一種測試usb設備識別可靠性的裝置及方法
【技術領域】
[0001]本發(fā)明涉及USB設備識別技術領域，具體而言，涉及一種能夠模擬USB設備插拔狀態(tài)的USB設備識別可靠性測試裝置及其測試方法。
【背景技術】
[0002]目前USB技術已經非常普及，應用到了各種電子產品中，因此USB設備能夠穩(wěn)定識別非常重要。通常一款應用USB技術的電子產品在投入生產前需要進行大量的實驗，測試其是否可以被穩(wěn)定可靠的識別。然而現有技術中只能通過研發(fā)人員手動進行反復的插拔實驗，費時費力，且無法復現不能識別時的測試條件，測試次數有限，局限性很大。

【發(fā)明內容】

[0003]本發(fā)明的目的在于提供一種測試USB設備識別可靠性的裝置及方法，用以自動模擬USB設備的插拔狀態(tài)，從而實現快速、準確地測試USB設備的識別可靠性。
[0004]為達到上述目的，本發(fā)明在一具體實施例中提供了一種測試USB設備識別可靠性的裝置，用于連接在USB設備和計算機之間，所述裝置包括:
[0005]第一接口，包括第一電源線端、第一正極數據線端、第一負極數據線端和第一地線端，用于和USB設備相連；其中所述第一地線端直接接地；
[0006]第二接口，包括第二電源線端、第二正極數據線端、第二負極數據線端和第二地線端，用于和計算機相連；其中所述第二地線端直接接地；
[0007]電源開關，與第一電源線端和第二電源線端相連，用于導通或斷開該第一電源線端和第二電源線端；
[0008]USB開關，與第一正極數據線端、第一負極數據線端、第二正極數據線端和第二負極數據線端相連，用于導通或者斷開所述第一正極數據線端、第一負極數據線端、第二正極數據線端和第二負極數據線端；
[0009]主控芯片，與所述電源開關和所述USB開關相連，通過對所述電源開關和所述USB開關的關斷狀態(tài)以及關閉時刻的控制，實現對所述第一電源線端、第一正極數據線端、和第一負極數據線端的導通時間的控制，從而模擬真實USB設備的插拔過程，并記錄對于計算機USB設備的識別結果；
[0010]串口，與所述主控芯片和所述計算機相連，用于所述主控芯片和所述計算機之間的數據傳輸；
[0011]存儲芯片，與所述主控芯片相連，用于存儲識別結果的數據。
[0012]其中，所述電源開關為一繼電器，連接在所述第一電源線端和第二電源線端之間。
[0013]其中，所述USB開關包括兩個繼電器，分別連接在所述第一負極數據線端和所述第二負極數據線端之間、以及所述第一正極數據線端和所述第二正極數據線端之間。
[0014]其中，所述存儲芯片為FLASH芯片。
[0015]本發(fā)明的另一實施例中提供的測試USB設備識別可靠性的裝置包括:
[0016]第一接口，包括第一電源線端、第一正極數據線端、第一負極數據線端和第一地線端，用于和USB設備相連；
[0017]第二接口，包括第二電源線端、第二正極數據線端、第二負極數據線端和第二地線端，用于和計算機相連；
[0018]電源開關，與第一電源線端和第二電源線端相連，用于導通或斷開該第一電源線端和第二電源線端；
[0019]USB開關，與第一正極數據線端、第一負極數據線端、第二正極數據線端和第二負極數據線端相連，用于導通或者斷開所述第一正極數據線端、第一負極數據線端、第二正極數據線端和第二負極數據線端；
[0020]地線開關，與所述第一地線端和所述第二地線端連接，用于導通或者斷開所述第一地線端和所述第二地線端與大地的連接；
[0021]主控芯片，與所述電源開關和所述USB開關相連，通過對所述電源開關、所述USB開關以及所述地線開關的關斷狀態(tài)以及關閉時刻的控制，實現對所述第一電源線端、第一正極數據線端、第一負極數據線端以及第一地線端的導通時間的控制，從而模擬真實USB設備的插拔過程，并記錄對于計算機USB設備的識別結果；
[0022]串口，與所述主控芯片和所述計算機相連，用于所述主控芯片和所述計算機之間的數據傳輸；
