本申請涉及計(jì)算機(jī)技術(shù)領(lǐng)域,具體涉及觸控顯示面板及顯示裝置。
背景技術(shù):
通常,顯示面板包括規(guī)則排列的電極陣列,用來提供顯示所需的公共電壓、或作為觸控電極感應(yīng)觸摸。電極陣列的短路、斷路等異常情況會(huì)對顯示效果和觸摸檢測的精度造成不良影響,因此需要對顯示面板中的電極陣列的連接狀況進(jìn)行測試,以保證顯示質(zhì)量和觸摸檢測精度。
目前對電極陣列的檢測通常在綁定驅(qū)動(dòng)IC(Integrated Circuit,集成電路板)和柔性電路板之后,通過驅(qū)動(dòng)IC驅(qū)動(dòng)電極陣列中的電極工作,從而判斷電極狀況是否正常,現(xiàn)有技術(shù)中在連接驅(qū)動(dòng)IC之前無法對電極的狀態(tài)進(jìn)行測試。若測試出電極狀態(tài)異常會(huì)造成驅(qū)動(dòng)IC、柔性電路板等材料的浪費(fèi)。
技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素:
為了解決背景技術(shù)部分提到的技術(shù)問題,本申請?zhí)峁┝擞|控顯示面板及顯示裝置。
一方面,本申請?zhí)峁┝艘环N觸控顯示面板,觸控顯示面板包括陣列基板;陣列基板包括沿第一方向延伸、沿第二方向排布的多條第一觸控電極;陣列基板還包括觸控驅(qū)動(dòng)電路,每個(gè)第一觸控電極分別通過第一觸控信號線與觸控驅(qū)動(dòng)電路連接;在視覺測試階段,觸控驅(qū)動(dòng)電路將多條第一觸控電極電連接,且向多條第一觸控電極提供測試信號;在非視覺測試階段,觸控驅(qū)動(dòng)電路斷開多條第一觸控電極之間的連接。
第二方面,本申請?zhí)峁┝艘环N顯示裝置,包括上述觸控顯示面板。
本申請?zhí)峁┑挠|控顯示面板和顯示裝置,利用觸控驅(qū)動(dòng)電路在視覺測試階段將多條第一觸控電極電連接并向第一觸控電極提供測試信號,以及在非視覺測試階段斷開多條第一觸控電極之間的連接,實(shí)現(xiàn)了在綁定驅(qū)動(dòng)IC之前對觸控顯示面板上的觸控電極的狀態(tài)檢測,從而避免了綁定驅(qū)動(dòng)IC后顯示面板上存在異常狀態(tài)的觸控電極造成對驅(qū)動(dòng)IC等材料的浪費(fèi)。
附圖說明
通過閱讀參照以下附圖所作的對非限制性實(shí)施例詳細(xì)描述,本申請的其它特征、目的和優(yōu)點(diǎn)將會(huì)變得更明顯:
圖1是本申請?zhí)峁┑挠|控顯示面板的一個(gè)實(shí)施例的結(jié)構(gòu)示意圖;
圖2是本申請?zhí)峁┑挠|控顯示面板的另一個(gè)實(shí)施例的結(jié)構(gòu)示意圖;
圖3是本申請?zhí)峁┑挠|控顯示面板的再一個(gè)實(shí)施例的結(jié)構(gòu)示意圖;
圖4是本申請?zhí)峁┑挠|控顯示面板的又一個(gè)實(shí)施例的結(jié)構(gòu)示意圖;
圖5是本申請?zhí)峁┑挠|控顯示面板的又一個(gè)實(shí)施例的結(jié)構(gòu)示意圖;
圖6是圖5所示測試驅(qū)動(dòng)電路中的一個(gè)測試驅(qū)動(dòng)單元的結(jié)構(gòu)示意圖;
圖7是本申請?zhí)峁┑娘@示裝置的一個(gè)示意圖。
具體實(shí)施方式
