本發(fā)明涉及移動(dòng)應(yīng)用測試，尤其涉及一種sdk自動(dòng)化測試方法、存儲介質(zhì)及終端。

背景技術(shù)：

1、隨著軟件開發(fā)的日益復(fù)雜，sdk往往集成了眾多功能和邏輯，手動(dòng)測試難以全面覆蓋和高效執(zhí)行。為了使sdk在不同項(xiàng)目和用戶中保持一致的高質(zhì)量表現(xiàn)，需要可靠的測試手段來把關(guān)。

2、傳統(tǒng)的自動(dòng)化測試包括基于java的junit單元測試，但這類自動(dòng)化測試方法雖可以測試sdk不同方法和函數(shù)的輸入輸出是否正確，但無法從業(yè)務(wù)角度滿足實(shí)際需求，例如緩存校驗(yàn)，崩潰校驗(yàn)，手機(jī)斷網(wǎng)，調(diào)用其他系統(tǒng)接口等。

3、傳統(tǒng)的自動(dòng)化測試還包括基于python的ui自動(dòng)化測試或無ui自動(dòng)化測試，但這類測試需要點(diǎn)擊sdk封裝成的apk文件，通過點(diǎn)擊界面上不同按鈕，觸發(fā)sdk輸出日志。因此如果想測試sdk功能是否準(zhǔn)確，就需要不斷的點(diǎn)擊界面，然后判斷日志打印的內(nèi)容是否和預(yù)期一致，如果sdk接口較多，則需多次點(diǎn)擊ui界面，同時(shí)需要打印的日志較多，可能存在adb日志抓取關(guān)鍵字存在遺漏或重復(fù)情況，對自動(dòng)化結(jié)果處理挑戰(zhàn)較大。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路

1、本發(fā)明實(shí)施例提供了一種sdk自動(dòng)化測試方法、存儲介質(zhì)及終端，通過實(shí)際業(yè)務(wù)需求設(shè)置待測試用例，利用二進(jìn)制插樁代碼根據(jù)每個(gè)待測試用例對應(yīng)的測試指令調(diào)用目標(biāo)sdk中的接口，收集運(yùn)行信息。可滿足多場景自動(dòng)化測試，并及時(shí)獲取測試結(jié)果，保證測試結(jié)果的穩(wěn)定和準(zhǔn)確。

2、第一方面，本發(fā)明實(shí)施例提供了一種sdk自動(dòng)化測試方法，應(yīng)用于客戶端，包括：

3、依次將待測試用例集中每個(gè)待測試用例的測試指令發(fā)送至服務(wù)端中的目標(biāo)sdk，以獲取所述目標(biāo)sdk針對所述測試指令的運(yùn)行輸出信息；所述待測試用例集中包括一個(gè)或多個(gè)標(biāo)記為可執(zhí)行的待測試用例；

4、接收所述服務(wù)端發(fā)送的運(yùn)行輸出信息，根據(jù)所述運(yùn)行輸出信息判斷所述每個(gè)待測試用例是否通過測試。

5、第二方面，本發(fā)明實(shí)施例提供了一種sdk自動(dòng)化測試方法，應(yīng)用于服務(wù)端，包括：

6、接收客戶端的測試指令，利用二進(jìn)制插樁代碼根據(jù)所述測試指令調(diào)用目標(biāo)sdk中對應(yīng)的目標(biāo)接口，以運(yùn)行所述目標(biāo)接口的功能；

7、將所述目標(biāo)sdk接口的運(yùn)行輸出信息發(fā)送至所述客戶端，以供所述客戶端判斷所述測試指令對應(yīng)的待測試用例是否通過測試。

8、第三方面，本發(fā)明實(shí)施例提供一種計(jì)算機(jī)可讀存儲介質(zhì)，其上存儲有計(jì)算機(jī)程序，上述計(jì)算機(jī)程序被處理器執(zhí)行時(shí)實(shí)現(xiàn)上述第一個(gè)方面所述的方法步驟或上述第二個(gè)方面所述的方法步驟。

9、第四方面，本發(fā)明實(shí)施例提供一種終端，包括存儲器、處理器以及存儲在所述存儲器中并可在所述處理器上運(yùn)行的計(jì)算機(jī)程序，所述處理器執(zhí)行所述計(jì)算機(jī)程序時(shí)實(shí)現(xiàn)上述第一個(gè)方面所述的方法步驟或上述第二個(gè)方面所述的方法步驟。

