本申請(qǐng)涉及數(shù)據(jù)處理，具體涉及硅中介層走線方式確定方法、裝置、電子設(shè)備和存儲(chǔ)介質(zhì)。

背景技術(shù)：

1、高性能的計(jì)算系統(tǒng)需要高速大帶寬的高帶寬存儲(chǔ)（hbm）內(nèi)存和d2d互聯(lián)的支持，而把硅基板當(dāng)作中間基板（cowos-s）先進(jìn)封裝采用硅中介層（silicon-interposer）來(lái)進(jìn)行hbm、d2d等接口的高速互聯(lián)。為了保證良好的信號(hào)完整性（si）性能，這種并行高速走線除了考慮走線損耗，還需要考慮走線間串?dāng)_的影響，通常情況下，走線的優(yōu)化會(huì)處于損耗和串?dāng)_的矛盾之中，因此如何找到最優(yōu)的走線方式至關(guān)重要。

2、相關(guān)技術(shù)中，si工程師會(huì)根據(jù)經(jīng)驗(yàn)先確定大概的方案，然后使用2d電磁場(chǎng)工具做一些簡(jiǎn)單的掃描（scan）來(lái)獲得一些片段化的結(jié)果，作為后續(xù)布線（layout）工程師布線的依據(jù)，然后通過(guò)后仿結(jié)果來(lái)確定布線是否滿足要求，以及是否要進(jìn)行優(yōu)化和迭代。

3、相關(guān)技術(shù)中確定硅中介層走線方式的方法中，前仿結(jié)果的片段化和不完整性，并不能直接獲得全局最優(yōu)解，后面需要依賴si工程師的個(gè)人經(jīng)驗(yàn)和更多的優(yōu)化迭代次數(shù)，才能獲得最好的走線方式，這樣的實(shí)現(xiàn)方式主觀依賴性較強(qiáng)，且效率低。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路

1、有鑒于此，本申請(qǐng)?zhí)峁┕柚薪閷幼呔€方式確定方法、裝置、電子設(shè)備和存儲(chǔ)介質(zhì)，能夠在不依賴主觀條件下高效率地獲得最優(yōu)的硅中介層走線方式。

2、為解決上述技術(shù)問(wèn)題，本申請(qǐng)的技術(shù)方案是這樣實(shí)現(xiàn)的：

3、在一個(gè)實(shí)施例中，提供了硅中介層走線方式確定方法，所述方法包括：

4、獲取硅中介層基本信息；所述基本信息包括金屬層數(shù)和信號(hào)所在層數(shù)；

5、基于所述硅中介層基本信息建立硅中介層走線方式框架，并針對(duì)所述硅中介層走線方式框架中的變量生成多組scan參數(shù)；

6、求解在每組所述scan參數(shù)條件下所述硅中介層走線方式框架對(duì)應(yīng)的rlgc模型；

7、根據(jù)每個(gè)所述rlgc模型，分別建立完整的端到端的網(wǎng)表；

8、分別基于每組所述scan參數(shù)對(duì)應(yīng)的所述端到端的網(wǎng)表進(jìn)行時(shí)域仿真，獲得對(duì)應(yīng)的時(shí)域仿真結(jié)果；

9、收集所有組所述scan參數(shù)對(duì)應(yīng)的時(shí)域仿真結(jié)果；

10、根據(jù)多個(gè)所述時(shí)域仿真結(jié)果確定最優(yōu)的硅中介層走線方式。

11、其中，每個(gè)所述時(shí)域仿真結(jié)果為眼圖，所述根據(jù)多個(gè)所述時(shí)域仿真結(jié)果確定最優(yōu)的硅中介層走線方式，包括：

12、根據(jù)每個(gè)所述眼圖分別確定一組眼寬度和眼高度；

13、根據(jù)每組所述眼寬度和眼高度計(jì)算一個(gè)眼的大??；

14、選擇出眼寬度大于預(yù)設(shè)寬度閾值，眼高度大于預(yù)設(shè)高度閾值，且計(jì)算出的眼的大小最大的所述眼圖對(duì)應(yīng)的scan參數(shù)；

15、基于選擇出的所述scan參數(shù)和所述硅中介層走線方式框架生成硅中介層走線方式，作為最優(yōu)的硅中介層走線方式。

16、其中，每個(gè)所述眼圖為對(duì)應(yīng)時(shí)域仿真過(guò)程中，針對(duì)信號(hào)層中位于中間的信號(hào)對(duì)應(yīng)的眼圖。

17、其中，

18、若所述硅中介層走線方式框架中信號(hào)占用多層，則選擇眼的大小最小的信號(hào)占用層對(duì)應(yīng)的眼圖。

19、其中，所述針對(duì)所述硅中介層走線方式框架中的變量生成多組scan參數(shù)，包括：

20、針對(duì)所述硅中介層走線方式框架中的變量獲取滿足工藝和設(shè)計(jì)所允許的scan參數(shù)范圍；

21、在所述scan參數(shù)范圍內(nèi)按照設(shè)定的步長(zhǎng)選擇參數(shù)值生成多組所述scan參數(shù)。

22、其中，所述scan參數(shù)包括：

23、信號(hào)走線重復(fù)周期、參考層的地寬度、信號(hào)層的信號(hào)寬度和信號(hào)層的隔離地寬度。

24、其中，根據(jù)每個(gè)所述rlgc模型，分別建立完整的端到端的網(wǎng)表，包括：

25、根據(jù)每個(gè)所述rlgc模型生成對(duì)應(yīng)的輸入端模型和輸出端模型；

26、基于所述rlgc模型、所述輸入端模型和所述輸出端模型，并添加激勵(lì)生成每個(gè)所述rlgc模型對(duì)應(yīng)的完整的端到端的網(wǎng)表。

