專利名稱：硬幣接收器的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
鑒別不同類別硬幣的硬幣接收器是眾所周知的，并在我們的英國(guó)專利GB-A-2,169,429中已闡述一實(shí)例。該接收器包括一硬幣滑道，硬幣沿此滑道穿過(guò)一檢測(cè)臺(tái)，在此，線圈對(duì)硬幣進(jìn)行一系列的電感測(cè)試，以便產(chǎn)生顯示檢測(cè)硬幣材料和金屬含量的硬幣參數(shù)信號(hào)。將硬幣參數(shù)信號(hào)數(shù)字化，以便提供數(shù)字化的硬幣參數(shù)數(shù)據(jù)，然后借助微控器將上述數(shù)據(jù)與存儲(chǔ)的硬幣數(shù)據(jù)比較，確定檢測(cè)硬幣的合格性或者反之。如果證實(shí)硬幣合格，微控器則操縱接收閘門，使硬幣落向接收通道；反之，閘門則保持非運(yùn)行狀態(tài)，硬幣落向拒收通道。
硬幣檢測(cè)臺(tái)包括若干不同的線圈，對(duì)上述線圈可以不同頻率通電，而且其規(guī)格可以各不相同，以便當(dāng)硬幣穿過(guò)檢測(cè)臺(tái)時(shí)，可與測(cè)試中的硬幣僅在其一側(cè)或在其兩側(cè)形成單獨(dú)的電感耦合。上前采用的線圈相對(duì)于硬幣其斷面積之大足以使電感耦合至少遍布硬幣表面的主要部分產(chǎn)生渦流，其結(jié)果，檢測(cè)的參數(shù)構(gòu)成硬幣若干不同參數(shù)的平均值，如其金屬含量，厚度和表面圖案的平均值。
由較大傳感器線圈產(chǎn)生的平均效果在某些情況下將出現(xiàn)一些弊端。例如，對(duì)于包括不同材料區(qū)，如由一種以上金屬或金屬合金新制的硬幣的以及由第一合金中心區(qū)和其外周包有第二種不同合金的環(huán)區(qū)構(gòu)成的某些類別硬幣(下文稱之為“雙金屬”硬幣)而言，正在日益流通。上述不同區(qū)域?qū)邮掌鞯膫鞲衅骶€圈呈現(xiàn)不同的電感特性；然而較大面積的線圈易于平均兩個(gè)金屬區(qū)的效果，其結(jié)果導(dǎo)致不能令人滿意的將其它類別的硬幣與偽制品，如帶有中心孔的墊圈相識(shí)別。
在美國(guó)專利US-A-4,955,497(Tamura，Electric Works Ltd)中敘述另一實(shí)施例，在此例中，對(duì)沿滑道成一直線的線圈通電，以便測(cè)定檢測(cè)中硬幣的不同特性。借助于檢測(cè)線圈產(chǎn)生的信號(hào)峰值，測(cè)定硬幣兩種不同材料的特性和硬幣厚度；而且通過(guò)沿硬幣滑道間隔的兩線圈的輸出值的交迭點(diǎn)，測(cè)出硬幣直徑。將上述峰值和交點(diǎn)與存儲(chǔ)的真幣數(shù)據(jù)相比較。測(cè)量直徑所需的線圈成一直線的特點(diǎn)限制了硬幣的檢測(cè)，而且造成雙金屬硬幣檢測(cè)的困難。
WO-A-93/22747(Mars Inc)公開了一種用于雙金屬硬幣的硬幣接收器，該接收器采用其各自寬度明顯小于雙金屬硬幣直徑的兩個(gè)磁傳感器，兩傳感器基本上平行于硬幣滑道配置。上述傳感器聯(lián)成電橋電路，而且利用傳感器輸出值之間的差異鑒別雙金屬硬幣和偽造器。
發(fā)明概述按照本發(fā)明已顯而易見，借助于采用沿硬幣滑道橫向排列的小線圈并監(jiān)測(cè)其輸出值，則有可能通過(guò)在至少傳感器輸出之一的取樣(Sample)值特性中尋求至少一個(gè)預(yù)置判據(jù)，更加精確清晰地提取出硬幣的有關(guān)特性的細(xì)節(jié)，然后將傳感器輸出數(shù)據(jù)與相應(yīng)的存儲(chǔ)數(shù)據(jù)比較，以便確定硬幣的合格性。
更具體而言，本發(fā)明提供一種硬幣接收器，該接收器包括一硬幣滑道，若干傳感器線圈，取樣(Sample)裝置和控制裝置，當(dāng)硬幣沿滑道運(yùn)行時(shí)，上述傳感器線圈檢測(cè)硬幣，傳感器沿硬幣滑道橫向延伸成一列配置，以便當(dāng)硬幣穿過(guò)傳感器時(shí)檢測(cè)硬幣端面各不相同的區(qū)域，而且產(chǎn)生分別作為不同區(qū)域函數(shù)的隨時(shí)變化的傳感器輸出值；在硬幣穿過(guò)傳感器期間，上述取樣裝置將傳感器輸出值反復(fù)取樣；上述控制裝置順序監(jiān)測(cè)取樣值，以便確定至少傳感器輸出值之一符合一預(yù)定判據(jù)的時(shí)刻，并隨之再將取樣的傳感器的輸出的數(shù)據(jù)與相應(yīng)的存儲(chǔ)數(shù)據(jù)比較，確定硬幣的合格性。。
該列傳感器線圈可以包括沿硬幣滑道橫向延伸成一線或多線配置的線圈組件。它們可以在硬幣滑道兩側(cè)，或僅在一側(cè)。
上述線圈組件面對(duì)硬幣的面積最好小于72mm2。
上述傳感器線圈裝置可分別與振蕩電路耦接，而且取樣裝置運(yùn)行，當(dāng)硬幣穿過(guò)該線圈裝置時(shí)，將電路的振蕩特性參數(shù)取樣，如頻率或振幅，或兩者兼而有之。
上述控制裝置的構(gòu)形可以選定當(dāng)輸出值之一與預(yù)定判據(jù)相符時(shí)出現(xiàn)的傳感器輸出的取樣值的集合，以便將選定取樣值與儲(chǔ)存數(shù)據(jù)比較。
換言之，控制裝置的構(gòu)形可以確定傳感器輸出值分別與各自預(yù)定判據(jù)相符的時(shí)刻并將其值與存儲(chǔ)數(shù)據(jù)比較。
預(yù)定判據(jù)可以包括傳感器輸出值的一突變點(diǎn)，如硬幣通過(guò)期間出現(xiàn)的傳感器輸出值的一主要或局部的最大或最小值。預(yù)定判據(jù)還可出現(xiàn)在傳感器之一發(fā)出的至少一取樣值與另一傳感器發(fā)出的至少一取樣值形成一預(yù)定值特性曲線的時(shí)刻。上述值的特性曲線可以包括從傳感器之一發(fā)出的順序的取樣值與從另一傳感器發(fā)出的相應(yīng)的取樣值的交迭點(diǎn)；或者可以是從上述傳感器發(fā)出的取樣值相對(duì)變化率的函數(shù)。
