本發(fā)明涉及一種集成電路設(shè)計(jì)中的故障檢測(cè)測(cè)量，尤其涉及一種用于對(duì)具有攔截器的布局進(jìn)行漏洞評(píng)估的計(jì)算機(jī)化機(jī)構(gòu)。
背景技術(shù)：
：對(duì)集成電路這類(lèi)的實(shí)體裝置進(jìn)行安全性弱點(diǎn)的測(cè)試不論在勞動(dòng)力和結(jié)果(例如，上市時(shí)間)方面均過(guò)于昂貴，因?yàn)榻鉀Q所檢測(cè)的故障需要反復(fù)且完整的下線(xiàn)(tape-out)循環(huán)。技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：本發(fā)明所揭示的一個(gè)示例性實(shí)施例是一種用于對(duì)具有攔截器(interceptor)的布局進(jìn)行漏洞評(píng)估的計(jì)算機(jī)化機(jī)構(gòu)，包括至少一計(jì)算機(jī)化裝置，其被配置為接收具有在預(yù)安排位置處并入攔截器的布局，并執(zhí)行多個(gè)操作，所述操作包括：通過(guò)模型化影響布局中的時(shí)序(timing)的物理現(xiàn)象而虛擬地誘發(fā)所述布局中的故障的故障誘發(fā)操作；響應(yīng)于根據(jù)時(shí)序與所提供的規(guī)范之間的差異(discrepancy)所誘發(fā)的故障，而檢測(cè)布局中的時(shí)序違規(guī)(timingviolation)的檢測(cè)操作；根據(jù)檢測(cè)到的故障確定布局到故障的漏洞的故障確定操作。在本發(fā)明所揭示的另一些示例性實(shí)施例中，所述物理現(xiàn)象是具有由時(shí)間因子和直徑表示的強(qiáng)度的虛擬激光光束。所述計(jì)算機(jī)化裝置還可執(zhí)行布局分割操作，用以根據(jù)所述物理現(xiàn)象的直徑將布局分成多個(gè)分區(qū)，其中各分區(qū)包括單元、網(wǎng)或其組合。所述虛擬激光光束通過(guò)分區(qū)掃描布局并且根據(jù)時(shí)間因子改變分區(qū)中的單元和網(wǎng)的指定時(shí)序，并且其中所述檢測(cè)操作包括在每個(gè)分區(qū)中檢測(cè)單元和網(wǎng)的時(shí)序與所提供的規(guī)范之間的差異，并且其中所述故障確定操作系根據(jù)攔截器外所檢測(cè)到的時(shí)序違規(guī)確定所述布局到故障的漏洞。在所揭示的標(biāo)的物的另一些示例性實(shí)施例中，所述物理現(xiàn)象是模型化電磁照射或加熱。附圖說(shuō)明圖1A根據(jù)本發(fā)明的示例性實(shí)施例示意性地說(shuō)明單元的布局，其中一些單元是攔截器；圖1B根據(jù)本發(fā)明的示例性實(shí)施例，示意性地說(shuō)明具有照射布局的激光光束的圖示的圖1A的布局；圖1C根據(jù)本發(fā)明的示例性實(shí)施例，示意性地說(shuō)明圓形光束的矩形近似(approximation)；圖2A根據(jù)本發(fā)明的示例性實(shí)施例，示意性地且簡(jiǎn)明地說(shuō)明根據(jù)方塊116的重復(fù)與具有分區(qū)的圖1C的布局類(lèi)似的布局，每個(gè)分區(qū)表示為分區(qū)118；圖2B根據(jù)本發(fā)明的示例性實(shí)施例，示意性地且簡(jiǎn)明地說(shuō)明根據(jù)故障攔截的評(píng)估指示易受侵入的分區(qū)的根據(jù)圖2A的布局和分區(qū)；圖2C-1至圖2C-2根據(jù)本發(fā)明的示例性實(shí)施例示意性地概述評(píng)估故障攔截的操作。附圖標(biāo)記：100：布局；102：?jiǎn)卧?04：攔截器；112：光束；114：直徑；116：方塊；118：分區(qū)；200：操作；202、204、206、208、210、212、214：操作步驟；216：虛線(xiàn)箭頭；218、220、222、224、226、230：操作步驟；228：虛線(xiàn)箭頭。