專利名稱：顆粒探測(cè)的方法和系統(tǒng)的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種探測(cè)顆粒的方法和系統(tǒng)。本發(fā)明的優(yōu)選實(shí)施方案將以探測(cè)煙霧的情況進(jìn)行描述。然而，本發(fā)明不應(yīng)被認(rèn)為局限于此示例性的應(yīng)用。
背景技術(shù)：
顆粒探測(cè)器根據(jù)從一束光線中散射出的光的量來探測(cè)空氣中的顆
粒，如艾克利斯7>司(Xtralis Pty Ltd.)出售的商標(biāo)為VESDA的煙霧探測(cè)器，提供了探測(cè)顆粒的高敏感手段。這些煙霧探測(cè)器通過透射一束光線進(jìn)行工作， 一般由激光 器或閃光管發(fā)出，穿過一股可能存在顆粒的空氣。將光電探測(cè)器，例如光電二極管或其他光敏元件，置于與被照射的體積相關(guān)的預(yù)定的位置，且光電探測(cè)器接收到的散射光的量用于確定氣流中顆粒物的量。
由于這種探測(cè)器的"感興趣區(qū)"相對(duì)小，并且氣流的散射效率相對(duì)低，可低至每米0. 005%減光，因此光電探測(cè)器必須高度敏感。感興趣區(qū)可界定在被光源照射的體積和可以被光接收器接收光的體積的交疊區(qū)域。通常在這樣的探測(cè)器中，存在煙霧和不存在煙霧的情況下(量足夠高足以引起關(guān)注)接收到的光的量的差別在皮瓦量級(jí)。因此，分析探測(cè)器輸出的探測(cè)電子器件和軟件必須精確調(diào)整到從背景信號(hào)和噪音中準(zhǔn)確分辨出氣流中的顆粒。
由于必需的高敏感度，若異物如灰塵顆?；蚶ハx進(jìn)入探測(cè)器的"感興趣區(qū)"，這種煙霧探測(cè)器有發(fā)生錯(cuò)誤警報(bào)的風(fēng)險(xiǎn)。
為了將干擾物質(zhì)進(jìn)入感興趣區(qū)或顆粒:探測(cè)器的探測(cè)室的可能性完全最小化，已提出各種篩分和過濾方案。 一個(gè)這樣的例子是使用"塊體過濾器"，如泡沫過濾器或紙過濾器，用于濾出大于有待探測(cè)顆粒的顆粒。然而，感興趣的顆粒(如煙霧顆粒)根據(jù)應(yīng)用情況的不同可能為各種尺寸，并且需要慎重選擇過濾器以避免移除感興趣的顆粒。另外，即使開始時(shí)正確選擇了過濾器，但是當(dāng)這種傳統(tǒng)的塊體過濾器堵塞時(shí)，它們開始從空氣中移除更多的顆粒，最終開始過濾掉感興趣的小顆粒。這可能是由于當(dāng)更多顆粒堵塞過濾器時(shí)過濾器的有效孔徑減小所導(dǎo)致的。這可能是一個(gè)問題，因?yàn)檫@種過濾器在氣流通過過濾器的速率發(fā)生可被察覺的改變之前就開始不如人意地移除感興趣的顆粒。結(jié)果是過濾器可能開始移除未發(fā)現(xiàn)部分的感興趣的顆粒。
使用塊體過濾器的一個(gè)替換的解決方案是使用篩網(wǎng)式過濾器，如濾網(wǎng)，會(huì)捕捉所有橫截面大于網(wǎng)眼尺寸的顆粒。然而，這種濾網(wǎng)不阻止一些細(xì)長(zhǎng)的顆沖立通過它們。
在一些情況下，還可能在探測(cè)室中累積灰塵，或顆粒某種程度地附著在一起，在探測(cè)室中"生出"灰塵的長(zhǎng)絲。在極端的情況下這種情況會(huì)持續(xù)至長(zhǎng)絲侵入到感興趣區(qū)為止。
顯然，對(duì)于這種高敏感器件，任何侵入到被照射體積的大物體將會(huì)引起探測(cè)室中顯著的光散射程度，這種情況會(huì)導(dǎo)致(或促使)觸發(fā)錯(cuò)誤的警報(bào)。尤其是在物體進(jìn)入到感興趣區(qū)的情況下。
因此，人們希望顆粒探測(cè)器，例如煙霧探測(cè)器，具有的系統(tǒng)和方法辨別或防止由干擾的污染侵入其探測(cè)區(qū)域而引起的錯(cuò)誤的報(bào)警。

發(fā)明內(nèi)容
在本發(fā)明的第一方面中，提供一種探測(cè)氣流中的顆粒的方法，所述
方法包括照射第一體積，至少部分氣流通過所述第一體積，且探測(cè)從所述第一體積散射出的光；照射第二體積，至少部分氣流通過所述第二體積；將表示從所述第一體積散射出的光的數(shù)值與表示從所述第二體積散射出的光的數(shù)值進(jìn)行比較；和至少部分基于所述比較確定是否已在氣流 中探測(cè)到顆粒。
優(yōu)選地，確認(rèn)是否已在氣流中探測(cè)到顆粒的步驟包括將從第一和第二體積散射出的光的量進(jìn)行對(duì)比。若表示從第 一和第二體積中散射出的光的數(shù)值基本相等，則可以確認(rèn)光散射是存在于氣流中的感興趣顆粒所導(dǎo)致的結(jié)果?；蛘撸舯硎緩牡谝缓偷诙w積中散射出的光的數(shù)值不同，則可確認(rèn)探測(cè)器中存在錯(cuò)誤情況。此方法還可以包括提供錯(cuò)誤情況存在的報(bào)告。
優(yōu)選地，所述祐」探測(cè)的顆粒為煙霧顆粒。
在本發(fā)明的第二方面中，提供一種在顆粒探測(cè)器中識(shí)別錯(cuò)誤顆粒揮:
測(cè)情況的方法；所述顆粒探測(cè)器被構(gòu)造為探測(cè)氣流中的顆粒，包括照射
多個(gè)體積的構(gòu)件，至少部分氣流貫穿所述多個(gè)體積，以及探測(cè)從所述多
個(gè)體積散射出的光的構(gòu)件；所述方法包括將表示從第一體積和第二體積散射出的光的測(cè)量進(jìn)行比較，以及若從第一體積和第二體積散射出的光不基本對(duì)應(yīng)氣流中相同的顆粒量，則識(shí)別出發(fā)生了顆粒探測(cè)錯(cuò)誤情況。若從第一體積和第二體積散射出的光基本相同，則所述方法包括確
認(rèn)沒有發(fā)生錯(cuò)誤探測(cè)情況。