本發(fā)明還包括一種識(shí)別硬幣的方法，該方法包括檢測(cè)沿著設(shè)有相互間隔配置的若干傳感器線圈的滑道通過(guò)的硬幣，以便當(dāng)其穿過(guò)沿硬幣滑道橫向延伸成一列的線圈時(shí)，檢測(cè)硬幣端面的各不相同的區(qū)域，以便產(chǎn)生隨時(shí)變化的傳感器輸出值，分別作為不同區(qū)域的函數(shù)；在硬幣穿過(guò)傳感器期間，將傳感器輸出值反復(fù)取樣；順序監(jiān)測(cè)該取樣值，以便確定至少傳感器輸出值之一符合預(yù)置判據(jù)的時(shí)刻，隨之又將取樣的傳感器輸出數(shù)據(jù)，與對(duì)應(yīng)的存儲(chǔ)數(shù)據(jù)比較，確定該硬幣的合格性。
附圖概述為更充分地理解本發(fā)明，現(xiàn)將參照附圖以例證方式詳述本發(fā)明的實(shí)施例。附圖包括

圖1是本發(fā)明硬幣接收器第一實(shí)施例的正視簡(jiǎn)圖；圖2是圖1所示硬幣接收器的電路簡(jiǎn)圖；圖3是沿圖1A-A′線剖切的硬幣接收器局部剖視圖4a是圖3所示線圈之一的局部放大剖視圖；圖4b是圖4a所示線圈的前端面圖；圖5是圖1所示線圈和線圈主振蕩電路和接口電路的示意圖；圖6是顯示當(dāng)硬幣穿過(guò)傳感器線圈運(yùn)行時(shí)，硬幣參數(shù)信號(hào)如何隨時(shí)間變化的曲線圖；圖7是當(dāng)硬幣穿過(guò)線圈時(shí)，利用微控器完成對(duì)硬幣參取樣號(hào)值進(jìn)行順序集合的處理程序的方框流程圖；圖8是用微控器進(jìn)行確定硬幣參數(shù)信號(hào)X1(a)峰值出現(xiàn)率的程序圖；圖9是用微控器確定硬幣參數(shù)信號(hào)X1(a)和X2(a)值的突變點(diǎn)出現(xiàn)率的程序圖；圖10是本發(fā)明硬幣接收器第二實(shí)施例的正視簡(jiǎn)圖；圖11是圖10所示硬幣接收器的電路簡(jiǎn)圖；圖12是圖10所示線圈和線圈主振蕩電路和接口電路簡(jiǎn)圖；圖13是一硬幣穿過(guò)圖10所示傳感器線圈運(yùn)行時(shí)，硬幣參數(shù)信號(hào)如何隨時(shí)間變化的曲線圖；圖14是圖13所示曲線的局部放大圖；以及圖15是硬幣穿過(guò)圖10檢測(cè)臺(tái)時(shí)，用微控器進(jìn)行處理工序的方框流程圖；發(fā)明詳述第一實(shí)施例現(xiàn)將詳述本發(fā)明硬幣接收器的第一實(shí)施例，該硬幣接收器包括一多種硬幣的接收器，能確認(rèn)包括雙金屬硬幣的若干不同類別的硬幣，如新的成套歐元硬幣和包括新的雙金屬￡2.00硬幣的英國(guó)新的成套硬幣。
硬幣接收器的實(shí)際配置如圖1概略所示。該硬幣接收器包括一帶有硬幣滑道2的殼體1，要檢測(cè)的硬幣從入口3沿滑道2邊緣朝前穿過(guò)一硬幣檢測(cè)臺(tái)4，然后落向閘門5。當(dāng)硬幣穿過(guò)檢測(cè)臺(tái)4時(shí)，對(duì)各枚硬幣進(jìn)行檢測(cè)。如果檢測(cè)結(jié)果指示是真幣，閘門5則開啟，硬幣可以送至接收通道6，但反之，閘門則保持閉合，硬幣則偏至拒收通道7。硬幣8穿過(guò)接收器的硬幣軌跡用虛線9概略顯示。
硬幣檢測(cè)臺(tái)4包括用虛線表示的四個(gè)硬幣檢測(cè)線圈裝置C1a，b，C2，C3a，b和C4，對(duì)其通電，以便與硬幣產(chǎn)生電感耦合。另外，在閘門5的下方的接收通道6內(nèi)設(shè)有一線圈裝置CC，作為一確認(rèn)傳感器，以便檢測(cè)已確定為合格的硬幣事實(shí)上是否已進(jìn)入接收通道6。
借助圖2所示的主振蕩和接口電路10，以不同頻率對(duì)線圈通電。線圈裝置在測(cè)試中的硬幣產(chǎn)生渦流。三個(gè)線圈和硬幣之間的不同的電感耦合使硬幣呈現(xiàn)明顯獨(dú)特的特性。主振蕩和接口電路10產(chǎn)生四個(gè)相應(yīng)的硬幣參數(shù)信號(hào)X1，X2，X3，X4，作為硬幣和線圈裝置C1，C2，C3和C4之間的不同電感耦合的函數(shù)。對(duì)線圈裝置CC產(chǎn)生相應(yīng)的信號(hào)Xc。
為確定硬幣的真實(shí)性，由測(cè)試中硬幣產(chǎn)生的四個(gè)硬幣參數(shù)信號(hào)X1，X2，X3和X4送至與電可擦程控只讀存儲(chǔ)器EEPROM12形式的存儲(chǔ)裝置耦接的微控器11。微控器11將按照下文中詳述的方式處理測(cè)試中硬幣發(fā)出的硬幣參數(shù)信號(hào)，并且其結(jié)果與EEPROM12中保存的相應(yīng)存儲(chǔ)值比較。存儲(chǔ)值按照具有上、下極限值的窗口保存。因此，如果處理的數(shù)據(jù)屬于指定類別真幣相應(yīng)的窗口范圍內(nèi)，則表明該硬幣是合格的，否則拒收。如果驗(yàn)收合格，線路13上提供一信號(hào)送至操縱圖1所示閘門5的驅(qū)動(dòng)電路14，以便將硬幣送至接收通道6。否則，閘門5則不開啟，硬幣送至拒收通道7。
微控器11將已處理的數(shù)據(jù)與適于不同類別硬幣的若干不同組的操作窗口數(shù)據(jù)比較，以便硬幣接收器可以接收或拒收指定貨幣組的一枚以上的硬幣。如果硬幣合格，采用一確認(rèn)位置的驗(yàn)收傳感器線圈裝置CC檢測(cè)硬幣是否沿接收通道6通過(guò)，而且裝置10將相應(yīng)的數(shù)據(jù)Xc送至微控器11，隨后在線路15上提供一指示確認(rèn)為合格硬幣的所付金額的輸出值。
現(xiàn)將更加詳述傳感器線圈的構(gòu)形。再參見圖1，硬幣接收器按常規(guī)方式在其殼體1的軸17上鉸接一硬幣門16。如圖3詳示，硬幣滑道2設(shè)在門16的內(nèi)壁18和殼體1的壁19之間。滑道2包括門16上的一傾斜凸臺(tái)20，硬幣沿向下的凸臺(tái)、周邊朝前運(yùn)行，穿過(guò)傳感器線圈裝置C1，C2，C3和C4。圖3的滑道2的凸臺(tái)20上顯示硬幣8。雖然實(shí)際上硬幣將斜靠在壁18，19之一，但是簡(jiǎn)化所示硬幣是處于直立位置。如現(xiàn)有技術(shù)已知，在圖1和3中，顯示門16是靠彈簧偏移至閉合位置；但是如果硬幣卡塞，它也可以從殼體1向外轉(zhuǎn)動(dòng)，以便松開被夾住的硬幣并使其落入拒收通道7。
