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磁帶盒的制作方法

文檔序號:6774412閱讀:166來源:國知局
專利名稱:磁帶盒的制作方法
技術領域
本發(fā)明涉及由透明度高的材料所形成的磁帶盒,通過檢測來自插入磁帶盒本體內的磁帶末端檢測用光源的光來檢測出磁帶的末端。
背景技術


圖10是現有的磁帶盒的上表面圖,圖11是現有的磁帶盒的外觀透視圖,圖12、圖13分別是用于說明現有的磁帶盒內部的感光發(fā)光元件之間的光路的圖,圖14、圖15分別是現有的磁帶盒的側面部分放大圖,圖22是示意地表示半部分內的散射光作為不需要的光達到感光元件上的狀態(tài)的圖,圖23是示意地表示行進在半部分內的不需要的光從遮光用的棱柱形部散射到半部分外而到達感光元件的狀態(tài)的圖。
在圖10~圖15、圖22、圖23中,AA是磁帶盒,1是上半部,1A、1B是上半部外側面(即,1A是上半部外右側面,1B是上半部外左側面),1A’、1B’是上半部內側面(即,1A’是上半部內右側面,1B’是上半部內左側面),2是下半部,3是上蓋,4是前蓋,5是窗口,6a、6b是上凸緣,6a1、6b1是上凸緣上表面,6a2、6b2是上凸緣下表面,7a、7b是下凸緣,8a、8b是光路用孔,9a、9b是輪轂,T是磁帶,D1是發(fā)光元件,D2、D3是感光元件,L是光路(兩點劃線),11、12是檢測光,A、A’分別表示光路用孔8a、8b附近。
通過檢測從插入到磁帶盒AA中的磁帶末端檢測用的光源射出的光是否大于預定的光量,來檢測側邊貼靠在磁帶盒AA內的上下兩個凸緣6a、7a、6b、7b上兩頭卷繞在一對輪轂9a、9b上的長帶狀的磁帶T的兩個末端,在這樣的構造的磁帶盒AA中,形成從設在未圖示的錄象機(以下稱為“VTR”)中的作為上述光源的發(fā)光元件D1射出的光至感光元件D2、D3的光路L。
一般,在由黑色等遮光性高的材料所構成的磁帶盒AA(圖10,圖11)中,當在該光路L中存在磁帶T時(圖12,圖13),從發(fā)光元件D1射出的光被該磁帶T遮光,而使感光光量成為使感光元件D2、D3幾乎不能接收到光的狀態(tài)。
另一方面,在卷繞在磁帶盒AA內的磁帶T的兩個端部設有未涂敷磁粉的未圖示的導引帶部,這些導引帶部由能夠良好地使從發(fā)光元件D1射出的光透過的材料構成。
因此,在將磁帶盒AA裝入VTR內后,磁帶T走帶,當從涂敷了磁粉的磁帶部移動到導引帶部時,由感光元件D2、D3接收從發(fā)光元件D1射出的光的光量從小變大,而成為大于預定的感光光量,因此,能夠檢測出該磁帶T的末端。
因此,如圖13、圖14所示的那樣,分別用透明度高的材料形成構成磁帶盒AA的上半部1并且用黑色的不透明的材料形成下半部2,對組合成上半部1和下半部2的光路用孔8a、8b的上部表面(即,上半部外側面1A、1B)不進行表面粗糙化處理(沒有粗糙表面)。
因此,從磁帶盒AA的外部射入到上半部1的外部光通過磁帶盒AA內,從上半部1向外部射出的出射光的一部分再次從作為光路用孔8a、8b的上部表面的上半部外側面1A、1B射出。其結果,當來自光路用孔8a、8b的上部表面(即,上半部外側面1A、1B)的出射光進入感光元件D2、D3時,在該進入的光的光量成為大于預定的感光光量的情況下,盡管從上述發(fā)光元件D1射出的檢測光11、12沒有到達,感光元件D2、D3也感光檢測。
因此,在VTR側,盡管磁帶T不是磁帶末端狀態(tài),也誤判斷為處于磁帶末端狀態(tài),其結果,會存在走帶過程中的VTR停機的問題。
如上述那樣,當構成磁帶盒AA的上半部1、下半部2中,至少用透明性高的材料或者半透明的材料構成上半部1時,在VTR內磁帶T走帶時,日光等外來光通過上半部1而射入到磁帶盒AA內,射入到磁帶盒AA內的該外來光作為透過光和散射光(除檢測光11,12外的不需要的光),透過光路用孔8a、8b的上部表面(上半部外側面1A、1B),而到達VTR側的感光元件D2、D3,在此,當達到大于能夠感光的光量時,感光元件D2、D3進行感光檢測。由此,在VTR側,雖然磁帶T不在磁帶末端狀態(tài)下,也會誤判斷為是磁帶末端狀態(tài),其結果,可能會存在走帶中的VTR停機的問題。