下面結(jié)合附圖和實(shí)施例對本申請作進(jìn)一步的詳細(xì)說明??梢岳斫獾氖牵颂幩枋龅木唧w實(shí)施例僅僅用于解釋相關(guān)實(shí)用新型,而非對該實(shí)用新型的限定。另外還需要說明的是,為了便于描述,附圖中僅示出了與有關(guān)實(shí)用新型相關(guān)的部分。
需要說明的是,在不沖突的情況下,本申請中的實(shí)施例及實(shí)施例中的特征可以相互組合。下面將參考附圖并結(jié)合實(shí)施例來詳細(xì)說明本申請。
請參考圖1,其示出了本申請?zhí)峁┑挠|控顯示面板的一個(gè)實(shí)施例的結(jié)構(gòu)示意圖。
如圖1所示,觸控顯示面板100包括陣列基板10。陣列基板10包括沿第一方向延伸、沿第二方向排布的多條第一觸控電極11以及觸控驅(qū)動(dòng)電路12。每個(gè)第一觸控電極11分別通過第一觸控信號線13與觸控驅(qū)動(dòng)電路連接。
在本實(shí)施例中,第一觸控電極11為條狀電極,其延伸方向?yàn)榈谝环较颍鄠€(gè)第一觸控電極11沿第二方向排布??蛇x地,如圖1所示,第一方向與第二方向相互垂直。相鄰的第一觸控電極11之間具有刻縫,多個(gè)第一觸控電極11可以由整面電極等間距地刻縫而形成。
在本實(shí)施例中,觸控顯示面板的工作狀態(tài)包括視覺測試階段和非視覺測試階段。視覺測試階段即在綁定驅(qū)動(dòng)IC、柔性電路板等材料之前對觸控顯示面板的顯示效果進(jìn)行視覺測試的階段,非視覺測試階段可以為綁定驅(qū)動(dòng)IC、柔性電路板等材料、完成觸控顯示面板的制程后的工作階段,例如可以包括顯示階段和觸控階段。
在視覺測試階段,觸控驅(qū)動(dòng)電路12將多條第一觸控電極11電連接,且向多條第一觸控電極11提供測試信號;在非視覺測試階段,觸控驅(qū)動(dòng)電路12斷開多條第一觸控電極11之間的連接。
具體來說,在視覺測試階段,觸控驅(qū)動(dòng)電路12可以控制各第一觸控電極11電連接,并通過至少一條第一觸控信號線13向一個(gè)第一觸控電極11提供測試信號,這時(shí),由于各第一觸控電極11相互電連接,所以各第一觸控電極11均可以接收到測試信號。在非視覺測試階段,觸控驅(qū)動(dòng)電路12控制各第一觸控電極11斷開,這時(shí),各第一觸控電極11相互獨(dú)立,可以分別對其進(jìn)行驅(qū)動(dòng),從而完成顯示和觸摸檢測。
上述觸控顯示面板100通過利用觸控驅(qū)動(dòng)電路12在視覺測試階段向第一觸控電極11提供測試信號,可以實(shí)現(xiàn)在綁定驅(qū)動(dòng)IC等材料之前對第一觸控電極11狀態(tài)的測試,由此可以在視覺測試階段將狀態(tài)不良的陣列基板剔除,避免對驅(qū)動(dòng)IC等材料的浪費(fèi)。
繼續(xù)參考圖2,其示出了本申請?zhí)峁┑挠|控顯示面板的另一個(gè)實(shí)施例的結(jié)構(gòu)示意圖。
如圖2所示,觸控顯示面板200包括陣列基板21和彩膜基板22,陣列基板21與彩膜基板22對向設(shè)置。其中,陣列基板21可以為上述結(jié)合圖1描述的陣列基板10。陣列基板21上可以包括沿第一方向延伸、沿第二方向排布的多條第一觸控電極210、觸控驅(qū)動(dòng)電路211以及與第一觸控電極210一一對應(yīng)電連接的第一觸控信號線212。其中觸控驅(qū)動(dòng)電路211可以為圖1所示觸控驅(qū)動(dòng)電路12,用于在視覺測試階段將多條第一觸控電極210電連接,在非視覺測試階段斷開多條第一觸控電極210之間的連接。
