一種非接觸芯片卡檢測(cè)裝置的制造方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本實(shí)用新型屬于自動(dòng)化設(shè)備技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種用于銀行卡生產(chǎn)設(shè)備的非接觸芯片卡檢測(cè)裝置。
【背景技術(shù)】
[0002]非接觸芯片卡從卡基到成品卡，會(huì)經(jīng)過(guò)多種工序處理，而某些工序有可能會(huì)對(duì)非接觸芯片卡造成損壞，如在卡片個(gè)人化生產(chǎn)過(guò)程中，設(shè)備靜電或外力有可能使IC卡片的非接芯片功能失效。為了避免此類情況的發(fā)生，雖然在靜電的防護(hù)等方面做了相關(guān)的改善，但仍存在如外部環(huán)境等不可控因素導(dǎo)致卡片損壞，失效卡片若不及時(shí)發(fā)現(xiàn)就會(huì)產(chǎn)生大量廢卡，如果不對(duì)卡片進(jìn)行全檢，失效卡片外流后會(huì)導(dǎo)致持卡人不能正常使用卡片的非接功能。為了降低卡片不良率，目前卡片生產(chǎn)廠商需要大量人力及時(shí)間來(lái)手工電測(cè)所有非接觸芯片成品卡，但隨著金融磁條卡逐漸迀移芯片卡，芯片卡生產(chǎn)量的增加，采用人工全檢的模式，整體效率非常低，影響產(chǎn)品交付，如何提高非接觸芯片卡的檢測(cè)效率成為了一個(gè)目前亟需解決的問題。
【實(shí)用新型內(nèi)容】
[0003]本實(shí)用新型的目的是提供一種用于制卡設(shè)備上的可以自動(dòng)檢測(cè)非接觸芯片卡的裝置，以提高非接觸芯片卡的檢測(cè)效率。
[0004]為了實(shí)現(xiàn)上述目的，本實(shí)用新型采取如下的技術(shù)解決方案:
[0005]—種非接觸芯片卡檢測(cè)裝置，包括:讀卡器，所述讀卡器產(chǎn)生射頻信號(hào)，并接收非接觸式芯片的反饋信號(hào)；控制模塊，所述控制模塊接收所述讀卡器發(fā)送的反饋信號(hào)以及接收下述觸發(fā)傳感器的感應(yīng)信號(hào)；觸發(fā)傳感器，所述觸發(fā)傳感器感應(yīng)非接觸式芯片卡，并將感應(yīng)信號(hào)發(fā)送給所述控制模塊。
[0006]優(yōu)選的，所述讀卡器和觸發(fā)傳感器設(shè)置于制卡設(shè)備的卡片傳送路徑上。
[0007]優(yōu)選的，所述觸發(fā)傳感器位于卡片傳送路徑上讀卡器之后。
[0008]優(yōu)選的，所述觸發(fā)傳感器為光電傳感器。
[0009]優(yōu)選的，還包括控制信號(hào)傳感器，所述控制信號(hào)傳感器接收所述控制模塊的控制信號(hào)，以控制制卡設(shè)備出卡端正常出卡通道和廢卡出卡通道的開/閉。
[0010]由以上技術(shù)方案可知，本實(shí)用新型的檢測(cè)裝置設(shè)置于非接觸式芯片卡或雙芯片卡生產(chǎn)設(shè)備上，利用讀卡器和觸發(fā)傳感器相結(jié)合，讀卡器用于檢測(cè)芯片卡的功能是否失效，配合觸發(fā)傳感器感應(yīng)檢測(cè)區(qū)域內(nèi)是否有卡片經(jīng)過(guò)，準(zhǔn)確有效的檢測(cè)出芯片卡是否為良品，本實(shí)用新型既不影響設(shè)備原有的生產(chǎn)速度，又有效提升了不良非接觸式芯片檢測(cè)效率。
