技術編號：12471699
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術詳細信息。本發(fā)明涉及LCM組件外形缺陷檢測領域，具體涉及一種基于3D成像技術的LCM組件外形缺陷檢測領域。背景技術現(xiàn)在的LCM(LCDModule，液晶顯示器模塊)組件生產(chǎn)過程中，LCM組件外形上的缺陷可以通過LCM組件中覆蓋外圍電路的Cover(覆蓋)區(qū)域與屏幕區(qū)域外形上的高度關系來分辨，現(xiàn)有技術中對LCM組件中Cover區(qū)域與屏幕區(qū)域外形上高度關系的檢測都是基于目測法，即雙目識別方法，檢測人員通過雙眼，對LCM組件的Cover區(qū)域、屏幕區(qū)域高度進行觀察，并做出兩者高度差的判斷。檢測人員一般是18-24...
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請注意，此類技術沒有源代碼，用于學習研究技術思路。