為說(shuō)明該接收器改善的操作特性，圖1所示硬幣8是作為一雙金屬硬幣的例證；并且在此例中硬幣包括新的￡2.00硬幣。該硬幣包括銅鎳合金的第一中心芯部區(qū)21，其外周圍繞著在此稱之為青銅合金的第二環(huán)區(qū)或環(huán)22，青銅含有Cu76％，Ni4％和Zn20％。但是，下文中將顯而易見，本發(fā)明并非局限于檢測(cè)雙金屬硬幣。
參照?qǐng)D3，線圈裝置C1a，b包括一安裝在殼體1壁19的內(nèi)側(cè)和門16的壁18上的一對(duì)線圈組件C1a，C1b。該線圈組件C1a，C1b的構(gòu)形將局部與檢測(cè)的雙金屬硬幣8的青銅環(huán)22形成電感耦合，即與硬幣銅鎳合金的中心區(qū)21無(wú)明顯的電感耦合。
如圖4詳示，各線圈組件C1a，C1b包括一基本為塑料的筒形繞線管23，其上形成線圈繞組24。繞線管23推裝入燒結(jié)鐵氧體材料制成的所謂半槽芯25。半槽芯25包括一帶有通孔的筒形中心磁頭26和同心的外周園筒支承凸緣27；磁頭26上的通孔，目的在于減小所用鐵氧體材料。
替代繞線管的另一方案是可以圍繞一圖中未示的繞線架纏繞線圈24的繞組，而且將繞組加熱，軟化其絕緣材料；從而冷卻時(shí)，形成一自支承式的線圈，然后將其從繞線架上卸下并推裝入半槽芯25。
半槽芯25的支承凸緣27推裝入壁上一相應(yīng)的凹槽；因此，組件C1a的凸緣27推裝入壁19的筒形凹槽28，而組件C1b的凸緣27推裝入壁18的相應(yīng)凹槽29。在此例中，線圈24的繞組外徑d1是7.3mm。帶有繞線管23的線圈24的內(nèi)徑d2為2.78mm，穿過(guò)磁頭26的孔徑為2mm。此例中，線圈組件C1a，b的端面30相距6.24mm。線圈24的軸向長(zhǎng)度為2.78mm。半槽芯25的外徑d3為9mm，因此，此例中，各線圈裝置的端面30面積A，即面向檢測(cè)中硬幣的端面面積為63.62mm2。組件C1a，b的繞組24電器上串聯(lián)。如圖3所見，設(shè)有同軸配置線圈24的線圈組件C1a，b配置在檢測(cè)硬幣8的相對(duì)側(cè)。
在電磁鐵線圈設(shè)計(jì)的現(xiàn)有技術(shù)中眾所周知，普通的筒形線圈的磁場(chǎng)沿線圈軸線集中。因此，就各線圈組件C1a，b而言，磁場(chǎng)主要集中在半槽芯25鐵氧體磁頭26中；而且除磁通穿過(guò)外周材料返回磁頭26的端面30區(qū)之外，圍繞線圈的磁通主要靠外圍鐵氧體凸緣27圍繞線圈的環(huán)路形成。因此，在極大程度上，組件C1a，b對(duì)于穿行硬幣的靈敏度，局限于穿過(guò)磁頭26之間的硬幣區(qū)。組件C1a，b緊靠硬幣滑道2定位，并且線圈的尺寸d3應(yīng)使硬幣和線圈之間的電感耦合基本僅限于硬幣8的第二外區(qū)22，而與第一內(nèi)區(qū)21不存在明顯的耦合。如圖3所見，半槽芯25在硬幣滑道20底下延伸，以便磁芯26的構(gòu)形對(duì)準(zhǔn)硬幣8的外環(huán)22。
現(xiàn)就線圈裝置C2，C3和C4而論，它們是由與圖4所示組件C1a相同的線圈組件C2，C3和C4組成。線圈裝置C1-C4沿圖1所示線31相對(duì)于硬幣滑道2橫向延伸成排安裝。雖然在本例中直線31與滑道2是正交延伸，但是可以采用相對(duì)于硬幣滑道橫向布置，而且更普遍而言，這并非必須將線圈裝置配置成一直線。按照本發(fā)明已證實(shí)由于使面向硬幣的線圈組件，如線圈C1a，b的面積A小于72mm2，可以提高識(shí)別效果，這將允許檢測(cè)不同電感特性的硬幣區(qū)。一般而言，各線圈C未必是環(huán)形。事實(shí)上方形或矩形線圈可以具有若干優(yōu)點(diǎn)。橫排傳感器最好包括至少三個(gè)線圈裝置。
參照?qǐng)D3，線圈裝置C2安裝在線圈裝置C1a，b上方，以便當(dāng)硬幣穿過(guò)檢測(cè)臺(tái)4時(shí)，和硬幣的弦交叉。將顯而易見，當(dāng)硬幣滾動(dòng)穿過(guò)線圈裝置C2時(shí)，將首先與硬幣的外區(qū)22形成電感耦合，然后與內(nèi)區(qū)21電感耦合，然后再與外區(qū)22電感耦合。線圈裝置C2包括一單獨(dú)的線圈組件，因此線圈裝置22僅從一側(cè)檢測(cè)硬幣的特性。
線圈裝置C3a，b包括按照與線圈組件C1a，b相同方式安裝在硬幣滑道相對(duì)側(cè)的一對(duì)線圈組件C3a，C3b。線圈裝置C3a，b安裝在裝置C2的上方，因此在其不同弦的位置對(duì)硬幣測(cè)試是靈敏的。
線圈裝置C4包括如圖4所示的安裝在高于線圈裝置C3a，b上方位置的一單獨(dú)的線圈。
顯而易見，由于當(dāng)硬幣穿過(guò)線圈時(shí)，線圈裝置將對(duì)檢測(cè)的硬幣的各自不同的區(qū)域作出感應(yīng)，從線圈裝置C1-C4產(chǎn)生的輸出值將取決于包括其直徑、材料特性、厚度，是否是雙金屬硬幣和若干其它因素的硬幣特性。
圖5例示線圈裝置與圖1所示線圈主振蕩和接口電路10的聯(lián)接方法。就線圈裝置C1而言，線圈組件C1，C1b是串聯(lián)，與電容器C一同在反相放大器A1的反饋回路中。因此，電路作為一振蕩器，其輸出值包括取決于線圈組件C1a，C1b電感性能的振幅和頻率。當(dāng)硬幣穿過(guò)線圈組件C1a，C1b之間時(shí)，在硬幣和線圈組件之間出現(xiàn)電感耦合，其結(jié)果使在放大器反饋電路中的電感系數(shù)(inductance)變化，這將根據(jù)瞬變?cè)黼S之改變振蕩器的振幅和頻率。
就線圈裝置C1而言，采用包絡(luò)檢定器E1測(cè)試振幅，而且包絡(luò)線振幅是借助于一模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換器D1，當(dāng)硬幣穿過(guò)線圈組件C1a，C1b之間時(shí)，依次取樣，以便當(dāng)硬幣穿過(guò)線圈裝置C1時(shí)，提供一系列的順序數(shù)字化取樣值X1(a)。
