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一種基于Firm閾值迭代的電學(xué)層析成像稀疏重建方法與流程

文檔序號:12126563閱讀:707來源:國知局
一種基于Firm閾值迭代的電學(xué)層析成像稀疏重建方法與流程

本發(fā)明屬于電學(xué)層析成像技術(shù)領(lǐng)域,涉及利用稀疏正則化方法實(shí)現(xiàn)圖像重建及閾值迭代求解方法。



背景技術(shù):

電學(xué)層析成像技術(shù)(Electrical Tomography,ET)出現(xiàn)于20世紀(jì)80年代后期,是一種基于電特性敏感機(jī)理的過程層析成像技術(shù),它基于邊界測量值對測量區(qū)域介質(zhì)的電特性(電導(dǎo)率/介電系數(shù)/復(fù)導(dǎo)納/磁導(dǎo)率)分布信息進(jìn)行成像,進(jìn)而得到介質(zhì)的分布信息。電學(xué)層析成像技術(shù)主要包括電阻層析成像(Electrical Resistance Tomography,ERT)、電容層析成像(Electrical Capacitance Tomography,ECT)、電阻抗層析成像(Electrical Impedance Tomography,EIT)和電磁層析成像(Electrical Magnetic Tomography,EMT)。電學(xué)層析成像在多相流、地質(zhì)勘探以及醫(yī)學(xué)成像領(lǐng)域有廣泛的應(yīng)用前景,可以實(shí)現(xiàn)長期、持續(xù)監(jiān)測,實(shí)現(xiàn)功能性成像。

通過線性化處理,可以將電學(xué)層析成像中逆問題轉(zhuǎn)化為線性逆問題并基于靈敏度矩陣來求解。針對逆問題求解的病態(tài)性,可選取正則化方法處理。正則化算法通用目標(biāo)函數(shù)為:

其中,λ為正則化參數(shù),用于調(diào)節(jié)誤差項(xiàng)與正則化項(xiàng)在目標(biāo)函數(shù)中的比重,G(x)為正則化項(xiàng),根據(jù)具體應(yīng)用的需要可以設(shè)計(jì)為不同的形式。在電學(xué)層析成像領(lǐng)域中,經(jīng)典的Tikhonov算法,即以解的2范數(shù)作為正則化項(xiàng)的L2正則化算法,目標(biāo)函數(shù)為是由Vauhkonen等人在1998年發(fā)表于《IEEE醫(yī)學(xué)成像》(IEEE Transactions on Medical Imaging)第17卷,第285-293頁,題為《基于電阻抗層析成像的Tikhonov正則化及先驗(yàn)信息選擇》(Tikhonov regularization and prior information in electrical impedance tomography)的文章中;近幾年,隨著壓縮傳感理論的發(fā)展,稀疏正則化算法重新受到多個領(lǐng)域的重視,成為了研究的熱點(diǎn),其中以解的1范數(shù)作為正則化項(xiàng)的L1正則化算法應(yīng)用最為廣泛,其目標(biāo)函數(shù)為:由Jin Bangti等人在2012年發(fā)表于《工程中的數(shù)值計(jì)算》(International Journal For Numerical Methods In Engineering)第89卷,第337-353頁,題為《基于稀疏正則化的電阻抗層析成像重建算法》(A reconstruction algorithm for electrical impedance tomography based on sparsity regularization)的文章中。采用L2正則化方法求解逆問題所得的解會出現(xiàn)過光滑現(xiàn)象,重建圖像具有較大的偽影;而L1正則化方法在圖像的邊界銳化和去偽影方面相比L2正則化優(yōu)勢明顯,但由于其目標(biāo)函數(shù)的不可微性,求解起來相對困難,并且其對具有光滑物體分布的場域所求解時會出現(xiàn)過稀疏的問題,導(dǎo)致重建圖像小于場域物體的真實(shí)大小。但目前L1正則化算法已成為稀疏化重建算法中最受歡迎的方法之一,不斷有新的求解算法出現(xiàn),其中凸優(yōu)化類算法在求解L1正則化問題中應(yīng)用最為廣泛。

