一種存儲(chǔ)器目標(biāo)測(cè)試方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及計(jì)算機(jī)內(nèi)存可靠性測(cè)試技術(shù)領(lǐng)域，具體提供一種存儲(chǔ)器目標(biāo)測(cè)試方法。
【背景技術(shù)】
[0002]隨著IT領(lǐng)域技術(shù)的不斷發(fā)展，傳統(tǒng)信息化服務(wù)以及日趨強(qiáng)大的云計(jì)算服務(wù)，對(duì)服務(wù)器的安全可靠要求越來(lái)越高。作為服務(wù)器產(chǎn)品提供商，一款服務(wù)器無(wú)論是在研發(fā)階段還是生產(chǎn)階段都需要對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行安全性測(cè)試，從而嚴(yán)格保證該產(chǎn)品的安全性，其主要體現(xiàn)在RAS性能上。
[0003]RAS特性中重要的一點(diǎn)就是內(nèi)存的RAS特性。內(nèi)存是一種電子器件，在其工作過(guò)程中難免會(huì)出現(xiàn)錯(cuò)誤，而對(duì)于穩(wěn)定性要求高的用戶來(lái)說(shuō)，內(nèi)存錯(cuò)誤可能會(huì)引起致命性的問(wèn)題。內(nèi)存錯(cuò)誤根據(jù)其原因還可分為硬錯(cuò)誤和軟錯(cuò)誤。硬件錯(cuò)誤是由于硬件的損害或缺陷造成的，因此數(shù)據(jù)總是不正確；軟錯(cuò)誤是隨機(jī)出現(xiàn)的，例如在內(nèi)存附近突然出現(xiàn)電子干擾等因素都可能造成內(nèi)存軟錯(cuò)誤的發(fā)生。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0004]本發(fā)明的技術(shù)任務(wù)是針對(duì)上述存在的問(wèn)題，提供一種操作簡(jiǎn)單，實(shí)用性強(qiáng)，能有效確保服務(wù)器的可靠性和安全性的存儲(chǔ)器目標(biāo)測(cè)試方法。
[0005]為實(shí)現(xiàn)上述目的，本發(fā)明提供了如下技術(shù)方案:
一種存儲(chǔ)器目標(biāo)測(cè)試方法，所述測(cè)試方法使用ITP工具給內(nèi)存注入Bit ECC Error，模擬實(shí)際應(yīng)用中內(nèi)存出錯(cuò)情況，通過(guò)讀取寄存器的值來(lái)考量存儲(chǔ)器目標(biāo)功能是否成功實(shí)現(xiàn)。
[0006]開(kāi)啟存儲(chǔ)器目標(biāo)功能的情況下，給內(nèi)存注入單Bit ECC Error來(lái)模擬實(shí)際應(yīng)用中出現(xiàn)的內(nèi)存ECC Error，在ECC Error數(shù)目達(dá)到閾值時(shí)該功能仍然可以糾正一個(gè)bit的錯(cuò)誤，從而不會(huì)發(fā)生服務(wù)器宕機(jī)現(xiàn)象。該測(cè)試方法操作簡(jiǎn)單，實(shí)用性較強(qiáng)，有效確保了服務(wù)器的可靠性和安全性。
[0007]作為優(yōu)選，所述方法適用于帶有XDP接口，支持存儲(chǔ)器目標(biāo)功能的X86服務(wù)器產(chǎn)品Ο
[0008]本發(fā)明具有以下突出的有益效果:使用ΙΤΡ工具給內(nèi)存注入單Bit ECC Error，模擬實(shí)際應(yīng)用中內(nèi)存出錯(cuò)情況，通過(guò)讀取寄存器的值來(lái)考量存儲(chǔ)器目標(biāo)功能，使服務(wù)器不會(huì)發(fā)生宕機(jī)現(xiàn)象；該方法操作簡(jiǎn)單，實(shí)用性強(qiáng)，能有效確保服務(wù)器的可靠性和安全性，防止服務(wù)器內(nèi)存出現(xiàn)硬錯(cuò)誤或者軟錯(cuò)誤等致命性的錯(cuò)誤，提高服務(wù)器的易用性。
【具體實(shí)施方式】
[0009]下面結(jié)合實(shí)施例對(duì)本發(fā)明所述存儲(chǔ)器目標(biāo)測(cè)試方法作進(jìn)一步詳細(xì)說(shuō)明。
實(shí)施例