線圈裝置C2接入反相放大器A2的反饋回路，并借助于包絡(luò)檢定器E2和模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換器D2產(chǎn)生相應(yīng)的數(shù)字化的硬幣參數(shù)信號(hào)X2(a)。
此外，當(dāng)硬幣穿過(guò)線圈裝置C2時(shí)，檢測(cè)振蕩器A2的頻率偏差。一頻率檢測(cè)器F檢測(cè)振蕩器A2的瞬間頻率，采用模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換器D2′，對(duì)輸出值依次取樣并數(shù)字化，以便提供硬幣參數(shù)輸出信號(hào)X2(f)。
線圈裝置C3a，b接入反相放大器A3的反饋回路中，其線圈組件C3a，C3b串聯(lián)。一包絡(luò)檢定器E3和模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換器D3產(chǎn)生包括當(dāng)硬幣穿過(guò)線圈組件C3a，C3b之間時(shí)出現(xiàn)的一系列振幅偏差的數(shù)字取樣值的數(shù)字化參數(shù)信號(hào)輸出值X3(a)。
線圈裝置C4接入放大器A4的反饋電路中，而且包括檢定器E4和模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換器D4一同產(chǎn)生振幅偏差信號(hào)X4(a)。
盡管以例證為目的顯示各A/D(模擬數(shù)字)轉(zhuǎn)換器D1-D4；然而顯而易見，振蕩器電路的輸出可能多路傳輸至一單獨(dú)的A/D轉(zhuǎn)換器，以便節(jié)省電路的費(fèi)用。
圖6顯示當(dāng)硬幣穿過(guò)硬幣檢測(cè)臺(tái)4時(shí)，硬幣參數(shù)信號(hào)X隨時(shí)間變化的方式。顯而易見，圖6所示各曲線的形狀取決于檢測(cè)硬幣的特性，而且這些曲線標(biāo)志著硬幣類別的各自“特征”。穿過(guò)傳感器線圈C1-C4的硬幣的排出導(dǎo)致振幅普遍減??；但是A/D轉(zhuǎn)換器D1-D4產(chǎn)生一信號(hào)轉(zhuǎn)換，從而形成圖6所示曲線。
圖5所示模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換器D1-D4產(chǎn)生的取樣值的集合(At)，含有時(shí)間間隔為Dt的順序轉(zhuǎn)換脈沖期間產(chǎn)生的順序信號(hào)群。因此，在時(shí)間t所取的信號(hào)集合At如下。
At＝{Xt1(a)+Xt2(a)+Xt2(f)+Xt3(a)+Xt4(a)} (1)雖然圖6例示在時(shí)間t時(shí)同時(shí)出現(xiàn)的各集合值的全部，但實(shí)際上組成集合的各取樣值X可以遍及限定的期間測(cè)取，該期間將明顯短于Dt。
如圖2所示，微控器11接收組成順序集合At的硬幣參數(shù)信號(hào)X的連續(xù)值。如圖7所示，微控器11將順序信號(hào)群Ak→Ak+n組合成n個(gè)順序集合值的運(yùn)行暫存器32。
在工序S1中處理暫存器中的最終的集合數(shù)據(jù)，以便確定至少硬幣參數(shù)信號(hào)X之一的值與預(yù)定判據(jù)相符的時(shí)刻，例如取樣值峰值出現(xiàn)的時(shí)刻；或者從傳感器之一發(fā)出的信號(hào)值與另一傳感器發(fā)出的相應(yīng)信號(hào)值形成一預(yù)定值特性曲線的時(shí)刻。上述值的特性曲線可以由或者達(dá)到或者超過(guò)極值的曲線的一交迭點(diǎn)組成；下文中將對(duì)此更詳細(xì)闡述。包括預(yù)定判據(jù)的數(shù)據(jù)集合A在工序S2中存儲(chǔ)。
然后在工序S3，將各硬幣參數(shù)數(shù)據(jù)值X1(a)，X2(a)，X2(f)，X3(a)和X4(a)與電可擦程控只讀存儲(chǔ)器EERPOM12(圖1)中對(duì)應(yīng)的存儲(chǔ)值比較。存儲(chǔ)值按照分別有上下極限值的窗口W＝W1a，W2a，W2f，W3a，W4a保存，以便容納硬幣與硬幣的微小差異。事實(shí)上，在EEPROM12中存儲(chǔ)著符合不同硬幣類別的一系列不同設(shè)定值的硬幣窗口W，而且在工序S3中將工序S2的結(jié)果與所有的存儲(chǔ)設(shè)定值比較，以便確定硬幣是否是合格的貨幣類別。
如果確定硬幣合格，在工序S4提供一指示硬幣類別及其合格性的輸出值，以便提供圖2所示的輸出值13，15，或者指示硬幣應(yīng)拒收。
在工序S1中，可檢測(cè)硬幣參數(shù)信號(hào)X1(a)峰值的方法將參照?qǐng)D8詳述。該流程以工序S1.10起始。在工序S1.11中，設(shè)定參數(shù)P等于零。在工序S1.12中，從三個(gè)順序的數(shù)據(jù)群Ak，(其中k＝p-1，p和p+1)中選定逐次的硬幣參數(shù)信號(hào)X1(a)。
在工序S1.13中，將三個(gè)順序值X1(a)相互比較。如果中間值大于前面的值和后面的值，這將表明已出現(xiàn)峰值。因此要校核下述不等式x1(a)p-1＜x1(a)p＞x1(a)p+1？ (2)
如果測(cè)試正確，特定值X1(a)p表明是峰值。如果測(cè)試不等式(2)不正確，在工序S1.14中參數(shù)p增大，并且重復(fù)上述工藝，以便擴(kuò)展遍及數(shù)據(jù)群的連續(xù)值，以試圖在X1(a)中找到峰值。
當(dāng)求峰值時(shí)，考慮k＝p特定值，將從暫存器中取出全部數(shù)據(jù)群Ak。這就是硬幣參數(shù)信號(hào)的數(shù)據(jù)群出現(xiàn)在峰值X1(a)中。
