一種基于擴(kuò)展依賴矩陣的系統(tǒng)測(cè)試點(diǎn)選取方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及系統(tǒng)性能測(cè)試領(lǐng)域，特別是一種基于擴(kuò)展依賴矩陣的系統(tǒng)測(cè)試點(diǎn)選取方法。
【背景技術(shù)】
[0002]傳統(tǒng)的測(cè)試性領(lǐng)域中測(cè)試點(diǎn)布局并使得滿足一定的故障檢測(cè)率、故障隔離率要求為了，在出現(xiàn)故障時(shí)能夠在一定的檢測(cè)率將故障檢測(cè)出來(lái)，并能夠使得能夠?qū)⒊霈F(xiàn)故障的原因定位、隔離到某個(gè)故障或者某幾個(gè)故障。在航空、航天等軍事應(yīng)用領(lǐng)域，進(jìn)行測(cè)試點(diǎn)合理布局，是定位故障、排查原因的必要手段。
[0003]現(xiàn)階段對(duì)測(cè)試點(diǎn)優(yōu)化的方法主要有兩類:第一類專利是基于給定測(cè)試點(diǎn)布局計(jì)算故障檢測(cè)率、故障隔離率結(jié)果，如北京航空航天大學(xué)CN201110217872.X號(hào)專利“一種測(cè)試性一階相關(guān)性綜合模型建立方法”、中國(guó)人民解放軍63908部隊(duì)的CN201010545014.3號(hào)專利“一種電子產(chǎn)品測(cè)試性分析與診斷決策系統(tǒng)的實(shí)現(xiàn)方法”、電子科技大學(xué)CN201410273011.7號(hào)專利“一種板級(jí)電路測(cè)試性指標(biāo)計(jì)算方法”，這類方法主要針對(duì)測(cè)試性設(shè)計(jì)人員添加好的測(cè)試點(diǎn)進(jìn)行分析，給出故障檢測(cè)率、故障隔離率的計(jì)算結(jié)果，難以從合理進(jìn)行測(cè)試點(diǎn)布局的全局系統(tǒng)設(shè)計(jì)出發(fā)進(jìn)行測(cè)試點(diǎn)的推薦，無(wú)法對(duì)測(cè)試點(diǎn)的推薦給出正面的、建設(shè)性意見(jiàn)，測(cè)試人員進(jìn)行測(cè)試點(diǎn)的布局只是用一種低效的試錯(cuò)的方式。第二類專利是基于設(shè)計(jì)好的測(cè)試點(diǎn)設(shè)計(jì)進(jìn)行用于故障診斷的測(cè)試優(yōu)選，從用戶添加的測(cè)試點(diǎn)集中搜索最優(yōu)測(cè)試點(diǎn)且具有滿意的快速性，如中國(guó)民航大學(xué)的CN201310025908.3號(hào)專利“航電組件功能維護(hù)測(cè)試點(diǎn)選取方法”、華北電力大學(xué)的CN201210366367.6號(hào)專利“一種復(fù)雜系統(tǒng)測(cè)試優(yōu)選的實(shí)現(xiàn)方法”，這類方法也是針對(duì)設(shè)計(jì)完的測(cè)試點(diǎn)布局進(jìn)行分析，得到如果測(cè)試點(diǎn)用于故障診斷，怎樣利用最少的測(cè)試點(diǎn)定位故障，得到的是測(cè)試點(diǎn)的最優(yōu)序列，區(qū)別與第一類專利，第二類專利的測(cè)試點(diǎn)的優(yōu)選基于已經(jīng)添加號(hào)的測(cè)試點(diǎn)集，也不會(huì)改善覆蓋率、隔離率等指標(biāo)。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0004]本發(fā)明解決的技術(shù)問(wèn)題是:克服現(xiàn)有技術(shù)的不足，提供了一種通過(guò)根據(jù)各個(gè)測(cè)試點(diǎn)能夠檢測(cè)到的故障模式建立擴(kuò)展依賴矩陣，進(jìn)而按順序分別獲取模糊測(cè)試點(diǎn)對(duì)、隱藏測(cè)試點(diǎn)對(duì)和等效測(cè)試點(diǎn)對(duì)得到最簡(jiǎn)測(cè)試點(diǎn)集合，再結(jié)合故障隔離貢獻(xiàn)率評(píng)價(jià)測(cè)試點(diǎn)在集合中的優(yōu)先級(jí)，得到最終測(cè)試點(diǎn)集合的基于擴(kuò)展依賴矩陣的性能測(cè)試點(diǎn)選取方法。