在本發(fā)明的第三方面中，提供一種用于探測(cè)氣流中的顆粒的裝置，所述裝置包括用于照射氣流中多個(gè)體積的至少一個(gè)光源；被安置得便于探測(cè)從多個(gè)被照射體積中各自相應(yīng)的一個(gè)被照射的體積散射出的光的多個(gè)光電探測(cè)器；被構(gòu)造為處理至少兩個(gè)所述光電探測(cè)器的輸出和確認(rèn)是否已纟笨測(cè)到氣流中的顆粒的信號(hào)處理裝置。
在另一個(gè)方面中，提供一種用于探測(cè)氣流中的顆粒的裝置，所述裝置包括用于照射至少一個(gè)體積的至少一個(gè)光源，至少部分氣流通過所述至少一個(gè)體積；至少一個(gè)光電探測(cè)器，所述至少一個(gè)光電探測(cè)器被安置得便于探測(cè)從與其各自相應(yīng)的被照射的體積散射出的光，由此在光電探測(cè)器的視場(chǎng)和被照射的體積的交疊區(qū)域界定多個(gè)感興趣區(qū)；被構(gòu)造為處理至少兩個(gè)所述光電探測(cè)器的輸出和確認(rèn)是否已探測(cè)到氣流中的顆粒的信號(hào)處理裝置。
所述裝置可以包括用于照射氣流中的多個(gè)體積的多個(gè)光源。
所述信號(hào)處理裝置可以包括將代表兩個(gè)或更多個(gè)光電探測(cè)器的輸出的數(shù)值進(jìn)行比較的構(gòu)件。所述比較的結(jié)果可用于確認(rèn)是否已發(fā)生顆粒探測(cè)錯(cuò)誤。若代表兩個(gè)或更多個(gè)光電探測(cè)器的輸出的數(shù)值相近，則沒有探測(cè)到錯(cuò)誤。若比較顯示所述多個(gè)光電探測(cè)器接收到了不同強(qiáng)度的散射光， 則辨認(rèn)出現(xiàn)了錯(cuò)誤情況。通常錯(cuò)誤情況會(huì)顯示氣流中的所述一個(gè)或多個(gè)
被照射體積中存在異物(即不是希望被^:測(cè)的顆粒)。
所述第一體積和第二體積可以分別被獨(dú)立的光源照射。替換地，它
們可被一個(gè)共用的光源照射。
若第一和第二體積分別被獨(dú)立的光源照射，則從第 一和第二體積散
射出的光均可由 一 個(gè)公用的光探測(cè)構(gòu)件或分別由獨(dú)立的光探測(cè)構(gòu)件監(jiān)控。
在本發(fā)明的第四方面中，提供一種用于探測(cè)氣流中的顆粒的裝置，
所述裝置包括用于照射氣流中多個(gè)體積的至少一個(gè)光源；被安置得便 于探測(cè)從多個(gè)被照射體積中各自相應(yīng)的 一個(gè)被照射的體積散射出的光的 多個(gè)光電探測(cè)器；被構(gòu)造為確認(rèn)氣流中探得的顆粒量的處理器構(gòu)件，若 滿足了導(dǎo)致觸發(fā)警報(bào)的預(yù)定條件，所述處理器構(gòu)件另外被構(gòu)造為將表示 所述多個(gè)光電探測(cè)器中的至少兩個(gè)的輸出的數(shù)值進(jìn)行比較，并且確認(rèn)其 中 一個(gè)光電探測(cè)器的輸出受到其相應(yīng)的被照射的體積中的污染物的影 響。
若表示所述多個(gè)光電探測(cè)器中的至少兩個(gè)的輸出的數(shù)值不能基本相 等，則確認(rèn)所述裝置被照射的體積之一中存在污染物。所述處理器構(gòu)件 可被構(gòu)造為若其確認(rèn)在所述裝置的被照射體積之一中存在污染物，則不 觸發(fā)警報(bào)。
在本發(fā)明的第五方面中，提供一種用于探測(cè)顆粒的裝置，所述裝置 包括照射氣流中多個(gè)體積的多個(gè)光源，至少一個(gè)光電探測(cè)器，所述至 少一個(gè)光電探測(cè)器能夠探測(cè)由所述體積中至少兩個(gè)體積中的顆粒散射的 光；且其中所述光源可及時(shí)地獨(dú)立地控制強(qiáng)度以使能夠確認(rèn)所述體積中 的哪個(gè)體積是光電探測(cè)器接收到的散射光的源。
所述光源可按照預(yù)定方案獨(dú)立地控制強(qiáng)度。所述光源的強(qiáng)度調(diào)節(jié)與 被探測(cè)的光散射相關(guān)，以確認(rèn)哪個(gè)體積是光電探測(cè)器接收到的散射光的源。
每個(gè)光源可以以唯一的序列碼調(diào)節(jié)強(qiáng)度。所述編碼可選自 一組正交石馬或近正交石馬，例3oGold石馬。
所述顆粒探測(cè)裝置可以另外包括信號(hào)處理構(gòu)件，所述信號(hào)處理構(gòu)件 被構(gòu)造為通過使用相關(guān)技術(shù)恢復(fù)(recover)表示所探測(cè)到的從每個(gè)體積 散射出的光的信號(hào)。
若從至少兩個(gè)上述多個(gè)體積中得到的數(shù)值不能基本相等，可以確認(rèn) 所述裝置的至少 一個(gè)所述體積中存在污染物。
在本發(fā)明一個(gè)另一個(gè)方面中，提供一種用于探測(cè)顆粒的裝置，所述 裝置探測(cè)被照射的體積的光散射以確認(rèn)通過所述被照射體積的氣流中的 顆粒量；所述顆粒探測(cè)裝置包括多個(gè)空間上分開的、被監(jiān)控的、被照射 的體積，光從所述被照射體積散射出來并通過一個(gè)或更多個(gè)探測(cè)步驟進(jìn) 行探測(cè)；其中所述顆粒探測(cè)裝置被構(gòu)造為將表示從多個(gè)被監(jiān)控的被照射 的體積散射出的光的信號(hào)進(jìn)行比較以確認(rèn)氣流中的顆粒探測(cè)。
所述顆粒探測(cè)裝置可被構(gòu)造為，多個(gè)光探測(cè)步驟監(jiān)控同一氣流，若 所述多個(gè)光探測(cè)步驟的輸出基本相同，則所述裝置確認(rèn)氣流中的顆粒探 測(cè)。
在這種情況下，所述顆粒^:測(cè)裝置優(yōu)選包括多個(gè)光源，所述多個(gè)光 源被構(gòu)造為照射同一氣流中的各自的體積。優(yōu)選地，所述多個(gè)光源以預(yù) 定方式或響應(yīng)探得的顆粒量的方式被開啟、關(guān)閉來照射氣流中的各自的 體積。