[0023]存儲芯片，與所述主控芯片相連，用于存儲識別結果的數據。
[0024]其中，所述電源開關為一繼電器，連接在所述第一電源線端和第二電源線端之間。
[0025]其中，所述USB開關包括兩個繼電器，分別連接在所述第一負極數據線端和所述第二負極數據線端之間、以及所述第一正極數據線端和所述第二正極數據線端之間。
[0026]其中，所述地線開關為一繼電器，連接在所述第一地線端和第二地線端之間。
[0027]其中，所述存儲芯片為FLASH芯片。
[0028]另外，本發(fā)明還提供了一種測試USB設備識別可靠性的方法，該方法的其中一實施例包括以下步驟:
[0029]將USB設備接口中的地線直接接地；
[0030]控制USB設備接口中的電源線、正極數據線和負極數據線的導通時間，從而模擬USB設備的插拔狀態(tài)；
[0031]自USB設備處于完全插入狀態(tài)起，記錄計算機識別出該USB設備所用的識別時間；
[0032]判斷該識別時間是否大于一比較時間，若是，記為識別不成功；若否，記為識別成功；
[0033]將識別結果保存至存儲設備中；
[0034]重復上述步驟直至達到預設次數。
[0035]其中，控制USB設備接口中的電源線、正極數據線和負極數據線的導通時間的方法為:隨機生成三個數值作為導通延遲時間，將這三個數值設置在三個定時器中，來分別控制電源線、正極數據線和負極數據線的導通時刻。
[0036]其中，所述隨機生成的三個數值處于同一數量級范圍內。
[0037]本發(fā)明還提供了另外一種測試USB設備識別可靠性的方法的實施例，該實施例中的方法包括以下步驟:
[0038]控制USB設備接口中的電源線、正極數據線、負極數據線以及地線的導通時間，從而模擬USB設備的插拔狀態(tài)；
[0039]自USB設備處于完全插入狀態(tài)起，記錄計算機識別出該USB設備所用的識別時間；
[0040]判斷該識別時間是否大于一比較時間，若是，記為識別不成功；若否，記為識別成功；
[0041]將識別結果保存至存儲設備中；
[0042]重復上述步驟直至達到預設次數。
[0043]其中，控制USB設備接口中的電源線、正極數據線、負極數據線以及地線的導通時間的方法為:隨機生成四個數值作為導通延遲時間，將這四個數值設置在四個定時器中，來分別控制電源線、正極數據線、負極數據線以及地線的導通時刻。
[0044]其中，所述隨機生成的四個數值處于同一數量級范圍內。
[0045]與現有技術相比，本發(fā)明的有益效果在于:
[0046]本發(fā)明的測試裝置及其方法可以不斷地模擬USB插拔實驗，其單次測試周期短，隨機性強，節(jié)省研發(fā)人員寶貴的時間，且如果出現無法識別的現象，可以復現無法識別時的測試條件。通過對USB設備進行大量的測試實驗，可以驗證USB設備是否可以穩(wěn)定可靠的識別，如果不能穩(wěn)定可靠的識別，則可以通過分析硬盤中的測試數據與該USB設備的裝置分析問題的所在，從而節(jié)省了大量的人力成本及時間成本。
【附圖說明】
[0047]圖1為本發(fā)明測試USB設備識別可靠性的裝置一實施例的結構示意圖；
[0048]圖2為本發(fā)明測試USB設備識別可靠性的裝置另一實施例的結構示意圖；
[0049]圖3為本發(fā)明測試USB設備識別可靠性的方法一實施例的流程圖；
[0050]圖4為本發(fā)明測試USB設備識別可靠性的方法另一實施例的流程圖；
[0051]附圖標記說明:10_第一接口 ；20_第二接口 ；30_電源開關；40-USB開關；50-地線開關;60-串口 ；70-主控芯片；80-Flash芯片；O1-USB設備;02_計算機。
【具體實施方式】
[0052]下面將結合本發(fā)明實施例中的附圖，對本發(fā)明實施例中的技術方案進行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實施例僅僅是本發(fā)明一部分實施例，而不是全部的實施例。基