本發(fā)明涉及射頻功能單元的測試技術(shù)，尤其是射頻功能單元的可配置自動測試技術(shù)。

背景技術(shù)：

目前，電子測試自動化是測量儀器發(fā)展的主要方向，隨著科技的發(fā)展和進步，測試項目日益增多，測量范圍越來越大，測試對象千變?nèi)f化，尤其對于生產(chǎn)線批量測試，更換不同的產(chǎn)品十分困難，因此需要建立可配置的自動測試系統(tǒng)，實現(xiàn)多測試項快速、準確的測試，測試對象能快速切換。

中國專利cn205484619u公開了一種微波器件自動測試系統(tǒng)，測試儀器的數(shù)據(jù)輸出接口通過usb轉(zhuǎn)gpib線與pc機的usb接口連接，pc機的開關(guān)控制輸出與開關(guān)控制矩陣的控制輸入端連接，此系統(tǒng)僅適用于局部gpib接口的儀器，對于lan、rs232等其它接口就無能為力，該測試系統(tǒng)測試效率低、通用性差。

技術(shù)實現(xiàn)要素：

本發(fā)明所要解決的技術(shù)問題是：針對上述存在的問題，提供一種可快速配置測試指標、測試效率高、通用性強的可配置射頻功能單元測試方法。

本發(fā)明采用的技術(shù)方案如下：

一種可配置的射頻功能單元測試方法，具體包括：

步驟a、獲取射頻功能單元的配置文件，生成測試序列；

步驟b、檢測測試裝置是否滿足測試序列的硬件要求，若滿足執(zhí)行步驟c，否則結(jié)束測試。

步驟c、解析調(diào)度所述測試序列生成相應(yīng)的測試指令集；

步驟d、驅(qū)動所述測試指令集對射頻功能單元進行測試；

步驟e、獲取射頻功能單元根據(jù)所述測試序列給出激勵做出的響應(yīng)信息；

步驟f、判決測試結(jié)果，顯示并存儲所述響應(yīng)信息和判決結(jié)果，完成測試。

所述測試方法由測試執(zhí)行器完成，所述配置文件由配置生成器生成。

進一步地，步驟f中，執(zhí)行所述測試序列中的判據(jù)對測試結(jié)果進行判決。

進一步地，所述判據(jù)包括標準模型判據(jù)和通過判據(jù)方法接口鏈接的動態(tài)判據(jù)。

進一步地，獲取射頻功能單元配置文件的方法包括根據(jù)射頻功能單元特征自動獲取與其匹配的配置文件。

進一步地，所述測試執(zhí)行器可根據(jù)配置文件設(shè)置控制模塊來實現(xiàn)對射頻功能單元控制接口的管理。

進一步地，所述測試執(zhí)行器通過讀取射頻功能單元對應(yīng)配置文件調(diào)用動態(tài)測試方法庫進行測試。

進一步地，測試前，所述測試執(zhí)行器根據(jù)射頻功能單元需求，在接入系統(tǒng)的儀器資源庫中搜索待檢測射頻功能單元需要的儀器，并生成測試工位。

綜上所述，由于采用了上述技術(shù)方案，本發(fā)明的有益效果是：射頻功能單元配置文件的生成與測試執(zhí)行器分離，配置文件修改方便，便于管理，能夠?qū)崿F(xiàn)針對具體微波器件射頻指標的快速測試；便于統(tǒng)一測試方法和測試判據(jù)，適用于快速測試射頻功能單元；可根據(jù)不同射頻功能單元的測試指標，快速配置與其相應(yīng)的配置文件，無需對測試執(zhí)行器進行更改，測試效率高，通用性強。

