本發(fā)明涉及圖像增強，具體是基于圖像增強的微型軸承制造用缺陷檢測方法。

背景技術：

1、圖像增強是指通過各種算法和技術來改善圖像的質量、增強圖像的特征和細節(jié)，使圖像更加清晰、鮮明和易于分析。常見的圖像增強技術包括對比度增強、亮度調整、顏色平衡、銳化、去噪等。通過圖像增強技術，可以使圖像更具有視覺吸引力、準確性和信息量，提高圖像的可讀性和可理解性。

2、微型軸承通常用于小型設備、精密儀器、電子產品等領域，因為它們具有小巧、輕便、高轉速、低噪音等特點。微型軸承制造是指生產制造這些微小尺寸的軸承的過程。因為微型軸承通常用于一些對精度和細節(jié)要求較高的設備中，所以微型軸承的制造過程也需要非常精密和嚴謹；因此，對用于制造用的微型軸承進行智能化缺陷檢測，具有重要的理論和現(xiàn)實意義。

3、如何利用圖像增強技術，對采集的制造圖片數(shù)據(jù)和標準圖樣數(shù)據(jù)進行標準校對，獲得標準制造圖片和規(guī)范標準圖樣；設置濾波矩陣對標準制造圖片和規(guī)范標準圖樣分別進行像素優(yōu)化更新和平滑遍歷，獲得優(yōu)化像素圖片和規(guī)范優(yōu)化圖樣，將規(guī)范優(yōu)化圖樣與優(yōu)化像素圖片進行像素核驗，獲得匹配比對值，設置缺陷閾值與匹配比對值進行閾值比較，獲得異常缺陷圖，是我們需要解決的問題；為此，現(xiàn)提供基于圖像增強的微型軸承制造用缺陷檢測方法。

技術實現(xiàn)思路

1、本發(fā)明的目的可以通過以下技術方案實現(xiàn)：

2、基于圖像增強的微型軸承制造用缺陷檢測方法，包括以下步驟：

3、步驟s1：設置數(shù)據(jù)采集端，通過所設置的數(shù)據(jù)采集端對微型軸承的綜合數(shù)據(jù)進行采集，獲得制造圖片數(shù)據(jù)和標準圖樣數(shù)據(jù)；

4、步驟s2：設置輸入標準對制造圖片數(shù)據(jù)和標準圖樣數(shù)據(jù)進行標準校對，獲得標準制造圖片和規(guī)范標準圖樣，設置濾波矩陣，將濾波矩陣上傳至標準制造圖片，獲得濾波區(qū)間，在濾波區(qū)間內設置優(yōu)化像素點和遍歷順序；

5、步驟s3：根據(jù)所獲得的濾波矩陣對濾波區(qū)間的優(yōu)化像素點進行像素優(yōu)化更新，獲得替換像素，對所獲得的替換像素進行統(tǒng)計，獲得優(yōu)化像素區(qū)間，將所獲得的濾波矩陣在標準制造圖片內進行平滑遍歷，并對所獲得的優(yōu)化像素區(qū)間進行綜合統(tǒng)計，獲得優(yōu)化像素圖片；

6、步驟s4：對所獲得的規(guī)范標準圖樣進行像素優(yōu)化更新和平滑遍歷，獲得規(guī)范優(yōu)化圖樣，將所獲得的規(guī)范優(yōu)化圖樣與優(yōu)化像素圖片進行規(guī)范匹配，獲得匹配優(yōu)化像素圖和匹配規(guī)范圖樣，對所獲得的匹配優(yōu)化像素圖和匹配規(guī)范圖樣進行像素核驗，獲得匹配比對值，設置缺陷閾值與匹配比對值進行閾值比較，獲得異常缺陷圖。