[0005]本發(fā)明的技術(shù)解決方案是:一種基于擴(kuò)展依賴矩陣的系統(tǒng)測(cè)試點(diǎn)選取方法，包括如下步驟:
[0006](I)獲取所有可以放置測(cè)試的測(cè)試點(diǎn)，將測(cè)試點(diǎn)記為T1，進(jìn)而得到測(cè)試點(diǎn)的集合Tpsb，然后獲取所有故障模式，將故障模式記為F,，進(jìn)而得到故障模式的集合F，其中，i = 1，2，3吣1」=I，2，3…M，N為測(cè)試點(diǎn)的數(shù)量，M為故障模式的數(shù)量；
[0007](2)判斷測(cè)試點(diǎn)T1能否檢測(cè)故障模式F ,，如果測(cè)試點(diǎn)T1能夠檢測(cè)故障模式F ,，則擴(kuò)展依賴矩陣Dx中第i行第j列的量為1，如果如果測(cè)試點(diǎn)T i不能夠檢測(cè)故障模式F ,，則擴(kuò)展依賴矩陣Dx中第i行第j列的量為O，遍歷所有的測(cè)試點(diǎn)及故障模式，得到M行N列的擴(kuò)展依賴矩陣Dx;
[0008](3)在擴(kuò)展依賴矩陣比中，獲取與測(cè)試點(diǎn)T i對(duì)應(yīng)列完全相同的列，進(jìn)而得到完全相同的列對(duì)應(yīng)的測(cè)試點(diǎn)[Tk，…，TJ，得到模糊測(cè)試點(diǎn)對(duì)[T1, Tk,…，TJ，遍歷所有測(cè)試點(diǎn)得到所有的模糊測(cè)試點(diǎn)對(duì)；
[0009](4)在各個(gè)模糊測(cè)試點(diǎn)對(duì)中，分別取一個(gè)測(cè)試點(diǎn)代表當(dāng)前模糊測(cè)試點(diǎn)對(duì)，得到一個(gè)測(cè)試點(diǎn)集合，遍歷該測(cè)試點(diǎn)集合中測(cè)試點(diǎn)在擴(kuò)展依賴矩陣Dx中對(duì)應(yīng)的列，如果測(cè)試點(diǎn)T M在列按位分別邏輯或測(cè)試點(diǎn)1；所在列、…、測(cè)試點(diǎn)Tni所在列的結(jié)果是測(cè)試點(diǎn)T i所在列，則得到隱藏測(cè)試點(diǎn)對(duì)CT1, [Tk,…，TJ >，遍歷該測(cè)試點(diǎn)集合，得到所有的隱藏測(cè)試點(diǎn)對(duì)；
[0010](5)在隱藏測(cè)試點(diǎn)對(duì)CT1, [Tk, -,TJ>中，如果測(cè)試點(diǎn)T1能夠測(cè)試到的所有故障均能測(cè)試點(diǎn)集合[Tk，...，!?]中至少一個(gè)測(cè)試到，則得到等效測(cè)試點(diǎn)對(duì)CT1, [Tk，...，!?]>，遍歷所有的隱藏測(cè)試點(diǎn)對(duì)，得到所有的等效測(cè)試點(diǎn)對(duì)；
[0011](6)遍歷所有測(cè)試點(diǎn)，將所有的等效測(cè)試點(diǎn)對(duì)、能夠檢測(cè)到的故障模式不能被任何測(cè)試點(diǎn)隱藏且也未隱藏任何測(cè)試點(diǎn)能夠檢測(cè)到的故障模式的測(cè)試點(diǎn)、不是等效測(cè)試點(diǎn)對(duì)的部分隱藏測(cè)試點(diǎn)對(duì)加入最簡(jiǎn)的測(cè)試點(diǎn)集合，得到最簡(jiǎn)測(cè)試點(diǎn)集合；