在工序S2.10中，取出的數(shù)據(jù)群將暫存，而且，在工序S3.10中，從存儲(chǔ)數(shù)據(jù)信號(hào)集合中發(fā)出的各硬幣參數(shù)信號(hào)，即X1(a)，X2(a)，X2(f)，X3(a)和X4(a)分別與EEPROM12中存儲(chǔ)的對(duì)應(yīng)窗口相比較，確定硬幣是否是接收器要接收的特定類別的硬幣。如前所述，對(duì)于在EEPROM中具有相關(guān)存儲(chǔ)窗口的若干不同類別硬幣可以重復(fù)上述工序。
圖9顯示確定圖6所示曲線X1(a)和X2(a)中出現(xiàn)交迭時(shí)刻的程序。當(dāng)出現(xiàn)交迭時(shí)，與交迭出現(xiàn)相關(guān)的數(shù)據(jù)群用于與EEPROM12中存儲(chǔ)的窗口數(shù)據(jù)比較。
在工序S1.20中，該程序開始，并且在工序S1.21中設(shè)定參數(shù)p為零。然后從暫存器31中取出信號(hào)值X1(a)和X2(a)，用于兩個(gè)連續(xù)的數(shù)據(jù)群Ak，借助于參數(shù)p，即k＝p & p+1選定數(shù)集。
然后，在工序S1.23，將所取的數(shù)據(jù)值按下列不等式比較，以便確定已取的數(shù)據(jù)是否已出現(xiàn)交迭。
X1(a)p＜X2(a)p和X1(a)p+1＞X2(a)p+1 或X1(a)p＞X2(a)p和X1(a)p+1＜X2(a)p+1(3)顯而易見，上述測(cè)試確定圖6所示曲線X1(2)和X2(a)是否相互交迭。
如果未發(fā)現(xiàn)交迭，在工序S1.24中將參數(shù)P增加，并且對(duì)于在圖7所示數(shù)據(jù)群Ak暫存器31中的連續(xù)的下一組信號(hào)值重復(fù)上述程序。
然而，如果測(cè)到交迭，則從暫存器31中取出隨著交迭出現(xiàn)在k＝p的特定值的數(shù)據(jù)群Ak，而且在工序S2.20中將其存儲(chǔ)。
然后在工序S3.20中，如前所述，將工序S2.20中存儲(chǔ)的各信號(hào)值與EEPROM12中保存的相應(yīng)窗口值比較，以便確定硬幣真實(shí)性和類別。
本發(fā)明上述實(shí)例的優(yōu)點(diǎn)在于采用橫排線圈裝置C1-C4，可以更加精確清晰地確定有關(guān)硬幣的細(xì)微特征。線圈組件的尺寸相對(duì)小于硬幣，則可以如圖6各曲線圖所示分別確定硬幣各弦區(qū)的特性。如前所述，圖6曲線圖顯示雙金屬硬幣的輸出值。至今為止，當(dāng)采用大直徑的傳感線圈時(shí)，將至少遍及硬幣表面的主要部分產(chǎn)生一平均效果，因此這將難以在雙金屬硬幣與帶中心孔的相應(yīng)墊圈之間進(jìn)行鑒別。反之，本發(fā)明接收器的上述實(shí)施例可以容易地鑒別上述雙金屬硬幣和相應(yīng)的墊圈。參照?qǐng)D6，信號(hào)X2(a)的輸出，通常采用根據(jù)特定類別的一真正雙金屬硬幣的拱形圖形。但是，如果帶中心孔的偽造墊圈穿過(guò)接收器，則產(chǎn)生中心“下垂”的軌跡33。采用現(xiàn)有技術(shù)的接收器，將硬幣整個(gè)表面的效果平均，則由于平均效果，難以在真的硬幣和墊圈之間鑒別。然而，按照本發(fā)明，如果確定振幅峰值X1(a)，為了確定數(shù)集Ax，在數(shù)集Ax中參數(shù)X2(a)對(duì)應(yīng)值采用雙金屬硬幣和帶有中心孔的相應(yīng)墊圈的明顯不同的值，即分別是值34和35。因此，就真的雙金屬幣而言，EEPROM12中的存儲(chǔ)窗口數(shù)據(jù)明顯不同于偽造墊圈所產(chǎn)生的數(shù)據(jù)，允許很容易檢測(cè)出上述的偽制品。于是，按照本發(fā)明，根據(jù)選定的數(shù)據(jù)集合Ax，與現(xiàn)有技術(shù)相比，其鑒別能夠精確清晰得多。
在初始測(cè)試時(shí)，可以確定數(shù)據(jù)中的不同判據(jù)，以便求出標(biāo)志特定硬幣獨(dú)一無(wú)二特性的數(shù)據(jù)集合。對(duì)某些硬幣而言，用于選定數(shù)集Ax的判據(jù)可以在硬幣參數(shù)信號(hào)X之一等于或與EEPROM12存儲(chǔ)的預(yù)定臨界值相交的時(shí)刻。
對(duì)某些貨幣而言，在圖6所示輸出值的某些曲線之間的交點(diǎn)是一恰當(dāng)?shù)呐袚?jù)。對(duì)另一些硬幣類別而言，可以利用圖6曲線中可能存在的局部最小值。某些雙金屬硬幣可能在曲線之一中產(chǎn)生一凹點(diǎn)，可以用其作為判據(jù)。
另外，可以利用在圖6曲線圖點(diǎn)之間的更復(fù)雜的特性關(guān)系，而且可以考慮曲線的相關(guān)形狀。例如，可以從第一時(shí)間產(chǎn)生的一數(shù)集A1和隨后在后一時(shí)間再產(chǎn)生的數(shù)集A2取出硬幣參數(shù)信號(hào)X的兩個(gè)值；而且可以處理上述值以便獲得各曲線圖的梯度標(biāo)志。當(dāng)梯度符合預(yù)定特性關(guān)系時(shí)，則選定相應(yīng)的數(shù)據(jù)集A，而且將其與EEPROM212中存儲(chǔ)的數(shù)據(jù)比較。第二實(shí)施例現(xiàn)將參照附圖10至15詳述本發(fā)明的第二實(shí)施例。第二實(shí)施例與第一實(shí)施例相似；而且采用相同的序號(hào)標(biāo)注相應(yīng)的零件。第二實(shí)施例中線圈裝置在檢測(cè)臺(tái)4上的配置方式不同，而且處理硬幣數(shù)據(jù)的方式也不同。
參照?qǐng)D10，五個(gè)上述的線圈裝置C1-C5沿硬幣滑道9橫向延伸，成排配置。代之以圖1所示沿一直線31成行配置，上述線圈裝置交錯(cuò)配置排列，當(dāng)硬幣沿其滑道穿過(guò)軸線時(shí)，線圈裝置的軸線與硬幣的主面基本上正交。如前所述，線圈裝置和硬幣的交叉主要出現(xiàn)在各線圈裝置的磁芯區(qū)；而且圖10所示的線圈交錯(cuò)配置允許當(dāng)硬幣穿過(guò)滑道9時(shí)附加的線圈裝置C5將包含在硬幣8的圓周范圍之內(nèi)。可以利用線圈裝置的構(gòu)形，使檢測(cè)硬幣的直徑范圍為15-33mm。因此，圖10的配置允許借助第五線圈裝置測(cè)試硬幣端面的附加區(qū)。圖11簡(jiǎn)略顯示線圈裝置與微控器11的聯(lián)接，而且基本上與圖1和圖5前述的配置相符，只是為線圈裝置C5設(shè)一附加電路，產(chǎn)生一硬幣參數(shù)信號(hào)X5(a)。