具體實(shí)施方式在本發(fā)明的上下文中且除非另外規(guī)定，否則藉由模型和/或在硬件說(shuō)明的結(jié)構(gòu)中表示電路。其中，可以通過(guò)合適的工具(例如，Verilog或VHDL)模擬或以其它方式分析出模型的操作方式。同樣地，除非另外規(guī)定，否則應(yīng)用于電路的操作虛擬地應(yīng)用于虛擬電路。在本發(fā)明的上下文中，在不具有限制的情況下，提及到“虛擬”實(shí)體或現(xiàn)象或出現(xiàn)分別意味著實(shí)體或現(xiàn)象或出現(xiàn)的模仿或模擬或模型化。在本發(fā)明的上下文中，在不具有限制的情況下，“布局”是指布置有多個(gè)組件和組件之間的互連(interconnections)的電子電路的設(shè)計(jì)布局。在本發(fā)明的上下文中，在不具有限制的情況下，“故障攔截器”或簡(jiǎn)稱(chēng)“攔截器”意指電路的單元，例如單元或塊(block)，包括響應(yīng)于其中的干擾或擾動(dòng)的設(shè)計(jì)操作和/或特性的一些邏輯組件，這些邏輯組件可展現(xiàn)不同于在不受干擾的正常情況下的功能性或特性。因此，通過(guò)比較或評(píng)估攔截器的反應(yīng)與通常預(yù)期的反應(yīng)，入侵(intrusions)可以被識(shí)別，即攔截。攔截器可以是其它邏輯單元之中的獨(dú)立電路和/或可以與其它單元或電路互連。在本發(fā)明的上下文中，在不具有限制的情況下，提及故障的植入意味著在電路中產(chǎn)生或誘發(fā)或以其它方式引起故障或失靈。在本發(fā)明的上下文中，在不具有限制的情況下，“單元”意指邏輯或電路的單元，例如，專(zhuān)用集成電路(ApplicationSpecificIntegratedCircuit,ASIC)的標(biāo)準(zhǔn)單元或在現(xiàn)場(chǎng)可編程門(mén)陣列(FieldProgrammableGateArray,FPGA)中的塊或來(lái)自給定庫(kù)的任何其它單元。當(dāng)單元設(shè)置在布局中時(shí)，隨后通常所述單元與布局中的互連相關(guān)聯(lián)，所述互連還可被稱(chēng)為“網(wǎng)”。通常單元與關(guān)于其邏輯或電路的參數(shù)以及至少任選地關(guān)于網(wǎng)或部分網(wǎng)(子網(wǎng))的參數(shù)或其它信息相關(guān)聯(lián)，所述參數(shù)或其它信息指定單元和/或網(wǎng)的操作數(shù)據(jù)，例如，與沿著連接的路徑的信號(hào)進(jìn)程有關(guān)的時(shí)序、延遲或其它數(shù)據(jù)。所述參數(shù)可以由本領(lǐng)域的慣例提供，例如，在標(biāo)準(zhǔn)延遲格式(StandardDelayFormat,SDF)檔中或在新思設(shè)計(jì)約束(SynopsysDesignConstraints,SDC)檔中。另外，對(duì)前述用語(yǔ)的解釋還可擴(kuò)及至各用語(yǔ)的變形(inflections)和同源詞。本發(fā)明所要解決的技術(shù)問(wèn)題是在硅前設(shè)計(jì)階段(pre-silicondesignphase)評(píng)估集成電路中的故障攔截。本發(fā)明提出的技術(shù)解決方案是將攔截器并入設(shè)計(jì)布局中，隨后在布局中植入或產(chǎn)生故障并且判斷故障的檢測(cè)程度。所述故障可以歸因于各種現(xiàn)象或偶發(fā)事件，所述的現(xiàn)象或偶發(fā)事件具有可以擾亂電子電路的固有的操作且誘發(fā)或產(chǎn)生故障的各式各樣的量和區(qū)域。這類(lèi)的現(xiàn)象例如，以聚焦且精細(xì)的范圍的激光光束照射，且所述激光光束可基本上具有高強(qiáng)度或能量密度?