本發(fā)明涉及服務器
技術領域：
，特別涉及一種服務器內(nèi)存測試方法及裝置。
背景技術：
：服務器內(nèi)存是數(shù)據(jù)與處理器進行溝通的橋梁。服務器內(nèi)存一旦無法進行穩(wěn)定工作，那么這將很可能會導致整個服務器系統(tǒng)癱瘓。因此，在產(chǎn)品發(fā)布之前，還需對服務器內(nèi)存進行測試。目前，在對服務器內(nèi)存進行測試時，主要是通過測試服務器內(nèi)存在常溫下能否穩(wěn)定工作。但是由于影響服務器內(nèi)存穩(wěn)定性的因素不只包括溫度，還有供電電壓等其它因素，而且，單就測試一個標準狀態(tài)下的值，也并不能說明在允許的溫度變化范圍內(nèi)，服務器內(nèi)存能夠穩(wěn)定工作。可見，如何能夠較準確的檢測服務器內(nèi)存的穩(wěn)定性成為目前亟待解決的問題。技術實現(xiàn)要素：本發(fā)明實施例提供了一種服務器內(nèi)存測試方法及裝置，能夠較準確的檢測服務器內(nèi)存的穩(wěn)定性。第一方面，本發(fā)明實施例提供了一種服務器內(nèi)存測試方法，包括：確定對應待測試服務器內(nèi)存的至少兩個測試項目；確定每一個所述測試項目分別對應的兩個極限值；從每一個所述測試項目分別對應的兩個極限值中選擇出一個目標極限值，利用選擇出的各個所述目標極限值設置所述待測試服務器內(nèi)存的第一測試環(huán)境；還包括：控制所述待測試服務器內(nèi)存在所述第一測試環(huán)境下運行，并生成運行日志；根據(jù)所述運行日志確定所述待測試服務器內(nèi)存是否穩(wěn)定運行。優(yōu)選地，進一步包括：確定每一個所述測試項目分別對應的標準值；利用各個所述標準值設置所述待測試服務器內(nèi)存的第二測試環(huán)境；在所述控制所述待測試服務器內(nèi)存在所述第一測試環(huán)境下運行之前，進一步包括：控制所述待測試服務器內(nèi)存在所述第二測試環(huán)境下運行。優(yōu)選地，所述測試項目包括：溫度和供電電壓；所述兩個極限值包括：上限值和下限值。優(yōu)選地，進一步包括：確定所述供電電壓對應的標準值；確定所述供電電壓對應的第一耐受閾值和第二耐受閾值；所述確定每一個所述測試項目分別對應的兩個極限值，包括：利用如下公式1，計算所述供電電壓對應的所述下限值；M＝U*(1-λ)(1)其中，M表征所述供電電壓對應的所述下限值；U表征所述供電電壓對應的所述標準值；λ表征所述供電電壓對應的所述第一耐受閾值；利用如下公式2，計算所述供電電壓對應的所述上限值；S＝U*(1+μ)(2)其中，S表征所述供電電壓對應的所述上限值；U表征所述供電電壓對應的所述標準值；μ表征所述供電電壓對應的所述第二耐受閾值。優(yōu)選地，所述利用選擇出的各個所述目標極限值設置所述待測試服務器內(nèi)存的第一測試環(huán)境下，包括：通過登入基本輸入輸出系統(tǒng)BIOS界面，設置所述待測試服務器內(nèi)存的所述供電電壓為相應的所述上限值或所述下限值；通過溫度模擬裝置，設置所述待測試服務器內(nèi)存的所述溫度為相應的所述上限值或所述下限值。優(yōu)選地，所述第一耐受閾值為5％，所述第二閾值為5％；和/或，所述供電電壓對應的所述下限值為1.14V，所述上限值為1.26V；或，所述第一耐受閾值為3％，所述第二耐受閾值為4.4％；和/或，所述供電電壓對應的所述下限值為1.164V，所述上限值為1.2528V。