凸優(yōu)化算法是將目標(biāo)函數(shù)的求解問題轉(zhuǎn)化為凸優(yōu)化問題來進(jìn)行求解的方法。常見的求解方法包括迭代閾值法、內(nèi)點(diǎn)法、映射梯度法等。其中迭代閾值算法由于其計(jì)算簡便、原理清晰而成為研究熱點(diǎn),但同時也以迭代速度慢著稱。常用的迭代閾值算法包括迭代軟閾值算法、迭代硬閾值算法以及一些基于迭代閾值算法的改進(jìn)算法等。Amir Beck等人于2009年發(fā)表于《工業(yè)和應(yīng)用數(shù)學(xué)學(xué)會雜志:成像科學(xué)》(SIAM Journal on Imaging Sciences)第二卷,第183-202頁,題為《一種線性逆問題求解的快速迭代收縮閾值方法》(A fast iterative shrinkage-thresholding algorithm for linear inverse problems)提供了一種加速的軟閾值迭代方法來求解L1正則化問題,提高了求解速度。

張玲玲等人于2011年在發(fā)表于《世界科學(xué)與工程學(xué)術(shù)學(xué)會:電路和系統(tǒng)處理》(WSEAS Transactions on Circuits and Systems)第10卷,第393-402頁,題為《一種用于電阻層析成像的快速迭代收縮閾值方法》(A Fast Iterative Shrinkage-Thresholding Algorithm for Electrical Resistance Tomography)的文章將該快速迭代閾值算法應(yīng)用于電阻層析成像中,并對成像結(jié)果進(jìn)行討論,驗(yàn)證了方法的有效性。

然而在現(xiàn)有研究中,利用基于L1正則化的軟閾值迭代方法仍然如下缺點(diǎn):(1)迭代速度慢;(2)重建圖像的效果雖然在去偽影和邊界銳化放面好于L2正則化方法,但是依然存在所求解過于稀疏、重建圖像小于場域物體的真實(shí)分布大小的問題;(3)正則化參數(shù)的選取與場域分布密切相關(guān),當(dāng)物體分布發(fā)生變化時,通常需要重新計(jì)算選擇更合適的正則化參數(shù)才能保證所求解逼近真實(shí)解,而且正則化參數(shù)的選取對圖像重建的質(zhì)量有很大的影響。但在現(xiàn)有研究中,基于迭代軟閾值的L1正則化方法在進(jìn)行電學(xué)層析成像逆問題求解時,通常在整個迭代過程始終采用一個固定的正則化系數(shù)(λ值),在實(shí)際應(yīng)用中,對于一些未知量經(jīng)常變化的應(yīng)用場景,重復(fù)計(jì)算正則化參數(shù)將使逆問題求解過程更加復(fù)雜,難以得到一個合適的正則化參數(shù)值。雖然目前很多學(xué)者已經(jīng)針對正則化系數(shù)選取問題做了很多研究,但是并沒有提出一種具有普遍適用性的最佳選取策略,多數(shù)正則化系數(shù)選取方法都只能在某些領(lǐng)域或某些情況下才能夠達(dá)到較好地應(yīng)用效果,導(dǎo)致算法的應(yīng)用范圍較小。所以研究的重點(diǎn)在于實(shí)現(xiàn)針對不同場域分布的正則化系數(shù)自適應(yīng)選取,在每一步迭代中自適應(yīng)地調(diào)節(jié)正則化參數(shù),在一定范圍內(nèi)保證圖像重建的質(zhì)量不受初始正則化參數(shù)的影響,并且使重建圖像更接近于實(shí)物分布。



技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素:

本發(fā)明的目的在于,基于一種新的閾值迭代方法,提出一個新的稀疏正則化目標(biāo)函數(shù),并且自適應(yīng)地更新正則化參數(shù),來解決電學(xué)層析成像的稀疏重建問題。本發(fā)明以Firm迭代閾值方法為基礎(chǔ),求解新的稀疏正則化目標(biāo)函數(shù),并根據(jù)場域分布,在每一步迭代計(jì)算中自適應(yīng)地更新正則化參數(shù)值,解決稀疏正則化參數(shù)難以選取、求解計(jì)算速度較慢的問題,在不改變正則化參數(shù)的前提下,仍然可以在不同場域分布的圖像重建中得到高質(zhì)量的圖像;同時也解決了L1正則化圖像重建結(jié)果過于稀疏、重建圖像小于真實(shí)分布的問題,提高電學(xué)層析成像逆問題的求解精度和圖像質(zhì)量。本發(fā)明的技術(shù)方案如下:

一種基于Firm閾值迭代的電學(xué)層析成像稀疏重建方法,用于非連續(xù)介質(zhì)的電學(xué)層析成像,該方法將電學(xué)層析成像問題看作求解一個線性不適定問題Ax=b,其中A為靈敏度矩陣,b為相對邊界測量值向量,x為需要求解的成像灰度值。