[0011]本發(fā)明所述存儲(chǔ)器目標(biāo)測(cè)試方法，使用ITP工具給內(nèi)存注入Bit ECC Error,模擬實(shí)際應(yīng)用中內(nèi)存出錯(cuò)情況，通過(guò)讀取寄存器的值來(lái)考量存儲(chǔ)器目標(biāo)功能是否成功實(shí)現(xiàn)。
[0012]開(kāi)啟存儲(chǔ)器目標(biāo)功能的情況下，給內(nèi)存注入單Bit ECC Error來(lái)模擬實(shí)際應(yīng)用中出現(xiàn)的內(nèi)存ECC Error，在ECC Error數(shù)目達(dá)到閾值時(shí)該功能仍然可以糾正一個(gè)bit的錯(cuò)誤，從而不會(huì)發(fā)生服務(wù)器宕機(jī)現(xiàn)象。該測(cè)試方法操作簡(jiǎn)單，實(shí)用性較強(qiáng)，有效確保了服務(wù)器的可靠性和安全性。
[0013]作為優(yōu)選，所述方法適用于帶有XDP接口，支持存儲(chǔ)器目標(biāo)功能的X86服務(wù)器產(chǎn)品Ο
[0014]本發(fā)明的存儲(chǔ)器目標(biāo)測(cè)試方法的實(shí)際工作過(guò)程為:
(1)準(zhǔn)備好Windows測(cè)試機(jī)和Windows控制端；
(2)用ITP工具連接測(cè)試機(jī)和控制端；
(3)設(shè)置存儲(chǔ)器目標(biāo)為Enable;
(4)控制端輸入指令，給測(cè)試機(jī)的某根內(nèi)存rank注入單BitECC Error ；
(5)輸入指令查看該rank上ECCError數(shù)目增加1 ;
(6)繼續(xù)給該rank注錯(cuò)，直至Error數(shù)目達(dá)到閥值；
(7)查看該rank上ECCError數(shù)目變?yōu)? ;
(8)Windows系統(tǒng)沒(méi)有藍(lán)屏或者宕機(jī)現(xiàn)象；
(9)Windows 端查看寄存器有 DEVTAG-CNTL-0.bit7=l，DEVTAG-CNTL-0.bit6=0。
[0015]以上所述的實(shí)施例，只是本發(fā)明較優(yōu)選的【具體實(shí)施方式】，本領(lǐng)域的技術(shù)人員在本發(fā)明技術(shù)方案范圍內(nèi)進(jìn)行的通常變化和替換都應(yīng)包含在本發(fā)明的保護(hù)范圍內(nèi)。
【主權(quán)項(xiàng)】
1.一種存儲(chǔ)器目標(biāo)測(cè)試方法，其特征在于:所述測(cè)試方法使用ITP工具給內(nèi)存注入BitECC Error,模擬實(shí)際應(yīng)用中內(nèi)存出錯(cuò)情況，通過(guò)讀取寄存器的值來(lái)考量存儲(chǔ)器目標(biāo)功能是否成功實(shí)現(xiàn)。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的存儲(chǔ)器目標(biāo)測(cè)試方法，其特征在于:所述方法適用于帶有XDP接口，支持存儲(chǔ)器目標(biāo)功能的X86服務(wù)器產(chǎn)品。
【專利摘要】本發(fā)明公開(kāi)了一種存儲(chǔ)器目標(biāo)測(cè)試方法，屬于計(jì)算機(jī)內(nèi)存可靠性測(cè)試技術(shù)領(lǐng)域。所述存儲(chǔ)器目標(biāo)測(cè)試方法，使用ITP工具給內(nèi)存注入Bit？ECC？Error，模擬實(shí)際應(yīng)用中內(nèi)存出錯(cuò)情況，通過(guò)讀取寄存器的值來(lái)考量存儲(chǔ)器目標(biāo)功能是否成功實(shí)現(xiàn)。本發(fā)明所述存儲(chǔ)器目標(biāo)測(cè)試方法，操作簡(jiǎn)單，實(shí)用性強(qiáng)，有效確保了服務(wù)器的可靠性和安全性，具有很好的推廣應(yīng)用價(jià)值。
【IPC分類】G06F11/26
【公開(kāi)號(hào)】CN105302686
【申請(qǐng)?zhí)枴緾N201510903925
【發(fā)明人】齊煜
【申請(qǐng)人】浪潮電子信息產(chǎn)業(yè)股份有限公司
【公開(kāi)日】2016年2月3日
【申請(qǐng)日】2015年12月9日