)信號，跟蹤驅(qū)動(dòng)電路16向在光學(xué)拾取器1中提供的跟蹤激勵(lì)器6輸出一個(gè)驅(qū)動(dòng)電流。跟蹤激勵(lì)器6基于驅(qū)動(dòng)電流控制在光學(xué)拾取器1中提供的物鏡5。
如上所述，可以在以高精度補(bǔ)償DC偏移的情況下將信息記錄在一次寫入類型盤上，而不需要再現(xiàn)所記錄的信息。
在上面，描述了記錄操作。在再現(xiàn)操作中可以以高精度補(bǔ)償DC偏移。在一次寫入類型盤、例如CD-R盤和DVD-R盤的再現(xiàn)操作的情況下，其實(shí)現(xiàn)如下。將光學(xué)拾取器1沿其徑向移動(dòng)，直到由相差系統(tǒng)檢測的跟蹤誤差信號獲得如圖11A中的區(qū)域D的鋸齒波形(具有以通過改變具有凹槽狀磁道的信息層的形狀而形成的凹坑形式記錄的信息的區(qū)域)。然后，將光束指向一個(gè)具有通過改變信息層的形狀而形成的凹坑的區(qū)域?；诜瓷涞墓馐?，由推挽系統(tǒng)檢測出跟蹤誤差信號。
在一次寫入類型盤的信息層上提供的磁道上形成的凹坑常常受到磁道邊緣上的變化的影響。可以采用不具有用于DC偏移的補(bǔ)償?shù)陌伎拥膮^(qū)域來消除磁道邊緣上的變化的這種影響。于是，可以提高DC偏移測量的精度。
在第二個(gè)例子中，首先選擇相差系統(tǒng)來檢測信息層的形狀是否已經(jīng)改變(是否有凹坑形成)。然后，選擇推挽系統(tǒng)來區(qū)別是在信息層中形成一個(gè)凹槽狀磁道還是形成一個(gè)平坦的信息層。本發(fā)明并不限于這一點(diǎn)?？梢允紫冗x擇推挽系統(tǒng)，然后可以選擇相差系統(tǒng)。
如上所述，在第二個(gè)例子中，在不再現(xiàn)記錄在信息層上的信息的情況下，可以確定要用于信息記錄或再現(xiàn)的區(qū)域是否是一個(gè)疊加在跟蹤誤差信號上的DC偏移應(yīng)該由一個(gè)代表DC偏移估計(jì)量的信號來補(bǔ)償?shù)膮^(qū)域。
(例子3)圖12顯示了依據(jù)本發(fā)明的第三個(gè)例子的記錄和再現(xiàn)設(shè)備70的結(jié)構(gòu)。與前面在第一個(gè)例子中所述的記錄和再現(xiàn)設(shè)備50相同的單元具有相同的標(biāo)號，這里省略其詳細(xì)說明。與第一個(gè)例子中的記錄和再現(xiàn)設(shè)備50不同，記錄和再現(xiàn)設(shè)備70進(jìn)一步包括一個(gè)DC偏移補(bǔ)償執(zhí)行區(qū)別功能塊25。
圖13A是顯示依據(jù)第三個(gè)例子的補(bǔ)償增益和時(shí)間之間的關(guān)系的圖。圖13B是顯示依據(jù)第三個(gè)例子的補(bǔ)償執(zhí)行區(qū)別信號和時(shí)間之間的關(guān)系的圖。DC偏移補(bǔ)償執(zhí)行區(qū)別功能塊25包括一個(gè)基準(zhǔn)電壓源22?；鶞?zhǔn)電壓源22響應(yīng)于系統(tǒng)控制器17的指令向比較器23輸出一個(gè)基準(zhǔn)電壓Vref3。由系統(tǒng)控制器17將基準(zhǔn)電壓Vref3設(shè)置為一個(gè)初始值、例如0mV。
如上面參考圖15所述的，當(dāng)在盤的磁道上形成的凹槽的深度為等于或大于λ/8以及等于或小于λ/6時(shí)，跟蹤信號的強(qiáng)度為高。因此，疊加在跟蹤誤差信號上的DC偏移較大。其結(jié)果是，如圖13A中的區(qū)域F所示，補(bǔ)償增益比基準(zhǔn)電壓Vref3大。當(dāng)凹槽深度超過λ/6時(shí)，跟蹤信號的強(qiáng)度降低。因此，疊加在跟蹤誤差信號上的DC偏移變得小得多。其結(jié)果是，如圖13A中的區(qū)域E所示，補(bǔ)償增益變得等于或小于基準(zhǔn)電壓Vref3。