10、本發(fā)明實(shí)施例提供的sdk自動(dòng)化測試方法、存儲介質(zhì)及終端，具備以下技術(shù)效果：

11、本發(fā)明實(shí)施例通過客戶端將待測試用例集中每個(gè)待測試用例對應(yīng)的測試指令發(fā)送至服務(wù)端，服務(wù)端收到測試指令后，利用二進(jìn)制插樁代碼根據(jù)測試指令調(diào)用目標(biāo)sdk中的接口，以運(yùn)行目標(biāo)接口的功能，并將目標(biāo)sdk的運(yùn)行輸出信息發(fā)送至客戶端，以供客戶端根據(jù)運(yùn)行輸出消息判斷每個(gè)測試用例是否通過測試。應(yīng)用上述方法，可根據(jù)實(shí)際業(yè)務(wù)需求，設(shè)置對應(yīng)的待測試用例，利用二進(jìn)制插樁代碼根據(jù)測試指令調(diào)用目標(biāo)sdk中的目標(biāo)接口，以運(yùn)行目標(biāo)接口的功能，收集運(yùn)行信息，可滿足多場景自動(dòng)化測試，并及時(shí)獲取測試結(jié)果，保證測試結(jié)果的穩(wěn)定和準(zhǔn)確。

技術(shù)特征：

1.一種sdk自動(dòng)化測試方法，應(yīng)用于客戶端，其特征在于，包括：

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述方法，其特征在于，所述依次將待測試用例集中每個(gè)待測試用例的測試指令發(fā)送至服務(wù)端中的目標(biāo)sdk，以獲取所述目標(biāo)sdk針對所述測試指令的運(yùn)行輸出信息之前，還包括：

3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述方法，其特征在于，所述依次將待測試用例集中每個(gè)待測試用例的測試指令發(fā)送至服務(wù)端中的目標(biāo)sdk，包括：

4.根據(jù)權(quán)利要求1至3任一項(xiàng)所述方法，其特征在于，所述接收所述服務(wù)端發(fā)送的運(yùn)行輸出信息，根據(jù)所述運(yùn)行輸出信息判斷所述每個(gè)待測試用例是否通過測試，包括：

5.一種sdk自動(dòng)化測試方法，應(yīng)用于服務(wù)端，其特征在于，包括：

6.根據(jù)權(quán)利要求5所述方法，其特征在于，所述接收客戶端的測試指令，利用二進(jìn)制插樁代碼根據(jù)所述測試指令調(diào)用目標(biāo)sdk中對應(yīng)的目標(biāo)接口，包括：

7.根據(jù)權(quán)利要求6所述方法，其特征在于，所述接收客戶端的測試指令，確定所述測試指令調(diào)用的目標(biāo)sdk的目標(biāo)接口信息，包括：

8.根據(jù)權(quán)利要求5至7任一項(xiàng)所述方法，其特征在于，所述將所述目標(biāo)sdk接口的運(yùn)行輸出信息發(fā)送至所述客戶端，以供所述客戶端判斷所述測試指令對應(yīng)的待測試用例是否通過測試，包括：

9.一種計(jì)算機(jī)可讀存儲介質(zhì)，其上存儲有計(jì)算機(jī)程序，其特征在于，所述計(jì)算機(jī)程序被處理器執(zhí)行時(shí)實(shí)現(xiàn)如權(quán)利要求1至4中任一項(xiàng)所述方法或如權(quán)利要求5至8中任一項(xiàng)所述方法。

10.一種終端，包括存儲器、處理器以及存儲在所述存儲器中并可在所述處理器上運(yùn)行的計(jì)算機(jī)程序，其特征在于，所述處理器執(zhí)行所述計(jì)算機(jī)程序時(shí)實(shí)現(xiàn)如權(quán)利要求1至4中任一項(xiàng)所述方法或如權(quán)利要求5至8中任一項(xiàng)所述方法。

技術(shù)總結(jié)
本發(fā)明實(shí)施例提供一種SDK自動(dòng)化測試方法、存儲介質(zhì)及終端，所述方法包括：依次將待測試用例集中每個(gè)待測試用例的測試指令發(fā)送至服務(wù)端中的目標(biāo)SDK，以獲取所述目標(biāo)SDK針對所述測試指令的運(yùn)行輸出信息；所述待測試用例集中包括一個(gè)或多個(gè)標(biāo)記為可執(zhí)行的待測試用例；接收所述服務(wù)端發(fā)送的運(yùn)行輸出信息，根據(jù)所述運(yùn)行輸出信息判斷所述每個(gè)待測試用例是否通過測試。應(yīng)用上述方法，可根據(jù)實(shí)際業(yè)務(wù)需求，設(shè)置對應(yīng)的待測試用例，利用二進(jìn)制插樁代碼根據(jù)每個(gè)待測試用例對應(yīng)的測試指令調(diào)用目標(biāo)SDK中的目標(biāo)接口，以運(yùn)行目標(biāo)接口的功能，收集運(yùn)行信息，可滿足多場景自動(dòng)化測試，并及時(shí)獲取測試結(jié)果，保證測試結(jié)果的穩(wěn)定和準(zhǔn)確。

技術(shù)研發(fā)人員：陳家林,楊雅麗,羅牝,董超,潘宣辰
受保護(hù)的技術(shù)使用者：武漢安天信息技術(shù)有限責(zé)任公司
技術(shù)研發(fā)日：
技術(shù)公布日：2024/12/19