【附圖說(shuō)明】
[0011]為了更清楚地說(shuō)明本實(shí)用新型實(shí)施例，下面將對(duì)實(shí)施例或現(xiàn)有技術(shù)描述中所需要使用的附圖做簡(jiǎn)單介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖僅僅是本實(shí)用新型的一些實(shí)施例，對(duì)于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來(lái)講，在不付出創(chuàng)造性勞動(dòng)的前提下，還可以根據(jù)這些附圖獲得其他的附圖。
[0012]圖1為本實(shí)用新型實(shí)施例的結(jié)構(gòu)框圖；
[0013]圖2為本實(shí)用新型檢測(cè)裝置設(shè)置于制卡設(shè)備上的示意圖；
[0014]圖3為圖2中A部分的局部放大示意圖。
[0015]以下結(jié)合附圖對(duì)本實(shí)用新型的【具體實(shí)施方式】作進(jìn)一步詳細(xì)地說(shuō)明。
【具體實(shí)施方式】
[0016]下面結(jié)合附圖對(duì)本發(fā)明進(jìn)行詳細(xì)描述，在詳述本發(fā)明實(shí)施例時(shí)，為便于說(shuō)明，表示器件結(jié)構(gòu)的附圖會(huì)不依一般比例做局部放大，而且所述示意圖只是示例，其在此不應(yīng)限制本發(fā)明保護(hù)的范圍。需要說(shuō)明的是，附圖均采用非常簡(jiǎn)化的形式且均使用非精準(zhǔn)的比例，僅用以方便、清晰地輔助說(shuō)明本發(fā)明實(shí)施例的目的。
[0017]參照?qǐng)D1所示，本實(shí)用新型的非接觸芯片卡檢測(cè)裝置包括讀卡器1、控制模塊2以及觸發(fā)傳感器3，用于制卡設(shè)備上，檢測(cè)卡片是否功能失效。讀卡器I用于產(chǎn)生射頻信號(hào)，并接收非接觸式芯片卡反饋的信號(hào)，讀卡器I接收到非接觸式芯片反饋的信號(hào)后，向控制模塊2發(fā)送反饋信號(hào)。觸發(fā)傳感器3用于感應(yīng)非接觸式芯片卡，當(dāng)非接觸式芯片卡經(jīng)過(guò)觸發(fā)傳感器3時(shí)，觸發(fā)傳感器3向控制模塊2發(fā)送感應(yīng)信號(hào)。本實(shí)用新型的控制模塊采用單片機(jī)，其接收信號(hào)并處理信號(hào)，并可進(jìn)一步地反饋信號(hào)給制卡設(shè)備。觸發(fā)傳感器3采用光電傳感器。
[0018]讀卡器I和觸發(fā)傳感器3設(shè)置于制卡設(shè)備的卡片傳送路徑上，本實(shí)施例的觸發(fā)傳感器3位于讀卡器I之后，即卡片先經(jīng)過(guò)讀卡器后再經(jīng)過(guò)光電傳感器，如圖2和圖3所示，讀卡器I設(shè)置于卡片傳送軌道的旁側(cè)，循環(huán)掃描通過(guò)的非接觸芯片卡，檢測(cè)芯片卡是否為良品，如果是良品，將反饋低電平信號(hào)給控制模塊2，如果是不良品，則無(wú)信息反饋。
[0019]進(jìn)一步的，本實(shí)用新型的控制模塊2還具有指示燈、報(bào)警單元、顯示單元。判斷為不良卡時(shí)，指示燈可顯示為紅色，報(bào)警單元發(fā)出警報(bào)信號(hào)，顯示單元顯示不良卡片的數(shù)量，實(shí)時(shí)提醒操作員，便于核對(duì)不良卡數(shù)量。報(bào)警單元可采用蜂鳴器，顯示單元可采用兩位數(shù)碼管。