比較器23基于從補(bǔ)償增益確定電路4輸出的代表補(bǔ)償增益的信號的電壓(圖13A)和從基準(zhǔn)電壓源22輸出的基準(zhǔn)電壓Vref3產(chǎn)生一個(gè)如圖13B所示的補(bǔ)償執(zhí)行區(qū)別信號。然后，比較器23將補(bǔ)償執(zhí)行區(qū)別信號輸出到系統(tǒng)控制器17。補(bǔ)償執(zhí)行區(qū)別信號在代表補(bǔ)償增益的信號的電壓大于基準(zhǔn)電壓Vref3的區(qū)域F具有高電平。補(bǔ)償執(zhí)行區(qū)別信號在代表補(bǔ)償增益的信號的電壓等于或小于基準(zhǔn)電壓Vref3的區(qū)域E具有低電平。
當(dāng)從比較器23輸出的補(bǔ)償執(zhí)行區(qū)別信號具有高電平時(shí)，系統(tǒng)控制器17打開開關(guān)電路SW1，而當(dāng)補(bǔ)償執(zhí)行區(qū)別信號具有低電平時(shí)，關(guān)閉開關(guān)電路SW1。
這樣，當(dāng)用于補(bǔ)償由于透鏡光軸漂移而產(chǎn)生的疊加在跟蹤誤差信號上的DC偏移的補(bǔ)償增益大于一個(gè)指定基準(zhǔn)電壓時(shí)，打開用于補(bǔ)償DC偏移的功能。當(dāng)補(bǔ)償增益等于或小于所指定的基準(zhǔn)電壓時(shí)，關(guān)閉用于補(bǔ)償DC偏移的功能。
如上所述，在第三個(gè)例子中，根據(jù)由補(bǔ)償增益確定電路4確定的補(bǔ)償增益的值打開或關(guān)閉用于補(bǔ)償DC偏移的功能。因此，可以只對需要補(bǔ)償DC偏移的區(qū)域執(zhí)行DC偏移補(bǔ)償。
因此，對于其中疊加在跟蹤誤差信號上的DC偏移較小因而不需要補(bǔ)償?shù)膮^(qū)域，可以簡化跟蹤控制的結(jié)構(gòu)。另外，可以防止在不需要補(bǔ)償?shù)膮^(qū)域進(jìn)行DC偏移補(bǔ)償所引起的跟蹤控制的不穩(wěn)定性。
工業(yè)實(shí)用性如上所述，本發(fā)明提供了一種以高精度測量由于透鏡光軸偏移而產(chǎn)生的疊加在跟蹤誤差信號上的DC偏移的偏移測量方法和記錄和再現(xiàn)設(shè)備。
本發(fā)明還提供了一種用于確定盤上的其中疊加在跟蹤誤差信號上的DC偏移應(yīng)該由一個(gè)代表DC偏移估計(jì)量的信號來補(bǔ)償?shù)膮^(qū)域的偏移測量方法和記錄和再現(xiàn)設(shè)備。
權(quán)利要求
1.一種偏移測量方法，用于在一個(gè)記錄和再現(xiàn)設(shè)備中基于由一個(gè)信息介質(zhì)反射的光束測量疊加在跟蹤誤差信號上的偏移，所述記錄和再現(xiàn)設(shè)備包括放在運(yùn)輸裝置上的光學(xué)拾取器以使其沿信息介質(zhì)的一個(gè)徑向被驅(qū)動(dòng)，所述方法包括第一偏移量測量步驟，將光束從光學(xué)拾取器指向信息介質(zhì)上的第一測量位置，從而基于在第一測量位置反射的光束測量第一偏移量；運(yùn)輸裝置移動(dòng)步驟，在第一偏移量測量步驟之后，將其上放置有光學(xué)拾取器的運(yùn)輸裝置沿徑向在第一方向移動(dòng)第一距離；第一光學(xué)拾取器驅(qū)動(dòng)步驟，將運(yùn)輸裝置上的光學(xué)拾取器沿與第一方向相反的第二方向驅(qū)動(dòng)大致等于第一距離的第二距離；以及第二偏移量測量步驟，在運(yùn)輸裝置移動(dòng)步驟和第一光學(xué)拾取器驅(qū)動(dòng)步驟之后，將光束從光學(xué)拾取器指向信息介質(zhì)上的第二測量位置，從而基于在第二測量位置反射的光束測量第二偏移量。
2.如權(quán)利要求1所述的偏移測量方法，其中，運(yùn)輸裝置移動(dòng)步驟在第一光學(xué)拾取器驅(qū)動(dòng)步驟之前執(zhí)行。
3.如權(quán)利要求1所述的偏移測量方法，進(jìn)一步包括在第一偏移量測量步驟之前的第二光學(xué)拾取器驅(qū)動(dòng)步驟，將運(yùn)輸裝置上的光學(xué)拾取器沿徑向在第三方向驅(qū)動(dòng)第三距離。