而且,作為磁帶末端檢測用光源的發(fā)光元件D1在把磁帶盒AA裝入VTR后到排出其期間,一直發(fā)光。而且,發(fā)光元件D1的發(fā)光位置相對于感光元件D2、D3的設置位置具有一定的角度而發(fā)光。這樣,發(fā)生直射光和散射光,該直射光是從發(fā)光元件D1射出的光直接前進,通過光路用孔8a、8b,到達感光元件D2、D3;該散射光是從發(fā)光元件D1射出的光在磁帶盒AA內部進行漫反射的光透過光路用孔8a、8b周邊的上半部1(上半部外側面1A、1B),而到達感光元件D2、D3。
而且,當該散射光的光量達到大于能夠感光的光量時,感光元件D2、D3感光檢測,由此,在VTR側,雖然磁帶T不在磁帶末端狀態(tài)下,也會誤判斷為是磁帶末端狀態(tài),其結果,可能會存在走帶中的VTR停機的問題。
因此,本發(fā)明的目的是提供一種磁帶盒,在具有高透光性的上半部的側面和下半部的側面的接合面上形成用于使來自裝置側的發(fā)光部的檢測光通向裝置側的感光部的光路用孔,并且,把與上述光路用孔相鄰或者接近的上述上半部外側面部分和/或上述下半部側面部分進行表面粗糙化處理,由此,來防止大于能夠感光檢測的光量的除檢測光之外的不需要的光到達上述感光部,而預先防止裝置側的磁帶末端的誤檢測。
發(fā)明的公開為了解決上述問題,本發(fā)明提供下述方案(1)~(7)的構成的磁帶盒。即,(1)如圖1~圖7所示的那樣,提供一種磁帶盒BB,CC,用于下述的裝置中在裝置(VTR)側設置磁帶T的磁帶末端檢測用發(fā)光部(發(fā)光元件)D1和接收來自該發(fā)光部D1(作為直射光)的檢測光11、12的磁帶末端檢測用感光部(感光元件)D2、D3,來自上述發(fā)光部D1的檢測光11、12以大于預定的光量到達上述感光部D2、D3,由此,檢測出是否為磁帶末端(透明的引帶),并且,該磁帶盒由上下兩半部分1,2組合而成,其特征在于,至少上述上半部1由具有高透光性的部件構成(僅上半部1由具有高透光性的部件構成,或者,上半部1和下半部2都由具有高透光性的部件構成),在上述上下兩半部分1,2的側面(接合面)上形成用于使來自上述發(fā)光部D1的檢測光11、12通向上述感光部D2、D3側的光路用孔8a、8b,并且,把與上述光路用孔8a、8b相鄰或者接近的上述上半部外側面1A、1B部分和/或上述下半部外側面2A、2B進行表面粗糙化處理(即,①是僅對上半部外側面1A、1B進行表面粗糙化處理、②對上半部外側面1A、1B部分和上半部外側面1A、1B部分都進行表面粗糙化處理、③僅對下半部外側面2A、2B進行表面粗糙化處理這三種情況之一,具體地說,在與圖3~圖5所示的磁帶盒BB的光路用孔8a、8b相鄰的上部形成粗糙表面10a、10b,或者,在接近圖6所示的磁帶盒CC的光路用孔8b的上部的突起部1Ba上形成粗糙表面10c。在接近未圖示的光路用孔8a的上部的突起部1Aa上形成粗糙表面10d),由此,防止大于上述預定光量的除檢測光11、12之外的不需要的光到達上述感光元件D2、D3。
(2)在方案1所述的磁帶盒BB中,其特征在于,把上述光路用孔8a、8b的上方部分的上述上半部外側面進行表面粗糙化處理(在與圖3~圖5所示的光路用孔8a、8b相鄰的上部形成粗糙表面10a、10b,或者,在接近圖6所示的光路用孔8a、8b的上部形成粗糙表面10d,10c)。
(3)如圖9所示的那樣,提供一種磁帶盒DD,用于下述的裝置中在裝置(VTR)側設置磁帶T的磁帶末端檢測用發(fā)光部(發(fā)光元件)D1和接收來自該發(fā)光部D1(作為直射光)的檢測光11、12的磁帶末端檢測用感光部(感光元件)D2、D3,來自上述發(fā)光部D1的檢測光11、12以大于預定的光量到達上述感光部D2、D3,由此,檢測出是否為磁帶末端(透明的引帶),并且,該磁帶盒由上下兩半部分1,2組合而成,其特征在于,上述上半部1由具有高透光性的部件構成,上述下半部2由具有低透光性的部件或者不具有透光性的部件構成,僅在上述下半部2上形成用于使來自上述發(fā)光部D1的檢測光11、12通向上述感光部D2、D3側的光路用孔8a、8b,由此,防止大于上述預定光量的除檢測光11、12之外的不需要的光到達上述感光元件D2、D3。