彩膜基板22包括沿第二方向延伸、沿第一方向排布的多條第二觸控電極220,其中第一方向與第二方向相交,則第二觸控電極220的延伸方向與第一觸控電極210的延伸方向相交,可選地,第一方向與第二方向相互垂直,則第二觸控電極220的延伸方向與第一觸控電極210的延伸方向相互垂直。另外,可選的,第二觸控電極220位于彩膜基板22背離陣列基板21的一側(cè)。
可選地,如圖2所示,陣列基板21還包括數(shù)據(jù)線201和掃描線202,第一方向與數(shù)據(jù)線201的延伸方向一致,第二方向與掃描線202的延伸方向一致,則第一觸控電極210的延伸方向與數(shù)據(jù)線201的延伸方向一致,第二觸控電極220的延伸方向與掃描線202的延伸方向一致。
在一些實(shí)施例中,觸控顯示面板200還可以包括柔性電路板221。陣列基板21還包括驅(qū)動(dòng)芯片,彩膜基板22上可以設(shè)有第二觸控信號線222,第二觸控電極220通過第二觸控信號線222電連接至柔性電路板221,柔性電路板221與驅(qū)動(dòng)芯片電連接,由此,彩膜基板22上與各第二觸控電極220電連接的第二觸控信號線222匯聚并電連接至柔性電路板221之后,通過柔性電路板221與驅(qū)動(dòng)芯片電連接,使得驅(qū)動(dòng)芯片可以接收第二觸控電極220返回的信號。
在上述實(shí)施例中,第一觸控電極210和第二觸控電極220在其交叉的位置形成互電容,該互電容用于感應(yīng)觸摸點(diǎn)。進(jìn)一步地,觸控顯示面板200的非視覺測試階段包括顯示階段和觸控階段。在觸控階段,驅(qū)動(dòng)芯片可以驅(qū)動(dòng)觸控驅(qū)動(dòng)電路211向第一觸控電極210提供觸摸檢測信號,并通過第二觸控信號線222和柔性電路板221接收第二觸控電極220返回的觸控感應(yīng)信號,驅(qū)動(dòng)芯片對返回的觸控感應(yīng)信號進(jìn)行計(jì)算后確定出觸控點(diǎn)。
在上述實(shí)施例中,觸控驅(qū)動(dòng)電路可以將各第一觸控電極電連接或斷開,還可以向第一觸控電極傳輸測試信號,當(dāng)觸控驅(qū)動(dòng)電路將各第一觸控電極電連接時(shí),各第一觸控電極接收相同的測試信號,這時(shí)觸控顯示面板將在數(shù)據(jù)線和掃描線傳輸?shù)男盘柕目刂葡嘛@示對應(yīng)的畫面,若顯示畫面出現(xiàn)異常且數(shù)據(jù)線和掃描線無斷路、短路等異常狀況,則可以確定對應(yīng)位置的第一觸控電極發(fā)生異常。以下結(jié)合圖3和圖4進(jìn)一步說明觸控驅(qū)動(dòng)電路的結(jié)構(gòu)和其工作原理。
繼續(xù)參考圖3,其示出了本申請?zhí)峁┑挠|控顯示面板的再一個(gè)實(shí)施例的結(jié)構(gòu)示意圖。如圖3所示,在圖1所示觸控顯示面板100的基礎(chǔ)上,本實(shí)施例中觸控顯示面板300還包括至少一條測試信號線14。觸控驅(qū)動(dòng)電路22具體包括多個(gè)開關(guān)單元121,每個(gè)開關(guān)單元121分別與一條第一觸控信號線13對應(yīng)。開關(guān)單元121包括第一端A和第二端B,每條第一觸控信號線13的一端分別與一個(gè)第一觸控電極11電連接,另一端分別與一個(gè)開關(guān)單元121的第二端B電連接。每個(gè)開關(guān)單元121的第一端A與至少一條測試信號線14連接。開關(guān)單元121導(dǎo)通時(shí)將測試信號線14與第一觸控信號線13電連接。