在此例中，各線圈裝置C1-C5按照?qǐng)D1所示線圈組件C1a，b相同方式，包括安裝在硬幣滑道相對(duì)兩側(cè)，硬幣門16和接收器壁19上的一對(duì)線圈組件。
參照?qǐng)D11，硬幣裝置C1-C5與定位接收線圈裝置CC經(jīng)線圈主振蕩和接口電路10與微控器11相聯(lián)接。電路運(yùn)行與圖2所述相同。圖中顯示的隨機(jī)存取存儲(chǔ)器RAM31與微控器11聯(lián)接。
在圖12中更詳細(xì)地顯示線圈裝置C1-C5的聯(lián)接。各線圈裝置的線圈組件串聯(lián)。線圈裝置C2的線圈組件反相聯(lián)接，以便組件的極性相斥。另一硬幣裝置，其組件同相聯(lián)接，使其線圈的極性相吸。在振蕩器電路中，每對(duì)線圈的聯(lián)接方式參照?qǐng)D5如前所述。各振蕩器電路的自然諧振頻率是不同的，以便減少干擾。頻率為60-100KHz之間，但不局限于此范圍；而且頻率之高足以不完全穿透測(cè)試中的硬幣。設(shè)置一多路轉(zhuǎn)換器32，該轉(zhuǎn)換器能搜索記錄線圈裝置的輸出值并將其送至共用的包絡(luò)檢定器E1和A/D轉(zhuǎn)換器D1，使得在輸出線路33中順序發(fā)出信號(hào)X1(a)、X2(a)、X3(a)、X4(a)和X5(a)；以此替代每一線圈裝置采用一單獨(dú)的A/D轉(zhuǎn)換器。
另外，設(shè)置一頻率檢測(cè)器F，以便檢測(cè)線圈裝置C2輸出值的頻率變化。檢測(cè)器F的輸出信號(hào)送至A/D轉(zhuǎn)換器D2′，以便提供硬幣信號(hào)X2(f)的連續(xù)取樣值。顯而易見，雖然為簡(jiǎn)化起見在圖12中未顯示，但多路轉(zhuǎn)換器32還可以提供定位接收傳感器CC用的取樣值。
圖13顯示在硬幣穿過(guò)圖10的硬幣檢測(cè)臺(tái)4期間，從各種線圈裝置C1-C5發(fā)出的輸出信號(hào)值。
圖14顯示在硬幣穿過(guò)檢測(cè)臺(tái)期間所取三個(gè)順序信號(hào)組的局部放大圖。顯而易見，圖12所示的多路轉(zhuǎn)換器32在線圈裝置C1-C5輸出的順序值之間發(fā)出選通脈沖，以便產(chǎn)生輸入圖11所示微控器11的順序脈沖信號(hào)組X1(a)-X5(a)。另外，圖12頻率檢測(cè)器F檢測(cè)的頻率調(diào)制導(dǎo)致相應(yīng)的取樣值(Sample values)X2(f)。
微控器11所設(shè)計(jì)的運(yùn)行如圖15所示。順序的硬幣數(shù)據(jù)信號(hào)組在工序S5輸入微控器11，在此檢測(cè)傳感器輸出值中的若干不同的判據(jù)。在此例中，監(jiān)測(cè)的十二種不同判據(jù)如下
如此表中所用，“增量”和“減量”與圖13轉(zhuǎn)換曲線相關(guān)。就判據(jù)1至6而言，X(a)的最大增量是相對(duì)于無(wú)硬幣存在時(shí)出現(xiàn)的值。
參照?qǐng)D15，在工序S6中測(cè)定上述12個(gè)判據(jù)。顯而易見，當(dāng)硬幣穿過(guò)硬幣檢測(cè)臺(tái)時(shí)，在工序S5產(chǎn)生的順序硬幣參數(shù)信號(hào)組輸入微控器11。檢測(cè)按照上表列出的判據(jù)的各最大值和最小值并暫存在與圖11所示微控器11相聯(lián)接的RAM31中。在圖15的工序S7中顯示該暫存。當(dāng)硬幣穿過(guò)時(shí)，隨著檢測(cè)順序的局部最大值和最小值，將適時(shí)修正各最大值和最小值。隨此出現(xiàn)，將對(duì)其前述的存儲(chǔ)值與新產(chǎn)生的值比較，并且將根據(jù)它是否應(yīng)是最大值或最小值，存儲(chǔ)其中一恰當(dāng)?shù)闹?。?dāng)硬幣已穿過(guò)時(shí)，然后將12個(gè)判據(jù)的最終存儲(chǔ)值按照第一實(shí)施例工序S3前述的方法，與圖11所示EEPROM12中存儲(chǔ)的窗口數(shù)據(jù)比較。因此EEPROM中存儲(chǔ)的窗口數(shù)據(jù)與不同類別真幣的十二個(gè)判據(jù)值相對(duì)應(yīng)，借此，判據(jù)可以校核檢測(cè)硬幣的真實(shí)性。這將在圖15工序S8中進(jìn)行。然后在工序S9中，按照上述方式，根據(jù)比較結(jié)果，接收或拒收硬幣。
顯而易見，該算法的特點(diǎn)是如果在檢測(cè)過(guò)程中相繼出現(xiàn)較大的峰值和極值，圖12各種曲線的局部峰值和極值可能判定，然后拒收。更顯而易見，本發(fā)明不局限于用算法求出的實(shí)際判據(jù)。取而代之，可以采用其它判據(jù)檢測(cè)，如前文所述的交迭、梯度等。
在此所用的術(shù)語(yǔ)“硬幣”包括代用貨幣和其它硬幣類的有價(jià)額的物品。
權(quán)利要求書按照條約第19條的修改1.一種硬幣接收器，包括一硬幣滑道，若干傳感器線圈，用于硬幣沿滑道運(yùn)行時(shí)檢測(cè)硬幣，與上述傳感器線圈相聯(lián)的主振蕩電路；上述傳感器線圈沿硬幣滑道橫向延伸成一列配置，以便靠主振蕩電路通電，當(dāng)硬幣穿過(guò)線圈時(shí)與硬幣端面各不相同的區(qū)域電感耦合，而且逐一檢測(cè)上述各區(qū)域，產(chǎn)生隨時(shí)間變化的傳感器輸出值，作為相應(yīng)不同區(qū)域的函數(shù)；取樣裝置，將硬幣通過(guò)傳感器期間產(chǎn)生的傳感器輸出值反復(fù)取樣，以便提供相應(yīng)的取樣值；和控制裝置，監(jiān)測(cè)取樣值并確定至少傳感器輸出值之一與預(yù)置判據(jù)相符的時(shí)刻，并且隨之又將從傳感器輸出中取樣的數(shù)據(jù)與相應(yīng)的存儲(chǔ)數(shù)據(jù)比較，確定硬幣的合格性。
