一種提高電路仿真精度的方法及裝置的制造方法
【技術(shù)領域】
[0001]本發(fā)明涉及電路仿真領域，更具體的說是涉及一種提高電路仿真精度的方法及裝置。
【背景技術(shù)】
[0002]電路仿真，就是將設計好的電路圖通過仿真軟件進行實時模擬，模擬出實際功能。
[0003]傳統(tǒng)的電路仿真對同一類參數(shù)化器件單元PCe 11采用同一器件模型，在提取同一類參數(shù)化器件單元PCell的器件模型時，需要在所有器件的最大工作電壓范圍、電流范圍、頻率范圍內(nèi)進行。如果需要確保模型在全域范圍內(nèi)的最大誤差最小，就需要降低器件模型在某些區(qū)域內(nèi)的模型參數(shù)提取精度，其結(jié)果必然是電路仿真精度的降低，這在極深納米工藝下的集成電路仿真將會表現(xiàn)得更為明顯。
[0004]因此，傳統(tǒng)的電路仿真在仿真精度上較低。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0005]有鑒于此，本發(fā)明的目的是要解決傳統(tǒng)的電路仿真精度較低的問題，提供一種提高電路仿真精度的方法及裝置，技術(shù)方案如下:
[0006]一種提高電路仿真精度的方法，包括:
[0007]獲取參數(shù)化器件單元，所述參數(shù)化器件單元對應至少一個器件模型卡；
[0008]獲取電路網(wǎng)表，所述電路網(wǎng)表包括器件的器件名稱，所述器件與器件模型卡之間的對應關(guān)系；
[0009]選擇所述參數(shù)化器件單元中的第一器件模型卡；
[0010]根據(jù)所述電路網(wǎng)表以及所述第一器件模型卡進行電路仿真，得到電路仿真結(jié)果；
[0011]檢測所述電路仿真結(jié)果是否收斂，如果否，則:
[0012]根據(jù)所述電路仿真結(jié)果重新選擇器件模型卡直至所述電路仿真結(jié)果收斂。
[0013]優(yōu)選的，在上述的提高電路仿真精度方法中，根據(jù)所述電路仿真結(jié)果重新選擇器件模型卡直至所述電路仿真結(jié)果收斂，包括:
[0014]根據(jù)所述電路仿真結(jié)果確定所述器件工作的第一電學范圍；
[0015]在所述獲取參數(shù)化器件單元中的器件模型卡中選擇所述第一電學范圍內(nèi)的器件模型卡；
[0016]根據(jù)所述電路網(wǎng)表以及選擇出的器件模型卡進行電路仿真，得到第一電路仿真結(jié)果，如果所述第一電路仿真結(jié)果收斂則結(jié)束流程，否則:
[0017]繼續(xù)在所述獲取參數(shù)化器件單元中的器件模型卡中選擇所述第一電學范圍內(nèi)的器件模型卡。
[0018]優(yōu)選的，在上述的提高電路仿真精度方法中，所述在所述獲取參數(shù)化器件單元中的器件模型卡中選擇所述第一電學范圍內(nèi)的器件模型卡，包括:
[0019]每個所述器件模型卡存儲有器件工作的電學范圍參數(shù)值，根據(jù)所述電學范圍參數(shù)值，在所述獲取參數(shù)化器件單元中的器件模型卡中選擇所述第一電學范圍內(nèi)的器件模型卡。
[0020]優(yōu)選的，在上述的提高電路仿真精度方法中，所述檢測所述電路仿真結(jié)果是否收斂，包括:
[0021]比較相鄰兩次的電路仿真結(jié)果，得到結(jié)果差值，如果所述差值在預先設置的范圍內(nèi)，則所述電路仿真結(jié)果收斂。
[0022]優(yōu)選的，在上述的提高電路仿真精度方法中，所述根據(jù)所述電路仿真結(jié)果重新選擇器件模型卡直至所述電路仿真結(jié)果收斂，之后還包括:
[0023]根據(jù)所述電路仿真結(jié)果確定所述器件的電學工作范圍，對電學工作范圍相同的器件進行歸并，并將歸并后的器件提取電學范圍參數(shù)值，形成新的器件模型卡。
[0024]本發(fā)明實施例還公開一種提高電路仿真精度的裝置，包括:
[0025]第一獲取單元，用于獲取參數(shù)化器件單元，所述參數(shù)化器件單元對應至少一個器件模型卡；
[0026]第二獲取單元，用于獲取電路網(wǎng)表，所述電路網(wǎng)表包括器件的器件名稱，所述器件與器件模型卡之間的對應關(guān)系；
[0027]第一選擇單元，用于選擇所述參數(shù)化器件單元中的第一器件模型卡；
[0028]處理單元，用于根據(jù)所述電路網(wǎng)表以及所述第一器件模型卡進行電路仿真，得到電路仿真結(jié)果；
[0029]檢測單元，用于檢測所述電路仿真結(jié)果是否收斂，如果否，則觸發(fā)第二選擇單元；
[0030]所述第二觸發(fā)單元，用于根據(jù)所述電路仿真結(jié)果重新選擇器件模型卡直至所述電路仿真結(jié)果收斂。
