專利名稱：檢測(cè)光盤壞損區(qū)的方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及在可寫光盤上記錄數(shù)據(jù)時(shí)無錯(cuò)地檢測(cè)光盤壞損區(qū)的方法。
如果在這樣一個(gè)壞損區(qū)的中心區(qū)域進(jìn)行高速數(shù)據(jù)寫入，跟蹤伺服控制可能會(huì)終止，從而記錄操作會(huì)異常中斷。在記錄操作異常結(jié)束的情況下，無法從異常終止的記錄位置重新開始數(shù)據(jù)記錄，因此必須從頭開始。然而，由于一次寫型光盤(即CD-R)不能重寫，因此光盤只好被丟棄。
為了解決這個(gè)問題，開發(fā)了不同的方法。這些方法的目的都是通過檢測(cè)壞損區(qū)并在檢測(cè)到的壞損區(qū)降低記錄速度，從而即使在壞損區(qū)也能實(shí)現(xiàn)成功的數(shù)據(jù)記錄。方法之一利用了跟蹤錯(cuò)誤(TE)信號(hào)的電平。
在這種利用TE信號(hào)電平的方法中，當(dāng)數(shù)據(jù)以預(yù)定的記錄速度記錄在可寫光盤上時(shí)，TE信號(hào)的電平是一直被監(jiān)測(cè)的，若監(jiān)測(cè)的電平比預(yù)設(shè)的極限電平高，則當(dāng)前記錄區(qū)被認(rèn)為有缺陷。換句話說，若TE信號(hào)不穩(wěn)定，則當(dāng)前記錄區(qū)被認(rèn)為有缺陷，從而把當(dāng)前記錄速度降低到適當(dāng)?shù)乃俣?。在速度降低后，繼續(xù)進(jìn)行記錄操作。
但是，TE信號(hào)可能會(huì)由于外界的機(jī)械震動(dòng)或干擾而瞬時(shí)不穩(wěn)定，因此若只利用TE信號(hào)電平來確定壞損區(qū)，正常的記錄區(qū)可能會(huì)被錯(cuò)認(rèn)為有缺陷，這會(huì)導(dǎo)致不必要的寫入速度降低。
根據(jù)本發(fā)明的準(zhǔn)確檢測(cè)光盤壞損區(qū)的方法檢測(cè)在記錄操作中產(chǎn)生的伺服錯(cuò)誤信號(hào)的電平，根據(jù)檢測(cè)到的電平檢查伺服錯(cuò)誤信號(hào)是否處于異常狀態(tài)，檢測(cè)周期性顫動(dòng)信號(hào)或者記錄操作中產(chǎn)生的伺服錯(cuò)誤信號(hào)異常狀態(tài)出現(xiàn)的周期性，若伺服錯(cuò)誤信號(hào)處于異常狀態(tài)，則根據(jù)檢測(cè)出的周期性顫動(dòng)信號(hào)的成功解碼或異常情況出現(xiàn)的周期性，確定記錄區(qū)是否壞損。
優(yōu)選實(shí)施例說明為了充分了解本發(fā)明，以下參考附圖對(duì)本發(fā)明的優(yōu)選實(shí)施例進(jìn)行說明。


圖1為一個(gè)光盤驅(qū)動(dòng)器的方框圖，其中內(nèi)建了根據(jù)本發(fā)明的檢測(cè)可寫光盤壞損區(qū)的方法圖1中的光盤驅(qū)動(dòng)器包括一個(gè)數(shù)字記錄信號(hào)處理器30a，其將輸入數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換成記錄格式數(shù)據(jù)作為添加的附加數(shù)據(jù)，比如糾錯(cuò)碼(ECC)；信道比特解碼器40，將記錄格式數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換為PWM(Pulse WidthModulation，脈寬調(diào)制)信號(hào)；寫入驅(qū)動(dòng)器41，根據(jù)PWM信號(hào)生成寫入電流；光學(xué)拾取器20，將對(duì)應(yīng)于寫入電流的信號(hào)寫到可寫光盤10上，并從可寫光盤10上再生寫入的信號(hào)；R/F單元50，通過組合來自光盤10的再生信號(hào)生成伺服錯(cuò)誤信號(hào)TE和FE(Focusing