；蛘呃?，施加電磁場(chǎng)或電場(chǎng)或磁場(chǎng)，其與激光光束相比具有較大的范圍且可能具有較低的場(chǎng)密度?；蛘呷魏纹渌F(xiàn)象，例如加熱，其通常會(huì)消散掉且具有至少大于激光光束的范圍。于至少部分的實(shí)施例中，常見(jiàn)的故障特征是，增加或改變可能對(duì)電子組件的操作產(chǎn)生不利的影響的電子分布和/或發(fā)射，所述電子組件通常至少與連接組件調(diào)整與協(xié)調(diào)成一致。在一些實(shí)施例中，為了提高故障攔截的可靠性，改變用以產(chǎn)生故障的現(xiàn)象的量和/或強(qiáng)度，例如，增加激光光束的強(qiáng)度或降低溫度。通常，在設(shè)計(jì)階段，通過(guò)改變歸因于邏輯組件的時(shí)序響應(yīng)使故障可被察覺(jué)，當(dāng)用以產(chǎn)生故障的現(xiàn)象的強(qiáng)度最大，則歸因于容量和/或感應(yīng)和/或布朗運(yùn)動(dòng)(Brownianmotions)的時(shí)序差異也最大。例如，當(dāng)具有的激光強(qiáng)度最大，則響應(yīng)時(shí)間最快，因?yàn)轱@然存在更多減小阻抗的發(fā)射電子；并且當(dāng)溫度冷卻得越低，即，減少加熱，則響應(yīng)時(shí)間越慢，因?yàn)橄鄬?duì)于普通情況存在較少自由電子。本發(fā)明的一個(gè)潛在技術(shù)效果是至少具有攔截侵入意義的容錯(cuò)電子電路。本發(fā)明的另一潛在技術(shù)效果是至少具有以下意義的容錯(cuò)電子電路：具有和/或增加在攔截器中出現(xiàn)無(wú)害故障的可能性而不是在電子電路的其它部分中出現(xiàn)有害故障。在下文中呈現(xiàn)了實(shí)踐本發(fā)明的大體的非限制性概述。概述概括了本發(fā)明的實(shí)施例的示例性實(shí)踐，提供用于變形的構(gòu)造基礎(chǔ)和/或替代的和/或不同的實(shí)施例，隨后將描述其中的一些實(shí)施例。圖1A根據(jù)所揭示的本發(fā)明的示例性實(shí)施例，示意性地說(shuō)明單元(如單元102)的布局100，其中一些單元是攔截器104且標(biāo)記為“CM檢測(cè)器”。應(yīng)注意，單元102的任何例子未必與任何其它單元102相同或相等；同樣地應(yīng)注意，任何實(shí)例中的攔截器104未必與任何其它攔截器104相同或相等。布局100表示任何范圍(extent)以及任何單元的任何布局，并且攔截器在布局中的量和位置和/或分布表示攔截器在布局中的任何合適的和/或可行的分配或配置。稍后進(jìn)一步論述攔截器在布局中的分配和分布的確定方法。舉例來(lái)說(shuō)，激光光束掃描布局，如同侵入或推斷布局的電路的工作，且所述的掃描類(lèi)似于本領(lǐng)域已知的技術(shù)。圖1B是根據(jù)本發(fā)明的示例性實(shí)施例，示意性地說(shuō)明具有激光光束(表示為光束112)的布局100，所述激光光束以表示為直徑114的直徑照射布局100。圖1C根據(jù)本發(fā)明的示例性實(shí)施例，示意性地說(shuō)明圓形光束的矩形近似。由于布局通常由矩形單元形成，因此藉由方塊116近似和表示光束112。因此，以光束112進(jìn)行掃描相當(dāng)于在布局100上遞增地重復(fù)方塊116。圖2A根據(jù)本發(fā)明的示例性實(shí)施例，示意性地且簡(jiǎn)明地說(shuō)明具有多個(gè)分區(qū)的布局100。這些分區(qū)是根據(jù)圓形光束的矩形表示的多個(gè)重復(fù)，且圓形光束的矩形表示類(lèi)似于圖1C的方塊116。方塊116的遞增重復(fù)將布局100分成多個(gè)分區(qū)(示例性地表示為‘S_00’至‘S_31’)，其中每一個(gè)分區(qū)涉及單元和網(wǎng)或與單元和網(wǎng)相關(guān)聯(lián)；且反之亦然。