4.如權(quán)利要求3所述的偏移測量方法，其中，第三方向與第一方向相同。
5.如權(quán)利要求3所述的偏移測量方法，其中，第三方向與第一方向相反。
6.如權(quán)利要求3所述的偏移測量方法，其中，第二光學(xué)拾取器驅(qū)動(dòng)步驟將光學(xué)拾取器從運(yùn)輸裝置上的中心位置驅(qū)動(dòng)第三距離。
7.如權(quán)利要求1所述的偏移測量方法，其中，信息介質(zhì)具有在其中形成的凹槽，光束將指向所述凹槽，該光束具有波長λ，以及該凹槽具有等于或大于λ/8以及等于或小于λ/6的深度。
8.如權(quán)利要求1所述的偏移測量方法，其中，信息信號通過光熱轉(zhuǎn)換記錄在信息介質(zhì)上。
9.如權(quán)利要求1所述的偏移測量方法，進(jìn)一步包括補(bǔ)償增益確定步驟，基于由第一偏移量測量步驟測量的第一偏移量和第二偏移量測量步驟測量的第二偏移量確定代表光學(xué)拾取器相對于運(yùn)輸裝置的偏移特性的補(bǔ)償增益。
10.如權(quán)利要求9所述的偏移測量方法，進(jìn)一步包括根據(jù)由補(bǔ)償增益確定步驟確定的補(bǔ)償增益的值補(bǔ)償光學(xué)拾取器相對于運(yùn)輸裝置的偏移的步驟。
11.如權(quán)利要求10所述的偏移測量方法，進(jìn)一步包括第一跟蹤誤差信號檢測步驟，將光束沿徑向從光學(xué)拾取器指向信息介質(zhì)上的第三測量位置，從而基于在第三測量位置反射的光束由一個(gè)推挽系統(tǒng)檢測第一跟蹤誤差信號；第二跟蹤誤差信號檢測步驟，基于在第三檢測位置反射的光束由一個(gè)相差系統(tǒng)檢測第二跟蹤誤差信號；以及基于由第一跟蹤誤差信號檢測步驟檢測的第一跟蹤誤差信號和由第二跟蹤誤差信號檢測步驟檢測的第二跟蹤誤差信號確定是否補(bǔ)償光學(xué)拾取器相對于運(yùn)輸裝置的偏移的步驟。
12.一種記錄和再現(xiàn)設(shè)備，包括光學(xué)拾取器，放在運(yùn)輸裝置上以使其沿信息介質(zhì)的一個(gè)徑向被驅(qū)動(dòng)；偏移量測量裝置，用于基于從光學(xué)拾取器指向信息介質(zhì)上的第一測量位置并在第一測量位置反射的光束測量第一偏移量；控制裝置，在偏移量測量裝置測量出第一偏移量之后，將其上放置有光學(xué)拾取器的運(yùn)輸裝置沿徑向在第一方向移動(dòng)第一距離；以及驅(qū)動(dòng)裝置，在偏移量測量裝置測量出第一偏移量之后，將運(yùn)輸裝置上的光學(xué)拾取器沿與第一方向相反的第二方向驅(qū)動(dòng)大致等于第一距離的第二距離，其中，偏移量測量裝置基于在控制裝置將運(yùn)輸裝置沿第一方向移動(dòng)第一距離之后并且進(jìn)一步在驅(qū)動(dòng)裝置將光學(xué)拾取器沿第二方向驅(qū)動(dòng)第二距離之后從光學(xué)拾取器指向信息介質(zhì)上的第二測量位置并在第二測量位置反射的光束來測量第二偏移量。
全文摘要
一種偏移測量方法用于在一個(gè)記錄和再現(xiàn)設(shè)備中基于由一個(gè)信息介質(zhì)反射的光束測量偏移，所述記錄和再現(xiàn)設(shè)備包括放在運(yùn)輸裝置上以使其沿信息介質(zhì)的一個(gè)徑向被驅(qū)動(dòng)的光學(xué)拾取器。所述方法包括如下步驟將光束指向第一測量位置，從而基于在第一測量位置反射的光束測量第一偏移量；將運(yùn)輸裝置沿徑向在第一方向移動(dòng)第一距離；將光學(xué)拾取器沿第二方向驅(qū)動(dòng)等于第一距離的第二距離；以及，將光束指向第二測量位置，從而基于在第二測量位置反射的光束測量第二偏移量。
文檔編號G11B7/085GK1460255SQ02800954
公開日2003年12月3日 申請日期2002年3月25日 優(yōu)先權(quán)日2001年3月29日
發(fā)明者北山真智子, 桑原雅彌, 田井康裕 申請人:松下電器產(chǎn)業(yè)株式會(huì)社