本發(fā)明涉及計(jì)算機(jī)
技術(shù)領(lǐng)域：
，特別是涉及一種測(cè)試用例處理方法和裝置。
背景技術(shù)：
：測(cè)試用例(TestCase)是為測(cè)試程序而設(shè)計(jì)的一組測(cè)試輸入、執(zhí)行條件和預(yù)期的結(jié)果的數(shù)據(jù)。測(cè)試用例可以設(shè)計(jì)一個(gè)場(chǎng)景，使被測(cè)程序在這種場(chǎng)景下運(yùn)行，以測(cè)試程序是否能否滿足設(shè)計(jì)需求。目前，需要為被測(cè)程序設(shè)計(jì)足夠數(shù)量的測(cè)試用例，通常全量執(zhí)行測(cè)試用例以保證對(duì)被測(cè)程序進(jìn)行充分的測(cè)試。在被測(cè)程序開(kāi)發(fā)初期，測(cè)試用例總量較少，執(zhí)行全量的測(cè)試用例也容易管理。然而，隨著被測(cè)程序的開(kāi)發(fā)進(jìn)展，在每個(gè)開(kāi)發(fā)階段會(huì)產(chǎn)生新的測(cè)試用例，測(cè)試用例的數(shù)量顯著增加，全量執(zhí)行測(cè)試用例需要消耗大量的時(shí)間成本和人力成本，測(cè)試效率低。技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：基于此，有必要針對(duì)目前每次測(cè)試需要執(zhí)行全量測(cè)試用例導(dǎo)致測(cè)試成本低的問(wèn)題，提供一種測(cè)試用例處理方法和裝置。一種測(cè)試用例處理方法，包括：獲取測(cè)試用例標(biāo)識(shí)集合和被測(cè)函數(shù)標(biāo)識(shí)集合；對(duì)于所述測(cè)試用例標(biāo)識(shí)集合中的每個(gè)測(cè)試用例標(biāo)識(shí)，確定針對(duì)所述被測(cè)函數(shù)標(biāo)識(shí)集合的測(cè)試覆蓋關(guān)系；將所述測(cè)試用例標(biāo)識(shí)集合中的測(cè)試用例標(biāo)識(shí)，按照相應(yīng)的所述測(cè)試覆蓋關(guān)系之間的相似度進(jìn)行聚類，獲得多于一個(gè)的測(cè)試用例標(biāo)識(shí)子集；根據(jù)所述測(cè)試用例標(biāo)識(shí)子集，從所述測(cè)試用例標(biāo)識(shí)集合中篩選出部分測(cè)試用例標(biāo)識(shí)。一種測(cè)試用例處理裝置，包括：獲取模塊，用于獲取測(cè)試用例標(biāo)識(shí)集合和被測(cè)函數(shù)標(biāo)識(shí)集合；測(cè)試覆蓋關(guān)系確定模塊，用于對(duì)于所述測(cè)試用例標(biāo)識(shí)集合中的每個(gè)測(cè)試用例標(biāo)識(shí)，確定針對(duì)所述被測(cè)函數(shù)標(biāo)識(shí)集合的測(cè)試覆蓋關(guān)系；聚類模塊，用于將所述測(cè)試用例標(biāo)識(shí)集合中的測(cè)試用例標(biāo)識(shí)，按照相應(yīng)的所述測(cè)試覆蓋關(guān)系之間的相似度進(jìn)行聚類，獲得多于一個(gè)的測(cè)試用例標(biāo)識(shí)子集；測(cè)試用例篩選模塊，用于根據(jù)所述測(cè)試用例標(biāo)識(shí)子集，從所述測(cè)試用例標(biāo)識(shí)集合中篩選出部分測(cè)試用例標(biāo)識(shí)。上述測(cè)試用例處理方法和裝置，獲取測(cè)試用例標(biāo)識(shí)集合和被測(cè)函數(shù)標(biāo)識(shí)集合后，確定每個(gè)測(cè)試用例標(biāo)識(shí)相對(duì)于被測(cè)函數(shù)標(biāo)識(shí)集合的測(cè)試覆蓋關(guān)系，該測(cè)試覆蓋關(guān)系反映了該測(cè)試用例標(biāo)識(shí)表示的測(cè)試用例，對(duì)于被測(cè)函數(shù)標(biāo)識(shí)集合所表示的被測(cè)函數(shù)的覆蓋情況。利用測(cè)試覆蓋關(guān)系之間的相似度進(jìn)行聚類，得到若干測(cè)試用例標(biāo)識(shí)子集。根據(jù)所述測(cè)試用例標(biāo)識(shí)子集篩選出部分測(cè)試用例標(biāo)識(shí)，以對(duì)測(cè)試用例標(biāo)識(shí)集合進(jìn)行精簡(jiǎn)。利用精簡(jiǎn)后得到的測(cè)試用例標(biāo)識(shí)所對(duì)應(yīng)的測(cè)試用例對(duì)被測(cè)程序進(jìn)行測(cè)試，不僅可以保證測(cè)試覆蓋率，還能提高測(cè)試效率。附圖說(shuō)明圖1為一個(gè)實(shí)施例中測(cè)試用例處理方法的應(yīng)用環(huán)境圖；圖2為一個(gè)實(shí)施例中用于執(zhí)行測(cè)試用例處理方法的電子設(shè)備的內(nèi)部結(jié)構(gòu)示意圖；圖3為一個(gè)實(shí)施例中測(cè)試用例處理方法的流程示意圖；圖4為一個(gè)實(shí)施例中對(duì)于測(cè)試用例標(biāo)識(shí)集合中的每個(gè)測(cè)試用例標(biāo)識(shí)，確定針對(duì)被測(cè)函數(shù)標(biāo)識(shí)集合的測(cè)試覆蓋關(guān)系的步驟的流程示意圖；圖5為一個(gè)實(shí)施例中對(duì)于測(cè)試用例標(biāo)識(shí)集合中的每個(gè)測(cè)試用例標(biāo)識(shí)，分別判斷與被測(cè)函數(shù)標(biāo)識(shí)集合中的每個(gè)被測(cè)函數(shù)標(biāo)識(shí)是否存在測(cè)試對(duì)應(yīng)關(guān)系的步驟的流程示意圖；圖6為一個(gè)實(shí)施例中將測(cè)試用例標(biāo)識(shí)集合中的測(cè)試用例標(biāo)識(shí)，按照相應(yīng)的測(cè)試覆蓋關(guān)系之間的相似度進(jìn)行聚類，獲得多于一個(gè)的測(cè)試用例標(biāo)識(shí)子集的步驟的流程示意圖；圖7為一個(gè)實(shí)施例中將數(shù)值化對(duì)象按照數(shù)值化對(duì)象之間的相似度進(jìn)行聚類，獲得多于一個(gè)的數(shù)值化對(duì)象聚類簇的步驟的流程示意圖；圖8為一個(gè)實(shí)施例中輪次將每個(gè)數(shù)值化對(duì)象聚類簇按照數(shù)值化對(duì)象之間的相似度劃分為兩個(gè)候選聚類簇，得到每個(gè)候選聚類簇的聚類中心的步驟的流程示意圖；圖9為一個(gè)具體應(yīng)用場(chǎng)景中測(cè)試用例處理方法的流程示意圖；圖10為一個(gè)實(shí)施例中測(cè)試用例處理裝置的結(jié)構(gòu)框圖。具體實(shí)施方式為了使本發(fā)明的目的、技術(shù)方案及優(yōu)點(diǎn)更加清楚明白，以下結(jié)合附圖及實(shí)施例，對(duì)本發(fā)明進(jìn)行進(jìn)一步詳細(xì)說(shuō)明。應(yīng)當(dāng)理解，此處所描述的具體實(shí)施例僅僅用以解釋本發(fā)明，并不用于限定本發(fā)明。