下表1為一個(gè)任意性示例，其中一些示例性單元在圖1C中以與光束112相對(duì)應(yīng)的方塊116示出。表1分區(qū)網(wǎng)S-00NET3,NET36,AND21,...S_01N563,NET4355,NOR324,.........S_31N42,MUX2,XOR34,...當(dāng)根據(jù)方塊116的大小將布局100分成若干分區(qū)，網(wǎng)會(huì)被或可能被任意切斷或分開(kāi)。因此，在一些實(shí)施例中，根據(jù)一些指導(dǎo)原則或限制的執(zhí)行使分區(qū)與網(wǎng)相關(guān)聯(lián)，以便將任一個(gè)方塊116指派給可能所屬的網(wǎng)，和/或避免網(wǎng)在分區(qū)中的冗位。圖2B是根據(jù)本發(fā)明的示例性實(shí)施例示意性地且簡(jiǎn)明地以標(biāo)記說(shuō)明圖2A的布局中易受侵入的分區(qū)。其中，可根據(jù)如圖2C-1至圖2C-2所示的故障攔截的評(píng)估步驟來(lái)判斷出上述易受侵入的分區(qū)。圖2C-1至圖2C-2是根據(jù)本發(fā)明的示例性實(shí)施例，示意性地概述評(píng)估故障攔截的操作200。在操作步驟202中，設(shè)定模仿激光光束的虛擬光束的直徑，例如，在本領(lǐng)域中用于電路(例如ASIC)的侵入或黑盒分析的激光光束的直徑。選擇性地，所述直徑表示其它媒體的直徑或范圍，例如，電磁照射的截面。在操作步驟204中，將光束的強(qiáng)度設(shè)定為表示關(guān)于單元或網(wǎng)中的時(shí)序和延遲和/或信號(hào)進(jìn)程的效應(yīng)的時(shí)序因數(shù)。通過(guò)時(shí)序因數(shù)表示強(qiáng)度的可能原理歸因于光束對(duì)于電子量和/或分布的效應(yīng)，例如，歸因于光電效應(yīng)?？蛇x地，時(shí)序因數(shù)表示電磁照射的強(qiáng)度和/或能量密度。為簡(jiǎn)潔起見(jiàn)且除非另外規(guī)定，否則提及光束(例如，激光光束)就實(shí)際的情形表示任何破壞性媒體。在操作步驟206中，根據(jù)光束的直徑將包括攔截器且用于漏洞評(píng)估的布局分成數(shù)個(gè)分區(qū)。通常，一個(gè)分區(qū)覆蓋一個(gè)或多個(gè)單元和/或一個(gè)或多個(gè)網(wǎng)或子網(wǎng)，盡管一個(gè)分區(qū)可以不覆蓋任何組件。在操作步驟208中，從布局的設(shè)計(jì)中獲得或得到關(guān)于每個(gè)分區(qū)的單元和網(wǎng)或其部分。在操作步驟210中，選擇一個(gè)分區(qū)。通常但不具有限制性，布局的一個(gè)角落被選作為在序列中出現(xiàn)的第一分區(qū)，例如，圖2A中表示為‘S_00’的分區(qū)。在操作步驟212中，通過(guò)時(shí)序因數(shù)修改屬于分區(qū)的單元和網(wǎng)的時(shí)序參數(shù)，由此至少在一定程度上模型化照射分區(qū)的光束的效應(yīng)。模型化的光束強(qiáng)度通常影響分區(qū)的單元和/或網(wǎng)的操作或響應(yīng)的減速，盡管不排除分區(qū)的單元和/或網(wǎng)的操作或響應(yīng)的加速。操作步驟212還被標(biāo)記為“A”以用于隨后頁(yè)上的圖2C-2的延續(xù)部分的參考。在操作步驟214中，執(zhí)行屬于分區(qū)的單元和網(wǎng)的時(shí)序分析以決定所模型化或模擬的光束的虛擬效應(yīng)。如虛線(xiàn)箭頭216所示，操作200在下一頁(yè)上標(biāo)記為“B”的位置處繼續(xù)。在操作步驟218中，檢查是否已在分析中檢測(cè)到時(shí)序違規(guī)。如果未檢測(cè)到時(shí)序違規(guī)，那么控制傳遞到操作步驟224；否則控制傳遞到操作步驟220。