[0031]優(yōu)選的，在上述的提高電路仿真精度裝置中，所述第二觸發(fā)單元，包括:
[0032]電學范圍確定模塊，用于根據(jù)所述電路仿真結(jié)果確定所述器件工作的第一電學范圍；
[0033]器件模型卡選擇模塊，用于在所述獲取參數(shù)化器件單元中的器件模型卡中選擇所述第一電學范圍內(nèi)的器件模型卡；
[0034]仿真模塊，用于根據(jù)所述電路網(wǎng)表以及選擇出的器件模型卡進行電路仿真，得到第一電路仿真結(jié)果，如果所述第一電路仿真結(jié)果收斂則結(jié)束流程，否則觸發(fā)所述器件模型卡選擇模塊，所述器件模型卡選擇模塊繼續(xù)在所述獲取參數(shù)化器件單元中的器件模型卡中選擇所述第一電學范圍內(nèi)的器件模型卡。
[0035]優(yōu)選的，在上述的提高電路仿真精度裝置中，器件模型卡選擇模塊包括選擇子模塊；
[0036]每個所述器件模型卡存儲有器件工作的電學范圍參數(shù)值，所述選擇子模塊用于根據(jù)所述電學范圍參數(shù)值，在所述獲取參數(shù)化器件單元中的器件模型卡中選擇所述第一電學范圍內(nèi)的器件模型卡。
[0037]優(yōu)選的，在上述的提高電路仿真精度裝置中，所述檢測單元，包括:
[0038]比較模塊，用于比較相鄰兩次的電路仿真結(jié)果，得到結(jié)果差值，如果所述差值在預先設置的范圍內(nèi)，則所述電路仿真結(jié)果收斂。
[0039]優(yōu)選的，在上述的提高電路仿真精度裝置中，還包括:
[0040]器件模型卡生成單元，用于根據(jù)所述電路仿真結(jié)果確定所述器件的電學工作范圍，對電學工作范圍相同的器件進行歸并，并將歸并后的器件提取電學范圍參數(shù)值，形成新的器件模型卡。
[0041]本發(fā)明實施例提供的方法，與傳統(tǒng)的方法相比，在選擇器件模型卡時，不是選擇與參數(shù)化器件單元對應的那個固定且唯一的器件模型卡，而是動態(tài)的選擇與該參數(shù)化器件單元對應的多個器件模型卡，只有當電路仿真結(jié)果收斂時才結(jié)束流程，因此，相較于傳統(tǒng)的方法，本發(fā)明實施例提供的方法，電路仿真結(jié)果具有更高的精度。
【附圖說明】
[0042]為了更清楚地說明本發(fā)明實施例或現(xiàn)有技術(shù)中的技術(shù)方案，下面將對實施例或現(xiàn)有技術(shù)描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖僅僅是本發(fā)明的一些實施例，對于本領域普通技術(shù)人員來講，在不付出創(chuàng)造性勞動的前提下，還可以根據(jù)這些附圖獲得其他的附圖。
[0043]圖1為本發(fā)明實施例提供的提高電路仿真精度方法的一種流程示意圖；
[0044]圖2為傳統(tǒng)的電路仿真方法中，參數(shù)化器件單元與器件模型卡的對應關(guān)系；
[0045]圖3為本發(fā)明實施例提供的參數(shù)化器件單元與器件模型卡的對應關(guān)系；
[0046]圖4為本發(fā)明實施例提供的提高電路仿真精度方法的另一流程示意圖；
[0047]圖5為本發(fā)明實施例提供的根據(jù)電路仿真結(jié)果重新選擇器件模型卡直至電路仿真結(jié)果收斂的一種具體實現(xiàn)方式；
[0048]圖6為本發(fā)明實施例提供的提高電路仿真精度裝置的一種結(jié)構(gòu)示意圖；
[0049]圖7為本發(fā)明實施例提供的第二觸發(fā)單元的一種結(jié)構(gòu)示意圖；
[0050]圖8為本發(fā)明實施例提供的提高電路仿真精度裝置的另一結(jié)構(gòu)示意圖。
【具體實施方式】
[0051]下面將結(jié)合本發(fā)明實施例中的附圖，對本發(fā)明實施例中的技術(shù)方案進行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實施例僅僅是本發(fā)明一部分實施例，而不是全部的實施例。基于本發(fā)明中的實施例，本領域普通技術(shù)人員在沒有做出創(chuàng)造性勞動前提下所獲得的所有其他實施例，都屬于本發(fā)明保護的范圍。
[0052]參見圖1，本發(fā)明實施例提供一種提高電路仿真精度的方法，方法包括:
[0053]步驟110:獲取參數(shù)化器件單元，參數(shù)化器件單元對應至少一個器件模型卡。
[0054]器件模型卡指一組器件模型參數(shù)值，每個器件模型卡存儲有器件工作的電學參數(shù)范圍值。進一步地，可以提取器件模型卡中參數(shù)值所用的測試圖形，制造出實際器件，利用測試儀器獲取器件的1-V