[0012](7)對(duì)于最簡(jiǎn)測(cè)試點(diǎn)集合中的等效測(cè)試點(diǎn)對(duì)CT1, [Tk,…，TJ>，計(jì)算測(cè)試點(diǎn)T1、測(cè)試點(diǎn)集合[Tk，…，TJ的隔離貢獻(xiàn)率，如果測(cè)試點(diǎn)！\的隔離貢獻(xiàn)率大于測(cè)試點(diǎn)集合[Tk，…，TJ的隔離貢獻(xiàn)率，則將！\加入最終測(cè)試點(diǎn)集合，否則將測(cè)試點(diǎn)集合[T k,…，TJ加入最終測(cè)試點(diǎn)集合，然后將最簡(jiǎn)測(cè)試點(diǎn)集合中的每個(gè)能夠檢測(cè)到的故障模式不能被任何測(cè)試點(diǎn)隱藏且也沒(méi)有隱藏任何測(cè)試點(diǎn)的測(cè)試點(diǎn)、不是等效測(cè)試點(diǎn)對(duì)的部分隱藏測(cè)試點(diǎn)對(duì)加入最終測(cè)試點(diǎn)集合，遍歷最簡(jiǎn)測(cè)試點(diǎn)集合，形成最終測(cè)試點(diǎn)集合；所述的隔離貢獻(xiàn)率為:如果m個(gè)測(cè)試點(diǎn)在測(cè)試時(shí)能測(cè)試出某個(gè)故障模式，且另外的η個(gè)測(cè)試點(diǎn)在測(cè)試時(shí)不能測(cè)試出該故障，則m個(gè)測(cè)試點(diǎn)的故障隔離貢獻(xiàn)率為m/(m+n)，η個(gè)測(cè)試點(diǎn)的故障隔離貢獻(xiàn)率為n/(m+n);
[0013](8)將最終測(cè)試點(diǎn)集合中的測(cè)試點(diǎn)作為當(dāng)前系統(tǒng)測(cè)試時(shí)的測(cè)試點(diǎn)。
[0014]本發(fā)明與現(xiàn)有技術(shù)相比的優(yōu)點(diǎn)在于:
[0015](I)本發(fā)明方法克服了傳統(tǒng)方法針對(duì)添加好的測(cè)試點(diǎn)集合進(jìn)行故障檢測(cè)率、故障隔離率進(jìn)行計(jì)算分析，而不能指導(dǎo)如何添加有利于提高故障檢測(cè)率、故障隔離率的測(cè)試點(diǎn)的缺陷，通過(guò)根據(jù)各個(gè)測(cè)試點(diǎn)能夠檢測(cè)到的故障模式建立擴(kuò)展依賴矩陣，進(jìn)而按順序分別獲取模糊測(cè)試點(diǎn)對(duì)、隱藏測(cè)試點(diǎn)對(duì)和等效測(cè)試點(diǎn)對(duì)得到最簡(jiǎn)測(cè)試點(diǎn)集合，再結(jié)合故障隔離貢獻(xiàn)率評(píng)價(jià)測(cè)試點(diǎn)在集合中的優(yōu)先級(jí)，得到最終測(cè)試點(diǎn)集合；
[0016](2)本發(fā)明方法，克服了現(xiàn)有技術(shù)對(duì)所有測(cè)試點(diǎn)未加分類處理、統(tǒng)一低效處理的缺陷，按順序分別獲取模糊測(cè)試點(diǎn)對(duì)、隱藏測(cè)試點(diǎn)對(duì)和等效測(cè)試點(diǎn)對(duì)，通過(guò)對(duì)這些冗余測(cè)試點(diǎn)對(duì)的合并處理得到最終測(cè)試點(diǎn)集合；
[0017](3)本發(fā)明方法，克服了現(xiàn)有技術(shù)將故障檢測(cè)率、故障隔離率嚴(yán)格區(qū)別對(duì)待，沒(méi)有將兩個(gè)屬性有效關(guān)聯(lián)起來(lái)為設(shè)計(jì)測(cè)試點(diǎn)提供有效信息的缺陷，結(jié)合故障檢測(cè)率貢獻(xiàn)值、故障隔離貢獻(xiàn)率評(píng)價(jià)測(cè)試點(diǎn)在集合中的優(yōu)先級(jí)，在保證故障覆蓋率的同時(shí)，精簡(jiǎn)了最終測(cè)試點(diǎn)集合。
【附圖說(shuō)明】
[0018]圖1為本發(fā)明一種基于擴(kuò)展依賴矩陣的系統(tǒng)測(cè)試點(diǎn)選取方法原理圖；
[0019]圖2為本發(fā)明方法獲取模糊測(cè)試點(diǎn)對(duì)集流程圖；
[0020]圖3為本發(fā)明方法獲取隱藏測(cè)試點(diǎn)對(duì)集流程圖；