在操作步驟220中，檢查是否在攔截器中出現(xiàn)時(shí)序違規(guī)。如果攔截器中出現(xiàn)時(shí)序違規(guī)，那么控制傳遞到操作步驟224；否則控制傳遞到操作步驟222。在操作步驟222中，當(dāng)尚未在攔截器中出現(xiàn)時(shí)序違規(guī)時(shí)，目前選定的分區(qū)(包括其中的單元和網(wǎng))被標(biāo)記為易受侵入。分區(qū)通過(guò)任何技術(shù)被標(biāo)記，例如，通過(guò)標(biāo)志、通過(guò)評(píng)級(jí)、評(píng)分或任何其它技術(shù)，例如通過(guò)注冊(cè)或記錄在列表或數(shù)據(jù)庫(kù)中。如圖2B所示，相對(duì)于圖2A中的任何一個(gè)分區(qū)118，易受侵入的分區(qū)118被以較暗的標(biāo)記象征性地示例出。應(yīng)注意的是，盡管分區(qū)中的時(shí)序違規(guī)被認(rèn)為是漏洞，但是攔截器中的時(shí)序違規(guī)被認(rèn)為是中性的或不重要的，因?yàn)閿r截器不是布局本身的電路的一部分，并且除了攔截違規(guī)之外，在涉及布局的既定操作時(shí)攔截器實(shí)際上或幾乎是閑置或無(wú)效的。在操作步驟224中，檢查是否仍存在未處理的未決分區(qū)。如果存在未決分區(qū)，那么控制傳遞到操作步驟226以選擇下一未決分區(qū)，并且控制傳遞到還標(biāo)記為“A”的操作步驟212(如虛線(xiàn)箭頭228所示)，以對(duì)目前選定的分區(qū)重復(fù)上述的操作步驟212至操作步驟224；否則，如果不再存在未決分區(qū)，那么至少在涉及操作200的當(dāng)前傳遞或執(zhí)行時(shí)結(jié)束評(píng)估(如操作步驟230)。因此，在一些實(shí)施例中，如果在攔截器外部檢測(cè)到時(shí)序違規(guī)，則布局將被決定或判斷為易受損的?？蛇x地，還根據(jù)此類(lèi)違規(guī)的量和/或數(shù)量做出上述判斷，例如，少量違規(guī)不會(huì)影響漏洞的判斷?？蛇x地或替代地，還執(zhí)行一些其它的操作或程序，例如，反復(fù)和/或一些終端程序。在一些實(shí)施例中，通過(guò)不同設(shè)置重復(fù)或反復(fù)操作200。例如，模擬或模型化光束以通過(guò)逐漸遞增的強(qiáng)度虛擬地掃描布局，從而模型化更強(qiáng)而有力的侵入。同樣地，可以改變光束直徑并且模擬或模型化光束以虛擬地掃描具有不同大小的分區(qū)的布局。在一些實(shí)施例中，在操作200已結(jié)束之后，執(zhí)行一些終端程序。例如，評(píng)估布局的漏洞且據(jù)此添加和/或移動(dòng)攔截器到布局中，且可選地，移除攔截器。通常，在一些實(shí)施例中，在此類(lèi)修改之后，藉由如上文所描述的操作200再次評(píng)估布局的漏洞。應(yīng)注意，所決定的時(shí)序違規(guī)通常具有一些公差。時(shí)序公差通常根據(jù)門(mén)電路或邏輯組件和其間的連接以及連接的長(zhǎng)度在設(shè)計(jì)中的位置之間改變。在一些情況下，公差的改變是根據(jù)在設(shè)計(jì)中的組件之間的信號(hào)的時(shí)脈和/或傳播時(shí)間，并且進(jìn)一步還可能根據(jù)組件的性質(zhì)，其中一些組件可能對(duì)時(shí)序變化更敏感并且其它組件可能對(duì)此類(lèi)變化更穩(wěn)定或更有彈性。需注意的是，上述實(shí)施例所提供的操作200的順序和/或功能僅為本發(fā)明的一示例，本領(lǐng)域技術(shù)人員可以依據(jù)實(shí)際狀況對(duì)操作200進(jìn)行改變或修改。