[0020]下面對(duì)本實(shí)用新型檢測(cè)裝置的工作過(guò)程進(jìn)行說(shuō)明:
[0021]開機(jī)后，制卡設(shè)備開始工作，制作完成的卡片沿著制卡設(shè)備的傳送軌道行進(jìn)；
[0022]讀卡器I開始循環(huán)掃描；
[0023]當(dāng)卡片經(jīng)過(guò)讀卡器I時(shí)，如果是功能正常的芯片卡，讀卡器I發(fā)出射頻信號(hào)后可接收到芯片卡反饋的信號(hào)，此時(shí)讀卡器I發(fā)送一個(gè)低電平給控制模塊2，控制模塊2以寄存的形式保存一個(gè)標(biāo)志，如令timels = 1，如果是不良芯片卡，讀卡器I不會(huì)發(fā)送任何信號(hào)給控制模塊2，則timels = O ；
[0024]芯片卡繼續(xù)前進(jìn)經(jīng)過(guò)觸發(fā)傳感器3時(shí)，觸發(fā)傳感器3感應(yīng)到芯片卡，并向控制模塊2發(fā)送感應(yīng)信號(hào)，表示在檢測(cè)區(qū)域內(nèi)檢測(cè)到有卡片經(jīng)過(guò)，控制模塊2接收到觸發(fā)傳感器3的信號(hào)后，尋找是否存在已存儲(chǔ)的標(biāo)志，如果存在標(biāo)志timels = 1，表示卡片正常，指示燈閃一下；如果無(wú)標(biāo)志，說(shuō)明讀卡器未能收到卡片的反饋信號(hào)，卡片非接功能失效，蜂鳴器發(fā)出警報(bào)聲；
[0025]當(dāng)芯片卡離開觸發(fā)傳感器3后，讀卡器重新開始掃描，此時(shí)標(biāo)志timels重新變?yōu)镺。
[0026]作為本實(shí)用新型的一個(gè)優(yōu)選實(shí)施例，檢測(cè)裝置還包括控制信號(hào)傳感器4，用于接收控制模塊2的控制信號(hào)，該控制信號(hào)用于控制制卡設(shè)備出卡端正常出卡通道和廢卡出卡通道的開/閉；當(dāng)芯片卡功能失效時(shí)，控制模塊2向控制信號(hào)傳感器4發(fā)送一個(gè)低電平，控制信號(hào)傳感器4收到信號(hào)后，控制制卡設(shè)備出卡端的廢卡出卡通道打開，廢卡則會(huì)自動(dòng)排出至廢卡槽內(nèi)，通過(guò)設(shè)置該控制信號(hào)傳感器當(dāng)出現(xiàn)廢卡時(shí)可以不用停止制卡設(shè)備的生產(chǎn)過(guò)程，人工干預(yù)拿卡，提高了生產(chǎn)效率，同時(shí)也無(wú)需再次確認(rèn)好卡槽中的卡片?？刂颇K還可以保存如時(shí)間、卡號(hào)等相關(guān)記錄日志，供后期隨時(shí)查詢核對(duì)。
[0027]本實(shí)用新型檢測(cè)裝置對(duì)卡片進(jìn)行檢測(cè)時(shí)，如果卡片沒有離開觸發(fā)傳感器時(shí)，檢測(cè)區(qū)域內(nèi)不會(huì)有第二張卡片進(jìn)入，即單片機(jī)在作判斷處理時(shí)，讀卡器不會(huì)去掃描是否有非接觸卡片的。本實(shí)用新型的卡片檢測(cè)裝置可用于如凸字芯片卡、非凸字芯片卡、雙芯片卡等。