第二方面，本發(fā)明實施例提供了一種服務器內(nèi)存測試裝置，包括：第一確定單元，用于確定對應待測試服務器內(nèi)存的至少兩個測試項目；第二確定單元，用于確定所述第一確定單元確定出的每一個所述測試項目分別對應的兩個極限值；第一設置單元，用于從所述第二確定單元確定出的每一個所述測試項目分別對應的兩個極限值中選擇出一個目標極限值，利用選擇出的各個所述目標極限值設置所述待測試服務器內(nèi)存的第一測試環(huán)境；第一測試單元，用于控制所述待測試服務器內(nèi)存在所述第一設置單元設置的所述第一測試環(huán)境下運行，并生成運行日志；第三確定單元，用于根據(jù)所述第一測試單元生成的所述運行日志確定所述待測試服務器內(nèi)存是否穩(wěn)定運行。優(yōu)選地，進一步包括：第四確定單元，用于確定所述第一確定單元確定出的每一個所述測試項目分別對應的標準值；第二設置單元，用于利用所述第四確定單元確定出的各個所述標準值設置所述待測試服務器內(nèi)存的第二測試環(huán)境；第二測試單元，用于控制所述待測試服務器內(nèi)存在所述第二設置單元設置的所述第二測試環(huán)境下運行。優(yōu)選地，所述測試項目包括：溫度和供電電壓；所述兩個極限值包括：上限值和下限值。優(yōu)選地，進一步包括：第五確定單元，用于確定所述供電電壓對應的標準值；第六確定單元，用于確定所述供電電壓對應的第一耐受閾值和第二耐受閾值；所述第二確定單元，具體用于利用如下公式1，計算所述供電電壓對應的所述下限值；M＝U*(1-λ)(1)其中，M表征所述供電電壓對應的所述下限值；U表征所述第五確定單元確定出的所述供電電壓對應的所述標準值；λ表征所述第六確定單元確定出的所述供電電壓對應的所述第一耐受閾值；利用如下公式2，計算所述供電電壓對應的所述上限值；S＝U*(1+μ)(2)其中，S表征所述供電電壓對應的所述上限值；U表征所述第五確定單元確定出的所述供電電壓對應的所述標準值；μ表征所述第六確定單元確定出的所述供電電壓對應的所述第二耐受閾值；和/或，所述第一設置單元，具體用于通過登入基本輸入輸出系統(tǒng)BIOS界面，設置所述待測試服務器內(nèi)存的所述供電電壓為相應的所述上限值或所述下限值；通過溫度模擬裝置，設置所述待測試服務器內(nèi)存的所述溫度為相應的所述上限值或所述下限值。本發(fā)明實施例提供了一種服務器內(nèi)存測試方法及裝置，通過確定對應待測試服務器內(nèi)存的至少兩個測試項目，以及確定每一個測試項目分別對應的兩個極限值，其中，兩個極限值分別是相應測試項目對應的上限值和下限值，以及從每一個測試項目分別對應的上限值和下限值中均任意選擇出一個，并利用選擇出的各個極限值設置待測試服務器內(nèi)存的測試環(huán)境，以使待測試服務器內(nèi)存在設置的測試環(huán)境下運行，并生成運行日志，最終根據(jù)該運行日志，確定待測試服務器內(nèi)存的穩(wěn)定性。由于在設置測試環(huán)境時，每次均是同時利用所有的測試項目分別對應的一個極限值，而不再是只利用單個測試項目的一個標準值，從而能夠較準確的檢測待測試服務器內(nèi)存的穩(wěn)定性。附圖說明為了更清楚地說明本發(fā)明實施例或現(xiàn)有技術中的技術方案，下面將對實施例或現(xiàn)有技術描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖是本發(fā)明的一些實施例，對于本領域普通技術人員來講，在不付出創(chuàng)造性勞動的前提下，還可以根據(jù)這些附圖獲得其他的附圖。