例如，設(shè)定時(shí)序因數(shù)可以在設(shè)定直徑之前，或可以針對(duì)各選定分區(qū)單獨(dú)地執(zhí)行獲得關(guān)于分區(qū)的網(wǎng)的操作步驟208，或可以組合或同時(shí)完成設(shè)定光束直徑和強(qiáng)度。盡管光束以上述的直徑掃描布局，但是在一些實(shí)施例中，在布局中產(chǎn)生較大范圍的故障和/或總體故障，并且為了指出故障，可以根據(jù)分區(qū)或光束直徑并利用如操作200的方法來(lái)檢查分區(qū)，其中分區(qū)的大小或光束直徑的幅度與光束直徑有關(guān)。在一些實(shí)施例中，分區(qū)未必是正方形或矩形。例如，在至少一部份的實(shí)施例中，六邊形分區(qū)可能比矩形區(qū)域更適合用來(lái)表示圓形區(qū)域。在一些實(shí)施例中，例如，為了單元和網(wǎng)的功能性的更好分離，允許分區(qū)之間有一些重疊。應(yīng)注意，上述實(shí)施例中以時(shí)序違規(guī)作為故障的示例，并且可以通過(guò)類(lèi)似或變形方式且在本發(fā)明的范圍下檢測(cè)和分析其它故障。例如，可以檢測(cè)和分析異常電流或電壓或不穩(wěn)定狀態(tài)并且可以就實(shí)際的情形相對(duì)于時(shí)序判斷和評(píng)估布局的易損性。通常，在布局中的攔截器的量和/或其密度之間以及在其它因素或約束之間存在折衷。盡管具有愈多的攔截器是有益的，但是過(guò)多的攔截器可能增加設(shè)計(jì)的大小和/或功率消耗和/或產(chǎn)熱和/或面臨其它不利的方面，如設(shè)計(jì)的復(fù)雜性或不會(huì)留下足夠的“基板面(realestate)”。因此，在一些實(shí)施例中，攔截器的數(shù)目與其功能性之間的均衡或折衷可通過(guò)以下因素被確定，例如，通過(guò)攔截器的合適分布，可選地，更可考慮設(shè)計(jì)的哪些部分與其它部分相比更敏感和/或更易受損。在一些實(shí)施例中，一些試探程序和/或指導(dǎo)原則，或可選地結(jié)合其它技術(shù)，被設(shè)計(jì)和/或?qū)嵤?，以用于決定攔截器的分布。在一些實(shí)施例中，以某些定性和/或定量程度表達(dá)攔截器在布局中的分布。例如，以具有至少1個(gè)攔截器的分區(qū)數(shù)除以總分區(qū)數(shù)，或被識(shí)別出時(shí)序違規(guī)的分區(qū)數(shù)除以總分區(qū)數(shù)的結(jié)果來(lái)表達(dá)攔截器在布局中的分布。此外，在一些實(shí)施例中，如上述的定量表達(dá)式可以作為用于確定攔截器在布局中的分布的目標(biāo)函數(shù)，且可能具有通過(guò)其它因素(例如，敏感度或復(fù)雜性)的調(diào)整和/或細(xì)調(diào)節(jié)。應(yīng)注意，相對(duì)于攔截器和布局的其余部分，除了檢測(cè)和分析故障和/或作為檢測(cè)和分析故障的替代方案，在一些實(shí)施例中，攔截器對(duì)侵入的響應(yīng)可以用于確定布局是否被侵入，并且可選地還可確定布局的哪個(gè)區(qū)域被入侵。具有足夠的攔截器的密集分布(可能考慮上文提到的限制和約束)，可以增加或至少令人滿(mǎn)意地實(shí)現(xiàn)通過(guò)攔截器的入侵檢測(cè)的可能性或可靠性，并且可選地還可具有更佳的入侵檢測(cè)的定位性。發(fā)明的程序的目標(biāo)是實(shí)現(xiàn)一種至少幾乎和/或在某一相當(dāng)大的或合適的程度上對(duì)侵入而言是安全的電路，例如，如在微芯片中或如任何其它實(shí)施方案，例如，ASIC或VLSI產(chǎn)品的零件。為了實(shí)現(xiàn)目標(biāo)，使用各種電子設(shè)計(jì)工具，例如，通過(guò)寄存器傳送語(yǔ)言(registertransferlanguage,RTL)的譯碼、將代碼編譯或轉(zhuǎn)換成基本邏輯組件網(wǎng)表以及通過(guò)用于微芯片制造廠(chǎng)/過(guò)程(microchipfabricationplant/process,FAB)技術(shù)和單元在布局中的放置的特定數(shù)位標(biāo)準(zhǔn)單元庫(kù)的映射。