[0028]采用本實(shí)用新型的卡片檢測(cè)裝置，在制作卡片的工藝中即可完成對(duì)卡片功能的檢測(cè)，大大提高了檢測(cè)效率，與人工檢測(cè)的方式相比，準(zhǔn)確率也更高，檢測(cè)效果更好，也可解決生產(chǎn)工耗大的困擾。
[0029]以上實(shí)施例僅用以說(shuō)明本實(shí)用新型的技術(shù)方案而非對(duì)其限制，盡管參照上述實(shí)施例對(duì)本實(shí)用新型進(jìn)行了詳細(xì)的說(shuō)明，所屬領(lǐng)域的普通技術(shù)人員應(yīng)當(dāng)理解，依然可以對(duì)本實(shí)用新型的【具體實(shí)施方式】進(jìn)行修改或者等同替換，而未脫離本實(shí)用新型精神和范圍的任何修改或者等同替換，其均應(yīng)涵蓋在本實(shí)用新型的保護(hù)范圍之中。
【主權(quán)項(xiàng)】
1.一種非接觸芯片卡檢測(cè)裝置，其特征在于，包括: 讀卡器，所述讀卡器產(chǎn)生射頻信號(hào)，并接收非接觸式芯片的反饋信號(hào)； 控制模塊，所述控制模塊接收所述讀卡器發(fā)送的反饋信號(hào)以及接收下述觸發(fā)傳感器的感應(yīng)信號(hào)； 觸發(fā)傳感器，所述觸發(fā)傳感器感應(yīng)非接觸式芯片卡，并將感應(yīng)信號(hào)發(fā)送給所述控制模塊。2.如權(quán)利要求1所述的非接觸芯片卡檢測(cè)裝置，其特征在于:所述讀卡器和觸發(fā)傳感器設(shè)置于制卡設(shè)備的卡片傳送路徑上。3.如權(quán)利要求2所述的非接觸芯片卡檢測(cè)裝置，其特征在于:所述觸發(fā)傳感器位于卡片傳送路徑上讀卡器之后。4.如權(quán)利要求1所述的非接觸芯片卡檢測(cè)裝置，其特征在于:所述觸發(fā)傳感器為光電傳感器。5.如權(quán)利要求1所述的非接觸芯片卡檢測(cè)裝置，其特征在于:還包括控制信號(hào)傳感器，所述控制信號(hào)傳感器接收所述控制模塊的控制信號(hào)，以控制制卡設(shè)備出卡端正常出卡通道和廢卡出卡通道的開/閉。
【專利摘要】一種非接觸芯片卡檢測(cè)裝置，包括：讀卡器，所述讀卡器產(chǎn)生射頻信號(hào)，并接收非接觸式芯片的反饋信號(hào)；控制模塊，所述控制模塊接收所述讀卡器發(fā)送的反饋信號(hào)以及接收下述觸發(fā)傳感器的感應(yīng)信號(hào)；觸發(fā)傳感器，所述觸發(fā)傳感器感應(yīng)非接觸式芯片卡，并將感應(yīng)信號(hào)發(fā)送給所述控制模塊。本實(shí)用新型的檢測(cè)裝置設(shè)置于非接觸式芯片卡或雙芯片卡生產(chǎn)設(shè)備上，利用讀卡器和觸發(fā)傳感器相結(jié)合，讀卡器用于檢測(cè)芯片卡的功能是否失效，配合觸發(fā)傳感器感應(yīng)檢測(cè)區(qū)域內(nèi)是否有卡片經(jīng)過(guò)，準(zhǔn)確有效的檢測(cè)出芯片卡是否為良品，既不影響設(shè)備原有的生產(chǎn)速度，又有效提升了不良非接觸式芯片檢測(cè)效率。
【IPC分類】G06K19/077, G06K7/00
【公開號(hào)】CN205103827
【申請(qǐng)?zhí)枴緾N201520692545
【發(fā)明人】袁鑫磊, 李衛(wèi)雄, 姜傳和, 陳波, 孫輝鋒
【申請(qǐng)人】珠海市金邦達(dá)保密卡有限公司
【公開日】2016年3月23日
【申請(qǐng)日】2015年9月7日