專利名稱:庫測(cè)試電路以及庫測(cè)試方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明一般涉及庫測(cè)試電路以及庫測(cè)試方法，并且更具體地涉及用于驗(yàn)證多個(gè)標(biāo)準(zhǔn)單元庫的邏輯單元的功能的庫測(cè)試電路以及庫測(cè)試方法。
背景技術(shù)：
在使用亞微米技術(shù)用于制造集成電路的專用集成電路(ASIC)技術(shù)領(lǐng)域：
中，邏輯電路設(shè)計(jì)者使用大量邏輯單元，所述邏輯單元在微芯片設(shè)計(jì)中起重要作用。當(dāng)使用邏輯單元時(shí)，電路設(shè)計(jì)者從邏輯單元的指定列表(即標(biāo)準(zhǔn)單元庫)中選擇在目標(biāo)電路要使用的合適的邏輯單元。在這種標(biāo)準(zhǔn)單元庫中列出的所有邏輯單元必須工作在指定的方式，并且電路設(shè)計(jì)者假定所有邏輯單元將以預(yù)想的方式精確地工作。
因而，標(biāo)準(zhǔn)單元庫的提供者必須驗(yàn)證每個(gè)邏輯單元的功能。連續(xù)不斷地嘗試去驗(yàn)證這種功能。
然而，非常需要適用于各種設(shè)計(jì)規(guī)則以及各種標(biāo)準(zhǔn)單元庫的統(tǒng)一測(cè)試方法。

發(fā)明內(nèi)容根據(jù)本發(fā)明，提供一種庫測(cè)試電路以及庫測(cè)試方法，本發(fā)明在不考慮集成度的情況下，普遍地適用于各種設(shè)計(jì)規(guī)則以及具有各種數(shù)目邏輯單元的標(biāo)準(zhǔn)單元庫。
根據(jù)優(yōu)選實(shí)施例，提供一種庫測(cè)試電路，其用于驗(yàn)證多個(gè)標(biāo)準(zhǔn)單元庫的邏輯單元的功能，該庫測(cè)試電路包括核心模塊，其包括多個(gè)標(biāo)準(zhǔn)單元庫的邏輯單元，每個(gè)邏輯單元具有預(yù)定數(shù)目個(gè)輸入矢量合成，該核心模塊輸出對(duì)標(biāo)準(zhǔn)單元庫的測(cè)試結(jié)果信號(hào)；第一開關(guān)組，用于將第一輸入信號(hào)輸出到該核心模塊，從而選擇對(duì)應(yīng)于各個(gè)邏輯單元的單元標(biāo)識(shí)符；以及第二開關(guān)組，用于將第二輸入信號(hào)輸出到該核心模塊，從而選擇與每個(gè)邏輯單元的輸入矢量合成對(duì)應(yīng)的圖形標(biāo)識(shí)符。
根據(jù)另一優(yōu)選實(shí)施例，本發(fā)明提供一種庫測(cè)試電路，其用于驗(yàn)證多個(gè)標(biāo)準(zhǔn)單元庫的邏輯單元的功能，該庫測(cè)試電路包括核心模塊，其包括多個(gè)標(biāo)準(zhǔn)單元庫的邏輯單元，每個(gè)邏輯單元具有預(yù)定數(shù)目個(gè)輸入矢量合成，其中該核心模塊輸出對(duì)應(yīng)于各個(gè)邏輯單元的單元標(biāo)識(shí)符，以及與每個(gè)邏輯單元的各個(gè)輸入矢量合成對(duì)應(yīng)的圖形標(biāo)識(shí)符；其中在自動(dòng)模式下，自動(dòng)順序地選擇所有單元標(biāo)識(shí)符，并且向各個(gè)邏輯單元輸出與所選擇的單元標(biāo)識(shí)符對(duì)應(yīng)的所有圖形標(biāo)識(shí)符；以及其中該核心模塊為每個(gè)單元標(biāo)識(shí)符和每個(gè)圖形標(biāo)識(shí)符輸出對(duì)標(biāo)準(zhǔn)單元庫的測(cè)試結(jié)果信號(hào)。