此外，將攔截器并入布局是根據(jù)至少時(shí)序分析并且進(jìn)一步一些其它函數(shù)(例如，上文提到的定量表達(dá)式)涉及反復(fù)操作以獲得至少表觀(guān)地充分安全的設(shè)計(jì)，所述安全設(shè)計(jì)具有在損壞造成之前防止侵入和/或檢測(cè)侵入的意義。如上文所描述的機(jī)構(gòu)和操作明顯地且顯然地遠(yuǎn)超出人類(lèi)的能力，即使通過(guò)紙筆或計(jì)算器輔助，并且僅可通過(guò)例如使用存儲(chǔ)器的積體和/或分離裝置、輸入/輸出和/或其它功能性(例如，通信)的電子處理器的機(jī)械設(shè)備執(zhí)行。因此，毫無(wú)疑問(wèn)，本文所揭示的機(jī)構(gòu)和程序與用于其實(shí)施的機(jī)器相關(guān)聯(lián)。因此，通過(guò)操作至少一個(gè)處理器的計(jì)算機(jī)化系統(tǒng)執(zhí)行操作200以及布局(例如，布局100)的設(shè)計(jì)階段。因此根據(jù)本發(fā)明提供一種用于對(duì)具有攔截器的布局進(jìn)行漏洞評(píng)估的計(jì)算機(jī)化機(jī)構(gòu)，其包括至少一計(jì)算機(jī)化裝置，上述計(jì)算機(jī)化裝置被配置為接收具有在預(yù)安排位置處并入攔截器的布局，并執(zhí)行多個(gè)操作，這些操作包括：通過(guò)模型化影響布局中的時(shí)序的物理現(xiàn)象而虛擬地誘發(fā)所述布局中的故障的一故障誘發(fā)操作；響應(yīng)于根據(jù)時(shí)序與所提供的規(guī)范之間的差異所誘發(fā)的故障而檢測(cè)布局中的時(shí)序違規(guī)的一檢測(cè)操作；及根據(jù)檢測(cè)到的故障確定布局到故障的漏洞的一故障確定操作。在一些實(shí)施例中，所述物理現(xiàn)象是具有由時(shí)間因子和直徑表示的強(qiáng)度的虛擬激光光束。所述計(jì)算機(jī)化裝置更執(zhí)行一布局分割操作，用以根據(jù)物理現(xiàn)象的直徑將所述布局分成多個(gè)分區(qū)，其中各分區(qū)包括單元、網(wǎng)或其組合。光束以直徑掃描布局以將布局分割為多個(gè)分區(qū)，并且根據(jù)時(shí)間因子改變分區(qū)中的單元和網(wǎng)的指定時(shí)序。其中，上述檢測(cè)操作包括在每個(gè)分區(qū)中檢測(cè)單元和網(wǎng)的時(shí)序與所提供的規(guī)范之間的差異。其中，所述故障確定操作是根據(jù)攔截器外部所檢測(cè)到的時(shí)序違規(guī)確定布局到故障的漏洞。在一些實(shí)施例中，所述計(jì)算機(jī)化裝置以不同強(qiáng)度的物理現(xiàn)象依序地重復(fù)所述故障誘發(fā)操作、所述檢測(cè)操作及所述故障確定操作至少一次以上。在一些實(shí)施例中，所述計(jì)算機(jī)化裝置以不同程度的模型化的物理現(xiàn)象重復(fù)所述故障誘發(fā)操作、所述檢測(cè)操作及所述故障確定操作至少一次以上。在一些實(shí)施例中，所述計(jì)算機(jī)化裝置還可執(zhí)行一攔截器位置修改操作，響應(yīng)于所述故障確定操作且進(jìn)一步重復(fù)所述多個(gè)操作，而修改攔截器在布局中的位置。在一些實(shí)施例中，所述計(jì)算機(jī)化裝置還可執(zhí)行一攔截器數(shù)量修改操作，響應(yīng)于所述故障確定操作且進(jìn)一步重復(fù)所述多個(gè)操作，而修改攔截器在布局中的量。在一些實(shí)施例中，所述計(jì)算機(jī)化裝置還可執(zhí)行一攔截器位置與數(shù)量修改操作，響應(yīng)于所述故障確定操作且進(jìn)一步重復(fù)所述多個(gè)操作，而修改攔截器在布局中的位置和數(shù)量。