一種用于計(jì)算機(jī)主板大規(guī)模生產(chǎn)測(cè)試的pcie測(cè)試卡的制作方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及PCIE測(cè)試卡領(lǐng)域，具體地說是一種用于計(jì)算機(jī)主板大規(guī)模生產(chǎn)測(cè)試的PCIE測(cè)試卡。
【背景技術(shù)】
[0002]在當(dāng)前計(jì)算機(jī)系統(tǒng)中，主板一般都會(huì)包括3~8個(gè)PCIe接口插槽或PCIe接口轉(zhuǎn)接卡也會(huì)有PCIe插槽，生產(chǎn)測(cè)試每種主板時(shí)都需要測(cè)試這些插槽功能是否完善，以確保主板為好板，在之前的主板生產(chǎn)過程中，PCIe插槽測(cè)試一般使用各種網(wǎng)卡，HBA, SAS卡，顯卡等，使用的這些卡成本很高，并且每種主板使用的PCIe測(cè)試卡混雜，測(cè)試設(shè)備管控麻煩，各主板共用測(cè)試卡困難，造成測(cè)試設(shè)備成本高昂，使用率低。
[0003]

【發(fā)明內(nèi)容】

本發(fā)明的技術(shù)任務(wù)是提供一種用于計(jì)算機(jī)主板大規(guī)模生產(chǎn)測(cè)試的PCIE測(cè)試卡，來解決以上技術(shù)問題。
[0004]本發(fā)明解決其技術(shù)問題所采用的技術(shù)方案是:
該P(yáng)CIE測(cè)試卡使用一種廉價(jià)的PCIE貼片，所述貼片可做成X4、X8、X16三種PCIE測(cè)試卡，將所述的X4、X8、X16三種卡統(tǒng)一作為生產(chǎn)測(cè)試物品，使PCIE測(cè)試設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)化。
[0005]所述的PCIE測(cè)試卡由撥碼開關(guān)調(diào)節(jié)速度，所述的速度分為三個(gè)檔位，所述的三個(gè)檔位分別為Gen1、Gen2、Gen3。
[0006]本發(fā)明的一種用于計(jì)算機(jī)主板大規(guī)模生產(chǎn)測(cè)試的PCIE測(cè)試卡和現(xiàn)有技術(shù)相比，具有以下有益效果:該P(yáng)CIE測(cè)試卡可以用于不同速度PCIe插槽的測(cè)試，做到一卡多能，一卡多用，節(jié)約了使用成本和時(shí)間。
【附圖說明】
[0007]下面結(jié)合附圖對(duì)本發(fā)明進(jìn)一步說明。
[0008]附圖1為一種用于計(jì)算機(jī)主板大規(guī)模生產(chǎn)測(cè)試的PCIE測(cè)試卡的流程框圖。
【具體實(shí)施方式】
[0009]下面結(jié)合附圖和具體實(shí)施例對(duì)本發(fā)明作進(jìn)一步說明。
[0010]如附圖1所示，本發(fā)明的一種用于計(jì)算機(jī)主板大規(guī)模生產(chǎn)測(cè)試的PCIE測(cè)試卡，其結(jié)構(gòu)包括一種廉價(jià)的PCIE貼片，所述貼片可做成X4、X8、X16三種PCIE測(cè)試卡，將所述的X4、X8、X16三種卡統(tǒng)一作為生產(chǎn)測(cè)試物品，使PCIE測(cè)試設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)化。所述的PCIE測(cè)試卡由撥碼開關(guān)調(diào)節(jié)速度，所述的速度分為三個(gè)檔位，所述的三個(gè)檔位分別為Gen 1、Gen2、Gen3。
[0011]在使用時(shí)，測(cè)試工程師根據(jù)PCIe插槽帶寬確定選用哪種測(cè)試板卡(X4、X8、X16是通常見到PCIE帶寬，根據(jù)帶寬選擇適用的測(cè)試卡)，然后進(jìn)行PCIe插槽測(cè)試；如果同樣帶寬的PCIe插槽，但是速度不同，可以通過撥碼開關(guān)設(shè)置來更改測(cè)試卡的速度，實(shí)現(xiàn)多用性。
[0012]通過上面【具體實(shí)施方式】，所述技術(shù)領(lǐng)域的技術(shù)人員可容易的實(shí)現(xiàn)本發(fā)明。但是應(yīng)當(dāng)理解，本發(fā)明并不限于上述的【具體實(shí)施方式】。在公開的實(shí)施方式的基礎(chǔ)上，所述技術(shù)領(lǐng)域的技術(shù)人員可任意組合不同的技術(shù)特征，從而實(shí)現(xiàn)不同的技術(shù)方案。
【主權(quán)項(xiàng)】
1.一種用于計(jì)算機(jī)主板大規(guī)模生產(chǎn)測(cè)試的PCIE測(cè)試卡，其特征在于該P(yáng)CIE測(cè)試卡使用一種廉價(jià)的PCIE貼片，所述貼片可做成X4、X8、X16三種PCIE測(cè)試卡，將所述的X4、X8、X16三種卡統(tǒng)一作為生產(chǎn)測(cè)試物品，使PCIE測(cè)試設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)化。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種用于計(jì)算機(jī)主板大規(guī)模生產(chǎn)測(cè)試的PCIE測(cè)試卡，其特征在于所述的PCIE測(cè)試卡由撥碼開關(guān)調(diào)節(jié)速度，所述的速度分為三個(gè)檔位，所述的三個(gè)檔位分別為 Genl、Gen2、Gen3。
【專利摘要】本發(fā)明公開了一種用于計(jì)算機(jī)主板大規(guī)模生產(chǎn)測(cè)試的PCIE測(cè)試卡，屬于PCIE測(cè)試卡領(lǐng)域，該P(yáng)CIE測(cè)試卡使用一種廉價(jià)的PCIE貼片，所述貼片可做成X4、X8、X16三種PCIE測(cè)試卡，將所述的X4、X8、X16三種卡統(tǒng)一作為生產(chǎn)測(cè)試物品，使PCIE測(cè)試設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)化。該P(yáng)CIE測(cè)試卡可以用于不同速度PCIe插槽的測(cè)試，做到一卡多能，一卡多用，節(jié)約了使用成本和時(shí)間。
【IPC分類】G06F11/22
【公開號(hào)】CN105095035
【申請(qǐng)?zhí)枴緾N201510529992
【發(fā)明人】孫連震, 王佩
【申請(qǐng)人】浪潮電子信息產(chǎn)業(yè)股份有限公司
【公開日】2015年11月25日
【申請(qǐng)日】2015年8月26日