(4)在方案1至3任一項所述的磁帶盒CC中,其特征在于,包括分別設在用于卷繞上述磁帶T的一對輪轂9a、9b上的各自一對的上下兩個凸緣(上凸緣6a、6b,下凸緣7a、7b),把上述各個上凸緣6a、6b的各自的上表面(上凸緣上表面6a1、6b1)或者下表面(上凸緣下表面6a2、6b2)進行表面粗糙化處理(形成粗糙表面10e)。
(5)如圖16~圖21所示的那樣,提供一種磁帶盒EE,FF,用于下述的裝置中在裝置(VTR)側設置磁帶T的磁帶末端檢測用發(fā)光部(發(fā)光元件)D1和接收來自該發(fā)光部D1(作為直射光)的檢測光11、12的磁帶末端檢測用感光部(感光元件)D2、D3,來自上述發(fā)光部D1的檢測光11、12以大于預定的光量到達上述感光部D2、D3,由此,檢測出是否為磁帶末端(透明的引帶),并且,該磁帶盒由上下兩半部分1,2組合而成,其特征在于,至少上述上半部1由具有高透光性的部件構成(僅上半部1由具有高透光性的部件構成,或者,上半部1和下半部2都由具有高透光性的部件構成),在上述上下兩半部分1,2的側面上形成用于使來自上述發(fā)光部D1的檢測光11、12通向上述感光部D2、D3側的光路用孔8a、8b,并且,把與上述光路用孔8a、8b相鄰或者接近的上述上半部和/或上述下半部內側面1A’、1B’部分進行表面粗糙化處理(例如,如圖17,圖18所示的那樣,在與光路用孔8a、8b相鄰的上半部1的左右內側面1A’、1B’上形成作為粗糙表面10a、10b的棱柱形部21,而且,如圖19,圖20所示的那樣,在與光路用孔8a、8b的附近相接的下半部2上形成突起部22),由此,防止大于上述預定光量的除檢測光11、12之外的不需要的光到達上述感光元件D2、D3。
(6)在方案5所述的磁帶盒EE中,其特征在于,把上述光路用孔8a、8b的上方部分的上述上半部內側面1A’、1B’進行表面粗糙化處理(形成作為粗糙表面10a,10b的棱柱形部21)。
(7)在方案5或者方案6所述的磁帶盒中,其特征在于,上述上半部1由具有高透光性的部件構成,上述下半部2由具有低透光性的部件或者不具有透光性的部件構成,在上述光路用孔的附近形成由上述下半部2所產生的突起部22。
發(fā)明的實施例下面使用圖1~圖9來對本發(fā)明的實施例1~實施例4進行說明。
圖1是用于說明本發(fā)明的實施例1的磁帶盒的上表面的圖,圖2是用于說明本發(fā)明的實施例1的磁帶盒的外觀的圖,圖3、圖4分別是表示本發(fā)明的實施例1的磁帶盒的光路用孔的周邊的部分放大圖,圖5是用于說明本發(fā)明的實施例1的磁帶盒的左側視圖,圖6是用于說明本發(fā)明的實施例2的磁帶盒的左側視圖,圖7是用于說明本發(fā)明的實施例2的磁帶盒的底面圖,圖8是表示形成本發(fā)明的實施例3的磁帶盒的上凸緣的粗糙面的上凸緣上表面或者下表面的圖,圖9是表示本發(fā)明的實施例4的磁帶盒的光路用孔的周邊的部分放大圖。與上述相同的構成部分使用相同的標號,而省略其說明。
在圖1~圖9中,BB~DD是磁帶盒,1是上半部,1A、1B是上半部外側面,1Ba是突起部,2是下半部,3是上蓋,4是前蓋,5是窗口,6a、6b的上凸緣,6a1、6b1是上凸緣上表面,6a2、6b2是上凸緣下表面,7a、7b是下凸緣,8a、8b是光路用孔,9a、9b是輪轂,10a~10e是粗糙表面,T是磁帶,D1是發(fā)光元件,D2、D3是感光元件,L是光路(雙點劃線),11、12是檢測光,B、B’分別表示光路用孔8a、8b附近。
在以下的說明中,以符合數字錄象帶(以下稱為“DVC”)方式的標準的磁帶盒為例來說明本發(fā)明的磁帶盒的實施例。
而且,為了說明的方便,在與(右)光路用孔8a、(左)光路用孔8b相鄰或者接近而設置的粗糙表面10a~10d的說明中,不是同時使用上半部外側面1A、1B來進行說明,而是僅使用上半部(右)外側面1A或者上半部(左)外側面1B來進行說明,但是,不言而喻,在上述粗糙表面10a~10d中,粗糙表面10a、10d設在(右)光路用孔8a側,并且,粗糙表面10b、10c設在(左)光路用孔8b側。