測試信號線14用于在視覺測試階段傳輸測試信號,這時(shí),各開關(guān)單元將對應(yīng)的第一觸控電極11連接,則相互連接的第一觸控電極11接收到相同的測試信號,可以根據(jù)此時(shí)顯示畫面是否異常來判斷第一觸控電極11的狀態(tài)是否異常。
在本實(shí)施例中,開關(guān)單元121導(dǎo)通時(shí)將其第一端A與第二端B電連接,也即將與第一端A連接的測試信號線14和與第二端B連接的第一觸控信號線13電連接,從而將測試信號線14上的信號傳遞至第一觸控電極11。這時(shí),各第一觸控電極11之間通過其所連接至的同一條測試信號線14相互電連接。進(jìn)一步地,開關(guān)單元121斷開時(shí)將各第一觸控信號線13和測試信號線14之間的電連接斷開,從而將各第一觸控電極11之間的電連接斷開。
需要說明的是,圖3僅以一條測試信號線14為示例說明測試信號線與各開關(guān)單元121的連接關(guān)系,在本申請所提供的實(shí)施例中,觸控顯示面板可以包括多條測試信號線,各開關(guān)單元121可以與不同的測試信號線電連接,本申請對測試信號線的數(shù)量及與其連接的開關(guān)單元的數(shù)量不作特殊限定。
在進(jìn)一步的實(shí)施例中,開關(guān)單元121還包括控制端C,觸控驅(qū)動(dòng)電路22還包括至少一條控制信號線122,開關(guān)單元的控制端C與至少一條控制信號線122電連接??刂菩盘柧€122用于在視覺測試階段傳輸導(dǎo)通信號,以使開關(guān)單元121導(dǎo)通;并在非視覺測試階段傳輸關(guān)斷信號,以使開關(guān)單元121斷開。
具體地,在視覺測試階段,控制信號線122傳輸導(dǎo)通信號,此時(shí)與控制信號線122連接的各開關(guān)單元121導(dǎo)通,將對應(yīng)的第一觸控信號線13和測試信號線14電連接。這時(shí)與同一控制信號線122連接的所有開關(guān)單元對應(yīng)的第一觸控電極11相互電連接。在非視覺測試階段,控制信號線122傳輸使開關(guān)單元121斷開的關(guān)斷信號,將各第一觸控信號線13與各測試信號線14之間的電連接斷開,此時(shí)由于各開關(guān)單元處于關(guān)斷狀態(tài),各第一觸控電極11之間的電連接斷開。
可以理解,雖然圖3僅以一條控制信號線122為例示意性地說明了觸控驅(qū)動(dòng)電路22的結(jié)構(gòu)以及其控制各第一觸控電極11連接或斷開的原理,在本申請的實(shí)施例中,觸控驅(qū)動(dòng)電路22可以包括多條控制信號線122,每條控制信號線122可以與至少兩個(gè)開關(guān)單元的控制端C連接,各開關(guān)單元121的控制端C可以與不同的控制信號線122電連接。與同一條控制信號線122連接的開關(guān)單元121所對應(yīng)的第一觸控電極在該控制信號線122傳輸導(dǎo)通信號時(shí)相互電連接。
上述開關(guān)單元可以具有多種實(shí)現(xiàn)方式,例如電動(dòng)開關(guān)等。在一種具體的實(shí)現(xiàn)方式中,上述開關(guān)單元121包括晶體管,該晶體管的第一極為上述開關(guān)單元121的第一端A,該晶體管的第二極為上述開關(guān)單元的第二極B,該晶體管的柵極為上述開關(guān)單元的控制端C。以下參考圖4進(jìn)一步描述觸控顯示面板的結(jié)構(gòu)。