根據(jù)又一優(yōu)選實(shí)施例，本發(fā)明提供一種庫測(cè)試方法，該方法包括通過將單元標(biāo)識(shí)符和圖形標(biāo)識(shí)符輸出到包括所述邏輯單元的核心模塊來進(jìn)行自動(dòng)模式測(cè)試，其中所述單元標(biāo)識(shí)符對(duì)應(yīng)于各個(gè)邏輯單元，并且所述圖形標(biāo)識(shí)符對(duì)應(yīng)于各邏輯單元的各個(gè)輸入矢量合成；通過控制第一開關(guān)組，以在所述邏輯單元中選擇對(duì)應(yīng)于一個(gè)或多個(gè)邏輯單元的單元標(biāo)識(shí)符，并且將所選擇的單元標(biāo)識(shí)符輸出到該核心模塊，由此來進(jìn)行半自動(dòng)模式測(cè)試；通過控制第二開關(guān)組，以在每個(gè)邏輯單元的輸入矢量合成中選擇對(duì)應(yīng)于一個(gè)或多個(gè)輸入矢量合成的圖形標(biāo)識(shí)符，并且將所選擇的圖形標(biāo)識(shí)符輸出到該核心模塊，由此來進(jìn)行手動(dòng)模式測(cè)試；以及從該核心模塊接收對(duì)標(biāo)準(zhǔn)單元庫的測(cè)試結(jié)果信號(hào)。
根據(jù)結(jié)合附圖所提供的以下優(yōu)選實(shí)施例的描述，本發(fā)明的上述和其它特征將顯而易見，其中圖1示出根據(jù)本發(fā)明的庫測(cè)試電路的電路框圖。
具體實(shí)施方式下文將參照附圖詳細(xì)描述根據(jù)本發(fā)明優(yōu)選實(shí)施例的庫測(cè)試電路以及庫測(cè)試方法，以使本領(lǐng)域的技術(shù)人員可以很容易地實(shí)現(xiàn)本發(fā)明。
根據(jù)本發(fā)明，其提供一種用于驗(yàn)證標(biāo)準(zhǔn)單元庫的邏輯單元功能的庫測(cè)試電路及測(cè)試方法。當(dāng)備好模塊時(shí)，通過將該模塊放置在已實(shí)現(xiàn)庫測(cè)試電路的印刷電路板(PCB)上可以很容易地進(jìn)行邏輯單元的驗(yàn)證。
根據(jù)本發(fā)明，將稱為單元標(biāo)識(shí)符(單元ID)的唯一編碼分配給標(biāo)準(zhǔn)單元庫的每個(gè)邏輯單元，并且記錄每個(gè)邏輯單元的輸入/輸出線的數(shù)目，從而確定具有最多數(shù)目輸入線的邏輯單元以及具有最多數(shù)目輸出線的邏輯單元。因而根據(jù)最多數(shù)目輸入線In將輸入矢量合成的個(gè)數(shù)設(shè)置為2xIn。由于這種輸入矢量合成也是固有的，所以它用作圖形標(biāo)識(shí)符。
圖1示出根據(jù)本發(fā)明的庫測(cè)試電路的電路框圖。
如圖1所示，使用開關(guān)組110和112分別選擇特定的單元標(biāo)識(shí)符和特定的圖形標(biāo)識(shí)符，從而對(duì)具有相應(yīng)輸入矢量合成的邏輯單元進(jìn)行測(cè)試。每個(gè)開關(guān)組110和112具有多個(gè)開關(guān)，每個(gè)輸出信號(hào)“1”或“0”，從而選擇單元標(biāo)識(shí)符或圖形標(biāo)識(shí)符。例如，開關(guān)組110通過產(chǎn)生7位的單元標(biāo)識(shí)符可以識(shí)別庫的128個(gè)邏輯單元。
在圖1的測(cè)試電路中，核心模塊100包括作為功能驗(yàn)證對(duì)象的標(biāo)準(zhǔn)單元庫的邏輯單元。核心模塊向顯示裝置114和116輸出對(duì)各個(gè)邏輯單元的測(cè)試結(jié)果信號(hào)，從而在單元標(biāo)識(shí)符顯示裝置114和圖形標(biāo)識(shí)符顯示裝置116上顯示測(cè)試結(jié)果。例如，可以將美國德州的TAOS公司制造的十六進(jìn)制顯示裝置用作顯示裝置114和116。
根據(jù)本發(fā)明的驗(yàn)證算法包括三個(gè)運(yùn)行模式，即自動(dòng)模式、半自動(dòng)模式以及手動(dòng)模式，從而提供更精確的驗(yàn)證結(jié)果，并且縮短驗(yàn)證所需的時(shí)間。對(duì)于圖1的核心模塊，可以使用兩個(gè)開關(guān)(未示出)的組合選擇所述三種運(yùn)行模式，所述兩個(gè)開關(guān)分別提供輸出A0和A1。在所述三種運(yùn)行模式中，自動(dòng)模式使用最廣泛。