圖1為一個(gè)實(shí)施例中測(cè)試用例處理方法的應(yīng)用環(huán)境圖。參照?qǐng)D1，該測(cè)試用例處理方法可應(yīng)用于服務(wù)器110。服務(wù)器110具體可獲取測(cè)試用例標(biāo)識(shí)集合和被測(cè)函數(shù)標(biāo)識(shí)集合；對(duì)于測(cè)試用例標(biāo)識(shí)集合中的每個(gè)測(cè)試用例標(biāo)識(shí)，確定針對(duì)被測(cè)函數(shù)標(biāo)識(shí)集合的測(cè)試覆蓋關(guān)系；將測(cè)試用例標(biāo)識(shí)集合中的測(cè)試用例標(biāo)識(shí)，按照相應(yīng)的測(cè)試覆蓋關(guān)系之間的相似度進(jìn)行聚類，獲得多于一個(gè)的測(cè)試用例標(biāo)識(shí)子集；根據(jù)測(cè)試用例標(biāo)識(shí)子集，從測(cè)試用例標(biāo)識(shí)集合中篩選出部分測(cè)試用例標(biāo)識(shí)。服務(wù)器110可將篩選出的部分測(cè)試用例標(biāo)識(shí)推薦至終端120，或者可以將篩選出的部分測(cè)試用例標(biāo)識(shí)所對(duì)應(yīng)的測(cè)試用例推薦至終端120。通過(guò)網(wǎng)絡(luò)連接的服務(wù)器110和終端120可構(gòu)成一種測(cè)試用例推薦系統(tǒng)?？梢岳斫獾氖?，測(cè)試用例處理方法可應(yīng)用于一種獨(dú)立的電子設(shè)備，該電子設(shè)備可在篩選出部分測(cè)試用例標(biāo)識(shí)后，根據(jù)該部分測(cè)試用例標(biāo)識(shí)所對(duì)應(yīng)的測(cè)試用例直接對(duì)被測(cè)程序進(jìn)行測(cè)試。圖2為一個(gè)實(shí)施例中電子設(shè)備的結(jié)構(gòu)框圖。該電子設(shè)備可以是服務(wù)器110，該電子設(shè)備用于實(shí)現(xiàn)一種測(cè)試用例處理方法。參照?qǐng)D2，該電子設(shè)備包括通過(guò)系統(tǒng)總線連接的處理器、非易失性存儲(chǔ)介質(zhì)、內(nèi)存儲(chǔ)器和網(wǎng)絡(luò)接口。其中，該電子設(shè)備的非易失性存儲(chǔ)介質(zhì)存儲(chǔ)有操作系統(tǒng)、數(shù)據(jù)庫(kù)和測(cè)試用例處理裝置。數(shù)據(jù)庫(kù)中存儲(chǔ)有測(cè)試用例標(biāo)識(shí)集合和被測(cè)函數(shù)標(biāo)識(shí)集合，還可以存儲(chǔ)有測(cè)試對(duì)應(yīng)關(guān)系集合。測(cè)試用例處理裝置用于實(shí)現(xiàn)一種測(cè)試用例處理方法。該電子設(shè)備的處理器用于提供計(jì)算和控制能力，支撐整個(gè)電子設(shè)備的運(yùn)行。該電子設(shè)備的內(nèi)存儲(chǔ)器為非易失性存儲(chǔ)介質(zhì)中的測(cè)試用例處理裝置的運(yùn)行提供環(huán)境，該內(nèi)存儲(chǔ)器中可儲(chǔ)存有計(jì)算機(jī)可讀指令，該計(jì)算機(jī)可讀指令被處理器執(zhí)行時(shí)，可使得處理器執(zhí)行一種測(cè)試用例處理方法。該服務(wù)器的網(wǎng)絡(luò)接口用于連接網(wǎng)絡(luò)進(jìn)行通信。電子設(shè)備可以是獨(dú)立的設(shè)備或者是多個(gè)電子設(shè)備組成的設(shè)備集群來(lái)實(shí)現(xiàn)。本領(lǐng)域技術(shù)人員可以理解，圖2中示出的結(jié)構(gòu)，僅僅是與本申請(qǐng)方案相關(guān)的部分結(jié)構(gòu)的框圖，并不構(gòu)成對(duì)本申請(qǐng)方案所應(yīng)用于其上的服務(wù)器的限定，具體的服務(wù)器可以包括比圖中所示更多或更少的部件，或者組合某些部件，或者具有不同的部件布置。圖3為一個(gè)實(shí)施例中測(cè)試用例處理方法的流程示意圖。本實(shí)施例主要以該方法應(yīng)用于上述圖1中的服務(wù)器來(lái)舉例說(shuō)明。參照?qǐng)D3，該測(cè)試用例處理方法包括如下步驟：S302，獲取測(cè)試用例標(biāo)識(shí)集合和被測(cè)函數(shù)標(biāo)識(shí)集合。其中，測(cè)試用例標(biāo)識(shí)集合是測(cè)試用例標(biāo)識(shí)構(gòu)成的集合，測(cè)試用例標(biāo)識(shí)用于唯一標(biāo)識(shí)相應(yīng)的測(cè)試用例。被測(cè)函數(shù)標(biāo)識(shí)集合是被測(cè)函數(shù)標(biāo)識(shí)構(gòu)成的集合，被測(cè)函數(shù)標(biāo)識(shí)用于唯一標(biāo)識(shí)相應(yīng)的被測(cè)函數(shù)。被測(cè)函數(shù)是被測(cè)程序的函數(shù)，通過(guò)調(diào)用被測(cè)函數(shù)可以實(shí)現(xiàn)對(duì)被測(cè)程序的測(cè)試。被測(cè)函數(shù)標(biāo)識(shí)集合可以是全量被測(cè)函數(shù)標(biāo)識(shí)構(gòu)成的集合，也可以是從全量被測(cè)函數(shù)標(biāo)識(shí)中篩選出的部分被測(cè)函數(shù)標(biāo)識(shí)構(gòu)成的集合。全量被測(cè)函數(shù)標(biāo)識(shí)，是指被測(cè)程序所有被測(cè)函數(shù)各自的標(biāo)識(shí)。測(cè)試用例標(biāo)識(shí)集合可以是全量測(cè)試用例標(biāo)識(shí)構(gòu)成的集合。S304，對(duì)于測(cè)試用例標(biāo)識(shí)集合中的每個(gè)測(cè)試用例標(biāo)識(shí)，確定針對(duì)被測(cè)函數(shù)標(biāo)識(shí)集合的測(cè)試覆蓋關(guān)系。其中，測(cè)試用例標(biāo)識(shí)相對(duì)于被測(cè)函數(shù)標(biāo)識(shí)集合的測(cè)試覆蓋關(guān)系，表示該測(cè)試用例標(biāo)識(shí)所標(biāo)識(shí)的測(cè)試用例，相對(duì)于該被測(cè)函數(shù)標(biāo)識(shí)集合所表示的該被測(cè)函數(shù)集合的測(cè)試覆蓋情況。測(cè)試覆蓋關(guān)系可以反映相應(yīng)的測(cè)試用例所能夠覆蓋的被測(cè)函數(shù)。比如，假設(shè)某測(cè)試用例涉及被測(cè)函數(shù)集合中的測(cè)試用例A和B，不涉及測(cè)試用例C，表達(dá)的就是該測(cè)試用例相對(duì)于該被測(cè)函數(shù)集合的測(cè)試覆蓋關(guān)系，也就是相應(yīng)的測(cè)試用例標(biāo)識(shí)相對(duì)于被測(cè)函數(shù)標(biāo)識(shí)集合的測(cè)試覆蓋關(guān)系。S306，將測(cè)試用例標(biāo)識(shí)集合中的測(cè)試用例標(biāo)識(shí)，按照相應(yīng)的測(cè)試覆蓋關(guān)系之間的相似度進(jìn)行聚類，獲得多于一個(gè)的測(cè)試用例標(biāo)識(shí)子集。