附圖說明

本發(fā)明將通過例子并參照附圖的方式說明，其中：

圖1為本發(fā)明提供的可配置射頻功能單元測試方法流程圖

具體實施方式

本說明書中公開的所有特征，或公開的所有方法或過程中的步驟，除了互相排斥的特征和/或步驟以外，均可以以任何方式組合。

本說明書中公開的任一特征，除非特別敘述，均可被其他等效或具有類似目的的替代特征加以替換。即，除非特別敘述，每個特征只是一系列等效或類似特征中的一個例子而已。

圖1為本發(fā)明提供的可配置射頻功能單元測試方法流程圖，所述測試方法由測試執(zhí)行器完成。如圖1所示，一種可配置的射頻功能單元測試方法，具體包括：

步驟a、獲取射頻功能單元的配置文件，生成測試序列；

步驟b、檢測測試裝置是否滿足測試序列的硬件要求，若滿足執(zhí)行步驟c，否則結(jié)束測試。

步驟c、解析調(diào)度所述測試序列生成相應(yīng)的測試指令集；

步驟d、驅(qū)動所述測試指令集對射頻功能單元進行測試；

步驟e、獲取射頻功能單元根據(jù)所述測試序列給出激勵做出的響應(yīng)信息；

步驟f、判決測試結(jié)果，顯示并存儲所述響應(yīng)信息和判決結(jié)果，完成測試。

所述測試方法由測試執(zhí)行器完成，所述配置文件由配置生成器生成。

所述配置文件由配置生成器根據(jù)射頻功能單元的測試指標、激勵、指標判據(jù)、響應(yīng)和控制協(xié)議生成。根據(jù)任務(wù)目標或生產(chǎn)工序不同，配置生成器可利用不同的配置方法對同一射頻功能單元生成不同的配置文件，不同版本配置文件對應(yīng)的測試序列相互獨立。同時，可將所述配置文件上傳至服務(wù)器進行管理，并可通過所述配置生成器對所述配置文件進行修改和劃分，可根據(jù)產(chǎn)品名稱、測試環(huán)境狀態(tài)(高溫、低溫、常溫、振動等)、測試端口、測試項目對射頻功能單元的配置文件進行劃分，下層設(shè)置默認上層設(shè)置，特殊情況下可個性化設(shè)置代替上層設(shè)置。

測試執(zhí)行器獲取射頻功能單元的配置文件生成測試序列。測試前，測試執(zhí)行器根據(jù)射頻功能單元需求和系統(tǒng)具備的總線能力，在接入系統(tǒng)的儀器資源庫中搜索待檢測射頻功能單元需要的儀器，生成測試工位。測試執(zhí)行器獲取射頻功能單元配置文件的方式包括根據(jù)射頻功能單元特征自動獲取與其匹配的配置文件，自動確定射頻功能單元儀器的控制總線方式。

測試序列包含激勵、判據(jù)和多個測試步驟，測試執(zhí)行器一次可執(zhí)行單個或多個測試步驟。測試執(zhí)行器檢查測試裝置是否符合測試序列的硬件要求，不符合停止測試，符合則繼續(xù)執(zhí)行測試。測試執(zhí)行器解析調(diào)度測試序列生成相應(yīng)的測試指令集，并驅(qū)動測試指令集中的設(shè)置對射頻功能單元進行測試。同時，射頻功能單元根據(jù)測試序列中的激勵做出響應(yīng)，測試執(zhí)行器驅(qū)動測試指令集中的設(shè)置獲取此響應(yīng)。

測試執(zhí)行器可執(zhí)行測試序列中的判據(jù)對測試結(jié)果進行判決，顯示并存儲判決結(jié)果，若超差，則給出超差的數(shù)據(jù)，所述判據(jù)包括標準模型判據(jù)和通過判據(jù)方法接口鏈接的動態(tài)判據(jù)。標準模型判據(jù)包括大于/小于/大于等于/小于等于某值、兩值之間、兩條多線段之間、某范圍內(nèi)允許超差百分比、最大最小值之差等，通過標準模型判據(jù)可以實現(xiàn)常用射頻功能單元指標符合性判決；對無法使用標準模型判據(jù)判決的測試對象，針對不同的測試對象采用不同的判據(jù)，系統(tǒng)設(shè)計判據(jù)方法接口用來動態(tài)鏈接不同判據(jù)。

所述測試執(zhí)行器可根據(jù)配置文件設(shè)置控制模塊來實現(xiàn)對射頻功能單元控制接口的管理。測試執(zhí)行器根據(jù)配置文件對控制模塊進行設(shè)置，控制模塊根據(jù)外部總線類型和物理接口特性管理射頻功能單元的控制接口。相比傳統(tǒng)的直接控制，該種控制方式節(jié)約了測試資源，更加符合模塊化的管理和外部接口多變的測試需求。

優(yōu)化地，所述測試執(zhí)行器集成有不同類型射頻功能單元的測試方法，并可通過添加包含測試方法的動態(tài)庫來補充測試方法。進行測試時，測試執(zhí)行器通過讀取待測射頻功能單元對應(yīng)的配置文件來調(diào)用對應(yīng)的測試方法進行測試。隨著測試技術(shù)的發(fā)展，測試方法不斷更新進步。針對新的測試方法，系統(tǒng)通過c#中的反射機制動態(tài)調(diào)用新的測試方法，無需重新編譯新的測試執(zhí)行器。測試人員不涉及編程，測試方法簡單，通用性更強。

本發(fā)明并不局限于前述的具體實施方式。本發(fā)明擴展到任何在本說明書中披露的新特征或任何新的組合，以及披露的任一新的方法或過程的步驟或任何新的組合。