2.一種如權(quán)利要求1所述的硬幣接收器，其特征在于傳感器線圈包括一列傳感器線圈裝置，其構(gòu)形與硬幣的相應(yīng)區(qū)形成電感耦合。
3.一種如權(quán)利要求2所述的硬幣接收器，其特征在于該列傳感器線圈裝置包括沿硬幣滑道橫向延伸的成行配置的線圈組件。
4.一種如權(quán)利要求2或3所述的硬幣接收器，其特征在于一個(gè)或多個(gè)傳感器線圈裝置包括硬幣滑道相對(duì)兩側(cè)的線圈組件。
5.一種如權(quán)利要求4所述的硬幣接收器，其特征在于線圈組件之一與主振蕩電路耦接，而另一線圈組件與取樣裝置耦接。
6.一種如權(quán)利要求2或3所述的硬幣接收器，其特征在于一個(gè)或多個(gè)傳感器線圈裝置包括僅在硬幣滑道一側(cè)的線圈組件。
7.一種如權(quán)利要求6所述的硬幣接收器，其特征在于上述的傳感器線圈裝置的各線圈組件與主振蕩電路和取樣裝置都耦接。
8.一種如權(quán)利要求2至7中任一項(xiàng)所述的硬幣接收器，其特征在于線圈裝置包括線圈組件，其面向硬幣的面積小于72mm2。
9.一種如權(quán)利要求2至8中任一項(xiàng)所述的硬幣接收器，其特征在于該線圈裝置包括線圈，其構(gòu)形圍繞面向硬幣滑道滲磁的磁芯。
10.一種如權(quán)利要求2至9中任一項(xiàng)所述的硬幣接收器，其特征在于該傳感器線圈裝置分別與一振蕩電路耦接，而且取樣裝置運(yùn)行，當(dāng)硬幣穿過(guò)線圈裝置時(shí)，將電路的振蕩特性參數(shù)取樣。
11.一種如權(quán)利要求10所述的硬幣接收器，其特征在于上述的特性包括頻率或振幅或者二者。
12.一種如任一項(xiàng)前述權(quán)利要求所述的硬幣接收器，其特征在于控制裝置的構(gòu)形要選定在輸出值之一與上述預(yù)定判據(jù)相符時(shí)出現(xiàn)的傳感器輸出的取樣值的集合，并將選定的取樣值與上述存儲(chǔ)數(shù)據(jù)比較。
13.一種如權(quán)利要求1至11中任一項(xiàng)所述的硬幣接收器，其特征在于所述控制裝置的構(gòu)形將確定傳感器輸出值分別符合相應(yīng)的預(yù)定判據(jù)的時(shí)刻并將其值與存儲(chǔ)的數(shù)據(jù)比較。
14.一種如任一項(xiàng)前述權(quán)利要求所述的硬幣接收器，其特征在于預(yù)定的判據(jù)包括傳感器輸出值中的一突變點(diǎn)。
15.一種如權(quán)利要求14所述的硬幣接收器，其特征在于所述突變點(diǎn)包括在硬幣穿過(guò)期間出現(xiàn)的傳感器輸出值的主要或局部的最大或最小值。
16.一種如任一項(xiàng)前述權(quán)利要求所述的硬幣接收器，其特征在于預(yù)定的判據(jù)包括存在傳感器之一發(fā)出的至少一個(gè)取樣值與另一傳感器發(fā)出的至少一個(gè)取樣值形成一預(yù)定值的特性曲線。
17.一種如權(quán)利要求16所述的硬幣接收器，其特征在于所述取樣值特性曲線包括從傳感器之一發(fā)射的順序取樣值與從另一傳感器發(fā)出的相應(yīng)取樣值的交點(diǎn)，或者可以是從傳感器發(fā)出的取樣值相對(duì)變化率的函數(shù)。
18.一種如權(quán)利要求16所述的硬幣接收器，其特征在于該取樣值的特性曲線包括從傳感器取樣的值相對(duì)變化率的預(yù)定的函數(shù)。
19.一種鑒別硬幣的方法，包括檢測(cè)沿一滑道通過(guò)的硬幣，該滑道沿其橫向成一列間隔配置若干傳感器線圈，當(dāng)硬幣穿過(guò)其間時(shí)，線圈通電，與硬幣端面各不相同的區(qū)域電感耦合，以便對(duì)各區(qū)域產(chǎn)生隨時(shí)間變化的傳感器輸出值，作為不同區(qū)域的對(duì)應(yīng)函數(shù)；在硬幣穿過(guò)傳感器期間反復(fù)取樣傳感器輸出值；順序監(jiān)測(cè)取樣值，確定至少傳感器輸出值之一符合預(yù)定的判據(jù)時(shí)刻；和隨之又將從取樣的傳感器發(fā)出的數(shù)據(jù)與相應(yīng)的存儲(chǔ)數(shù)據(jù)比較，以便確定硬幣的合格性。
20.一種如權(quán)利要求19中所述的方法，其特征在于包括正當(dāng)硬幣穿過(guò)傳感器線圈之際，連續(xù)尋求確定至少傳感器輸出值之一符合判據(jù)的時(shí)刻，而且如果不止一次符合判據(jù)，需選定最符合判據(jù)的取樣值。
21.一種硬幣接收器，包括一硬幣滑道；若干傳感器線圈，當(dāng)硬幣沿滑道運(yùn)行時(shí)，對(duì)硬幣進(jìn)行檢測(cè)；主振蕩電路，與傳感器線圈耦接；傳感器線圈沿硬幣滑道橫向延伸呈一列配置，以便靠主振蕩電路對(duì)其通電，當(dāng)硬幣穿過(guò)其間運(yùn)行時(shí)，與硬幣端面的各不相同的區(qū)域電感耦合，并且分別檢測(cè)各區(qū)，產(chǎn)生隨時(shí)間變化的傳感器輸出值，作為相應(yīng)不同區(qū)域的函數(shù)；取樣電路，以便將硬幣通過(guò)傳感器期間產(chǎn)生的傳感器各輸出值反復(fù)取樣，以便提供相應(yīng)的取樣值；和控制電路，監(jiān)測(cè)取樣值并確定至少傳感器輸出值之一與預(yù)定判據(jù)相符的時(shí)刻，而且隨之又將從傳感器取樣的數(shù)據(jù)與相應(yīng)的存儲(chǔ)數(shù)據(jù)比較，確定該硬幣的合格性。
權(quán)利要求
1.一種硬幣接收器，包括一硬幣滑道；若干傳感器線圈，用于硬幣沿滑道運(yùn)行時(shí)檢測(cè)硬幣；上述傳感器沿硬幣滑道橫向延伸成一列配置，以便當(dāng)其運(yùn)行穿過(guò)傳感器時(shí)，檢測(cè)硬幣端面的各自不同的區(qū)域，而且產(chǎn)生隨時(shí)變化的傳感器輸出值，作為相應(yīng)不同區(qū)域的函數(shù)；取樣裝置，將硬幣通過(guò)傳感器期間產(chǎn)生的傳感器輸出值反復(fù)取樣，以便提供相應(yīng)的取樣值；和控制裝置，監(jiān)測(cè)取樣值并確定至少傳感器輸出值之一與預(yù)置判據(jù)相符的時(shí)刻，并且隨之又將傳感器輸出的數(shù)據(jù)與相應(yīng)的存儲(chǔ)數(shù)據(jù)比較，確定硬幣的合格性。