Error，聚焦錯(cuò)誤)及二進(jìn)制數(shù)據(jù)信號(hào)，并由螺旋光軌的縱向形狀生成顫動(dòng)信號(hào)；A/D轉(zhuǎn)換器51，將來自R/F單元50的TE信號(hào)(和/或FE信號(hào))數(shù)字化；數(shù)字再生信號(hào)處理器30b，利用與二進(jìn)制信號(hào)同步的內(nèi)部時(shí)鐘，由二進(jìn)制數(shù)據(jù)信號(hào)恢復(fù)原始數(shù)據(jù)；ATIP(Absolute Time In Pre-Groove，預(yù)刻槽絕對(duì)時(shí)間)解碼器60，對(duì)生成的顫動(dòng)信號(hào)進(jìn)行解碼以提取ATIP數(shù)據(jù)，并輸出其狀態(tài)信號(hào)；驅(qū)動(dòng)單元71，驅(qū)動(dòng)主軸電機(jī)11和進(jìn)給電機(jī)(sled motor)21；伺服單元70，根據(jù)伺服錯(cuò)誤信號(hào)控制驅(qū)動(dòng)單元71和拾取器20的傳動(dòng)機(jī)構(gòu)；FG計(jì)數(shù)器72，對(duì)與主軸電機(jī)11的轉(zhuǎn)速成比例輸出的FG脈沖進(jìn)行計(jì)數(shù)；以及微計(jì)算機(jī)80，確定當(dāng)前記錄位置是否在壞損區(qū)，并根據(jù)確定的結(jié)果調(diào)節(jié)記錄速度。
圖2為本發(fā)明的壞損區(qū)檢測(cè)方法的實(shí)施例的流程圖。以下詳細(xì)說明由圖1的光盤驅(qū)動(dòng)器進(jìn)行的圖2的過程。
可寫光盤10放置在安裝于光盤驅(qū)動(dòng)器中的托盤(未示出)上后，若連接的外部主機(jī)向微計(jì)算機(jī)80請(qǐng)求數(shù)據(jù)記錄(S10)，則微計(jì)算機(jī)80通過伺服單元70和驅(qū)動(dòng)單元71驅(qū)動(dòng)主軸電機(jī)11以預(yù)定的高速旋轉(zhuǎn)。當(dāng)可寫光盤10高速旋轉(zhuǎn)時(shí)，微計(jì)算機(jī)80移動(dòng)光學(xué)拾取器20到可寫光盤10上的目標(biāo)位置。在目標(biāo)位置，記錄操作如下進(jìn)行(S11)。
輸入數(shù)據(jù)被數(shù)字記錄信號(hào)處理器30a編碼，并添加奇偶校驗(yàn)以提高再生的可靠性。帶奇偶校驗(yàn)的編碼數(shù)據(jù)構(gòu)成了ECC塊。信道比特編碼器40將包含在來自數(shù)字記錄信號(hào)處理器30a的ECC塊中的比特流轉(zhuǎn)換為適于寫在可寫光盤10上的相應(yīng)PWM信號(hào)。PWM信號(hào)被微計(jì)算機(jī)80施加到輸出寫入電流的寫入驅(qū)動(dòng)器41上，寫入電流的幅值已被設(shè)為最佳值，該最佳值由OPC(最佳能量標(biāo)定)操作進(jìn)行檢測(cè)。
光學(xué)拾取器20將強(qiáng)度與寫入電流成比例的激光束入射到可寫光盤10上，從而輸入數(shù)據(jù)被寫到可寫光盤10的程序區(qū)。此時(shí)，正如微計(jì)算機(jī)80要求的寫入方案所規(guī)定的，在寫入驅(qū)動(dòng)器41中寫入脈沖的電平和/或持續(xù)時(shí)間得到控制。