圖4示出了本申請?zhí)峁┑挠|控顯示面板的又一個(gè)實(shí)施例的結(jié)構(gòu)示意圖。
如圖4所示,在圖1所示觸控顯示面板100的基礎(chǔ)上,本實(shí)施例所提供的觸控顯示面板400還包括至少一條測試信號線14,觸控驅(qū)動(dòng)電路32包括多個(gè)晶體管M1以及至少一條控制信號線322。每個(gè)晶體管M1的柵極與一條控制信號線322電連接,每個(gè)晶體管M1的第一極與一條測試信號線14電連接,每個(gè)晶體管M1的第二極分別與一條第一觸控信號線13連接。
在視覺測試階段,控制信號線322傳輸使各晶體管M1導(dǎo)通的信號,這時(shí),各第一觸控電極11通過其對應(yīng)的第一觸控信號線13和測試信號線14相互電連接。測試信號線14可以傳輸測試信號,各第一觸控電極11接收測試信號,此時(shí)無需將驅(qū)動(dòng)IC綁定至觸控顯示面板400,即可對第一觸控電極的狀態(tài)進(jìn)行測試。在非視覺測試階段,控制信號線322傳輸使各晶體管M1截止的信號,這時(shí),各第一觸控電極11相互斷開。
進(jìn)一步地,觸控顯示面板400還包括測試接口21和22。測試信號線14與測試接口21電連接,控制信號線322與測試接口22電連接。
在視覺測試階段,測試接口21用于向測試信號線14傳輸測試信號,該測試信號可以為具有恒定電壓值的電壓信號;測試接口22用于向控制信號線322傳輸導(dǎo)通信號。測試接口21和22可以與外部的測試單元相連接,在視覺測試階段接收外部測試單元提供的上述測試信號和導(dǎo)通信號。
當(dāng)觸控驅(qū)動(dòng)電路32驅(qū)動(dòng)各第一觸控電極11在視覺測試階段相互電連接并接收測試信號時(shí),若各第一觸控電極11均為正常狀態(tài),即各第一觸控電極11均未發(fā)生短路、斷路等異常情況,這時(shí),觸控顯示面板可以根據(jù)輸入的數(shù)據(jù)信號顯示對應(yīng)的畫面,若畫面顯示異常且數(shù)據(jù)線未發(fā)生短路、斷路等異常,則可以確定顯示異常區(qū)域內(nèi)的第一觸控電極11發(fā)生異常。例如當(dāng)觸控顯示面板在某一區(qū)域不顯示對應(yīng)的畫面時(shí),可以確定該區(qū)域內(nèi)的第一觸控電極11發(fā)生了斷路,從而可以在未綁定驅(qū)動(dòng)IC的情況下對觸控顯示面板上的第一觸控電極11進(jìn)行檢測。由此可以較少材料浪費(fèi),降低了生產(chǎn)制作的成本。
在進(jìn)一步的實(shí)施例中,觸控顯示面板400還包括集成電路31,該集成電路31可以為上述驅(qū)動(dòng)IC,用于驅(qū)動(dòng)觸控顯示面板的顯示和觸控。集成電路31可以在非視覺測試階段向觸控驅(qū)動(dòng)電路32傳輸上述關(guān)斷信號,以使各晶體管M1截止。
在非視覺測試階段,觸控顯示面板400可以與上述集成電路31(即驅(qū)動(dòng)IC)綁定,這時(shí),由于需要單獨(dú)控制各第一觸控電極11,所以需要將各第一觸控電極11之間的電連接斷開。集成電路31可以與控制信號線322連接,在非視覺測試階段,集成電路31可以向控制信號線322提供上述關(guān)斷信號,各晶體管M1在關(guān)斷信號的控制下處于截止?fàn)顟B(tài),則各第一觸控電極11與測試信號線14之間的電連接斷開,進(jìn)而各第一觸控電極11之間的連接斷開,此時(shí)集成電路31可以獨(dú)立地對各第一觸控電極11進(jìn)行驅(qū)動(dòng)。