其中，測(cè)試覆蓋關(guān)系之間的相似度，表示的是相應(yīng)的測(cè)試用例對(duì)被測(cè)函數(shù)集合的測(cè)試覆蓋情況的相似程度。相似度與測(cè)試覆蓋關(guān)系之間的相似程度正相關(guān)，也就是相似度越高，表示相應(yīng)的測(cè)試覆蓋關(guān)系更加相似。測(cè)試覆蓋關(guān)系之間的相似度可以用覆蓋的被測(cè)函數(shù)標(biāo)識(shí)的交集大小表示。比如測(cè)試覆蓋關(guān)系X表示覆蓋被測(cè)函數(shù)A、B和C，測(cè)試覆蓋關(guān)系Y表示覆蓋被測(cè)函數(shù)A、B和D，測(cè)試覆蓋關(guān)系Z表示覆蓋被測(cè)函數(shù)D、E和F。那么測(cè)試覆蓋關(guān)系X與Y由于存在交集{A，B}，相似度最高；測(cè)試覆蓋關(guān)系Y和Z存在交集{D}，相似度次之；測(cè)試覆蓋關(guān)系X和Z沒(méi)有交集，相似度最小。測(cè)試用例標(biāo)識(shí)子集是對(duì)測(cè)試用例標(biāo)識(shí)集合中的測(cè)試用例標(biāo)識(shí)進(jìn)行聚類后得到的聚類結(jié)果。聚類后測(cè)試用例標(biāo)識(shí)集合中的測(cè)試用例標(biāo)識(shí)，被劃分為不同的子集，每個(gè)子集表示一個(gè)測(cè)試用例標(biāo)識(shí)子集。每個(gè)測(cè)試用例標(biāo)識(shí)子集包括一個(gè)或多于一個(gè)的測(cè)試用例標(biāo)識(shí)。具體地，服務(wù)器可計(jì)算兩兩測(cè)試覆蓋關(guān)系之間的相似度，然后將相似度較高的測(cè)試覆蓋關(guān)系對(duì)應(yīng)的測(cè)試用例標(biāo)識(shí)聚類為相同的聚類簇，得到多于一個(gè)的測(cè)試用例標(biāo)識(shí)子集。聚類時(shí)可采用層次聚類算法、神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)聚類算法或者FCM(FuzzyC-means，一種基于目標(biāo)函數(shù)的模糊聚類算法)算法等。S308，根據(jù)測(cè)試用例標(biāo)識(shí)子集，從測(cè)試用例標(biāo)識(shí)集合中篩選出部分測(cè)試用例標(biāo)識(shí)。其中，部分測(cè)試用例標(biāo)識(shí)，是指從測(cè)試用例標(biāo)識(shí)集合中篩選出的局部的測(cè)試用例標(biāo)識(shí)。部分測(cè)試用例標(biāo)識(shí)中測(cè)試用例標(biāo)識(shí)的數(shù)量，小于測(cè)試用例標(biāo)識(shí)集合中測(cè)試用例標(biāo)識(shí)的數(shù)量。通過(guò)篩選出部分測(cè)試用例標(biāo)識(shí)，可以實(shí)現(xiàn)測(cè)試用例精簡(jiǎn)。具體地，服務(wù)器可將測(cè)試用例標(biāo)識(shí)子集發(fā)送至終端，由終端顯示測(cè)試用例標(biāo)識(shí)子集，并獲取針對(duì)顯示的測(cè)試用例標(biāo)識(shí)子集的選擇指令，根據(jù)選擇指令選擇部分測(cè)試用例標(biāo)識(shí)。進(jìn)一步地，服務(wù)器可以將篩選出的部分測(cè)試用例標(biāo)識(shí)存儲(chǔ)在本地。服務(wù)器也可以將篩選出的部分測(cè)試用例標(biāo)識(shí)發(fā)送至終端，實(shí)現(xiàn)向終端推薦精簡(jiǎn)的測(cè)試用例。上述測(cè)試用例處理方法，獲取測(cè)試用例標(biāo)識(shí)集合和被測(cè)函數(shù)標(biāo)識(shí)集合后，確定每個(gè)測(cè)試用例標(biāo)識(shí)相對(duì)于被測(cè)函數(shù)標(biāo)識(shí)集合的測(cè)試覆蓋關(guān)系，該測(cè)試覆蓋關(guān)系反映了該測(cè)試用例標(biāo)識(shí)表示的測(cè)試用例，對(duì)于被測(cè)函數(shù)標(biāo)識(shí)集合所表示的被測(cè)函數(shù)的覆蓋情況。利用測(cè)試覆蓋關(guān)系之間的相似度進(jìn)行聚類，得到若干測(cè)試用例標(biāo)識(shí)子集。根據(jù)測(cè)試用例標(biāo)識(shí)子集篩選出部分測(cè)試用例標(biāo)識(shí)，以對(duì)測(cè)試用例標(biāo)識(shí)集合進(jìn)行精簡(jiǎn)。利用精簡(jiǎn)后得到的測(cè)試用例標(biāo)識(shí)所對(duì)應(yīng)的測(cè)試用例對(duì)被測(cè)程序進(jìn)行測(cè)試，不僅可以保證測(cè)試覆蓋率，還能提高測(cè)試效率。如圖4所示，在一個(gè)實(shí)施例中，步驟S304包括如下步驟：S402，對(duì)于測(cè)試用例標(biāo)識(shí)集合中的每個(gè)測(cè)試用例標(biāo)識(shí)，分別判斷與被測(cè)函數(shù)標(biāo)識(shí)集合中的每個(gè)被測(cè)函數(shù)標(biāo)識(shí)是否存在測(cè)試對(duì)應(yīng)關(guān)系。其中，測(cè)試用例標(biāo)識(shí)與被測(cè)函數(shù)標(biāo)識(shí)之間存在測(cè)試對(duì)應(yīng)關(guān)系，表示該測(cè)試用例標(biāo)識(shí)所對(duì)應(yīng)的測(cè)試用例能夠?qū)崿F(xiàn)對(duì)該被測(cè)函數(shù)的測(cè)試。該被測(cè)函數(shù)可以存在于該測(cè)試用例中。測(cè)試用例標(biāo)識(shí)與被測(cè)函數(shù)標(biāo)識(shí)之間不存在測(cè)試對(duì)應(yīng)關(guān)系，則表示該測(cè)試用例標(biāo)識(shí)所對(duì)應(yīng)的測(cè)試用例不能夠?qū)崿F(xiàn)對(duì)該被測(cè)函數(shù)的測(cè)試。具體地，服務(wù)器可遍歷測(cè)試用例標(biāo)識(shí)集合中的每個(gè)測(cè)試用例標(biāo)識(shí)，遍歷至某測(cè)試用例標(biāo)識(shí)時(shí)，對(duì)應(yīng)于遍歷至的該測(cè)試用例標(biāo)識(shí)，再遍歷被測(cè)函數(shù)標(biāo)識(shí)集合中的每個(gè)被測(cè)函數(shù)標(biāo)識(shí)，從而判斷遍歷至的測(cè)試用例標(biāo)識(shí)和遍歷至的被測(cè)函數(shù)標(biāo)識(shí)是否存在測(cè)試對(duì)應(yīng)關(guān)系。進(jìn)一步地，服務(wù)器在判斷一個(gè)測(cè)試用例標(biāo)識(shí)和一個(gè)被測(cè)函數(shù)標(biāo)識(shí)是否存在測(cè)試對(duì)應(yīng)關(guān)系時(shí)，具體可判斷該測(cè)試用例標(biāo)識(shí)所標(biāo)識(shí)的測(cè)試用例中是否存在對(duì)該被測(cè)函數(shù)標(biāo)識(shí)的調(diào)用；若存在則可以判定存在測(cè)試對(duì)應(yīng)關(guān)系；若不存在則可判定不存在測(cè)試對(duì)應(yīng)關(guān)系。