有利地，若探測(cè)到預(yù)定的顆粒濃度，或探測(cè)到的顆粒濃度速率或變 化(或一些其他的度量)滿足預(yù)定條件，則一個(gè)或更多個(gè)所述光源可一皮 暫時(shí)關(guān)閉。這種設(shè)置使監(jiān)控其余的被照射體積的光探測(cè)步驟的輸出可以 被單獨(dú)處理。
有利地，這種設(shè)置使裝置可以探測(cè)出影響接收的散射光的量的錯(cuò)誤 情況，如異物進(jìn)入被照射體積中。
在本發(fā)明的另一個(gè)方面中，提供一種在顆粒探測(cè)器中的方法，在所 述顆粒探測(cè)器中被分析的氣流通過探測(cè)室，所述方法用于確認(rèn)對(duì)氣流通
過的第一體積的初始顆粒探測(cè)事件；所述方法包括嘗試探測(cè)氣流的第 二體積中的顆粒，所述第二體積不同于在其中發(fā)生初始顆粒:深測(cè)事件的所述第一體積，以及若在第二體積中發(fā)生了顆粒探測(cè)事件，則確認(rèn)初始 顆粒探測(cè)事件。
所述方法可以包括嘗試探測(cè)第 一體積中的顆粒，以及若探測(cè)到了顆 粒，則確認(rèn)初始顆粒探測(cè)事件已發(fā)生。
所述第一體積可以包括所述第二體積。替換地，所述第二體積可以 包括第一體積。
所述方法可以包括，若確認(rèn)了所述初始顆粒探測(cè)事件且滿足了 一個(gè) 或更多個(gè)附加報(bào)警條件，則引發(fā)警報(bào)。
在本發(fā)明的另一個(gè)方面中，提供一種探測(cè)氣流中的顆粒的裝置，所
述裝置包括，用于照射氣流的一個(gè)或多個(gè)部分的至少一個(gè)光源；被安置 得便于探測(cè)從氣流的一個(gè)或多個(gè)被照射的體積散射出的光的至少一個(gè)光 電探測(cè)器，其中所述至少一個(gè)光源和至少一個(gè)光電探測(cè)器被配置為可從 至少一個(gè)光電探測(cè)器的輸出中得到表示從多個(gè)被照射的體積散射出的光 的信號(hào)；和被構(gòu)造為處理所述表示從多個(gè)被照射的體積散射出的光的信 號(hào)以確定是否已在氣流中探測(cè)到顆粒的信號(hào)處理裝置。


即將僅通過非局限性的例子參考附圖來描述本發(fā)明的優(yōu)選方式，在 附圖中
圖1為根據(jù)本發(fā)明的第 一個(gè)實(shí)施方案制造的煙霧^t笨測(cè)器的剖面圖2為圖1中的煙霧纟笨測(cè)器的纟笨測(cè)室的剖面圖3為圖1中的煙霧探測(cè)器的探測(cè)室的示意圖4為根據(jù)本發(fā)明的第二個(gè)實(shí)施方案的煙霧探測(cè)器的剖面圖4A為煙霧^:測(cè)器的垂直于圖4中所示剖面的另 一個(gè)剖面圖5為第三個(gè)實(shí)施方案的具有多個(gè)煙霧探測(cè)管道的煙霧探測(cè)器的剖
面圖，此煙霧探測(cè)器按照本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施方案工作；
圖6為另一個(gè)實(shí)施方案的具有多個(gè)煙霧探測(cè)管道的煙霧探測(cè)器的剖
面圖，此煙霧探測(cè)器按照本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施方案工作； 圖7為本發(fā)明的另一個(gè)實(shí)施方案的剖面12圖8示出了圖7中的實(shí)施方案的變體；和 圖9示出了本發(fā)明的另一個(gè)實(shí)施方案。
具體實(shí)施例方式
圖1示出了按照本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施方案工作的煙霧探測(cè)器10的剖 面。在我們共同待審的專利申請(qǐng)中完整描述了煙霧探測(cè)器10,此共同待 審申請(qǐng)與本申請(qǐng)同曰提交，題為"Particle Detection Apparatus"，申 請(qǐng)人為Xtralis Technologies Limited。
概括地說，煙霧探測(cè)器10包括氣流路徑，所述氣流路徑具有輸入端 口 12,空氣樣本通常從采樣管網(wǎng)^皮吸入輸入端口中。氣流進(jìn)入氣流4笨測(cè) 區(qū)14并在其中測(cè)定氣流速率。氣流速率可以通過任意手段測(cè)定，但優(yōu)選 使用超聲流量傳感器，如在公開號(hào)為WO2004/102499的國(guó)際專利公布文 獻(xiàn)中描述的超聲流量傳感器，所述國(guó)際專利公布文獻(xiàn)的內(nèi)容通過引用合 并到本文中。在經(jīng)過并離開氣流探測(cè)區(qū)14后，氣流進(jìn)入煙霧探測(cè)器10 的探測(cè)室16，在其中對(duì)氣流進(jìn)行分析以確認(rèn)氣流中是否含有煙霧；而如 果含有煙霧，又是否應(yīng)該觸發(fā)報(bào)警條件。氣流被風(fēng)扇18抽出探測(cè)室16 并且經(jīng)排氣端口 (未顯示)排出探測(cè)器10。正如在我們的共同待審的申 請(qǐng)中討論的那樣， 一部分排出氣也由過濾元件20過濾從而向包含著探測(cè) 電子器件的殼體提供清潔的空氣以清潔其光學(xué)表面。
本實(shí)施方案的探測(cè)室16的其他細(xì)節(jié)顯示在圖2和3中。在這點(diǎn)上， 圖2描繪了探測(cè)器10的探測(cè)室16的剖面圖，而圖3示出了所述探測(cè)室 的俯-f見示意圖。
在此優(yōu)選實(shí)施方案中，探測(cè)室16包括兩個(gè)光源，例如激光器22和 24，所述激光器被構(gòu)造為發(fā)射各自的電磁輻射束26和28,所述電磁輻射 束貫穿探測(cè)室中的氣流。設(shè)置一對(duì)光電探測(cè)器30和32，所述一對(duì)光電探 測(cè)器能夠分別檢測(cè)覆蓋各自的感應(yīng)體積34和36的光。每個(gè)光電探測(cè)器 30和32與相應(yīng)的激光束26和28共線排列，以使所述光電探測(cè)器的視場(chǎng) 與部分激光束交疊形成兩個(gè)感興趣區(qū)38和40。會(huì)意識(shí)到的是，被每個(gè)光 電探測(cè)器30和32監(jiān)控的體積34和36通常為圓錐形，如示出在圖2中的剖面所示。在圖3中，被監(jiān)控的激光束26的感興趣區(qū)以附圖標(biāo)記38 表示，被監(jiān)控的激光束28的感興趣區(qū)以附圖標(biāo)記40表示。
