觸控裝置及其掃描方法
【技術領域】
[0001]本發(fā)明涉及一種觸控裝置及其掃描方法，尤其涉及一種可濾除大范圍雜訊的觸控裝置及其掃描方法。
【背景技術】
[0002]已知電容式觸控裝置上產(chǎn)生大面積雜訊的主要原因來自兩方面:一為觸控板彎曲(Bending)和液晶模塊的掃描信號干擾。如圖9所示，是一種電容式觸控裝置的結(jié)構(gòu)示意圖，主要是在一液晶模塊70上通過一口字膠80和一觸控板90貼合，即一般所稱的口字膠貼合。此種貼合具有制造方法難度與成本均低的優(yōu)點，缺點是液晶模塊70和觸控板90之間形成氣隙，容易產(chǎn)生疊影，且使用者執(zhí)行觸控操作時若力道稍大，即可能造成觸控板90彎曲，并產(chǎn)生大面積雜訊。
[0003]相對口字膠貼合的另一種貼合方法為全貼合(Full Laminat1n),主要是將觸控板無間隙地貼合在液晶模塊上，由于無間隙地全面貼合，可以產(chǎn)生高輝度和高畫質(zhì)的寫實視覺效果。缺點則是其貼合時必須確保勻稱、無氣泡，故制造方法難度與成本相對較高，且因全貼合關系，觸控板更接近液晶模塊，更容易受液晶模塊的掃描信號干擾。
[0004]由上述可知，無論是口字膠貼合或全貼合的觸控裝置都存在大面積雜訊的干擾源，而針對不同原因造成的大面積雜訊，已知的濾除方式如下列出:
[0005]關于彎曲造成的大面積雜訊主要是利用高通濾波器(High-Pass filter)濾除,請參閱圖10所示,為觸控板的一感應圖框，其上標示各個感應點的感應變化量，在感應圖框左上位置存在一手掌接觸造成的感應點群G1，由于手掌施壓緣故，在手掌感應點群Gl右側(cè)出現(xiàn)了大面積的雜訊感應點群G2;當采用所稱高通濾波器濾除雜訊時，是以一感應點與其周邊感應點的斜率(感應變化量變化)達一設定值時即讀取，借此濾除感應變化量小的感應點群，此作法固然可以濾除大面積的雜訊感應點群G2，卻存在下列缺點:
[0006]1、小手指、觸控筆都可能被濾掉:由于是以感應變化量大小作為是否濾除的依據(jù)，因感應變化量小的小手指、觸控筆都可能被濾除而影響操作。
[0007]2、手指的感應變化量會被抬起，導致坐標偏移:這是因為手指的感應變化量是實際的感應變化量加上雜訊造成的感應變化量，因此感應變化量會被抬起，進而會造成坐標偏移。
[0008]3、手掌防誤觸(palm reject1n)功能將受影響:請參閱圖11所示，由于采取高通濾除方式，原來會被辨識為手掌的感應點群，經(jīng)過高通濾除之后，將會破碎成多個獨立的小感應點群gl?g4，而將被辨識為手指，致使手掌防誤觸功能失效。
[0009]關于液晶模塊掃描信號造成的雜訊是采取減去定值的方式濾除，然而大尺寸液晶模塊對觸控板造成的雜訊并非定值，若減去定值，同樣會發(fā)生前述手掌防誤觸功能失效的情況。
[0010]由上述可知，對于彎曲或液晶模塊掃描信號造成的大面積雜訊，現(xiàn)有濾除技術都有造成誤判坐標的可能，有待進一步檢討并謀求可行的解決方案。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0011]本發(fā)明主要目的在于提供一種觸控裝置及其掃描方法，其可有效濾波觸控板的大面積雜訊，且可盡量維持原物件的感應變化量，有效避免誤判坐標的情況。
[0012]為達成前述目的采取的主要技術手段是令前述觸控裝置的掃描方法中，該觸控裝置具有m個感應點，其中m是大于I的整數(shù)，該方法包括:
[0013]取得所述各感應點的初始感應變化量；
[0014]決定所述各感應點的一第一參考感應變化量以及一第二參考感應變化量，其包含:
[0015]一決定第一參考感應變化量步驟，包含以其中一個感應點作為一參考點以界定一預設區(qū)段，其中該預設區(qū)段的寬度為包含該參考點的η個感應點，且η是小于m的整數(shù)，并以該預設區(qū)段內(nèi)所述各感應點的初始感應變化量中的一最小初始感應變化量作為該參考點的第一參考感應變化量，并重復該決定第一參考感應變化量步驟直到所有感應點都有一個對應的該第一參考感應變化量；以及一決定第二參考感應變化量步驟，包含以其中一個預設區(qū)段內(nèi)所有感應點的第一參考感應變化量中的一最大第一參考感應變化量，作為該預設區(qū)段內(nèi)作為參考點的感應點的第二參考感應變化量，并重復決定該第二參考感應變化量步驟直到所有感應點都有一個對應的第二參考感應變化量；以及根據(jù)所述各感應點的初始感應變化量和所述各第二參考感應變化量進行運算，以獲得對應所述各感應點的一第三參考感應變化量，用以供后續(xù)進行坐標運算。