在一個(gè)實(shí)施例中，服務(wù)器也可以對(duì)于測(cè)試用例標(biāo)識(shí)集合中的每個(gè)測(cè)試用例標(biāo)識(shí)，分別在預(yù)設(shè)的測(cè)試對(duì)應(yīng)關(guān)系集合中，查詢與被測(cè)函數(shù)標(biāo)識(shí)集合中的每個(gè)被測(cè)函數(shù)標(biāo)識(shí)是否存在測(cè)試對(duì)應(yīng)關(guān)系。S404，根據(jù)是否存在測(cè)試對(duì)應(yīng)關(guān)系的判斷結(jié)果，確定與測(cè)試用例標(biāo)識(shí)集合中的每個(gè)測(cè)試用例標(biāo)識(shí)相應(yīng)的針對(duì)被測(cè)函數(shù)標(biāo)識(shí)集合的測(cè)試覆蓋關(guān)系。具體地，服務(wù)器在判斷出每個(gè)測(cè)試用例標(biāo)識(shí)與每個(gè)被測(cè)函數(shù)標(biāo)識(shí)是否存在測(cè)試對(duì)應(yīng)關(guān)系后，可以將對(duì)應(yīng)相同測(cè)試用例標(biāo)識(shí)的是否存在測(cè)試對(duì)應(yīng)關(guān)系的判斷結(jié)果整合，得到對(duì)應(yīng)該相同測(cè)試用例標(biāo)識(shí)的、且針對(duì)被測(cè)函數(shù)標(biāo)識(shí)集合的測(cè)試覆蓋關(guān)系。本實(shí)施例中，可準(zhǔn)確地衡量測(cè)試覆蓋關(guān)系，根據(jù)該測(cè)試覆蓋關(guān)系可以準(zhǔn)確地從測(cè)試用例標(biāo)識(shí)集合中篩選出部分測(cè)試用例標(biāo)識(shí)，提高了測(cè)試用例精簡(jiǎn)的準(zhǔn)確性和效率。如圖5所示，在一個(gè)實(shí)施例中，步驟S402具體包括如下步驟：S502，獲取測(cè)試用例標(biāo)識(shí)和被測(cè)函數(shù)標(biāo)識(shí)之間的根據(jù)歷史測(cè)試記錄確定的測(cè)試對(duì)應(yīng)關(guān)系集合。其中，歷史測(cè)試記錄，是執(zhí)行本實(shí)施例的測(cè)試用例處理方法之前，對(duì)被測(cè)程序進(jìn)行測(cè)試時(shí)保留的相關(guān)記錄。歷史測(cè)試記錄至少直接或間接記錄了測(cè)試用例標(biāo)識(shí)和被測(cè)函數(shù)標(biāo)識(shí)之間的測(cè)試對(duì)應(yīng)關(guān)系。具體地，服務(wù)器可預(yù)先收集歷史測(cè)試記錄，從而從歷史測(cè)試記錄中提取測(cè)試用例標(biāo)識(shí)和被測(cè)函數(shù)標(biāo)識(shí)之間的測(cè)試對(duì)應(yīng)關(guān)系，構(gòu)成測(cè)試對(duì)應(yīng)關(guān)系集合。該測(cè)試對(duì)應(yīng)關(guān)系集合包括了若干測(cè)試對(duì)應(yīng)關(guān)系。每個(gè)測(cè)試對(duì)應(yīng)關(guān)系可用存在測(cè)試對(duì)應(yīng)關(guān)系的測(cè)試用例標(biāo)識(shí)和被測(cè)函數(shù)標(biāo)識(shí)之間的映射關(guān)系表示。S504，對(duì)于測(cè)試用例標(biāo)識(shí)集合中的每個(gè)測(cè)試用例標(biāo)識(shí)，分別在測(cè)試對(duì)應(yīng)關(guān)系集合中，查詢與被測(cè)函數(shù)標(biāo)識(shí)集合中的每個(gè)被測(cè)函數(shù)標(biāo)識(shí)是否存在測(cè)試對(duì)應(yīng)關(guān)系。具體地，服務(wù)器可遍歷測(cè)試用例標(biāo)識(shí)集合中的每個(gè)測(cè)試用例標(biāo)識(shí)，遍歷至某測(cè)試用例標(biāo)識(shí)時(shí)，對(duì)應(yīng)于遍歷至的該測(cè)試用例標(biāo)識(shí)，再遍歷被測(cè)函數(shù)標(biāo)識(shí)集合中的每個(gè)被測(cè)函數(shù)標(biāo)識(shí)，從而判斷遍歷至的測(cè)試用例標(biāo)識(shí)和遍歷至的被測(cè)函數(shù)標(biāo)識(shí)的測(cè)試對(duì)應(yīng)關(guān)系是否存在于測(cè)試對(duì)應(yīng)關(guān)系集合中。若存在，則可判定遍歷至的測(cè)試用例標(biāo)識(shí)和遍歷至的被測(cè)函數(shù)標(biāo)識(shí)存在測(cè)試對(duì)應(yīng)關(guān)系。若不存在，則可判定該遍歷至的測(cè)試用例標(biāo)識(shí)和遍歷至的被測(cè)函數(shù)標(biāo)識(shí)不存在對(duì)應(yīng)關(guān)系。本實(shí)施例中，根據(jù)歷史測(cè)試記錄確可以確定測(cè)試對(duì)應(yīng)關(guān)系集合，從而可以據(jù)此高效地查詢測(cè)試用例標(biāo)識(shí)和被測(cè)函數(shù)標(biāo)識(shí)之間的測(cè)試對(duì)應(yīng)關(guān)系，從而進(jìn)一步提高精簡(jiǎn)測(cè)試用例的效率。在一個(gè)實(shí)施例中，步驟S308包括：從每個(gè)測(cè)試用例標(biāo)識(shí)子集中選擇至少一個(gè)測(cè)試用例標(biāo)識(shí)，獲得測(cè)試用例標(biāo)識(shí)集合中的部分測(cè)試用例標(biāo)識(shí)。具體地，服務(wù)器可遍歷每個(gè)測(cè)試用例標(biāo)識(shí)子集，若遍歷至的測(cè)試用例標(biāo)識(shí)子集中的測(cè)試用例標(biāo)識(shí)為一個(gè)，則選擇該一個(gè)測(cè)試用例標(biāo)識(shí)；若遍歷至的測(cè)試用例標(biāo)識(shí)子集中的測(cè)試用例標(biāo)識(shí)為多個(gè)，則選擇一個(gè)或多于一個(gè)的測(cè)試用例標(biāo)識(shí)。遍歷完畢后，將每個(gè)遍歷至的測(cè)試用例標(biāo)識(shí)子集中篩選出的測(cè)試用例標(biāo)識(shí)，構(gòu)成測(cè)試用例標(biāo)識(shí)集合中的部分測(cè)試用例標(biāo)識(shí)。其中，一個(gè)或多于一個(gè)的測(cè)試用例標(biāo)識(shí)，可以是與相應(yīng)的測(cè)試用例標(biāo)識(shí)子集的聚類中心最近的一個(gè)或多個(gè)測(cè)試用例標(biāo)識(shí)。一個(gè)或多個(gè)測(cè)試用例標(biāo)識(shí)的數(shù)量可以是預(yù)設(shè)的，也可以是根據(jù)測(cè)試覆蓋率動(dòng)態(tài)確定的。