技術(shù)編號：11156205
提示：您尚未登錄，請點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點(diǎn) 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及一種集成電路設(shè)計(jì)中的故障檢測測量，尤其涉及一種用于對具有攔截器的布局進(jìn)行漏洞評估的計(jì)算機(jī)化機(jī)構(gòu)。背景技術(shù)對集成電路這類的實(shí)體裝置進(jìn)行安全性弱點(diǎn)的測試不論在勞動(dòng)力和結(jié)果(例如，上市時(shí)間)方面均過于昂貴，因?yàn)榻鉀Q所檢測的故障需要反復(fù)且完整的下線(tape-out)循環(huán)。發(fā)明內(nèi)容本發(fā)明所揭示的一個(gè)示例性實(shí)施例是一種用于對具有攔截器(interceptor)的布局進(jìn)行漏洞評估的計(jì)算機(jī)化機(jī)構(gòu)，包括至少一計(jì)算機(jī)化裝置，其被配置為接收具有在預(yù)安排位置處并入攔截器的布局，并執(zhí)行多個(gè)操作，所述操作包括：...
注意：該技術(shù)已申請專利，請尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。
請注意，此類技術(shù)沒有源代碼，用于學(xué)習(xí)研究技術(shù)思路。