當(dāng)執(zhí)行上述的記錄操作時(shí)，A/D轉(zhuǎn)換器51將從R/F單元50輸出的TE信號(hào)(和/或FE信號(hào))數(shù)字化，ATIP解碼器60對(duì)來自R/F單元50的顫動(dòng)信號(hào)進(jìn)行解碼。作為解碼的結(jié)果，ATIP解碼器60輸出被編碼為如圖3所示的ATIP數(shù)據(jù)。除了ATIP數(shù)據(jù)，如果顫動(dòng)信號(hào)被成功解碼，ATIP解碼器60會(huì)產(chǎn)生‘ATIP_OK’信號(hào)，如果ATIP同步數(shù)據(jù)被周期性地檢測(cè)到，則產(chǎn)生‘ATIP_sync’信號(hào)?！瓵TIP_OK’和‘ATIP_sync’信號(hào)被發(fā)送到伺服單元70及微計(jì)算機(jī)80，而AIP數(shù)據(jù)只發(fā)送到微計(jì)算機(jī)80。
同時(shí)，微計(jì)算機(jī)80根據(jù)數(shù)字化的數(shù)據(jù)持續(xù)地檢查TE信號(hào)的電平(S12)，以了解該電平是否超過了極限電平，比如600[mV]。若超過極限電平(S20)，則微計(jì)算機(jī)80開始測(cè)量超電平狀態(tài)的持續(xù)時(shí)間。
對(duì)于測(cè)量，當(dāng)TE信號(hào)電平超過極限電平時(shí)，微計(jì)算機(jī)80首先記住計(jì)數(shù)器72的FG脈沖計(jì)數(shù)值NFG，然后持續(xù)檢查計(jì)數(shù)值NFG比記錄的值提高了多少。即微計(jì)算機(jī)80持續(xù)計(jì)算當(dāng)前計(jì)數(shù)值與記錄值的差異，并檢查其是否達(dá)到門限時(shí)間，門限時(shí)間對(duì)應(yīng)于給定的記錄速度下的預(yù)定旋轉(zhuǎn)角度。
假設(shè)給定的門限時(shí)間(旋轉(zhuǎn)角度)對(duì)應(yīng)于一個(gè)FG脈沖，即計(jì)數(shù)值的一個(gè)增量，則當(dāng)超電平狀態(tài)持續(xù)時(shí)，微計(jì)算機(jī)80檢查由FG計(jì)數(shù)器72計(jì)取的當(dāng)前值是否變成‘所記住的值+1’。如圖4所示，若TE信號(hào)的電平超過極限電平的狀態(tài)持續(xù)了門限時(shí)間(S30)，則微計(jì)算機(jī)80根據(jù)與ATIP數(shù)據(jù)(此數(shù)據(jù)從ATIP解碼器60輸入)相關(guān)的信號(hào)來確定意味著不穩(wěn)定記錄狀態(tài)的超電平狀態(tài)(S40)。
如果有一段時(shí)間沒收到成功解碼的ATIP數(shù)據(jù)，或沒收到ATIP_sync信號(hào)(S50)，則微計(jì)算機(jī)80認(rèn)定這個(gè)不穩(wěn)定記錄狀態(tài)是由當(dāng)前記錄區(qū)的缺陷引起的，從而執(zhí)行緩存器欠載防止(buffer underrunpreventing)功能，請(qǐng)求停止對(duì)外部主機(jī)的數(shù)據(jù)傳輸，并暫時(shí)中止數(shù)據(jù)記錄。
隨后，微計(jì)算機(jī)80通過伺服單元70和驅(qū)動(dòng)單元71適當(dāng)降低當(dāng)前記錄速度(S51)，并將拾取器20移到記錄中止點(diǎn)，并從這點(diǎn)重新開始記錄操作(S52)。
若記錄速度降低，TE信號(hào)則相應(yīng)具有較低的頻帶。若TE信號(hào)的頻率降低，則如圖5的伺服回路增益特性所示，伺服增益提高。高增益伺服回路可以為記錄條件的劇烈變化實(shí)現(xiàn)很好的跟蹤。前面講述的壞損區(qū)檢測(cè)和記錄控制操作持續(xù)直到記錄結(jié)束(S32)。
若超電平狀態(tài)持續(xù)時(shí)間比門限時(shí)間短，或者即使在超電平狀態(tài)持續(xù)時(shí)間超過門限時(shí)間時(shí)，ATIP數(shù)據(jù)也能成功解碼，則微計(jì)算機(jī)80認(rèn)定當(dāng)前記錄區(qū)并無缺陷，因此繼續(xù)記錄操作而不降低記錄速度(S31)。