在一些實(shí)施例中,觸控顯示面板400的非視覺測試階段包括顯示階段和觸控階段。各第一觸控電極11在顯示階段復(fù)用為公共電極。在顯示階段,集成電極31可以為第一觸控電極11提供公共電壓信號;在觸控階段,集成電路31可以向第一觸控電極11提供觸控驅(qū)動(dòng)信號。
在非視覺測試階段中的同一時(shí)刻,各第一觸控電極11可以接收相同的信號,例如可以在顯示階段接收相同的公共電壓信號;也可以在同一時(shí)刻接收不同的信號,例如可以在觸控階段依次接收觸控驅(qū)動(dòng)脈沖信號,其中,在一個(gè)第一觸控電極11接收觸控驅(qū)動(dòng)脈沖信號時(shí),其他第一觸控電極11可以接收低電平信號。
在本申請實(shí)施例提供的觸控顯示面板中,各第一觸控電極可以在視覺測試階段驅(qū)動(dòng)觸控顯示面板進(jìn)行顯示。為了方便通過在直觀的視覺測試判斷觸控顯示面板上是否存在狀態(tài)異常的第一觸控電極,可以向第一觸控電極提供具有恒定電壓值的測試信號,進(jìn)而控制觸控顯示面板顯示純色畫面。在此期間,需要觸控顯示面板上的數(shù)據(jù)線和掃描線配合驅(qū)動(dòng)像素電極進(jìn)行相應(yīng)畫面的顯示。
請參考圖5,其示出了本申請?zhí)峁┑挠|控顯示面板的又一個(gè)實(shí)施例的結(jié)構(gòu)示意圖。
如圖5所示,在圖3所示觸控顯示面板300的基礎(chǔ)上,觸控顯示面板500還包括多條數(shù)據(jù)線161的測試驅(qū)動(dòng)電路17,各數(shù)據(jù)線161的延伸方向?yàn)閳D5所示第一方向。多條數(shù)據(jù)線161劃分為多個(gè)數(shù)據(jù)線組16,每個(gè)數(shù)據(jù)線組16包括至少一條數(shù)據(jù)線161。
在視覺測試階段,測試驅(qū)動(dòng)電路17將屬于同一數(shù)據(jù)線組16的數(shù)據(jù)線161短接;在非視覺測試階段,測試驅(qū)動(dòng)電路17斷開數(shù)據(jù)線組16中各數(shù)據(jù)線161之間的連接。
具體地,測試驅(qū)動(dòng)電路17可以包括多個(gè)測試驅(qū)動(dòng)單元171,每個(gè)測試驅(qū)動(dòng)單元171分別與一個(gè)數(shù)據(jù)線組16連接。各測試驅(qū)動(dòng)單元可以同時(shí)向?qū)?yīng)的數(shù)據(jù)線組16傳輸相同的測試驅(qū)動(dòng)信號,也可以分別向各數(shù)據(jù)線組16傳輸不同的測試驅(qū)動(dòng)信號。
進(jìn)一步地,在視覺測試階段,測試驅(qū)動(dòng)電路17可以向各數(shù)據(jù)線組16提供地信號,即在視覺測試階段將數(shù)據(jù)線161接地,此時(shí)測試信號線14通過各晶體管M1向各第一觸控電極11傳輸具有恒定電壓值的測試信號,觸控顯示面板上的像素電極接收數(shù)據(jù)線161傳輸?shù)牡匦盘?,液晶層在第一觸控電極11和像素電極形成的電場的驅(qū)動(dòng)下旋轉(zhuǎn)對應(yīng)的角度,進(jìn)而顯示相應(yīng)的亮度。由于顯示畫面的亮度由測試信號的電壓值確定,若與同一測試信號線14連接的多個(gè)第一觸控電極11對應(yīng)的觸控顯示面板區(qū)域中,某一區(qū)域與其他區(qū)域顯示畫面的亮度不相同或不顯示亮度,則可以確定該區(qū)域內(nèi)的第一觸控電極發(fā)生短路或斷路。