[0016]優(yōu)選地,所述各參考點是由m個感應點中的每一個感應點所構(gòu)成。
[0017]優(yōu)選地,相鄰的參考點與參考點之間相隔一個以上的感應點。
[0018]優(yōu)選地,所述m個感應點位于同一感應線上。
[0019]優(yōu)選地，所述觸控裝置具有多個感應線，每一感應線上具有m個感應點。
[0020]優(yōu)選地，經(jīng)取得所述各感應線上各參考點的第三參考感應變化量，以判斷一物件的坐標位置。
[0021 ] 優(yōu)選地,所述初始感應變化量為一電容感應變化量。
[0022]為達成前述目的采取的又一主要技術手段是令前述觸控裝置包括:
[0023]一觸控板,具有m個感應點,其中m是大于I的整數(shù)；
[0024]一控制模塊，分別和該觸控板上的感應點電連接，并執(zhí)行以下步驟:
[0025]取得所述各感應點的初始感應變化量；
[0026]依據(jù)一收斂條件決定所述各感應點的一第一參考感應變化量；
[0027]依據(jù)一發(fā)散條件及該第一參考感應變化量來決定所述各感應點的一第二參考感應變化量；
[0028]根據(jù)所述各感應點的初始感應變化量和所述各第二參考感應變化量進行運算，以獲得對應所述各感應點的一第三參考感應變化量，用以供后續(xù)進行坐標運算。
[0029]優(yōu)選地，所述發(fā)散條件為以其中一個感應點作為一參考點以界定一預設區(qū)段，該預設區(qū)段包含該參考點的多個感應點；以該預設區(qū)段內(nèi)所述各感應點中最小的初始感應變化量作為該參考點的第一參考感應變化量；重復該決定第一參考感應變化量步驟直到所有預設區(qū)段內(nèi)的參考點都有一個對應的該第一參考感應變化量。
[0030]優(yōu)選地，所述發(fā)散條件為以其中一個預設區(qū)段內(nèi)各感應點中的最大第一參考感應變化量作為該預設區(qū)段內(nèi)作為參考點的感應點的第二參考感應變化量，并重復上述決定該第二參考感應變化量的步驟直到所有感應點都有一個對應的第二參考感應變化量。
[0031]優(yōu)選地,所述m個感應點位于同一感應線上。
[0032]優(yōu)選地,所述觸控板具有多個感應線,每一感應線上具有m個感應點。
[0033]優(yōu)選地，經(jīng)取得所述各感應線上各參考點的第三參考感應變化量，以判斷一物件的坐標位置。
[0034]優(yōu)選地,相鄰的參考點與參考點之間相隔一個以上的感應點。
[0035]優(yōu)選地,所述初始感應變化量為一電容感應變化量。
[0036]本發(fā)明的有益效果在于:前述觸控裝置及掃描方法通過設定預設區(qū)段方式找出各感應點的第一、第二參考感應變化量，再以感應點的初始感應變化量與第二參考感應變化量相比較，以判斷觸控物件的原始的感應資訊，從而濾除了大面積的雜訊，并解決了現(xiàn)有濾除大面積雜訊技術可能造成坐標誤判的問題。
【附圖說明】
[0037]圖1為本發(fā)明一較佳實施例的觸控裝置結(jié)構(gòu)示意圖。
[0038]圖2為本發(fā)明一較佳實施例的方法流程圖。
[0039]圖3為一感應線上各感應點的感應變化量曲線圖。
[0040]圖4A至4B為本發(fā)明標示有預設區(qū)段的感應變化量曲線圖。
[0041]圖5A至為本發(fā)明一較佳實施例中由各預設區(qū)段找出各參考點第一參考感應變化量的示意圖。
[0042]圖6A至6E為本發(fā)明一較佳實施例中由各參考點第一參考感應變化量找出第二參考感應變化量的示意圖。
[0043]圖7A至7D為本發(fā)明又一較佳實施例中由各預設區(qū)段找出各參考點第一參考感應變化量的示意圖。
[0044]圖8A至8D為本發(fā)明又一較佳實施例中由各參考點第一參考感應變化量找出第二參考感應變化量的示意圖。
[0045]圖9為已知口字膠貼合的觸控裝置示意圖。
[0046]圖10為已知觸控裝置的感應圖框示意圖。
[0047]圖11為已知觸控裝置以減去定值方式濾除雜訊后的感應圖框示意圖。
[0048]主要部件符號說明:
[0049]10觸控裝置
[0050]11觸控板
[0051]111第一軸感應線
[0052]112第二軸感應線
[0053]SI?Sn感應線
[0054]A、A’、A” 預設區(qū)段
[0055]A1、A2、A3、A5 預設區(qū)段
[0056]R、R’、R” 參考點
[0057]R1、R2、R3、R5 參考點。