其中,上述上半部1、下半部2的透明度(透光率)的值取決于測定狀態(tài)(測定光波長)、半部分的厚度,但是,一般來說,下半部2為0%,上半部1為70~85%。上述上半部外側面1A、1B的厚度為0.5~1.5mm的范圍。經上述棱柱形加工后的粗糙表面的棱間隔為如圖3所示的那樣,角度r由金屬模具的脫模方向所規(guī)定(在實施例1中,為上下方向),通過變更該金屬模具的構造,能夠任意設定角度r。根據上述粗糙表面10a、10b的有無,通過感光傳感器(感光元件D2、D3)的輸出電壓測定,與沒有粗糙表面10a、10b并且僅上半部1是透明的情況相比,通過實驗而得到這樣的效果當在上半部1上進行棱柱形加工而形成粗糙表面10a、10b時,遮光率、遮光量為-7%,當在上半部1上進行后述的激光加工而形成粗糙表面10a、10b時,遮光率、遮光量為-18%。
由此,當透過作為透明性高的半部分的上半部1的日光等外來光和從VTR側的發(fā)光元件D1射出的光在磁帶盒BB內漫反射的散射光通過光路用孔8a、8b周邊的上半部1(上半部外側面1A、1B)時,被形成在光路用孔8a、8b上部的粗糙表面10a、10b進行折射和漫反射。
其結果,該散射光的光量始終維持在能夠感光的光量以下,因此,感光元件D2、D3不進行感光檢測。由此,在VTR側,判斷為磁帶T不是磁帶末端狀態(tài),因此,維持VTR的走帶。
不言而喻,在從VTR側的發(fā)光元件D1射出的直射光通過磁帶T的導引帶部之后,通過光路用孔8a、8b而以大于預定的光量到達感光元件D2、D3,由此,在VTR側,判斷為磁帶T成為磁帶末端狀態(tài),使VTR的走帶停止。
對于上述構成的磁帶盒BB(圖5),現有的磁帶盒AA(圖14),如上述那樣,上半部1由透明度高的材料構成,下半部2由黑色材料構成,在由上半部1和下半部2組合成的光路用孔8a、8b的上部表面(上半部外側面1A、1B)上沒有進行表面粗糙化處理。因此,從磁帶盒AA的外部射入到上半部1的外部光通過磁帶盒AA內,從上半部1再次射出到外部的出射光的一部分從作為光路用孔8a、8b的上部表面的上半部1的兩個外側面1A、1B射出。
其結果,當來自光路用孔8a、8b的上部表面的出射光飛入感光元件D2、D3上時,在該飛入的光的光量為大于預定的感光光量的情況下,盡管從發(fā)光元件D1射出的檢測光11、12沒有到達,感光元件D2、D3也進行感光檢測。由此,在VTR側,盡管磁帶T不是磁帶末端狀態(tài),但卻誤判斷為是磁帶末端狀態(tài),其結果,存在走帶中的VTR停止的缺陷。
即,上述磁帶盒BB能夠解決現有的磁帶盒AA的該缺陷。
在實施例1中,對光路用孔8a、8b的外表面進行表面粗糙化處理而形成粗糙表面10a、10b,與光路用孔8a、8b的內表面進行表面粗糙化處理相比,設在外表面的方案具有只是在半部分(上半部1)的厚度內降低了透明半部分(上半部1)中的光通過量的效果。其原因在于,設在外表面?zhèn)鹊姆桨缚拷泄庠?,即使在與對內表面進行處理時相同的粗糙表面范圍內,也能夠適合于更廣角的外來光的入射。而且,當設在外表面時,即便在裝配后也易于實施后述的激光加工等。
而且,在實施例1中,表示了光路用孔8a、8b的外表面上部,但是,不言而喻,通過對由透明半部分構成的光路用孔8a、8b的外表面周邊(比上述外表面上部更寬)進行表面粗糙化處理,具有同樣的效果。
而且,示出了棱柱形加工作為表面粗糙化處理的方法,但是,也可以在半部分成型工序后通過激光加工和涂漆及機械加工等二次加工,進行表面粗糙化處理。從設置所希望的粗糙表面10a、10b的容易性出發(fā),作為表面粗糙化處理最好在成型工序后的二次加工中進行。
雖然對上述下半部2使用白色的不透明材料的例子進行了說明,但是,下半部2并不限于該色彩、材料,可以使用具有從磁帶盒BB的內部通過下半部2的散射光不會由感光元件D2、D3感光檢測的程度的低透光性的部件和具有高透光性的部件。當把具有高透光性的部件用于下半部2時,對光路用孔8a、8b的外周面進行表面粗糙化處理是有效的。