在使用中，當(dāng)懸浮在氣流中的顆粒通過感興趣區(qū)38和40時(shí)，每束 激光的光將一皮散射離開激光的直線路徑。每束光26和28的散射光的一 部分會(huì)在各自的光電探測(cè)器30和32的方向上散射，因而被光電探測(cè)器 接收。從光電探測(cè)器輸出的信號(hào)中可推知?dú)饬髦械念w粒物含量。本領(lǐng)域 技術(shù)人員已知多種技術(shù)用于區(qū)分不同的顆粒類型，例如通過為激光束和 光電探測(cè)器選擇合適的幾何排列將煙霧與灰塵區(qū)分開來。
由于感興趣區(qū)在空間上是分開的，因此當(dāng)懸浮在探測(cè)室16中的氣流 中的顆粒通過感興趣區(qū)38和40的其中之一時(shí)，光將仫j皮其相應(yīng)的光電 探測(cè)器32或34探測(cè)而不被另一個(gè)光電探測(cè)器探測(cè)。通過比較每個(gè)探測(cè) 器的輸出，可以確認(rèn)每個(gè)探測(cè)器是否探測(cè)到相近的顆粒物負(fù)載量。本發(fā) 明人已確認(rèn)，若在兩個(gè)感興趣區(qū)中探得基本相近的顆粒負(fù)載量，則進(jìn)行 以下的推測(cè)是合理的不存在任何獨(dú)立探得的器件故障的跡象，探測(cè)器 工作正常，并且由于這些顆粒通常均勻散布在整個(gè)探測(cè)室中，因此光電 探測(cè)器探測(cè)的散射是氣流中攜帶的顆粒導(dǎo)致的結(jié)果。另一方面，若由光 電探測(cè)器探測(cè)的散射推測(cè)出的顆粒負(fù)載量不同，則可能至少一個(gè)探測(cè)器 的輸出沒有反映出氣流中感興趣顆粒的量。
不能準(zhǔn)確探測(cè)感興趣區(qū)之一中氣流中的所述顆粒含量的故障可能是 由于一種或更多種因素，包括但不限于
與監(jiān)控或照射感興趣區(qū)之一關(guān)聯(lián)的一個(gè)或更多個(gè)組件的故障，這種 故障可能會(huì)引起過高或過低的輸出信號(hào)。
侵入感興趣區(qū)之一的異物，其增加了此感興趣區(qū)中的散射程度，或
遮擋了光電探測(cè)器之一 的視場(chǎng)的異物。
在此優(yōu)選實(shí)施方案中，將表示從多個(gè)空間上分開的空氣體積散射出 的光的信號(hào)進(jìn)行對(duì)比，所述對(duì)比有利地用于探測(cè)探測(cè)室中異物的存在。
盡管顆粒探測(cè)器通常具有其他監(jiān)控探測(cè)和照射系統(tǒng)的工作情況的方 法，并且可設(shè)有用于保證光學(xué)的重要表面不被遮擋的系統(tǒng)，例如通過將 清潔空氣吹到重要的光學(xué)表面上并通過光電探測(cè)器的觀測(cè)光圈，但其他的實(shí)施方案可以利用從多個(gè)空間上分開的空氣體積中得到的信號(hào)之間的 對(duì)比來監(jiān)控探測(cè)器工作的這些方面。
圖4示出了本發(fā)明的一個(gè)方面的第二個(gè)實(shí)施方案。在此實(shí)施方案中， 沒有使用兩個(gè)光源照射同 一樣本氣流的兩個(gè)在空間上分開的感興趣區(qū)， 而是使用一個(gè)光源照射兩個(gè)感興趣區(qū)。在圖4中，顆粒探測(cè)器400包括 單項(xiàng)輸入端口 402,樣本氣流順著箭頭404的方向^L吸入輸入端口。樣本 被隔板410有效地分成了兩股次級(jí)氣流406和408。光源412,在此例中 為激光器，被構(gòu)造為照射次級(jí)氣流406和408的一部分。隔板410中具 有孔414，激光束416穿過此孔來照射離激光器412最遠(yuǎn)的次級(jí)氣流。此 探測(cè)器還包括光吸收器418，此光吸收器被構(gòu)造為以受控的方式終止激光 束416,也就是說，使進(jìn)入探測(cè)室的背反射最小。光電探測(cè)器420、 422 置于隔板41G的兩側(cè)，以使每個(gè)光電探測(cè)器420、 422在激光束416穿過 相應(yīng)的次級(jí)氣流406、 408時(shí)能夠采集激光束416的散射光。激光束416 與每個(gè)光電纟笨測(cè)器420、 422的可7見測(cè)體積424、 426的交疊區(qū)域在顆粒 探測(cè)器400內(nèi)產(chǎn)生兩個(gè)空間上分開的感興趣區(qū)。從每個(gè)光電探測(cè)器420 和422發(fā)出的信號(hào)可以以在之前的實(shí)施方案中描述的方式用于改進(jìn)煙霧 探測(cè)器400進(jìn)行的煙霧探測(cè)的魯棒性。
有利地，通過在兩個(gè)光電纟笨測(cè)器420和422之間i殳置隔^反，兩個(gè)光 電探測(cè)器所探測(cè)的光將在很大程度上彼此獨(dú)立。因此，若異物進(jìn)入感興 趣區(qū)之一 而引起干擾的光散射，則監(jiān)控其他感興趣區(qū)的光電探測(cè)器所接 收的散射光的量將在很大程度上不受影響?？赡艽嬖谶@樣的實(shí)施方案 不包括在此實(shí)施方案中描述的隔板，但是會(huì)簡(jiǎn)單地具有兩個(gè)光電探測(cè)器， 每個(gè)光電探測(cè)器在激光束貫穿樣本氣流時(shí)采集從激光束的兩個(gè)不同的部 分散射出的光；但是由于非常大的顆?？赡芡瑫r(shí)進(jìn)入兩個(gè)感興趣區(qū)，或 顆粒以一定程度散射光，以至于即使顆粒未進(jìn)入光電探測(cè)器的感興趣區(qū)， 但兩個(gè)光電探測(cè)器仍然都受到了影響，因此這樣的配置可能出現(xiàn)更多錯(cuò) 誤報(bào)警的情況。