2.一種如權(quán)利要求1所述的硬幣接收器，其特征在于傳感器線圈包括一列傳感器線圈裝置，其構(gòu)形將與硬幣的相應(yīng)區(qū)形成電感耦合。
3.一種如權(quán)利要求2所述的硬幣接收器，其特征在于該列傳感器線圈裝置包括沿硬幣滑道橫向延伸的成行配置的線圈組件。
4.一種如權(quán)利要求2或3所述的硬幣接收器，其特征在于一個(gè)或多個(gè)傳感器線圈裝置包括硬幣滑道相對(duì)兩側(cè)的線圈組件。
5.一種如權(quán)利要求2，3或4所述的硬幣接收器，其特征在于一個(gè)或多個(gè)傳感器線圈裝置包括僅在硬幣滑道一側(cè)的線圈組件。
6.一種如權(quán)利要求2至5中任一項(xiàng)所述的硬幣接收器，其特征在于線圈裝置包括線圈組件，其面向硬幣的面積小于72mm2。
7.一種如權(quán)利要求2至5中任一項(xiàng)所述的硬幣接收器，其特征在于該線圈裝置包括線圈，其構(gòu)形圍繞面向硬幣滑道滲磁的磁芯。
8.一種如權(quán)利要求2至7中任一項(xiàng)所述的硬幣接收器，其特征在于該傳感器線圈裝置分別與一振蕩電路耦接，而且取樣裝置運(yùn)行，當(dāng)硬幣穿過(guò)線圈裝置時(shí)，將電路的振蕩特性參數(shù)取樣。
9.一種如權(quán)利要求8所述的硬幣接收器，其特征在于上述的特性包括頻率或振幅或者二者。
10.一種如任一項(xiàng)前述權(quán)利要求所述的硬幣接收器，其特征在于控制裝置的構(gòu)形要選定在輸出值之一與上述預(yù)定判據(jù)相符時(shí)出現(xiàn)的傳感器輸出取樣值的集合，并將選定的取樣值與上述存儲(chǔ)數(shù)據(jù)比較。
11.一種如權(quán)利要求1至9中任一項(xiàng)所述的硬幣接收器，其特征在于所述控制裝置的構(gòu)形將確定傳感器輸出值分別符合相應(yīng)的預(yù)定判據(jù)的時(shí)刻并將其值與存儲(chǔ)的數(shù)據(jù)比較。
12.一種如任一項(xiàng)前述權(quán)利要求所述的硬幣接收器，其特征在于預(yù)定的判據(jù)包括傳感器輸出值中的一突變點(diǎn)。
13.一種如權(quán)利要求12所述的硬幣接收器，其特征在于所述突變點(diǎn)包括在硬幣穿過(guò)期間出現(xiàn)的傳感器輸出值的主要或局部的最大或最小值。
14.一種如任一項(xiàng)前述權(quán)利要求所述的硬幣接收器，其特征在于預(yù)定的判據(jù)包括存在傳感器之一發(fā)出的至少一個(gè)取樣值與另一傳感器發(fā)出的至少一個(gè)取樣值形成一預(yù)定值的特性曲線。
15.一種如權(quán)利要求14所述的硬幣接收器，其特征在于所述取樣值特性曲線包括從傳感器之一的連續(xù)取樣值與從另一傳感器的連續(xù)取樣值的交點(diǎn)，或者可以是從傳感器的取樣值相對(duì)變化率的函數(shù)。
16.一種如權(quán)利要求14所述的硬幣接收器，其特征在于該取樣值的特性曲線包括從傳感器的取樣值相對(duì)變化率的預(yù)定的函數(shù)。
17.一種鑒別硬幣的方法，包括檢測(cè)沿間隔設(shè)置若干傳感器線圈的滑道通過(guò)的硬幣，以便當(dāng)其運(yùn)行穿過(guò)上述線圈時(shí)，檢測(cè)硬幣端面各自不同的區(qū)域；上述線圈沿硬幣滑道橫向延伸排成一列，以便產(chǎn)生隨時(shí)變化的傳感器輸出值，作為不同區(qū)域?qū)?yīng)函數(shù)；在硬幣穿過(guò)傳感器期間反復(fù)取樣傳感器的輸出值；順序監(jiān)測(cè)取樣值，確定至少傳感器輸出值之一符合預(yù)定的判據(jù)時(shí)刻；并隨之又將從傳感器取樣的數(shù)據(jù)與相應(yīng)的存儲(chǔ)數(shù)據(jù)比較，以便確定硬幣的合格性。
18.一種如權(quán)利要求17所述的方法，包括正當(dāng)硬幣穿過(guò)傳感器線圈之際，連續(xù)尋求確定至少傳感器輸出值之一符合判據(jù)的時(shí)刻，而且如果不止一次符合判據(jù)，需選定最符合判據(jù)的取樣值。
19.一種硬幣接收器，包括一硬幣滑道；若干傳感器線圈，當(dāng)硬幣沿滑道運(yùn)行時(shí)對(duì)硬幣進(jìn)行檢測(cè)，傳感器沿硬幣滑道橫向延伸，成一列配置，以便當(dāng)硬幣穿過(guò)傳感器時(shí)檢測(cè)其端面各不相同的區(qū)域，并且產(chǎn)生隨時(shí)變化的傳感器輸出值，作為不同區(qū)域的對(duì)應(yīng)函數(shù)；取樣電路，以便將硬幣通過(guò)傳感器期間產(chǎn)生的傳感器各輸出值反復(fù)取樣，以便提供相應(yīng)的取樣值；和控制電路，監(jiān)測(cè)取樣值并確定至少傳感器輸出值之一與預(yù)定判據(jù)相符的時(shí)刻，而且隨之又將從傳感器輸出取樣的數(shù)據(jù)與相應(yīng)的存儲(chǔ)數(shù)據(jù)比較，確定該硬幣的合格性。
全文摘要
一種硬幣接收器,包括傳感器線圈裝置(C1,C2,C3,C4),其尺寸之小足以使硬幣穿過(guò)它們時(shí),能檢測(cè)硬幣(8)端面各不相同的區(qū)域,以便產(chǎn)生隨時(shí)變化的傳感器輸出值(X1(a),X2(a),X2(f),X3(a),X4(a)),作為不同區(qū)域的函數(shù)。傳感器的輸出值反復(fù)取樣。微控器(11)監(jiān)測(cè)取樣值,以便確定至少傳感器輸出值之一適于一預(yù)定的判據(jù),如達(dá)到峰值,并且隨之再將包括峰值的該傳感器輸出值與EEPROM(12)中存儲(chǔ)的相應(yīng)值比較,確定硬幣的合格性。
文檔編號(hào)G07D5/08GK1278352SQ9881065
公開日2000年12月27日 申請(qǐng)日期1998年10月30日 優(yōu)先權(quán)日1997年11月3日
發(fā)明者丹尼斯·伍德 申請(qǐng)人:硬幣控制有限公司