圖1是本發(fā)明一個實施例提供的一種服務器內(nèi)存測試方法的流程圖；圖2是本發(fā)明另一個實施例提供的一種服務器內(nèi)存測試方法的流程圖；圖3是本發(fā)明實施例提供的服務器內(nèi)存測試裝置所在設備的硬件架構(gòu)圖；圖4是本發(fā)明一個實施例提供的一種服務器內(nèi)存測試裝置的結(jié)構(gòu)示意圖；圖5是本發(fā)明另一個實施例提供的一種服務器內(nèi)存測試裝置的結(jié)構(gòu)示意圖；圖6是本發(fā)明又一個實施例提供的一種服務器內(nèi)存測試裝置的結(jié)構(gòu)示意圖。具體實施方式為使本發(fā)明實施例的目的、技術方案和優(yōu)點更加清楚，下面將結(jié)合本發(fā)明實施例中的附圖，對本發(fā)明實施例中的技術方案進行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實施例是本發(fā)明一部分實施例，而不是全部的實施例，基于本發(fā)明中的實施例，本領域普通技術人員在沒有做出創(chuàng)造性勞動的前提下所獲得的所有其他實施例，都屬于本發(fā)明保護的范圍。如圖1所示，本發(fā)明實施例提供了一種服務器內(nèi)存測試方法，該方法可以包括以下步驟：步驟101：確定對應待測試服務器內(nèi)存的至少兩個測試項目。步驟102：確定每一個所述測試項目分別對應的兩個極限值。步驟103：從每一個所述測試項目分別對應的兩個極限值中選擇出一個目標極限值，利用選擇出的各個所述目標極限值設置所述待測試服務器內(nèi)存的第一測試環(huán)境。步驟104：控制所述待測試服務器內(nèi)存在所述第一測試環(huán)境下運行，并生成運行日志。步驟105：根據(jù)所述運行日志確定所述待測試服務器內(nèi)存是否穩(wěn)定運行。在圖1所示的實施例中，通過確定對應待測試服務器內(nèi)存的至少兩個測試項目，以及確定每一個測試項目分別對應的兩個極限值，其中，兩個極限值分別是相應測試項目對應的上限值和下限值，以及從每一個測試項目分別對應的上限值和下限值中均任意選擇出一個，并利用選擇出的各個極限值設置待測試服務器內(nèi)存的測試環(huán)境，以使待測試服務器內(nèi)存在設置的測試環(huán)境下運行，并生成運行日志，最終根據(jù)該運行日志，確定待測試服務器內(nèi)存的穩(wěn)定性。由于在設置測試環(huán)境時，每次均是同時利用所有的測試項目分別對應的一個極限值，而不再是只利用單個測試項目的一個標準值，從而能夠較準確的檢測待測試服務器內(nèi)存的穩(wěn)定性。在本發(fā)明一個實施例中，為了檢測在標準條件下待測試服務器內(nèi)存能否穩(wěn)定工作，進一步包括：確定每一個所述測試項目分別對應的標準值；利用各個所述標準值設置所述待測試服務器內(nèi)存的第二測試環(huán)境；在所述步驟104之前，進一步包括：控制所述待測試服務器內(nèi)存在所述第二測試環(huán)境下運行。例如，針對待測試服務器內(nèi)存的測試項目共有3個，分別為供電電壓、溫度和氣壓，其中，待測試服務器內(nèi)存的標準工作電壓為1.2V，常溫為25℃，標準工作大氣壓為101Kpa，那么在進行測試時，可首先將待測試服務器內(nèi)存的測試環(huán)境設置為1.2V、25℃及101Kpa，并使待測試服務器內(nèi)存在該環(huán)境下運行一段時間(時間不宜太短，否則可能導致測試結(jié)果不準確)，如1小時，之后在完成所有測試環(huán)境的測試后，或者是完成當前測試環(huán)境的測試后，可通過查看待測試服務器內(nèi)存在這1小時的運行日志，來確定待測試服務器內(nèi)存在標準工作條件下能否穩(wěn)定工作。