這種在每個(gè)樣本氣流中設(shè)置多個(gè)感興趣區(qū)以改進(jìn)顆粒探測(cè)事件可靠 性的方案可外延至其他配置中，下文中將描述對(duì)另外的配置的選擇。在圖5描繪的第三個(gè)實(shí)施方案中，示出了顆粒探測(cè)器500,在其中可 使用兩個(gè)光源同時(shí)分析四個(gè)空氣樣本。在此實(shí)施方案中隔板502、 504、 506、 508和510劃分出四個(gè)^果測(cè)室。每個(gè)隔寺反設(shè)有自己的一對(duì)孔512A 和512B、 514A和514B、 516A和516B、 518A和518B、 520A和520B, ^敫 光器526和528各自的光束522或524穿過這些孔。每束光522和524 終止在各自的光吸收器530和532中。隔板502、 504、 506、 508和510 劃分出四條氣流路徑534、 536、 538和540,在工作中四股氣流可以穿過 這四條氣流路徑。每條氣流路徑534、 536、 538和540設(shè)有兩個(gè)光電探 測(cè)器，例如氣流通路534的542A和542B,這些光電探測(cè)器被構(gòu)造為在每 條激光束522和524貫穿每條氣流路徑534、 536、 538和540時(shí)觀測(cè)至 少每條激光束522和524的一部分。如第一個(gè)實(shí)施方案中具有的那樣， 每條氣流路徑設(shè)有兩個(gè)在空間上分開的感興趣區(qū)，例如氣流路徑534的 感興趣區(qū)544A和544B。因此，正如將會(huì)發(fā)現(xiàn)的那樣，多股樣品氣流中的 每一股可以以在圖1中描繪的實(shí)施方案中所描述的方式進(jìn)行處理，而具 有隨之而來的優(yōu)點(diǎn)。
圖6示出了根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)方面制造的顆粒4笨測(cè)裝置的另一個(gè)實(shí) 施方案。此實(shí)施方案的探測(cè)器600包括單個(gè)光源602以照射兩股氣流612 和614中的四個(gè)感興趣區(qū)604、 606、 608和610。氣流^各徑的結(jié)構(gòu)近似于 圖4所示的結(jié)構(gòu)，在此氣流路徑中，每股氣流612和614被隔板616和 618分別劃分為次級(jí)氣流612A、 612B和614A、 614B,且一個(gè)共用光源照 射每股次級(jí)氣流612A、 612B、 614A和614B的一部分。類似地，每股次 級(jí)氣流具有) 見測(cè)其自身的專用光電^:測(cè)器620、 622、 624和626以在每 股氣流612和614中產(chǎn)生空間上分開的感興趣空間對(duì)604、 606和608、 610。單個(gè)激光器602的光束628，經(jīng)由形成在每塊劃分氣流路徑的隔板 中的孔貫穿每塊隔板，并終止于光吸收器630。
在此處描繪的一個(gè)優(yōu)選實(shí)施方案中，在顆粒探測(cè)裝置中使用多個(gè)空 間上分開的感興趣區(qū)以分析樣本氣流，可需要相應(yīng)的多個(gè)光子探測(cè)步驟。
為了使探測(cè)器可以區(qū)分由一個(gè)或另 一個(gè)感興趣區(qū)得到的信號(hào)，周期 性地使用光源和間歇性地照射分開的感興趣區(qū)是有利的。在具有兩個(gè)或更多個(gè)光源的系統(tǒng)中，每個(gè)感興趣區(qū)的照射周期可以錯(cuò)開，從而以預(yù)定 的方式選擇性地照射每個(gè)感興趣區(qū)，例如對(duì)于具有兩個(gè)感興趣區(qū)的系統(tǒng)， 在第 一 時(shí)間段可僅照射第 一感興趣區(qū)，在第二時(shí)間段可同時(shí)照射兩個(gè)感 興趣區(qū)，在第三時(shí)間段可僅照射另一個(gè)(第二)感興趣區(qū)。
另一個(gè)合適的強(qiáng)度-時(shí)間控制方案的例子是獨(dú)立地開關(guān)所述多個(gè)光 源并且將被檢測(cè)的光散射與那時(shí)被照射的體積聯(lián)系起來。另 一個(gè)合適的 強(qiáng)度-時(shí)間控制方案的例子是使用編碼序列，其中，以唯一的序列碼調(diào)節(jié)
每個(gè)光源的強(qiáng)度。此編碼可選自一組正交碼或近正交碼，例如Gold碼。 信號(hào)處理構(gòu)件可用于處理接收到的散射信號(hào)，使用相關(guān)技術(shù)以確認(rèn)每個(gè) 體積對(duì)散射的各自的貢獻(xiàn)。若從前述多個(gè)體積中的至少兩個(gè)體積得到的 數(shù)值不能基本相等，則可以確認(rèn)至少 一個(gè)所述裝置的體積中存在污染物， 并且因此處理構(gòu)件可被構(gòu)造為不觸發(fā)警報(bào)。
在一個(gè)優(yōu)選的形式中，所述顆粒探測(cè)器為抽吸式的，并且可以包括 一個(gè)風(fēng)扇或其他構(gòu)件將空氣吸入并經(jīng)過感興趣區(qū)。替換地，可設(shè)置抽吸 構(gòu)件作為顆粒探測(cè)系統(tǒng)的獨(dú)立的組件。有待分析的空氣樣本可持續(xù)從一 個(gè)空間或其他被監(jiān)控顆粒(如煙霧)的區(qū)域吸入。在此例中顆粒探測(cè)器 可為系統(tǒng)的一部分，所述顆粒探測(cè)器通過管網(wǎng)吸入空氣樣本，所述管網(wǎng) 由一個(gè)或更多個(gè)帶有采樣孔的采樣管組成，所述采樣孔設(shè)在可采集到攜 帶煙霧或顆粒的空氣的位置。空氣通過風(fēng)扇被吸入并通過采樣孔沿著采 樣管運(yùn)動(dòng)，并且被引導(dǎo)通過在遠(yuǎn)處的探測(cè)器。