當(dāng)選擇自動(dòng)模式時(shí)，向核心模塊100輸入用于各個(gè)邏輯單元的所有輸入矢量合成的圖形標(biāo)識(shí)符以及用于所有邏輯單元的單元標(biāo)識(shí)符。即，在自動(dòng)模式，由于順序自動(dòng)選擇所有單元標(biāo)識(shí)符以及所有圖形標(biāo)識(shí)符，因此不再使用開關(guān)組110和112。
通過選擇對(duì)應(yīng)于特定邏輯單元的單元標(biāo)識(shí)符開始自動(dòng)模式中的算法。當(dāng)選定特定單元標(biāo)識(shí)符時(shí)，就順序自動(dòng)選擇對(duì)應(yīng)于該單元標(biāo)識(shí)符的所有可能的圖形標(biāo)識(shí)符，然后將它們輸入到核心模塊100。如果已將所選擇的單元標(biāo)識(shí)符的所有圖形標(biāo)識(shí)符輸入到核心模塊100，則自動(dòng)選擇隨后的單元標(biāo)識(shí)符被，并且重復(fù)相同的算法。
在這個(gè)過程期間，如果檢測(cè)到在特定單元中有錯(cuò)誤，則激活從核心模塊100輸出的測(cè)試結(jié)果信號(hào)的特定位，以指示該錯(cuò)誤，并且激活發(fā)光二極管(LED)118，以顯示錯(cuò)誤狀態(tài)信號(hào)。因此，該被檢測(cè)到錯(cuò)誤的單元的標(biāo)識(shí)編碼顯示在顯示裝置114和116上。
自動(dòng)模式的優(yōu)點(diǎn)包括1)可以一次驗(yàn)證所有單元的所有輸入矢量合成；2)可以分別指示具有功能錯(cuò)誤的單元；以及3)可以檢測(cè)具有功能錯(cuò)誤的單元的總數(shù)。
同時(shí)，如果完成自動(dòng)模式的測(cè)試，則優(yōu)選地執(zhí)行半自動(dòng)模式的驗(yàn)證，以重新驗(yàn)證檢測(cè)到錯(cuò)誤的特定單元。
在半自動(dòng)模式的算法中，用戶通過控制開關(guān)組110選擇對(duì)應(yīng)于特定邏輯單元的單元標(biāo)識(shí)符。當(dāng)用戶選定特定的單元標(biāo)識(shí)符時(shí)，順序自動(dòng)選擇對(duì)應(yīng)于該單元標(biāo)識(shí)符的圖形標(biāo)識(shí)符，從而選擇對(duì)應(yīng)于該單元標(biāo)識(shí)符的特定邏輯單元的所有輸入矢量合成。然后該圖形標(biāo)識(shí)符被輸入到核心模塊100并且被核心模塊100驗(yàn)證。在該過程期間，如果在特定輸入矢量合成中檢測(cè)到錯(cuò)誤，則激活從核心模塊100輸出的該測(cè)試結(jié)果信號(hào)的特定位，以指示錯(cuò)誤，并且激活發(fā)光二極管(LED)118，以顯示錯(cuò)誤狀態(tài)信號(hào)。因此，檢測(cè)到錯(cuò)誤的該輸入矢量合成的標(biāo)識(shí)編碼顯示在顯示裝置116上。
半自動(dòng)模式的優(yōu)點(diǎn)包括1)可以驗(yàn)證所選擇的邏輯單元的所有輸入矢量合成；以及2)在所選擇的邏輯單元的輸入矢量合成中，可以分別指示檢測(cè)到錯(cuò)誤的輸入矢量合成。
同時(shí)，如果完成半自動(dòng)模式的測(cè)試，則優(yōu)選執(zhí)行手動(dòng)模式的驗(yàn)證，以重新驗(yàn)證檢測(cè)到錯(cuò)誤的特定邏輯單元的特定輸入矢量合成。
在手動(dòng)模式中，如果用戶通過控制各個(gè)開關(guān)組110和112分別選擇對(duì)應(yīng)于特定邏輯單元的單元標(biāo)識(shí)符和對(duì)應(yīng)于所選擇的邏輯單元的特定輸入矢量合成的圖形標(biāo)識(shí)符，并且將所選擇的單元標(biāo)識(shí)符和圖形標(biāo)識(shí)符發(fā)送到核心模塊100，則核心模塊100向顯示裝置114和116輸出該邏輯單元的對(duì)應(yīng)輸入矢量合成的測(cè)試結(jié)果信號(hào)。