通過檢測待測試服務器內(nèi)存在標準工作條件下的運行狀態(tài)，可以為待測試服務器內(nèi)存在其它極限條件下的測試結(jié)果提供對比參考。在本發(fā)明一個實施例中，所述測試項目包括：溫度和供電電壓；所述兩個極限值包括：上限值和下限值。在本發(fā)明一個實施例中，為了能夠確定出待測試服務器內(nèi)存的供電電壓的上限值和下限值，進一步包括：確定所述供電電壓對應的標準值；確定所述供電電壓對應的第一耐受閾值和第二耐受閾值；所述步驟102的具體實施方式包括：利用如下公式1，計算所述供電電壓對應的所述下限值；M＝U*(1-λ)(1)其中，M表征所述供電電壓對應的所述下限值；U表征所述供電電壓對應的所述標準值；λ表征所述供電電壓對應的所述第一耐受閾值；利用如下公式2，計算所述供電電壓對應的所述上限值；S＝U*(1+μ)(2)其中，S表征所述供電電壓對應的所述上限值；U表征所述供電電壓對應的所述標準值；μ表征所述供電電壓對應的所述第二耐受閾值。當供電電壓為標準工作電壓時，是待測試服務器內(nèi)存最理想的工作狀態(tài)，但是由于待測試服務器內(nèi)存的負載變化非?？欤敲雌湄撦d電流也會頻繁的變化，從而可能導致供電電壓出現(xiàn)復雜的上下波動情況，但是只要其波動在允許的范圍內(nèi)，待測試服務器內(nèi)存也可正常工作。因此，本發(fā)明實施例中通過利用允許的波動范圍的上限值和下限值，來檢測待測試服務器內(nèi)存是否達到預期標準，也即，待測試服務器內(nèi)存是否可以在預期允許的波動范圍內(nèi)穩(wěn)定工作。例如，第一耐受閾值λ＝5％、第二耐受閾值μ＝5％及供電電壓對應的標準值U＝1.2V(也即待測試服務器內(nèi)存的標準工作電壓)，那么利用公式1計算供電電壓的下限值為M＝U*(1-λ)＝1.2*(1-5％)＝1.2*95％＝1.14V；利用公式2計算供電電壓的上限值為S＝U*(1+μ)＝1.2*(1+5％)＝1.2*105％＝1.26V。其中，第一耐受閾值和第二耐受閾值并不局限于上述實施例，可根據(jù)實際情況進行設定。通過確定待測試服務器內(nèi)存的供電電壓的下限值和上限值，以便接下來通過這兩個極限值及其他測試項目分別對應的兩個極限值來對待測試服務器內(nèi)存進行測試，那么當測試均通過時，則確定待測試服務器內(nèi)存能夠穩(wěn)定工作，相比較只測試單個值，能夠有效檢測待測試服務器內(nèi)存的穩(wěn)定性。在本發(fā)明一個實施例中，為了能夠根據(jù)確定出的供電電壓的上限值和下限值，以及溫度的上限值和下限值設置待測試服務器內(nèi)存的測試環(huán)境，所述步驟103的具體實施方式包括：通過登入基本輸入輸出系統(tǒng)BIOS界面，設置所述待測試服務器內(nèi)存的所述供電電壓為相應的所述上限值或所述下限值；通過溫度模擬裝置，設置所述待測試服務器內(nèi)存的所述溫度為相應的所述上限值或所述下限值。在本發(fā)明實施例中，在設置待測試服務器內(nèi)存的供電電壓時，首先應選擇測試版本BIOS刷新程序，務必確保待測試服務器內(nèi)存的供電電壓可以在BIOS界面進行設置，進而通過登入BIOS界面，將供電電壓調(diào)節(jié)任意一個確定的極限值，如1.14V或者是1.26V。