測(cè)試覆蓋率，表示與篩選出的部分測(cè)試用例標(biāo)識(shí)存在測(cè)試對(duì)應(yīng)關(guān)系的測(cè)試用例標(biāo)識(shí)，占測(cè)試用例標(biāo)識(shí)集合的比例。本實(shí)施例中，從每個(gè)測(cè)試用例標(biāo)識(shí)子集中選擇至少一個(gè)測(cè)試用例標(biāo)識(shí)，獲得測(cè)試用例標(biāo)識(shí)集合中的部分測(cè)試用例標(biāo)識(shí)，可以盡可能保證足夠大的測(cè)試覆蓋率，并實(shí)現(xiàn)測(cè)試用例精簡(jiǎn)，提高測(cè)試效率。在一個(gè)實(shí)施例中，步驟S308包括：對(duì)于包括多于一個(gè)的測(cè)試用例標(biāo)識(shí)的測(cè)試用例標(biāo)識(shí)子集，從指定數(shù)量為1起，從每個(gè)測(cè)試用例標(biāo)識(shí)子集中挑選指定數(shù)量的測(cè)試用例標(biāo)識(shí)，與僅包括一個(gè)測(cè)試用例標(biāo)識(shí)的測(cè)試用例標(biāo)識(shí)子集構(gòu)成部分測(cè)試用例標(biāo)識(shí)，計(jì)算測(cè)試覆蓋率。若測(cè)試覆蓋率達(dá)到預(yù)設(shè)值則停止，若測(cè)試覆蓋率未達(dá)到預(yù)設(shè)值則將指定數(shù)量自增1后，繼續(xù)從每個(gè)測(cè)試用例標(biāo)識(shí)子集中挑選指定數(shù)量的測(cè)試用例標(biāo)識(shí)，與僅包括一個(gè)測(cè)試用例標(biāo)識(shí)的測(cè)試用例標(biāo)識(shí)子集構(gòu)成部分測(cè)試用例標(biāo)識(shí)，計(jì)算測(cè)試覆蓋率，直至測(cè)試覆蓋率達(dá)到預(yù)設(shè)值時(shí)停止。如圖6所示，在一個(gè)實(shí)施例中，步驟S306包括以下步驟：S602，獲取表示每個(gè)測(cè)試用例標(biāo)識(shí)所對(duì)應(yīng)的測(cè)試覆蓋關(guān)系的數(shù)值化對(duì)象。其中，數(shù)值化對(duì)象，是將測(cè)試覆蓋關(guān)系數(shù)值化后的數(shù)據(jù)。對(duì)于每個(gè)測(cè)試用例標(biāo)識(shí)，存在與之一一對(duì)應(yīng)的數(shù)值化對(duì)象，表示與該測(cè)試用例標(biāo)識(shí)一一對(duì)應(yīng)的測(cè)試覆蓋關(guān)系。數(shù)值化對(duì)象具體可以是坐標(biāo)點(diǎn)、向量或者二值化序列。坐標(biāo)點(diǎn)和向量中各個(gè)維度的取值可以是兩種值中的一種。在一個(gè)實(shí)施例中，步驟S602包括：獲取分別表示每個(gè)測(cè)試覆蓋關(guān)系的坐標(biāo)點(diǎn)，坐標(biāo)點(diǎn)的維度的數(shù)量等于被測(cè)函數(shù)標(biāo)識(shí)集合中被測(cè)函數(shù)標(biāo)識(shí)的數(shù)量，且每個(gè)維度在相應(yīng)的被測(cè)函數(shù)標(biāo)識(shí)與坐標(biāo)點(diǎn)對(duì)應(yīng)的測(cè)試用例標(biāo)識(shí)之間存在或者不存在測(cè)試對(duì)應(yīng)關(guān)系時(shí)分別取不同的數(shù)值。舉例說(shuō)明，假設(shè)每個(gè)測(cè)試用例標(biāo)識(shí)所對(duì)應(yīng)的測(cè)試覆蓋關(guān)系如下表一：case\funcfunc1func2func3func4…funcMcase11001…1case20011…1case31101…1case41000…0case51101…0…………………caseN0011…1上表一中，case1～caseN均為測(cè)試用例標(biāo)識(shí)，構(gòu)成包括N個(gè)測(cè)試用例標(biāo)識(shí)的測(cè)試用例標(biāo)識(shí)集合，N為大于1的正整數(shù)。func1～funcM均為被測(cè)函數(shù)標(biāo)識(shí)，構(gòu)成包括M個(gè)被測(cè)函數(shù)標(biāo)識(shí)的被測(cè)函數(shù)標(biāo)識(shí)集合。上述表一的行列交叉處的數(shù)值，表示相應(yīng)的測(cè)試用例標(biāo)識(shí)與相應(yīng)的被測(cè)函數(shù)標(biāo)識(shí)之間是否存在測(cè)試對(duì)應(yīng)關(guān)系，用兩種數(shù)值分別表示存在和不存在測(cè)試對(duì)應(yīng)關(guān)系。比如當(dāng)數(shù)值為1時(shí)可表示存在測(cè)試對(duì)應(yīng)關(guān)系，當(dāng)數(shù)值為0時(shí)表示不存在測(cè)試對(duì)應(yīng)關(guān)系。對(duì)應(yīng)于case1，可按照指定的被測(cè)函數(shù)標(biāo)識(shí)排序，將相應(yīng)的是否存在對(duì)應(yīng)關(guān)系的判斷結(jié)果數(shù)值化，構(gòu)成坐標(biāo)點(diǎn)(1，0，0，1，…，1)，或構(gòu)成向量[1001…1]，或構(gòu)成二值化序列1001…1。其中，坐標(biāo)點(diǎn)的總數(shù)量為N，每個(gè)坐標(biāo)點(diǎn)的維度數(shù)量為M，每個(gè)維度取1和0中的一種，表示相應(yīng)的測(cè)試用例標(biāo)識(shí)和相應(yīng)的被測(cè)函數(shù)標(biāo)識(shí)是否存在測(cè)試對(duì)應(yīng)關(guān)系。S604，將數(shù)值化對(duì)象按照數(shù)值化對(duì)象之間的相似度進(jìn)行聚類，獲得多于一個(gè)的數(shù)值化對(duì)象聚類簇。具體地，當(dāng)數(shù)值化對(duì)象為坐標(biāo)點(diǎn)時(shí)，數(shù)值化對(duì)象之間的相似度可采用坐標(biāo)點(diǎn)之間的歐式距離表示，相應(yīng)的數(shù)值化對(duì)象聚類簇為坐標(biāo)點(diǎn)聚類簇。當(dāng)數(shù)值化對(duì)象為向量時(shí)，數(shù)值化對(duì)象之間的相似度可采用向量之間的余弦相似度，相應(yīng)的數(shù)值化對(duì)象聚類簇為向量聚類簇。當(dāng)數(shù)值化對(duì)象為二值化序列時(shí)，數(shù)值化對(duì)象之間的相似度可采用漢明距離，相應(yīng)的數(shù)值化對(duì)象聚類簇為二值化序列聚類簇。S606，根據(jù)數(shù)值化對(duì)象聚類簇獲得相應(yīng)的測(cè)試用例標(biāo)識(shí)子集。具體地，在確定數(shù)值化對(duì)象聚類簇后，可根據(jù)數(shù)值化對(duì)象與測(cè)試用例標(biāo)識(shí)之間的一一對(duì)應(yīng)關(guān)系，將數(shù)值化對(duì)象聚類簇轉(zhuǎn)化為測(cè)試用例標(biāo)識(shí)子集。