[0021]圖4為本發(fā)明方法最終測(cè)試點(diǎn)集合生成原理流程圖。
【具體實(shí)施方式】
[0022]本發(fā)明針對(duì)測(cè)試點(diǎn)選取不夠優(yōu)化的問(wèn)題，提供了一種正面的、高效的方式進(jìn)行測(cè)試點(diǎn)自動(dòng)推薦的一種可行方法，首先根據(jù)測(cè)試點(diǎn)能夠檢測(cè)到的故障模式，獲取擴(kuò)展依賴矩陣Dx;然后按順序分別獲取模糊測(cè)試點(diǎn)對(duì)集、隱藏測(cè)試點(diǎn)對(duì)集和等效測(cè)試點(diǎn)對(duì)集，并得到最簡(jiǎn)測(cè)試點(diǎn)集合；最后根據(jù)故障隔離貢獻(xiàn)率、最簡(jiǎn)測(cè)試點(diǎn)集合得到最高檢測(cè)率的最終測(cè)試點(diǎn)集合，完成綜合測(cè)試點(diǎn)推薦。下面結(jié)合附圖及實(shí)施例進(jìn)行詳細(xì)說(shuō)明。
[0023]如圖1所示，本發(fā)明方法的具體實(shí)現(xiàn)如下:
[0024](I)建立擴(kuò)展依賴矩陣Dx
[0025]首先，從外界獲取所有可以放置測(cè)試的測(cè)試點(diǎn)，記為T1，進(jìn)而得到測(cè)試點(diǎn)的集合Tpsb,然后從外界獲取所有故障模式，記為F,，進(jìn)而得到故障模式的集合F，其中，i = l,2, 3...N，j = 1，2，3…M，N為測(cè)試點(diǎn)的數(shù)量，M為故障模式的數(shù)量，最后通過(guò)判斷測(cè)試點(diǎn)T1能否檢測(cè)故障模式F,得到M行N列的擴(kuò)展依賴矩陣D x，如果測(cè)試點(diǎn)T1能夠檢測(cè)故障模式F ,，則擴(kuò)展依賴矩陣Dx中第i行第j列的量為1，如果如果測(cè)試點(diǎn)T i不能夠檢測(cè)故障模式F ,，則擴(kuò)展依賴矩陣Dx中第i行第j列的量為0，其中，擴(kuò)展依賴矩陣D x存儲(chǔ)故障模式F和測(cè)試T ,的依賴關(guān)系。
[0026](2)獲取冗余測(cè)試點(diǎn)對(duì)
[0027]定義測(cè)試點(diǎn)檢測(cè)率貢獻(xiàn)值為:對(duì)于至少2個(gè)測(cè)試點(diǎn)組成的集合，該集合添加！\后的檢測(cè)率與該集合貢獻(xiàn)率的差值。根據(jù)檢測(cè)率貢獻(xiàn)值的定義，本發(fā)明方法定義冗余測(cè)試點(diǎn)對(duì)定義為:
[0028]測(cè)試點(diǎn)1\和測(cè)試點(diǎn)T 3且成測(cè)試點(diǎn)對(duì)，如果測(cè)試點(diǎn)集合添加測(cè)試點(diǎn)T i與添加測(cè)試點(diǎn)Tk的測(cè)試點(diǎn)檢測(cè)率貢獻(xiàn)值相同，則T JP T k為冗余測(cè)試點(diǎn)對(duì)。根據(jù)擴(kuò)展依賴矩陣D x的列進(jìn)行測(cè)試點(diǎn)分析，冗余測(cè)試點(diǎn)對(duì)的表現(xiàn)方式包括三種:模糊測(cè)試點(diǎn)對(duì)、隱藏測(cè)試點(diǎn)對(duì)和等效測(cè)試點(diǎn)對(duì)。
[0029]獲取冗余測(cè)試點(diǎn)對(duì)的【具體實(shí)施方式】如下:
[0030](2.1)獲取模糊測(cè)試點(diǎn)對(duì)
[0031]模糊測(cè)試點(diǎn)對(duì)中的每個(gè)測(cè)試點(diǎn)能夠測(cè)試到的故障是完全一樣的，即模糊測(cè)試點(diǎn)對(duì)中任一個(gè)測(cè)試點(diǎn)能夠代表整個(gè)模糊測(cè)試點(diǎn)對(duì)。
[0032]因?yàn)槟：郎y(cè)試點(diǎn)對(duì)中每個(gè)T1能夠測(cè)到的故障模式F,是一樣的，所以對(duì)應(yīng)到擴(kuò)展依賴矩陣隊(duì)中，