另外，為保證供電電壓調(diào)節(jié)的準確性，在通過BIOS設置之后，可利用萬用表、示波器等電壓測量儀器來測試待測試服務器內(nèi)存的供電電壓是否準確的達到預設值，例如，預設值為1.14V，但實際測量到的電壓值為1.09V，那么此時還需要對供電電壓進行微調(diào)，而微調(diào)可通過向主板上的VR控制芯片刷入相應的值，以精細調(diào)節(jié)待測試服務器內(nèi)存的供電電壓達到1.14V。除此之外，還可通過直接調(diào)節(jié)主板上的電阻、電容等器件來設置待測試服務器內(nèi)存的供電電壓，但是這種實現(xiàn)方式過于繁瑣，而通過BIOS的設置方式則既能提升工程師的調(diào)試效率，縮短測試實現(xiàn)的周期，而且還能大量節(jié)省物料，降低成本。在本發(fā)明實施例中，溫度模擬裝置可以采用溫濕度測試chamber。在本發(fā)明一個實施例中，所述第一耐受閾值為5％，所述第二閾值為5％；和/或，所述供電電壓對應的所述下限值為1.14V，所述上限值為1.26V。在本發(fā)明一個實施例中，所述第一耐受閾值為3％，所述第二耐受閾值為4.4％；和/或，所述供電電壓對應的所述下限值為1.164V，所述上限值為1.2528V。其中，3％和4.4％是依據(jù)公版的測試標準確定出的。下面將以溫度和供電電壓這兩個測試項目來為例，對本發(fā)明實施例中提供的一種服務器內(nèi)存測試方法進行詳細說明，如圖2所示，該方法可以包括以下步驟：步驟201：確定對應待測試服務器內(nèi)存的兩個測試項目溫度和供電電壓。在本發(fā)明實施例中，是以溫度和供電電壓這兩個測試項目為例，但如果之后還包括氣壓等其它測試項目時，均可按照本發(fā)明實施例中的測試方法對待測試服務器內(nèi)存進行測試。步驟202：確定溫度對應的標準值為25℃，供電電壓對應的標準值為1.2v。其中，溫度對應的標準值可認為是常溫狀態(tài)下的溫度值；而供電電壓對應的標準值則可能根據(jù)待測試服務器內(nèi)存型號的不同而不同。步驟203：確定溫度對應的上限值為40℃及下限值為0℃，供電電壓對應的上限值為1.26v及下限值為1.14v。其中，待測試服務器內(nèi)存對應的溫度的上限值40℃以及下限值0℃是按照國標GB-9813中2級標準確定出的。另外，在確定待測試服務器內(nèi)存供電電壓對應的上限值1.26v及下限值1.14v時，首先應確定供電電壓對應的第一耐受閾值λ和第二耐受閾值μ，那在本發(fā)明實施例中，λ取5％、μ取5％，然后可分別通過公式1：M＝U*(1-λ)以及公式2：S＝U*(1+μ)計算出上限值M＝1.26v，下限值S＝1.14v，其中，U是上述步驟202中確定出的供電電壓的標準值1.2v。由于溫度和供電電壓分別對應兩個極限值，所以利用溫度和供電電壓同時對待測試服務器內(nèi)存進行測試時，就會有22＝4組極限環(huán)境測試，那這4組測試形式可如下表1所示：表1溫度供電電壓40℃1.26v40℃1.14v0℃1.14v0℃1.26v步驟204：通過溫度模擬裝置以及BIOS界面，分別設置待測試服務器內(nèi)存的溫度為25℃、供電電壓為1.2v。步驟205：控制待測試服務器內(nèi)存在25℃、1.2v的測試環(huán)境下運行時間t1。