1.一種模型表面數(shù)據(jù)采樣方法,其特征在于,包括:
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的模型表面數(shù)據(jù)采樣方法,其特征在于,所述三角面的輪廓數(shù)據(jù)中包括所述三角面對(duì)應(yīng)的三個(gè)頂點(diǎn)的坐標(biāo),所述根據(jù)各所述三角面的輪廓數(shù)據(jù)和所述頂點(diǎn)采樣數(shù)量,確定位于各所述三角面中的多個(gè)候選模擬頂點(diǎn)以及各所述候選模擬頂點(diǎn)的位置信息,包括:
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的模型表面數(shù)據(jù)采樣方法,其特征在于,所述迭代截止條件包括以下任一種:
4.根據(jù)權(quán)利要求1至3任一項(xiàng)所述的模型表面數(shù)據(jù)采樣方法,其特征在于,所述根據(jù)各所述候選模擬頂點(diǎn)的位置信息確定所述模型表面的頂點(diǎn)采樣結(jié)果,包括:
5.根據(jù)權(quán)利要求1至3任一項(xiàng)所述的模型表面數(shù)據(jù)采樣方法,其特征在于,所述頂點(diǎn)采樣結(jié)果中包括多個(gè)均勻分布的待定頂點(diǎn)以及各所述待定頂點(diǎn)的位置信息,所述對(duì)所述頂點(diǎn)采樣結(jié)果進(jìn)行插值處理,確定所述模型表面對(duì)應(yīng)的多個(gè)目標(biāo)頂點(diǎn)以及各所述目標(biāo)頂點(diǎn)的位置信息,包括:
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的模型表面數(shù)據(jù)采樣方法,其特征在于,所述距離閾值的確定方式包括:
7.根據(jù)權(quán)利要求1至3任一項(xiàng)所述的模型表面數(shù)據(jù)采樣方法,其特征在于,所述三角面的輪廓數(shù)據(jù)中包括所述三角面對(duì)應(yīng)的三條邊的標(biāo)識(shí),所述根據(jù)各所述三角面的輪廓數(shù)據(jù)和所述頂點(diǎn)采樣數(shù)量,確定位于各所述三角面中的多個(gè)候選模擬頂點(diǎn)之前,所述方法還包括:
8.一種模型表面數(shù)據(jù)采樣裝置,其特征在于,包括:
9.一種電子設(shè)備,包括存儲(chǔ)器、處理器及存儲(chǔ)在所述存儲(chǔ)器上并可在所述處理器上運(yùn)行的計(jì)算機(jī)程序,其特征在于,所述處理器執(zhí)行所述計(jì)算機(jī)程序時(shí)實(shí)現(xiàn)如權(quán)利要求1至7任一項(xiàng)所述的模型表面數(shù)據(jù)采樣方法。
10.一種非暫態(tài)計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì),其上存儲(chǔ)有計(jì)算機(jī)程序,其特征在于,所述計(jì)算機(jī)程序被處理器執(zhí)行時(shí)實(shí)現(xiàn)如權(quán)利要求1至7任一項(xiàng)所述的模型表面數(shù)據(jù)采樣方法。