1.一種芯片的寄存器的調(diào)試方法，其特征在于，包括：
接收調(diào)試待調(diào)試芯片的操作指令，所述操作指令中包含用戶提供的所述待調(diào)試芯片的寄存器物理地址；
調(diào)用操作系統(tǒng)中驅(qū)動層的指定設(shè)備節(jié)點，以獲得所述待調(diào)試芯片的寄存器物理地址所對應(yīng)的所述待調(diào)試芯片的寄存器邏輯地址；
根據(jù)所述待調(diào)試芯片的寄存器邏輯地址，操作所述待調(diào)試芯片的寄存器。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述接收調(diào)試待調(diào)試芯片的操作指令，所述操作指令中包含用戶提供的所述待調(diào)試芯片的寄存器物理地址之前，還包括：
向所述用戶提供調(diào)試界面，以供所述用戶基于所述調(diào)試界面，提供所述待調(diào)試芯片的寄存器物理地址。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述操作系統(tǒng)包括Linux操作系統(tǒng)或Android操作系統(tǒng)。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述指定設(shè)備節(jié)點為/dev/mem。
5.根據(jù)權(quán)利要求1～4任一權(quán)利要求所述的方法，其特征在于，所述調(diào)用操作系統(tǒng)中驅(qū)動層的指定設(shè)備節(jié)點，以獲得所述待調(diào)試芯片的寄存器物理地址所對應(yīng)的所述待調(diào)試芯片的寄存器邏輯地址之前，還包括：
將所述待調(diào)試芯片的寄存器物理地址，映射到所述指定設(shè)備節(jié)點；
將所述指定設(shè)備節(jié)點，映射到用戶空間。
6.一種芯片的寄存器的調(diào)試裝置，其特征在于，包括：
接收單元，用于接收調(diào)試待調(diào)試芯片的操作指令，所述操作指令中包含用戶提供的所述待調(diào)試芯片的寄存器物理地址；
調(diào)用單元，用于調(diào)用操作系統(tǒng)中驅(qū)動層的指定設(shè)備節(jié)點，以獲得所述待調(diào)試芯片的寄存器物理地址所對應(yīng)的所述待調(diào)試芯片的寄存器邏輯地址；
操作單元，用于根據(jù)所述待調(diào)試芯片的寄存器邏輯地址，操作所述待調(diào)試芯片的寄存器。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的裝置，其特征在于，所述接收單元，還用于
向所述用戶提供調(diào)試界面，以供所述用戶基于所述調(diào)試界面，提供所述待調(diào)試芯片的寄存器物理地址。
8.根據(jù)權(quán)利要求6所述的裝置，其特征在于，所述操作系統(tǒng)包括Linux操作系統(tǒng)或Android操作系統(tǒng)。
9.根據(jù)權(quán)利要求6所述的裝置，其特征在于，所述指定設(shè)備節(jié)點為/dev/mem。
10.根據(jù)權(quán)利要求6～9任一權(quán)利要求所述的裝置，其特征在于，所述裝置還包括映射單元，用于
將所述待調(diào)試芯片的寄存器物理地址，映射到所述指定設(shè)備節(jié)點；以及
將所述指定設(shè)備節(jié)點，映射到用戶空間。