在一些實(shí)施例中，所述故障確定操作是根據(jù)攔截器中的時(shí)序違規(guī)的檢測(cè)。在一些實(shí)施例中，所述物理現(xiàn)象是模型化電磁照射。在一些實(shí)施例中，所述物理現(xiàn)象是模型化加熱。在本發(fā)明的一些實(shí)施例的上下文中，舉例來(lái)說(shuō)且不具有限制性，例如“操作”或“執(zhí)行”的用語(yǔ)還分別暗示例如“可操作”或“可執(zhí)行”的能力。舉例來(lái)說(shuō)，例如“事物特性”的共軛用語(yǔ)意指事物的特性，除非另有從其上下文中顯而易見(jiàn)的其它定義。用語(yǔ)“處理器”或“計(jì)算機(jī)”或其系統(tǒng)在本文中用作本領(lǐng)域的一般情況，例如通用處理器或微處理器、精簡(jiǎn)指令集計(jì)算機(jī)(ReducedInstructionSetComputer,RISC)處理器、或數(shù)字信號(hào)處理器(DigitalSignalProcessor,DSP)，可能包括另外的組件，例如存儲(chǔ)器或通信端口?？蛇x地或另外，用語(yǔ)“處理器”或“計(jì)算機(jī)”或其衍生物是指能夠執(zhí)行所提供的或所并入的程序和/或能夠控制和/或存取數(shù)據(jù)存儲(chǔ)裝置和/或其它裝置(例如，輸入端以及輸出端)的裝置。用語(yǔ)“處理器”或“計(jì)算機(jī)”還指連接的、和/或鏈接的和/或以其它方式通信的多個(gè)處理器或計(jì)算機(jī)，其可能共享一個(gè)或多個(gè)其它資源，例如存儲(chǔ)器。用語(yǔ)“計(jì)算機(jī)化設(shè)備”或“計(jì)算機(jī)化系統(tǒng)”或類(lèi)似用語(yǔ)表示包括根據(jù)一個(gè)或多個(gè)程序可操作或操作的一或多個(gè)處理器的裝置。流程圖以及方框圖說(shuō)明了根據(jù)本發(fā)明所揭示的標(biāo)的物的各種實(shí)施例的系統(tǒng)、方法和計(jì)算機(jī)程序產(chǎn)品的可能實(shí)施方案的架構(gòu)、功能性或操作。就此而言，在流程圖或方塊圖中的每個(gè)塊可以表示程序代碼的模塊、區(qū)段或部分，其包括用于實(shí)施所指定的邏輯功能的一個(gè)或多個(gè)可執(zhí)行指令。還應(yīng)注意，在一些替代實(shí)施方案中，所說(shuō)明的或描述的操作可以不同順序或以組合出現(xiàn)或作為并發(fā)操作，而不是依序操作以實(shí)現(xiàn)相同或相等效應(yīng)。權(quán)利要求中的對(duì)應(yīng)所有方法或步驟加功能元件的結(jié)構(gòu)、材料、動(dòng)作以及等效物既定包含用于組合如特別主張的其它要求的元件執(zhí)行功能的任何結(jié)構(gòu)、材料或動(dòng)作。如本文所使用，單數(shù)形式“一”以及“所述”既定還包含多個(gè)形式，除非上下文另外清楚地指示。應(yīng)進(jìn)一步理解，用語(yǔ)“包括(comprises)”和/或“包括(comprising)”和/或“具有(having)”在用于本說(shuō)明書(shū)中時(shí)指定所陳述的特征、整數(shù)、步驟、操作、元件和/或組件的存在，但不排除一個(gè)或多個(gè)其它特征、整數(shù)、步驟、操作、元件、組件、和/或其群組的存在或添加。不應(yīng)將本文所使用的用語(yǔ)理解為限制性的，除非另外說(shuō)明，并且本文所使用的用語(yǔ)僅僅是出于描述具體實(shí)施例的目的且并非意圖限制所揭示的標(biāo)的物。雖然已經(jīng)說(shuō)明和描述了所揭示的標(biāo)的物的某些實(shí)施例，但是顯然本發(fā)明不限于本文所述的實(shí)施例。并不排除多種修改、改變、變化、替代物和等效物。當(dāng)前第1頁(yè)1 2 3