本發(fā)明說明了對光路用孔8b的上部側面(在上半部外左側面1B突出的部分(突起部1Ba))通過皺紋加工進行表面粗糙化處理,而形成粗糙表面10c的情況,但是,也可以是對光路用孔8a的上部側面(在上半部外右側面1A突出的部分(突起部1Aa))通過皺紋加工進行表面粗糙化處理,而形成粗糙表面10d。
由此,從磁帶盒CC的外部射入到上半部1的外來光通過磁帶盒CC內,并再次從上半部1向外部射出的出射光的一部分被形成在光路用孔8a、8b的上部表面的突起部1Aa、1Ba上的粗糙表面10d、10c折射和漫反射,從而減少了通過光路用孔8a、8b的上部表面(上半部1的兩個外側面1A、1B)的散射光的光量。
其結果,由于該散射光的光量始終維持在能夠感光的光量以下,則感光元件D2、D3不進行感光檢測。由此,在VTR側,判斷為磁帶T不是磁帶末端狀態(tài),因此,維持VTR的走帶。
在從VTR側的發(fā)光元件D1射出的直射光通過磁帶T的導引帶部之后,經過光路用孔8a、8b而以大于預定的光量到達感光元件D2、D3,由此,在VTR側,判斷為磁帶T成為磁帶末端狀態(tài),使VTR的走帶停止。
作為本發(fā)明的實施例3的磁帶盒所使用的上凸緣,如圖8所示的那樣,在分別設在用于卷繞磁帶T的一對輪轂9a、9b上的各自的一對上下兩個凸緣(上凸緣6a、6b,下凸緣7a、7b)中,在上凸緣6a、6b的各自的上表面(上凸緣上表面6a1、6b1)或者下表面(上凸緣下表面6a2、6b2)上形成用點區(qū)域表示的表面粗糙化處理部分(形成粗糙表面10e)。
在上凸緣6a、6b成型后,通過皺紋加工對上凸緣上表面6a1、6b1或者上凸緣下表面6a2、6b2進行表面粗糙化處理。通過使用如上所述的進行成為十點平均粗糙度Rz為16μm的放電皺紋面的表面粗糙化處理的上凸緣6a、6b,皺紋面能減少被上凸緣6a、6b折射、反射的檢測光11、12,由此,能夠防止磁帶末端的誤動作。而且,通過上凸緣6a、6b的表面粗糙化處理(粗糙表面10e)能夠減少日光等外來光的光通過量,能夠防止由此所引起的磁帶末端誤動作。
作為上述實施例3的磁帶盒,可以是本發(fā)明的實施例1、2、4的磁帶盒BB、CC、DD的任一種。由此,能夠把上述散射光射向感光元件D2、D3側的光量降低一級,因此,能夠更穩(wěn)定地防止感光元件D2、D3的感光檢測的誤動作。
對于該磁帶盒DD,現有的磁帶盒如上述圖15所示的那樣,不是僅在下半部2上形成光路用孔8a、8b,用透明度高的材料形成上半部,不對光路用孔8a、8b的上部表面(上半部1的兩個外側面1A、1B)進行表面粗糙化處理,因此,從磁帶盒AA的外部射入到上半部1的外來光通過磁帶盒AA內,再次從上半部1出射到外部的出射光的一部分從作為光路用孔8a、8b的上部表面的上半部1的兩個外側面1A、1B射出。其結果,當來自光路用孔8a、8b的上部表面的出射光飛入感光元件D2、D3中時,在該飛入光的光量大于預定感光光量的情況下,盡管從上述發(fā)光元件D1射出的檢測光11、12沒有到達,但感光元件D2、D3仍進行感光檢測。
由此,在VTR側,盡管磁帶T不是磁帶末端狀態(tài),仍誤判斷為磁帶末端狀態(tài),其結果,存在走帶過程中的VTR停止的問題。
即,上述磁帶盒DD能夠完全解決現有的磁帶盒AA存在的該問題。
雖然對上述下半部2使用白色的不透明材料的例子進行了說明,但是,下半部2并不限于該色彩、材料,可以使用具有從磁帶盒DD的內部通過下半部2的散射光不會被感光元件D2、D3感光檢測的程度的低透光性的部件。例如,下半部2是黑色的。
在上述下半部2(圖9)中,僅在下半部2上形成光路用孔8a、8b的周邊,但是,并不限于此,通過在光路用孔8a、8b的上部的下半部2的外側面上附加遮蔽材料,而具有同樣的效果。如果具有降低光路用孔8a、8b的周邊的光通過的裝置,也是有效的。
在上述實施例中,對僅對上半部外側面1A、1B進行表面粗糙化處理的情況進行了說明,但是,本發(fā)明并不限于此,當然可適用于對上半部外側面1A、1B部分和下半部外側面2A、2B部分都進行表面粗糙化處理的情況,和僅對下半部外側面2A、2B部分進行表面粗糙化處理的情況。
