[0061]I/O插件的上電自檢裝置的實施例
[0062]圖2示出了本發(fā)明的I/O插件的上電自檢裝置的較佳實施例的原理。本實施例的I/O插件以用于安全計算機平臺的I/O插件為例來說明，但并不限于安全計算機平臺，也可以用于列車運行監(jiān)控系統(tǒng)或者除了安全計算機平臺和列車運行監(jiān)控系統(tǒng)之外的系統(tǒng)。請參見圖2，本實施例的上電自檢裝置包括:SRAM芯片自檢模塊1、閃存芯片自檢模塊2、RAM自檢模塊3、插件通信通道自檢模塊4、插件通道上電自檢模塊5。
[0063]SRAM芯片自檢模塊I是通過多次逐地址的讀寫操作對SRAM芯片的全地址范圍進行檢查。若自檢不通過則進入故障狀態(tài)，若自檢通過則運行閃存芯片自檢模塊2。
[0064]閃存芯片自檢模塊2是通過檢查軟件的CRC校驗碼的方式對閃存芯片中用于存儲軟件的地址區(qū)域進行檢查。若自檢不通過則進入故障狀態(tài)，若自檢通過則運行RAM自檢模塊3。
[0065]RAM自檢模塊3是通過多次逐地址的讀寫操作對CPU片內(nèi)的RAM進行檢查。若自檢不通過則進入故障狀態(tài)，若自檢通過則運行插件通信通道自檢模塊4。
[0066]插件通信通道自檢模塊4是檢查插件各CPU之間的通信通道是否正常。若自檢不通過則進入故障狀態(tài)，若自檢通過則運行插件通道上電自檢模塊5。
[0067]插件通道上電自檢模塊5是檢查輸入采集通道是否正常。若自檢不通過則進入故障狀態(tài)，若自檢通過則進入正常運行。
[0068]盡管為使解釋簡單化將上述方法圖示并描述為一系列動作，但是應(yīng)理解并領(lǐng)會，這些方法不受動作的次序所限，因為根據(jù)一個或多個實施例，一些動作可按不同次序發(fā)生和/或與來自本文中圖示和描述或本文中未圖示和描述但本領(lǐng)域技術(shù)人員可以理解的其他動作并發(fā)地發(fā)生。
[0069]本領(lǐng)域技術(shù)人員將進一步領(lǐng)會，結(jié)合本文中所公開的實施例來描述的各種解說性邏輯板塊、模塊、電路、和算法步驟可實現(xiàn)為電子硬件、計算機軟件、或這兩者的組合。為清楚地解說硬件與軟件的這一可互換性，各種解說性組件、框、模塊、電路、和步驟在上面是以其功能性的形式作一般化描述的。此類功能性是被實現(xiàn)為硬件還是軟件取決于具體應(yīng)用和施加于整體系統(tǒng)的設(shè)計約束。技術(shù)人員對于每種特定應(yīng)用可用不同的方式來實現(xiàn)所描述的功能性，但這樣的實現(xiàn)決策不應(yīng)被解讀成導致脫離了本發(fā)明的范圍。
[0070]結(jié)合本文所公開的實施例描述的各種解說性邏輯板塊、模塊、和電路可用通用處理器、數(shù)字信號處理器(DSP)、專用集成電路(ASIC)、現(xiàn)場可編程門陣列(FPGA)或其它可編程邏輯器件、分立的門或晶體管邏輯、分立的硬件組件、或其設(shè)計成執(zhí)行本文所描述功能的任何組合來實現(xiàn)或執(zhí)行。通用處理器可以是微處理器，但在替換方案中，該處理器可以是任何常規(guī)的處理器、控制器、微控制器、或狀態(tài)機。處理器還可以被實現(xiàn)為計算設(shè)備的組合，例如DSP與微處理器的組合、多個微處理器、與DSP核心協(xié)作的一個或多個微處理器、或任何其他此類配置。[0071 ] 結(jié)合本文中公開的實施例描述的方法或算法的步驟可直接在硬件中、在由處理器執(zhí)行的軟件模塊中、或在這兩者的組合中體現(xiàn)。軟件模塊可駐留在RAM存儲器、閃存、ROM存儲器、EPROM存儲器、EEPROM存儲器、寄存器、硬盤、可移動盤、CD-ROM、或本領(lǐng)域中所知的任何其他形式的存儲介質(zhì)中。示例性存儲介質(zhì)耦合到處理器以使得該處理器能從/向該存儲介質(zhì)讀取和寫入信息。在替換方案中，存儲介質(zhì)可以被整合到處理器。處理器和存儲介質(zhì)可駐留在ASIC中。ASIC可駐留在用戶終端中。在替換方案中，處理器和存儲介質(zhì)可作為分立組件駐留在用戶終端中。
[0072]在一個或多個示例性實施例中，所描述的功能可在硬件、軟件、固件或其任何組合中實現(xiàn)。如果在軟件中實現(xiàn)為計算機程序產(chǎn)品，則各功能可以作為一條或更多條指令或代碼存儲在計算機可讀介質(zhì)上或藉其進行傳送。計算機可讀介質(zhì)包括計算機存儲介質(zhì)和通信介質(zhì)兩者，其包括促成計算機程序從一地向另一地轉(zhuǎn)移的任何介質(zhì)。存儲介質(zhì)可以是能被計算機訪問的任何可用介質(zhì)。作為示例而非限定，這樣的計算機可讀介質(zhì)可包括RAM、R0M、EEPROM、CD-ROM或其它光盤存儲、磁盤存儲或其它磁存儲設(shè)備、或能被用來攜帶或存儲指令或數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)形式的合意程序代碼且能被計算機訪問的任何其它介質(zhì)。任何連接也被正當?shù)胤Q為計算機可讀介質(zhì)。例如，如果軟件是使用同軸電纜、光纖電纜、雙絞線、數(shù)字訂戶線(DSL)、或諸如紅外、無線電、以及微波之類的無線技術(shù)從web網(wǎng)站、服務(wù)器、或其它遠程源傳送而來，則該同軸電纜、光纖電纜、雙絞線、DSL、或諸如紅外、無線電、以及微波之類的無線技術(shù)就被包括在介質(zhì)的定義之中。如本文中所使用的盤(disk)和碟(disc)包括壓縮碟(CD)、激光碟、光碟、數(shù)字多用碟(DVD)、軟盤和藍光碟，其中盤(disk)往往以磁的方式再現(xiàn)數(shù)據(jù)，而碟(disc)用激光以光學方式再現(xiàn)數(shù)據(jù)。上述的組合也應(yīng)被包括在計算機可讀介質(zhì)的范圍內(nèi)。