圖7示出了本發(fā)明的另一個(gè)實(shí)施方案。在此實(shí)施方案中，示出了顆 粒探測(cè)器700的剖面圖。顆粒探測(cè)器700包括第一探測(cè)室702和第二探 測(cè)室704。被分析的攜帶著顆粒的氣流順著箭頭706的方向通過探測(cè)室。 獨(dú)立的探測(cè)室702和704各裝有一個(gè)光源708和710。在此例中光源為 LED,且發(fā)射各自的光束712和714,光束712和714貫穿各自的探測(cè)室 702和704。探測(cè)室702和704裝有相應(yīng)的光電4笨測(cè)器716和718。光電 探測(cè)器716適合于觀測(cè)由附圖標(biāo)記720標(biāo)記的體積，而光電探測(cè)器718 適合于觀測(cè)由附圖標(biāo)記722標(biāo)記的體積。光束712和感應(yīng)區(qū)720的交疊 區(qū)域形成第一4笨測(cè)室702的感興趣區(qū)724,而光束714和感應(yīng)區(qū)722的交疊區(qū)域形成第二感興趣區(qū)，探測(cè)室704的氣流中的顆粒通過此第二感興 趣區(qū)時(shí)可被探測(cè)到。
系統(tǒng)700另外安裝了適合于發(fā)射光束730的第三光源728。光源728 也可以為L(zhǎng)ED或其他非準(zhǔn)直輻射源。每個(gè)探測(cè)室702和704安裝了各自 的第二光電探測(cè)器732和734,此兩個(gè)第二光電探測(cè)器適合于觀測(cè)光束 730的各自的一部分，從而界定了感興趣區(qū)740和742。在使用中，此實(shí) 施方案以與前面的實(shí)施方案相似的方式操作第一光源708和710以及與 其相應(yīng)的用于探測(cè)氣流中的顆粒的光電探測(cè)器716和718。通過使用光源 728照射每個(gè)#笨測(cè)室702和704中的第二感興趣區(qū)740和742來確認(rèn)顆粒 探測(cè)或錯(cuò)誤探測(cè)。
圖8示出了本發(fā)明的另一個(gè)實(shí)施方案。在此實(shí)施方案中，探測(cè)室802 和804在下游部分806合并成單項(xiàng)排氣歧管。初級(jí)顆粒:探測(cè)以關(guān)于圖7 的描述中的相同方式進(jìn)行。在系統(tǒng)800更下游的位點(diǎn)設(shè)有另一個(gè)光源 808,此光源被構(gòu)造為發(fā)射穿過體積806的光束810。光電探測(cè)器812、 814安裝在與每個(gè)探測(cè)室802和804的排氣端相鄰的位置。對(duì)于每個(gè)探測(cè) 室802和804,這樣的配置界定了第二感興趣區(qū)816和818，此第二感興 趣區(qū)可以以上述方式用于確認(rèn)顆粒探測(cè)事件或錯(cuò)誤的存在，如顆粒探測(cè) 器中異物的存在。此第二感興趣區(qū)被配置為離探測(cè)室802和804的末端 足夠近，以使氣流不會(huì)大部分混合、且由第二光子感應(yīng)器中之一進(jìn)行的 顆粒探測(cè)可歸因于探測(cè)室中的一個(gè)或另 一個(gè)。
在弱魯棒度的錯(cuò)誤檢測(cè)可被接受的情況下，有可能在排氣歧管中的 混合氣流的更下游進(jìn)行一個(gè)共用的第二顆粒探測(cè)測(cè)量。由于作用于接收 到的煙霧信號(hào)的稀釋效果，可能需要在確定是否已發(fā)生顆粒探測(cè)事件或 是否存在錯(cuò)誤之前對(duì)此數(shù)值進(jìn)行校正。
圖9示出了本發(fā)明的另一個(gè)實(shí)施方案，其中單個(gè)光源，在此例中為 一個(gè)激光器，被用于照射同一氣流中的多個(gè)感興趣區(qū)。在此實(shí)施方案中， 探測(cè)器900包括單個(gè)探測(cè)室902，空氣順著箭頭904的方向流過此單個(gè)探 測(cè)室。激光光源906用于照射氣流中的體積。這個(gè)體積在兩個(gè)位置被光 電探測(cè)器908和910監(jiān)控，這兩個(gè)光電探測(cè)器被構(gòu)造為接收穿過各自的
18區(qū)域909和911的光，因而界定了兩個(gè)感興趣區(qū)912和914。這些感興趣 區(qū)在空間上是分開的，并且接收到的對(duì)應(yīng)兩個(gè)感興趣區(qū)的光散射信號(hào)「 可以以上述方式用于確i人顆粒纟笨測(cè)事件或宣布故障。
正如將被意識(shí)到的那樣，可通過作出對(duì)于本領(lǐng)域技術(shù)人員顯而易見 的、適當(dāng)?shù)淖兓瑢⒈景l(fā)明的實(shí)施方案外延至任意數(shù)量的光源、探測(cè)室、 光電探測(cè)器和感興趣區(qū)。
在本文描述的一些實(shí)施方案中，描述的光源為激光光源。然而，所 述光源可等效為一個(gè)或更多個(gè)LED或其他光源。若使用LED或其他非準(zhǔn) 直光源，可能需要使用一個(gè)或更多個(gè)光學(xué)器件(例如透鏡)來聚焦或準(zhǔn) 直化此光源發(fā)射出的光束。
應(yīng)該理解，在說明書中公開的和定義的本發(fā)明外延至所有其他的、 將兩個(gè)或更多個(gè)在文本和附圖中提到的或明顯存在的獨(dú)立特征結(jié)合的方 案。所有這些不同的結(jié)合方案構(gòu)成本發(fā)明的各個(gè)其他的方面。
還應(yīng)理解的是，用于本發(fā)明說明書中的術(shù)語(yǔ)"包括(comprises)"(或 其語(yǔ)法上的變體)等效于術(shù)語(yǔ)"包括(includes)",并且不應(yīng)理解為排除 其他元素或特征的存在。
權(quán)利要求
1.一種探測(cè)氣流中的顆粒的方法，所述方法包括照射第一體積，至少部分氣流通過所述第一體積，和探測(cè)從所述第一體積散射出的光；照射第二體積，至少部分氣流通過所述第二體積；將表示從所述第一體積散射出的光的數(shù)值與表示從所述第二體積散射出的光的數(shù)值進(jìn)行比較；和至少部分基于所述比較確定是否已在氣流中探測(cè)到顆粒。