7、獲得制造圖片數(shù)據(jù)和標準圖樣數(shù)據(jù)的過程包括：

8、獲取微型軸承的制造車間，根據(jù)所獲得的制造車間設置數(shù)據(jù)采集端；

9、通過所設置的數(shù)據(jù)采集端對微型軸承的綜合數(shù)據(jù)進行采集，獲得制造圖片數(shù)據(jù)和標準圖樣數(shù)據(jù)；

10、將所獲得的制造圖片數(shù)據(jù)與對應的標準圖樣數(shù)據(jù)相關聯(lián)。

11、設置濾波矩陣的過程包括：

12、設置輸入標準，根據(jù)所獲得的輸入標準對所獲得的制造圖片數(shù)據(jù)進行標準校對，獲得標準制造圖片；

13、根據(jù)所獲得的輸入標準對所獲得的標準圖樣數(shù)據(jù)進行標準校對，獲得規(guī)范標準圖樣；

14、對所獲得的標準制造圖片進行像素標記，獲得標準像素點；

15、根據(jù)所獲得的標準制造圖片設置濾波矩陣，并根據(jù)濾波矩陣獲得矩陣中心點。

16、獲得濾波區(qū)間的過程包括：

17、在所獲得的標準制造圖片中設置遍歷起始點，將所獲得的濾波矩陣上傳至標準制造圖片的遍歷起始點，并將濾波矩陣在標準制造圖片的對應區(qū)域標記為濾波區(qū)間；

18、在濾波區(qū)間內設置優(yōu)化像素點和遍歷順序。

19、獲得替換像素的過程包括：

20、將所獲得的濾波矩陣的矩陣中心點與濾波區(qū)間內的優(yōu)化像素點進行元素對應，獲得像元點積，并對所獲得的像元點積進行求和，獲得像元積數(shù)和；

21、對所獲得的濾波矩陣進行統(tǒng)計，獲得元素總量，根據(jù)所獲得的元素總量和像元積數(shù)和獲得增值像素；

22、根據(jù)所獲得的增值像素對優(yōu)化像素點進行像素優(yōu)化更新，獲得替換像素。

23、獲得優(yōu)化像素圖片的過程包括：

24、根據(jù)所獲得的遍歷順序獲取濾波區(qū)間內的下一個優(yōu)化像素點，對所獲得的標準像素點進行像素優(yōu)化更新，獲得替換像素，直至濾波區(qū)間內的標準像素點均完成像素優(yōu)化更新，并根據(jù)所獲得的濾波區(qū)間對所獲得的替換像素進行統(tǒng)計，獲得優(yōu)化像素區(qū)間；

25、將所獲得的濾波矩陣在標準制造圖片內進行平滑遍歷，直至濾波矩陣覆蓋標準制造圖片的所有濾波區(qū)間，對所獲得的優(yōu)化像素區(qū)間進行綜合統(tǒng)計，獲得優(yōu)化像素圖片。

26、獲得匹配比對值的過程包括：

27、對所獲得的規(guī)范標準圖樣進行像素標記，獲得規(guī)范像素點；

28、將所獲得的濾波矩陣上傳至規(guī)范標準圖樣，獲得規(guī)范濾波區(qū)間；

29、在規(guī)范濾波區(qū)間內根據(jù)規(guī)范像素點設置規(guī)范優(yōu)化像素點；

30、根據(jù)所獲得的濾波矩陣對規(guī)范濾波區(qū)間的規(guī)范優(yōu)化像素點進行像素優(yōu)化更新，獲得規(guī)范優(yōu)化圖樣；