需要說明的是,圖5僅示出了數(shù)據(jù)線的一種示意性分組方式,在本申請的實(shí)施例中,數(shù)據(jù)線還可以采用其他的方式分組,例如沿第二方向順序排列的全部第奇數(shù)條數(shù)據(jù)線為同一數(shù)據(jù)線組,沿第二方向順序排列的全部第偶數(shù)條數(shù)據(jù)線為另一數(shù)據(jù)線組,本申請對數(shù)據(jù)線的分組方式不作限定。
繼續(xù)參考圖6,其示出了圖5所示測試驅(qū)動(dòng)電路17中的一個(gè)測試驅(qū)動(dòng)單元171的結(jié)構(gòu)示意圖。
如圖6所示,觸控顯示面板上的一個(gè)數(shù)據(jù)線組16包括n條數(shù)據(jù)線S1、S2、S3、S4、…、Sn,其中n為正整數(shù)。測試驅(qū)動(dòng)單元171包括與該數(shù)據(jù)線組16中的數(shù)據(jù)線一一對應(yīng)的n個(gè)開關(guān)器件SW1、SW2、SW3、SW411、…、SWn以及一條連接線1711。每個(gè)開關(guān)器件SW1、SW2、SW3、SW411、…、SWn的一端分別與一條數(shù)據(jù)線S1、S2、S3、S4、…或Sn連接,每個(gè)開關(guān)器件SW1、SW2、SW3、SW411、…、SWn的另一端與連接線1711連接。
在視覺測試階段,測試驅(qū)動(dòng)電路171可以控制各開關(guān)器件導(dǎo)通,屬于同一數(shù)據(jù)線組161的多條數(shù)據(jù)線S1、S2、S3、S4、…、Sn通過連接線1711電連接,可以通過該連接線1711向數(shù)據(jù)線提供地信號;在非視覺測試階段,測試驅(qū)動(dòng)電路171可以控制各開關(guān)器件斷開,從而斷開各數(shù)據(jù)線之間的連接。
本申請上述實(shí)施例提供的觸控顯示面板,能夠在綁定驅(qū)動(dòng)IC、柔性電路板等材料之前實(shí)現(xiàn)對位于陣列基板上的第一觸控電極的狀態(tài)測試,從而避免在綁定驅(qū)動(dòng)IC后檢測出第一觸控電極狀態(tài)異常時(shí)對驅(qū)動(dòng)IC、柔性電路板等材料的浪費(fèi),有利于降低制作成本。
本申請實(shí)施例還提供了一種顯示裝置,如圖7所示,該顯示裝置700可以為液晶顯示裝置,如手機(jī),包括上述實(shí)施例提供的觸控顯示面板。
可以理解,顯示裝置還可以包括背光源、導(dǎo)光板,位于陣列基板21和彩膜基板22之間的液晶層、偏振片、保護(hù)玻璃等公知的結(jié)構(gòu),此處不再贅述。
以上描述僅為本申請的較佳實(shí)施例以及對所運(yùn)用技術(shù)原理的說明。本領(lǐng)域技術(shù)人員應(yīng)當(dāng)理解,本申請中所涉及的實(shí)用新型范圍,并不限于上述技術(shù)特征的特定組合而成的技術(shù)方案,同時(shí)也應(yīng)涵蓋在不脫離所述實(shí)用新型構(gòu)思的情況下,由上述技術(shù)特征或其等同特征進(jìn)行任意組合而形成的其它技術(shù)方案。例如上述特征與本申請中公開的(但不限于)具有類似功能的技術(shù)特征進(jìn)行互相替換而形成的技術(shù)方案。