圖6是本發(fā)明的壞損區(qū)檢測(cè)方法另一實(shí)施例的流程圖。以下詳細(xì)說明由圖1中的光盤驅(qū)動(dòng)器進(jìn)行的圖6中的過程。
類似于前面的實(shí)施例，微計(jì)算機(jī)80控制記錄操作(S110，S111)，持續(xù)地檢測(cè)伺服錯(cuò)誤信號(hào)(即記錄過程中的TE和FE信號(hào))的電平(S112)，并檢查TE和FE信號(hào)的電平是否超過極限電平(其可能對(duì)于TE和FE而不同地設(shè)定)(S120)。
若TE或FE信號(hào)超過極限電平，則微計(jì)算機(jī)80檢查該超電平的發(fā)生是否為周期性的(S122)。對(duì)于這個(gè)檢查，每次TE和/或FE信號(hào)超過極限電平，微計(jì)算機(jī)80記住FG計(jì)數(shù)器71的計(jì)數(shù)值(S121)。若記錄值每次增加的步長(zhǎng)是一致的，例如對(duì)應(yīng)于可寫光盤10旋轉(zhuǎn)一周的常數(shù)12，則微計(jì)算機(jī)80認(rèn)定超電平的發(fā)生是周期性的。若不一致(S130)，則微計(jì)算機(jī)80認(rèn)定超電平的發(fā)生不是由記錄區(qū)的缺陷引起的，而是由機(jī)械震動(dòng)等引起，因此其繼續(xù)記錄操作而不降低記錄速度(s131)。
如圖7所示，如果確定TE信號(hào)的電平每當(dāng)可寫光盤10旋轉(zhuǎn)一周就周期性地超過極限電平，則微計(jì)算機(jī)80認(rèn)定當(dāng)前記錄區(qū)有缺陷，并暫時(shí)中斷記錄操作。隨后，微計(jì)算機(jī)80通過伺服單元70和驅(qū)動(dòng)單元71適當(dāng)降低當(dāng)前記錄速度(S140)，并重新檢測(cè)伺服錯(cuò)誤信號(hào)(S141)以了解伺服錯(cuò)誤信號(hào)是否恢復(fù)到正常范圍(S150)。若伺服錯(cuò)誤信號(hào)在正常范圍保持一段時(shí)間，則微計(jì)算機(jī)80判定當(dāng)前位置已避過壞損區(qū)，因此重新開始記錄操作(S151)。
前面講述的根據(jù)本發(fā)明的可無錯(cuò)地檢測(cè)可寫光盤壞損區(qū)的方法確保了對(duì)壞損區(qū)的準(zhǔn)確檢測(cè)，由此可消除不必要的降速，并保證即使在壞損區(qū)也能成功地寫入數(shù)據(jù)。
本領(lǐng)域技術(shù)人員將認(rèn)識(shí)到，在不脫離本發(fā)明的精神和范圍的情況下，本發(fā)明可以有各種改進(jìn)和變化。因此，本發(fā)明涵蓋落入所附權(quán)利要求及其等同物范圍內(nèi)的各種改進(jìn)和變化。
權(quán)利要求
1.一種檢測(cè)可寫光盤壞損區(qū)的方法，包括以下步驟(a)檢測(cè)記錄操作中產(chǎn)生的伺服錯(cuò)誤信號(hào)的電平；(b)根據(jù)檢測(cè)的電平檢查伺服錯(cuò)誤信號(hào)是否異常；(c)檢測(cè)記錄操作中產(chǎn)生的周期性信號(hào)；以及(d)根據(jù)檢查結(jié)果和檢測(cè)到的周期性信號(hào)確定記錄區(qū)是否壞損。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其中所述的周期性信號(hào)代表伺服錯(cuò)誤信號(hào)異常狀態(tài)發(fā)生的周期性。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其中所述的步驟(c)檢測(cè)調(diào)制進(jìn)可寫光盤的顫動(dòng)光軌的信號(hào)，并檢查檢測(cè)到的信號(hào)是否正常。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的方法，其中所述的步驟(c)根據(jù)調(diào)制進(jìn)顫動(dòng)光軌的信號(hào)是否被成功檢測(cè)來判斷被檢測(cè)信號(hào)的正常性。