2. 根據(jù)權(quán)利要求1中所述的方法，其特征在于，若與表示從所述第一體積散射出的光的數(shù)值相對(duì)應(yīng)的第 一探得顆粒量和與表示從所述第二體積散射出的光的測(cè)量比值相對(duì)應(yīng)的第二探得顆粒量基本相等，則所述方法包括確認(rèn)已探測(cè)到顆粒。
3. 根據(jù)權(quán)利要求1或2中所述的方法，其特征在于，若與表示從所述第 一體積散射出的光的數(shù)值相對(duì)應(yīng)的第 一探得顆粒量和與表示從所述第二體積散射出的光的測(cè)量比值相對(duì)應(yīng)的第二探得顆粒量不基本相等，則確認(rèn)存在錯(cuò)誤情況。
4. 根據(jù)權(quán)利要求3中所述的方法，其特征在于，所述錯(cuò)誤意味著器件被污染，所述第一或第二體積中的任意一個(gè)或兩者都位于所述器件中。
5. 根據(jù)權(quán)利要求3或4中所述的方法，其特征在于，所述方法包括提供所述錯(cuò)誤情況的報(bào)告。
6. —種識(shí)別顆粒探測(cè)器中顆粒探測(cè)錯(cuò)誤情況的方法，所述顆粒探測(cè)器被構(gòu)造為探測(cè)氣流中的顆粒，所述顆粒探測(cè)裝置包括用于照射多個(gè)體積的構(gòu)件，至少部分氣流貫穿所述多個(gè)體積，以及用于探測(cè)從所述多個(gè)體積散射出的光的構(gòu)件；所述方法包括將表示從第一體積和第二體積散射出的光的測(cè)量進(jìn)行比較，以及若從第一體積和第二體積散射出的光不基本對(duì)應(yīng)于氣流中相同的顆粒量，則辨認(rèn)出發(fā)生了顆粒探測(cè)錯(cuò)誤情況。
7. 根據(jù)權(quán)利要求6中所述的方法，其特征在于，所述方法進(jìn)一步包括，若從第 一體積和第二體積散射出的光基本對(duì)應(yīng)于氣流中相同的顆粒量，則至少意味著探測(cè)到了顆粒。
8. —種在顆粒探測(cè)器中的方法，在所述顆粒探測(cè)器中，被分析的氣流通過探測(cè)室，所述方法用于確認(rèn)對(duì)氣流通過的第一體積的初始顆粒摞:測(cè)事件；所述方法包括嘗試探測(cè)氣流的第二體積中的顆粒，所述第二體積不同于在其中發(fā)生初始顆粒探測(cè)事件的所述第 一體積，以及若在第二體積中發(fā)生了顆粒探測(cè)事件，則確認(rèn)初始顆粒探測(cè)事件。
9. 根據(jù)權(quán)利要求8中所述的方法，其特征在于，所述方法可以包括，如果確認(rèn)了對(duì)所述第一體積探測(cè)的初始顆粒探測(cè)事件，則引發(fā)警報(bào)。
10. 根據(jù)前迷權(quán)利要求的任意一項(xiàng)中所述的方法，其特征在于，被探測(cè)的顆粒為煙霧顆粒。
11. 一種用于探測(cè)氣流中的顆粒的裝置，所述裝置包括用于照射至少一個(gè)體積的至少一個(gè)光源，至少部分氣流通過所述至少一個(gè)體積；至少一個(gè)光電探測(cè)器，所述至少一個(gè)光電探測(cè)器被安置得便于探測(cè)從各自的被照射的體積散射出的光，由此在光電探測(cè)器的視場(chǎng)和被照射的體積的交疊區(qū)域界定多個(gè)感興趣區(qū)；信號(hào)處理裝置，所述信號(hào)處理裝置被構(gòu)造為處理所述光電探測(cè)器中至少兩個(gè)的輸出并確認(rèn)是否已探測(cè)到氣流中的顆粒。
12. 根據(jù)權(quán)利要求11中所述的裝置，其特征在于，所述信號(hào)處理裝置進(jìn)一步被構(gòu)造為確認(rèn)氣流中探測(cè)到的顆粒量，以及若滿足了導(dǎo)致觸發(fā)警報(bào)的預(yù)定條件，則處理器構(gòu)件另外被構(gòu)造為，將表示所述多個(gè)光電探測(cè)器中的至少兩個(gè)光電探測(cè)器的輸出的數(shù)值進(jìn)行比較，并且確認(rèn)其中一個(gè)光電探測(cè)器的輸出受到其相應(yīng)的被照射的體積中的污染物的影響。
13. 根據(jù)權(quán)利要求11或12所述的裝置，其特征在于，所述信號(hào)處理裝置包括將代表兩個(gè)或更多個(gè)光電探測(cè)器的輸出的數(shù)值進(jìn)行比較的構(gòu)件；基于比較的結(jié)果確認(rèn)是否發(fā)生了顆粒探測(cè)錯(cuò)誤。
14. 根據(jù)權(quán)利要求11-13的任意一項(xiàng)中所述的裝置，其特征在于，所述裝置包括多個(gè)光源。
15. 根據(jù)權(quán)利要求11-14的任意一項(xiàng)中所述的裝置，其特征在于，所述裝置包括多個(gè)光電探測(cè)器。
16. 根據(jù)權(quán)利要求12中所述的裝置，其特征在于，若表示所述多個(gè)光電探測(cè)器中的至少兩個(gè)的輸出的數(shù)值不基本相等，則確認(rèn)所述裝置的被照射的體積之一 中存在污染物。
17. —種用于探測(cè)顆粒的裝置，包括照射氣流中多個(gè)體積的多個(gè)光源；至少一個(gè)光電探測(cè)器，所述至少一個(gè)光電探測(cè)器能夠探測(cè)被所述體積中至少兩個(gè)體積中的顆粒散射出的光；并且其中，所述光源的強(qiáng)度可以被及時(shí)地獨(dú)立地控制，以使能夠確認(rèn)所述體積中的哪個(gè)體積是光電探測(cè)器接收到的散射光的源。
18. 根據(jù)權(quán)利要求17中所述的用于探測(cè)顆粒的裝置，其特征在于，所述光源可按照預(yù)定方案被獨(dú)立地控制強(qiáng)度。
19. 根據(jù)權(quán)利要求18中所述的用于探測(cè)顆粒的裝置，其特征在于，所述光源的強(qiáng)度調(diào)節(jié)與被探測(cè)的光散射相關(guān)，以確認(rèn)哪個(gè)體積是光電探測(cè)器接收到的散射光的源。