在本發(fā)明實施例中，首先進行的是標準條件下的測試，并可將此測試結(jié)果作為接下來的4組極限條件下測試結(jié)果的參考。其中，t1可取1小時。步驟206：通過溫度模擬裝置以及BIOS界面，分別設置待測試服務器內(nèi)存的溫度為40℃、供電電壓為1.26v。在本發(fā)明實施例中，可在步驟205的基礎上，首先將溫度設置為40℃(為減少對待測試服務器內(nèi)存的損壞及提高測試的準確性，還可設置溫度從25℃升至40℃的上升時間，如1小時)，而供電電壓保持1.2v不變，并控制待測試服務器內(nèi)存在該1小時內(nèi)運行，以進一步確定溫度升高對待測試服務器內(nèi)存穩(wěn)定性的影響。之后，保持溫度40℃不變，而調(diào)節(jié)供電電壓為1.26v。步驟207：控制待測試服務器內(nèi)存在40℃、1.26v的測試環(huán)境下運行時間t2。其中，t2可取5小時。步驟208：通過溫度模擬裝置以及BIOS界面，分別設置待測試服務器內(nèi)存的溫度為40℃、供電電壓為1.14v。在本發(fā)明實施例中，在步驟207的基礎上，保持溫度40℃不變，而調(diào)節(jié)供電電壓為1.14v，一是可以測試在這組極限條件下的待測試服務器內(nèi)存的穩(wěn)定性，二是可以測試溫度保持不變時，供電電壓由上限值變?yōu)橄孪拗档倪^程對待測試服務器內(nèi)存穩(wěn)定性的影響。步驟209：控制待測試服務器內(nèi)存在40℃、1.14v的測試環(huán)境下運行時間t3。其中，t3可取5小時。步驟210：通過溫度模擬裝置以及BIOS界面，分別設置待測試服務器內(nèi)存的溫度為0℃、供電電壓為1.14v。在本發(fā)明實施例中，可在上述步驟209的基礎上，首先設置溫度為0℃(與上述步驟206中原理類似，可設置溫度從40℃至0℃的下降時間，如2小時)而保持供電電壓1.14v不變，并控制待測試服務器內(nèi)存在該2小時內(nèi)運行，可進一步確定溫度下降對待測試服務器內(nèi)存穩(wěn)定性的影響。步驟211：控制待測試服務器內(nèi)存在0℃、1.14v的測試環(huán)境下運行時間t4。其中，t4可取5小時。步驟212：通過溫度模擬裝置以及BIOS界面，分別設置待測試服務器內(nèi)存的溫度為0℃、供電電壓為1.26v。在步驟211的基礎上，保持溫度0℃不變，而調(diào)節(jié)供電電壓為1.26v。步驟213：控制待測試服務器內(nèi)存在0℃、1.26v的測試環(huán)境下運行時間t5。其中，t5可取5小時。另外，為進一步提高測試的準確性，還可在該步驟的基礎上，將溫度再次設置為25℃(設置0℃升至25℃的上升時間，如1小時)，且調(diào)節(jié)供電電壓為標準值1.2v，并控制待測試服務器內(nèi)存在該1小時內(nèi)運行，除此之外，當溫度升至25℃后，繼續(xù)控制待測試服務器內(nèi)存在25℃、1.2v的標準條件下運行1小時。步驟214：根據(jù)t1至t5生成的待測試服務器內(nèi)存的所有運行日志，確定待測試服務器內(nèi)存的穩(wěn)定性。在待測試服務器內(nèi)存運行的過程中，會生成相應的運行日志，測試人員可通過查看所有運行日志中是否有報錯、報錯的個數(shù)及報錯的位置等等，來確定待測試服務器內(nèi)存能否穩(wěn)定工作，如果確定出能夠穩(wěn)定工作，則待測試服務器內(nèi)存的測試通過，可進行批量生產(chǎn)了，那如果確定出不能夠穩(wěn)定工作，還需對設計進行相應的改善，直至測試通過。