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其中所述的伺服錯(cuò)誤信號(hào)是跟蹤錯(cuò)誤和聚焦錯(cuò)誤信號(hào)之一。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，還包括根據(jù)壞損與否的確定結(jié)果降低當(dāng)前記錄速度的步驟。
7.一種檢測(cè)可寫光盤壞損區(qū)的方法，包括以下步驟(a)檢測(cè)伺服錯(cuò)誤信號(hào)和調(diào)制進(jìn)顫動(dòng)光軌的信號(hào)，這兩種信號(hào)是在沿顫動(dòng)光軌記錄數(shù)據(jù)的過程中產(chǎn)生的；(b)檢查被測(cè)伺服錯(cuò)誤信號(hào)的異常狀態(tài)是否持續(xù)，以及被調(diào)制信號(hào)是否被成功檢測(cè)；以及(c)根據(jù)檢查結(jié)果，確定記錄區(qū)是否壞損。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的方法，其中所述的伺服錯(cuò)誤信號(hào)是跟蹤錯(cuò)誤信號(hào)。
9.一種檢測(cè)可寫光盤壞損區(qū)的方法，包括以下步驟(a)檢測(cè)記錄操作中產(chǎn)生的伺服錯(cuò)誤信號(hào)的電平；(b)根據(jù)檢測(cè)到的電平，檢查伺服錯(cuò)誤信號(hào)是否異常；(c)如果伺服錯(cuò)誤信號(hào)處于異常狀態(tài)，確定伺服錯(cuò)誤信號(hào)的異常狀態(tài)是瞬時(shí)的還是會(huì)對(duì)多個(gè)物理光軌產(chǎn)生影響；以及(d)根據(jù)所述步驟(c)的確定結(jié)果來確定記錄區(qū)是否壞損。
10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的方法，其中如果所述異常狀態(tài)周期性出現(xiàn)，則所述步驟(c)確定該異常狀態(tài)會(huì)對(duì)多個(gè)物理光軌產(chǎn)生影響。
11.根據(jù)權(quán)利要求10所述的方法，其中如果所述異常狀態(tài)以對(duì)應(yīng)于可寫光盤旋轉(zhuǎn)一周的周期出現(xiàn)，則所述步驟(c)確定該異常狀態(tài)會(huì)對(duì)多個(gè)物理光軌產(chǎn)生影響。
全文摘要
本發(fā)明涉及在可寫光盤上記錄數(shù)據(jù)時(shí)無錯(cuò)地檢測(cè)壞損區(qū)的方法。此方法檢測(cè)記錄操作中產(chǎn)生的伺服錯(cuò)誤信號(hào)的電平,根據(jù)檢測(cè)到的電平檢查伺服錯(cuò)誤信號(hào)是否處于異常狀態(tài),檢測(cè)周期性的顫動(dòng)信號(hào)或記錄操作中產(chǎn)生的伺服錯(cuò)誤信號(hào)異常狀態(tài)發(fā)生的周期性,若伺服錯(cuò)誤信號(hào)處于異常狀態(tài),則根據(jù)檢測(cè)到的周期性顫動(dòng)信號(hào)的成功解碼或者異常狀態(tài)出現(xiàn)的周期性來確定記錄區(qū)是否壞損。該方法確保了壞損區(qū)的準(zhǔn)確檢測(cè),由此可消除不必要的降速,并保證即使在壞損區(qū)也能成功寫入數(shù)據(jù)。
文檔編號(hào)G11B27/19GK1380656SQ02106000
公開日2002年11月20日 申請(qǐng)日期2002年4月12日 優(yōu)先權(quán)日2001年4月12日
發(fā)明者崔永道, 房極英, 晉哲 申請(qǐng)人:日立-Lg數(shù)據(jù)存儲(chǔ)韓國(guó)公司