在上述(實施例1)~(實施例4)中,對與光路用孔相鄰或者接近的上半部和/或下半部外側面部分進行表面粗糙化處理(即,如圖23所示的那樣,在上半部外側面1A、1B部分上形成棱柱形部20)。由此,在磁帶盒的半部分內進行漫反射,而限制了到達感光元件的散射光的光量。
但是,當用透明或者半透明的材料構成磁帶盒的半部分(上半部、下半部)的情況下,如圖23所示的那樣,判斷存在這樣的光其行進在構成部件(半部分)內、從構成部件的粗糙表面部(棱柱形部20)的一部分漏出而射入到大氣中、并到達感光元件D2、D3。由此,存在VTR判斷為磁帶到達末端而引起誤動作的可能性,為了防止該誤動作,必須限制該光。
因此,在以下說明的(實施例5)~(實施例6)中,其目的是提供一種磁帶盒,在至少由具有高透光性的部件組成的上半部的左右兩側面上,分別形成用于使來自裝置側的發(fā)光部的檢測光通向裝置側的感光部的光路用孔,并且,對與上述光路用孔相鄰或者接近的上述上半部內側面部分(即,作為上述棱柱形部20所形成的上半部外側面1A、1B的內側的上半部內側面1A’、1B’部分)進行表面粗糙化處理,由此,能夠防止大于能夠進行感光檢測的光量的除檢測光之外在半部分內進行漫反射而到達感光元件的散射光、和行進在構成部件內由構成部件的粗糙表面部射入到大氣中而到達感光元件的光等不需要的光到達上述感光部,而能夠預先防止裝置中對磁帶末端的誤檢測。
以下使用圖16~圖21對本發(fā)明的實施例5~實施例6進行說明。
圖16是用于說明本發(fā)明的實施例5的磁帶盒的外觀的圖,圖17是本發(fā)明的實施例5的磁帶盒的左側面圖,圖18是本發(fā)明的實施例5的磁帶盒的剖視圖,圖19是本發(fā)明的實施例6的磁帶盒的左側面圖,圖20是本發(fā)明的實施例6的磁帶盒的剖視圖,圖21是表示行進在本發(fā)明的實施例5、6的磁帶盒的半部分內的不需要的光被棱柱形散射到半部分內的狀態(tài)的圖。對于與上述相同的構成部分使用相同的標號,省略其說明。
在圖16~圖21中,EE、FF是磁帶盒,1是上半部,1A、1B是上半部外側面(即,1A是上半部外右側面,1B是上半部外左側面),1A’、1B’是上半部內側面(即,1A’是上半部內右側面,1B’是上半部內左側面),1Ba是突起部,2是下半部,3是上蓋,4是前蓋,5是窗口,6a、6b的上凸緣,6a1、6b1是上凸緣上表面,6a2、6b2是上凸緣下表面,7a、7b是下凸緣,8a、8b是光路用孔,9a、9b是輪轂,10a、10b是粗糙表面,21是棱柱形部,22是突起,T是磁帶,D1是發(fā)光元件,D2、D3是感光元件,L是光路(雙點劃線),11、12是檢測光,B、B’分別表示光路用孔8a、8b附近。
在以下的說明中,以符合數字錄象帶(以下稱為“DVC”)方式的標準的磁帶盒為例來說明本發(fā)明的磁帶盒的實施例。
而且,為了說明的方便,在與(右)光路用孔8a、(左)光路用孔8b相鄰或者接近而設置的粗糙表面10a、10b的說明中,不是同時使用上半部內側面1A’、1B’來進行說明,而是僅使用上半部內右側面1A’或者上半部內左側面1B’來進行說明,而且,在上述粗糙表面10a、10b中,粗糙表面10b設在(左)光路用孔8b側,并且,在(右)光路用孔8a側設置未圖示的粗糙表面10a。而且,在此,把粗糙表面10a、10b所設置的部分稱為棱柱形部21。
其中,上述上半部1、下半部2的透明度(透光率)的值取決于測定狀態(tài)(波長、厚度),但是,一般來說,下半部2為0%,上半部1為70~85%。上述附加表面厚度為0.5~1.5mm的范圍。
由此,當透過作為透明度高的半部分的上半部1的日光等外來光和從VTR側的發(fā)光元件D1射出的光在磁帶盒EE內漫反射的散射光由在光路用孔8a、8b周邊的上半部內側面1A’、1B’部分所形成的棱柱形部21進行折射和散射,因此,幾乎沒有光從上半部外側面1A、1B通向外部。
