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一種基于3D成像技術(shù)的LCM組件外形缺陷檢測(cè)方法與流程

文檔序號(hào):12471699閱讀:來(lái)源:國(guó)知局

技術(shù)特征:

1.一種基于3D成像技術(shù)的LCM組件外形缺陷檢測(cè)方法,其特征在于,所述方法包括以下步驟:

S1,使用3D激光傳感器獲取LCM組件的原始高度圖像,此圖像中包括表示環(huán)境背景的背景區(qū)域、表示LCM組件中覆蓋外圍電路部分的Cover區(qū)域和表示LCM組件中屏幕部分的屏幕區(qū)域;

S2,根據(jù)3D激光傳感器與LCM組件的位置關(guān)系將原始高度圖像轉(zhuǎn)換成表示LCM組件真實(shí)高度值的第一高度圖像,利用背景區(qū)域與Cover區(qū)域和屏幕區(qū)域的高度值的范圍差別過(guò)濾掉背景區(qū)域,得到僅含Cover區(qū)域和屏幕區(qū)域的第二高度圖像;

S3,根據(jù)第二高度圖像中Cover區(qū)域和屏幕區(qū)域的高度值來(lái)判斷LCM組件外形是否存在缺陷。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于3D成像技術(shù)的LCM組件外形缺陷檢測(cè)方法,其特征在于,所述S3還包括以下步驟:

S31,根據(jù)第二高度圖像中的部分像素點(diǎn)的高度值擬合得到一個(gè)所有像素點(diǎn)高度值位于同一平面的基準(zhǔn)圖像;

S32,將第二高度圖像中各像素點(diǎn)的高度值與基準(zhǔn)圖像中對(duì)應(yīng)的像素點(diǎn)的高度值相減求差,根據(jù)求差后的高度值數(shù)據(jù)獲得第一高度差圖;

S33,在第一高度差圖中,根據(jù)屏幕區(qū)域中選定的高度值設(shè)定閾值,選出Cover區(qū)域中高度值被此閾值限定的范圍,根據(jù)此范圍的面積來(lái)判斷LCM組件的外形是否存在缺陷。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的基于3D成像技術(shù)的LCM組件外形缺陷檢測(cè)方法,其特征在于,所述S31中所述的第二高度圖像中的部分像素點(diǎn)的選擇過(guò)程具體包括:

通過(guò)在所述第二高度圖像中獲取Cover區(qū)域的范圍,將此范圍平移一個(gè)設(shè)定的位移到屏幕區(qū)域中選中一塊與此范圍面積大小相同的區(qū)域,此被選中的區(qū)域中的所有像素點(diǎn)即為所述的第二高度圖像中的部分像素點(diǎn)。

4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的基于3D成像技術(shù)的LCM組件外形缺陷檢測(cè)方法,其特征在于,所述獲取Cover區(qū)域的范圍的過(guò)程具體包括:

以第一次檢測(cè)LCM組件外形缺陷時(shí)獲取的第二高度圖像的位置和范圍為標(biāo)記,以后每次檢測(cè)其它LCM組件時(shí)將獲得的對(duì)應(yīng)的第二高度圖像矯正到此標(biāo)記的位置,根據(jù)矯正位置后的第二高度圖像中屏幕區(qū)域的位置和面積設(shè)置一個(gè)固定的范圍,利用開(kāi)運(yùn)算選出屏幕區(qū)域,將矯正位置后的第二高度圖像與該被選出的屏幕區(qū)域求差集,獲得Cover區(qū)域的范圍。

5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的基于3D成像技術(shù)的LCM組件外形缺陷檢測(cè)方法,其特征在于,所述獲得Cover區(qū)域的范圍的過(guò)程還包括:

通過(guò)設(shè)定圓形噪點(diǎn)的半徑值,對(duì)得到的差集進(jìn)行消除圓形噪點(diǎn)的開(kāi)運(yùn)算,得到Cover區(qū)域的范圍。

6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的基于3D成像技術(shù)的LCM組件外形缺陷檢測(cè)方法,其特征在于,所述S32中所述根據(jù)求差后的高度值數(shù)據(jù)獲得第一高度差圖的過(guò)程具體包括:

對(duì)求差后的高度值數(shù)據(jù)進(jìn)行中值濾波,消除高度值數(shù)據(jù)中的孤立噪聲,獲得第一高度差圖。

7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的基于3D成像技術(shù)的LCM組件外形缺陷檢測(cè)方法,其特征在于,所述S33中所述的判斷LCM組件的外形是否存在缺陷的過(guò)程具體包括:求得第一高度差圖中屏幕區(qū)域的高度差值的最低值,根據(jù)此最低值設(shè)定閾值,求得第一高度差圖中被此閾值限定的區(qū)域,將此區(qū)域的位置與Cover區(qū)域的位置求得所有的交集區(qū)域,根據(jù)所有的交集區(qū)域的面積大小判斷LCM組件的外形是否存在缺陷。

8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的基于3D成像技術(shù)的LCM組件外形缺陷檢測(cè)方法,其特征在于,所述根據(jù)交集區(qū)域的面積大小判斷LCM組件的外形是否存在缺陷的過(guò)程具體包括:

將所述所有的交集區(qū)域中位置關(guān)系較近的交集區(qū)域平滑連接后,形成新的各交集區(qū)域,根據(jù)新的各交集區(qū)域的面積大小判斷LCM組件的外形是否存在缺陷。

9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的基于3D成像技術(shù)的LCM組件外形缺陷檢測(cè)方法,其特征在于,所述根據(jù)新的各交集區(qū)域的面積大小判斷LCM組件的外形是否存在缺陷的過(guò)程具體包括:

設(shè)定一個(gè)特定面積值,選擇出所述新的各交集區(qū)域中區(qū)域面積被此特定面積值限定的區(qū)域,若這樣的區(qū)域存在,則LCM組件的外形是存在缺陷,否則,LCM組件的外形不存在缺陷。

10.根據(jù)權(quán)利要求1至9任一項(xiàng)所述的基于3D成像技術(shù)的LCM組件外形缺陷檢測(cè)方法,其特征在于,所述S2中利用背景區(qū)域與Cover區(qū)域和屏幕區(qū)域的高度值的范圍差別過(guò)濾掉背景區(qū)域的過(guò)程具體為:使用閾值分割方法,通過(guò)設(shè)定一個(gè)不包含背景區(qū)域的高度值的閾值范圍,分割后選擇出Cover區(qū)域和屏幕區(qū)域。

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