[0073]提供對本公開的先前描述是為使得本領(lǐng)域任何技術(shù)人員皆能夠制作或使用本公開。對本公開的各種修改對本領(lǐng)域技術(shù)人員來說都將是顯而易見的，且本文中所定義的普適原理可被應(yīng)用到其他變體而不會脫離本公開的精神或范圍。由此，本公開并非旨在被限定于本文中所描述的示例和設(shè)計，而是應(yīng)被授予與本文中所公開的原理和新穎性特征相一致的最廣范圍。
【主權(quán)項】
1.一種I/O插件的上電自檢方法，包括: 進行SRAM芯片自檢； 進行閃存芯片自檢； 進行CPU片內(nèi)RAM自檢； 進行插件內(nèi)部通信通道自檢； 進行插件通道上電自檢。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的I/O插件的上電自檢方法，其特征在于，在SRAM芯片自檢的步驟中，是通過多次逐地址的讀寫操作對SRAM芯片的全地址范圍進行檢查。3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的I/O插件的上電自檢方法，其特征在于，在閃存芯片自檢的步驟中，是通過檢查軟件的CRC校驗碼的方式對閃存芯片中用于存儲軟件的地址區(qū)域進行檢查。4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的I/O插件的上電自檢方法，其特征在于，在CPU片內(nèi)RAM自檢的步驟中，是通過多次逐地址的讀寫操作對CPU片內(nèi)的RAM進行檢查。5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的I/O插件的上電自檢方法，其特征在于，在插件內(nèi)部通信通道自檢的步驟中，是檢查插件各CPU之間的通信通道是否正常。6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的I/O插件的上電自檢方法，其特征在于，在插件通道上電自檢的步驟中，是檢查輸入采集通道是否正常。7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的I/O插件的上電自檢方法，其特征在于，I/O插件的上電自檢方法用于安全計算機平臺。8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的I/O插件的上電自檢方法，其特征在于，I/O插件的上電自檢方法用于列車運行監(jiān)控系統(tǒng)。9.一種I/O插件的上電自檢裝置，包括: SRAM芯片自檢模塊，用于SRAM芯片自檢； 閃存芯片自檢模塊，用于閃存芯片自檢； RAM自檢模塊，用于CPU片內(nèi)RAM自檢； 插件通信通道自檢模塊，用于插件內(nèi)部通信通道自檢； 插件通道上電自檢模塊，用于插件通道上電自檢。10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的I/O插件的上電自檢裝置，其特征在于，SRAM芯片自檢模塊是通過多次逐地址的讀寫操作對SRAM芯片的全地址范圍進行檢查。11.根據(jù)權(quán)利要求9所述的I/O插件的上電自檢裝置，其特征在于，閃存芯片自檢模塊是通過檢查軟件的CRC校驗碼的方式對閃存芯片中用于存儲軟件的地址區(qū)域進行檢查。12.根據(jù)權(quán)利要求9所述的I/O插件的上電自檢裝置，其特征在于，RAM自檢模塊是通過多次逐地址的讀寫操作對CPU片內(nèi)的RAM進行檢查。13.根據(jù)權(quán)利要求9所述的I/O插件的上電自檢裝置，其特征在于，插件通信通道自檢模塊是檢查插件各CPU之間的通信通道是否正常。14.根據(jù)權(quán)利要求9所述的I/O插件的上電自檢裝置，其特征在于，插件通道上電自檢模塊是檢查輸入采集通道是否正常。15.根據(jù)權(quán)利要求9所述的I/O插件的上電自檢裝置，其特征在于，I/O插件的上電自檢裝置用于安全計算機平臺。16.根據(jù)權(quán)利要求9所述的I/O插件的上電自檢裝置，其特征在于，I/O插件的上電自檢裝置用于列車運行監(jiān)控系統(tǒng)。
【專利摘要】本發(fā)明公開了一種I/O插件的上電自檢方法和裝置，對插件進行系統(tǒng)全面的自檢，防止存在隱患的插件導致系統(tǒng)在運行時出現(xiàn)故障。其技術(shù)方案為：進行SRAM芯片自檢；進行閃存芯片自檢；進行CPU片內(nèi)RAM自檢；進行插件內(nèi)部通信通道自檢；進行插件通道上電自檢。
【IPC分類】G06F11/22
【公開號】CN105095039
【申請?zhí)枴緾N201510607140
【發(fā)明人】王奇, 喻文沖, 賀建國, 代飛, 顏光, 朱暉, 彭扶權(quán), 易紅, 羅永升, 單勇騰, 李曉濤
【申請人】株洲南車時代電氣股份有限公司
【公開日】2015年11月25日
【申請日】2015年9月22日