如圖3、圖4所示，本發(fā)明實施例提供了一種服務器內(nèi)存測試裝置。裝置實施例可以通過軟件實現(xiàn)，也可以通過硬件或者軟硬件結(jié)合的方式實現(xiàn)。從硬件層面而言，如圖3所示，為本發(fā)明實施例提供的服務器內(nèi)存測試裝置所在設備的一種硬件結(jié)構(gòu)圖，除了圖3所示的處理器、內(nèi)存、網(wǎng)絡接口、以及非易失性存儲器之外，實施例中裝置所在的設備通常還可以包括其他硬件，如負責處理報文的轉(zhuǎn)發(fā)芯片等等。以軟件實現(xiàn)為例，如圖4所示，作為一個邏輯意義上的裝置，是通過其所在設備的CPU將非易失性存儲器中對應的計算機程序指令讀取到內(nèi)存中運行形成的。本實施例提供的服務器內(nèi)存測試裝置，包括：第一確定單元401，用于確定對應待測試服務器內(nèi)存的至少兩個測試項目；第二確定單元402，用于確定所述第一確定單元401確定出的每一個所述測試項目分別對應的兩個極限值；第一設置單元403，用于從所述第二確定單元402確定出的每一個所述測試項目分別對應的兩個極限值中選擇出一個目標極限值，利用選擇出的各個所述目標極限值設置所述待測試服務器內(nèi)存的第一測試環(huán)境；第一測試單元404，用于控制所述待測試服務器內(nèi)存在所述第一設置單元403設置的所述第一測試環(huán)境下運行，并生成運行日志；第三確定單元405，用于根據(jù)所述第一測試單元404生成的所述運行日志確定所述待測試服務器內(nèi)存是否穩(wěn)定運行。如圖5所示，在本發(fā)明一個實施例中，進一步包括：第四確定單元501，用于確定所述第一確定單元401確定出的每一個所述測試項目分別對應的標準值；第二設置單元502，用于利用所述第四確定單元501確定出的各個所述標準值設置所述待測試服務器內(nèi)存的第二測試環(huán)境；第二測試單元503，用于控制所述待測試服務器內(nèi)存在所述第二設置單元502設置的所述第二測試環(huán)境下運行。在本發(fā)明一個實施例中，所述測試項目包括：溫度和供電電壓；所述兩個極限值包括：上限值和下限值。如圖6所示，在本發(fā)明一個實施例中，進一步包括：第五確定單元601，用于確定所述供電電壓對應的標準值；第六確定單元602，用于確定所述供電電壓對應的第一耐受閾值和第二耐受閾值；所述第二確定單元402，具體用于利用如下公式1，計算所述供電電壓對應的所述下限值；M＝U*(1-λ)(1)其中，M表征所述供電電壓對應的所述下限值；U表征所述第五確定單元601確定出的所述供電電壓對應的所述標準值；λ表征所述第六確定單元602確定出的所述供電電壓對應的所述第一耐受閾值；利用如下公式2，計算所述供電電壓對應的所述上限值；S＝U*(1+μ)(2)其中，S表征所述供電電壓對應的所述上限值；U表征所述第五確定單元601確定出的所述供電電壓對應的所述標準值；μ表征所述第六確定單元602確定出的所述供電電壓對應的所述第二耐受閾值；在本發(fā)明一個實施例中，所述第一設置單元403，具體用于通過登入基本輸入輸出系統(tǒng)BIOS界面，設置所述待測試服務器內(nèi)存的所述供電電壓為相應的所述上限值或所述下限值；通過溫度模擬裝置，設置所述待測試服務器內(nèi)存的所述溫度為相應的所述上限值或所述下限值。本發(fā)明實施例提供了一種可讀介質(zhì)，包括執(zhí)行指令，當存儲控制器的處理器執(zhí)行所述執(zhí)行指令時，所述存儲控制器執(zhí)行上述各個實施例所述的方法。