其結果,由于透過上半部外側面1A、1B的光的光量始終維持在能夠感光的光量以下,因此,感光元件D2、D3不進行感光檢測。由此,在VTR側,判斷為磁帶T不是磁帶末端狀態(tài),因此,維持VTR的走帶。
顯然,在從VTR側的發(fā)光元件D1射出的直射光通過磁帶T的導引帶部之后,通過光路用孔8a、8b而以大于預定的光量到達感光元件D2、D3,由此,在VTR側,判斷為磁帶T成為磁帶末端狀態(tài),使VTR的走帶停止。
對于上述構成的磁帶盒EE(圖17),現有的磁帶盒AA(圖14),如上述那樣,上半部1由透明度高的材料構成,下半部2由黑色材料構成,在由上半部1和下半部2組合成的光路用孔8a、8b的上部表面(上半部內側面1A’、1B’)部分上沒有進行表面粗糙化處理(未形成棱形部21)。因此,現有的磁帶盒AA不能防止這樣的缺陷從外部射入到上半部1的外部光通過磁帶盒AA內,從上半部1再次射出到外部的出射光的一部分分別通過作為光路用孔8a、8b的上部表面的上半部內側面1A’、1B’、上半部兩外側面1A、1B,而向上半部1的外部射出。
其結果,當來自光路用孔8a、8b的上部表面的上半部外側面1A、1B的出射光飛入到感光元件D2、D3上時,在該飛入的光的光量大于預定感光光量的情況下,盡管從發(fā)光元件D1射出的檢測光11、12沒有到達,感光元件D2、D3也進行感光檢測。由此,在VTR側,盡管磁帶T不是磁帶末端狀態(tài),但卻誤判斷為是磁帶末端狀態(tài),其結果,存在走帶中的VTR停止的缺陷。
即,上述本發(fā)明的磁帶盒EE能夠解決現有的磁帶盒AA的該缺陷。
而且,在上述構成的磁帶盒EE中,即使用透明的材料構成磁帶盒的上半部1,對于行進在構成部件內而由構成部件的粗糙表面部出射到大氣中最終到達感光元件的光(圖23),通過在半部分的內側面(上半部內側面1A’、1B’)的一部分上設置棱柱形部21,行進在半部分內的不需要的光從該棱柱形部21放射到半部分內,由此,能夠防止VTR判斷為磁帶到達末端而引起誤動作。
而且,在實施例5中,表示了光路用孔8a、8b的內表面上部(上半部內側面1A’、1B’),但是,通過對由透明半部分組成的光路用孔8a、8b的內表面周邊(比上述的內表面上部更寬)進行表面粗糙化處理,也具有同樣的效果。
而且,雖然對上述下半部2使用白色的不透明材料的例子進行了說明,但是,下半部2并不限于該色彩、材料,可以使用具有從磁帶盒EE的內部通過下半部2的散射光不會由感光元件D2、D3感光檢測的程度的低透光性的部件和具有高透光性的部件。當把具有高透光性的部件用于下半部2時,對光路用孔8a、8b的外周面(未圖示的下半部內側面2A’、2B’)進行表面粗糙化處理是有效的。
通過進一步設置該突起部22,能夠進一步減少通過光路用孔8a、8b附近(進行表面粗糙化處理的部分)周邊的上半部1的透明部的散射光的光量。
其結果,由于該散射光的光量始終維持在能夠感光的光量以下,所以感光元件D2、D3不進行感光檢測。由此,在VTR側,判斷為磁帶T不是磁帶末端狀態(tài),因此,維持VTR的走帶。
當然,在從VTR側的發(fā)光元件D1射出的直射光通過磁帶T的導引帶部之后,經過光路用孔8a、8b而以大于預定的光量到達感光元件D2、D3,由此,在VTR側,判斷為磁帶T成為磁帶末端狀態(tài),使VTR的走帶停止。
如圖19、圖20所示的那樣,形成該突起部22以覆蓋上半部1,因此,如圖19所示的那樣,當從磁帶盒FF的側面看時,在橫斷中心線X-X的上下分離,突起部不顯著,因此,外觀上較好。
雖然對上述下半部2使用白色的不透明材料的例子進行了說明,但是,下半部2并不限于該色彩、材料,可以使用具有從磁帶盒FF的內部通過下半部2的散射光不會由感光元件D2、D3感光檢測的程度的低透光性的部件。
雖然以按照DVC方式的標準的磁帶盒為例來說明了上述本發(fā)明的磁帶盒的實施例,但是,本發(fā)明的磁帶盒也可以適用于DVC方式之外的例如VHS方式的磁帶盒。
如上述那樣,方案1-4所記載的發(fā)明提供了一種磁帶盒,在具有高透光性的上半部的側面和下半部的側面上形成用于使來自裝置側的發(fā)光部的檢測光通向裝置側的感光部的光路用孔,并且,對與上述光路用孔相鄰或者附近的上述上半部外側面部分和/或上述下半部外側面部分進行表面粗糙化處理,由此,能夠防止大于能進行感光檢測的光量的除檢測光之外的不需要光到達上述感光部,能夠事先防止裝置側對磁帶末端的誤檢測。