進(jìn)一步地，服務(wù)器可獲取每個(gè)數(shù)值化對(duì)象聚類簇中的數(shù)值化對(duì)象所對(duì)應(yīng)的測(cè)試用例標(biāo)識(shí)，構(gòu)成與每個(gè)數(shù)值化對(duì)象聚類簇相應(yīng)的測(cè)試用例標(biāo)識(shí)子集。本實(shí)施例中，將測(cè)試覆蓋關(guān)系數(shù)值化后進(jìn)行聚類，可高效地對(duì)數(shù)值化對(duì)象進(jìn)行聚類，從而高效地得到測(cè)試用例標(biāo)識(shí)子集，提高精簡(jiǎn)測(cè)試用例的效率。如圖7所示，在一個(gè)實(shí)施例中，步驟S604具體包括如下步驟：S702，將數(shù)值化對(duì)象按照數(shù)值化對(duì)象之間的相似度劃分為兩個(gè)數(shù)值化對(duì)象聚類簇，得到每個(gè)數(shù)值化對(duì)象聚類簇的聚類中心。具體地，服務(wù)器可將所有的數(shù)值化對(duì)象作為一個(gè)數(shù)值化對(duì)象聚類簇，求取該數(shù)值化對(duì)象聚類簇的聚類中心。服務(wù)器將該數(shù)值化對(duì)象聚類簇劃分為兩個(gè)數(shù)值化對(duì)象聚類簇，并得到劃分出的兩個(gè)數(shù)值化對(duì)象聚類簇各自的聚類中心。具體地，服務(wù)器可將所有的坐標(biāo)點(diǎn)構(gòu)成一個(gè)坐標(biāo)點(diǎn)聚類簇，求取坐標(biāo)點(diǎn)聚類簇中所有坐標(biāo)點(diǎn)的均值得到作為聚類中心的中心坐標(biāo)點(diǎn)。服務(wù)器進(jìn)而將該一個(gè)坐標(biāo)點(diǎn)聚類簇劃分為兩個(gè)坐標(biāo)點(diǎn)聚類簇，并計(jì)算劃分出的每個(gè)坐標(biāo)點(diǎn)聚類簇的中心坐標(biāo)點(diǎn)作為相應(yīng)的聚類中心。S704，當(dāng)數(shù)值化對(duì)象聚類簇的總數(shù)少于預(yù)設(shè)數(shù)量時(shí)，輪次將每個(gè)數(shù)值化對(duì)象聚類簇按照數(shù)值化對(duì)象之間的相似度劃分為兩個(gè)候選聚類簇，得到每個(gè)候選聚類簇的聚類中心。具體地，服務(wù)器可獲取當(dāng)前數(shù)值化對(duì)象聚類簇的總數(shù)k，與預(yù)設(shè)數(shù)量K比較。當(dāng)k＜K時(shí)，輪次對(duì)當(dāng)前每個(gè)數(shù)值化對(duì)象聚類簇進(jìn)行一分為二的劃分，每次劃分所針對(duì)的數(shù)值化對(duì)象聚類簇都劃分出兩個(gè)候選聚類簇。其中，預(yù)設(shè)數(shù)量可取測(cè)試用例標(biāo)識(shí)集合中測(cè)試用例標(biāo)識(shí)總數(shù)的10％～50％.S706，根據(jù)候選聚類簇和相應(yīng)的聚類中心，和未劃分的數(shù)值化對(duì)象聚類簇及相應(yīng)的聚類中心，計(jì)算方差和。具體地，服務(wù)器可將候選聚類簇和當(dāng)次未劃分的數(shù)值化對(duì)象聚類簇作為當(dāng)前所有的數(shù)值化對(duì)象聚類簇，根據(jù)每個(gè)數(shù)值化對(duì)象聚類簇和相應(yīng)的聚類中心計(jì)算相應(yīng)的方差，將每個(gè)計(jì)算出的方差求和得到方差和。舉例說(shuō)明，假設(shè)當(dāng)前有k個(gè)坐標(biāo)點(diǎn)聚類簇，分別對(duì)每個(gè)坐標(biāo)點(diǎn)聚類簇進(jìn)行一分為二的劃分，則的到2個(gè)候選聚類簇，加上當(dāng)次未劃分的k-1個(gè)坐標(biāo)點(diǎn)聚類簇，構(gòu)成k+1個(gè)聚類簇和相應(yīng)的聚類中心。計(jì)算該k+1個(gè)聚類簇的方差和。S708，將對(duì)應(yīng)最小方差和的候選聚類簇作為本次劃分出的數(shù)值化對(duì)象聚類簇。具體地，服務(wù)器可從計(jì)算出的方差和中，找出最小的方差和，從而將與該最小的方差和對(duì)應(yīng)的候選聚類簇作為本次劃分出的數(shù)值化對(duì)象聚類簇。其它劃分方式則丟棄。執(zhí)行步驟S708后，繼續(xù)判斷數(shù)值化對(duì)象聚類簇的總數(shù)是否少于預(yù)設(shè)數(shù)量。S710，當(dāng)數(shù)值化對(duì)象聚類簇的總數(shù)等于預(yù)設(shè)數(shù)量時(shí)，輸出當(dāng)前所有的數(shù)值化對(duì)象聚類簇。具體地，服務(wù)器可獲取當(dāng)前數(shù)值化對(duì)象聚類簇的總數(shù)k，與預(yù)設(shè)數(shù)量K比較。當(dāng)k＝K時(shí)，直接輸出當(dāng)前所有的數(shù)值化對(duì)象聚類簇。本實(shí)施例中，根據(jù)數(shù)值化對(duì)象之間的相似度，從少到多逐步劃分出預(yù)設(shè)數(shù)量的數(shù)值化對(duì)象聚類簇，可以保證相同數(shù)值化對(duì)象聚類簇內(nèi)的數(shù)值化對(duì)象足夠相似，不同數(shù)值化對(duì)象聚類簇之間的數(shù)值化對(duì)象足夠差異化，從而在精簡(jiǎn)測(cè)試用例時(shí)可以盡可能保證測(cè)試覆蓋率。如圖8所示，在一個(gè)實(shí)施例中，輪次將每個(gè)數(shù)值化對(duì)象聚類簇按照數(shù)值化對(duì)象之間的相似度劃分為兩個(gè)候選聚類簇，得到每個(gè)候選聚類簇的聚類中心具體的步驟，包括如下步驟：S802，輪次在每個(gè)數(shù)值化對(duì)象聚類簇中，隨機(jī)選擇兩個(gè)數(shù)值化對(duì)象作為需劃分出的兩個(gè)候選聚類簇各自的聚類中心。具體地，服務(wù)器輪次執(zhí)行步驟S802至步驟S808或S810。服務(wù)器在當(dāng)次劃分所針對(duì)的數(shù)值化對(duì)象聚類簇中，隨機(jī)選擇兩個(gè)數(shù)值化對(duì)象，該兩個(gè)數(shù)值化對(duì)象假設(shè)為兩個(gè)候選聚類簇各自的聚類中心。S804，將當(dāng)次的數(shù)值化對(duì)象聚類簇中的數(shù)值化對(duì)象，歸類到相似度最高的聚類中心所屬的候選聚類簇。具體地，作為聚類中心的兩個(gè)數(shù)值化對(duì)象，自然屬于相應(yīng)的候選聚類簇。對(duì)于數(shù)值化對(duì)象聚類簇中除去兩個(gè)聚類中心的其它數(shù)值化對(duì)象，則分別計(jì)算與兩個(gè)聚類中心之間的相似度，從而將這些數(shù)值化對(duì)象均歸類到與之相似度最高的聚類中心所屬的候選聚類簇。S806，計(jì)算歸類后每個(gè)候選聚類簇的聚類中心。S808，當(dāng)計(jì)算出的聚類中心與當(dāng)次歸類所用的相應(yīng)聚類中心不一致時(shí)，重新執(zhí)行步驟S804。S810，當(dāng)計(jì)算出的聚類中心與當(dāng)次歸類所用的相應(yīng)聚類中心一致時(shí)，輸出當(dāng)前劃分出的候選聚類簇。具體地，計(jì)算出歸類后兩個(gè)候選聚類簇各自的聚類中心后，將計(jì)算出的聚類中心分別與當(dāng)次歸類所用的兩個(gè)聚類中心中相對(duì)應(yīng)的聚類中心比較。