31、根據(jù)所獲得的規(guī)范優(yōu)化圖樣對優(yōu)化像素圖片進行規(guī)范匹配，獲得匹配優(yōu)化像素圖和匹配規(guī)范圖樣；

32、對所獲得的匹配規(guī)范圖樣進行均等分割，獲得局部檢驗框，將所獲得的局部檢驗框上傳至匹配優(yōu)化像素圖，獲得匹配核驗區(qū)；

33、根據(jù)所獲得的局部檢驗框對所獲得的匹配核驗區(qū)進行像素核驗，獲得匹配比對值。

34、設置缺陷閾值，將所獲得的匹配比對值與缺陷閾值進行閾值比較，獲得異常匹配值，將異常匹配值對應的匹配核驗區(qū)標記為異常匹配區(qū)；

35、對匹配優(yōu)化像素圖內的異常匹配區(qū)進行統(tǒng)計，獲得異常缺陷圖。

36、與現(xiàn)有技術相比，本發(fā)明的有益效果是：對采集的制造圖片數(shù)據(jù)和標準圖樣數(shù)據(jù)進行標準校對，獲得標準制造圖片和規(guī)范標準圖樣，設置濾波矩陣，將濾波矩陣上傳至標準制造圖片，獲得濾波區(qū)間，在濾波區(qū)間內設置優(yōu)化像素點和遍歷順序；設置濾波矩陣對優(yōu)化像素點的像素進行更新，改善圖片的視覺效果，提高圖片的可讀性和可識別性；

37、根據(jù)所獲得的濾波矩陣對濾波區(qū)間的優(yōu)化像素點進行像素優(yōu)化更新和平滑遍歷，獲得優(yōu)化像素圖片；為缺陷檢測提供清晰、高質量的圖像，有利于將優(yōu)化像素圖片與規(guī)范優(yōu)化圖樣進行像素比對，獲得異常缺陷圖，提高缺陷檢測速度。

技術特征：

1.基于圖像增強的微型軸承制造用缺陷檢測方法，其特征在于，包括以下步驟：

2.根據(jù)權利要求1所述的基于圖像增強的微型軸承制造用缺陷檢測方法，其特征在于，獲得制造圖片數(shù)據(jù)和標準圖樣數(shù)據(jù)的過程包括：

3.根據(jù)權利要求2所述的基于圖像增強的微型軸承制造用缺陷檢測方法，其特征在于，設置濾波矩陣的過程包括：

4.根據(jù)權利要求3所述的基于圖像增強的微型軸承制造用缺陷檢測方法，其特征在于，獲得濾波區(qū)間的過程包括：

5.根據(jù)權利要求4所述的基于圖像增強的微型軸承制造用缺陷檢測方法，其特征在于，獲得替換像素的過程包括：

6.根據(jù)權利要求5所述的基于圖像增強的微型軸承制造用缺陷檢測方法，其特征在于，獲得優(yōu)化像素圖片的過程包括：

7.根據(jù)權利要求6所述的基于圖像增強的微型軸承制造用缺陷檢測方法，其特征在于，獲得匹配比對值的過程包括：

8.根據(jù)權利要求7所述的基于圖像增強的微型軸承制造用缺陷檢測方法，其特征在于，獲得異常缺陷圖的過程包括：

技術總結
本發(fā)明公開了基于圖像增強的微型軸承制造用缺陷檢測方法，涉及圖像增強技術領域，設置數(shù)據(jù)采集端采集微型軸承的制造圖片數(shù)據(jù)和標準圖樣數(shù)據(jù)；設置輸入標準對制造圖片數(shù)據(jù)和標準圖樣數(shù)據(jù)進行標準校對，獲得標準制造圖片和規(guī)范標準圖樣；設置濾波矩陣對標準制造圖片進行像素優(yōu)化更新，獲得替換像素，根據(jù)替換像素將濾波矩陣在標準制造圖片內進行平滑遍歷，獲得優(yōu)化像素圖片；對規(guī)范標準圖樣進行像素優(yōu)化更新和平滑遍歷，獲得規(guī)范優(yōu)化圖樣，通過與優(yōu)化像素圖片進行像素核驗，獲得匹配比對值，設置缺陷閾值與匹配比對值進行閾值比較，獲得異常缺陷圖；提高缺陷檢測準確性和檢測速度，減少缺陷誤判的概率，改善圖像質量。

技術研發(fā)人員：徐境福,劉衛(wèi)平
受保護的技術使用者：南通山口精工機電有限公司
技術研發(fā)日：
技術公布日：2024/12/19