27、在另一個(gè)實(shí)施例中，提供了硅中介層走線方式確定裝置，所述裝置包括：

28、獲取單元，用于獲取硅中介層基本信息；所述基本信息包括金屬層數(shù)和信號(hào)所在層數(shù)；

29、生成單元，用于基于所述硅中介層基本信息建立硅中介層走線方式框架，并針對(duì)所述硅中介層走線方式框架中的變量生成多組scan參數(shù)；

30、求解單元，用于求解在每組所述scan參數(shù)條件下所述硅中介層走線方式框架對(duì)應(yīng)的rlgc模型；

31、建立單元，用于根據(jù)每個(gè)所述rlgc模型，分別建立完整的端到端的網(wǎng)表；

32、仿真單元，用于分別基于每組所述scan參數(shù)對(duì)應(yīng)的所述端到端的網(wǎng)表進(jìn)行時(shí)域仿真，獲得對(duì)應(yīng)的時(shí)域仿真結(jié)果；

33、收集單元，用于收集所有組所述scan參數(shù)對(duì)應(yīng)的時(shí)域仿真結(jié)果；

34、確定單元，用于根據(jù)多個(gè)所述時(shí)域仿真結(jié)果確定最優(yōu)的硅中介層走線方式。

35、另一個(gè)實(shí)施例中，提供了一種電子設(shè)備，包括存儲(chǔ)器、處理器及存儲(chǔ)在存儲(chǔ)器上并可在處理器上運(yùn)行的計(jì)算機(jī)程序，所述處理器執(zhí)行所述程序時(shí)實(shí)現(xiàn)硅中介層走線方式確定方法。

36、另一個(gè)實(shí)施例中，提供了一種計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)，其上存儲(chǔ)有計(jì)算機(jī)程序，該程序被處理器執(zhí)行時(shí)實(shí)現(xiàn)硅中介層走線方式確定方法。

37、由上面的技術(shù)方案可見(jiàn)，上述實(shí)施例中通過(guò)初步建立的硅中介層走線方式框架，再通過(guò)針對(duì)其中變量給出多組scan參數(shù)實(shí)現(xiàn)多種硅中介層走線方式，最后通過(guò)對(duì)每種硅中介層走線方式進(jìn)行時(shí)域仿真來(lái)確定最優(yōu)的硅中介層走線方式。該方案能夠在不依賴主觀條件下高效率地獲得最優(yōu)的硅中介層走線方式。

技術(shù)特征：

1.硅中介層走線方式確定方法，其特征在于，所述方法包括：

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，每個(gè)所述時(shí)域仿真結(jié)果為眼圖，所述根據(jù)多個(gè)所述時(shí)域仿真結(jié)果確定最優(yōu)的硅中介層走線方式，包括：

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的方法，其特征在于，每個(gè)所述眼圖為對(duì)應(yīng)時(shí)域仿真過(guò)程中，針對(duì)信號(hào)層中位于中間的信號(hào)對(duì)應(yīng)的眼圖。

4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的方法，其特征在于，

5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述針對(duì)所述硅中介層走線方式框架中的變量生成多組scan參數(shù)，包括：

6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的方法，其特征在于，所述scan參數(shù)包括：

7.根據(jù)權(quán)利要求1-6任一項(xiàng)所述的方法，其特征在于，根據(jù)每個(gè)所述rlgc模型，分別建立完整的端到端的網(wǎng)表，包括：

8.硅中介層走線方式確定裝置，其特征在于，所述裝置包括：

9.一種電子設(shè)備，包括存儲(chǔ)器、處理器及存儲(chǔ)在存儲(chǔ)器上并可在處理器上運(yùn)行的計(jì)算機(jī)程序，其特征在于，所述處理器執(zhí)行所述程序時(shí)實(shí)現(xiàn)如權(quán)利要求1-7任一項(xiàng)所述的方法。

10.一種計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)，其上存儲(chǔ)有計(jì)算機(jī)程序，其特征在于，該程序被處理器執(zhí)行時(shí)實(shí)現(xiàn)權(quán)利要求1-7任一項(xiàng)所述的方法。

技術(shù)總結(jié)
本申請(qǐng)?zhí)峁┝斯柚薪閷幼呔€方式確定方法、裝置、電子設(shè)備和存儲(chǔ)介質(zhì)，獲取硅中介層基本信息；基于硅中介層基本信息建立硅中介層走線方式框架，并針對(duì)硅中介層走線方式框架中的變量生成多組scan參數(shù)；求解在每組scan參數(shù)條件下硅中介層走線方式框架對(duì)應(yīng)的RLGC模型；根據(jù)每個(gè)RLGC模型，分別建立完整的端到端的網(wǎng)表；分別基于每組scan參數(shù)對(duì)應(yīng)的端到端的網(wǎng)表進(jìn)行時(shí)域仿真，獲得對(duì)應(yīng)的時(shí)域仿真結(jié)果；收集所有組scan參數(shù)對(duì)應(yīng)的時(shí)域仿真結(jié)果；根據(jù)多個(gè)時(shí)域仿真結(jié)果確定最優(yōu)的硅中介層走線方式。該方法能夠在不依賴主觀條件下高效率地獲得最優(yōu)的硅中介層走線方式。

技術(shù)研發(fā)人員：請(qǐng)求不公布姓名
受保護(hù)的技術(shù)使用者：上海壁仞科技股份有限公司
技術(shù)研發(fā)日：
技術(shù)公布日：2024/12/19