20. 根據(jù)權(quán)利要求17-19的任意一項(xiàng)中所述的裝置，其特征在于，所述裝置進(jìn)一步包括信號(hào)處理構(gòu)件，所述信號(hào)處理構(gòu)件;陂構(gòu)造為恢復(fù)表示所探測(cè)到的從每個(gè)體積散射出的光的信號(hào)。
21. —種用于探測(cè)顆粒的裝置，所述裝置探測(cè)從被照射的體積散射出的光，以確定通過所述^皮照射的體積的氣流中的顆粒量；所述顆粒揮:測(cè)裝置包括多個(gè)空間上分開的、被監(jiān)控的、被照射的體積，光從所述被照射的體積散射出來并通過一個(gè)或更多個(gè)探測(cè)步驟進(jìn)行探測(cè)；其中所述顆粒探測(cè)裝置被構(gòu)造為將表示從多個(gè)被監(jiān)控的被照射的體積散射出的光的信號(hào)進(jìn)行比較以確認(rèn)氣流中的顆粒探測(cè)。
22. 根據(jù)權(quán)利要求21中所述的用于探測(cè)顆粒的裝置，其特征在于，多個(gè)光探測(cè)步驟監(jiān)控同一氣流，若所述多個(gè)光探測(cè)步驟的輸出基本相同，則所述裝置確認(rèn)氣流中的顆粒探測(cè)。
23. 根據(jù)權(quán)利要求21或22中所述的用于探測(cè)顆粒的裝置，其特征在于，進(jìn)一步包括多個(gè)光源，所述多個(gè)光源被構(gòu)造為照射同一氣流中的各自的體積。
24. 根據(jù)權(quán)利要求21-23的任意一項(xiàng)中所述的用于探測(cè)顆粒的裝置， 其特征在于，所述多個(gè)光源按照預(yù)定方式被開啟、關(guān)閉來照射氣流中各 自的體積。
25. 根據(jù)權(quán)利要求21-24的任意一項(xiàng)中所述的用于探測(cè)顆粒的裝置， 其特征在于，所述多個(gè)光源以響應(yīng)探得的顆粒量的方式被開啟、關(guān)閉來 照射氣流中的各自的體積。
26. 根據(jù)權(quán)利要求21-25的任意一項(xiàng)中所述的用于探測(cè)顆粒的裝置， 其特征在于，當(dāng)滿足一項(xiàng)或更多以下條件時(shí)，對(duì)一個(gè)或更多個(gè)所述被照 射的體積的照射至少暫時(shí)停止探測(cè)到預(yù)定的顆粒濃度；探測(cè)到的顆粒濃度速率或變化滿足預(yù)定條件。
27. —種在顆粒探測(cè)器中的方法，在所述顆粒探測(cè)器中，被分析的 氣流通過纟笨測(cè)室，所述方法用于確認(rèn)對(duì)氣流通過的第一體積的初始顆粒 探測(cè)事件，所述方法包括嘗試探測(cè)氣流的第二體積中的顆粒，所述第二體積不同于所述在其 中發(fā)生初始顆粒探測(cè)的第一體積；和若第二體積中發(fā)生顆粒探測(cè)事件，則確認(rèn)初始顆粒探測(cè)事件。
28. 根據(jù)權(quán)利要求27中所述的方法，其特征在于，所述方法包括嘗 試在第一體積中探測(cè)顆粒，以及若探測(cè)到了顆粒，則確認(rèn)初始顆粒探測(cè) 事件已發(fā)生。
29. 根據(jù)權(quán)利要求27或28中所述的方法，其特征在于，所述方法 進(jìn)一步包括，若確認(rèn)了所述初始顆粒探測(cè)事件并且滿足了 一個(gè)或多個(gè)附 加報(bào)警條件，則引發(fā)警報(bào)。
30. —種用于探測(cè)氣流中的顆粒的裝置，所述裝置包括 用于照射氣流的一個(gè)或多個(gè)部分的至少一個(gè)光源；至少一個(gè)光電探測(cè)器，所述至少一個(gè)光電探測(cè)器被安置得便于探測(cè) 從氣流的一個(gè)或多個(gè)被照射的體積散射出的光，其中所述至少一個(gè)光源 和至少一個(gè)光電探測(cè)器被配置為可從至少一個(gè)光電探測(cè)器的輸出中得到表示從多個(gè)被照射的體積散射出的光的信號(hào)；和信號(hào)處理裝置，所述信號(hào)處理裝置被構(gòu)造為處理表示從多個(gè)被照射 的體積散射出的光的所述信號(hào)以確定是否已在氣流中探測(cè)到顆粒。
31. 根據(jù)權(quán)利要求30中所述的用于探測(cè)顆粒的裝置，其特征在于， 所述祐^笨測(cè)的顆粒是煙霧顆粒。
32. —種顆粒探測(cè)系統(tǒng)，所述顆粒探測(cè)系統(tǒng)包括根據(jù)權(quán)利要求11-27 的任意一項(xiàng)中所述的用于探測(cè)顆粒的裝置。
33. —種顆粒:探測(cè)系統(tǒng)，所述顆粒探測(cè)系統(tǒng)進(jìn)一步包括用于將氣流引 入顆粒^笨測(cè)系統(tǒng)的采樣網(wǎng)。
全文摘要
本發(fā)明公開了一種用于探測(cè)氣流中的顆粒的裝置。所述裝置可包括用以照射氣流的一個(gè)或更多部分的至少一個(gè)光源(22、24)，和被安置得便于探測(cè)從氣流的一個(gè)或更多被照射的體積散射出的光的至少一個(gè)光電探測(cè)器(30，32)。所述至少一個(gè)光源(22、24)和至少一個(gè)光電探測(cè)器(30、32)被配置為可從至少一個(gè)光電探測(cè)器(30、32)的輸出中得到表示從多個(gè)被照射的體積(38、34)散射出的光的信號(hào)。所述裝置還包括被構(gòu)造為對(duì)所述表示從多個(gè)被照射的體積散射出的光的信號(hào)進(jìn)行處理以確定是否已在氣流中探測(cè)到顆粒的信號(hào)處理器。
文檔編號(hào)G08B17/00GK101680832SQ200880014468
公開日2010年3月24日 申請(qǐng)日期2008年3月7日 優(yōu)先權(quán)日2007年3月9日
發(fā)明者凱末爾·阿賈伊 申請(qǐng)人:愛克斯崔里斯科技有限公司