如果經(jīng)比較不一致，說(shuō)明當(dāng)前劃分出的候選聚類簇不是最優(yōu)的，需要基于計(jì)算出的聚類中心重新劃分候選聚類簇。如果經(jīng)比較一致，則說(shuō)明當(dāng)前劃分出的候選聚類簇是最優(yōu)的，可以直接輸出。本實(shí)施例中，在從數(shù)值化對(duì)象聚類簇中劃分候選聚類簇時(shí)，采用上述步驟S802至步驟S808或S810，可以找到最優(yōu)的劃分方式劃分出相應(yīng)的候選聚類簇，保證相同數(shù)值化對(duì)象聚類簇內(nèi)的數(shù)值化對(duì)象足夠相似，從而能夠有效地實(shí)現(xiàn)測(cè)試用例的精簡(jiǎn)。下面用一個(gè)具體的應(yīng)用場(chǎng)景來(lái)說(shuō)明上述測(cè)試用例處理方法的原理。參照?qǐng)D9，已知測(cè)試用例標(biāo)識(shí)集合，輸入被測(cè)函數(shù)標(biāo)識(shí)集合以及測(cè)試對(duì)應(yīng)關(guān)系集合，啟動(dòng)測(cè)試用例聚類推薦。根據(jù)測(cè)試對(duì)應(yīng)關(guān)系集合初始化，查詢測(cè)試用例標(biāo)識(shí)集合中的每個(gè)測(cè)試用例標(biāo)識(shí)與被測(cè)函數(shù)標(biāo)識(shí)集合中的每個(gè)被測(cè)函數(shù)標(biāo)識(shí)是否存在測(cè)試對(duì)應(yīng)關(guān)系，得到相應(yīng)的測(cè)試覆蓋關(guān)系；用兩種數(shù)值(1或0)來(lái)表示該測(cè)試覆蓋關(guān)系，將該測(cè)試覆蓋關(guān)系轉(zhuǎn)化為坐標(biāo)點(diǎn)。從k＝1個(gè)坐標(biāo)點(diǎn)聚類簇起，通過(guò)聚類運(yùn)算選擇最合適的坐標(biāo)點(diǎn)聚類簇拆分，k自增1，直至k＜K時(shí)停止聚類，輸出聚類得到的坐標(biāo)點(diǎn)聚類簇，從而得到相應(yīng)的測(cè)試用例標(biāo)識(shí)子集并推薦。圖10為一個(gè)實(shí)施例中測(cè)試用例處理裝置1000的結(jié)構(gòu)框圖。參照?qǐng)D10，測(cè)試用例處理裝置1000包括：獲取模塊1001、測(cè)試覆蓋關(guān)系確定模塊1002、聚類模塊1003和測(cè)試用例篩選模塊1004。獲取模塊1001，用于獲取測(cè)試用例標(biāo)識(shí)集合和被測(cè)函數(shù)標(biāo)識(shí)集合。測(cè)試覆蓋關(guān)系確定模塊1002，用于對(duì)于測(cè)試用例標(biāo)識(shí)集合中的每個(gè)測(cè)試用例標(biāo)識(shí)，確定針對(duì)被測(cè)函數(shù)標(biāo)識(shí)集合的測(cè)試覆蓋關(guān)系。聚類模塊1003，用于將測(cè)試用例標(biāo)識(shí)集合中的測(cè)試用例標(biāo)識(shí)，按照相應(yīng)的測(cè)試覆蓋關(guān)系之間的相似度進(jìn)行聚類，獲得多于一個(gè)的測(cè)試用例標(biāo)識(shí)子集。測(cè)試用例篩選模塊1004，用于根據(jù)測(cè)試用例標(biāo)識(shí)子集，從測(cè)試用例標(biāo)識(shí)集合中篩選出部分測(cè)試用例標(biāo)識(shí)。上述測(cè)試用例處理裝置1000，獲取測(cè)試用例標(biāo)識(shí)集合和被測(cè)函數(shù)標(biāo)識(shí)集合后，確定每個(gè)測(cè)試用例標(biāo)識(shí)相對(duì)于被測(cè)函數(shù)標(biāo)識(shí)集合的測(cè)試覆蓋關(guān)系，該測(cè)試覆蓋關(guān)系反映了該測(cè)試用例標(biāo)識(shí)表示的測(cè)試用例，對(duì)于被測(cè)函數(shù)標(biāo)識(shí)集合所表示的被測(cè)函數(shù)的覆蓋情況。利用測(cè)試覆蓋關(guān)系之間的相似度進(jìn)行聚類，得到若干測(cè)試用例標(biāo)識(shí)子集。根據(jù)測(cè)試用例標(biāo)識(shí)子集篩選出部分測(cè)試用例標(biāo)識(shí)，以對(duì)測(cè)試用例標(biāo)識(shí)集合進(jìn)行精簡(jiǎn)。利用精簡(jiǎn)后得到的測(cè)試用例標(biāo)識(shí)所對(duì)應(yīng)的測(cè)試用例對(duì)被測(cè)程序進(jìn)行測(cè)試，不僅可以保證測(cè)試覆蓋率，還能提高測(cè)試效率。在一個(gè)實(shí)施例中，測(cè)試覆蓋關(guān)系確定模塊1002還用于對(duì)于測(cè)試用例標(biāo)識(shí)集合中的每個(gè)測(cè)試用例標(biāo)識(shí)，分別判斷與被測(cè)函數(shù)標(biāo)識(shí)集合中的每個(gè)被測(cè)函數(shù)標(biāo)識(shí)是否存在測(cè)試對(duì)應(yīng)關(guān)系；根據(jù)與測(cè)試用例標(biāo)識(shí)集合中的每個(gè)測(cè)試用例標(biāo)識(shí)相應(yīng)的是否存在測(cè)試對(duì)應(yīng)關(guān)系的判斷結(jié)果，確定與每個(gè)測(cè)試用例標(biāo)識(shí)相應(yīng)的針對(duì)被測(cè)函數(shù)標(biāo)識(shí)集合的測(cè)試覆蓋關(guān)系。本實(shí)施例中，可準(zhǔn)確地衡量測(cè)試覆蓋關(guān)系，根據(jù)該測(cè)試覆蓋關(guān)系可以準(zhǔn)確地從測(cè)試用例標(biāo)識(shí)集合中篩選出部分測(cè)試用例標(biāo)識(shí)，提高了測(cè)試用例精簡(jiǎn)的準(zhǔn)確性和效率。在一個(gè)實(shí)施例中，測(cè)試覆蓋關(guān)系確定模塊1002還用于獲取測(cè)試用例標(biāo)識(shí)和被測(cè)函數(shù)標(biāo)識(shí)之間的根據(jù)歷史測(cè)試記錄確定的測(cè)試對(duì)應(yīng)關(guān)系集合；對(duì)于測(cè)試用例標(biāo)識(shí)集合中的每個(gè)測(cè)試用例標(biāo)識(shí)，分別在測(cè)試對(duì)應(yīng)關(guān)系集合中，查詢與被測(cè)函數(shù)標(biāo)識(shí)集合中的每個(gè)被測(cè)函數(shù)標(biāo)識(shí)是否存在測(cè)試對(duì)應(yīng)關(guān)系。本實(shí)施例中，根據(jù)歷史測(cè)試記錄確可以確定測(cè)試對(duì)應(yīng)關(guān)系集合，從而可以據(jù)此高效地查詢測(cè)試用例標(biāo)識(shí)和被測(cè)函數(shù)標(biāo)識(shí)之間的測(cè)試對(duì)應(yīng)關(guān)系，從而進(jìn)一步提高精簡(jiǎn)測(cè)試用例的效率。在一個(gè)實(shí)施例中，測(cè)試用例篩選模塊1004還用于從每個(gè)測(cè)試用例標(biāo)識(shí)子集中選擇至少一個(gè)測(cè)試用例標(biāo)識(shí)，獲得測(cè)試用例標(biāo)識(shí)集合中的部分測(cè)試用例標(biāo)識(shí)。