所建立的目標(biāo)函數(shù)為:其中τ為初始人為選擇的正則化系數(shù),||·||為歐幾里得范數(shù),ρ是每一步迭代中實(shí)際采用的正則化參數(shù)的大小;是基于Firm閾值迭代函數(shù)的新的稀疏正則化項(xiàng)。重建方法包含有以下步驟:

(1)根據(jù)被測場域,獲取重建所需的相對邊界測量值向量b和靈敏度矩陣A;邊界測量值的獲取,通常是指將被測對象置于電學(xué)層析成像測量系統(tǒng)中,被測場域外均勻分布n個電極,采用電流激勵電壓測量且激勵電極不測量的模式,采集循環(huán)激勵循環(huán)測量下各個電極上的邊界電壓,相對邊界測量值向量b為不含內(nèi)含物的空場邊界測量電壓向量b1和含有內(nèi)含物的有物場的邊界測量電壓向量b2之差。

(2)設(shè)置初始化參數(shù):解初始值x0=ATb,稀疏度即非零元素個數(shù)K,初始正則化參數(shù)τ,常數(shù)t1=1,初始解x0,迭代終止條件tol,解向量的元素總數(shù)N。

(3)對xk進(jìn)行加速預(yù)處理,方式為其中預(yù)處理常數(shù)t1=1,t按照在每一步中進(jìn)行迭代更新,在接下來的運(yùn)算中用yk代替xk進(jìn)行迭代,以實(shí)現(xiàn)加速迭代求解的作用。

(4)根據(jù)上一循環(huán)中計(jì)算得到的正則化參數(shù)ρ,即本次閾值迭代計(jì)算中所選擇的閾值大小,對經(jīng)過加速處理后的上一步迭代結(jié)果進(jìn)行閾值迭代計(jì)算,代入迭代格式xk+1=Sρ,λ(yk-AT(Ayk-b))中,其中xk+1=Sρ,λ(G(xk))的閾值迭代函數(shù)算子為:將ρ代入進(jìn)行計(jì)算。

(5)計(jì)算本次迭代得到的解中非零元素的個數(shù),更新稀疏度K,根據(jù)迭代解的稀疏度更新計(jì)算下一步迭代計(jì)算中使用的正則化參數(shù)ρ;正則化參數(shù)ρ的更新策略為:

(6)判斷迭代是否符合迭代終止條件,若是則迭代終止,進(jìn)行下一步操作;若否,則跳回第(3)步繼續(xù)迭代求解;

(7)根據(jù)最終求解所得灰度值,進(jìn)行成像。

本發(fā)明的有益效果是:基于一種新的稀疏正則化目標(biāo)函數(shù),在計(jì)算過程中選擇與新目標(biāo)函數(shù)相對應(yīng)的Firm閾值函數(shù)進(jìn)行迭代求解,同時在每一步迭代過程中自適應(yīng)地根據(jù)解稀疏度來更新正則化參數(shù),是一種新的圖像稀疏重建方法。方法有效地克服了傳統(tǒng)L1正則化閾值迭代方法成像結(jié)果過于稀疏的缺點(diǎn),提高了圖像重建的精度;也解決了正則化參數(shù)難以選取的問題,提高了算法的適用性和易用性,擴(kuò)展了稀疏重建方法的應(yīng)用范圍。

附圖說明

圖1為本發(fā)明的一種新的稀疏正則化目標(biāo)函數(shù)的電學(xué)層析成像重建方法的流程框圖;

圖2為本發(fā)明的電阻層析成像系統(tǒng)圓形單截面被測場域及電極分布;

圖3為本發(fā)明的實(shí)例,在選取一個小圓模型的真實(shí)分布時,傳統(tǒng)的基于L1正則化的軟閾值迭代求解(FISTA)方法和基于新的稀疏正則化目標(biāo)函數(shù)的Firm閾值迭代(FIVTA)方法,分別在一組初始正則化參數(shù)條件下,圖像重建結(jié)果的示意圖,其中基于新的稀疏正則化目標(biāo)函數(shù)的Firm閾值迭代(FIVTA)方法即本專利發(fā)明的方法;

圖4為本發(fā)明的實(shí)例,在選取兩個小圓模型的真實(shí)分布時,傳統(tǒng)的基于L1正則化的軟閾值迭代求解(FISTA)方法和基于新的稀疏正則化目標(biāo)函數(shù)的Firm閾值迭代(FIVTA)方法,分別在一組初始正則化參數(shù)條件下,圖像重建結(jié)果的示意圖,其中基于新的稀疏正則化目標(biāo)函數(shù)的Firm閾值迭代(FIVTA)方法即本專利發(fā)明的方法;