根據方案5-7所記載的發(fā)明提供了一種磁帶盒,在至少由具有高透光性的部件構成的上半部的側面上形成用于使來自裝置側的發(fā)光部的檢測光通向裝置側的感光部的光路用孔,并且,對與上述光路用孔相鄰或者附近的上述上半部內側面部分進行表面粗糙化處理,由此,能夠防止大于能進行感光檢測的光量的除檢測光之外的不需要光到達上述感光部,能夠事先防止裝置側對磁帶末端的誤檢測。
而且,通過在光路用孔附近形成由下半部構成的突起部,而進一步提高該效果。
權利要求
1.一種磁帶盒,用于下述的裝置中在裝置側設置磁帶末端檢測用發(fā)光部和接收來自該發(fā)光部的檢測光的磁帶末端檢測用感光部,來自上述發(fā)光部的檢測光以大于預定的光量到達上述感光部,由此檢測出是否為磁帶末端,并且,該磁帶盒由上下兩半部分組合而成,其特征在于,至少上述上半部由具有高透光性的部件構成,在上述上下兩半部分的側面上,形成用于使來自上述發(fā)光部的檢測光通向上述感光部側的光路用孔,并且,把與上述光路用孔相鄰或者接近的上述上半部外側面部分和/或上述下半部外側面進行表面粗糙化處理,由此,防止大于上述預定光量的除檢測光之外的不需要的光到達上述感光元件。
2.根據權利要求1所述的磁帶盒,其特征在于,把上述光路用孔的上方部分的上述上半部外側面進行表面粗糙化處理。
3.一種磁帶盒,用于以下的裝置中在裝置側設置磁帶末端檢測用發(fā)光部和接收來自該發(fā)光部的檢測光的磁帶末端檢測用感光部,來自上述發(fā)光部的檢測光以大于預定的光量到達上述感光部,由此檢測出是否為磁帶末端,并且,該磁帶盒由上下兩半部分組合而成,其特征在于,上述上半部由具有高透光性的部件構成,上述下半部由具有低透光性的部件或者不具有透光性的部件構成,僅在上述下半部上形成用于使來自上述發(fā)光部的檢測光通向上述感光部側的光路用孔,由此,防止大于上述預定光量的除檢測光之外的不需要光到達上述感光元件。
4.根據權利要求1至3任一項所述的磁帶盒,其特征在于,包括分別設在用于卷繞上述磁帶的一對輪轂上的各一對上下兩個凸緣,把上述各個上凸緣的各自的上表面或者下表面進行表面粗糙化處理。
5.一種磁帶盒,用于下述的裝置中在裝置側設置磁帶末端檢測用發(fā)光部和接收來自該發(fā)光部的檢測光的磁帶末端檢測用感光部,來自上述發(fā)光部的檢測光以大于預定的光量到達上述感光部,由此檢測出是否為磁帶末端,并且,該磁帶盒由上下兩半部分組合而成,其特征在于,至少上述上半部由具有高透光性的部件構成,在上述上下兩半部分的側面上形成用于使來自上述發(fā)光部的檢測光通向上述感光部側的光路用孔,并且,把與上述光路用孔相鄰或者接近的上述上半部和/或上述下半部內側面部分進行表面粗糙化處理,由此,防止大于上述預定光量的除檢測光之外的不需要光到達上述感光元件。
6.根據權利要求5所述的磁帶盒,其特征在于,把上述光路用孔的上方部分的上述上半部內側面進行表面粗糙化處理。
7.根據權利要求5或6所述的磁帶盒,其特征在于,上述上半部由具有高透光性的部件構成,上述下半部由具有低透光性的部件或者不具有透光性的部件構成,在上述光路用孔的附近形成由上述下半部所產生的突起部。
全文摘要
本發(fā)明的目的是提供能夠事先防止磁帶末端的誤檢測的磁帶盒。其至少上半部1由透明度高的材料構成,在上半部1的側面上形成光路用孔8a、8b,并且,在上半部外側面1A、1B(或者上半部內側面1A’、1B’)的與光路用孔8a、8b相鄰或者接近的部分上形成粗糙表面10a、10b(棱柱形部21)。
文檔編號G11B23/087GK1342981SQ01130959
公開日2002年4月3日 申請日期2001年8月28日 優(yōu)先權日2000年9月1日
發(fā)明者府川亞夫, 鈴木和彥, 倉田仁 申請人:日本勝利株式會社
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