本實(shí)施例中，從每個(gè)測(cè)試用例標(biāo)識(shí)子集中選擇至少一個(gè)測(cè)試用例標(biāo)識(shí)，獲得測(cè)試用例標(biāo)識(shí)集合中的部分測(cè)試用例標(biāo)識(shí)，可以盡可能保證足夠大的測(cè)試覆蓋率，并實(shí)現(xiàn)測(cè)試用例精簡(jiǎn)，提高測(cè)試效率。在一個(gè)實(shí)施例中，聚類模塊1003還用于獲取表示每個(gè)測(cè)試用例標(biāo)識(shí)所對(duì)應(yīng)的測(cè)試覆蓋關(guān)系的數(shù)值化對(duì)象；將數(shù)值化對(duì)象按照數(shù)值化對(duì)象之間的相似度進(jìn)行聚類，獲得多于一個(gè)的數(shù)值化對(duì)象聚類簇；根據(jù)數(shù)值化對(duì)象聚類簇獲得相應(yīng)的測(cè)試用例標(biāo)識(shí)子集。本實(shí)施例中，將測(cè)試覆蓋關(guān)系數(shù)值化后進(jìn)行聚類，可高效地對(duì)數(shù)值化對(duì)象進(jìn)行聚類，從而高效地得到測(cè)試用例標(biāo)識(shí)子集，提高精簡(jiǎn)測(cè)試用例的效率。在一個(gè)實(shí)施例中，數(shù)值化對(duì)象為坐標(biāo)點(diǎn)，數(shù)值化對(duì)象之間的相似度為坐標(biāo)點(diǎn)之間的歐式距離，數(shù)值化對(duì)象聚類簇為坐標(biāo)點(diǎn)聚類簇。在一個(gè)實(shí)施例中，測(cè)試覆蓋關(guān)系，表示相應(yīng)的測(cè)試用例標(biāo)識(shí)與被測(cè)函數(shù)標(biāo)識(shí)集合中的每個(gè)被測(cè)函數(shù)標(biāo)識(shí)是否存在測(cè)試對(duì)應(yīng)關(guān)系。聚類模塊1003還用于獲取分別表示每個(gè)測(cè)試覆蓋關(guān)系的坐標(biāo)點(diǎn)，坐標(biāo)點(diǎn)的維度的數(shù)量等于被測(cè)函數(shù)標(biāo)識(shí)集合中被測(cè)函數(shù)標(biāo)識(shí)的數(shù)量，且每個(gè)維度在相應(yīng)的被測(cè)函數(shù)標(biāo)識(shí)與坐標(biāo)點(diǎn)對(duì)應(yīng)的測(cè)試用例標(biāo)識(shí)之間存在或者不存在測(cè)試對(duì)應(yīng)關(guān)系時(shí)分別取不同的數(shù)值。在一個(gè)實(shí)施例中，聚類模塊1003還用于將數(shù)值化對(duì)象按照數(shù)值化對(duì)象之間的相似度劃分為兩個(gè)數(shù)值化對(duì)象聚類簇，得到每個(gè)數(shù)值化對(duì)象聚類簇的聚類中心；當(dāng)數(shù)值化對(duì)象聚類簇的總數(shù)少于預(yù)設(shè)數(shù)量時(shí)，輪次將每個(gè)數(shù)值化對(duì)象聚類簇按照數(shù)值化對(duì)象之間的相似度劃分為兩個(gè)候選聚類簇，得到每個(gè)候選聚類簇的聚類中心；根據(jù)候選聚類簇和相應(yīng)的聚類中心，和未劃分的數(shù)值化對(duì)象聚類簇及相應(yīng)的聚類中心，計(jì)算方差和；將對(duì)應(yīng)最小方差和的候選聚類簇作為本次劃分出的數(shù)值化對(duì)象聚類簇；當(dāng)數(shù)值化對(duì)象聚類簇的總數(shù)等于預(yù)設(shè)數(shù)量時(shí)，輸出當(dāng)前所有的數(shù)值化對(duì)象聚類簇。本實(shí)施例中，根據(jù)數(shù)值化對(duì)象之間的相似度，從少到多逐步劃分出預(yù)設(shè)數(shù)量的數(shù)值化對(duì)象聚類簇，可以保證相同數(shù)值化對(duì)象聚類簇內(nèi)的數(shù)值化對(duì)象足夠相似，不同數(shù)值化對(duì)象聚類簇之間的數(shù)值化對(duì)象足夠差異化，從而在精簡(jiǎn)測(cè)試用例時(shí)可以盡可能保證測(cè)試覆蓋率。在一個(gè)實(shí)施例中，聚類模塊1003還用于輪次在每個(gè)數(shù)值化對(duì)象聚類簇中，隨機(jī)選擇兩個(gè)數(shù)值化對(duì)象作為需劃分出的兩個(gè)候選聚類簇各自的聚類中心；將當(dāng)次的數(shù)值化對(duì)象聚類簇中的數(shù)值化對(duì)象，歸類到相似度最高的聚類中心所屬的候選聚類簇；計(jì)算歸類后每個(gè)候選聚類簇的聚類中心；當(dāng)計(jì)算出的聚類中心與當(dāng)次歸類所用的相應(yīng)聚類中心不一致時(shí)，重新執(zhí)行將當(dāng)次的數(shù)值化對(duì)象聚類簇中的數(shù)值化對(duì)象，歸類到相似度最高的聚類中心所屬的候選聚類簇；當(dāng)計(jì)算出的聚類中心與當(dāng)次歸類所用的相應(yīng)聚類中心一致時(shí)，輸出當(dāng)前劃分出的候選聚類簇。本實(shí)施例中，可以找到最優(yōu)的劃分方式劃分出相應(yīng)的候選聚類簇，保證相同數(shù)值化對(duì)象聚類簇內(nèi)的數(shù)值化對(duì)象足夠相似，從而能夠有效地實(shí)現(xiàn)測(cè)試用例的精簡(jiǎn)。本領(lǐng)域普通技術(shù)人員可以理解實(shí)現(xiàn)上述實(shí)施例方法中的全部或部分流程，是可以通過(guò)計(jì)算機(jī)程序來(lái)指令相關(guān)的硬件來(lái)完成，該計(jì)算機(jī)程序可存儲(chǔ)于一計(jì)算機(jī)可讀取存儲(chǔ)介質(zhì)中，該程序在執(zhí)行時(shí)，可包括如上述各方法的實(shí)施例的流程。其中，前述的存儲(chǔ)介質(zhì)可為磁碟、光盤(pán)、只讀存儲(chǔ)記憶體(Read-OnlyMemory，ROM)等非易失性存儲(chǔ)介質(zhì)，或隨機(jī)存儲(chǔ)記憶體(RandomAccessMemory，RAM)等。以上實(shí)施例的各技術(shù)特征可以進(jìn)行任意的組合，為使描述簡(jiǎn)潔，未對(duì)上述實(shí)施例中的各個(gè)技術(shù)特征所有可能的組合都進(jìn)行描述，然而，只要這些技術(shù)特征的組合不存在矛盾，都應(yīng)當(dāng)認(rèn)為是本說(shuō)明書(shū)記載的范圍。以上實(shí)施例僅表達(dá)了本發(fā)明的幾種實(shí)施方式，其描述較為具體和詳細(xì)，但并不能因此而理解為對(duì)發(fā)明專利范圍的限制。應(yīng)當(dāng)指出的是，對(duì)于本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員來(lái)說(shuō)，在不脫離本發(fā)明構(gòu)思的前提下，還可以做出若干變形和改進(jìn)，這些都屬于本發(fā)明的保護(hù)范圍。因此，本發(fā)明專利的保護(hù)范圍應(yīng)以所附權(quán)利要求為準(zhǔn)。當(dāng)前第1頁(yè)1 2 3