本發(fā)明實施例提供了一種存儲控制器，包括：處理器、存儲器和總線；所述存儲器用于存儲執(zhí)行指令，所述處理器與所述存儲器通過所述總線連接，當所述存儲控制器運行時，所述處理器執(zhí)行所述存儲器存儲的所述執(zhí)行指令，以使所述存儲控制器執(zhí)行上述各個實施例所述的方法。上述裝置內(nèi)的各單元之間的信息交互、執(zhí)行過程等內(nèi)容，由于與本發(fā)明方法實施例基于同一構(gòu)思，具體內(nèi)容可參見本發(fā)明方法實施例中的敘述，此處不再贅述。綜上，本發(fā)明各個實施例至少具有如下有益效果：1、在本發(fā)明實施例中，通過確定對應待測試服務器內(nèi)存的至少兩個測試項目，以及確定每一個測試項目分別對應的兩個極限值，其中，兩個極限值分別是相應測試項目對應的上限值和下限值，以及從每一個測試項目分別對應的上限值和下限值中均任意選擇出一個，并利用選擇出的各個極限值設置待測試服務器內(nèi)存的測試環(huán)境，以使待測試服務器內(nèi)存在設置的測試環(huán)境下運行，并生成運行日志，最終根據(jù)該運行日志，確定待測試服務器內(nèi)存的穩(wěn)定性。由于在設置測試環(huán)境時，每次均是同時利用所有的測試項目分別對應的一個極限值，而不再是只利用單個測試項目的一個標準值，從而能夠較準確的檢測待測試服務器內(nèi)存的穩(wěn)定性。2、在本發(fā)明實施例中，通過檢測待測試服務器內(nèi)存在標準工作條件下的運行狀態(tài)，可以為待測試服務器內(nèi)存在其它極限條件下的測試結(jié)果提供對比參考。3、在本發(fā)明實施例中，通過利用每一個測試項目中的一個極限值來對待測試服務器內(nèi)存進行測試，一是提高了測試結(jié)果的準確性，二是對整個服務器系統(tǒng)的穩(wěn)定性提供了保障，提升了產(chǎn)品的可靠性。4、在本發(fā)明實施例中，通過BIOS的設置方式既能提升工程師的調(diào)試效率，縮短測試實現(xiàn)的周期，而且還能大量節(jié)省物料，降低成本。需要說明的是，在本文中，諸如第一和第二之類的關系術語僅僅用來將一個實體或者操作與另一個實體或操作區(qū)分開來，而不一定要求或者暗示這些實體或操作之間存在任何這種實際的關系或者順序。而且，術語“包括”、“包含”或者其任何其他變體意在涵蓋非排他性的包含，從而使得包括一系列要素的過程、方法、物品或者設備不僅包括那些要素，而且還包括沒有明確列出的其他要素，或者是還包括為這種過程、方法、物品或者設備所固有的要素。在沒有更多限制的情況下，由語句“包括一個......”限定的要素，并不排除在包括所述要素的過程、方法、物品或者設備中還存在另外的相同因素。本領域普通技術人員可以理解：實現(xiàn)上述方法實施例的全部或部分步驟可以通過程序指令相關的硬件來完成，前述的程序可以存儲在計算機可讀取的存儲介質(zhì)中，該程序在執(zhí)行時，執(zhí)行包括上述方法實施例的步驟；而前述的存儲介質(zhì)包括：ROM、RAM、磁碟或者光盤等各種可以存儲程序代碼的介質(zhì)中。最后需要說明的是：以上所述僅為本發(fā)明的較佳實施例，僅用于說明本發(fā)明的技術方案，并非用于限定本發(fā)明的保護范圍。凡在本發(fā)明的精神和原則之內(nèi)所做的任何修改、等同替換、改進等，均包含在本發(fā)明的保護范圍內(nèi)。當前第1頁1 2 3