圖5為本發(fā)明的實(shí)例中,在兩個小圓模型中,傳統(tǒng)的基于L1正則化的軟閾值迭代求解(FISTA)方法和基于新的稀疏正則化目標(biāo)函數(shù)的Firm閾值迭代(FIVTA)方法,分別在一組初始正則化參數(shù)(τ1~τ6)條件下,分別所對應(yīng)的迭代次數(shù)示意圖,其中初始正則化參數(shù)τ1~τ6是從大到小的排序;

圖中:

1、被測場域 2、電極

以上成像結(jié)果均在1%的隨機(jī)噪聲條件下測得。

具體實(shí)施方式

結(jié)合附圖和實(shí)施例對本發(fā)明的一種新的稀疏正則化目標(biāo)函數(shù)的電學(xué)層析成像重建方法加以說明。

本發(fā)明的一種新的稀疏正則化目標(biāo)函數(shù)的電學(xué)層析成像重建方法,以稀疏正則化為基礎(chǔ),針對基于L1正則化的軟閾值迭代方法所得解過稀疏以及參數(shù)難以選取的問題,結(jié)合一種基于基于新的稀疏正則化目標(biāo)函數(shù)的Firm閾值迭代方法,提出在迭代過程中利用前一步計(jì)算結(jié)果的稀疏度更新下一步迭代中的閾值,直至迭代終止的重建方法。

如圖1所示,為本發(fā)明的一種基于新的稀疏正則化目標(biāo)函數(shù)的電學(xué)層析成像重建方法流程圖。如圖2所示為電學(xué)層析成像之一的電阻層析成像系統(tǒng)圓形單截面被測場域及電極分布,采用16電極均勻分布在場域外壁。選取兩種典型的非連續(xù)介質(zhì)模型為實(shí)施例,場域內(nèi)物體真實(shí)分布如圖3左側(cè)一豎列所示。為了較好地體現(xiàn)本發(fā)明中基于新的稀疏正則化目標(biāo)函數(shù)(采用Firm閾值函數(shù)進(jìn)行迭代計(jì)算并在迭代中自適應(yīng)更新閾值大小)的方法與基于傳統(tǒng)L1正則化(采用軟閾值函數(shù)進(jìn)行迭代計(jì)算并在迭代中不更新閾值大小)的不同,分別給出這兩種算法在一組不同初始正則化參數(shù)條件下的求解結(jié)果。實(shí)施例包括如下具體步驟:

一種基于Firm閾值迭代的電學(xué)層析成像稀疏重建方法,適用于非連續(xù)介質(zhì)的電學(xué)層析成像,該方法將電學(xué)層析成像問題看作求解一個線性不適定問題Ax=b,其中A為靈敏度矩陣,b為相對邊界測量值向量,x為需要求解的成像灰度值。

閾值迭代方法是梯度下降方法的一種拓展,其內(nèi)在遵循的原理是一致的,均沿梯度的方向進(jìn)行迭代計(jì)算。和傳統(tǒng)Landweber迭代方法沿目標(biāo)函數(shù)的梯度方向求解相比,由于目標(biāo)函數(shù)中增加了一項(xiàng)正則化項(xiàng),變成的形式,此時閾值迭代方法可以視為一步Landweber迭代之后再加上一個“閾值衰減”的步驟,沿著新的目標(biāo)函數(shù)的梯度方向進(jìn)行迭代求解。傳統(tǒng)的閾值迭代方法的迭代格式為xk+1=Sλ(xk-tAT(Axk-b))。

這種基于Firm閾值迭代方法的電學(xué)層析成像稀疏重建方法的目標(biāo)函數(shù)為:其中τ為初始人為選擇的正則化系數(shù),||·||為歐幾里得范數(shù),ρ是每一步迭代中實(shí)際采用的正則化參數(shù)的大小。是基于Firm閾值迭代函數(shù)得到的新的稀疏正則化項(xiàng)。

重建方法包含有以下步驟:

(1)針對非連續(xù)介質(zhì)的兩個典型模型,分別獲取各自重建所需的邊界測量值和靈敏度矩陣:

邊界測量值是將被測對象置于電學(xué)層析成像測量系統(tǒng)中,被測場域外均勻分布16個電極(如圖2所示),采用電流激勵電壓測量且激勵電極不測量的模式,采集循環(huán)激勵循環(huán)測量下的邊界電壓,共獲得208個測量值;逆問題右端項(xiàng)b為不含內(nèi)含物的空場邊界電壓b1和含有內(nèi)含物的有物場的邊界測量電壓b2之差(即右端項(xiàng)相對邊界測量值b=b1-b2);

靈敏度矩陣是根據(jù)不含內(nèi)含物的空場的邊界測量電壓,結(jié)合靈敏度理論,計(jì)算靈敏度矩陣,計(jì)算公式為:

其中Aij是第j個電極對對第i個電極對的靈敏度系數(shù),φij分別為第i個電極對及第j個電極對在激勵電流為Ii,Ij時場域電勢分布,x,y分布為場域的橫縱坐標(biāo);

(2)設(shè)置初始化參數(shù):

設(shè)置的初始化參數(shù)包括:解初始值x0=ATb,初始預(yù)估稀疏度(非零元素個數(shù))K=N/5,正則化系數(shù)τ通常從開始從大到小選取以方便兩種算法進(jìn)行比較,t1=1,迭代終止條件tol=2e-2;

(3)對上一步得到的解xk進(jìn)行預(yù)處理,目的是為了加速收斂,公式為:

其中,tk的更新策略是:

(4)對預(yù)處理之后的解進(jìn)行閾值迭代計(jì)算,xk+1=Sρ,λ(yk-AT(Ayk-b));其中

迭代公式的迭代格式為:

(5)計(jì)算非零元素的個數(shù),更新稀疏度K,計(jì)算下一步迭代計(jì)算中使用的閾值ρ;閾值ρ的更新策略為:

(6)根據(jù)兩步迭代所求解之間殘差(||xk+1-xk||≤tol是否成立)來判斷迭代是否完成,若是則迭代終止,進(jìn)行下一步操作,若否,則跳回第(3)步繼續(xù)求解;

(7)根據(jù)最終求解所得灰度值,進(jìn)行成像。

圖3為本發(fā)明的實(shí)例,在選取一個小圓模型的真實(shí)分布時,傳統(tǒng)的基于L1正則化的軟閾值迭代求解(FISTA)方法和基于新的稀疏正則化目標(biāo)函數(shù)的Firm閾值迭代(FIVTA)方法,分別在一組初始正則化參數(shù)條件下,圖像重建結(jié)果的示意圖;圖4為本發(fā)明的實(shí)例,在選取兩個小圓模型的真實(shí)分布時,傳統(tǒng)的基于L1正則化的軟閾值迭代求解(FISTA)方法和基于新的稀疏正則化目標(biāo)函數(shù)的Firm閾值迭代(FIVTA)方法,分別在一組初始正則化參數(shù)條件下,圖像重建結(jié)果的示意圖;圖5為本發(fā)明的實(shí)例中,在兩個小圓模型中,傳統(tǒng)的基于L1正則化的軟閾值迭代求解(FISTA)方法和基于新的稀疏正則化目標(biāo)函數(shù)的Firm閾值迭代(FIVTA)方法,分別在一組初始正則化參數(shù)(τ1~τ6)條件下,分別所對應(yīng)的迭代次數(shù)示意圖,其中初始正則化參數(shù)τ1~τ6是從大到小的排序;

可以看出,兩個模型中,在相同的正則化參數(shù)條件下,基于L1正則化的軟閾值迭代求解(FISTA)方法的解過于稀疏,不能很好地描述物體的大小,相比實(shí)物偏?。换谛碌南∈枵齽t化目標(biāo)函數(shù)的Firm閾值迭代(FIVTA)方法更加準(zhǔn)確的描述了場域內(nèi)物體的分布,提高了逆問題求解精度和圖像重建質(zhì)量。同時,在兩個模型中還可以看出,隨著正則化參數(shù)選擇的不同,F(xiàn)IVTA(本算法)成像的結(jié)果穩(wěn)定性較高,基本不受初始正則化參數(shù)選擇的影響,在實(shí)際應(yīng)用中可以較好地解決正則化參數(shù)難以選取的問題。并且,本算法的迭代次數(shù)和計(jì)算時間相比傳統(tǒng)基于L1正則化的軟閾值迭代求解(FISTA)方法都有較大的提高。

以上所述實(shí)施例為本發(fā)明的幾個較佳模型,本發(fā)明不局限于該實(shí)施例和附圖所公開的內(nèi)容。凡是不脫離本發(fā)明所公開的精神下完成的等效或修改,都在本發(fā)明保護(hù)的范圍。

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