同時(shí)，核心模塊可以輸出核心狀態(tài)信號(hào)，該核心狀態(tài)信號(hào)指示該庫測(cè)試電路正工作于何種工作狀態(tài)，即自動(dòng)、半自動(dòng)或手動(dòng)模式。該庫測(cè)試電路還可以安裝LED，以顯示這種核心狀態(tài)信號(hào)。
如上所述，根據(jù)本發(fā)明的庫測(cè)試電路以及庫測(cè)試方法包括以下優(yōu)點(diǎn)。
第一，該測(cè)試電路普遍適用于各種設(shè)計(jì)規(guī)則以及包括各種數(shù)目個(gè)邏輯單元的標(biāo)準(zhǔn)單元庫，而與集成度無關(guān)。
第二，該驗(yàn)證算法包括三種工作模式，即自動(dòng)模式、半自動(dòng)模式以及手動(dòng)模式，從而提供更精確的驗(yàn)證結(jié)果并且縮短驗(yàn)證所需的時(shí)間。
雖然本發(fā)明已示出并描述優(yōu)選實(shí)施例，但是本領(lǐng)域的技術(shù)人員應(yīng)該理解在不脫離以下權(quán)利要求
書限定的本發(fā)明的精神和范圍的情況下可以做出各種變化和修改。如果所述變化和修改落入權(quán)利要求
書或其等同物的范圍內(nèi)，則它們應(yīng)被解釋為落入本發(fā)明的范圍內(nèi)。
權(quán)利要求
1.一種庫測(cè)試電路，其用于驗(yàn)證多個(gè)標(biāo)準(zhǔn)單元庫的邏輯單元的功能，該庫測(cè)試電路包括核心模塊，其包括多個(gè)標(biāo)準(zhǔn)單元庫的邏輯單元，每個(gè)邏輯單元具有預(yù)定數(shù)目個(gè)輸入矢量合成，該核心模塊輸出對(duì)標(biāo)準(zhǔn)單元庫的測(cè)試結(jié)果；第一開關(guān)組，用于將第一輸入信號(hào)輸出到該核心模塊，從而選擇對(duì)應(yīng)于各個(gè)邏輯單元的單元標(biāo)識(shí)符；以及第二開關(guān)組，用于將第二輸入信號(hào)輸出到該核心模塊，從而選擇與每個(gè)邏輯單元的輸入矢量合成對(duì)應(yīng)的圖形標(biāo)識(shí)符。
2.如權(quán)利要求
1所述的庫測(cè)試電路，其中以半自動(dòng)模式控制該第一開關(guān)組，并且以手動(dòng)模式控制該第二開關(guān)組。
3.如權(quán)利要求
1所述的庫測(cè)試電路，還包括第一顯示裝置，用于顯示該核心模塊的第一測(cè)試的測(cè)試結(jié)果信號(hào)；以及第二顯示裝置，用于顯示該核心模塊的第二測(cè)試的測(cè)試結(jié)果信號(hào)。
4.如權(quán)利要求
3所述的庫測(cè)試電路，其中在各個(gè)邏輯單元上進(jìn)行該核心模塊的第一測(cè)試，并且在每個(gè)邏輯單元的各個(gè)輸入矢量合成上進(jìn)行該核心模塊的第二測(cè)試。
5.一種庫測(cè)試電路，其用于驗(yàn)證多個(gè)標(biāo)準(zhǔn)單元庫的邏輯單元的功能，該庫測(cè)試電路包括核心模塊，其包括多個(gè)標(biāo)準(zhǔn)單元庫的邏輯單元，每個(gè)邏輯單元具有預(yù)定數(shù)目的輸入矢量合成；其中該核心模塊輸出對(duì)應(yīng)于各個(gè)邏輯單元的單元標(biāo)識(shí)符，以及與每個(gè)邏輯單元的各個(gè)輸入矢量合成對(duì)應(yīng)的圖形標(biāo)識(shí)符；其中在自動(dòng)模式下，自動(dòng)順序地選擇所有所述單元標(biāo)識(shí)符，并且向各個(gè)邏輯單元輸出與所選擇的單元標(biāo)識(shí)符對(duì)應(yīng)的所有所述圖形標(biāo)識(shí)符；以及其中該核心模塊為每個(gè)單元標(biāo)識(shí)符和每個(gè)圖形標(biāo)識(shí)符輸出對(duì)標(biāo)準(zhǔn)單元庫的測(cè)試結(jié)果信號(hào)。
6.如權(quán)利要求
5所述的庫測(cè)試電路，其中該核心模塊輸出用于指示與邏輯單元或輸入矢量合成對(duì)應(yīng)的測(cè)試失敗結(jié)果的錯(cuò)誤狀態(tài)信號(hào)。
7.如權(quán)利要求
6所述的庫測(cè)試電路，還包括用于顯示該錯(cuò)誤狀態(tài)信號(hào)的發(fā)光二極管。
8.如權(quán)利要求
5所述的庫測(cè)試電路，其中該核心模塊輸出用于指示其工作狀態(tài)的核心狀態(tài)信號(hào)，
9.如權(quán)利要求
8所述的庫測(cè)試電路，還包括用于顯示該核心狀態(tài)信號(hào)的發(fā)光二極管。
10.一種庫測(cè)試方法，其用于驗(yàn)證多個(gè)標(biāo)準(zhǔn)單元庫的邏輯單元的功能，每個(gè)邏輯單元具有預(yù)定數(shù)目個(gè)輸入矢量合成，該庫測(cè)試方法包括通過將單元標(biāo)識(shí)符和圖形標(biāo)識(shí)符輸出到包括所述邏輯單元的核心模塊來進(jìn)行自動(dòng)模式測(cè)試，其中所述單元標(biāo)識(shí)符對(duì)應(yīng)于各個(gè)邏輯單元，并且所述圖形標(biāo)識(shí)符對(duì)應(yīng)于各邏輯單元的各個(gè)輸入矢量合成；通過控制第一開關(guān)組，以在所述邏輯單元中選擇對(duì)應(yīng)于一個(gè)或多個(gè)邏輯單元的單元標(biāo)識(shí)符，并且將所選擇的單元標(biāo)識(shí)符輸出到該核心模塊，由此來進(jìn)行半自動(dòng)模式測(cè)試；通過控制第二開關(guān)組，以在每個(gè)邏輯單元的輸入矢量合成中選擇對(duì)應(yīng)于一個(gè)或多個(gè)輸入矢量合成的圖形標(biāo)識(shí)符，并且將所選擇的圖形標(biāo)識(shí)符輸出到該核心模塊，由此來進(jìn)行手動(dòng)模式測(cè)試；以及從該核心模塊接收對(duì)標(biāo)準(zhǔn)單元庫的測(cè)試結(jié)果信號(hào)。
11.如權(quán)利要求
10所述的庫測(cè)試方法，其中在進(jìn)行該半自動(dòng)模式和該手動(dòng)模式的測(cè)試之前進(jìn)行該自動(dòng)模式的測(cè)試。
12.如權(quán)利要求
10所述的庫測(cè)試方法，其中在該自動(dòng)模式的測(cè)試之后并且在該手動(dòng)模式的測(cè)試之前進(jìn)行該半自動(dòng)模式的測(cè)試。
13.如權(quán)利要求
10所述的庫測(cè)試方法，其中對(duì)從該核心模塊接收到指示失敗的測(cè)試結(jié)果信號(hào)的邏輯單元進(jìn)行該半自動(dòng)模式的測(cè)試。
14.如權(quán)利要求
10所述的庫測(cè)試方法，其中對(duì)從該核心模塊接收到指示失敗的測(cè)試結(jié)果信號(hào)的邏輯單元和輸入矢量合成進(jìn)行該手動(dòng)模式的測(cè)試。
專利摘要
本發(fā)明公開一種庫測(cè)試電路以及庫測(cè)試方法，該庫測(cè)試電路用于驗(yàn)證多個(gè)標(biāo)準(zhǔn)單元庫的邏輯單元的功能，其包括多個(gè)標(biāo)準(zhǔn)單元庫的邏輯單元，每個(gè)邏輯單元具有預(yù)定數(shù)目個(gè)輸入矢量合成，該核心模塊輸出對(duì)標(biāo)準(zhǔn)單元庫的測(cè)試結(jié)果信號(hào)；第一開關(guān)組，用于將第一輸入信號(hào)輸出到該核心模塊，從而選擇對(duì)應(yīng)于各個(gè)邏輯單元的單元標(biāo)識(shí)符；以及第二開關(guān)組，用于將第二輸入信號(hào)輸出到該核心模塊，從而選擇與每個(gè)邏輯單元的輸入矢量合成對(duì)應(yīng)的圖形標(biāo)識(shí)符。
文檔編號(hào)G06F17/50GK1991850SQ200610172776
公開日2007年7月4日 申請(qǐng)日期2006年12月26日
發(fā)明者尼廷·薩爾古南 申請(qǐng)人:東部電子股份有限公司導(dǎo)出引文BiBTeX, EndNote, RefMan